JPH09288322A - 鏡筒試験装置 - Google Patents
鏡筒試験装置Info
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- JPH09288322A JPH09288322A JP8100979A JP10097996A JPH09288322A JP H09288322 A JPH09288322 A JP H09288322A JP 8100979 A JP8100979 A JP 8100979A JP 10097996 A JP10097996 A JP 10097996A JP H09288322 A JPH09288322 A JP H09288322A
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- Japan
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- flare
- lens barrel
- image
- pixel data
- video signal
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 投影試験機を用いることなく、鏡筒のフレア
の大きさおよび二重写りの有無を自動で測定する鏡筒試
験装置を提供する。 【解決手段】 鏡筒１は被写体を変倍するズームレンズ
および被写体を合焦するフォーカスレンズ等で構成さ
れ、白色と黒色の市松模様のチャート２は鏡筒１に向か
い合って設置され、撮像素子３は鏡筒１からの光学信号
を電気信号に変換する。映像信号生成手段５は撮像素子
３からの電気信号に基づき映像信号を生成する。フォー
カス制御手段６は映像信号生成手段５から出力される映
像信号の高周波成分が最大になるように鏡筒１のフォー
カスレンズを移動し合焦制御を行う。画像メモリ手段７
は映像信号生成手段５からの映像信号を記憶し、フレア
測定手段８は画像メモリ手段７に記憶した画素データを
基に演算処理しフレアの大きさを測定し、表示手段９は
フレア測定手段８で演算処理した結果を表示する。
の大きさおよび二重写りの有無を自動で測定する鏡筒試
験装置を提供する。 【解決手段】 鏡筒１は被写体を変倍するズームレンズ
および被写体を合焦するフォーカスレンズ等で構成さ
れ、白色と黒色の市松模様のチャート２は鏡筒１に向か
い合って設置され、撮像素子３は鏡筒１からの光学信号
を電気信号に変換する。映像信号生成手段５は撮像素子
３からの電気信号に基づき映像信号を生成する。フォー
カス制御手段６は映像信号生成手段５から出力される映
像信号の高周波成分が最大になるように鏡筒１のフォー
カスレンズを移動し合焦制御を行う。画像メモリ手段７
は映像信号生成手段５からの映像信号を記憶し、フレア
測定手段８は画像メモリ手段７に記憶した画素データを
基に演算処理しフレアの大きさを測定し、表示手段９は
フレア測定手段８で演算処理した結果を表示する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、カメラ等の複数の
レンズで構成されている鏡筒のレンズ性能を評価する鏡
筒試験装置に関するものである。
レンズで構成されている鏡筒のレンズ性能を評価する鏡
筒試験装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、カメラ等の鏡筒のレンズ性能を評
価する場合、投影試験機を用いてチャートをスクリーン
に逆投影し、その拡大されて映し出された画像を目視観
察する人手による目視感応評価を行う場合がほとんどで
ある。例えばフレア（画像のにじみ）の大きさを測定す
る場合、逆投影されたチャートの線の幅やにじみ等から
フレアの大きさを測定している。また、二重写りの有無
を測定する場合、逆投影されたチャートの線が二重に写
って見えるかどうかで測定していた。
価する場合、投影試験機を用いてチャートをスクリーン
に逆投影し、その拡大されて映し出された画像を目視観
察する人手による目視感応評価を行う場合がほとんどで
ある。例えばフレア（画像のにじみ）の大きさを測定す
る場合、逆投影されたチャートの線の幅やにじみ等から
フレアの大きさを測定している。また、二重写りの有無
を測定する場合、逆投影されたチャートの線が二重に写
って見えるかどうかで測定していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の人為的検査である目視感応評価では、検査員の体
調、経験等により評価結果に個人差が生じてしまい、良
否判定にばらつきが生じていた。
来の人為的検査である目視感応評価では、検査員の体
調、経験等により評価結果に個人差が生じてしまい、良
否判定にばらつきが生じていた。
【０００４】また、投影試験機を用いての評価は暗室で
行わなければならないため、作業環境が悪く、かつ目を
酷使するので検査員の負荷が非常に大きいものであっ
た。
行わなければならないため、作業環境が悪く、かつ目を
酷使するので検査員の負荷が非常に大きいものであっ
た。
【０００５】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、投影試験機を用いることなく、鏡筒のフレアの大き
さおよび二重写りの有無を自動で測定する鏡筒試験装置
を提供することを目的としている。
で、投影試験機を用いることなく、鏡筒のフレアの大き
さおよび二重写りの有無を自動で測定する鏡筒試験装置
を提供することを目的としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明に係る鏡筒試験装
置は、高濃度色と低濃度色（例えば黒色と白色）で構成
されたチャートに向かい合って配置された鏡筒からの光
学信号を電気信号に変換する撮像素子と、前記撮像素子
により得られた映像信号に基づいて前記鏡筒の合焦制御
を行うフォーカス制御手段と、前記映像信号を記憶する
画像メモリ手段と、前記画像メモリ手段に記憶した画素
データを演算処理するフレア測定手段と、前記フレア測
定手段で演算処理した結果を出力する手段とを備え、前
記フレア測定手段は前記画像メモリ手段における画素デ
ータを検索し黒しきい値より大きく白しきい値より小さ
い値である画素数をカウントすることにより撮像範囲全
体のフレアの大きさを測定するように構成されているの
で、鏡筒をチャートに対して合焦させた状態で映像信号
を取り込み、個々の画素データを検索し黒しきい値より
大きく白しきい値より小さい値である画素数をカウント
することにより、投影試験機を用いることなく、撮像範
囲全体のフレアの大きさを自動で測定することができ
る。
置は、高濃度色と低濃度色（例えば黒色と白色）で構成
されたチャートに向かい合って配置された鏡筒からの光
学信号を電気信号に変換する撮像素子と、前記撮像素子
により得られた映像信号に基づいて前記鏡筒の合焦制御
を行うフォーカス制御手段と、前記映像信号を記憶する
画像メモリ手段と、前記画像メモリ手段に記憶した画素
データを演算処理するフレア測定手段と、前記フレア測
定手段で演算処理した結果を出力する手段とを備え、前
記フレア測定手段は前記画像メモリ手段における画素デ
ータを検索し黒しきい値より大きく白しきい値より小さ
い値である画素数をカウントすることにより撮像範囲全
体のフレアの大きさを測定するように構成されているの
で、鏡筒をチャートに対して合焦させた状態で映像信号
を取り込み、個々の画素データを検索し黒しきい値より
大きく白しきい値より小さい値である画素数をカウント
することにより、投影試験機を用いることなく、撮像範
囲全体のフレアの大きさを自動で測定することができ
る。
【０００７】また、測定する方向を設定する測定方向設
定手段を付加し、前記フレア測定手段は前記測定方向設
定手段によって設定された方向において前記画像メモリ
手段における画素データを検索し前後の画素データの絶
対値差が一定値以上ある画素数をカウントすることによ
りその設定方向でのフレアの大きさを測定するように構
成されているので、画素データを検索し前後の画素デー
タの絶対値差が一定値以上ある画素数をカウントするこ
とにより、Ｘ方向でのフレアの大きさを単独で、また、
Ｙ方向でのフレアの大きさを単独で、それぞれ自動で測
定することができる。
定手段を付加し、前記フレア測定手段は前記測定方向設
定手段によって設定された方向において前記画像メモリ
手段における画素データを検索し前後の画素データの絶
対値差が一定値以上ある画素数をカウントすることによ
りその設定方向でのフレアの大きさを測定するように構
成されているので、画素データを検索し前後の画素デー
タの絶対値差が一定値以上ある画素数をカウントするこ
とにより、Ｘ方向でのフレアの大きさを単独で、また、
Ｙ方向でのフレアの大きさを単独で、それぞれ自動で測
定することができる。
【０００８】また、前記画像メモリ手段に記憶した画素
データを演算処理する二重写り検出手段を付加し、前記
二重写り検出手段は前記測定方向設定手段によって設定
された方向において前記画像メモリ手段における画素デ
ータを検索し画素データの変化状態に基づいてその設定
方向での二重写りの有無を検出するように構成されてい
るので、設定された同一方向に画素データを検索し画素
データの変化状態を調べることにより、Ｘ方向での二重
写りの有無を単独で、また、Ｙ方向での二重写りの有無
を単独で、それぞれ自動で検出することができる。
データを演算処理する二重写り検出手段を付加し、前記
二重写り検出手段は前記測定方向設定手段によって設定
された方向において前記画像メモリ手段における画素デ
ータを検索し画素データの変化状態に基づいてその設定
方向での二重写りの有無を検出するように構成されてい
るので、設定された同一方向に画素データを検索し画素
データの変化状態を調べることにより、Ｘ方向での二重
写りの有無を単独で、また、Ｙ方向での二重写りの有無
を単独で、それぞれ自動で検出することができる。
【０００９】また、撮像範囲を複数のエリアに分割し、
各エリア毎に測定／検出することにより、分割したエリ
ア毎に細かく、そのエリア全体でのフレアの大きさ、Ｘ
方向もしくはＹ方向でのフレアの大きさや二重写りの有
無を測定／検出することができる。
各エリア毎に測定／検出することにより、分割したエリ
ア毎に細かく、そのエリア全体でのフレアの大きさ、Ｘ
方向もしくはＹ方向でのフレアの大きさや二重写りの有
無を測定／検出することができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】本発明に係る請求項１の鏡筒試験
装置は、高濃度色と低濃度色で構成されたチャートに向
かい合って配置された鏡筒からの光学信号を電気信号に
変換する撮像素子と、前記撮像素子により得られた映像
信号に基づいて前記鏡筒の合焦制御を行うフォーカス制
御手段と、前記映像信号を記憶する画像メモリ手段と、
前記画像メモリ手段に記憶した画素データを演算処理す
るフレア測定手段と、前記フレア測定手段で演算処理し
た結果を出力する手段とを備え、前記フレア測定手段は
前記画像メモリ手段における画素データを検索し黒しき
い値より大きく白しきい値より小さい値である画素数を
カウントすることにより撮像範囲全体のフレアの大きさ
を測定するように構成されていることを特徴としてい
る。フォーカス制御手段により鏡筒をチャートに対して
合焦させた状態で映像信号を取り込み、フレア測定手段
において個々の画素データを検索し黒しきい値より大き
く白しきい値より小さい値である画素数をカウントす
る。フレアが無い場合は、個々の画素データは黒しきい
値以下もしくは白しきい値以上になる。従って、黒しき
い値より大きく白しきい値より小さい値である画素数を
カウントすることにより、投影試験機を用いることな
く、撮像範囲全体のフレアの大きさを自動で測定するこ
とができる。
装置は、高濃度色と低濃度色で構成されたチャートに向
かい合って配置された鏡筒からの光学信号を電気信号に
変換する撮像素子と、前記撮像素子により得られた映像
信号に基づいて前記鏡筒の合焦制御を行うフォーカス制
御手段と、前記映像信号を記憶する画像メモリ手段と、
前記画像メモリ手段に記憶した画素データを演算処理す
るフレア測定手段と、前記フレア測定手段で演算処理し
た結果を出力する手段とを備え、前記フレア測定手段は
前記画像メモリ手段における画素データを検索し黒しき
い値より大きく白しきい値より小さい値である画素数を
カウントすることにより撮像範囲全体のフレアの大きさ
を測定するように構成されていることを特徴としてい
る。フォーカス制御手段により鏡筒をチャートに対して
合焦させた状態で映像信号を取り込み、フレア測定手段
において個々の画素データを検索し黒しきい値より大き
く白しきい値より小さい値である画素数をカウントす
る。フレアが無い場合は、個々の画素データは黒しきい
値以下もしくは白しきい値以上になる。従って、黒しき
い値より大きく白しきい値より小さい値である画素数を
カウントすることにより、投影試験機を用いることな
く、撮像範囲全体のフレアの大きさを自動で測定するこ
とができる。
【００１１】本発明に係る請求項２の鏡筒試験装置は、
高濃度色と低濃度色で構成されたチャートに向かい合っ
て配置された鏡筒からの光学信号を電気信号に変換する
撮像素子と、前記撮像素子により得られた映像信号に基
づいて前記鏡筒の合焦制御を行うフォーカス制御手段
と、前記映像信号を記憶する画像メモリ手段と、測定す
る方向を設定する測定方向設定手段と、前記画像メモリ
手段に記憶した画素データを演算処理するフレア測定手
段と、前記フレア測定手段で演算処理した結果を出力す
る手段とを備え、前記フレア測定手段は前記測定方向設
定手段によって設定された方向において前記画像メモリ
手段における画素データを検索し前後の画素データの絶
対値差が一定値以上ある画素数をカウントすることによ
りその設定方向でのフレアの大きさを測定するように構
成されていることを特徴としている。フォーカス制御手
段により鏡筒をチャートに対して合焦させた状態で映像
信号を取り込み、フレア測定手段において測定方向設定
手段で設定された同一方向に画素データを検索し前後の
画素データの絶対値差が一定値以上ある画素数をカウン
トする。フレアが無い場合は、個々の画素データは黒し
きい値以下もしくは白しきい値以上になり、前後の画素
データの絶対値差は低濃度色から高濃度色へまたは高濃
度色から低濃度色へ変化するとき以外はほとんど０であ
る。従って、設定された同一方向に画素データを検索
し、前後の画素データの絶対値差が一定値以上ある画素
数をカウントすることにより、投影試験機を用いること
なく、設定した方向のフレアの大きさを、すなわち、Ｘ
方向でのフレアの大きさを単独で、また、Ｙ方向でのフ
レアの大きさを単独で、それぞれ自動で測定することが
できる。
高濃度色と低濃度色で構成されたチャートに向かい合っ
て配置された鏡筒からの光学信号を電気信号に変換する
撮像素子と、前記撮像素子により得られた映像信号に基
づいて前記鏡筒の合焦制御を行うフォーカス制御手段
と、前記映像信号を記憶する画像メモリ手段と、測定す
る方向を設定する測定方向設定手段と、前記画像メモリ
手段に記憶した画素データを演算処理するフレア測定手
段と、前記フレア測定手段で演算処理した結果を出力す
る手段とを備え、前記フレア測定手段は前記測定方向設
定手段によって設定された方向において前記画像メモリ
手段における画素データを検索し前後の画素データの絶
対値差が一定値以上ある画素数をカウントすることによ
りその設定方向でのフレアの大きさを測定するように構
成されていることを特徴としている。フォーカス制御手
段により鏡筒をチャートに対して合焦させた状態で映像
信号を取り込み、フレア測定手段において測定方向設定
手段で設定された同一方向に画素データを検索し前後の
画素データの絶対値差が一定値以上ある画素数をカウン
トする。フレアが無い場合は、個々の画素データは黒し
きい値以下もしくは白しきい値以上になり、前後の画素
データの絶対値差は低濃度色から高濃度色へまたは高濃
度色から低濃度色へ変化するとき以外はほとんど０であ
る。従って、設定された同一方向に画素データを検索
し、前後の画素データの絶対値差が一定値以上ある画素
数をカウントすることにより、投影試験機を用いること
なく、設定した方向のフレアの大きさを、すなわち、Ｘ
方向でのフレアの大きさを単独で、また、Ｙ方向でのフ
レアの大きさを単独で、それぞれ自動で測定することが
できる。
【００１２】本発明に係る請求項３の鏡筒試験装置は、
高濃度色と低濃度色で構成されたチャートに向かい合っ
て配置された鏡筒からの光学信号を電気信号に変換する
撮像素子と、前記撮像素子により得られた映像信号に基
づいて前記鏡筒の合焦制御を行うフォーカス制御手段
と、前記映像信号を記憶する画像メモリ手段と、測定す
る方向を設定する測定方向設定手段と、前記画像メモリ
手段に記憶した画素データを演算処理する二重写り検出
手段と、前記二重写り検出手段で演算処理した結果を出
力する手段とを備え、前記二重写り検出手段は前記測定
方向設定手段によって設定された方向において前記画像
メモリ手段における画素データを検索し画素データの変
化状態に基づいてその設定方向での二重写りの有無を検
出するように構成されていることを特徴としている。フ
ォーカス制御手段により鏡筒をチャートに対して合焦さ
せた状態で映像信号を取り込み、二重写り検出手段にお
いて測定方向設定手段で設定された同一方向に画素デー
タを検索し画素データの変化状態を検出する。二重写り
が無い場合は、画素データの変化パターンは単調増加、
単調減少、変化無しの３パターンしかない。従って、設
定された同一方向に画素データを検索し、画素データの
変化状態を調べることにより、投影試験機を用いること
なく、設定した方向での二重写りの有無を、すなわち、
Ｘ方向での二重写りの有無を単独で、また、Ｙ方向での
二重写りの有無を単独で、それぞれ自動で検出すること
ができる。
高濃度色と低濃度色で構成されたチャートに向かい合っ
て配置された鏡筒からの光学信号を電気信号に変換する
撮像素子と、前記撮像素子により得られた映像信号に基
づいて前記鏡筒の合焦制御を行うフォーカス制御手段
と、前記映像信号を記憶する画像メモリ手段と、測定す
る方向を設定する測定方向設定手段と、前記画像メモリ
手段に記憶した画素データを演算処理する二重写り検出
手段と、前記二重写り検出手段で演算処理した結果を出
力する手段とを備え、前記二重写り検出手段は前記測定
方向設定手段によって設定された方向において前記画像
メモリ手段における画素データを検索し画素データの変
化状態に基づいてその設定方向での二重写りの有無を検
出するように構成されていることを特徴としている。フ
ォーカス制御手段により鏡筒をチャートに対して合焦さ
せた状態で映像信号を取り込み、二重写り検出手段にお
いて測定方向設定手段で設定された同一方向に画素デー
タを検索し画素データの変化状態を検出する。二重写り
が無い場合は、画素データの変化パターンは単調増加、
単調減少、変化無しの３パターンしかない。従って、設
定された同一方向に画素データを検索し、画素データの
変化状態を調べることにより、投影試験機を用いること
なく、設定した方向での二重写りの有無を、すなわち、
Ｘ方向での二重写りの有無を単独で、また、Ｙ方向での
二重写りの有無を単独で、それぞれ自動で検出すること
ができる。
【００１３】本発明に係る請求項４の鏡筒試験装置は、
上記請求項１から請求項３までのいずれかにおいて、撮
像範囲を複数のエリアに分割し、各エリア毎に測定／検
出することを特徴としている。撮像範囲全体でのフレア
の大きさではなく、また、Ｘ方向全範囲もしくはＹ方向
全範囲でのフレアの大きさや二重写りの有無でもなく、
分割したエリア毎に、そのエリア全体でのフレアの大き
さ、Ｘ方向もしくはＹ方向でのフレアの大きさや二重写
りの有無を測定／検出することができる。
上記請求項１から請求項３までのいずれかにおいて、撮
像範囲を複数のエリアに分割し、各エリア毎に測定／検
出することを特徴としている。撮像範囲全体でのフレア
の大きさではなく、また、Ｘ方向全範囲もしくはＹ方向
全範囲でのフレアの大きさや二重写りの有無でもなく、
分割したエリア毎に、そのエリア全体でのフレアの大き
さ、Ｘ方向もしくはＹ方向でのフレアの大きさや二重写
りの有無を測定／検出することができる。
【００１４】以下、本発明の実施の形態に係る鏡筒試験
装置について図面に基づいて詳細に説明する。
装置について図面に基づいて詳細に説明する。
【００１５】〔実施の形態１〕図１は本発明の実施の形
態１における鏡筒試験装置の構成を示すブロック図であ
る。
態１における鏡筒試験装置の構成を示すブロック図であ
る。
【００１６】図１において、１は複数のレンズで構成さ
れている鏡筒、２は鏡筒１に向かい合う位置に設置され
た低濃度色と高濃度色すなわち白色と黒色で構成された
チャート、３は鏡筒１からの光学信号を電気信号に変換
する撮像素子（ＣＣＤ）、４は鏡筒１と撮像素子３を接
続する接続手段、５は撮像素子３からの電気信号に基づ
き映像信号を生成する映像信号生成手段、６は映像信号
の高周波成分が最大になるように鏡筒１のフォーカスレ
ンズを移動し合焦制御を行うフォーカス制御手段、７は
映像信号を記憶する画像メモリ手段、８は画像メモリ手
段７に記憶した画素データを演算処理してフレアを生じ
ている画素数の測定を行うフレア測定手段、９はフレア
測定手段８で求められた結果であるフレアを生じている
画素数等を表示する表示手段である。鏡筒１は被写体を
変倍するズームレンズおよび被写体を合焦するフォーカ
スレンズ等、複数のレンズで構成されている。鏡筒１は
接続手段４を介して撮像素子３に対して着脱自在となっ
ていて、複数の鏡筒１を交換しながら同じ撮像素子３に
組み合わせるときに、鏡筒１と撮像素子３との間隔を微
調整するために、接続手段４は撮像素子３を鏡筒１に対
し接近・離間自在となしてある。
れている鏡筒、２は鏡筒１に向かい合う位置に設置され
た低濃度色と高濃度色すなわち白色と黒色で構成された
チャート、３は鏡筒１からの光学信号を電気信号に変換
する撮像素子（ＣＣＤ）、４は鏡筒１と撮像素子３を接
続する接続手段、５は撮像素子３からの電気信号に基づ
き映像信号を生成する映像信号生成手段、６は映像信号
の高周波成分が最大になるように鏡筒１のフォーカスレ
ンズを移動し合焦制御を行うフォーカス制御手段、７は
映像信号を記憶する画像メモリ手段、８は画像メモリ手
段７に記憶した画素データを演算処理してフレアを生じ
ている画素数の測定を行うフレア測定手段、９はフレア
測定手段８で求められた結果であるフレアを生じている
画素数等を表示する表示手段である。鏡筒１は被写体を
変倍するズームレンズおよび被写体を合焦するフォーカ
スレンズ等、複数のレンズで構成されている。鏡筒１は
接続手段４を介して撮像素子３に対して着脱自在となっ
ていて、複数の鏡筒１を交換しながら同じ撮像素子３に
組み合わせるときに、鏡筒１と撮像素子３との間隔を微
調整するために、接続手段４は撮像素子３を鏡筒１に対
し接近・離間自在となしてある。
【００１７】図２は実施の形態１において用いるチャー
ト２のイメージ図である。このチャート２は、そのパタ
ーンを白色と黒色の市松模様にしてある。この白色と黒
色の市松模様を伴ったチャート２に対して鏡筒１のフォ
ーカスレンズを合焦させるには、焦点が白と黒の境界を
含むこと、すなわち映像信号の高周波成分が最大になる
ように、フォーカス制御手段６は合焦制御を行う。
ト２のイメージ図である。このチャート２は、そのパタ
ーンを白色と黒色の市松模様にしてある。この白色と黒
色の市松模様を伴ったチャート２に対して鏡筒１のフォ
ーカスレンズを合焦させるには、焦点が白と黒の境界を
含むこと、すなわち映像信号の高周波成分が最大になる
ように、フォーカス制御手段６は合焦制御を行う。
【００１８】図３はフレアの有無による映像信号の変化
を示すイメージ図である。チャート２が白色と黒色の市
松模様となっているため、映像信号は、白値の状態が続
く画素部分と、黒値の状態が続く画素部分と、白値から
黒値にあるいは黒値から白値に変化する画素部分とに分
かれる。図３（ａ）はフレア無し時の映像信号の変化を
示すが、このときの映像信号の白値から黒値への変化ま
たは黒値から白値への変化はフレアがないために急峻な
もの、むしろ垂直なものとなっている。これに対して、
図３（ｂ）はフレア２倍時の映像信号の変化を示すが、
このときの白値から黒値への変化および黒値から白値へ
の変化は傾斜したものとなっており、白値以外の画素数
はフレア無し時の黒値の画素数の２倍になっている。つ
まり、画素数比ａ：ｂ＝１：２である。フレアが大きく
なるほど、傾斜は緩やかになり、画素数の比もひらいて
いく。なお、白しきい値は白値より若干小さい値に、黒
しきい値は黒値より若干大きい値に設定してある。
を示すイメージ図である。チャート２が白色と黒色の市
松模様となっているため、映像信号は、白値の状態が続
く画素部分と、黒値の状態が続く画素部分と、白値から
黒値にあるいは黒値から白値に変化する画素部分とに分
かれる。図３（ａ）はフレア無し時の映像信号の変化を
示すが、このときの映像信号の白値から黒値への変化ま
たは黒値から白値への変化はフレアがないために急峻な
もの、むしろ垂直なものとなっている。これに対して、
図３（ｂ）はフレア２倍時の映像信号の変化を示すが、
このときの白値から黒値への変化および黒値から白値へ
の変化は傾斜したものとなっており、白値以外の画素数
はフレア無し時の黒値の画素数の２倍になっている。つ
まり、画素数比ａ：ｂ＝１：２である。フレアが大きく
なるほど、傾斜は緩やかになり、画素数の比もひらいて
いく。なお、白しきい値は白値より若干小さい値に、黒
しきい値は黒値より若干大きい値に設定してある。
【００１９】以上のように構成された実施の形態１の鏡
筒試験装置について、以下にその動作を説明する。
筒試験装置について、以下にその動作を説明する。
【００２０】撮像素子３は鏡筒１からの光学信号を電気
信号に変換する。接続手段４は鏡筒１を固定し、撮像素
子３を移動させ鏡筒１と撮像素子３を接続する。映像信
号生成手段５は撮像素子３からの電気信号に基づき映像
信号を生成する。フォーカス制御手段６は映像信号生成
手段５から出力される映像信号の高周波成分が最大にな
るように鏡筒１のフォーカスレンズを移動し、合焦制御
を行う。画像メモリ手段７は映像信号生成手段５から出
力される映像信号を記憶する。フレア測定手段８は画像
メモリ手段７に記憶した画素データを基に演算処理し、
フレアの大きさを測定する。表示手段９はフレア測定手
段８で演算処理した結果を表示する。
信号に変換する。接続手段４は鏡筒１を固定し、撮像素
子３を移動させ鏡筒１と撮像素子３を接続する。映像信
号生成手段５は撮像素子３からの電気信号に基づき映像
信号を生成する。フォーカス制御手段６は映像信号生成
手段５から出力される映像信号の高周波成分が最大にな
るように鏡筒１のフォーカスレンズを移動し、合焦制御
を行う。画像メモリ手段７は映像信号生成手段５から出
力される映像信号を記憶する。フレア測定手段８は画像
メモリ手段７に記憶した画素データを基に演算処理し、
フレアの大きさを測定する。表示手段９はフレア測定手
段８で演算処理した結果を表示する。
【００２１】以下、フレア測定手段８の演算処理につい
て図４のフローチャートを基に説明する。
て図４のフローチャートを基に説明する。
【００２２】ステップＳ１では画像データのＸアドレ
ス、ＹアドレスおよびフレアカウンタＣ1 をリセット
し、ステップＳ２に進む。
ス、ＹアドレスおよびフレアカウンタＣ1 をリセット
し、ステップＳ２に進む。
【００２３】ステップＳ２ではＸアドレスに１を加算し
て（Ｘ＋＋）、ステップＳ３に進む。
て（Ｘ＋＋）、ステップＳ３に進む。
【００２４】ステップＳ３ではＸアドレスが５１２を超
えたかどうかチェックする。超えた場合はステップＳ４
に進み、超えない場合はステップＳ６に進む。
えたかどうかチェックする。超えた場合はステップＳ４
に進み、超えない場合はステップＳ６に進む。
【００２５】ステップＳ４ではＹアドレスが５１２を超
えたかどうかチェックする。超えた場合はステップＳ９
に進み、超えない場合はステップＳ５に進む。
えたかどうかチェックする。超えた場合はステップＳ９
に進み、超えない場合はステップＳ５に進む。
【００２６】ステップＳ５ではＸアドレスをリセット
し、Ｙアドレスに１を加算して（Ｙ＋＋）、ステップＳ
６に進む。
し、Ｙアドレスに１を加算して（Ｙ＋＋）、ステップＳ
６に進む。
【００２７】以上のステップＳ２〜Ｓ５により、画像メ
モリ手段７において表示手段９でのラスタスキャンに相
当する水平・垂直走査を行っていることになる。
モリ手段７において表示手段９でのラスタスキャンに相
当する水平・垂直走査を行っていることになる。
【００２８】ステップＳ６ではＸアドレス、Ｙアドレス
で示された番地（Ｘ，Ｙ）の画素データを画像メモリ手
段７から読み込み、ステップＳ７に進む。
で示された番地（Ｘ，Ｙ）の画素データを画像メモリ手
段７から読み込み、ステップＳ７に進む。
【００２９】ステップＳ７ではステップＳ６で読み込ん
だ画素データが設定してある黒しきい値より大きくかつ
白しきい値より小さいか否かをチェックする。画素デー
タがこの範囲内にある場合は、フレアが生じていること
を意味し、この場合にはステップＳ８に進み、範囲外
（画素データが黒しきい値以下または白しきい値以上）
の場合はステップＳ２に進む。
だ画素データが設定してある黒しきい値より大きくかつ
白しきい値より小さいか否かをチェックする。画素デー
タがこの範囲内にある場合は、フレアが生じていること
を意味し、この場合にはステップＳ８に進み、範囲外
（画素データが黒しきい値以下または白しきい値以上）
の場合はステップＳ２に進む。
【００３０】ステップＳ８ではフレアカウンタＣ1 に１
を加算して（Ｃ1 ＋＋）、ステップＳ２に進む。
を加算して（Ｃ1 ＋＋）、ステップＳ２に進む。
【００３１】ステップＳ９ではフレアカウンタＣ1 の値
を表示手段９に渡して終了する。表示手段９では、受け
取ったフレアカウンタＣ1 の値を表示する。
を表示手段９に渡して終了する。表示手段９では、受け
取ったフレアカウンタＣ1 の値を表示する。
【００３２】このようにして画像メモリ手段７に記憶し
た画素データを検索し、画素データが黒しきい値より大
きくかつ白しきい値より小さい値である画素数をカウン
トすることで、撮像範囲全体でのフレアの大きさを自動
で測定することができる。
た画素データを検索し、画素データが黒しきい値より大
きくかつ白しきい値より小さい値である画素数をカウン
トすることで、撮像範囲全体でのフレアの大きさを自動
で測定することができる。
【００３３】〔実施の形態２〕図５は本発明の実施の形
態２における鏡筒試験装置の構成を示すブロック図であ
り、図１および図２に基づいて説明した部分に対応する
部分については、同一符号を付して説明を省略する。１
０は測定方向設定手段、１１はフレア測定手段である。
態２における鏡筒試験装置の構成を示すブロック図であ
り、図１および図２に基づいて説明した部分に対応する
部分については、同一符号を付して説明を省略する。１
０は測定方向設定手段、１１はフレア測定手段である。
【００３４】測定方向設定手段１０は測定する方向を設
定する。Ｘ（水平）方向のフレアの大きさを測定すると
きはＸを、Ｙ（垂直）方向のフレアの大きさを測定する
ときはＹを設定する。フレア測定手段１１は画像メモリ
手段７に記憶した画素データを基に演算処理し、フレア
の大きさを測定する。
定する。Ｘ（水平）方向のフレアの大きさを測定すると
きはＸを、Ｙ（垂直）方向のフレアの大きさを測定する
ときはＹを設定する。フレア測定手段１１は画像メモリ
手段７に記憶した画素データを基に演算処理し、フレア
の大きさを測定する。
【００３５】図６は本発明の実施の形態２におけるフレ
ア測定手段１１の動作過程を示すフローチャートであ
る。以下、フレア測定手段１１の演算処理について図６
のフローチャートを基に説明する。
ア測定手段１１の動作過程を示すフローチャートであ
る。以下、フレア測定手段１１の演算処理について図６
のフローチャートを基に説明する。
【００３６】ステップＳ１０では画像データのＸアドレ
ス、Ｙアドレス、フレアカウンタＣ1 および現在値等の
変数をリセットし、ステップＳ１１に進む。
ス、Ｙアドレス、フレアカウンタＣ1 および現在値等の
変数をリセットし、ステップＳ１１に進む。
【００３７】ステップＳ１１では測定方向設定手段１０
により設定された測定する方向を判断する。測定方向設
定手段１０がＸ（水平）方向のフレアの大きさを測定す
るように設定している場合はステップＳ１２に進み、Ｙ
（垂直）方向のフレアの大きさを測定するように設定し
ている場合はステップＳ２１に進む。
により設定された測定する方向を判断する。測定方向設
定手段１０がＸ（水平）方向のフレアの大きさを測定す
るように設定している場合はステップＳ１２に進み、Ｙ
（垂直）方向のフレアの大きさを測定するように設定し
ている場合はステップＳ２１に進む。
【００３８】以下、まず、Ｘ方向でのフレアの大きさの
測定について説明する。
測定について説明する。
【００３９】ステップＳ１２ではＸアドレスに１を加算
して（Ｘ＋＋）、ステップＳ１３に進む。
して（Ｘ＋＋）、ステップＳ１３に進む。
【００４０】ステップＳ１３ではＸアドレスが５１２を
超えたかどうかチェックする。超えた場合はステップＳ
１４に進み、超えない場合はステップＳ１６に進む。
超えたかどうかチェックする。超えた場合はステップＳ
１４に進み、超えない場合はステップＳ１６に進む。
【００４１】ステップＳ１４ではＹアドレスが５１２を
超えたかどうかチェックする。超えた場合はステップＳ
３０に進み、超えない場合はステップＳ１５に進む。
超えたかどうかチェックする。超えた場合はステップＳ
３０に進み、超えない場合はステップＳ１５に進む。
【００４２】ステップＳ１５ではＸアドレスをリセット
し、Ｙアドレスに１を加算して（Ｙ＋＋）、ステップＳ
１６に進む。
し、Ｙアドレスに１を加算して（Ｙ＋＋）、ステップＳ
１６に進む。
【００４３】以上のステップＳ１２〜Ｓ１５により、画
像メモリ手段７において表示手段９でのラスタスキャン
に相当する水平・垂直走査を行っていることになる。
像メモリ手段７において表示手段９でのラスタスキャン
に相当する水平・垂直走査を行っていることになる。
【００４４】ステップＳ１６では現在値を更新するた
め、現在値を次のループにおける１画素前の値として保
存して、ステップＳ１７に進む。
め、現在値を次のループにおける１画素前の値として保
存して、ステップＳ１７に進む。
【００４５】ステップＳ１７ではＸアドレス、Ｙアドレ
スで示された番地（Ｘ，Ｙ）の画素データを画像メモリ
手段７から読み込み、現在値の値として保存して、ステ
ップＳ１８に進む。
スで示された番地（Ｘ，Ｙ）の画素データを画像メモリ
手段７から読み込み、現在値の値として保存して、ステ
ップＳ１８に進む。
【００４６】ステップＳ１８では現在値と水平方向での
１画素前の値の絶対値差を演算して、ステップＳ１９に
進む。
１画素前の値の絶対値差を演算して、ステップＳ１９に
進む。
【００４７】ステップＳ１９ではステップＳ１８で演算
した絶対値差が設定してある一定値より大きいか否かを
チェックする。大きい場合は、白値から黒値への変化領
域あるいは黒値から白値への変化領域において、その変
化が急峻なものではなく、ある程度の傾斜をもったもの
であって、フレアが生じていることを意味し、この場合
にはステップＳ２０に進み、それ以外の場合は、絶対値
差が０に近く、変化が急峻なものであって、フレアが生
じていないことを意味し、この場合はステップＳ１２に
進む。
した絶対値差が設定してある一定値より大きいか否かを
チェックする。大きい場合は、白値から黒値への変化領
域あるいは黒値から白値への変化領域において、その変
化が急峻なものではなく、ある程度の傾斜をもったもの
であって、フレアが生じていることを意味し、この場合
にはステップＳ２０に進み、それ以外の場合は、絶対値
差が０に近く、変化が急峻なものであって、フレアが生
じていないことを意味し、この場合はステップＳ１２に
進む。
【００４８】ステップＳ２０ではフレアカウンタＣ1 に
１を加算して（Ｃ1 ＋＋）、ステップＳ１２に進む。
１を加算して（Ｃ1 ＋＋）、ステップＳ１２に進む。
【００４９】ステップＳ１４でＹアドレスが５１２を超
えたと判断したときは、１フレーム分の画像データに対
する走査が終了したので、ステップＳ３０に進み、フレ
アカウンタＣ1 の値を表示手段９に渡して終了する。表
示手段９では、受け取ったフレアカウンタＣ1 の値を表
示する。
えたと判断したときは、１フレーム分の画像データに対
する走査が終了したので、ステップＳ３０に進み、フレ
アカウンタＣ1 の値を表示手段９に渡して終了する。表
示手段９では、受け取ったフレアカウンタＣ1 の値を表
示する。
【００５０】次に、Ｙ（垂直）方向でのフレアの大きさ
の測定について説明する。すなわち、ステップＳ２１以
降でＹ方向のフレアの大きさを測定する。
の測定について説明する。すなわち、ステップＳ２１以
降でＹ方向のフレアの大きさを測定する。
【００５１】ステップＳ２１ではＹアドレスに１を加算
して（Ｙ＋＋）、ステップＳ２２に進む。
して（Ｙ＋＋）、ステップＳ２２に進む。
【００５２】ステップＳ２２ではＹアドレスが５１２を
超えたかどうかチェックする。超えた場合はステップＳ
２３に進み、超えない場合はステップＳ２５に進む。
超えたかどうかチェックする。超えた場合はステップＳ
２３に進み、超えない場合はステップＳ２５に進む。
【００５３】ステップＳ２３ではＸアドレスが５１２を
超えたかどうかチェックする。超えた場合はステップＳ
３０に進み、超えない場合はステップＳ２４に進む。
超えたかどうかチェックする。超えた場合はステップＳ
３０に進み、超えない場合はステップＳ２４に進む。
【００５４】ステップＳ２４ではＹアドレスをリセット
し、Ｘアドレスに１を加算して（Ｘ＋＋）、ステップＳ
２５に進む。
し、Ｘアドレスに１を加算して（Ｘ＋＋）、ステップＳ
２５に進む。
【００５５】以上のステップＳ２１〜Ｓ２４により、画
像メモリ手段７において表示手段９でのラスタスキャン
に対する直角方向のスキャン相当する垂直・水平走査を
行っていることになる。
像メモリ手段７において表示手段９でのラスタスキャン
に対する直角方向のスキャン相当する垂直・水平走査を
行っていることになる。
【００５６】ステップＳ２５では現在値を更新するた
め、現在値を次のループにおける１画素前の値として保
存して、ステップＳ２６に進む。
め、現在値を次のループにおける１画素前の値として保
存して、ステップＳ２６に進む。
【００５７】ステップＳ２６ではＸアドレス、Ｙアドレ
スで示された番地（Ｘ，Ｙ）の画素データを画像メモリ
手段７から読み込み、現在値の値として保存して、ステ
ップＳ２７に進む。
スで示された番地（Ｘ，Ｙ）の画素データを画像メモリ
手段７から読み込み、現在値の値として保存して、ステ
ップＳ２７に進む。
【００５８】ステップＳ２７では現在値と垂直方向での
１画素前の値の絶対値差を演算して、ステップＳ２８に
進む。
１画素前の値の絶対値差を演算して、ステップＳ２８に
進む。
【００５９】ステップＳ２８ではステップＳ２７で演算
した絶対値差が設定してある一定値より大きいか否かを
チェックする。大きい場合は、白値から黒値への変化領
域あるいは黒値から白値への変化領域において、その変
化が急峻なものではなく、ある程度の傾斜をもったもの
であって、フレアが生じていることを意味し、この場合
はステップＳ２９に進み、それ以外の場合は、絶対値差
が０に近く、変化が急峻なものであって、フレアが生じ
ていないことを意味し、この場合はステップＳ２１に進
む。
した絶対値差が設定してある一定値より大きいか否かを
チェックする。大きい場合は、白値から黒値への変化領
域あるいは黒値から白値への変化領域において、その変
化が急峻なものではなく、ある程度の傾斜をもったもの
であって、フレアが生じていることを意味し、この場合
はステップＳ２９に進み、それ以外の場合は、絶対値差
が０に近く、変化が急峻なものであって、フレアが生じ
ていないことを意味し、この場合はステップＳ２１に進
む。
【００６０】ステップＳ２９ではフレアカウンタＣ1 に
１を加算して（Ｃ1 ＋＋）、ステップＳ２１に進む。
１を加算して（Ｃ1 ＋＋）、ステップＳ２１に進む。
【００６１】ステップＳ２３でＸアドレスが５１２を超
えたと判断したときは、１フレーム分の画像データに対
する走査が終了したので、ステップＳ３０に進み、フレ
アカウンタＣ1 の値を表示手段９に渡して終了する。表
示手段９では、受け取ったフレアカウンタＣ1 の値を表
示する。
えたと判断したときは、１フレーム分の画像データに対
する走査が終了したので、ステップＳ３０に進み、フレ
アカウンタＣ1 の値を表示手段９に渡して終了する。表
示手段９では、受け取ったフレアカウンタＣ1 の値を表
示する。
【００６２】このようにして画像メモリ手段７に記憶し
た画素データを測定方向設定手段１０で設定されたＸ
（水平）方向またはＹ（垂直）方向に順次検索し、前後
の画素データと比較して絶対値差が一定値以上ある画素
数をカウントすることで、同一方向の、すなわち、水平
方向なら水平方向のフレアの大きさを、垂直方向なら垂
直方向のフレアの大きさを、それぞれ自動で測定するこ
とができる。
た画素データを測定方向設定手段１０で設定されたＸ
（水平）方向またはＹ（垂直）方向に順次検索し、前後
の画素データと比較して絶対値差が一定値以上ある画素
数をカウントすることで、同一方向の、すなわち、水平
方向なら水平方向のフレアの大きさを、垂直方向なら垂
直方向のフレアの大きさを、それぞれ自動で測定するこ
とができる。
【００６３】なお、フレア測定手段１１の動作として、
前後の画素データの絶対値差を一定値と比較することに
代えて、チャート２が白から黒または黒から白に変化す
るポイントでの映像信号の傾き具合を演算することを通
じて、同一方向のフレアの大きさを自動で測定するよう
にするのでもよい。
前後の画素データの絶対値差を一定値と比較することに
代えて、チャート２が白から黒または黒から白に変化す
るポイントでの映像信号の傾き具合を演算することを通
じて、同一方向のフレアの大きさを自動で測定するよう
にするのでもよい。
【００６４】〔実施の形態３〕図７は本発明の実施の形
態３における鏡筒試験装置の構成を示すブロック図であ
り、図１、図２および図５に基づいて説明した部分に対
応する部分については、同一符号を付して説明を省略す
る。１２は二重写りを検出する二重写り検出手段であ
る。
態３における鏡筒試験装置の構成を示すブロック図であ
り、図１、図２および図５に基づいて説明した部分に対
応する部分については、同一符号を付して説明を省略す
る。１２は二重写りを検出する二重写り検出手段であ
る。
【００６５】二重写り検出手段１２は画像メモリ手段７
に記憶した画素データを基に演算処理し二重写りの有無
を測定する。
に記憶した画素データを基に演算処理し二重写りの有無
を測定する。
【００６６】図８は二重写りの有無による映像信号の変
化を示すイメージ図である。
化を示すイメージ図である。
【００６７】図８（ａ）において、二重写り無し時の映
像信号の白値から黒値への変化または黒値から白値への
変化は二重写りがないために急峻なものとなっており、
変化パターンは単調増加、単調減少、変化無しの３パタ
ーンしかない（斜めの変化も含む）。これに対して、図
８（ｂ）において、二重写り有り時は変化の傾向は緩や
かであって、変化の途中で落ち込み等があり上記３パタ
ーン以外の変化になる。落ち込み等というのは、画素値
が一旦下がり次に上がることであり、また、画素値が一
旦上がり次に下がることである。
像信号の白値から黒値への変化または黒値から白値への
変化は二重写りがないために急峻なものとなっており、
変化パターンは単調増加、単調減少、変化無しの３パタ
ーンしかない（斜めの変化も含む）。これに対して、図
８（ｂ）において、二重写り有り時は変化の傾向は緩や
かであって、変化の途中で落ち込み等があり上記３パタ
ーン以外の変化になる。落ち込み等というのは、画素値
が一旦下がり次に上がることであり、また、画素値が一
旦上がり次に下がることである。
【００６８】図９は本発明の実施の形態３における二重
写り検出手段１２の動作過程を示すフローチャートであ
る。以下、二重写り検出手段１２の演算処理について図
９のフローチャートを基に説明する。
写り検出手段１２の動作過程を示すフローチャートであ
る。以下、二重写り検出手段１２の演算処理について図
９のフローチャートを基に説明する。
【００６９】ステップＳ３１では画像データのＸアドレ
ス、Ｙアドレスおよび二重写り検出カウンタＣ2 等の変
数をリセットし、ステップＳ３２に進む。
ス、Ｙアドレスおよび二重写り検出カウンタＣ2 等の変
数をリセットし、ステップＳ３２に進む。
【００７０】ステップＳ３２では測定方向設定手段１０
により設定された測定する方向を判断する。測定方向設
定手段１０がＸ（水平）方向の二重写りの有無を検出す
るように設定している場合はステップＳ３３に進み、Ｙ
（垂直）方向の二重写りの有無を検出するように設定し
ている場合はステップＳ４２に進む。
により設定された測定する方向を判断する。測定方向設
定手段１０がＸ（水平）方向の二重写りの有無を検出す
るように設定している場合はステップＳ３３に進み、Ｙ
（垂直）方向の二重写りの有無を検出するように設定し
ている場合はステップＳ４２に進む。
【００７１】以下、まず、Ｘ方向での二重写りの有無の
検出について説明する。
検出について説明する。
【００７２】ステップＳ３３ではＸアドレスに１を加算
して（Ｘ＋＋）、ステップＳ３４に進む。
して（Ｘ＋＋）、ステップＳ３４に進む。
【００７３】ステップＳ３４ではＸアドレスが５１２を
超えたかどうかチェックする。超えた場合はステップＳ
３５に進み、超えない場合はステップＳ３７に進む。
超えたかどうかチェックする。超えた場合はステップＳ
３５に進み、超えない場合はステップＳ３７に進む。
【００７４】ステップＳ３５ではＹアドレスが５１２を
超えたかどうかチェックする。超えた場合はステップＳ
５１に進み、超えない場合はステップＳ３６に進む。
超えたかどうかチェックする。超えた場合はステップＳ
５１に進み、超えない場合はステップＳ３６に進む。
【００７５】ステップＳ３６ではＸアドレスをリセット
し、Ｙアドレスに１を加算して（Ｙ＋＋）、ステップＳ
３７に進む。
し、Ｙアドレスに１を加算して（Ｙ＋＋）、ステップＳ
３７に進む。
【００７６】以上のステップＳ３３〜Ｓ３６により、画
像メモリ手段７において表示手段９でのラスタスキャン
に相当する水平・垂直走査を行っていることになる。
像メモリ手段７において表示手段９でのラスタスキャン
に相当する水平・垂直走査を行っていることになる。
【００７７】ステップＳ３７では同一Ｙアドレスにおけ
るＸ（水平）方向の前後２画素の画素データを画像メモ
リ手段７から読み込み、ステップＳ３８に進む。
るＸ（水平）方向の前後２画素の画素データを画像メモ
リ手段７から読み込み、ステップＳ３８に進む。
【００７８】ステップＳ３８では前後２画素の画素デー
タから画素値が増加（黒から白へ変化）中か否かすなわ
ち単調増加であるか否かをチェックする。単調増加中の
場合はステップＳ３３に進み、それ以外の場合はステッ
プＳ３９に進む。
タから画素値が増加（黒から白へ変化）中か否かすなわ
ち単調増加であるか否かをチェックする。単調増加中の
場合はステップＳ３３に進み、それ以外の場合はステッ
プＳ３９に進む。
【００７９】ステップＳ３９では前後２画素の画素デー
タから画素値が減少（白から黒へ変化）中か否かすなわ
ち単調減少であるか否かをチェックする。単調減少中の
場合はステップＳ３３に進み、それ以外の場合はステッ
プＳ４０に進む。
タから画素値が減少（白から黒へ変化）中か否かすなわ
ち単調減少であるか否かをチェックする。単調減少中の
場合はステップＳ３３に進み、それ以外の場合はステッ
プＳ４０に進む。
【００８０】ステップＳ４０では前後２画素の画素デー
タから画素値が変化無し（白または黒のまま）か否かを
チェックする。変化無しの場合はステップＳ３３に進
み、それ以外の場合は二重写りを検出したと判断し、ス
テップＳ４１に進む。すなわち、水平方向で隣接する３
つの画素の画素値について、図８（ｂ）に示すように、
画素値が一旦下がり次に上がるか、または、画素値が一
旦上がり次に下がるかしている落ち込み等があり、二重
写りと検出されるのである。
タから画素値が変化無し（白または黒のまま）か否かを
チェックする。変化無しの場合はステップＳ３３に進
み、それ以外の場合は二重写りを検出したと判断し、ス
テップＳ４１に進む。すなわち、水平方向で隣接する３
つの画素の画素値について、図８（ｂ）に示すように、
画素値が一旦下がり次に上がるか、または、画素値が一
旦上がり次に下がるかしている落ち込み等があり、二重
写りと検出されるのである。
【００８１】ステップＳ４１では二重写り検出カウンタ
Ｃ2 に１を加算して（Ｃ2 ＋＋）、ステップＳ３３に進
む。
Ｃ2 に１を加算して（Ｃ2 ＋＋）、ステップＳ３３に進
む。
【００８２】ステップＳ３５でＹアドレスが５１２を超
えたと判断したときは、１フレーム分の画像データに対
する走査が終了したので、ステップＳ５１に進み、二重
写り検出カウンタＣ2 の値を表示手段９に渡して終了す
る。表示手段９では、受け取った二重写り検出カウンタ
Ｃ2 の値を表示する。
えたと判断したときは、１フレーム分の画像データに対
する走査が終了したので、ステップＳ５１に進み、二重
写り検出カウンタＣ2 の値を表示手段９に渡して終了す
る。表示手段９では、受け取った二重写り検出カウンタ
Ｃ2 の値を表示する。
【００８３】次に、Ｙ（垂直）方向での二重写りの検出
について説明する。すなわち、ステップＳ４２以降でＹ
（垂直）方向の二重写りの有無を検出する。
について説明する。すなわち、ステップＳ４２以降でＹ
（垂直）方向の二重写りの有無を検出する。
【００８４】ステップＳ４２ではＹアドレスに１を加算
して（Ｙ＋＋）、ステップＳ４３に進む。
して（Ｙ＋＋）、ステップＳ４３に進む。
【００８５】ステップＳ４３ではＹアドレスが５１２を
超えたかどうかチェックする。超えた場合はステップＳ
４４に進み、超えない場合はステップＳ４６に進む。
超えたかどうかチェックする。超えた場合はステップＳ
４４に進み、超えない場合はステップＳ４６に進む。
【００８６】ステップＳ４４ではＸアドレスが５１２を
超えたかどうかチェックする。超えた場合はステップＳ
５１に進み、超えない場合はステップＳ４５に進む。
超えたかどうかチェックする。超えた場合はステップＳ
５１に進み、超えない場合はステップＳ４５に進む。
【００８７】ステップＳ４５ではＹアドレスをリセット
し、Ｘアドレスに１を加算して（Ｘ＋＋）、ステップＳ
４６に進む。
し、Ｘアドレスに１を加算して（Ｘ＋＋）、ステップＳ
４６に進む。
【００８８】以上のステップＳ４２〜Ｓ４５により、画
像メモリ手段７において表示手段９でのラスタスキャン
に対する直角方向のスキャン相当する垂直・水平走査を
行っていることになる。
像メモリ手段７において表示手段９でのラスタスキャン
に対する直角方向のスキャン相当する垂直・水平走査を
行っていることになる。
【００８９】ステップＳ４６では同一Ｘアドレスにおけ
るＹ（垂直）方向の前後２画素の画素データを画像メモ
リ手段７から読み込み、ステップＳ４７に進む。
るＹ（垂直）方向の前後２画素の画素データを画像メモ
リ手段７から読み込み、ステップＳ４７に進む。
【００９０】ステップＳ４７では前後２画素の画素デー
タから画素値が増加（黒から白へ変化）中か否かすなわ
ち単調増加であるか否かをチェックする。単調増加中の
場合はステップＳ４２に進み、それ以外の場合はステッ
プＳ４８に進む。
タから画素値が増加（黒から白へ変化）中か否かすなわ
ち単調増加であるか否かをチェックする。単調増加中の
場合はステップＳ４２に進み、それ以外の場合はステッ
プＳ４８に進む。
【００９１】ステップＳ４８では前後２画素の画素デー
タから画素値が減少（白から黒へ変化）中か否かすなわ
ち単調減少であるか否かをチェックする。単調減少中の
場合はステップＳ４２に進み、それ以外の場合はステッ
プＳ４９に進む。
タから画素値が減少（白から黒へ変化）中か否かすなわ
ち単調減少であるか否かをチェックする。単調減少中の
場合はステップＳ４２に進み、それ以外の場合はステッ
プＳ４９に進む。
【００９２】ステップＳ４９では前後２画素の画素デー
タから画素値が変化無し（白または黒のまま）か否かを
チェックする。変化無しの場合はステップＳ４２に進
み、それ以外の場合は二重写りを検出したと判断し、ス
テップＳ５０に進む。すなわち、垂直方向で隣接する３
つの画素の画素値について、図８（ｂ）に示すように、
画素値が一旦下がり次に上がるか、または、画素値が一
旦上がり次に下がるかしている落ち込み等があり、二重
写りと検出されるのである。
タから画素値が変化無し（白または黒のまま）か否かを
チェックする。変化無しの場合はステップＳ４２に進
み、それ以外の場合は二重写りを検出したと判断し、ス
テップＳ５０に進む。すなわち、垂直方向で隣接する３
つの画素の画素値について、図８（ｂ）に示すように、
画素値が一旦下がり次に上がるか、または、画素値が一
旦上がり次に下がるかしている落ち込み等があり、二重
写りと検出されるのである。
【００９３】ステップＳ５０では二重写り検出カウンタ
Ｃ2 に１を加算して（Ｃ2 ＋＋）、ステップＳ４２に進
む。
Ｃ2 に１を加算して（Ｃ2 ＋＋）、ステップＳ４２に進
む。
【００９４】ステップＳ４４でＸアドレスが５１２を超
えたと判断したときは、１フレーム分の画像データに対
する走査が終了したので、ステップＳ５１に進み、二重
写り検出カウンタＣ2 の値を表示手段９に渡して終了す
る。表示手段９では、受け取った二重写り検出カウンタ
Ｃ2 の値を表示する。
えたと判断したときは、１フレーム分の画像データに対
する走査が終了したので、ステップＳ５１に進み、二重
写り検出カウンタＣ2 の値を表示手段９に渡して終了す
る。表示手段９では、受け取った二重写り検出カウンタ
Ｃ2 の値を表示する。
【００９５】このようにして画像メモリ手段７に記憶し
た画素データを測定方向設定手段１０で設定されたＸ
（水平）方向またはＹ（垂直）方向に順次検索し、画素
データの変化パターンが単調増加、単調減少、変化無し
の状態以外である場合に、すなわち、画素値が一旦下が
り次に上がるか、または、画素値が一旦上がり次に下が
るかしている落ち込み等がある場合に二重写りであると
判断し、同一方向の、すなわち、水平方向なら水平方向
での二重写りの有無を、垂直方向なら垂直方向での二重
写りの有無を、それぞれ自動で検出することができる。
た画素データを測定方向設定手段１０で設定されたＸ
（水平）方向またはＹ（垂直）方向に順次検索し、画素
データの変化パターンが単調増加、単調減少、変化無し
の状態以外である場合に、すなわち、画素値が一旦下が
り次に上がるか、または、画素値が一旦上がり次に下が
るかしている落ち込み等がある場合に二重写りであると
判断し、同一方向の、すなわち、水平方向なら水平方向
での二重写りの有無を、垂直方向なら垂直方向での二重
写りの有無を、それぞれ自動で検出することができる。
【００９６】〔実施の形態４〕次に、図示は省略する
が、本発明に係る実施の形態４の鏡筒試験装置について
説明する。上記した実施の形態１または実施の形態２ま
たは実施の形態３のいずれかにおいて、撮像範囲を複数
のエリアに分割し、各エリア毎にそれぞれ所要の測定あ
るいは検出を行うように構成する。
が、本発明に係る実施の形態４の鏡筒試験装置について
説明する。上記した実施の形態１または実施の形態２ま
たは実施の形態３のいずれかにおいて、撮像範囲を複数
のエリアに分割し、各エリア毎にそれぞれ所要の測定あ
るいは検出を行うように構成する。
【００９７】この実施の形態４によれば、撮像範囲全体
でのフレアの大きさを測定するのでもなければ、Ｘ方向
全範囲もしくはＹ方向全範囲でのフレアの大きさを検出
するのでもなく、また、Ｘ方向全範囲もしくはＹ方向全
範囲での二重写りの有無を検出するのでもなく、撮像範
囲を複数のエリアに分割し、各エリア毎に測定／検出す
ることにより、分割したエリア毎に細かく、そのエリア
全体でのフレアの大きさ、Ｘ方向もしくはＹ方向でのフ
レアの大きさや二重写りの有無を測定／検出することが
できる。従って、鏡筒１内での各レンズの組み方や角度
の組み合わせ具合などの良否をきめ細かく判断すること
ができる。
でのフレアの大きさを測定するのでもなければ、Ｘ方向
全範囲もしくはＹ方向全範囲でのフレアの大きさを検出
するのでもなく、また、Ｘ方向全範囲もしくはＹ方向全
範囲での二重写りの有無を検出するのでもなく、撮像範
囲を複数のエリアに分割し、各エリア毎に測定／検出す
ることにより、分割したエリア毎に細かく、そのエリア
全体でのフレアの大きさ、Ｘ方向もしくはＹ方向でのフ
レアの大きさや二重写りの有無を測定／検出することが
できる。従って、鏡筒１内での各レンズの組み方や角度
の組み合わせ具合などの良否をきめ細かく判断すること
ができる。
【００９８】なお、上記各実施の形態において、チャー
ト２の模様を市松模様にした場合について説明したが、
チャート２の模様は任意である。
ト２の模様を市松模様にした場合について説明したが、
チャート２の模様は任意である。
【００９９】また、画像メモリ手段７の画像メモリのサ
イズを５１２×５１２として説明したが、サイズは任意
である。またサイズを大きくすればするほど分解能が上
がるので測定精度が向上することは言うまでもない。
イズを５１２×５１２として説明したが、サイズは任意
である。またサイズを大きくすればするほど分解能が上
がるので測定精度が向上することは言うまでもない。
【０１００】
【発明の効果】本発明に係る鏡筒試験装置によれば、高
濃度色と低濃度色で構成されたチャートに対して合焦さ
せた状態で取り込んだ画素データを検索し黒しきい値よ
り大きく白しきい値より小さい値である画素数をカウン
トすることにより、投影試験機を用いてチャートをスク
リーンに逆投影し人手による目視感応評価を行うことな
く、撮像範囲全体のフレアの大きさを自動で高速かつ安
定に測定することができる。
濃度色と低濃度色で構成されたチャートに対して合焦さ
せた状態で取り込んだ画素データを検索し黒しきい値よ
り大きく白しきい値より小さい値である画素数をカウン
トすることにより、投影試験機を用いてチャートをスク
リーンに逆投影し人手による目視感応評価を行うことな
く、撮像範囲全体のフレアの大きさを自動で高速かつ安
定に測定することができる。
【０１０１】また、測定する方向を設定して画素データ
を検索し前後の画素データの絶対値差が一定値以上ある
画素数をカウントすることによりその設定方向でのフレ
アの大きさを測定するので、Ｘ方向でのフレアの大きさ
を単独で、また、Ｙ方向でのフレアの大きさを単独で、
それぞれ自動で高速かつ安定に測定することができる。
を検索し前後の画素データの絶対値差が一定値以上ある
画素数をカウントすることによりその設定方向でのフレ
アの大きさを測定するので、Ｘ方向でのフレアの大きさ
を単独で、また、Ｙ方向でのフレアの大きさを単独で、
それぞれ自動で高速かつ安定に測定することができる。
【０１０２】また、測定する方向を設定して画素データ
を検索し画素データの変化状態に基づいてその設定方向
での二重写りの有無を検出するように構成したので、Ｘ
方向での二重写りの有無を単独で、また、Ｙ方向での二
重写りの有無を単独で、それぞれ自動で高速かつ安定に
検出することができる。
を検索し画素データの変化状態に基づいてその設定方向
での二重写りの有無を検出するように構成したので、Ｘ
方向での二重写りの有無を単独で、また、Ｙ方向での二
重写りの有無を単独で、それぞれ自動で高速かつ安定に
検出することができる。
【０１０３】また、撮像範囲を複数のエリアに分割し、
各エリア毎に測定／検出することにより、分割したエリ
ア毎に細かく、そのエリア全体でのフレアの大きさ、Ｘ
方向もしくはＹ方向でのフレアの大きさや二重写りの有
無を測定／検出することができる。
各エリア毎に測定／検出することにより、分割したエリ
ア毎に細かく、そのエリア全体でのフレアの大きさ、Ｘ
方向もしくはＹ方向でのフレアの大きさや二重写りの有
無を測定／検出することができる。
【図１】本発明の実施の形態１における鏡筒試験装置の
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
【図２】鏡筒に向かい合わせに配置するチャートのイメ
ージ図である。
ージ図である。
【図３】フレアの有無による映像信号の変化を示すイメ
ージ図である。
ージ図である。
【図４】本発明の実施の形態１におけるフレア測定手段
の動作過程を示すフローチャートである。
の動作過程を示すフローチャートである。
【図５】本発明の実施の形態２における鏡筒試験装置の
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
【図６】本発明の実施の形態２におけるフレア測定手段
の動作過程を示すフローチヤートである。
の動作過程を示すフローチヤートである。
【図７】本発明の実施の形態３における鏡筒試験装置の
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
【図８】二重写りの有無による映像信号の変化を示すイ
メージ図である。
メージ図である。
【図９】本発明の実施の形態３における二重写り検出手
段の動作過程を示すフローチャートである。
段の動作過程を示すフローチャートである。
１……鏡筒 ２……チャート ３……撮像素子 ４……接続手段 ５……映像信号生成手段 ６……フォーカス制御手段 ７……画像メモリ手段 ８……フレア測定手段 ９……表示手段 １０……測定方向設定手段 １１……フレア測定手段 １２……二重写り検出手段 Ｃ1 ……フレアカウンタ Ｃ2 ……二重写り検出カウンタ
Claims (4)
- 【請求項１】 高濃度色と低濃度色で構成されたチャー
トに向かい合って配置された鏡筒からの光学信号を電気
信号に変換する撮像素子と、前記撮像素子により得られ
た映像信号に基づいて前記鏡筒の合焦制御を行うフォー
カス制御手段と、前記映像信号を記憶する画像メモリ手
段と、前記画像メモリ手段に記憶した画素データを演算
処理するフレア測定手段と、前記フレア測定手段で演算
処理した結果を出力する手段とを備え、前記フレア測定
手段は前記画像メモリ手段における画素データを検索し
黒しきい値より大きく白しきい値より小さい値である画
素数をカウントすることにより撮像範囲全体のフレアの
大きさを測定するように構成されていることを特徴とす
る鏡筒試験装置。 - 【請求項２】 高濃度色と低濃度色で構成されたチャー
トに向かい合って配置された鏡筒からの光学信号を電気
信号に変換する撮像素子と、前記撮像素子により得られ
た映像信号に基づいて前記鏡筒の合焦制御を行うフォー
カス制御手段と、前記映像信号を記憶する画像メモリ手
段と、測定する方向を設定する測定方向設定手段と、前
記画像メモリ手段に記憶した画素データを演算処理する
フレア測定手段と、前記フレア測定手段で演算処理した
結果を出力する手段とを備え、前記フレア測定手段は前
記測定方向設定手段によって設定された方向において前
記画像メモリ手段における画素データを検索し前後の画
素データの絶対値差が一定値以上ある画素数をカウント
することによりその設定方向でのフレアの大きさを測定
するように構成されていることを特徴とする鏡筒試験装
置。 - 【請求項３】 高濃度色と低濃度色で構成されたチャー
トに向かい合って配置された鏡筒からの光学信号を電気
信号に変換する撮像素子と、前記撮像素子により得られ
た映像信号に基づいて前記鏡筒の合焦制御を行うフォー
カス制御手段と、前記映像信号を記憶する画像メモリ手
段と、測定する方向を設定する測定方向設定手段と、前
記画像メモリ手段に記憶した画素データを演算処理する
二重写り検出手段と、前記二重写り検出手段で演算処理
した結果を出力する手段とを備え、前記二重写り検出手
段は前記測定方向設定手段によって設定された方向にお
いて前記画像メモリ手段における画素データを検索し画
素データの変化状態に基づいてその設定方向での二重写
りの有無を検出するように構成されていることを特徴と
する鏡筒試験装置。 - 【請求項４】 撮像範囲を複数のエリアに分割し、各エ
リア毎に測定／検出することを特徴とする請求項１から
請求項３までのいずれかに記載の鏡筒試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10097996A JP3333840B2 (ja) | 1996-04-23 | 1996-04-23 | 鏡筒試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10097996A JP3333840B2 (ja) | 1996-04-23 | 1996-04-23 | 鏡筒試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09288322A true JPH09288322A (ja) | 1997-11-04 |
| JP3333840B2 JP3333840B2 (ja) | 2002-10-15 |
Family
ID=14288471
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10097996A Expired - Fee Related JP3333840B2 (ja) | 1996-04-23 | 1996-04-23 | 鏡筒試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3333840B2 (ja) |
-
1996
- 1996-04-23 JP JP10097996A patent/JP3333840B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3333840B2 (ja) | 2002-10-15 |
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