JPH08233689A - 少なくとも1つの電気光学的試験装置の性能を試験する方法およびシステム - Google Patents

少なくとも1つの電気光学的試験装置の性能を試験する方法およびシステム

Info

Publication number
JPH08233689A
JPH08233689A JP6329386A JP32938694A JPH08233689A JP H08233689 A JPH08233689 A JP H08233689A JP 6329386 A JP6329386 A JP 6329386A JP 32938694 A JP32938694 A JP 32938694A JP H08233689 A JPH08233689 A JP H08233689A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electro
optical
performance
optical system
calibrated
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6329386A
Other languages
English (en)
Inventor
Ran Carmeli
ラン・カルメリ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Genop Ltd
Original Assignee
Genop Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Genop Ltd filed Critical Genop Ltd
Publication of JPH08233689A publication Critical patent/JPH08233689A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N17/00Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
    • H04N17/002Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for television cameras

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【構成】 複数の前以て目盛定めした装置のそれぞれの
識別コードならびに対応する電気光学的性能はデータベ
ースの中に記憶され、そして影像装置は被験ターゲット
と整列されて、その収束された画像を生成する。前以て
目盛定めした装置をデータベースから選択し、そして収
束された画像をディジタル化しそして記憶させてディジ
タル化された画像を生成し、この画像を分析して、電気
光学的試験装置の各々および追加の前以て目盛定めした
装置の各々の構成部分の電気光学的性能の積に等しい、
電気光学的システムの性能を代表する電気光学的性能を
決定する。 【効果】 本発明の方法およびシステムは電気光学的試
験装置の性能を決定することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電気光学的構成部分お
よびシステムを検査するシステムに関する。
【0002】
【従来技術及びその課題】電気光学的構成部分の絶えず
増加する使用にかかわらず、電気光学的システムにおけ
る構成部分の各々の性能、ならびに完全なシステムの性
能を試験することができる簡単な方法は存在しない。こ
うして、完全な電気光学的システムおよびその特定の補
助的構成部分の性能を試験することが要求される程度
に、このような試験はしばしば高度に主観的でありなら
びに時間を消費する。
【0003】種々の先行技術のシステムは前以て目盛定
めした光学的システム内の特定の光学的構成部分の構成
および目盛定めに関する。例えば、米国特許第4,31
6,221号(Mackeyら)は、キネスコープの電
子ビームの2つを活性化して、キネスコープ表示スクリ
ーン上に収束する試験パターンを発生させる手段からな
る、カラーテレビのキネスコープおよび偏向ヨークとと
もに使用する収束測定装置を開示している。収束する試
験パターンは1組の交互する色パッチである。パッチ間
のオーバーラップおよびギャップの程度はビームの誤っ
た収束の程度を指示する。モノグラムのTVカメラは試
験パターンを観察し、そして信号プロセッサに信号を送
り、このプロセッサは電子ビーム活性化手段をコントロ
ールして1つの色パッチを他の色パッチに関して動かし
て、パッチ間のギャップおよびオーバーラップを減少す
る。パッチ間のオーバーラップおよびギャップを最小す
るために必要なパッチの動きの量の測定は、試験パター
ン付近における電子ビームの誤った収束の指示である。
【0004】このようなシステムは電子ビームの誤った
収束を最小とすることができるが、システムの生ずる光
学的性能は測定しにくい。
【0005】米国特許第4,513,319号(Bre
imerら)は、図1のレンズ・システム4およびピッ
ク−アップ配置またはカメラ5を示す。2つの試験パタ
ーン、すなわち、フルップ−アップの内部の試験パター
ン18および外部の試験パターン1を使用する。内部の
試験パターンに関連する情報を外部の試験パターンに関
連する補正情報から減じ、そして生ずる補正の差をレン
ズのメモリーの中に記憶させる。カメラのメモリーおよ
びレンズのメモリーは一緒に補正を生成し、これは収差
の測度に関係する。外部の試験パターンに関連するデー
タを記憶する補助メモリーが設けられている。また、特
定のレンズに相当するデータを記憶するレンズのメモリ
ーが開示されている。
【0006】使用において、試験チャートをTVカメラ
で影像し、このカメラに異なるレンズを連結することが
できる、それらの特性は前以て目盛定めされておりそし
てレンズのメモリーの中に記憶される。目盛定めはカメ
ラの間に位置する外部の試験パターンにより実施され
る。異なるレンズ・システムに関連しそして外部の試験
パターンにより決定された補正情報と、内部の試験パタ
ーンに関連する補正情報との間の差は、それぞれのディ
ジタル・レンズ・メモリーの中の供給装置により記憶さ
れる。その結果、各レンズ・システムは補正情報をその
中に記憶したそれ自身のレンズ・メモリーを有する。
【0007】シーンを記録するための調製の間のカメラ
の設置のために、カメラのオペレーターはレンズ・シス
テムに関連するレンズ・メモリーをカメラの中に配置す
るか、あるいはレンズ・システムを含有する光学的通路
を遮断するために組み込まれたメモリーの1つを選択
し、そしてカメラの中に存在する試験パターンを照明さ
れた光学的通路の中に位置させて自動的構成を操作可能
とする。
【0008】このようなシステムは、複数の前以て目盛
定めしたレンズ・システムをもつTVカメラの自動的構
成を提供する。しかしながら、光学的システムの中の他
の構成部分、例えば、ターゲットまたはレンズ・システ
ムを変更するための準備がされていない。
【0009】米国特許第4,951,141号(Fis
cher)は、ビデオカメラの透過機能を決定する方法
を示す。バーのパターンを取り、ここでバーの幅を十分
に小さいように選択し、こうしてカメラの中でバーを走
査するとき生成する電気パルスの振幅および位相の応答
にバーが与える影響を無視可能とする。ビデオカメラの
出力においてこうして生成した狭い電気パルスを選択
し、そして離散フーリエ変換(Discrete Fo
urier Transformation)にかけ
る。
【0010】このようなシステムはモノクロのカメラの
評価のみを可能とし、そして固定された装置を必要と
し、その装置の構成部分は置換不可能である。
【0011】米国特許第4,491,868号(Ber
ridge、Jr.ら)は、物体を検査するためのビデ
オ画像補償器を示す。補償器はディジタル化された2つ
の画像比較する。2つのメモリー:画像のメモリーおよ
び既知の品質の加工物に相当するディジタル化されたデ
ータをその中に記憶しそしてまた試験パターンのデータ
を記憶することができるメモリーを使用する前記米国特
許第4,491,868号の中に開示されている装置は
カメラそれ自体の試験を可能とせず、カメラ内の変動ま
たは収差について単に補正するだけである。さらに、こ
のシステムはビディコンとともに使用ことのみが適当で
ありそして再び固定された装置を必要とする。
【0012】米国特許第4,586,817号(Ehe
mann、Jr.)は、レンズにより影像されるスクリ
ーンを有するCRTを開示している。画像平面におい
て、光検出器は画像を横切って前後に走査される。光の
変動は電子信号に変換され、画像信号からMTF[モジ
ュラー・トランスファー・ファンクション(Modul
ar Transfer Function)]の誘導
化を可能とする交互する画像信号を生成する。前記米国
特許第4,586,817号に開示されている装置は光
検出器を使用し、そして固定されている、すなわち、そ
の構成部分の交換を可能としない。そのうえ、この装置
はMTFのみの値を誘導化することができ、そして光学
的システムの他の性質を誘導化しない。
【0013】米国特許第4,991,007号(Cor
ley)は、視的画像の特性、例えば、輝度、色、合計
の目盛り、幾何学的直線性、鮮鋭度および/または電子
画像信号、例えば、TVカメラから得られたものの位置
を評価するシステムおよび方法を開示している。組み合
わせの画像が表示モニター上に表示される。操作におい
て、カメラを試験パターン装置に向け、そしてターゲッ
トの画像を表す信号を画像組み合わせ装置に送り、次い
でモニターに送る。同時に、参照信号発生器は参照画像
信号を発生し、この信号はターゲットの1または2以上
の特性と同一の視的画像の1または2以上の特性につい
て前以て決定した視的外観を有する参照画像を表す。選
択した視的画像特性の値を特定の出力信号の電圧レベル
に関係付ける既知式を使用して、参照画像信号は発生さ
れる。
【0014】画像組み合わせ装置はカメラからの信号を
参照画像の信号と組み合わせ、そして生ずる組み合わさ
れた信号をモニターに送り、こうしてこのモニター上に
2つの画像が並列に表示され、これにより観察者は2つ
の画像の個々の部分の間の所望の視的画像の特性の差を
判別することができる。
【0015】このようなシステムはオペレーターによる
視的検査を可能とし、そしてTVカメラにより生成され
た実際の画像信号と参照試験信号との間の視的比較を可
能とする。しかしながら、比較それ自体は実質的に主観
的であり、こうしてTVカメラの絶対的目盛定めは得ら
れない。さらに、電気光学的システムは固定され、そし
てその構成部分の装置の置換、あるいはこのシステムの
異なる補助的構成部分の性能の評価のための設備は存在
しない。
【0016】本発明の目的は、従来提案された方法およ
びシステムにおいて得られるよりも大きい精度および容
易さを提供する、電気光学的システムおよび/またはそ
の構成部分の性能を試験する方法およびシステムを提供
することである。
【0017】
【課題を解決するための手段】本発明の第1の面によれ
ば、段階: (a)光源、被験ターゲット、レンズおよび影像手段を
有する電気光学的システムを構成するために要求される
追加の前以て目盛定めした装置に少なくとも1つの電気
光学的試験装置を連結し、(b)複数の前以て目盛定め
した装置のそれぞれの識別コードを対応する電気光学的
性能と一緒に記憶させ、(c)影像手段を被験ターゲッ
トに対して整列させて、その収束された画像を生成し、
(d)存在する場合、前記電気光学的システムの中のど
の装置が前以て目盛定めされているかを特定し、(e)
収束された画像をディジタル化しかつ記憶させてディジ
タル化された画像を生成し、(f)ディジタル化された
画像を分析して、電気光学的システムの性能を代表しか
つ前記少なくとも1つの電気光学的試験装置の各々およ
び前記追加の前以て目盛定めした装置の各々の構成部分
の電気光学的性能の積である電気光学的性能を決定し、
そして(g)前記少なくとも1つの電気光学的試験装置
の各々の構成部分の電気光学的性能の積を決定する、か
らなることを特徴とする、少なくとも1つの電気光学的
試験装置の性能を試験する方法が提供される。
【0018】本発明の第2面によれば、必要に応じて追
加の前以て目盛定めした装置に連結された少なくとも1
つの電気光学的試験装置を含む電気光学的システム、前
記電気光学的システムは光源、ターゲット、レンズおよ
び影像手段からなる、電気光学的システムに連結されそ
して前以て目盛定めした装置の識別コードおよびその対
応する電気光学的性能のデータベースをその中に記憶す
るメモリーを含むコンピュータ、電気光学的システムお
よびコンピュータに連結され、電気光学的システムの整
列を可能としそして、電気光学的システムが正しく整列
されたとき、指示信号を生成する光学的整列手段、前記
電気光学的システムの中の前以て目盛定めした装置の各
々の識別コードを特定する構成手段、電気光学的システ
ムにより生成された画像をディジタル化するために電気
光学的システムに連結され、そして対応するディジタル
化された画像をその中に記憶する前記メモリーに連結さ
れているディジタル化手段、メモリーに連結され、電気
光学的システムの性能を代表し、かつ前記少なくとも1
つの電気光学的試験装置の各々および前記追加の前以て
目盛定めした装置の各々の構成部分の電気光学的性能の
積に等しい電気光学的性能を決定する分析手段、前記分
析手段は前記少なくとも1つの電気光学的試験装置の各
々の構成部分の電気光学的性能の積をさらに決定する、
からなる少なくとも1つの電気光学的試験装置の性能を
決定するシステムが提供される。
【0019】好ましくは、本発明によるシステムはコン
ピュータの制御下に操作し、そして試験するビデオ装置
の異なる機能の定量を可能とするメニュー駆動インター
フェースを提供する。
【0020】
【実施例】本発明を理解しかつその実施することができ
る方法を見るために、ここで好ましい態様を非限定的実
施例のみにより、添付図面を参照して説明する。
【0021】図1は、本発明の第1態様に従い、電気光
学的システム11とともに使用するための装置の性能を
試験する本発明によるシステム10を機能的に示すブロ
ック線図である。
【0022】電気光学的システム11は高性能の前以て
目盛定めした構成部分から、試験すべき装置と組み合わ
せて構成される。電気光学的システム11は、ビデオカ
メラ12、レンズ13、ターゲット14および光源15
を含み、これらの1つは試験装置であり、そして他のす
べては高性能の前以て目盛定めした構成部分である。電
気光学的システム11はディジタイザ16に連結されて
おり、ディジタイザ16それ自体はコンピュータ17に
連結されており、そしてコンピュータ17は電気光学的
システム11により形成された画像をディジタル化しか
つ記憶するためのメモリー(図示せず)を含む。コンピ
ュータ17は、電気光学的システム11および、とく
に、その中の被験装置の性能を分析するための分析ユニ
ット(図示せず)を含む。
【0023】使用において、カメラ12により画像を生
成し、そして画像をディジタル化しそしてコンピュータ
17のメモリーの中に記憶させる。試験装置に関連する
収差のために、画像は理論的に理想的な画像と比較して
歪んでおり、ここで試験装置を同等の高性能装置で置換
した場合、理論的に理想的な画像が得られるであろう。
したがって、同等の高性能の前以て目盛定めした装置に
関して試験装置の性能を評価することができる。
【0024】図1に示すシステム10において、電気光
学的システム11は表示装置を含まず、こうして、カメ
ラ12を別として、光源15、ターゲット14およびレ
ンズ13からなる電気光学的システム11の主要な構成
部分のすべては、普通の光学的ベンチに取り付けられた
標準の光学的構成部分である。光源15、ターゲット1
4およびレンズ13からなる電気光学的システムの試験
性能を評価するために、カメラ12は少なくとも1つの
所望の電気光学的性能に関して前以て目盛定めされてい
ることが必要である。次いで、完全な電気光学的システ
ム11の組み合わされた電気光学的性能は、カメラ12
電気光学的性能およびレンズ13、ターゲット14およ
び光源15により構成された光学的構成部分の各々の電
気光学的性能の積である。これらの構成部分のいずれか
の対応する電気光学的性能はそれら自体既知である場
合、任意の残りの目盛定めしない性能の積を決定するこ
とができる。例えば、カメラ12、ターゲット14およ
び光源15の電気光学的性能のすべてが既知である場
合、レンズ13の電気光学的性能を評価することができ
る。このような評価が数字でありかつ目的であり、そし
てオペレーターの部分についての実験的評価を必要とせ
ず、またこれによる定量的解釈を必要としない。
【0025】図2は、表示装置18の性能を試験しよう
とする場合の本発明の第2態様を示す。この目的で、電
気光学的システム11は表示装置18に連結された電子
信号試験発生器19からなり、ここで表示装置18は目
盛定めされたレンズ13を通して目盛定めされたカメラ
12により影像される。目盛定めされたカメラ12は、
図面の図1に関して前述したように、ディジタイザ16
およびコンピュータ17に連結されている。このような
システムにおいて、電子信号試験発生器19は図1に示
すターゲット14および光源15と置換し、表示装置1
8により表示されているビデオ画像信号を生成し、表示
装置18のスクリーンは目盛定めされたカメラ12によ
り影像されてビデオ画像を生成し、このビデオ画像は同
一の方法で図面の図1に関して前述したものに対して評
価される。
【0026】好ましくは、コンピュータ17はその中の
分析ユニットをコントロールするためにメニュー駆動プ
ログラムを含有し、ここで電気光学的システム11の異
なる性能のパラメーターを評価するために異なる試験を
実施することができる。
【0027】例えば、分析ユニットはレンズ13のモジ
ュラー・トランスファー・ファンクション(Modul
ar Transfer Function)またはコ
ントラスト・トランスファー・ファンクション(Con
trast Transfer Function)を
決定することができる。同様に、システムのグレイ・レ
ベルの直線性照明均一性(Grey Level Li
niarity Illumination Unif
ormity)および幾何学的歪み(Geometri
cal Distortion)を、この分野において
よく知られている他の試験と同様に、決定することがで
きる。これに関して、いくつかの補助的構成部分からな
る電気光学的システムの性能はそれらの各構成部分の性
能の関数であることが理解されたであろう。性能の性能
は直線性であり、こうして、例えば、完全なシステムの
MTF、CTFまたはグレイ・レベルの直線性は、単に
完全なシステム中の補助的構成部分の各々についてのそ
れぞれのパラメーターの積である。
【0028】完全なシステムについてのSN比は、同様
に、次のことを考慮して、既知強さの信号を適用しそし
て各補助的構成部分についての雑音を測定することによ
って決定することができる:
【0029】
【数1】
【0030】結局、試験する1または2以上の装置を別
として電気光学的システム11中のすべての補助的構成
部分は前以て目盛定めされているので、1または2以上
の試験装置の性能は前述の直線的関係に基づいて評価す
ることができる。
【0031】ここで図面の図3を参照すると、図3は図
1および図2に示す電気光学的システム11の試験性能
を評価するための本発明による方法における主要な操作
段階を示す図面である。コンピュータ17のメモリー内
に、その代表的な電気光学的性能の記憶を可能としかつ
各装置の種々の物理的特性、例えば、電気光学的システ
ムの適切な整列のために必要な物理的寸法の記憶を可能
とする、前以て目盛定めされた構成部分のデータベース
が記憶される。次いで、電気光学的システム11は1ま
たは2以上の試験装置を標準の構成部分に連結すること
によって構成され、標準の構成部分の目盛定めデータは
データベースの中に記憶される。コンピュータ17の中
に記憶されたソフトウェアの制御下に、要求される段階
はデータベースから対応する標準の前以て目盛定めされ
た構成部分を選択することによって特定され、こうして
このような構成部分の物理的および光学的データは既知
である。画像が形成されそして整列されて、鋭い収束を
生成しかつ光学的倍率について補正されるので、ターゲ
ットはレンズおよびカメラに対して正しく整列される。
【0032】その後、生ずる画像をディジタル化しそし
て分析して、完全なシステムの要求される電気光学的性
能を決定する。計算された電気光学的性能は電気光学的
システム中の構成部分の装置の各々の対応する電気光学
的性能の積であるので、かつそのうえ前以て目盛定めさ
れた構成部分の対応する電気光学的性能は既知であるの
で、試験装置の生ずる電気光学的性能または試験装置の
電気光学的性能の積は容易に決定することができそし
て、必要に応じて、コンピュータ17に連結された表示
モニター(図示せず)上に表示することができる。
【0033】構成手順のために、任意の標準の目盛定め
された電気光学的構成部分を電気光学的システム中の対
応する装置の代わりに使用することができ、再整列を実
施しそして分析を必要に応じて再び実行することができ
る。しかしながら、逆の場合は非常にいっそう有意であ
り、ここでコンピュータ17内の分析のソフトウェアを
ユーザーが実際に有する範囲の構成部分に関係付けるこ
とが必要である最終のユーザーに典型的には利用可能で
ある、特定の限定された範囲の構成部分を使用して分析
を実施することができる。明細書の初めの節において説
明した先行技術のシステムでは、これは不可能である。
なぜなら、唯一の自由度は試験するTVカメラであるか
らである。
【0034】しかしながら、本発明のデータベースおよ
び関係する構成は非常により大きい柔軟性を可能とす
る。なぜなら、それは逆転を必要とするよりむしろ実際
の構成部分に対して分析ソフトウェアを応答させること
ができる:すなわち、ソフトウェアに適合するように構
成部分を選択することができるからである。もちろん、
データベースは最新のものでありそして最終のユーザー
により変更して新しい構成部分を付加しかつ必要に応じ
て現存する構成部分に関する光学的および機械的データ
を補正することができることは本発明の1つの特徴であ
る。しかしながら、データベースの構造それ自体の中に
新規性は存在せずそしてデータベースはこの分野におい
てよく知られているので、それ以上の詳細は不必要であ
ると考えられる。
【0035】図4は、図面の図1を参照して前述した立
体配置のための構成手順に関する主要な操作段階を示
す。構成手順は、試験の測定において使用する電気光学
的構成部分のためのすべての関係するパラメーターを含
有するデータベースをつくることを意図する。図4に示
すように、これは光源、ターゲット、レンズおよびカメ
ラについて実施される。実際には、データベースは多数
の異なる光源、対応して広い範囲の異なる測定の実施を
可能とする大きい範囲のターゲット、異なる光源および
異なるカメラを含有するので、試験する実際の電気光学
的システムに無関係に、その中の各構成部分についての
対応するパラメーターはデータベースの中に記憶され
る。次いで、図面に示すように、構成手順の間に、適当
な項目を選択する。
【0036】図5は、図面の図2を参照して前述した立
体配置のための対応する構成手順のフローダイヤグラム
である。この場合において、データベース中の記憶のた
めの異なる表示装置および電子信号試験発生器を定める
準備しなくてはならない。したがって、適当な構成部分
を、試験する実際の電気光学的構成部分対応する、デー
タベースから選択される。
【0037】図面の図6に示すように、データベースの
中への対応するエントリをもたない電気光学的システム
の中に構成部分が存在する場合、欠如する構成部分に相
当する新しい項目をつくらなくてはならない。この場合
において、識別の名称、要求される一般的情報、および
構成部分を隣接する構成部分に連結する方法を示すデー
タを包含するデータベースの記録をつくる。このような
データは構成部分の規格の固有の部分でありそして、例
えば、カメラおよびレンズについて、次のパラメーター
を含むことができる: カメラのパラメーター: ・ 画像の大きさ(1/2”、2/3”など); ・ 標準(EIA、CCIR、PAL、NTSCな
ど); ・ 水平および垂直方向における絵素の数; ・ 画像の種類; ・ 絵素の大きさ。
【0038】レンズの規格: ・ 項目の種類(レンズ、顕微鏡の対物レンズ); ・ 焦点距離または倍率; ・ 有用な倍率の範囲; ・ 目盛定めのデータ(入手可能な場合):MTF、C
TFなど。
【0039】影像装置の他の形態、例えば、超高感度の
低い光レベルのTVカメラ(LLLTV)を使用するこ
とができ、そのために同一のアプローチをまた使用する
ことができる。同様にレチクルは同様なパラメーターに
従い分類される。
【0040】さらに、各項目について、完全なかつ詳述
した規格をエンターし、記憶されたパラメーターは構成
部分の各異なる種類について異なりかつ各構成部分につ
いて種々の電気光学的性能の目盛定めを可能とするため
に十分である。最後に、任意の既知の目盛定めデータを
項目についてエンターしそして、既知でない場合、この
情報は単にブランクで残される。
【0041】データベースの構成方法をいっそう容易に
理解するために、電気光学的システムの中央のMTFの
水平の性能の決定を示す簡単な実施例をここで提供す
る。次のパラメーターを特定する構成データ・ファイル
DEM−SETをつくる: ・ 試験した装置:カメラID:DEM−CAM ・ レチクル:(目盛定めされた)ID:DEM−RT
C ・ オプチクス:(目盛定めされた)ID:DEM−O
PT ・ 光源:(目盛定めされた)ID:DEM−LHT 上に特定したデータ・ファイルは少なくとも次のパラメ
ーターを含有する:カメラ: ID:DEM−CAM ・ 影像装置の大きさ:2/3” ・ 標準:EIA ・ 影像装置の型:CCD ・ 絵素の大きさ:10μm×11μm レチクル: ID:DEM−RTC ・ 一般的寸法:26×19mm ・ 測定のパターンの情報: オプチクス: ID:DEM−OPT ・ 項目の種類:レンズ ・ 焦点距離:60mm
【0042】
【表1】
【0043】・ 有効口径:5.6 ・ 有用倍率範囲:×1〜×200 ・ 目盛定めデータ:回折限界 光源: ID:DEM−LHT ・ 型:石英ハロゲン ・ 推奨される電力供給:12V d.c. ・ 色温度:2850°K ここで上のデータをデータベースにエンターすると、
「測定メニュー」からMTFを選択することによって電
気光学的システムについてのモジュラー・トランスファ
ー・ファンクション(Modular Transfe
r Function)(MTF)を決定することがで
きる。このシステムは次の方程式に従い倍率Mを計算す
る:
【0044】
【数2】
【0045】ここで:264=レチクルの幅(mm)、
そして8.8=2/3”標準CCDの幅(mm)。
【0046】倍率が決定されると、CCD上に影像され
たとして測定パターンの座標を上の表Iに示すレチクル
のデータから比率により決定することができる。計算に
より次の結果が得られる:
【0047】
【表2】
【0048】こうして、表Iに示すデータベース中の目
盛定めデータに基づいて、このシステムはその由来、典
型的には上部左角に関してCCD上の座標を計算する。
ここでこれらの座標を各y位置に相当するCCD走査線
および走査時間、各x位置に到達するための△tの数に
基づいて同等の系統的ビデオ信号に変換しなくてはなら
ない。この変換は、また、次の式に従い、データベース
の中に記憶されたCCD目盛定めデータに依存する:
【0049】
【数3】
【0050】式中、242はEIA標準のビデオの場中
の有効TV線の数であり、20はEIA標準の垂直sy
nc中のビデオ線の数であり、6.6は2/3”標準C
CDの高さ(mm)であり、8.8は2/3”標準CC
Dの幅(mm)であり、そして52.8はEIA標準に
ついての線の時間である。
【0051】計算された結果は図12および図13およ
び方程式(5)および(6)に関して下に記載するMT
Fアルゴリズムのための入力を構成する。
【0052】図11〜図26は、図1および図2に示す
ターゲット14とともに使用しかつレンズ13の異なる
性能のパラメーターを評価するために使用する、異なる
レチクル20〜22を示す。
【0053】こうして、図11は傾斜するへり27によ
り分離された透明の区画25および黒の区画26からな
る試験パターンを示す。このようなパターンにおいて、
へりのパターンの微分のフーリエ変換はシヌソイドのパ
ターンに等しい。しかしながら、存在しない離散周期数
と反対に連続の周期数が与えられている。
【0054】図8において、レチクル21は異なる間隔
を有する垂直のバーからなる異なるパターン28および
29を有する。異なるパターンは異なる周期数において
コントラスト・トランスファー・ファンクション(Co
ntrast Transfer Function)
の決定を可能とする。
【0055】図9は、レチクル22の異なる区域に位置
する種々のパターンを有するレチクル22を示す。こう
して、各角に、図7に示す型のレチクル20が設けられ
ている。中央に線のモジュラー・トランスファー・ファ
ンクションをその中央で測定するための単一の十字線3
0が存在するが、他のパターン、例えば、グレイ・レベ
ル試験を実施するための異なるグレイ・レベルを有する
複数の隣接する区域からなる31と表示するパターンが
十字線30の回りに存在する。
【0056】図10および図11〜図21を参照する
と、電気光学的システムを特性決定する最も普通のパラ
メーターのいくつかを決定するためのレチクル22の特
定のパターンが記載されている。
【0057】こうして、図10は、異なる空間的周期数
で、それぞれ、隣接する透明の線30および不透明の線
31をその上に有するレチクル22の区域を、概略的
に、示す。このようなレチクルの性能が完全である場
合、透明の線30の透過率は100%であるが、不透明
の線のそれはゼロであろう。事実、図6bに示すよう
に、その上のピーク値が100%より低い透過率に相当
しかつその低いピーク値がゼロより大きい透過率に相当
するビデオカメラにより、出力信号32が生成される。
【0058】出力信号32の最大値および最小値を、そ
れぞれ、SMaxおよびSMinとし、そして実際の透明およ
び不透明の透過レベルを、それぞれ、T1およびT0とす
ると、コントラスト・トランスファー・ファンクション
(CTF)は、次のようにして、計算することができ
る:
【0059】
【数4】
【0060】図12は、鋭いへり35により分離され
た、透明の区域33および不透明の区域34をその上に
有するレチクル22の区域を概略的に示す。ビデオカメ
ラにより生成されそしてそのへりが歪んでいる対応する
出力信号36が図13に示されている。
【0061】へり37を分析することによって、次の方
程式に従い、電気光学的システムのモジュラー・トラン
スファー・ファンクション(MTF)を計算することが
できる:
【0062】
【数5】
【0063】ここでLSFはへり37の微分であるライ
ン・スプレッド・ファンクション(Line Spre
ad Function)を表す。
【0064】図14は、それぞれ、透明の区域38およ
び不透明の区域39をその上に有するレチクル22の区
域を概略的に示す。図面の図10を参照して前述したよ
うに、これらの区域の各々により生成された相対的応答
は理論的には、それぞれ、100%および0%であるべ
きである。事実、雑音が出力信号の上に重ねられること
は避けられないであろう。ヒトの眼は比較的低い周波数
の雑音信号より高い周波数の雑音信号に対する反応が低
いという事実を補償するために、雑音レベルを周波数の
関数として補正する重み関数40が図15に示されてい
る。
【0065】補正する雑音信号を分析することによっ
て、次の方程式に従い、電気光学的システムのSN比を
計算することができる:
【0066】
【数6】
【0067】ここで方程式(9)はNにより表される規
則的な雑音に関し、そして方程式(10)は加重雑音に
関する。
【0068】図16は、透過率の直線のグラデーション
を有する複数の異なるグレイ・レベルの領域41をその
上に有するレチクル22の区域を概略的に示す。理想的
には、図17に示す出力信号42も直線であるが、実際
には、これは当てはまらない。
【0069】出力信号42を分析することによって、電
気光学的システムのグレイレベルの直線性を計算するこ
とができる。
【0070】図18は、レチクル22の完全な区域を通
して適用される均一な光関数43を概略的に示す。図1
9に示すように、ビネッティングのために、へりおよび
角における出力信号44は入力信号43より多少低い。
へりおよび角における出力信号44の減少を分析するこ
とによって、ビネッティングの効果を評価することがで
きる。
【0071】図20は、既知の前以て目盛定めされた位
置に、十字線により表される複数の入力点45をその上
に有するレチクル22の詳細を概略的に示す。円で表さ
れる同様な出力点46がその上に重ねられており、これ
らの円はレチクル22を通る歪みのために十字線45と
正確に一致しない。それらの期待される位置に従い出力
点46の実際の位置を正規化することによって、歪みを
評価することができる。
【0072】図21は、47により全体的に表されるカ
ラーチャートをその上にを有しかつ複数の異なる着色さ
れた領域からなるレチクル22の詳細を概略的に示す。
各着色された領域は、主要な色、例えば、赤(20
%)、緑(35%)および青(45%)の既知の、前以
て目盛定めされた混合物から形成されている。表示装置
(色モニターにより構成されている)の対応する領域の
色混合物を評価し、そして前以て目盛定めされた色混合
物からの変動を測定して色モニターの色度を確立する。
【0073】図22は、光束の急激な増加のための電気
光学的システムの一時的応答を決定するレチクルの詳細
を示す。レチクル50は、常態で光に対して不透明であ
る黒区域52隣接する、光を透過する透明の白区域51
を含有する。黒区域52は透明の区域51の相対的透過
率を決定するために、目盛定めの目的で使用される。強
度L1を有する光はレチクル50の透明の区域51を時
間t=t1−εに通過し、そして強度L2を有する光によ
り時間t=t1+εに照明され、ここでεは短い時間間
隔である。
【0074】図23はレチクル50の一時的応答をグラ
フで示し、ここで一時的時間の応答△Tは、それぞれ、
光束の2つの定常状態のレベルL1およびL2の間の時間
間隔である。
【0075】図24は公称均質のターゲット53を示
し、このターゲット53は検出器の中のきずの位置、コ
ントラストおよび特性を包含するきず詳細を提供する。
均質のターゲット53を走査して、理想的には、きずを
含まない均質の画像であるものを生成する。実際には、
検出器中のきずのために、きず54は画像の中に生成さ
れ、それらの位置、コントラストおよび特性を定量する
ことができる。
【0076】図26及び27は,ブルーミングの決定に
使用される、それらの決定された位置に明るい(すなわ
ち、透明の)スポット56を有する暗いターゲット55
を示す。画像57が生成され、ここで、汚れおよびブル
ーミング効果のために、明るいスポット56は細長い。
細長さまたは汚れの程度は電気光学的システムの品質を
特性決定し、そして「ブルーミング」と命名される。ブ
ルーミングの実際の品質は次の式に従い決定される。
【0077】
【数7】
【0078】ここで、Bは画像の中のブルーミングの量
であり、Etotalは合計のエネルギーであり、Esmear
汚れのエネルギーであり、そしてEsourceは源のエネル
ギーである。
【0079】こうして、Esmearがゼロである場合ゼロ
のブルーミングが存在し、そしてEsmearga無限に近
づくときブルーミングは1に近づく。
【0080】本発明は上に特別に詳述しなかった電気光
学的システムに関連する他のパラメーターの決定のため
に等しくよく適合されるであろうことが理解されるであ
ろう。
【0081】本発明の主な特徴および態様は、次の通り
である。
【0082】1.(a)光源(15)、被験ターゲット
(14)、レンズ(13)および影像手段(12)を有
する電気光学的システム(11)を構成するために要求
される追加の前以て目盛定めした装置に少なくとも1つ
の電気光学的試験装置を連結し、(b)複数の前以て目
盛定めした装置のそれぞれの識別コードを対応する電気
光学的性能と一緒に記憶させ、(c)影像手段を被験タ
ーゲットに対して整列させて、その収束された画像を生
成し、(d)存在する場合、前記電気光学的システムの
中のどの装置が前以て目盛定めされているかを特定し、
(e)収束された画像をディジタル化しかつ記憶させて
ディジタル化された画像を生成し、(f)ディジタル化
された画像を分析して、電気光学的システムの性能を代
表しかつ前記少なくとも1つの電気光学的試験装置の各
々および前記追加の前以て目盛定めした装置の各々の構
成部分の電気光学的性能の積である電気光学的性能を決
定し、そして(g)前記少なくとも1つの電気光学的試
験装置の各々の構成部分の電気光学的性能の積を決定す
る、からなることを特徴とする、少なくとも1つの電気
光学的試験装置(12、13、14、15)の性能を試
験する方法。
【0083】2.前記少なくとも1つの電気光学的試験
装置が光源(15)、レンズ(13)、ターゲット(1
4)、およびカメラ(12)から成る群より選択され、
そしてターゲットが前記電気光学的性能の測定を可能と
するために構成された少なくとも1つの被験区域を包含
する、上記第1項記載の方法。
【0084】3.前記少なくとも1つの電気光学的試験
装置が表示装置(18)であり、そして光源およびター
ゲットが前記電気光学的性能の測定を可能とするために
構成された電子的に発生された試験信号である、上記第
1項記載の方法。
【0085】4.前記電気光学的性能が、(a)モジュ
ラー・トランスファー・ファンクション(Modula
r Transfer Function)、(b)コ
ントラスト・トランスファー・ファンクション(Con
trastTransfer Function)、
(c)グレイレベルの直線性(Grey Level
Linearity)、(d)照明の均一性、(e)幾
何学的歪み、(f)SN比、(g)一時的応答、(h)
きず、(i)ブルーミング、および(j)色度、を代表
する、上記第1項記載の方法。
【0086】5.必要に応じて追加の前以て目盛定めし
た装置に連結された少なくとも1つの電気光学的試験装
置を含む電気光学的システム(11)、前記電気光学的
システムは光源(15)、ターゲット(14)、レンズ
(13)および影像手段(12)からなる、電気光学的
システムに連結されそして前以て目盛定めした装置の識
別コードおよびその対応する電気光学的性能のデータベ
ースをその中に記憶するメモリーを含むコンピュータ
(17)、電気光学的システムおよびコンピュータに連
結され、電気光学的システムの整列を可能としそして、
電気光学的システムが正しく整列されたとき、指示信号
を生成する光学的整列手段、前記電気光学的システムの
中の前以て目盛定めした装置の各々の識別コードを特定
する構成手段、電気光学的システムにより生成された画
像をディジタル化するために電気光学的システムに連結
され、そして対応するディジタル化された画像をその中
に記憶する前記メモリーに連結されているディジタル化
手段(16)、メモリーに連結され、電気光学的システ
ムの性能を代表し、かつ前記少なくとも1つの電気光学
的試験装置の各々および前記追加の前以て目盛定めした
装置の各々の構成部分の電気光学的性能の積に等しい電
気光学的性能を決定する分析手段、前記分析手段は前記
少なくとも1つの電気光学的試験装置の各々の構成部分
の電気光学的性能の積をさらに決定する、からなる少な
くとも1つの電気光学的試験装置の性能を決定するシス
テム(10)。
【0087】6.前記少なくとも1つの電気光学的試験
装置が光源(15)、レンズ(13)、ターゲット(1
4)、およびカメラ(12)から成る群より選択され、
そしてターゲットが前記電気光学的性能の測定を可能と
するために構成された少なくとも1つの被験区域を包含
する、上記第5項記載のシステム。
【0088】7.前記少なくとも1つの電気光学的試験
装置が表示装置(18)であり、そして光源およびター
ゲットが前記電気光学的性能の測定を可能とするために
構成された電子的に発生された試験信号である、上記第
5項記載のシステム。
【0089】8.前記電気光学的性能が、(a)モジュ
ラー・トランスファー・ファンクション、(b)コント
ラスト・トランスファー・ファンクション、(c)グレ
イレベルの直線性、(d)照明の均一性、(e)幾何学
的歪み、(f)SN比、(g)一時的応答、(h)き
ず、(i)ブルーミング、および(j)色度、を代表す
る、上記第5項記載のシステム。
【0090】9.ターゲットが前記少なくとも1つの電
気光学的試験装置により画像を形成するための高い精度
の前以て目盛定めされたレチクル(20、21、22、
50、53、55)を含み、そして分析ユニットが前記
画像を分析して少なくとも1つの試験装置の組み合わさ
れた光学的性能を決定する、上記第6項記載のシステ
ム。
【0091】10.少なくとも2つの離散パターン(2
0、30、31)をその上に有するレチクル(22)が
設けられており、パターンの各々はそれぞれの試験画像
を生成し、これにより電気光学的装置の対応する機能を
同時に試験することができる、上記第9項記載のシステ
ム。
【0092】11.電気光学的装置のモジュラー・トラ
ンスファー・ファンクションを決定するための造形へり
パターン(35)を有するレチクル(22)が設けられ
ている、上記第9項記載のシステム。
【0093】12.レチクル上の各パターン(20)が
レチクルの異なる区域において反復していて、光学的構
成部分の性能の空間的変動の決定を可能とする、上記第
9項記載のシステム。
【0094】13.上記第5項記載のシステムにおいて
使用するための、その性能を決定すべき光学的装置によ
り少なくとも1つのパターンの画像を形成するための高
い精度の前以て目盛定めされたレチクル。
【0095】14.各々がそれぞれの試験画像を生成す
るための少なくとも2つの離散試験パターン(28、2
9)が設けられており、これにより光学的構成部分の対
応する機能を同時に試験することができる、上記第13
項記載のレチクル。
【0096】15.光学的構成部分のモジュラー・トラ
ンスファー・ファンクションを決定するための造形へり
パターン(35)が設けられている、上記第13項記載
のシステム。
【0097】16.光学的構成部分の性能の空間的変動
の決定を可能とするために、各前記少なくとも1つの試
験パターン(20)がレチクルの異なる区域において反
復されている、上記第13項記載のシステム。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による別のシステムにおける主要な要素
を機能的に示すブロック線図である。
【図2】本発明による別のシステムにおける主要な要素
を機能的に示すブロック線図である。
【図3】本発明による方法における主要な操作段階を示
すフローダイヤグラムである。
【図4】図1および図2のシステムを定める構成手順に
おける主要な操作段階を示すフローダイヤグラムであ
る。
【図5】図1および図2のシステムを定める構成手順に
おける主要な操作段階を示すフローダイヤグラムであ
る。
【図6】標準の電気光学的構成部分のデータベースにお
ける新しい項目に関する図4および図5に示す構成の詳
細を示すフローダイヤグラムである。
【図7】図1に示すシステムとともに使用するための絵
画的表示である。
【図8】図1に示すシステムとともに使用するための絵
画的表示である。
【図9】図1に示すシステムとともに使用するための絵
画的表示である。
【図10】レチクルの詳細およびシステムのためのCT
Fを決定するための対応する出力信号を示す概略的表示
である。
【図11】レチクルの詳細およびシステムのためのCT
Fを決定するための対応する出力信号を示す概略的表示
である。
【図12】レチクルの詳細およびシステムのためのMT
Fを決定するための対応する出力信号を示す概略的表示
である。
【図13】レチクルの詳細およびシステムのためのMT
Fを決定するための対応する出力信号を示す概略的表示
である。
【図14】レチクルの詳細およびシステムのためのSN
比を決定するための対応する出力信号を示す概略的表示
である。
【図15】レチクルの詳細およびシステムのためのSN
比を決定するための対応する出力信号を示す概略的表示
である。
【図16】レチクルの詳細およびグレイ・レベルの直線
性についてシステムを試験するための対応する出力信号
を示す概略的表示である。
【図17】レチクルの詳細およびグレイ・レベルの直線
性についてシステムを試験するための対応する出力信号
を示す概略的表示である。
【図18】レチクルの詳細およびビネッティングについ
てシステムを試験するための対応する出力信号を示す概
略的表示である。
【図19】レチクルの詳細およびビネッティングについ
てシステムを試験するための対応する出力信号を示す概
略的表示である。
【図20】レチクルの詳細および歪みについてシステム
を試験するための対応する出力信号を示す概略的表示で
ある。
【図21】レチクルの詳細および色度についてシステム
を試験するための対応する出力信号を示す概略的表示で
ある。
【図22】レチクルの詳細およびトランジエントについ
てシステムを試験するための対応する出力信号を示す概
略的表示である。
【図23】レチクルの詳細およびトランジエントについ
てシステムを試験するための対応する出力信号を示す概
略的表示である。
【図24】レチクルの詳細およびきずについてシステム
を試験するための対応する出力信号を示す概略的表示で
ある。
【図25】レチクルの詳細およびきずについてシステム
を試験するための対応する出力信号を示す概略的表示で
ある。
【図26】レチクルの詳細およびブルーミングについて
システムを試験するための対応する出力信号を示す概略
的表示である。
【図27】レチクルの詳細およびブルーミングについて
システムを試験するための対応する出力信号を示す概略
的表示である。
【符号の説明】
10 システム 11 電気光学的システム 12 ビデオカメラ 13 レンズ 14 ターゲット 15 光源 16 ディジタイザ 17 コンピュータ 18 表示装置 19 電子信号試験発生器 20〜22 レチクル 27 傾斜するへり 30 単一の十字線、透明の線 31 パターン、不透明の線 32 出力信号 35 鋭いへり 36 出力信号 37 へり 40 重み関数 41 異なるグレイ・レベルの領域 42 出力信号 43 均一な光関数、入力信号 44 出力信号 45 入力点、十字線 46 出力点 47 カラーチャート 50 レチクル 51 透明の白区域 52 黒区域 53 公称均質のターゲット 54 きず 55 暗いターゲット 56 明るいスポット 57 画像

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (a)光源、被験ターゲット、レンズお
    よび影像手段を有する電気光学的システムを構成するた
    めに要求される追加の前以て目盛定めした装置に少なく
    とも1つの電気光学的試験装置を連結し、 (b)複数の前以て目盛定めした装置のそれぞれの識別
    コードを対応する電気光学的性能と一緒に記憶させ、 (c)影像手段を被験ターゲットに対して整列させて、
    その収束された画像を生成し、 (d)存在する場合、前記電気光学的システムの中のど
    の装置が前以て目盛定めされているかを特定し、 (e)収束された画像をディジタル化しかつ記憶させて
    ディジタル化された画像を生成し、 (f)ディジタル化された画像を分析して、電気光学的
    システムの性能を代表しかつ前記少なくとも1つの電気
    光学的試験装置の各々および前記追加の前以て目盛定め
    した装置の各々の構成部分の電気光学的性能の積である
    電気光学的性能を決定し、そして (g)前記少なくとも1つの電気光学的試験装置の各々
    の構成部分の電気光学的性能の積を決定する、からなる
    ことを特徴とする、少なくとも1つの電気光学的試験装
    置の性能を試験する方法。
  2. 【請求項2】 必要に応じて追加の前以て目盛定めした
    装置に連結された少なくとも1つの電気光学的試験装置
    を含み、前記電気光学的システムは光源、ターゲット、
    レンズおよび影像手段を具備する電気光学的システム、 電気光学的システムに連結されそして前以て目盛定めし
    た装置の識別コードおよびその対応する電気光学的性能
    のデータベースをその中に記憶するメモリーを含むコン
    ピュータ、 電気光学的システムおよびコンピュータに連結され、電
    気光学的システムの整列を可能としそして、電気光学的
    システムが正しく整列されたとき、指示信号を生成する
    光学的整列手段、 前記電気光学的システムの中の前以て目盛定めした装置
    の各々の識別コードを特定する構成手段、 電気光学的システムにより生成された画像をディジタル
    化するために電気光学的システムに連結され、そして対
    応するディジタル化された画像をその中に記憶する前記
    メモリーに連結されているディジタル化手段、 メモリーに連結され、電気光学的システムの性能を示
    し、かつ前記少なくとも1つの電気光学的試験装置の各
    々および前記追加の前以て目盛定めした装置の各々の構
    成部分の電気光学的性能の積に等しい電気光学的性能を
    決定し前記少なくとも1つの電気光学的試験装置の各々
    の構成部分の電気光学的性能の積をさらに決定する分析
    手段を具備することを特徴とする、少なくとも1つの電
    気光学的試験装置の性能を決定するシステム。
JP6329386A 1993-12-02 1994-12-02 少なくとも1つの電気光学的試験装置の性能を試験する方法およびシステム Pending JPH08233689A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
IL107835 1993-12-02
IL10783593A IL107835A (en) 1993-12-02 1993-12-02 Method and system for testing the performance of a device for use with an electro-optical system

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH08233689A true JPH08233689A (ja) 1996-09-13

Family

ID=11065536

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6329386A Pending JPH08233689A (ja) 1993-12-02 1994-12-02 少なくとも1つの電気光学的試験装置の性能を試験する方法およびシステム

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5699440A (ja)
EP (1) EP0656731A3 (ja)
JP (1) JPH08233689A (ja)
IL (1) IL107835A (ja)

Families Citing this family (51)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3971465B2 (ja) * 1995-06-08 2007-09-05 ソニー株式会社 カメラのセットアップ方法及びそのシステム
NL1002680C2 (nl) * 1996-03-21 1997-09-23 Tno Testsysteem voor optische en electro-optische waarnemingsapparatuur.
US6442288B1 (en) * 1997-12-17 2002-08-27 Siemens Aktiengesellschaft Method for reconstructing a three-dimensional image of an object scanned in the context of a tomosynthesis, and apparatus for tomosynthesis
US6198514B1 (en) * 1998-02-27 2001-03-06 Apple Computer, Inc. Color misconvergence measurement using a common monochrome image
US7898571B1 (en) * 1999-02-27 2011-03-01 Raytheon Company Versatile video data acquisition and analysis system
US7023472B1 (en) * 1999-04-23 2006-04-04 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Camera calibration using off-axis illumination and vignetting effects
US6437823B1 (en) * 1999-04-30 2002-08-20 Microsoft Corporation Method and system for calibrating digital cameras
US6542939B1 (en) * 1999-08-10 2003-04-01 International Business Machines Corporation Method and apparatus for storing volumetric vital product data (VPD) in memory associated with a connector or connector board
DE10029526C2 (de) * 2000-06-21 2003-06-18 Sirona Dental System Gmbh Verfahren zur Überprüfung von Bildwiedergabegeräten
US6778864B1 (en) * 2000-09-06 2004-08-17 Visteon Global Technologies, Inc. System and method for analyzing a component
US6995810B2 (en) * 2000-11-30 2006-02-07 Texas Instruments Incorporated Method and system for automated convergence and focus verification of projected images
US6697750B1 (en) * 2001-01-11 2004-02-24 Ciena Corporation Method and apparatus for performing parallel asynchronous testing of optical modules
DE10126546A1 (de) * 2001-05-30 2002-12-05 Wilfried Donner Vorrichtung und Verfahren zur Ermittlung eines ortsabhängigen Intensitäts- und Farbprofils und/oder Schärfeprofils optischer Linsensysteme
US7116354B2 (en) 2001-06-20 2006-10-03 Xenogen Corporation Absolute intensity determination for a light source in low level light imaging systems
DE60236158D1 (de) * 2001-06-20 2010-06-10 Xenogen Corp Absolute intensitätsmessung für eine leuchtquelle eines abbildungssystems bei niedrigem lichtpegel
JP2003075295A (ja) * 2001-09-03 2003-03-12 Seiko Epson Corp レンズの評価方法およびレンズ評価装置
EP1303147A1 (en) * 2001-10-12 2003-04-16 CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA Method for calibration of an electronic camera
US7629573B2 (en) 2002-02-06 2009-12-08 Xenogen Corporation Tissue phantom calibration device for low level light imaging systems
US7649185B2 (en) 2002-02-06 2010-01-19 Xenogen Corporation Fluorescent phantom device
KR100422295B1 (ko) * 2002-05-18 2004-03-11 엘지.필립스 엘시디 주식회사 디스플레이 장치의 화질 분석 방법 및 시스템
US7068303B2 (en) * 2002-06-03 2006-06-27 Microsoft Corporation System and method for calibrating a camera with one-dimensional objects
US7151560B2 (en) * 2002-06-20 2006-12-19 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Method and apparatus for producing calibration data for a digital camera
JP4147059B2 (ja) * 2002-07-03 2008-09-10 株式会社トプコン キャリブレーション用データ測定装置、測定方法及び測定プログラム、並びにコンピュータ読取可能な記録媒体、画像データ処理装置
US7248284B2 (en) * 2002-08-12 2007-07-24 Edward Alan Pierce Calibration targets for digital cameras and methods of using same
US7215362B2 (en) * 2002-10-31 2007-05-08 Fraunhofer-Gesellschaft Zur Foerderung Der Angewandten Forschung E.V. Auto-calibration of multi-projector systems
US7063256B2 (en) 2003-03-04 2006-06-20 United Parcel Service Of America Item tracking and processing systems and methods
US7090134B2 (en) 2003-03-04 2006-08-15 United Parcel Service Of America, Inc. System for projecting a handling instruction onto a moving item or parcel
EP1463342A1 (en) 2003-03-27 2004-09-29 Dialog Semiconductor GmbH Test system for camera modules
US7333133B2 (en) * 2003-03-31 2008-02-19 Spatial Integrated Systems, Inc. Recursive least squares approach to calculate motion parameters for a moving camera
JP4087280B2 (ja) * 2003-04-15 2008-05-21 株式会社リコー 画像処理装置、画像処理方法および画像処理システム
US7071966B2 (en) * 2003-06-13 2006-07-04 Benq Corporation Method of aligning lens and sensor of camera
CN100464247C (zh) * 2004-02-23 2009-02-25 英华达(上海)电子有限公司 自动检测相机的方法、检测系统以及储存媒体
WO2005093653A1 (ja) * 2004-03-25 2005-10-06 Sanyo Electric Co., Ltd 画像補正装置と方法、画像補正データベース作成方法、情報データ提供装置、画像処理装置、情報端末、および情報データベース装置
US7165728B2 (en) * 2004-04-02 2007-01-23 Stratos International, Inc. Radio frequency identification for transfer of component information in fiber optic testing
US7561717B2 (en) 2004-07-09 2009-07-14 United Parcel Service Of America, Inc. System and method for displaying item information
EP1628492A1 (en) * 2004-08-17 2006-02-22 Dialog Semiconductor GmbH A camera test system
EP1648181A1 (en) 2004-10-12 2006-04-19 Dialog Semiconductor GmbH A multiple frame grabber
JP2006343228A (ja) * 2005-06-09 2006-12-21 Fujifilm Holdings Corp 固体撮像素子の検査方法及び検査装置
CN101035303A (zh) * 2006-03-10 2007-09-12 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 多媒体装置测试方法
US20070230776A1 (en) * 2006-04-04 2007-10-04 Sozotek, Inc. System and method of testing imaging equipment using transformed patterns
US8094195B2 (en) * 2006-12-28 2012-01-10 Flextronics International Usa, Inc. Digital camera calibration method
FR2914099B1 (fr) * 2007-03-22 2013-04-05 Eads Test & Services Systeme de test universel apte a controler une pluralite de parametres relatifs au fonctionnement de dispositif de presentation d'informations optoelectroniques de types varies
CN101419705B (zh) * 2007-10-24 2011-01-05 华为终端有限公司 摄像机标定的方法及装置
CN101464208B (zh) * 2008-12-30 2011-04-06 上海徕木电子股份有限公司 测试光电成像系统解像力的电视线图表的制作方法
US8194136B1 (en) 2009-01-26 2012-06-05 Amazon Technologies, Inc. Systems and methods for lens characterization
NL2004777C2 (nl) * 2010-05-28 2011-11-29 Dovideq Holding B V Inrichting voor het testen van een optiek.
US9066072B2 (en) * 2010-07-20 2015-06-23 Semiconductor Components Industries, Llc Systems and methods for calibrating image sensors
DE102012102651B3 (de) * 2012-03-27 2013-07-18 Jenoptik Robot Gmbh Prüfvorrichtung und Prüfverfahren für ein Verkehrsüberwachungsgerät mit einem Laserscanner
US10471478B2 (en) 2017-04-28 2019-11-12 United Parcel Service Of America, Inc. Conveyor belt assembly for identifying an asset sort location and methods of utilizing the same
US20190180475A1 (en) * 2017-12-08 2019-06-13 Qualcomm Incorporated Dynamic camera calibration
CN111982472B (zh) * 2020-08-17 2022-06-21 福州锐景达光电科技有限公司 测量逆投影光路放大倍率的方法及建立mtf曲线的方法

Family Cites Families (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3552288A (en) * 1968-01-19 1971-01-05 Ferrand David Ernest Corley Grey-scale test slide
US3938892A (en) * 1973-04-24 1976-02-17 The United States Of America As Represented By The United States National Aeronautics And Space Administration Electronic optical transfer function analyzer
US4060328A (en) * 1976-02-06 1977-11-29 Varo, Inc. System for measuring the modulation transfer function of an optical device
US4241996A (en) * 1976-12-06 1980-12-30 Exotech, Incorporated Apparatus for measuring the quality of optical equipment
US4274737A (en) * 1979-10-19 1981-06-23 Massachusetts Institute Of Technology Test patterns for lens evaluation
US4316211A (en) * 1980-09-30 1982-02-16 Rca Corporation Color kinescope convergence measuring system
US4491868A (en) * 1981-05-06 1985-01-01 Inspection Technology Inc. Video image compensator for inspection apparatus
US4513319A (en) * 1981-12-30 1985-04-23 U.S. Philips Corporation Method for automatically setting up a television camera
US4575124A (en) * 1982-04-05 1986-03-11 Ampex Corporation Reproducible gray scale test chart for television cameras
FR2525843B1 (fr) * 1982-04-23 1986-06-27 Thomson Csf Dispositif de commande de correction et systeme d'etablissement automatique de donnees de correction d'une camera de television
FR2526963B1 (fr) * 1982-05-14 1985-09-27 Thomson Csf Mire optique pour correction des defauts de convergence d'une camera couleurs
US4454541A (en) * 1982-06-14 1984-06-12 Rca Corporation Charge coupled device based blemish detection system and method
JPS5952359A (ja) * 1982-09-02 1984-03-26 Hitachi Medical Corp 画像間演算時の画像歪み自動補正装置
JPS59100685A (ja) * 1982-11-30 1984-06-09 Toshiba Corp カラ−テレビジヨンカメラ装置
NL8300725A (nl) * 1983-02-25 1984-09-17 Optische Ind De Oude Delft Nv Werkwijze en inrichting voor het bepalen van de beeldoverdrachtskwaliteit van een afbeeldend systeem.
US4582427A (en) * 1983-10-13 1986-04-15 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Test target for adaptive optics
US4586817A (en) * 1984-02-27 1986-05-06 Rca Corporation Method for determining the MTF of a viewing window
US4641963A (en) * 1985-05-02 1987-02-10 Rca Corporation Back-illuminated CCD imager adapted for contrast transfer function measurements thereon
FR2584832B1 (fr) * 1985-07-10 1987-11-20 Matra Procede et dispositif de determination de la qualite d'un instrument optique et notamment de sa fonction de transfert
US4767215A (en) * 1986-06-09 1988-08-30 Ateoq Corporation Lens characterization apparatus and method
US4760447A (en) * 1986-07-31 1988-07-26 Picker International, Inc. Calibration pattern and method for matching characteristics of video monitors and cameras
US4866644A (en) * 1986-08-29 1989-09-12 Shenk John S Optical instrument calibration system
US4963828A (en) * 1988-03-04 1990-10-16 Hitachi, Ltd. Picture quality testing method and apparatus for color cathode-ray tube
US5033015A (en) * 1988-08-12 1991-07-16 Hughes Aircraft Company Automated system for testing an imaging sensor
DE3836280C1 (ja) * 1988-10-25 1989-08-10 Rohde & Schwarz Gmbh & Co Kg, 8000 Muenchen, De
US4962425A (en) * 1988-10-27 1990-10-09 National Research Council Of Canada/Conseil National Deresherches Canada Photometric device
KR910007703B1 (ko) * 1988-11-17 1991-09-30 삼성전관 주식회사 고체촬상소자의 블루밍 측정방법 및 그 장치
MY105189A (en) * 1989-01-31 1994-08-30 Sony Corp Adjusting apparatus for cathode ray tube equipment.
JP2841301B2 (ja) * 1989-04-28 1998-12-24 池上通信機株式会社 カラーテレビカメラの色補正装置
US4991007A (en) * 1989-05-05 1991-02-05 Corley Ferrand D E Image evaluation of at least one characteristic of an object, and method of evaluation
US5257092A (en) * 1990-06-27 1993-10-26 Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha Apparatus for measuring polarization and birefringence
US5075883A (en) * 1991-01-03 1991-12-24 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Analog and analytical computation method for determining detector MTF
US5140418A (en) * 1991-03-18 1992-08-18 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army System for quantitatively evaluating imaging devices
DE4219641A1 (de) * 1992-06-16 1993-12-23 Nokia Deutschland Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Konvergenzmessung bei einer Farbbildröhre
JPH0638221A (ja) * 1992-07-17 1994-02-10 Hitachi Denshi Ltd テレビジョンカメラの自動調整方法
US5351201A (en) * 1992-08-19 1994-09-27 Mtl Systems, Inc. Method and apparatus for automatic performance evaluation of electronic display devices

Also Published As

Publication number Publication date
IL107835A (en) 1996-07-23
US5699440A (en) 1997-12-16
IL107835A0 (en) 1994-04-12
EP0656731A2 (en) 1995-06-07
EP0656731A3 (en) 1995-10-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH08233689A (ja) 少なくとも1つの電気光学的試験装置の性能を試験する方法およびシステム
US7394483B2 (en) Display evaluation method and apparatus
EP1785714B1 (en) Lens evaluation device
KR0156656B1 (ko) 화질 검사 장치
US6760097B2 (en) Lens evaluation method and lens-evaluating apparatus
US6600468B1 (en) System for measuring modulation transfer function and method for evaluating image quality of color liquid crystal displays using the system
US5400135A (en) Automatic defect inspection apparatus for color filter
US20030048436A1 (en) Lens-evaluating method and lens-evaluating apparatus
US20070258056A1 (en) Rear projection type display apparatus
US6111259A (en) Color adjusting method
US5267038A (en) Synthetic aperture video photometer system
Robson et al. Suitability of the Pulnix TM6CN CCD camera for photogrammetric measurement
JPH0875542A (ja) 表示画素の光量測定方法並びに表示画面の検査方法及び装置
US20210235047A1 (en) Method and apparatus for correcting color convergence error
US7456908B2 (en) Method of performing convergence calibration for a display
Kim et al. Evaluation of image quality of color liquid crystal displays by measuring modulation transfer function
US5402225A (en) Optical instrument evaluation using modulation transfer function chart
Boynton et al. Measuring the contrast ratio of displays
Teaney et al. Evaluating the performance of reflective band imaging systems: a tutorial
US5838425A (en) Exposure control for the photographic recording of a microscope image
KR20010034160A (ko) 전자 빔 프로파일 측정 방법 및 시스템
Kaur et al. Display MTF measurements based on scanning and imaging technologies and its importance in the application space
Leroux New uniformity measurement method for LCD panels
JP2000105167A (ja) 画質検査装置のアドレス・キャリブレーション方法
SU1173374A1 (ru) Теневой прибор

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040608

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20050111