JPH09274452A - 有機ledマトリクス製造方法 - Google Patents
有機ledマトリクス製造方法Info
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- JPH09274452A JPH09274452A JP8238393A JP23839396A JPH09274452A JP H09274452 A JPH09274452 A JP H09274452A JP 8238393 A JP8238393 A JP 8238393A JP 23839396 A JP23839396 A JP 23839396A JP H09274452 A JPH09274452 A JP H09274452A
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- material layer
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
- H10K71/10—Deposition of organic active material
- H10K71/16—Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/10—OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
- H10K50/11—OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED] characterised by the electroluminescent [EL] layers
-
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
- H10K71/10—Deposition of organic active material
- H10K71/16—Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering
- H10K71/166—Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering using selective deposition, e.g. using a mask
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Led Devices (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 有機LEDマトリクスを容易に精度高く製造
しパシベートする方法を提供する。 【解決手段】 基板(13)上にフォトレジスト層(1
4)、更にフォトレジスト層上に金属層(15)を形成
し、基板上に物質の単位体(30,32,34)をパタ
ーニングする。フォトレジスト層にパターニングを行い
基板の部分を露出させる開口(20)を規定し、金属層
にパターニングを行い開口より小さい孔(19)を規定
することにより、基板の露出表面を陰領域(22,2
3)と明領域(21)とに分割する。孔にほぼ垂直に第
1物質系(31)を蒸着し、明領域内の基板表面上に第
1有機LED(30)を形成する。孔に対してある角度
(α,β)で第2及び第3物質系(33,35)を蒸着
し、陰領域内に第2および第3有機LED(32,3
4)を形成する。第1LED上に垂直に、第2LED上
にある角度(α,β)をもって、パシベーション物質
(70,72,74)を蒸着する。
しパシベートする方法を提供する。 【解決手段】 基板(13)上にフォトレジスト層(1
4)、更にフォトレジスト層上に金属層(15)を形成
し、基板上に物質の単位体(30,32,34)をパタ
ーニングする。フォトレジスト層にパターニングを行い
基板の部分を露出させる開口(20)を規定し、金属層
にパターニングを行い開口より小さい孔(19)を規定
することにより、基板の露出表面を陰領域(22,2
3)と明領域(21)とに分割する。孔にほぼ垂直に第
1物質系(31)を蒸着し、明領域内の基板表面上に第
1有機LED(30)を形成する。孔に対してある角度
(α,β)で第2及び第3物質系(33,35)を蒸着
し、陰領域内に第2および第3有機LED(32,3
4)を形成する。第1LED上に垂直に、第2LED上
にある角度(α,β)をもって、パシベーション物質
(70,72,74)を蒸着する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、基板上に1つ以上
の物質系の単位体(item)を製造し、この単位体をパシベ
ート(passivate)する方法に関するものである。
の物質系の単位体(item)を製造し、この単位体をパシベ
ート(passivate)する方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】今日、有機発光ダイオード(LED:lig
ht emitting diode)は非常に普及しつつあるが、その理
由として、多数の物質が使用可能であり、有機物質が比
較的安価であり、しかもかかる物質を加工可能な形態に
生成するのが容易であることがあげられる。しかしなが
ら、有機LED表示装置に伴う主な難点の1つが、有機
物質をパターニングして別々のLEDを形成する際に生
じる。
ht emitting diode)は非常に普及しつつあるが、その理
由として、多数の物質が使用可能であり、有機物質が比
較的安価であり、しかもかかる物質を加工可能な形態に
生成するのが容易であることがあげられる。しかしなが
ら、有機LED表示装置に伴う主な難点の1つが、有機
物質をパターニングして別々のLEDを形成する際に生
じる。
【0003】パターニングによって有機物質を帯状に形
成する方法が提案されており、この方法は、垂直シャド
ウ・マスク(vertical shadow mask)、即ち、直立壁部を
使用し、この壁部に対しある角度に方向付けて有機物質
を蒸着することによって、別個のストライプを形成す
る。かかる有機LED表示装置製造方法に関する更に別
の情報は、米国特許第5,276,380号、第5,294,869号、お
よび第5,294,870号にも開示されている。
成する方法が提案されており、この方法は、垂直シャド
ウ・マスク(vertical shadow mask)、即ち、直立壁部を
使用し、この壁部に対しある角度に方向付けて有機物質
を蒸着することによって、別個のストライプを形成す
る。かかる有機LED表示装置製造方法に関する更に別
の情報は、米国特許第5,276,380号、第5,294,869号、お
よび第5,294,870号にも開示されている。
【0004】これらの製造方法の殆どには、原寸法(cru
de dimension)にしか適用できないという問題がある。
また、直立壁部は正確に形成し位置付けるのが比較的難
しい。更に、種々のカラー素子の全てを一体化されたプ
ロセスにおいて製造するので、これら製造プロセスにお
ける工程の多くで重複する層が生産され、最終素子の効
率低下を招く可能性がある。
de dimension)にしか適用できないという問題がある。
また、直立壁部は正確に形成し位置付けるのが比較的難
しい。更に、種々のカラー素子の全てを一体化されたプ
ロセスにおいて製造するので、これら製造プロセスにお
ける工程の多くで重複する層が生産され、最終素子の効
率低下を招く可能性がある。
【0005】また、有機発光ダイオードは、周囲空気内
の酸素および水蒸気の存在に敏感であるため、正しい動
作および長寿命を期待するには、機密封止する必要があ
る。従来の機密封止構造は、金属製被覆、厚いパターニ
ングされた金属および連続絶縁バリア層を含むため、通
常、大きなマトリクスのための機密封止は、余りにも大
きく嵩ばるものである。更に、一旦有機物質を所定位置
に配置すると、これらは高温に敏感となる。また、一般
的に、良好な機密封止材となる低温誘電体を発見するの
は困難である。
の酸素および水蒸気の存在に敏感であるため、正しい動
作および長寿命を期待するには、機密封止する必要があ
る。従来の機密封止構造は、金属製被覆、厚いパターニ
ングされた金属および連続絶縁バリア層を含むため、通
常、大きなマトリクスのための機密封止は、余りにも大
きく嵩ばるものである。更に、一旦有機物質を所定位置
に配置すると、これらは高温に敏感となる。また、一般
的に、良好な機密封止材となる低温誘電体を発見するの
は困難である。
【0006】したがって、有機発光ダイオード表示装
置、特に、カラー表示装置を、容易に、好都合にしかも
精度高く生産し、パシベートすることができる製造プロ
セスを考案することができれば望ましいであろう。
置、特に、カラー表示装置を、容易に、好都合にしかも
精度高く生産し、パシベートすることができる製造プロ
セスを考案することができれば望ましいであろう。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、新規
で改良された有機LEDマトリクス製造方法を提供する
ことである。
で改良された有機LEDマトリクス製造方法を提供する
ことである。
【0008】本発明の他の目的は、有機LEDマトリク
ス等をパシベートする、新規で改良された方法を提供す
ることである。
ス等をパシベートする、新規で改良された方法を提供す
ることである。
【0009】本発明の更に他の目的は、比較的容易で安
価な、有機LEDマトリクスを製造し、および/または
パシベートする新規で改良された方法を提供することで
ある。
価な、有機LEDマトリクスを製造し、および/または
パシベートする新規で改良された方法を提供することで
ある。
【0010】本発明の更に他の目的は、高解像度表示装
置のための比較的精度が高い物質の単位体を生成するこ
とができる、新規で改良された有機LEDマトリクスの
製造方法を提供することである。
置のための比較的精度が高い物質の単位体を生成するこ
とができる、新規で改良された有機LEDマトリクスの
製造方法を提供することである。
【0011】本発明の更に別の目的は、重量および厚さ
の減少を図ったマトリクスを生産可能な、新規で改良さ
れた有機LEDマトリクスを製造および/またはパシベ
ートする方法を提供することである。
の減少を図ったマトリクスを生産可能な、新規で改良さ
れた有機LEDマトリクスを製造および/またはパシベ
ートする方法を提供することである。
【0012】本発明の更に別の目的は、1回のリソグラ
フィで、単一の集積マスクを用いて、有機LEDマトリ
クスを製造し、パシベートする、新規で改良された方法
を提供することである。
フィで、単一の集積マスクを用いて、有機LEDマトリ
クスを製造し、パシベートする、新規で改良された方法
を提供することである。
【0013】
【課題を解決するための手段】上述のおよびその他の問
題の少なくとも部分的な解決、ならびに上述のおよびそ
の他の目的の実現は、支持基板上で物質の単位体にパタ
ーニングを行う方法によって達成される。基板はベース
を含み、その上に導電層が配され、更に、この導電層の
部分を露出させる空胴を除いて、絶縁層によって覆われ
ている。前述の方法は、基板表面上に、絶縁層の空胴を
覆う第1物質層を形成し、この第1物質層上に第2物質
層を形成する段階を含む。第1物質層は、その中に第1
横断寸法を有し空胴を含む基板表面の一部分を露出させ
る、開口を規定するように形成され、第2物質層は、第
1横断寸法より小さい第2横断寸法を有し、空胴の1つ
と全体的に同軸状に配置された孔を規定するように形成
される。第2物質層は、開口内の基板の露出表面の一部
分を覆うように配置され、基板の露出表面を、空胴の1
つを含む陰領域と、第2の空胴を含む明領域とに分割す
る。孔に対して全体的に垂直に第1物質系を堆積し、明
領域内の基板表面上に、上述の1つの空胴を覆う第1物
質系の単位体を形成する。また、孔に対してある角度を
もって第2部質系を堆積し、陰領域内の基板表面上に、
第2空胴を覆う第2物質系の単位体を形成する。
題の少なくとも部分的な解決、ならびに上述のおよびそ
の他の目的の実現は、支持基板上で物質の単位体にパタ
ーニングを行う方法によって達成される。基板はベース
を含み、その上に導電層が配され、更に、この導電層の
部分を露出させる空胴を除いて、絶縁層によって覆われ
ている。前述の方法は、基板表面上に、絶縁層の空胴を
覆う第1物質層を形成し、この第1物質層上に第2物質
層を形成する段階を含む。第1物質層は、その中に第1
横断寸法を有し空胴を含む基板表面の一部分を露出させ
る、開口を規定するように形成され、第2物質層は、第
1横断寸法より小さい第2横断寸法を有し、空胴の1つ
と全体的に同軸状に配置された孔を規定するように形成
される。第2物質層は、開口内の基板の露出表面の一部
分を覆うように配置され、基板の露出表面を、空胴の1
つを含む陰領域と、第2の空胴を含む明領域とに分割す
る。孔に対して全体的に垂直に第1物質系を堆積し、明
領域内の基板表面上に、上述の1つの空胴を覆う第1物
質系の単位体を形成する。また、孔に対してある角度を
もって第2部質系を堆積し、陰領域内の基板表面上に、
第2空胴を覆う第2物質系の単位体を形成する。
【0014】堆積された単位体およびシャドウ・マスク
を含む上述の基板は、同様の方法でパシベートされる。
遠隔配置された物質源から、シャドウ・マスク内の孔に
対して概略的に垂直な方向に、パシベーション物質を蒸
着し、堆積された単位体上にパシベーション被膜を形成
する。更に別の単位体を陰領域に堆積する場合、孔に対
してある角度でパシベーション物質を蒸着し、これらの
単位体上にもパシベーション被膜を形成する。完全なパ
シベーションを与えるためには、遠隔配置された物質源
または基板の一方を、垂直方向および/または前述の角
度を中心として、振動させる必要がある場合もある。
を含む上述の基板は、同様の方法でパシベートされる。
遠隔配置された物質源から、シャドウ・マスク内の孔に
対して概略的に垂直な方向に、パシベーション物質を蒸
着し、堆積された単位体上にパシベーション被膜を形成
する。更に別の単位体を陰領域に堆積する場合、孔に対
してある角度でパシベーション物質を蒸着し、これらの
単位体上にもパシベーション被膜を形成する。完全なパ
シベーションを与えるためには、遠隔配置された物質源
または基板の一方を、垂直方向および/または前述の角
度を中心として、振動させる必要がある場合もある。
【0015】
【発明の実施の形態】これより図面を参照して、本発明
の実施例を説明する。図1ないし図5は、本発明によ
る、支持基板上に物質の単位体を作成するプロセスにお
ける一連の工程を示す。具体的に図1を参照すると、上
面を有する基板10即ちベースが示されている。マスキ
ングおよびエッチング、マスキングおよび堆積、選択的
堆積等のようないずれかの好都合な方法で、基板10の
表面上に導電層を配置し、パターニングを行ってストラ
イプ11即ち行を形成する。複数のストライプ11は、
行状に平行にかつ水平方向に延び、各々既知の態様で当
該行における全素子の1端子として機能する。窒化物ま
たは酸化物のような誘電体物質の層12を、ストライプ
11上に堆積し、例えば、ベース10全体を覆うブラン
ケット層としてもよい。マスキングおよびエッチングま
たは他の好都合な方法のいずれかによって、層12に空
胴12A,12B,12Cを規定し、ストライプ11の
表面の部分を露出させる。
の実施例を説明する。図1ないし図5は、本発明によ
る、支持基板上に物質の単位体を作成するプロセスにお
ける一連の工程を示す。具体的に図1を参照すると、上
面を有する基板10即ちベースが示されている。マスキ
ングおよびエッチング、マスキングおよび堆積、選択的
堆積等のようないずれかの好都合な方法で、基板10の
表面上に導電層を配置し、パターニングを行ってストラ
イプ11即ち行を形成する。複数のストライプ11は、
行状に平行にかつ水平方向に延び、各々既知の態様で当
該行における全素子の1端子として機能する。窒化物ま
たは酸化物のような誘電体物質の層12を、ストライプ
11上に堆積し、例えば、ベース10全体を覆うブラン
ケット層としてもよい。マスキングおよびエッチングま
たは他の好都合な方法のいずれかによって、層12に空
胴12A,12B,12Cを規定し、ストライプ11の
表面の部分を露出させる。
【0016】以下でより詳細に説明するが、空胴12
A,12B,12Cのサイズは、基板上に作成される単
位体の電流搬送特性における、重要なファクタとなる。
したがって、空胴12A,12B,12Cのサイズおよ
び形状は、作成される単位体の導電または放出特性にお
ける誤差を補うように、これらを規定する間に調整可能
であることは理解されよう。空胴12A,12B,12
Cは、円形、正方形、楕円形等を含む、実質的にあらゆ
る所望の形状(層12の面において)とすることができ
る。
A,12B,12Cのサイズは、基板上に作成される単
位体の電流搬送特性における、重要なファクタとなる。
したがって、空胴12A,12B,12Cのサイズおよ
び形状は、作成される単位体の導電または放出特性にお
ける誤差を補うように、これらを規定する間に調整可能
であることは理解されよう。空胴12A,12B,12
Cは、円形、正方形、楕円形等を含む、実質的にあらゆ
る所望の形状(層12の面において)とすることができ
る。
【0017】この特定実施例では、以降の開示のため
に、図1に示す構造全体を、支持基板13と看做すこと
にする。また、この開示の目的上、「支持基板」という
用語は、作成される単位体を支持するために用意された
あらゆる基板を含むものとし、例えば、ガラス板、クオ
ーツ板、プラスチック板、半導体チップ、集積回路が形
成された半導体チップ、付加的な物質層が形成された半
導体チップ等も含むことは理解されよう。また、図1な
いし図5の構造は、素子(例えば、画素)の行および列
を含む二次元マトリクスを表わし、1つの素子を分解し
説明することによって、本開示を簡略化している。ま
た、具体的なマトリクスを示すのは説明のためであり、
多くの変更や修正が想起し得ることも、当業者は理解す
るであろう。
に、図1に示す構造全体を、支持基板13と看做すこと
にする。また、この開示の目的上、「支持基板」という
用語は、作成される単位体を支持するために用意された
あらゆる基板を含むものとし、例えば、ガラス板、クオ
ーツ板、プラスチック板、半導体チップ、集積回路が形
成された半導体チップ、付加的な物質層が形成された半
導体チップ等も含むことは理解されよう。また、図1な
いし図5の構造は、素子(例えば、画素)の行および列
を含む二次元マトリクスを表わし、1つの素子を分解し
説明することによって、本開示を簡略化している。ま
た、具体的なマトリクスを示すのは説明のためであり、
多くの変更や修正が想起し得ることも、当業者は理解す
るであろう。
【0018】次に図2を参照すると、未現像のフォトレ
ジスト等のような除去可能物質の層14が、いずれかの
好都合な方法によって、支持基板13の表面11上に配
置されている。金属のような十分に硬い物質の層15
を、層14上に配置する。通常、層14,15双方は、
支持基板13全体を覆う単なるブランケット層であり、
ここで利用する具体的な方法および機器と適合性があ
る、多くの既知の方法のいずれかで堆積される。
ジスト等のような除去可能物質の層14が、いずれかの
好都合な方法によって、支持基板13の表面11上に配
置されている。金属のような十分に硬い物質の層15
を、層14上に配置する。通常、層14,15双方は、
支持基板13全体を覆う単なるブランケット層であり、
ここで利用する具体的な方法および機器と適合性があ
る、多くの既知の方法のいずれかで堆積される。
【0019】図3に示すように、層15の表面にフォト
レジスト層16を堆積し、いずれかの好都合な方法でパ
ターニングを行ってマスクを形成する。層16は、その
中に開口17が規定されており、開口17によって層1
5の表面の一部分が露出されている。次に、図4に示す
ように、いずれかの好都合なエッチング材によって、層
15の露出部分をエッチングし、その中に孔19を形成
する。通常、エッチング材は、層15を構成する物質に
よって決定される。孔19は、空胴12Aの横断寸法よ
りも大きな横断寸法W1を有し、堆積される物質の単位
体1つの幅にほぼ等しい。これについては以下で説明す
る。紙面に垂直な方向の寸法は、空胴12A,12B,
12Cの形状によって異なり、例えば、空胴12A,1
2B,12Cが正方形の場合、W1と同一である。一旦
孔19が層15に適正に規定されたなら、層16を露光
し、層15によって覆われていない層14の部分と共に
現像し除去する。次に、酸素プラズマ、化学的エッチン
グ、露光および現像等のようないずれかの好都合な方法
で、図5に示すように、層14の部分を層15の下から
除去する。
レジスト層16を堆積し、いずれかの好都合な方法でパ
ターニングを行ってマスクを形成する。層16は、その
中に開口17が規定されており、開口17によって層1
5の表面の一部分が露出されている。次に、図4に示す
ように、いずれかの好都合なエッチング材によって、層
15の露出部分をエッチングし、その中に孔19を形成
する。通常、エッチング材は、層15を構成する物質に
よって決定される。孔19は、空胴12Aの横断寸法よ
りも大きな横断寸法W1を有し、堆積される物質の単位
体1つの幅にほぼ等しい。これについては以下で説明す
る。紙面に垂直な方向の寸法は、空胴12A,12B,
12Cの形状によって異なり、例えば、空胴12A,1
2B,12Cが正方形の場合、W1と同一である。一旦
孔19が層15に適正に規定されたなら、層16を露光
し、層15によって覆われていない層14の部分と共に
現像し除去する。次に、酸素プラズマ、化学的エッチン
グ、露光および現像等のようないずれかの好都合な方法
で、図5に示すように、層14の部分を層15の下から
除去する。
【0020】層15の横方向のアンダーカットによっ
て、孔19の横断方向寸法W1よりも大きな横断方向寸
法W2を有する開口20が層14に規定され、空胴12
A,12B,12Cを含む支持基板13の表面の一部分
を露出させる。層15はその突出部を保持し、これから
説明する後続の処理に耐えられるように、十分堅牢でな
ければならない。層15は種々の異なる金属または金属
の組み合わせとすることができるが、適当な特性を有
し、加工が簡単な金属の具体的な例の1つは、金であ
る。本実施例では、開口20の横断方向寸法W2は、空
胴12A周囲に明領域(non-shadow area)21、空胴1
2B周囲に陰領域(shadow area)22、そして空胴12
C周囲に陰領域23を設けるように選択される。更に、
領域22,23は、領域21よりも僅かに大きく、その
目的は説明が進むにつれて明らかとなろう。
て、孔19の横断方向寸法W1よりも大きな横断方向寸
法W2を有する開口20が層14に規定され、空胴12
A,12B,12Cを含む支持基板13の表面の一部分
を露出させる。層15はその突出部を保持し、これから
説明する後続の処理に耐えられるように、十分堅牢でな
ければならない。層15は種々の異なる金属または金属
の組み合わせとすることができるが、適当な特性を有
し、加工が簡単な金属の具体的な例の1つは、金であ
る。本実施例では、開口20の横断方向寸法W2は、空
胴12A周囲に明領域(non-shadow area)21、空胴1
2B周囲に陰領域(shadow area)22、そして空胴12
C周囲に陰領域23を設けるように選択される。更に、
領域22,23は、領域21よりも僅かに大きく、その
目的は説明が進むにつれて明らかとなろう。
【0021】多少異なる実施例では、図6に示すよう
に、ほぼ開口20の寸法にフォトレジスト20’の部分
を敷設することによって、図5の構造に類似した構造
(図示せず)を構成することができる。次いで、フォト
レジストの各側に、部分的に上面を覆うように金属をめ
っきし、孔19’を規定する。金属は、フォトレジスト
20’上の金属の高さ(H+L)にほぼ等しい距離Lだ
け、フォトレジスト20’の上面上で延びるので、孔1
9’は都合よく規定される。次に、フォトレジスト2
0’を露光し、現像することによって、図5に示したも
のと同様の開口および突出部を残す。この構造では、開
口を規定する第1物質層14’と、突出して開口19’
を規定する突出物質の第2層15’とは、同一物質で形
成されている。
に、ほぼ開口20の寸法にフォトレジスト20’の部分
を敷設することによって、図5の構造に類似した構造
(図示せず)を構成することができる。次いで、フォト
レジストの各側に、部分的に上面を覆うように金属をめ
っきし、孔19’を規定する。金属は、フォトレジスト
20’上の金属の高さ(H+L)にほぼ等しい距離Lだ
け、フォトレジスト20’の上面上で延びるので、孔1
9’は都合よく規定される。次に、フォトレジスト2
0’を露光し、現像することによって、図5に示したも
のと同様の開口および突出部を残す。この構造では、開
口を規定する第1物質層14’と、突出して開口19’
を規定する突出物質の第2層15’とは、同一物質で形
成されている。
【0022】次に図7を参照すると、支持基板13上に
物質の単位体を作成するプロセスにおける連続工程が示
されている。図5のシャドウ・マスクを利用して、孔1
9に対して概略的に垂直な物質源31から物質を供給す
る(direct)ことによって、開口20の領域21内の空胴
12Aに、第1物質系の単位体30を堆積する。孔19
は空胴12Aよりも大きいので、単位体30は空胴12
Aを超えて外側に層12の表面上に広がる。したがっ
て、単位体30が複数の物質層(例えば、有機ダイオー
ド)を含む場合、これらの層は導電層11によって短絡
することはない。次に、孔19に対して第1角度αで物
質源33から物質を供給することによって、開口20の
領域22内の空胴12Bに、第2物質系の単位体32を
堆積する。更に、孔19に対して第2角度βで物質源3
5から物質を供給することによって、開口20の領域2
3内の空胴12Cに、第3物質系の単位体34を堆積す
る。一具体例では、物質源31,33,35の物質は、
孔19から十分離れた距離にある真空チャンバにおいて
蒸発せられるので、物質源31,33,35から発する
粒子は、全体的に平行線状(点または線光源と同様、ま
たは平行化された光)に、孔19およびターゲット(支
持基板13)に向かって移動するように見える。
物質の単位体を作成するプロセスにおける連続工程が示
されている。図5のシャドウ・マスクを利用して、孔1
9に対して概略的に垂直な物質源31から物質を供給す
る(direct)ことによって、開口20の領域21内の空胴
12Aに、第1物質系の単位体30を堆積する。孔19
は空胴12Aよりも大きいので、単位体30は空胴12
Aを超えて外側に層12の表面上に広がる。したがっ
て、単位体30が複数の物質層(例えば、有機ダイオー
ド)を含む場合、これらの層は導電層11によって短絡
することはない。次に、孔19に対して第1角度αで物
質源33から物質を供給することによって、開口20の
領域22内の空胴12Bに、第2物質系の単位体32を
堆積する。更に、孔19に対して第2角度βで物質源3
5から物質を供給することによって、開口20の領域2
3内の空胴12Cに、第3物質系の単位体34を堆積す
る。一具体例では、物質源31,33,35の物質は、
孔19から十分離れた距離にある真空チャンバにおいて
蒸発せられるので、物質源31,33,35から発する
粒子は、全体的に平行線状(点または線光源と同様、ま
たは平行化された光)に、孔19およびターゲット(支
持基板13)に向かって移動するように見える。
【0023】角度αおよびβは、孔19の横断方向寸法
W1および支持基板13の表面11上の高さhが分かれ
ば、正確に決定できることは、当業者には理解されよ
う。通常、角度αおよびβは、約30゜ないし50゜の
範囲であるが、この範囲および/または特定の角度は、
層14の厚さを調節することによって、選択または事前
決定することができる。また、空胴12A,12B,1
2Cの寸法は異なっていても、孔19の横断方向寸法W
1によって単位体30の幅を決め、単位体32,34を
単位体30とほぼ同一幅にすることが望ましい。以上の
説明から分かるように、高さhを正確に決定することに
より、単位体30,32,34が開口20内に平行に離
間された関係で配置され、単位体間の空間が十分なので
電気的な相互接続が防止される。単位体30,32,3
4を堆積する順番はさほど重要ではなく、本開示または
特許請求の範囲のいずれに記載された順番も、決して本
発明の範囲の限定を意図するものではない。
W1および支持基板13の表面11上の高さhが分かれ
ば、正確に決定できることは、当業者には理解されよ
う。通常、角度αおよびβは、約30゜ないし50゜の
範囲であるが、この範囲および/または特定の角度は、
層14の厚さを調節することによって、選択または事前
決定することができる。また、空胴12A,12B,1
2Cの寸法は異なっていても、孔19の横断方向寸法W
1によって単位体30の幅を決め、単位体32,34を
単位体30とほぼ同一幅にすることが望ましい。以上の
説明から分かるように、高さhを正確に決定することに
より、単位体30,32,34が開口20内に平行に離
間された関係で配置され、単位体間の空間が十分なので
電気的な相互接続が防止される。単位体30,32,3
4を堆積する順番はさほど重要ではなく、本開示または
特許請求の範囲のいずれに記載された順番も、決して本
発明の範囲の限定を意図するものではない。
【0024】好適実施例では、単位体30,32,34
を形成する各物質系は、有機発光ダイオードを形成する
物質を含む。この目的のために利用可能な、有機発光ダ
イオード35の断面図を図8に示す。発光ダイオード3
5は基板10上に形成され、導電層11が第1電極とな
っている。正孔搬送層36を層11上に配置し、発光層
37を層36上に配置し、電子搬送層38を層37上に
配置し、更に導電層39を層38上に配することによっ
て第2端子を形成すると、ダイオードが完成する。有機
発光ダイオードの分野に精通する者には分かるように、
正孔注入および搬送帯、ならびに電子注入および搬送帯
を様々に組み合わせて利用することにより、異なる物質
でダイオードを形成することも可能である。しかしなが
ら、通常、2つの電極とその間に狭持される発光層とを
使用することが、最低限必要とされる。
を形成する各物質系は、有機発光ダイオードを形成する
物質を含む。この目的のために利用可能な、有機発光ダ
イオード35の断面図を図8に示す。発光ダイオード3
5は基板10上に形成され、導電層11が第1電極とな
っている。正孔搬送層36を層11上に配置し、発光層
37を層36上に配置し、電子搬送層38を層37上に
配置し、更に導電層39を層38上に配することによっ
て第2端子を形成すると、ダイオードが完成する。有機
発光ダイオードの分野に精通する者には分かるように、
正孔注入および搬送帯、ならびに電子注入および搬送帯
を様々に組み合わせて利用することにより、異なる物質
でダイオードを形成することも可能である。しかしなが
ら、通常、2つの電極とその間に狭持される発光層とを
使用することが、最低限必要とされる。
【0025】図7の構造において、物質源31を用いて
ある物質系を堆積することにより、緑色光を発光する有
機ダイオードが得られる。同様に、物質源33を用いて
ある物質系を堆積することにより、赤色光を発光する有
機ダイオードが得られ、更に物質源35を用いてある物
質系を堆積することにより、青色光を発光する有機ダイ
オードが得られる。勿論、種々の物質源31,33,3
5を相互交換したり、他の物質源と交換することが望ま
しいまたは好都合であるなら、そうしてもよいことは理
解されよう。
ある物質系を堆積することにより、緑色光を発光する有
機ダイオードが得られる。同様に、物質源33を用いて
ある物質系を堆積することにより、赤色光を発光する有
機ダイオードが得られ、更に物質源35を用いてある物
質系を堆積することにより、青色光を発光する有機ダイ
オードが得られる。勿論、種々の物質源31,33,3
5を相互交換したり、他の物質源と交換することが望ま
しいまたは好都合であるなら、そうしてもよいことは理
解されよう。
【0026】このようにして、3つの単位体30,3
2,34を、フル・カラー表示装置における単一画素と
して利用することができる。マトリクスの斜視図を図9
に示す。図9が示すのは、これら3色の画素が列状に分
離されている様子である。簡素化したマトリクスに2つ
の単位体および2色のみを用いたり、あるいは、同一色
の光(例えば、モノクローム表示装置)を発生するよう
に単位体30,32,34の全てを形成できることは、
勿論理解されよう。
2,34を、フル・カラー表示装置における単一画素と
して利用することができる。マトリクスの斜視図を図9
に示す。図9が示すのは、これら3色の画素が列状に分
離されている様子である。簡素化したマトリクスに2つ
の単位体および2色のみを用いたり、あるいは、同一色
の光(例えば、モノクローム表示装置)を発生するよう
に単位体30,32,34の全てを形成できることは、
勿論理解されよう。
【0027】当業者には理解されようが、有機発光ダイ
オード35(および多くの他の電気的単位体)を導通可
能な電流量は、導電層11と接触する層36の面積に依
存する。また、カラー発光ダイオードは全てが同じ強度
で発光するのではないことも、当業者には理解されよ
う。したがって、ここで注記すべきは、本発明では空胴
12A,12B,12Cの水平方向寸法を容易に選択
し、各ダイオードに異なる電流量を供給することによ
り、発光強度の差を考慮することができるので、本発明
はかかる切迫した事情を補うために特に適しているとい
うことである。
オード35(および多くの他の電気的単位体)を導通可
能な電流量は、導電層11と接触する層36の面積に依
存する。また、カラー発光ダイオードは全てが同じ強度
で発光するのではないことも、当業者には理解されよ
う。したがって、ここで注記すべきは、本発明では空胴
12A,12B,12Cの水平方向寸法を容易に選択
し、各ダイオードに異なる電流量を供給することによ
り、発光強度の差を考慮することができるので、本発明
はかかる切迫した事情を補うために特に適しているとい
うことである。
【0028】次に、具体的に図10を参照すると、支持
基板上に配置された物質の単位体をパシベートする方法
が示されている。パシベーション対象の単位体は、事実
上あらゆる物質または電子素子とすることができるが、
この特定例では、かかる単位体は、支持基板51上に形
成された発光ダイオード50とする。また、本実施例で
は、支持基板51は、ガラス等のような透光性物質とす
る。ダイオード50は、基板51の上面上に配置され
た、第1導電性物質帯52を含む。物質52は、例え
ば、酸化錫インディウム(ITO:indium−ti
n−oxide)等とすることができる。窒化シリコン
等のような絶縁物質の誘電体層53を、物質52上に配
置し、これにパターニングを行って、ダイオード50の
ための制限開口を規定する。
基板上に配置された物質の単位体をパシベートする方法
が示されている。パシベーション対象の単位体は、事実
上あらゆる物質または電子素子とすることができるが、
この特定例では、かかる単位体は、支持基板51上に形
成された発光ダイオード50とする。また、本実施例で
は、支持基板51は、ガラス等のような透光性物質とす
る。ダイオード50は、基板51の上面上に配置され
た、第1導電性物質帯52を含む。物質52は、例え
ば、酸化錫インディウム(ITO:indium−ti
n−oxide)等とすることができる。窒化シリコン
等のような絶縁物質の誘電体層53を、物質52上に配
置し、これにパターニングを行って、ダイオード50の
ための制限開口を規定する。
【0029】図5に関連して先に述べたように、制限開
口上にシャドウ・マスク60を形成する。第1フォトレ
ジスト層61を層53上に堆積し、層61上に金属層6
2を堆積する。層62の表面上に第2フォトレジスト層
(図示せず)を堆積し、いずれかの好都合な方法でこれ
にパターニングを行い、マスクを形成する。第2フォト
レジスト層には、ほぼダイオード50の所望幅であり、
層53内の制限開口の真上に位置する開口が規定されて
いる。次に、図10に示すように、金属層62の露出部
分をエッチングして、その中に孔65を形成する。一旦
孔65を層62に適正に規定したなら、フォトレジスト
層を露光し、層62に覆われていない層61の部分と共
に現像して除去する。次に、図10に示すように、酸素
プラズマ、化学的エッチング、露光および現像等のよう
ないずれかの好都合な方法によって、層61の部分を層
62の下から除去する。
口上にシャドウ・マスク60を形成する。第1フォトレ
ジスト層61を層53上に堆積し、層61上に金属層6
2を堆積する。層62の表面上に第2フォトレジスト層
(図示せず)を堆積し、いずれかの好都合な方法でこれ
にパターニングを行い、マスクを形成する。第2フォト
レジスト層には、ほぼダイオード50の所望幅であり、
層53内の制限開口の真上に位置する開口が規定されて
いる。次に、図10に示すように、金属層62の露出部
分をエッチングして、その中に孔65を形成する。一旦
孔65を層62に適正に規定したなら、フォトレジスト
層を露光し、層62に覆われていない層61の部分と共
に現像して除去する。次に、図10に示すように、酸素
プラズマ、化学的エッチング、露光および現像等のよう
ないずれかの好都合な方法によって、層61の部分を層
62の下から除去する。
【0030】次に、図10のシャドウ・マスクを利用し
て、制限開口内において導電性物質52上に有機発光物
質層54を堆積することによって、ダイオード50を形
成する。通常n−型導電性金属である金属層55を層5
4上に配置して、ダイオード50を完成する。孔65に
対して概略的に垂直な物質源67から物質を供給するこ
とにより、パシベーション物質層66を、ダイオード5
0上に堆積する。一具体例では、物質源67の物質は、
孔65から離れた真空チャンバにおいて気化される。真
空チャンバは、先に述べた単位体を平行に堆積する場合
と同等またはいくらか近づけてもよい。また、矢印68
によって示すように、物質源67または基板51(こち
らの方が好都合であれば)を横断方向に振動(または回
転)させて、ダイオード50の表面全体に物質が完全に
被覆されることを保証する。振動の具体的量、および振
動を起こす距離は、ダイオード50の高さおよび開口6
5の横断方向寸法によって異なる。このように、ダイオ
ード50の製造およびパシベーションには、他に整合や
マスキングに関する要件を追加することなく、同一のシ
ャドウ・マスクを利用することができる。
て、制限開口内において導電性物質52上に有機発光物
質層54を堆積することによって、ダイオード50を形
成する。通常n−型導電性金属である金属層55を層5
4上に配置して、ダイオード50を完成する。孔65に
対して概略的に垂直な物質源67から物質を供給するこ
とにより、パシベーション物質層66を、ダイオード5
0上に堆積する。一具体例では、物質源67の物質は、
孔65から離れた真空チャンバにおいて気化される。真
空チャンバは、先に述べた単位体を平行に堆積する場合
と同等またはいくらか近づけてもよい。また、矢印68
によって示すように、物質源67または基板51(こち
らの方が好都合であれば)を横断方向に振動(または回
転)させて、ダイオード50の表面全体に物質が完全に
被覆されることを保証する。振動の具体的量、および振
動を起こす距離は、ダイオード50の高さおよび開口6
5の横断方向寸法によって異なる。このように、ダイオ
ード50の製造およびパシベーションには、他に整合や
マスキングに関する要件を追加することなく、同一のシ
ャドウ・マスクを利用することができる。
【0031】次に図11を参照すると、単位体30,3
2,34が既に堆積されている、図7の構造が示されて
いる。既に適所に配されているシャドウ・マスクを利用
し、孔19に対して概略的に垂直な遠隔配置された物質
源71から物質を供給することによって、単位体30上
に第1パシベーション層70を堆積する。次に、孔19
に対して第1角度αで物質源73からパシベーション物
質を供給することにより、単位体32上にパシベーショ
ン層72を堆積する。更に、開口19に対して第2角度
βで物質源75からパシベーション物質を供給すること
により、単位体34上にパシベーション層74を堆積す
る。勿論、パシベーション物質源71,73,75を単
純に緑色、赤色、青色光物質源31,33,35と交換
可能であることは理解されよう。上述のように、パシベ
ーション物質源71,73,75を、それぞれ、垂直、
角度α、および角度βを中心に多少振動させることによ
って、単位体30,32,34の完全な被覆およびパシ
ベーションを確保する。
2,34が既に堆積されている、図7の構造が示されて
いる。既に適所に配されているシャドウ・マスクを利用
し、孔19に対して概略的に垂直な遠隔配置された物質
源71から物質を供給することによって、単位体30上
に第1パシベーション層70を堆積する。次に、孔19
に対して第1角度αで物質源73からパシベーション物
質を供給することにより、単位体32上にパシベーショ
ン層72を堆積する。更に、開口19に対して第2角度
βで物質源75からパシベーション物質を供給すること
により、単位体34上にパシベーション層74を堆積す
る。勿論、パシベーション物質源71,73,75を単
純に緑色、赤色、青色光物質源31,33,35と交換
可能であることは理解されよう。上述のように、パシベ
ーション物質源71,73,75を、それぞれ、垂直、
角度α、および角度βを中心に多少振動させることによ
って、単位体30,32,34の完全な被覆およびパシ
ベーションを確保する。
【0032】一旦パシベーションが完了したなら、層1
4を部分的にまたは完全に溶解させ、更に、層15を単
純にリフト・オフ(lift off)することができる。用途に
よっては、例えば、接着性テープ等を利用することによ
って、層14,15を同時にリフト・オフし、溶解を不
要とすることもできる。支持基板上での有機ダイオード
・マトリクスのパターニング、および有機ダイオードの
パシベーションの双方に利用するマスクは、1つだけで
ある。また、パシベーション層70,72,74は互い
に接触しないので、これらを機密封止金属で形成するこ
とができる。この金属は、各有機ダイオードの第2電気
端子としても使用することができる。
4を部分的にまたは完全に溶解させ、更に、層15を単
純にリフト・オフ(lift off)することができる。用途に
よっては、例えば、接着性テープ等を利用することによ
って、層14,15を同時にリフト・オフし、溶解を不
要とすることもできる。支持基板上での有機ダイオード
・マトリクスのパターニング、および有機ダイオードの
パシベーションの双方に利用するマスクは、1つだけで
ある。また、パシベーション層70,72,74は互い
に接触しないので、これらを機密封止金属で形成するこ
とができる。この金属は、各有機ダイオードの第2電気
端子としても使用することができる。
【0033】以上のように、1回のリソグラフ工程で、
単一単位体または完全な有機LEDマトリクスを製造
し、単一単位体または完全な有機LEDマトリクスをパ
シベートする、新規で改良された方法が開示された。こ
の単位体または有機LEDマトリクスを製造および/ま
たはパシベートする方法は、比較的容易かつ安価であ
り、しかも高解像度表示装置用の比較的精度の高い物質
の単位体を生成することができる。更に、この有機LE
Dマトリクスを製造および/またはパシベートする新規
で改良された方法は、軽量化した薄型のマトリクスを生
成することができる。更に他の主要な利点として、上述
のパターニングおよびパシベーションでは、溶剤の使用
による単一マスクのリフト・オフ(または単純なリフト
・オフ)が可能とするので、エッチング等のような複雑
で損傷を与え得る工程を必要としない。また、有機物質
の堆積後に高温プロセスを全く伴うことなく、完全な製
造およびパシベーションが行われる。
単一単位体または完全な有機LEDマトリクスを製造
し、単一単位体または完全な有機LEDマトリクスをパ
シベートする、新規で改良された方法が開示された。こ
の単位体または有機LEDマトリクスを製造および/ま
たはパシベートする方法は、比較的容易かつ安価であ
り、しかも高解像度表示装置用の比較的精度の高い物質
の単位体を生成することができる。更に、この有機LE
Dマトリクスを製造および/またはパシベートする新規
で改良された方法は、軽量化した薄型のマトリクスを生
成することができる。更に他の主要な利点として、上述
のパターニングおよびパシベーションでは、溶剤の使用
による単一マスクのリフト・オフ(または単純なリフト
・オフ)が可能とするので、エッチング等のような複雑
で損傷を与え得る工程を必要としない。また、有機物質
の堆積後に高温プロセスを全く伴うことなく、完全な製
造およびパシベーションが行われる。
【0034】以上、本発明の特定実施例について示しか
つ説明したが、当業者には更に他の変更や改良も想起さ
れよう。したがって、本発明は、ここに示した特定形態
には限定されないと理解されることを望み、本発明の精
神および範囲から逸脱しない全ての変更は、特許請求の
範囲に含まれることを意図するものである。
つ説明したが、当業者には更に他の変更や改良も想起さ
れよう。したがって、本発明は、ここに示した特定形態
には限定されないと理解されることを望み、本発明の精
神および範囲から逸脱しない全ての変更は、特許請求の
範囲に含まれることを意図するものである。
【図1】本発明による製造プロセスにおいて用いるため
のマスクを用意する一工程を示す簡略断面図。
のマスクを用意する一工程を示す簡略断面図。
【図2】本発明による製造プロセスにおいて用いるため
のマスクを用意する一工程を示す簡略断面図。
のマスクを用意する一工程を示す簡略断面図。
【図3】本発明による製造プロセスにおいて用いるため
のマスクを用意する一工程を示す簡略断面図。
のマスクを用意する一工程を示す簡略断面図。
【図4】本発明による製造プロセスにおいて用いるため
のマスクを用意する一工程を示す簡略断面図。
のマスクを用意する一工程を示す簡略断面図。
【図5】本発明による製造プロセスにおいて用いるため
のマスクを用意する一工程を示す簡略断面図。
のマスクを用意する一工程を示す簡略断面図。
【図6】図5に類似したマスクの他の実施例を示す図。
【図7】本発明による有機物質系のカラー・ダイオード
の堆積を示す簡略断面図。
の堆積を示す簡略断面図。
【図8】典型的な有機発光ダイオードの簡略断面図。
【図9】簡略化した有機発光ダイオードのマトリクス
を、その一部を分解して示す斜視図。
を、その一部を分解して示す斜視図。
【図10】本発明による単位体の堆積および堆積された
単位体のパシベーションのための装置を示す簡略断面
図。
単位体のパシベーションのための装置を示す簡略断面
図。
【図11】本発明による、図7に示したカラー・ダイオ
ードに類似した、有機物質系のカラー・ダイオードのパ
シベーションのための装置を示す簡略断面図。
ードに類似した、有機物質系のカラー・ダイオードのパ
シベーションのための装置を示す簡略断面図。
10 ベース 11 ストライプ 12 誘電体物質層 12A,12B,12C 空胴 13 支持基板 14 フォトレジスト層 15 金属層 16 フォトレジスト層 17 開口 19,19’ 孔 20 開口 20’ フォトレジスト 21 明領域 22,23 陰領域 30,32,34 単位体 31,33,35 物質源 35 有機発光ダイオード 36 正孔搬送層 37 発光層 38 電子搬送層 39 導電層 50 発光ダイオード 51 支持基板 52 導電性物質 54 有機発光物質層 55 金属層 56 孔 60 シャドウ・マスク 61 第1フォトレジスト層 62 金属層 65 孔 66 パシベーション物質層 67 物質源 70,72,74 パシベーション層 71,73,75 物質源
【手続補正書】
【提出日】平成9年5月8日
【手続補正1】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図1
【補正方法】変更
【補正内容】
【図1】
【手続補正2】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図2
【補正方法】変更
【補正内容】
【図2】
【手続補正3】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図3
【補正方法】変更
【補正内容】
【図3】
【手続補正4】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図4
【補正方法】変更
【補正内容】
【図4】
【手続補正5】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図5
【補正方法】変更
【補正内容】
【図5】
【手続補正6】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図6
【補正方法】変更
【補正内容】
【図6】
Claims (5)
- 【請求項1】支持基板上に物質の単位体をパターニング
する方法であって:支持基板(13)を用意する段階;
前記基板(13)上に第1物質層(14)、および該第
1物質層(14)上に第2物質層(15)を形成する段
階であって、前記第1物質層(14)はその中に第1横
断方向寸法(W2)を有し、前記基板表面の一部分(1
0,11,12)を露出させる開口(20)を規定し、
前記第2物質層(15)は、前記第1横断方向寸法(W
2)より小さい第2横断寸法(W1)を有し、それ自体
を貫通する孔(19)を規定し、前記第2物質層(1
5)は、前記開口(20)内において前記基板(13)
の露出表面の部分(21)を覆うことにより、前記基板
の露出表面を、陰領域(20,22)と明領域(21)
とに分割するように、前記第1および第2物質層(1
4,15)を形成する段階;および前記孔(19)に対
して概略的に垂直に第1物質系(31)を堆積し、前記
明領域(21)内の前記基板表面上に、前記第1物質系
(31)の単位体(30)を形成し、前記孔(19)に
対してある角度(α,β)をもって第2物質系(33,
35)を堆積し、前記陰領域(22,23)内の前記基
板表面上に、前記第2物質系(33,35)の単位体
(32,34)を形成する段階;から成ることを特徴と
する方法。 - 【請求項2】支持基板上に3種類の物質の単位体をパタ
ーニングする方法であって:支持基板を用意する段階;
前記基板上に第1物質層、および前記第1物質層上に第
2物質層を形成する段階であって、前記第1物質層は、
第1横断方向寸法を有し前記基板の一部分を露出させる
開口を規定し、前記第2物質層は、前記第1横断方向寸
法よりも小さい第2横断方向寸法を有し、それ自体を貫
通する孔を規定し、前記第2物質層は、前記開口内にお
いて前記露出基板の部分を覆うことにより、前記露出基
板を第1陰領域、明領域、および第2陰領域にそれぞれ
分割するように、前記第1および第2物質層を形成する
段階;前記孔に対して概略的に垂直に第1物質系を蒸着
し、前記明領域内の基板上に、前記第1物質系の単位体
を形成し、前記第1物質系によって第1カラー有機発光
ダイオードを形成する段階;前記孔に対してある角度で
第2物質系を蒸着し、前記第1陰領域内の前記基板上
に、前記第2物質系の単位体を形成し、前記第2物質系
によって第2カラー有機発光ダイオードを形成する段
階;および前記孔に対して別の角度で第3物質系を蒸着
し、前記第2陰領域内の前記基板上に、前記第3物質系
の単位体を形成し、前記第3物質系で第3カラー有機発
光ダイオードを形成する段階;から成ることを特徴とす
る方法。 - 【請求項3】支持基板上において、有機発光体を含む物
質系の単位体をパターニングし、パシベートする方法で
あって:支持基板(13)を用意する段階;前記基板
(13)上に除去可能物質層(14)、および該除去可
能物質層(14)上に金属層(15)を形成する段階で
あって、前記除去可能物質層(14)はその中に、第1
横断方向寸法(W2)を有し前記基板の一部分を露出さ
せる開口(20)を規定し、前記金属層(15)は、前
記第1横断寸法(W2)よりも小さい第2横断方向寸法
(W1)を有し、それ自体を貫通する孔を規定し、前記
金属層(15)は、前記開口(20)内において前記基
板(13)の部分を覆うことにより、前記露出基板を、
陰領域(22,23)と明領域(21)とに分割する段
階;前記孔(19)に対して概略的に垂直に第1物質系
(31)を蒸着し、前記明領域(21)内の基板(1
3)上に、有機発光体を含む前記第1物質系(31)の
単位体(30)を形成し、前記孔(19)に対してある
角度(α,β)で第2物質系(33,35)を蒸着し、
前記陰領域(22,23)内の基板(13)上に、有機
発光体を含む前記第2物質系(33,35)の単位体
(32,34)を形成する段階;前記孔(19)に対し
て概略的に垂直に、パシベーション物質(71)を蒸着
し、前記第1物質系(30)上にパシベーション被膜
(70)を形成し、前記孔(19)に対してある角度
(α,β)でパシベーション物質(73,75)を蒸着
し、前記第2物質系(32,33)上にパシベーション
被膜(72,74)を形成する段階;および前記第1除
去可能物質層(14)、および該除去可能物質層(1
4)上の前記第2層を除去する段階;から成ることを特
徴とする方法。 - 【請求項4】支持基板上に配置された物質の堆積をパシ
ベートする方法であって:支持基板(51,52,5
3)を用意し、その上に物質(50)の堆積を配置する
段階;前記基板(51,52,53)上に第1物質層
(61)、および該第1物質層(61)上に第2物質層
を形成する段階であって、前記第1物質層(61)は、
前記物質(50)の堆積よりも大きな第1横断方向寸法
を有し前記物質(50)の堆積を露出させる開口を、そ
の中に規定し、前記第2物質層(62)は、前記第1横
断方向寸法よりも小さい第2横断方向寸法を有し、前記
物質(50)の堆積を覆い、それ自体を貫通する孔(6
5)を規定するように、前記第1および第2物質層(6
1,62)を形成する段階;および前記開口(65)に
対して概略的に垂直な方向に、遠隔配置された物質源
(67)からパシベーション物質を蒸着し、前記遠隔配
置された開口(65)または前記基板(51,52,5
3)の一方を、前記垂直方向を中心に振動させ、前記物
質(50)の堆積の上にパシベーション被膜(66)を
形成する段階;から成ることを特徴とする方法。 - 【請求項5】支持基板上に配置された物質の単位体をパ
シベートする方法であって:支持基板を用意し、その上
に物質の単位体を配置する段階;前記基板上に第1物質
層、および該第1物質層上に第2物質層を形成する段階
であって、前記第1物質層は、第1横断方向寸法を有し
前記物質の単位体を露出させる開口をその中に規定し、
前記第2物質層は、前記第1横断方向寸法よりも小さい
第2横断方向寸法を有しそれを貫通する孔を規定し、前
記第2物質層は、前記開口内において前記物質の単位体
の少なくとも1つを覆うことにより、前記物質の単位体
を、陰領域単位体と明領域単位体とに分割するように、
前記第1および第2物質層を形成する段階;および前記
孔に対して概略的に垂直にパシベーション物質を蒸着
し、前記物質の明単位体上にパシベーション被膜を形成
し、前記孔に対してある角度でパシベーション物質を蒸
着し、前記物質の陰単位体上にパシベーション被膜を形
成する段階;から成ることを特徴とする方法。
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Legal Events
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20060324 |
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A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20061005 |