JPH0926896A - 電子機器及び電子機器の診断方法 - Google Patents
電子機器及び電子機器の診断方法Info
- Publication number
- JPH0926896A JPH0926896A JP7177194A JP17719495A JPH0926896A JP H0926896 A JPH0926896 A JP H0926896A JP 7177194 A JP7177194 A JP 7177194A JP 17719495 A JP17719495 A JP 17719495A JP H0926896 A JPH0926896 A JP H0926896A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- diagnostic signal
- electrical connection
- electronic device
- electronic circuit
- diagnostic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 電気的接続機構の接続状態の良否を診断する
ことができ、電気的接続機構の外れや接続不良の発見を
容易かつ確実にし、従来に比べてメンテナンス性の向上
を図ることのできる電子機器及び電子機器の診断方法を
提供する。 【解決手段】 電子機器１は、制御用ボード２、その他
の基板３、４、５、アクチュエータ６、７、８、９、１
０が、電気的接続機構１１〜１８によって電気的に接続
され構成されている。制御用ボード２には、ＣＰＵ２０
と、表示装置２１が設けられている。このＣＰＵ２０
は、閉ループを構成する電気経路Ａに対して、診断用信
号を送出し、この診断用信号の戻り信号の有無によっ
て、電気的接続機構１１〜１８の接続状態の良否を診断
する。
ことができ、電気的接続機構の外れや接続不良の発見を
容易かつ確実にし、従来に比べてメンテナンス性の向上
を図ることのできる電子機器及び電子機器の診断方法を
提供する。 【解決手段】 電子機器１は、制御用ボード２、その他
の基板３、４、５、アクチュエータ６、７、８、９、１
０が、電気的接続機構１１〜１８によって電気的に接続
され構成されている。制御用ボード２には、ＣＰＵ２０
と、表示装置２１が設けられている。このＣＰＵ２０
は、閉ループを構成する電気経路Ａに対して、診断用信
号を送出し、この診断用信号の戻り信号の有無によっ
て、電気的接続機構１１〜１８の接続状態の良否を診断
する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子機器及び電子
機器の診断方法に関する。
機器の診断方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来から、ＣＰＵ等を用いた電子機器に
おいては、例えば、機器の立ち上げ時等に、自己診断機
能により、電子機器の各部が正常に動作するか否かを診
断すること等が行われている。
おいては、例えば、機器の立ち上げ時等に、自己診断機
能により、電子機器の各部が正常に動作するか否かを診
断すること等が行われている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、近年の電子
機器においては、夫々電子回路が形成された多数の基板
を、ケーブル及びコネクター等からなる電気的接続機構
によって接続して１つの電子機器を構築したり、さら
に、このように構成された電子機器を同様な電気的接続
機構によって複数接続することによって大規模な電子機
器（システム）を構築することが行われている。
機器においては、夫々電子回路が形成された多数の基板
を、ケーブル及びコネクター等からなる電気的接続機構
によって接続して１つの電子機器を構築したり、さら
に、このように構成された電子機器を同様な電気的接続
機構によって複数接続することによって大規模な電子機
器（システム）を構築することが行われている。
【０００４】このため、電子機器の動作不良の原因とし
て、電気的接続用のケーブルの断線やコネクターの外れ
及び接続不良等、電気的接続機構のトラブルが原因とな
る可能性も増大する傾向にある。
て、電気的接続用のケーブルの断線やコネクターの外れ
及び接続不良等、電気的接続機構のトラブルが原因とな
る可能性も増大する傾向にある。
【０００５】しかしながら、従来の電子機器及び電子機
器の診断方法においては、動作不良の発生は検知するこ
とができるものの、例えば、コネクターの外れや接続不
良によって動作不良が発生したのか、或いはその他の故
障により動作不良が発生したのかは検知することができ
ず、このため動作不良発生の原因究明に長時間を要する
という問題があった。
器の診断方法においては、動作不良の発生は検知するこ
とができるものの、例えば、コネクターの外れや接続不
良によって動作不良が発生したのか、或いはその他の故
障により動作不良が発生したのかは検知することができ
ず、このため動作不良発生の原因究明に長時間を要する
という問題があった。
【０００６】本発明は、かかる従来の事情に対処してな
されたもので、電気的接続機構の接続状態の良否を診断
することができ、電気的接続機構の外れや接続不良の発
見を容易かつ確実にし、従来に比べてメンテナンス性の
向上を図ることのできる電子機器及び電子機器の診断方
法を提供しようとするものである。
されたもので、電気的接続機構の接続状態の良否を診断
することができ、電気的接続機構の外れや接続不良の発
見を容易かつ確実にし、従来に比べてメンテナンス性の
向上を図ることのできる電子機器及び電子機器の診断方
法を提供しようとするものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
複数の電子回路部を、電気的接続機構によって接続して
構成された電子機器において、診断用信号を発生する診
断用信号発生機構と、前記診断用信号を検知する診断用
信号検知機構とを有する診断手段を設けるとともに、前
記電気的接続機構及び前記電子回路部に、前記診断用信
号発生機構から発生した前記該診断用信号を通過させ、
前記診断用信号検知機構に戻す電気的回路を形成したこ
とを特徴とする。
複数の電子回路部を、電気的接続機構によって接続して
構成された電子機器において、診断用信号を発生する診
断用信号発生機構と、前記診断用信号を検知する診断用
信号検知機構とを有する診断手段を設けるとともに、前
記電気的接続機構及び前記電子回路部に、前記診断用信
号発生機構から発生した前記該診断用信号を通過させ、
前記診断用信号検知機構に戻す電気的回路を形成したこ
とを特徴とする。
【０００８】請求項２記載の発明は、請求項１記載の電
子機器において、前記電気的接続機構は、電気的接続ケ
ーブル及びこの電気的接続ケーブルの両端に配設された
コネクタを具備し、このコネクタの両側端部の端子を経
由するよう前記電気的回路が形成されていることを特徴
とする。
子機器において、前記電気的接続機構は、電気的接続ケ
ーブル及びこの電気的接続ケーブルの両端に配設された
コネクタを具備し、このコネクタの両側端部の端子を経
由するよう前記電気的回路が形成されていることを特徴
とする。
【０００９】請求項３記載の発明は、請求項１〜２記載
の電子機器において、前記電子回路部のうち、前後に前
記電子回路部が接続された中間部の電子回路部は、当該
前後に接続された前記電子回路部に前記診断用信号を通
過させる電気回路を有し、一の電子回路部のみが接続さ
れた端部の電子回路部は、当該接続された電子回路部か
ら前記診断用信号を受け、この診断用信号を当該接続さ
れた電子回路部に戻す電気回路を有することを特徴とす
る。
の電子機器において、前記電子回路部のうち、前後に前
記電子回路部が接続された中間部の電子回路部は、当該
前後に接続された前記電子回路部に前記診断用信号を通
過させる電気回路を有し、一の電子回路部のみが接続さ
れた端部の電子回路部は、当該接続された電子回路部か
ら前記診断用信号を受け、この診断用信号を当該接続さ
れた電子回路部に戻す電気回路を有することを特徴とす
る。
【００１０】請求項４記載の発明は、請求項１〜３記載
の電子機器において、前記電子回路部のうちの少なくと
も一部に、前記診断用信号の有無を表示する表示手段を
配設したことを特徴とする。
の電子機器において、前記電子回路部のうちの少なくと
も一部に、前記診断用信号の有無を表示する表示手段を
配設したことを特徴とする。
【００１１】請求項５記載の発明は、請求項１〜３記載
の電子機器において、前記電子回路部のうちの少なくと
も一部に、前記診断用信号を検知手段に戻す電気回路と
は別に閉ループ回路を形成し、この閉ループ回路内に前
記診断用信号により表示される表示手段を配設したこと
を特徴とする。
の電子機器において、前記電子回路部のうちの少なくと
も一部に、前記診断用信号を検知手段に戻す電気回路と
は別に閉ループ回路を形成し、この閉ループ回路内に前
記診断用信号により表示される表示手段を配設したこと
を特徴とする。
【００１２】請求項６記載の発明は、複数の電子回路部
を、電気的接続機構によって接続して構成された電子機
器の診断方法において、診断用信号を発生する診断用信
号発生機構と、前記診断用信号を検知する診断用信号検
知機構とを有する診断手段を設けるとともに、前記電気
的接続機構及び前記電子回路部に、前記診断用信号発生
機構から送られた前記該診断用信号を通過させ、前記診
断用信号検知機構に戻す電気的回路を形成し、前記診断
手段により、前記診断用信号発生機構から発生した前記
診断用信号が、前記電気的接続機構及び前記電子回路部
を経由して前記診断用信号検知機構に戻ったか否かを検
知して、前記電気的接続機構の電気的接続状態を診断す
ることを特徴とする。
を、電気的接続機構によって接続して構成された電子機
器の診断方法において、診断用信号を発生する診断用信
号発生機構と、前記診断用信号を検知する診断用信号検
知機構とを有する診断手段を設けるとともに、前記電気
的接続機構及び前記電子回路部に、前記診断用信号発生
機構から送られた前記該診断用信号を通過させ、前記診
断用信号検知機構に戻す電気的回路を形成し、前記診断
手段により、前記診断用信号発生機構から発生した前記
診断用信号が、前記電気的接続機構及び前記電子回路部
を経由して前記診断用信号検知機構に戻ったか否かを検
知して、前記電気的接続機構の電気的接続状態を診断す
ることを特徴とする。
【００１３】本発明の電子機器及び電子機器の診断方法
によれば、電気的接続機構の接続状態の良否を診断する
ことができ、電気的接続機構の外れや接続不良の発見を
容易かつ確実に行うことができる。
によれば、電気的接続機構の接続状態の良否を診断する
ことができ、電気的接続機構の外れや接続不良の発見を
容易かつ確実に行うことができる。
【００１４】また、電子回路部のうちの少なくとも一部
に、診断用信号の有無を表示する表示手段を配設するこ
とにより、電気的接続機構の接続状態の不良箇所を容易
に発見することができる。
に、診断用信号の有無を表示する表示手段を配設するこ
とにより、電気的接続機構の接続状態の不良箇所を容易
に発見することができる。
【００１５】
【発明の実施の形態】以下、本発明の詳細を実施の形態
について図面を参照して説明する。
について図面を参照して説明する。
【００１６】図１は本発明の実施の形態を示すもので、
同図に示すように、電子機器１には、制御用ボード２
と、その他の基板３、４、５及びアクチュエータ６、
７、８、９、１０が設けられており、これらは、電気的
接続機構１１〜１８によって電気的に接続されている。
同図に示すように、電子機器１には、制御用ボード２
と、その他の基板３、４、５及びアクチュエータ６、
７、８、９、１０が設けられており、これらは、電気的
接続機構１１〜１８によって電気的に接続されている。
【００１７】上記制御用ボード２、基板３、４、５、ア
クチュエータ６、７、８、９、１０には、それぞれ電子
回路が形成されており、電子回路部を形成している。ま
た、制御用ボード２には、ＣＰＵ２０が搭載されるとと
もに、ＣＰＵ２０からの指令によって表示を行う表示装
置２１が設けられている。このＣＰＵ２０は、図中矢印
で示すように、電気的接続機構１１〜１８の接続状態を
診断するための診断用信号を送出するとともに、後述す
るようにして戻ってきた診断用信号を検知可能に構成さ
れており、この診断用信号の戻り信号の有無によって、
電気的接続機構１１〜１８の接続状態の良否を診断する
よう構成されている。
クチュエータ６、７、８、９、１０には、それぞれ電子
回路が形成されており、電子回路部を形成している。ま
た、制御用ボード２には、ＣＰＵ２０が搭載されるとと
もに、ＣＰＵ２０からの指令によって表示を行う表示装
置２１が設けられている。このＣＰＵ２０は、図中矢印
で示すように、電気的接続機構１１〜１８の接続状態を
診断するための診断用信号を送出するとともに、後述す
るようにして戻ってきた診断用信号を検知可能に構成さ
れており、この診断用信号の戻り信号の有無によって、
電気的接続機構１１〜１８の接続状態の良否を診断する
よう構成されている。
【００１８】また、上記電気的接続機構１１〜１８は、
それぞれ、電気的な接続を行うための接続ケーブル１１
ａ〜１８ａと、この接続ケーブル１１ａ〜１８ａの両側
に設けられたコネクタ１１ｂ〜１８ｂとから構成されて
おり、各コネクタ１１ｂ〜１８ｂの両側端部の接続端子
は、電気的接続機構１１〜１８の接続状態を診断するた
めの診断用信号の専用端子とされている。そして、各基
板３、４、５、及び、アクチュエータ６、７、８、９、
１０には、それぞれコネクタ１１ｂ〜１８ｂの両側端部
に設けられた診断用信号の専用端子に対応して、図中矢
印で示すようなＣＰＵ２０から出発してＣＰＵ２０に戻
る閉ループが形成されるように、電気経路Ａが形成され
ている。
それぞれ、電気的な接続を行うための接続ケーブル１１
ａ〜１８ａと、この接続ケーブル１１ａ〜１８ａの両側
に設けられたコネクタ１１ｂ〜１８ｂとから構成されて
おり、各コネクタ１１ｂ〜１８ｂの両側端部の接続端子
は、電気的接続機構１１〜１８の接続状態を診断するた
めの診断用信号の専用端子とされている。そして、各基
板３、４、５、及び、アクチュエータ６、７、８、９、
１０には、それぞれコネクタ１１ｂ〜１８ｂの両側端部
に設けられた診断用信号の専用端子に対応して、図中矢
印で示すようなＣＰＵ２０から出発してＣＰＵ２０に戻
る閉ループが形成されるように、電気経路Ａが形成され
ている。
【００１９】上記構成のこの実施の形態では、電子機器
１の立ち上げ時と、電子機器１の動作中は定期的に、Ｃ
ＰＵ２０による電気的接続機構１１〜１８の接続状態の
自己診断が実行される。
１の立ち上げ時と、電子機器１の動作中は定期的に、Ｃ
ＰＵ２０による電気的接続機構１１〜１８の接続状態の
自己診断が実行される。
【００２０】すなわち、図２に示すように、ＣＰＵ２０
は、まず診断用信号を発生する（１０１）。
は、まず診断用信号を発生する（１０１）。
【００２１】ここで、各電気的接続機構１１〜１８が、
制御用ボード２、基板３、４、５、アクチュエータ６、
７、８、９、１０にそれぞれ確実に接続されていると、
図１に矢印で示した閉ループが形成され、ＣＰＵ２０か
ら送出された診断用信号は、ＣＰＵ２０（制御用ボード
２）→電気的接続機構１１→基板３→電気的接続機構１
２→基板４→電気的接続機構１３→アクチュエータ６→
電気的接続機構１３→基板４→電気的接続機構１２→基
板３→電気的接続機構１４→基板５→電気的接続機構１
５→アクチュエータ７→電気的接続機構１５→基板５→
電気的接続機構１６→アクチュエータ８→電気的接続機
構１６→基板５→電気的接続機構１７→アクチュエータ
９→電気的接続機構１７→基板５→電気的接続機構１８
→アクチュエータ１０→電気的接続機構１８→基板５→
電気的接続機構１４→基板３→電気的接続機構１１→Ｃ
ＰＵ２０（制御用ボード２）という経路を通ってＣＰＵ
２０に戻る。
制御用ボード２、基板３、４、５、アクチュエータ６、
７、８、９、１０にそれぞれ確実に接続されていると、
図１に矢印で示した閉ループが形成され、ＣＰＵ２０か
ら送出された診断用信号は、ＣＰＵ２０（制御用ボード
２）→電気的接続機構１１→基板３→電気的接続機構１
２→基板４→電気的接続機構１３→アクチュエータ６→
電気的接続機構１３→基板４→電気的接続機構１２→基
板３→電気的接続機構１４→基板５→電気的接続機構１
５→アクチュエータ７→電気的接続機構１５→基板５→
電気的接続機構１６→アクチュエータ８→電気的接続機
構１６→基板５→電気的接続機構１７→アクチュエータ
９→電気的接続機構１７→基板５→電気的接続機構１８
→アクチュエータ１０→電気的接続機構１８→基板５→
電気的接続機構１４→基板３→電気的接続機構１１→Ｃ
ＰＵ２０（制御用ボード２）という経路を通ってＣＰＵ
２０に戻る。
【００２２】一方、電気的接続機構１１〜１８のいずれ
かが外れていたり、コネクタ１１ｂ〜１８ｂのいずれか
の接続が不完全な場合、例えば、斜に接続され一方の端
部のみが接続され他方の端部が外れた所謂ハーフロック
の場合等においては、ＣＰＵ２０から送出された診断用
信号がここで遮断されて、ＣＰＵ２０に戻らない。
かが外れていたり、コネクタ１１ｂ〜１８ｂのいずれか
の接続が不完全な場合、例えば、斜に接続され一方の端
部のみが接続され他方の端部が外れた所謂ハーフロック
の場合等においては、ＣＰＵ２０から送出された診断用
信号がここで遮断されて、ＣＰＵ２０に戻らない。
【００２３】そこで、ＣＰＵ２０では、戻り信号の有無
を検知して（１０２）、戻り信号が検知された場合は正
常と判断して処理を終了する。
を検知して（１０２）、戻り信号が検知された場合は正
常と判断して処理を終了する。
【００２４】一方、所定時間経過しても戻り信号が検知
されない場合は（１０３）、表示装置２１にエラー表示
を行って（１０４）、処理を終了する。
されない場合は（１０３）、表示装置２１にエラー表示
を行って（１０４）、処理を終了する。
【００２５】以上のように、この実施の形態では、各電
気的接続機構１１〜１８の接続状態の良否を診断するこ
とができ、電気的接続機構１１〜１８の外れや接続不良
を、容易かつ確実に発見することができる。
気的接続機構１１〜１８の接続状態の良否を診断するこ
とができ、電気的接続機構１１〜１８の外れや接続不良
を、容易かつ確実に発見することができる。
【００２６】したがって、例えば、アクチュエータ６、
７、８、９、１０等が正常に作動しないような場合、従
来のように、各電気的接続機構１１〜１８の接続をやり
直す等の作業を行うことなく、その原因が、電気的接続
機構１１〜１８の接続状態の不良にあるのか、その他の
故障にあるのかを簡単に知ることができ、従来に比べて
メンテナンス性の大幅な向上を図ることができる。
７、８、９、１０等が正常に作動しないような場合、従
来のように、各電気的接続機構１１〜１８の接続をやり
直す等の作業を行うことなく、その原因が、電気的接続
機構１１〜１８の接続状態の不良にあるのか、その他の
故障にあるのかを簡単に知ることができ、従来に比べて
メンテナンス性の大幅な向上を図ることができる。
【００２７】図３は他の実施の形態の電子機器１ａの構
成を示すものである。この実施の形態の電子機器１ａに
は、制御用ボード３０と、その他の基板３１、３２及び
アクチュエータ３３、３４が設けられており、これら
は、電気的接続機構３５〜３８によって電気的に接続さ
れている。
成を示すものである。この実施の形態の電子機器１ａに
は、制御用ボード３０と、その他の基板３１、３２及び
アクチュエータ３３、３４が設けられており、これら
は、電気的接続機構３５〜３８によって電気的に接続さ
れている。
【００２８】上記制御用ボード３０には、ＣＰＵ４０が
搭載されるとともに、ＣＰＵ４０からの指令によって表
示を行う表示装置４１が設けられている。このＣＰＵ４
０は、図中矢印で示すように、電気的接続機構３５〜３
８の接続状態を診断するための診断用信号を送出すると
ともに、診断用信号の戻り信号の有無によって、電気的
接続機構３５〜３８の接続状態の良否を診断するよう構
成されている。
搭載されるとともに、ＣＰＵ４０からの指令によって表
示を行う表示装置４１が設けられている。このＣＰＵ４
０は、図中矢印で示すように、電気的接続機構３５〜３
８の接続状態を診断するための診断用信号を送出すると
ともに、診断用信号の戻り信号の有無によって、電気的
接続機構３５〜３８の接続状態の良否を診断するよう構
成されている。
【００２９】また、前記した実施の形態と同様に、上記
電気的接続機構３５〜３８は、それぞれ、接続ケーブル
３５ａ〜３８ａと、コネクタ３５ｂ〜３８ｂとから構成
されており、各コネクタ３５ｂ〜３８ｂの両側端部の接
続端子は、電気的接続機構３５〜３８の接続状態を診断
するための診断用信号の専用端子とされている。そし
て、各基板３１、３２及び、アクチュエータ３３、３４
には、それぞれコネクタ３５ｂ〜３８ｂの診断用信号の
専用端子に対応して、図中矢印で示すようなＣＰＵ４０
から出発してＣＰＵ４０に戻る閉ループが形成されるよ
うに、電気経路Ｂが形成されている。
電気的接続機構３５〜３８は、それぞれ、接続ケーブル
３５ａ〜３８ａと、コネクタ３５ｂ〜３８ｂとから構成
されており、各コネクタ３５ｂ〜３８ｂの両側端部の接
続端子は、電気的接続機構３５〜３８の接続状態を診断
するための診断用信号の専用端子とされている。そし
て、各基板３１、３２及び、アクチュエータ３３、３４
には、それぞれコネクタ３５ｂ〜３８ｂの診断用信号の
専用端子に対応して、図中矢印で示すようなＣＰＵ４０
から出発してＣＰＵ４０に戻る閉ループが形成されるよ
うに、電気経路Ｂが形成されている。
【００３０】さらに、制御用ボード３０、基板３１、３
２には、ＬＥＤ５０，５１，５２，５３，５４が設けら
れており、これらのＬＥＤ５０，５１，５２，５３，５
４の一方の端子は上記した閉ループを構成する電気経路
Ｂの信号線に接続されており、他方の端子は基板の接地
電位又は、電気経路Ｂとは別の閉ループ回路を形成する
ようにして電気経路Ｂに接続されている。
２には、ＬＥＤ５０，５１，５２，５３，５４が設けら
れており、これらのＬＥＤ５０，５１，５２，５３，５
４の一方の端子は上記した閉ループを構成する電気経路
Ｂの信号線に接続されており、他方の端子は基板の接地
電位又は、電気経路Ｂとは別の閉ループ回路を形成する
ようにして電気経路Ｂに接続されている。
【００３１】この実施の形態においては、診断用信号と
して、電気経路Ｂに、例えば＋５Ｖ等の電源が供給され
る。したがって、電気的接続機構３５〜３８の接続状態
が良好な場合は、電気経路Ｂによる閉ループが形成さ
れ、各ＬＥＤ５０，５１，５２，５３，５４が点灯す
る。
して、電気経路Ｂに、例えば＋５Ｖ等の電源が供給され
る。したがって、電気的接続機構３５〜３８の接続状態
が良好な場合は、電気経路Ｂによる閉ループが形成さ
れ、各ＬＥＤ５０，５１，５２，５３，５４が点灯す
る。
【００３２】また、いずれかの電気的接続機構３５〜３
８の接続状態が不良の場合は、その部位のＬＥＤ及びこ
れより以遠のＬＥＤが点灯しなくなる。また、前記した
実施の形態と同様に、ＣＰＵ４０においても戻り信号が
検知されなくなるので、表示装置４１にエラー表示が行
われる。そして、その不良箇所を発見する場合、ＬＥＤ
５０，５１，５２，５３，５４を上流側あるいは下流側
順に辿っていくことにより、その不良箇所を容易に発見
することができる。
８の接続状態が不良の場合は、その部位のＬＥＤ及びこ
れより以遠のＬＥＤが点灯しなくなる。また、前記した
実施の形態と同様に、ＣＰＵ４０においても戻り信号が
検知されなくなるので、表示装置４１にエラー表示が行
われる。そして、その不良箇所を発見する場合、ＬＥＤ
５０，５１，５２，５３，５４を上流側あるいは下流側
順に辿っていくことにより、その不良箇所を容易に発見
することができる。
【００３３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の電子機器
及び電子機器の診断方法によれば、電気的接続機構の接
続状態の良否を診断することができ、電気的接続機構の
外れや接続不良の発見を容易かつ確実にし、従来に比べ
てメンテナンス性の大幅な向上を図ることができる。
及び電子機器の診断方法によれば、電気的接続機構の接
続状態の良否を診断することができ、電気的接続機構の
外れや接続不良の発見を容易かつ確実にし、従来に比べ
てメンテナンス性の大幅な向上を図ることができる。
【図１】本発明の一実施の形態の構成を示す図。
【図２】図１の実施の形態における診断方法の手順を説
明するための図。
明するための図。
【図３】本発明の他の実施の形態の構成を示す図。
１………………電子機器 ２………………制御用ボード ３〜５…………基板 ６〜１０………アクチュエータ １１〜１８……電気的接続機構 ２０……………ＣＰＵ ２１……………表示装置 Ａ………………電気経路
Claims (6)
- 【請求項１】 複数の電子回路部を、電気的接続機構に
よって接続して構成された電子機器において、 診断用信号を発生する診断用信号発生機構と、前記診断
用信号を検知する診断用信号検知機構とを有する診断手
段を設けるとともに、 前記電気的接続機構及び前記電子回路部に、前記診断用
信号発生機構から発生した前記該診断用信号を通過さ
せ、前記診断用信号検知機構に戻す電気的回路を形成し
たことを特徴とする電子機器。 - 【請求項２】 請求項１記載の電子機器において、 前記電気的接続機構は、電気的接続ケーブル及びこの電
気的接続ケーブルの両端に配設されたコネクタを具備
し、このコネクタの両側端部の端子を経由するよう前記
電気的回路が形成されていることを特徴とする電子機
器。 - 【請求項３】 請求項１〜２記載の電子機器において、 前記電子回路部のうち、 前後に前記電子回路部が接続された中間部の電子回路部
は、当該前後に接続された前記電子回路部に前記診断用
信号を通過させる電気回路を有し、 一の電子回路部のみが接続された端部の電子回路部は、
当該接続された電子回路部から前記診断用信号を受け、
この診断用信号を当該接続された電子回路部に戻す電気
回路を有することを特徴とする電子機器。 - 【請求項４】 請求項１〜３記載の電子機器において、 前記電子回路部のうちの少なくとも一部に、前記診断用
信号の有無を表示する表示手段を配設したことを特徴と
する電子機器。 - 【請求項５】 請求項１〜３記載の電子機器において、 前記電子回路部のうちの少なくとも一部に、前記診断用
信号を検知手段に戻す電気回路とは別に閉ループ回路を
形成し、この閉ループ回路内に前記診断用信号により表
示される表示手段を配設したことを特徴とする電子機
器。 - 【請求項６】 複数の電子回路部を、電気的接続機構に
よって接続して構成された電子機器の診断方法におい
て、 診断用信号を発生する診断用信号発生機構と、前記診断
用信号を検知する診断用信号検知機構とを有する診断手
段を設けるとともに、 前記電気的接続機構及び前記電子回路部に、前記診断用
信号発生機構から送られた前記該診断用信号を通過さ
せ、前記診断用信号検知機構に戻す電気的回路を形成
し、 前記診断手段により、前記診断用信号発生機構から発生
した前記診断用信号が、前記電気的接続機構及び前記電
子回路部を経由して前記診断用信号検知機構に戻ったか
否かを検知して、前記電気的接続機構の電気的接続状態
を診断することを特徴とする電子機器の診断方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7177194A JPH0926896A (ja) | 1995-07-13 | 1995-07-13 | 電子機器及び電子機器の診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7177194A JPH0926896A (ja) | 1995-07-13 | 1995-07-13 | 電子機器及び電子機器の診断方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0926896A true JPH0926896A (ja) | 1997-01-28 |
Family
ID=16026829
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7177194A Withdrawn JPH0926896A (ja) | 1995-07-13 | 1995-07-13 | 電子機器及び電子機器の診断方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0926896A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101373460B1 (ko) * | 2012-07-10 | 2014-03-13 | 주식회사 바이오스페이스 | 체성분 측정장치의 전극 체크 방법 및 시스템 |
| WO2016007133A1 (en) * | 2014-07-08 | 2016-01-14 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Discovering connection of passive cables |
| US10498619B2 (en) | 2014-07-08 | 2019-12-03 | Hewlett Packard Enterprise Development Lp | Discovering connection of passive cables |
-
1995
- 1995-07-13 JP JP7177194A patent/JPH0926896A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101373460B1 (ko) * | 2012-07-10 | 2014-03-13 | 주식회사 바이오스페이스 | 체성분 측정장치의 전극 체크 방법 및 시스템 |
| WO2016007133A1 (en) * | 2014-07-08 | 2016-01-14 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Discovering connection of passive cables |
| US10362375B2 (en) | 2014-07-08 | 2019-07-23 | Hewlett Packard Enterprise Development Lp | Discovering connection of passive cables |
| US10498619B2 (en) | 2014-07-08 | 2019-12-03 | Hewlett Packard Enterprise Development Lp | Discovering connection of passive cables |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH10228426A (ja) | バスシステム及びバスシステムの作動法 | |
| CN106462485A (zh) | 马达控制装置 | |
| KR102449721B1 (ko) | 표시 장치 및 표시 장치의 검사 방법 | |
| JPH0926896A (ja) | 電子機器及び電子機器の診断方法 | |
| JP2014151689A (ja) | 中継コネクタユニット及びそれを備えた電子機器制御システム | |
| JP2007293678A (ja) | 共用バス接続診断装置 | |
| JPH10334382A (ja) | 防災監視システム | |
| JP2000171515A (ja) | 接続診断回路 | |
| JP2907075B2 (ja) | ケーブル布線接続監視方式 | |
| JPH04132180A (ja) | コネクタ | |
| JP4534187B2 (ja) | 遊技機の電源装置 | |
| JP5261874B2 (ja) | 電子回路および接続診断回路 | |
| KR950011478B1 (ko) | 전전자 교환기에서의 신호 단말 상태 관리 방법 | |
| JP3472891B2 (ja) | 制御通信システム | |
| JP2011242243A (ja) | 配線診断システム | |
| JPS58195165A (ja) | コネクタ−抜け検出方法 | |
| JPH04305748A (ja) | 高信頼性バス | |
| JP3082455B2 (ja) | 媒体接続装置 | |
| JP3348688B2 (ja) | 不要警報抑圧回路 | |
| JP2022131114A (ja) | 通信ケーブルの診断装置及び通信ケーブルの診断方法 | |
| JP2004334548A (ja) | 分散型監視制御システムの故障監視システム | |
| JPH1127184A (ja) | データ伝送装置 | |
| KR100569146B1 (ko) | 광통신 멀티플렉스 진단장치 | |
| JPH11296261A (ja) | コネクタの接続確認装置 | |
| JP2000112591A (ja) | 接続ケーブルの非接続に起因する制御システムの誤動作防止方式および方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20021001 |