JPH09246411A - 半導体マーキング方法及び半導体マーキング装置 - Google Patents

半導体マーキング方法及び半導体マーキング装置

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JPH09246411A
JPH09246411A JP4590696A JP4590696A JPH09246411A JP H09246411 A JPH09246411 A JP H09246411A JP 4590696 A JP4590696 A JP 4590696A JP 4590696 A JP4590696 A JP 4590696A JP H09246411 A JPH09246411 A JP H09246411A
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JP
Japan
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ink
marking
blade
semiconductor
temperature
Prior art date
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JP4590696A
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English (en)
Inventor
Makoto Abe
阿部  誠
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Toshiba Corp
Japan Semiconductor Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Iwate Toshiba Electronics Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 マークの潰れやムラを生じにくくし、マーク
の視認性を改善した半導体マーキング方法を提供するこ
とである。 【解決手段】 インクブレードの表面上に補充されたイ
ンクをリザーバローラの回転により所定の厚さで該リザ
ーバローラの表面に塗布し、そのリザーバローラの表面
上のインクを印板に転写して半導体製品の表面にマーキ
ングを行う半導体マーキング方法において、前記インク
ブレードの表面上に補充されたインクを、粘度が所定範
囲となるようにヒータまたはオーブンを用いて予熱した
上で、前記リザーバローラの表面に塗布する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、インクを使用して
半導体製品の表面にマーキングを行う半導体マーキング
方法、及び半導体マーキング装置に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば熱硬化型やUV硬化型のインクを
使用して、半導体製品の表面に商標、形名、製造ロット
コード及び製造国名等のマーキングを行う半導体マーキ
ング工程は、通常、半導体製造工程の最終段階のテスト
選別前またはテスト選別後に行われている。
【0003】従来、この種の半導体マーキング工程で用
いられる半導体マーキング装置としては、例えば図4に
示すようなものがあった。
【0004】図4は、従来の直写型方式の半導体マーキ
ング装置の要部側面図である。
【0005】この半導体マーキング装置は、インクを撹
拌するインク撹拌部110と、印板に転写されたインク
で半導体製品の表面に捺印を行う捺印ヘッド部150と
を備えている。
【0006】インク撹拌部110は、インクリザーバロ
ーラ111を有し、このインクリザーバローラ111の
近傍には、該インクリザーバローラ111に塗布される
インク厚を制御するインクブレード112が並設されて
いる。
【0007】インクブレード112は、その上面に補充
されたインク113がインクリザーバローラ111側へ
流動するように先細り形状となっており、前記インクリ
ザーバローラ111との隙間(クリアランス)を調整す
ることによって前記インクリザーバローラ111に塗布
するインク厚を制御する。
【0008】前記インクリザーバローラ111の下部に
は、該インクリザーバローラ111よりも小径のオシレ
ッテングローラ115とインクローラ116が配置され
ている。オシレッテングローラ115は、インクリザー
バローラ111の表面に塗布されたインク113を均一
に伸ばす働きをし、インクローラ116は、インクリザ
ーバローラ111に当接し、そのとき塗布されたインク
113を、水平移動することにより捺印ヘッド部150
へ運ぶ。
【0009】捺印ヘッド部150は、垂直方向に移動可
能なマーク捺印ヘッド151を備え、そのマーク捺印ヘ
ッド151の先端部には印板152が取り付けられてい
る。そして、前記マーク捺印ヘッド151の下側には、
マーキング対象である半導体製品153が固定されてい
る。
【0010】このように構成される半導体マーキング装
置によれば、インクブレード112上に補充したインク
113は、リザーバローラ111とインクブレード11
2との隙間より、撹拌時のインクリザーバローラ111
の回転によって押し出され、該インクリザーバローラ1
11の表面に塗布される。その後、オシレッティングロ
ーラ115によって、均一に伸ばされたリザーバローラ
111上のインクは、インクローラ116の表面に一旦
塗布された後、印板152へ転写される。そして、捺印
ヘッド151を下降させて印板152を半導体製品15
3の表面に押し当てることにより、該半導体製品153
への捺印が完了する。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の半導体マーキング装置では、インク113を常温状
態で使用し、しかも温度調節や粘度計測等の機能を有し
ていないため、次のような問題点があった。
【0012】(1)マーキング用のインクの粘度は温度
と負の相関があり(図5参照)、温度の高い方より低い
方が粘度が高くインクの伸びは悪く、マーキング文字の
潰れやムラが発生しやすい。
【0013】(2)粘度は温度変化に左右され易く、粘
度のばらつきを抑制することができない従来装置では、
室内温度が常に一定でなければ粘度はばらつきやすい。
その結果、マーキングされたマークの視認性が変動す
る。
【0014】本発明は、上述の如き従来の問題点を解決
するためになされたもので、その目的は、マークの潰れ
やムラを生じにくくし、マークの視認性を改善した半導
体マーキング方法を提供することである。またその他の
目的は、この半導体マーキング方法を簡素な構成で実現
する半導体マーキング装置を提供することである。
【0015】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、第1の発明である半導体マーキング方法の特徴は、
インクブレードの表面上に補充されたインクをリザーバ
ローラの回転により所定の厚さで該リザーバローラの表
面に塗布し、そのリザーバローラ上のインクを印板に転
写して半導体製品の表面にマーキングを行う半導体マー
キング方法において、前記インクブレードの表面上に補
充されたインクを、粘度が所定範囲となるようにヒータ
またはオーブンを用いて予熱した後、前記リザーバロー
ラの表面に塗布することにある。
【0016】この第1の発明によれば、インクは、予熱
により低粘度化してリザーバローラの表面に塗布され
る。その結果、インクの伸びが良くなり、マークの潰れ
やムラが生じにくくなる。これと同時に、インクの低粘
度化は、所定の範囲内に安定するように行われるため、
粘度のばらつきがなくなり、マークの視認性が改善され
る。
【0017】第2の発明である半導体マーキング装置の
特徴は、マーキング用のインクが塗布されるリザーバロ
ーラと、表面上に前記インクが補充され前記リザーバロ
ーラに塗布するインクの厚さを制御するインクブレード
とを有し、前記リザーバローラの表面上のインクを印板
に転写して半導体製品の表面にマーキングを行う半導体
マーキング装置において、前記インクブレードに内蔵さ
れ該インクブレードの表面上に補充されたインクを予熱
するヒータと、前記インクブレード上のインクの温度を
検出する温度センサと、前記温度センサの検出温度が所
定範囲となるように前記ヒータの入/切動作を制御する
温度調節手段とを備えたことにある。
【0018】この第2の発明によれば、ヒータの予熱に
より、インクは低粘度化してリザーバローラの表面に塗
布される。その結果、インクの伸びがよくなり、マーク
の潰れやムラが生じにくくなる。これと同時に、温度調
節手段及び温度センサにより、インクの粘度が所定範囲
内で安定化するように温度管理が行われるため、粘度の
ばらつきがなくなり、マークの視認性が改善される。
【0019】第3の発明である半導体マーキング装置の
特徴は、マーキング用のインクが塗布されるリザーバロ
ーラと、表面上に前記インクが補充され前記リザーバロ
ーラに塗布するインクの厚さを制御するインクブレード
とを有し、前記リザーバローラの表面上のインクを印板
に転写して半導体製品の表面にマーキングを行う半導体
マーキング装置において、先端出口が前記インクブレー
ド上のインクに向けられたダクトと、前記ダクトに熱風
を送るオーブンと、前記インクブレード上のインクの温
度を検出する温度センサと、前記温度センサの検出温度
が所定範囲となるように前記オーブンの動作を制御する
温度調節手段とを備えたことにある。
【0020】この第3の発明によれば、ダクトからの熱
風により、インクは予熱され低粘度化してリザーバロー
ラの表面に塗布される。その結果、インクの伸びがよく
なり、マークの潰れやムラが生じにくくなる。これと同
時に、温度調節手段及び温度センサにより、インクの粘
度が所定範囲内で安定化するように温度管理が行われる
ため、粘度のばらつきがなくなり、マークの視認性が改
善される。
【0021】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
基づいて説明する。図1は、本発明の第1実施形態に係
る直写型方式の半導体マーキング装置の要部側面図であ
る。
【0022】この半導体マーキング装置は、インク(例
えば熱硬化型インクまたはUV硬化型インク)を撹拌す
るインク撹拌部10と、印板に転写されたインクで半導
体製品(以下、パッケージという)の表面に捺印を行う
捺印ヘッド部50とを備えている。
【0023】インク撹拌部10は、インクリザーバロー
ラ11を有している。このインクリザーバローラ11
は、支軸11aに所定幅のゴム層が巻着された構造であ
り、図示しないモータの駆動力により例えば右回りに回
転する。さらに、インクリザーバローラ11の近傍に
は、該インクリザーバローラ11に塗布するインク厚を
制御するインクブレード12が並設されている。
【0024】インクブレード12は、SKH(高速度工
具鋼)等の金属で構成され、前記インクリザーバローラ
11に向けて所定の角度で傾斜した先細り形状を成し、
その上面に補充されたマークインク13がインクリザー
バローラ11側へ流動するようになっている。また、イ
ンクブレード12は水平方向にスライドするような機構
になっており、このスライド度合いによって、インクリ
ザーバローラ11とのクリアランス(隙間)が決定さ
れ、インク厚が一定に保たれるようになっている。ここ
で、インクブレード12のクリアランスは、ローレット
タイプのネジ等を用いて適性値に固定される。
【0025】さらに、インクブレード12の内部にはイ
ンク13を予熱するためのヒータ12aと、温度センサ
12bとが取り付けられている。温度センサ12bは、
前記インクブレード12上のインク13の温度を常時検
出する。温度センサ12bで検出された温度信号は、ケ
ーブル14aを介して温度調整器14へ送られ、温度調
整器14は、この温度センサ12bで検出されるインク
13の温度が所定範囲(例えば40±5℃)に一定化す
るようにヒータ12aの電源の入/切動作を制御する。
【0026】前記インクリザーバローラ11の下部に
は、該インクリザーバローラ11よりも小径のオシレッ
テングローラ15とインクローラ16が配置されてい
る。オシレッテングローラ15は、インクブレード12
側のインクリザーバローラ11下部に当接した状態で設
けられ、インクリザーバローラ11の表面に塗布された
インク13を均一に伸ばす働きをする。インクローラ1
6は、捺印ヘッド部50へ水平に移動可能に設けられ、
インクリザーバローラ11に当接してインクリザーバロ
ーラ11のインク13を表面に移し、水平移動してその
インクを捺印ヘッド部50へ運ぶ。
【0027】捺印ヘッド部50は、垂直方向に移動可能
なマーク捺印ヘッド51を備え、そのマーク捺印ヘッド
51の先端部には印板52が着脱自在に取り付けられて
いる。そして、前記マーク捺印ヘッド51の下側には、
マーキング対象であるパッケージ53が固定されてい
る。
【0028】次に、以上のように構成される半導体マー
キング装置のマーキング動作(半導体マーキング方法)
について説明する。
【0029】まず、インクブレード12のクリアランス
を適性値に設定した後、ヒータ12aを通電してインク
ブレード12表面を熱伝導により高温化する。これによ
って、このインクブレード12の表面上に補充されたイ
ンク13の温度を例えば40±5℃に予熱し、最適な粘
度状態にする(プレヒート)。
【0030】そして、インクリザーバローラ11の回転
により、インクブレード12表面上のインク13は、イ
ンクリザーバローラ11とインクブレード12との間隙
から押し出され、設定されたインク厚でインクリザーバ
ローラ11の表面に塗布される。
【0031】その後、インクリザーバローラ11のイン
ク13は、オシレッテングローラ15によって均一に伸
ばされた後、一旦インクローラ16の表面に塗布され
る。インクローラ16の表面に十分インク13が塗布さ
れると、インクローラ16は、捺印ヘッド部50側に水
平移動し、マーク捺印ヘッド51の印板52の表面に当
接して回転しながらインク13を転写する。
【0032】その後は、インクローラ16が元のインク
リザーバローラ11側へ移動すると同時に、マーク捺印
ヘッド51が下降してパッケージ53の表面に所定のマ
ーキングが施される。マーキングされたパッケージ53
は、高温槽(オーブンなど)またはUV装置(UV炉な
ど)に入れられ、インクの硬化が行われる。
【0033】本実施形態では、インク13の粘度が最も
適切な状態になるように、温度調整器14、ヒータ12
a及び温度センサ12bからなる温度調整機能によっ
て、マーキング動作中において常時、インク13の温度
が例えば40±5℃となるように管理される。
【0034】すなわち、温度調整器14は、温度センサ
12bによって検出したインク13の温度が上限45℃
に達するとヒータ12aの電源をオフし、またインク1
3の温度が下限35℃に達するとヒータ12aの電源を
オンする。これによって、図2に示すように、インク1
3の粘度は、225PS(35℃に対応)から100PS
(45℃に対応)までの範囲に収まり、良好な視認性領
域Zを保つことができる。なお、図2は、インクの温度
(粘度)と加工点(マーキングされた文字等)の高さと
の関係を示すグラフであり、前記の領域Zは、カスレ
や、潰れ、中抜けがない視認性良品レベルの範囲にある
ことを示している。
【0035】このような温度調節機能によって、インク
ブレード12上のインク13は、最も適切な粘度でイン
クリザーバローラ11へ押し出されていくので、このイ
ンクによってパッケージ53にマーキングされた文字等
は、潰れやムラがなく、常に良好な視認性をもつことが
できる。
【0036】図3は、本発明の第2実施形態に係る半導
体マーキング装置の要部側面図であり、図1と共通する
要素には同一の符号が付されている。
【0037】本実施形態が図1の装置と異なる点は、プ
レヒート方式でインクの予熱を行う上記第1実施形態の
インク撹拌部10に代えて、高温ダクト方式でインクを
予熱するインク撹拌部60を設けた点である。
【0038】具体的には、ヒータ12aと温度センサ1
2bが内蔵されたインクブレード12に代えて、温度セ
ンサ12bのみが内蔵されたインクブレード12Aを設
け、さらにインク13が補充される付近の雰囲気を高温
化するためにオーブン61に接続された高温ダクト62
を設ける。ここで、オーブン61には、温度センサ12
bの信号を受け取りオーブン61の加熱動作を制御する
コントロール部61aと、外気を取り入れるファン61
bとが設けられている。
【0039】オーブン61のコントロール部61aは、
前記温度センサ12bの信号に基づいて温度調整指令を
発し、オーブン本体は、この指令に従い、ファン61b
から取り込まれた外気を加熱してダクト62へ送り出
す。ダクト62から排出された熱風により、インクブレ
ード12A上のインク13が予熱される。そして、その
インクの温度は、コントロール部61aへフィードバッ
クされ、上述の温度範囲(例えば40±5℃)で一定化
するように管理される。
【0040】本実施形態のように構成しても、上記第1
実施形態と同様の効果を得ることができるほか、例えば
インクブレードにヒータを内蔵できないような場合に特
に有効となる。
【0041】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、第1の発明
である半導体マーキング方法によれば、インクブレード
の表面上に補充されたインクを、粘度が所定範囲となる
ようにヒータまたはオーブンを用いて予熱した上で、リ
ザーバローラの表面に塗布するようにしたので、従来の
常温マーキング方式と比較して、インクの伸びがよくな
り、マークの潰れやムラが生じにくくなる。さらに、粘
度のばらつきがなくなり、マークの視認性(捺印性)が
改善され、品位及び歩留まりが向上する。
【0042】第2の発明である半導体マーキング装置に
よれば、インクブレードに内蔵され該インクブレードの
表面上に補充されたインクを予熱するヒータと、前記イ
ンクブレード上のインクの温度を検出する温度センサ
と、前記温度センサの検出温度が所定範囲となるように
前記ヒータの入/切動作を制御する温度調節手段とを備
えたので、上記第1の発明と同様の効果の他に、簡素な
構造でインクの予熱を行うことができるという効果があ
る。
【0043】第3の発明である半導体マーキング装置に
よれば、先端出口がインクブレード上のインクに向けら
れたダクトと、前記ダクトに熱風を送るオーブンと、前
記インクブレード上のインクの温度を検出する温度セン
サと、前記温度センサの検出温度が所定範囲となるよう
に前記オーブンの動作を制御する温度調節手段とを備え
たので、上記第1の発明と同様の効果を奏すると共に、
インクブレードにヒータを内蔵できないような場合には
特に有効となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態に係る直写型方式の半導
体マーキング装置の要部側面図である。
【図2】インクの温度(粘度)と加工点の高さとの関係
を示すグラフである。
【図3】本発明の第2実施形態に係る半導体マーキング
装置の要部側面図である。
【図4】従来の直写型方式の半導体マーキング装置の要
部側面図である。
【図5】マークインクの温度と粘度の相関性を示すグラ
フである。
【符号の説明】
10,60 インク撹拌部 11 インクリザーバローラ 12,12A インクブレード 12a ヒータ 12b 温度センサ 13 マークインク 14 温度調整器 15 オシレッテングローラ 16 インクローラ 50 捺印ヘッド部 51 マーク捺印ヘッド 52 印板 53 パッケージ 61 オーブン 61a コントロール部 61b ファン 62 高温ダクト

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 インクブレードの表面上に補充されたイ
    ンクをリザーバローラの回転により所定の厚さで該リザ
    ーバローラの表面に塗布し、そのリザーバローラ上のイ
    ンクを印板に転写して半導体製品の表面にマーキングを
    行う半導体マーキング方法において、 前記インクブレードの表面上に補充されたインクを、粘
    度が所定範囲となるようにヒータまたはオーブンを用い
    て予熱した後、前記リザーバローラの表面に塗布するこ
    とを特徴とする半導体マーキング方法。
  2. 【請求項2】 マーキング用のインクが塗布されるリザ
    ーバローラと、表面上に前記インクが補充され前記リザ
    ーバローラに塗布するインクの厚さを制御するインクブ
    レードとを有し、前記リザーバローラの表面上のインク
    を印板に転写して半導体製品の表面にマーキングを行う
    半導体マーキング装置において、 前記インクブレードに内蔵され該インクブレードの表面
    上に補充されたインクを予熱するヒータと、 前記インクブレード上のインクの温度を検出する温度セ
    ンサと、 前記温度センサの検出温度が所定範囲となるように前記
    ヒータの入/切動作を制御する温度調節手段とを備えた
    ことを特徴とする半導体マーキング装置。
  3. 【請求項3】 マーキング用のインクが塗布されるリザ
    ーバローラと、表面上に前記インクが補充され前記リザ
    ーバローラに塗布するインクの厚さを制御するインクブ
    レードとを有し、前記リザーバローラの表面上のインク
    を印板に転写して半導体製品の表面にマーキングを行う
    半導体マーキング装置において、 先端出口が前記インクブレード上のインクに向けられた
    ダクトと、 前記ダクトに熱風を送るオーブンと、 前記インクブレード上のインクの温度を検出する温度セ
    ンサと、 前記温度センサの検出温度が所定範囲となるように前記
    オーブンの動作を制御する温度調節手段とを備えたこと
    を特徴とする半導体マーキング装置。
JP4590696A 1996-03-04 1996-03-04 半導体マーキング方法及び半導体マーキング装置 Pending JPH09246411A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6564861B1 (en) 1999-09-03 2003-05-20 Fujitsu Limited Cooling unit

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