JPH09219423A - マイクロパッケージ構造 - Google Patents
マイクロパッケージ構造Info
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Abstract
ルデバイスをベアチップの状態で他の半導体ベアチップ
とともにマルチチップモジュールとして塔載できるよう
にする。 【解決手段】機械的動作部分から引き出された端子電極
13を有するマイクロメカニカルデバイスの基板11上
に、機械的動作部分を取り囲み上端面が平らな枠14を
接着固定し、枠14の外側に延長されている端子電極1
3の上にバンプ15を設ける。取付け基板17にフェイ
スダウン方式で枠14の上端面と取付け基板17を接合
したとき、機械的動作部分の表面に中空部19が形成さ
れるように構成した。
Description
バイス)のパッケージ(気密封止)構造に関し、特に、
弾性表面波デバイスや水晶振動子などの振動デバイス,
加速度センサやジャイロなどの慣性センサ,圧力セン
サ,アクチュエータなど、機械的運動を伴う微小機械的
機能素子(マイクロメカニカルデバイス)のパッケージ
構造に関するものである。
に伴い、多種複数のチップ状デバイスを1つのモジュー
ル内に組み込むマルチチップモジュール(MCM:Mult
i-Chip-Module )技術が開発され実用化されている。そ
こでは、例えば、半導体や集積回路などの複数のベアチ
ップを基板に複合搭載し、テープ自動ボンディング(T
AB:Tape Automated Bonding)やワイヤボンディング
またはフリップチップのバンプによる接続などで実装し
た後、全体を樹脂封止(プラスチックシール)するマル
チチップパッケージ構造が実施されている。上記マルチ
チップモジュールは、樹脂が直接デバイスに密接して封
止されるため、弾性表面波デバイスのような振動子、或
いは、超小型の加速度センサやアクチュエータのように
マイクロマシンとも呼ばれる機械的運動体などのマイク
ロメカニカルデバイスを複合搭載することができない。
これらのマイクロメカニカルデバイスは個別に金属,セ
ラミック,ガラスなどを用いて気密封止した後に主基板
に搭載されている。
を示す平面図と縦断面図であり、弾性表面波素子をセラ
ミックパッケージ5に収容しキャップ9を覆せて気密封
止した構造を示す。(A)の平面図はキャップ9を取り
外して内部がわかるようにした図である。1は圧電基
板、2はIDT電極、3は端子電極(ボンディングパッ
ド)、4はボンディングワイヤ、5はセラミックパッケ
ージ、6はダイボンド樹脂、7は内部端子、8は外部端
子、9はキャップ、10は中空部である。この中空部1
0の空気は不活性ガスで置換されて素子が保護される。
この中空部10は、弾性表面波素子やマイクロメカニカ
ルデバイスにとって極めて重要な部分である。
波が励振し伝搬するIDT(すだれ状電極)面に表面波
エネルギが集中するためその振動機能面が弾性的に開放
となる条件が課せられているため中空部10が必要であ
る。同様に他のマイクロメカニカルデバイスの場合も機
械的運動体であるため中空部10を設ける気密封止(ハ
ーメチックシール)構造が必然である。
高密度実装と信号の高速化が要求され、既にマルチチッ
プモジュール化されたLSI(大規模集積回路)のチッ
プと個別に気密封止されたマイクロメカニカルデバイス
との配線距離による遅延時間を縮めなければならなくな
り、マイクロメカニカルデバイスもベアチップの状態で
一つのモジュール基板に複合搭載できるように求められ
ている。
型高密度実装化と信号の高速化を実現するために、マイ
クロメカニカルデバイスをベアチップの状態で、しか
も、中空部を確保して他のベアチップとともに樹脂封止
することのできるマイクロパッケージ構造を提供するこ
とにある。
ージ構造は、機械的動作部分から引き出された端子電極
を有する微小機械的機能素子の基板と、前記機械的動作
部分を囲み該基板上に形成された上端面が平らで接着機
能をもつ枠と、該枠の外側の前記基板上の端子電極面に
形成されたバンプとを備え、取付け基板にフェイスダウ
ン実装を用いて前記枠の平らな上端面と該取付け基板と
が接合されたとき前記機械的動作部分の表面に密閉空間
が形成され、前記バンプによって取付け基板上の導体に
導通接続されるように構成したことを特徴とするもので
ある。
図であり、例えば、マイクロメカニカルデバイスとして
弾性表面波デバイスを示してある。(A)はチップ状態
の弾性表面波素子の平面図であり、(B)はそのX−Y
切断端面図、(C)はそのチップを取付け基板16、例
えば、マルチチップモジュールの基板にフェイスダウン
方式で搭載した状態を示す。図1において、11は圧電
基板、12はIDT電極であり、運動,振動機能部分で
ある。13は端子電極、14は接着機能を持つ絶縁材料
で形成した枠、15はバンプ、16は接着強度改善用金
属、17は取付け基板であり例えばマルチチップモジュ
ールの基板、18はその基板17に設けられた印刷導
体、19は中空部である。
は、IDT電極12を形成するときフォトリソグラフィ
とドライエッチングを用いて形成される。この時端子電
極13は、予め枠14の外まで延長して形成させる。ま
た、接着強度改善用金属16は、動作空間の周りに配置
する。
善用金属16上に形成する。この接着機能を持つ材料と
して、予め必要なパターンに形作った絶縁性の両面テー
プやハーフキュアしたポリイミドなどが用いられる。テ
ープの場合、熱伝導性が高いテープならばさらによい。
また、ポリイミドは、感光性で低応力な材料を使用する
ことが望ましい。
3上にバンプ15を形成する。この時バンプ15の高さ
は枠14の高さより高くする。バンプ15には、はんだ
バンプ,導電樹脂バンプ,メタルバンプなどがあり、い
ずれのバンプ材料を使用してもよいが、デバイスと基板
の熱膨張係数の差による応力が問題になる場合、金(A
u)のメタルバンプが適する。ここまでのプロセスはウ
エハ上でバッチ処理が行われる。
シンを用いてチップに分離する。続いて分離されたデバ
イスを基板上にのせ、デバイスを基板側に押しつけ加熱
する。この時バンプ15はデバイスと基板間の電気的接
続を行う。枠14の材料としてポリイミドを用いた場
合、実装時に熱圧着を行う。最初デバイスを基板側に押
しつけた状態で加熱し、仮止めをする。この時、加圧が
強すぎるとバンプがつぶれすぎて基板との間で剥離が生
じるので加圧を調整する。次に、ポリイミドをフルキュ
アする。ポリイミドはフルキュアすると収縮するためバ
ンプが基板を押す力は強くなる。この状態でも電極数が
少なければ十分な電気的接続の信頼性が得られる。これ
らのパッケージプロセスが終了すると枠とデバイス、取
付け基板によって中空部(密閉空間)19が形成され、
表面弾性波デバイスの動作空間は中空部に封止される。
を得るための実装方法を示す。この方法では、バンプ1
5の先または基板17側に、スクリーン印刷で導電性樹
脂20を形成させる。バンプ15にAuを使用した場
合、バンプと基板は接触している程度なので、実装時の
加圧が強すぎると電気的にオープンになることがある。
ウエハには多くの場合そりがあるため、電極数が多くな
ると加圧にばらつきが生じオープン状態となる電極が現
れる。これらの問題をなくすためには、バンプ15の先
または基板側にスクリーン印刷で形成した導電性樹脂2
0を用いて電気的接続を行うことが有効である。また、
この導電性樹脂20を加えた方法は電極数が少ない場合
の信頼性向上にも役立つ。
造体,センサも実装できる。
ば、マイクロメカニカルデバイスを、その中空部を確保
してベアチップ状で取付け基板に直接実装できるので、
セラミックパッケージ等が不用となり、大幅な小型,軽
量化が図れ、かつ、他のチップとの配線間距離が短くな
るので信号の高速化に寄与すること大である。また、半
導体チップと一体化でき、従来の樹脂封止をそのまま適
用できるのでマイクロメカニカルデバイスを搭載したマ
ルチチップモジュール化を実現することができる。
Claims (1)
- 【請求項1】 機械的動作部分から引き出された端子電
極を有する微小機械的機能素子の基板と、前記機械的動
作部分を囲み該基板上に形成された上端面が平らで接着
機能をもつ枠と、該枠の外側の前記基板上の端子電極面
に形成されたバンプとを備え、取付け基板にフェイスダ
ウン実装を用いて前記枠の平らな上端面と該取付け基板
とが接合されたとき前記機械的動作部分の表面に密閉空
間が形成され、前記バンプによって取付け基板上の導体
に導通接続されるように構成したマイクロパッケージ構
造。
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