JPH09190975A - 露光装置及びそれを用いた素子製造方法 - Google Patents
露光装置及びそれを用いた素子製造方法Info
- Publication number
- JPH09190975A JPH09190975A JP8355388A JP35538896A JPH09190975A JP H09190975 A JPH09190975 A JP H09190975A JP 8355388 A JP8355388 A JP 8355388A JP 35538896 A JP35538896 A JP 35538896A JP H09190975 A JPH09190975 A JP H09190975A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical integrator
- optical
- diaphragm
- integrator
- exposure apparatus
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70058—Mask illumination systems
- G03F7/70091—Illumination settings, i.e. intensity distribution in the pupil plane or angular distribution in the field plane; On-axis or off-axis settings, e.g. annular, dipole or quadrupole settings; Partial coherence control, i.e. sigma or numerical aperture [NA]
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
明系を選択して高解像力の投影露光が可能な半導体素子
の製造に好適な露光装置及びそれを用いた素子製造方法
を得ること。 【解決手段】 光源からの光を第1オプティカルインテ
グレータに照射し、前記第1オプティカルインテグレー
タからの光束で第1物体を照明することにより前記第1
物体のパターンを投影光学系により第2物体に投影する
露光装置において、前記第1オプティカルインテグレー
タの近傍の光路中に光軸外に開口を備える開口絞りを設
け、前記光源と前記第1オプティカルインテグレータの
間に、第2オプティカルインテグレータと、該第2オプ
ティカルインテグレータからの光束を前記第1のオプテ
ィカルインテグレータ上に照射する光学系とを設けたこ
と。
Description
用いた素子製造方法に関し、具体的には半導体素子の製
造装置である所謂ステッパーにおいてレチクル面上のパ
ターンを適切に照明し、高い解像力が容易に得られるよ
うにしたものである。
覚ましく、又それに伴う微細加工技術の進展も著しい。
特に光加工技術は1MDRAMの半導体素子の製造を境
にサブミクロンの解像力を有する微細加工を技術まで達
している。解像力を向上させる手段としてこれまで多く
の場合、露光波長を固定して、光学系のNA(開口数)
を大きくしていく方法を用いていた。しかし最近では露
光波長をg線からi線に変えて、超高圧水銀灯を用いた
露光法により解像力を向上させる試みも種々と行なわれ
ている。
発展と共にレジストプロセスも同様に発展してきた。こ
の光学系とプロセスの両者が相まって、光リソグラフィ
が急激に進歩してきた。
に反比例することが知られている。この為サブミクロン
の解像力を得ようとすると、それと共に焦点深度が浅く
なってくるという問題点が生じてくる。
る更に短い波長の光を用いることにより解像力の向上を
図る方法が種々と提案されている。短波長の光を用いる
効果は一般に波長に反比例する効果を持っていることが
知られており、波長を短くした分だけ焦点深度は深くな
る。
せる方法として位相シフトマスクを用いる方法(位相シ
フト法)が種々と提案されている。この方法は従来のマ
スクの一部分に、他の部分とは通過光に対して180度
の位相差を与える薄膜を形成し、解像力を向上させよう
とするものであり、IBM社(米国)のLevenso
nらにより提案されている。解像力RPは波長をλ、パ
ラメータをk1 、開口数をNAとすると一般に式 RP=k1 λ/NA で示される。通常0.7〜0.8が実用域とされるパラ
メータk1 は、位相シフト法によれば0.35ぐらい迄
大幅に改善できることが知られている。
り、それらは例えば日経マイクロデバイス1990年7
月号108ページ以降の福田等の論文に詳しく記載され
ている。
相シフトマスクを用いて解像力を向上させるためには未
だ多くの問題点が残っている。例えば現状で問題点とな
っているものとして以下のものがある。 (イ).位相シフト膜を形成する技術が未確立。 (ロ).位相シフト膜用の最適なCADの開発が未確
立。 (ハ).位相シフト膜を付けれないパターンの存在。 (ニ).(ハ)に関連してネガ型レジストを使用せざる
をえないこと。 (ホ).検査、修正技術が未確立。
て半導体素子を製造するには様々な障害があり、現在の
ところ大変困難である。
を用いずにより解像力を高めた露光装置を特願平3−2
8631号(平成3年2月22日出願)で提案してい
る。
1662号公報では、通常の均一絞りに換えて均一絞り
とは開口形状が異なる特殊絞りをオプティカルインテグ
レータの後に挿入することにより、有効光源である2次
光源の(強度分布の)形状を周辺部強度が中央部強度よ
り大なるものに変換し、解像性能を高めた状態にする露
光装置を開示している。
いると、レクチル面上での照度分布を均一にするのが難
しくなってくる。
を用いてもレチクル面上での照度分布を改善することが
できる露光装置及びそれを用いた素子製造方法の提供を
目的とする。
に照射し、前記第1オプティカルインテグレータからの
光束で第1物体を照明することにより前記第1物体のパ
ターンを投影光学系により第2物体に投影する露光装置
において、前記第1オプティカルインテグレータの近傍
の光路中に光軸外に開口を備える開口絞りを設け、前記
光源と前記第1オプティカルインテグレータの間に、第
2オプティカルインテグレータと、該第2オプティカル
インテグレータからの光束を前記第1のオプティカルイ
ンテグレータ上に照射する光学系とを設けたことを特徴
としている。
口を4つだけ備えること。
口を備える第2絞りとを前記光路中に選択的に挿入する
絞り選択手段を有すること。
第2絞りを相異なる位置に配した円盤と該円盤を回転さ
せる駆動手段とを有すること。
関連した主たる方向に対応する互いに直交する2方向を
夫々x軸、y軸の方向とし且つ光軸の位置を中心とした
xy座標系を前記第2絞り上に仮定した時の第1乃至第
4象限に設けてあること。等を特徴としている。
を前記第2物体に投影して転写する段階を有することを
特徴としている。
概略図である。図中11は超高圧水銀灯等の光源でその
発光点は楕円ミラー12の第1焦点近傍に配置してい
る。この超高圧水銀灯11より発した光が楕円ミラー1
2によって集光される。13は光路を曲げるためのミラ
ー、14はシャッターで通過光量を制限している。71
はリレーレンズ系で超高圧水銀灯11からの光を波長選
択手段としての波長選択フィルター16を介して第2の
オプティカルインテグレータ72に効率よく集めてい
る。オプティカルインテグレータ72は後述するように
複数の微小レンズを2次元的に配列した構成より成って
いる。
グレータ(インテグレータ)72への結像状態はクリテ
ィカル照明でもケーラー照明でもよく、また例えば楕円
ミラー12の射出口をオプティカルインテグレータ72
に結像するものであっても良い。波長選択フィルター1
6は超高圧水銀灯11からの光束の波長成分の中から必
要な波長成分の光のみを選択して通過させている。
オプティカルインテグレータ72からの光束を第1オプ
ティカルインテグレータ74に照射している。
レータ72を構成する微小レンズ群の各々はインテグレ
ータの作用にのっとってリレーレンズ73を介して第1
オプティカルインテグレータ74でお互いに重なり合
う。この結果、第1オプティカルインテグレータ74の
入射口74aでは一様な照度分布が得られることにな
る。
絞り形状調整部材であり、複数の絞りをターレット式に
配置して構成しており、第1オプティカルインテグレー
タ74の後に配置している。絞り形状調整部材18は第
1オプティカルインテグレータ74の形状に応じてオプ
ティカルインテグレータ74を構成する複数の微小レン
ズから所定の微小レンズの選択を行なっている。即ち、
本実施形態では絞り形状調整部材18を絞り駆動系(駆
動装置)50で駆動させることにより露光を行なう後述
する半導体集積回路のパターン形状に合わせた照明方法
を選択している。このときの複数の微小レンズの選択に
関しては後述する。
露光に用いる有効光源の形状を変更する変更手段の一要
素を構成している。
レンズ系であり、絞り形状調整部材18を通過した光束
を集光している。レンズ系20は照明の均一性をコント
ロールするために重要な役割を果している。21はハー
フミラーであり、レンズ系20からの光束を透過光と反
射光に分割している。このうちハーフミラー21で反射
した光はレンズ38、ピンホール39を介してフォトデ
ィテクター40に導光している。ピンホール39は露光
が行なわれるべきパターンを持ったレチクル30と光学
的に等価な位置にあり、ここを通過した光がフォトディ
テクター40によって検出して、露光量のコントロール
を行なっている。
ブレードであり、レチクル30の露光されるべきパター
ン部の大きさによって駆動系(不図示)によって位置の
調整を行なっている。23はミラー、24はレンズ系、
25はミラー、26はレンズ系で、これらの各部材を介
した超高圧水銀灯11からの光でレチクルステージ37
上に載置されたレチクル(第1物体)30を照明してい
る。
4,26は有効光源からの光束をレチクルに照射する照
射手段の一要素を構成している。
のパターンをウェハー(第2物体)32に投影結像させ
ている。ウェハー32はウェハーチャック33に吸着し
ており、更にウエハーチャック33はレーザー干渉計3
6によって制御されるステージ34上に載置している。
尚、35はミラーであり、ウェハーステージ34上に載
置しており、あるレーザー干渉計(不図示)からの光を
反射させている。
レータ74の射出面74bは各要素19,20,23,
24,25,26を介して投影光学系31の瞳面31a
と略共役関係と成っている。即ち投影光学系31の瞳面
31aに射出面74bに相当する有効光源像が形成して
いる。
4bに形成される有効光源を投影光学系31の瞳面31
aに形成する有効光源形成手段の一要素を構成してい
る。
1aとオプティカルインテグレータ74の射出面74b
との関係について説明する。オプティカルインテグレー
タ74の形状は投影光学系31の瞳面31aに形成され
る有効光源の形状に対応している。図2はこの様子を示
したもので、投影光学系31の瞳面31aに形成される
射出面74bの有効光源像74cの形状が重ね描きされ
ている。正規化するため投影光学系31の瞳31aの径
を1.0としており、この瞳31a中にオプティカルイ
ンテグレータ74を構成する複数の微小レンズが結像し
て有効光源像74cを形成している。本実施形態の場
合、オプティカルインテグレータを構成する個々の微小
レンズは正方形の形状をしている。
るときに用いられる主たる方向となる直交軸をxおよび
y軸に取る。この方向はレチクル30上に形成されてい
るパターンの主たる方向と一致した方向であり、正方形
の形状をしているレチクル30の外形の方向とほぼ一致
している。
に述べたk1 ファクターが0.5付近の値を取るときで
ある。
8の絞りによりオプティカルインテグレータ74を構成
する複数の微小レンズのうちからレチクル30面上のパ
ターン形状に応じて所定の微小レンズを通過する光束の
みをレチクル30の照明用として用いるようにしてい
る。
で中心領域以外の複数の領域を光束が通過するように微
小レンズを選択している。
グレータ74を構成する複数の微小レンズのうち絞り形
状調整部材18の絞りにより所定の微小レンズを通過す
る光束のみを選択したときを示す瞳面31a上における
概略図である。同図において黒く塗りつぶした領域は光
が遮光され、白い領域は光が通過してくる領域を示して
いる。
れる方向がxおよびy方向であるときに対する瞳面31
a上の有効光源像を示している。瞳面31aを表わす円
を x2 +y2 =1 としたとき、次の4つの円を考える。
101〜108までの8つの領域に分解される。
像で深度の深い照明系は、これらのうちから偶数の領
域、即ち領域102,104,106,108に存在す
る微小レンズ群に優先的に光を通すように選択すること
によって達成している。原点であるx=0,y=0付近
の微小レンズは主として粗いパターンの深度向上に効果
が大きいため、中心付近の部分を選ぶか否かは焼き付け
ようとするパターンによって定まる選択事項である。
は除外した例が示してある。尚、オプテイカルインテグ
レータ74の外側の部分は照明系内でインテグレータ保
持部材(不図示)によって遮光されている。又図3
(A),(B)では遮光するべき微小レンズと投影レン
ズの瞳31aとの関係を分かり易くするため瞳31aと
オプティカルインテグレータの有効光源像74cが重ね
描きしている。
ターンに対して高解像が必要とされる場合の絞りの形状
を示す。図3(A)の場合と同じく瞳31aとオプティ
カルインテグレータ74の有効光源像74cとの関係を
図示している。±45°パターンの場合には前と同じと
して
(A)の場合と同じく瞳31aを領域111〜118の
8つの領域に区分する。この場合±45°方向のパター
ンの高解像化に寄与するのは今度は奇数で表わされた領
域、即ち領域111,113,115,117である。
この領域に存在しているオプティカルインテグレータ7
4の微小レンズを優先的に選択することにより±45°
方向のパターンはk1 ファクターが0.5付近で焦点深
度が著しく増大する。
a〜18dの切り換えを行なう概略図である。図4に示
すようにターレット式の交換方式を採用している。第1
の絞り18aは、k1 で1以上のそれほど細かくないパ
ターンを焼きつける場合に用いられる。第2の絞り18
aはこれまで公知の従来型の照明光学系の構成と同じで
あり、必要に応じてオプティカルインテグレータ74を
構成する微小レンズ群の外側の部分を遮光する様にも設
定される固定の絞りである。絞り18b〜18dは本実
施形態に従う第1の絞りとしての種々の絞りである。
合、オプテイカルインテグレータ74は従来の照明系で
必要とされる大きさより、瞳面上でより外側の領域まで
使う方が高空間周波数に対し有利である。例えば従来の
照明系では半径0.5以内の微小レンズ群を使うことが
好ましいのに対し、高解像用の照明系の場合には中心部
の微小レンズは使用しないものの、例えば最大半径0.
75以内の円の中ににある微小レンズ群まで使用する方
が好ましいことがある。
の大きさ、及び、照明系のその他の部分の有効径は、予
め従来型と高解像型の両者を考慮して設定しておくこと
が好ましい。また、オプテイカルインテグレータ74の
入射口74aにおける光の強度分布も、絞りが挿入され
ても十分機能が果たせるような大きさを持っていること
が好ましい。絞り18aで外側の微小レンズ群を遮光す
る場合があるのは以上のような理由からで、例えばオプ
ティカルインテグレータ74としては半径0.75のと
ころまで用意しておいても、絞り18aではそのうちか
ら半径0.5以内の部分を選ぶといったことが行なわれ
る。
集積回路のパターンの特殊性を考慮したうえで絞りの形
状を決定すれば、パターンに応じた最適の露光装置を構
成することができる。これらの絞りの選択は例えば露光
装置全体の制御コンピュータから与えて、自動的に行な
っている。図4に示したのはこのような絞りを搭載した
絞り形状調整部材18の一例で、この場合には4種類の
絞り18a〜18dのパターンを選択することが可能で
ある。勿論この数はもっとふやすことも容易である。
照度むらが変化する場合がある。そこで本実施形態では
オプティカルインテグレータを2段に設けてレチクル3
0面上の照度分布が不均一とならないようにしている。
又本実施形態では、このような場合の照度むらをレンズ
系20を調整して微調を行なっている。照度むらの微調
については、レンズ系20を構成する個々の要素レンズ
の光軸方向の間隔で調整可能であることが既に本出願人
の先の出願によって示されている。51は駆動機構であ
り、レンズ系20の要素レンズ(可動レンズ)を駆動さ
せている。レンズ系20の調整は絞りの選択に応じて行
なっている。また場合によっては絞りの形状の変更に応
じてレンズ系20自体をそっくり他の交換レンズと交換
するようにすることも可能である。そのような場合には
レンズ系20に相当するレンズ系を複数個用意し、絞り
の形状の選択に従ってターレット式に交換されるように
レンズ系を入れ替えている。尚、本実施形態において各
要素20,50は有効光源の形状の変更の際に照度むら
を調整する調整手段の一要素を構成している。
とによって半導体集積回路のパターンの特徴に応じた照
明系を選択している。また本実施形態の場合、高解像用
の照明系にした場合、大きく有効光源全体を見ると光源
自体が4つの領域に別れることが特徴となっている。こ
の場合の重要要素はこの4つの領域の強度のバランスで
ある。しかしながら図1のような系だと超高圧水銀灯1
1のケーブルの影がこのバランスに悪影響を与える場合
がある。従って、図3に示した絞りを用いる高解像用の
照明系ではケーブルの影になる線状の部分をオプティカ
ルインテグレータ74で遮光する微小レンズの位置と対
応するようにセットさせることが望ましい。
5(A)に示す様にケーブル11aを引っ張る方向はx
またはy方向にセットすることが好ましく、図3(B)
の絞りを使用した場合のケーブル11aを引っ張る方向
は図5(B)に示す様にx及びy方向に対して±45°
にセットすることが好ましい。本実施形態では超高圧水
銀灯のケーブルを引っ張る方向も、絞りの変更に対応し
て変えることが好ましい。
る超高圧水銀灯を1つ用いたものであった。しかしなが
ら本発明は複数個の光源を用いたり、あるいは光源とし
てエキシマレーザを用いたような場合にも勿論適用する
ことができる。エキシマレーザを用いた照明系の場合に
は時間的にオプティカルインテグレータ上でレーザの位
置が走査される方式があるが、この時走査する範囲を焼
き付けるべきパターンに応じて変化させれば図3にある
ような有効光源分布を容易に実現することができる。
解像用の照明系では絞りで大きく4つの部分に分けられ
た各部分同士のバランスも重要である。4つに分けられ
た有効光源同士の分布のモニター、あるいは補正法につ
いては先の出願で既に述べられているのでここでは言及
を省略する。
実施形態では最後のオプティカルインテグレータの後側
で行なったが、これはオプティカルインテグレータの前
側で行なっても良い。また他に照明系内でオプティカル
インテグレータと共役な面があればそこで絞りの動作を
行なうようにしても良い。
を有する絞りを用いても照度分布を改善することがで
き、これによって高解像度のパターンを有した半導体デ
バイスを容易に得ることができる。
の関係を示す説明図
図
Claims (6)
- 【請求項1】 光源からの光を第1オプティカルインテ
グレータに照射し、前記第1オプティカルインテグレー
タからの光束で第1物体を照明することにより前記第1
物体のパターンを投影光学系により第2物体に投影する
露光装置において、前記第1オプティカルインテグレー
タの近傍の光路中に光軸外に開口を備える開口絞りを設
け、前記光源と前記第1オプティカルインテグレータの
間に、第2オプティカルインテグレータと、該第2オプ
ティカルインテグレータからの光束を前記第1のオプテ
ィカルインテグレータ上に照射する光学系とを設けたこ
とを特徴とする露光装置。 - 【請求項2】 前記第1絞りは光軸外に開口を4つだけ
備えることを特徴とする請求項1の露光装置。 - 【請求項3】 前記開口絞りと光軸上に1つの開口を備
える第2絞りとを前記光路中に選択的に挿入する絞り選
択手段を有することを特徴とする請求項2の露光装置。 - 【請求項4】 前記絞り選択手段は、前記第1、第2絞
りを相異なる位置に配した円盤と該円盤を回転させる駆
動手段とを有することを特徴とする請求項3の露光装
置。 - 【請求項5】 前記4つの開口は、夫々、装置に関連し
た主たる方向に対応する互いに直交する2方向を夫々x
軸、y軸の方向とし且つ光軸の位置を中心としたxy座
標系を前記第2絞り上に仮定した時の第1乃至第4象限
に設けてあることを特徴とする請求項2乃至5の露光装
置。 - 【請求項6】 請求項1乃至請求項5のいずれかの露光
装置を用いて回路パターンを前記第2物体に投影して転
写する段階を有する素子製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8355388A JP2891219B2 (ja) | 1996-12-20 | 1996-12-20 | 露光装置及びそれを用いた素子製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8355388A JP2891219B2 (ja) | 1996-12-20 | 1996-12-20 | 露光装置及びそれを用いた素子製造方法 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3128446A Division JP2890892B2 (ja) | 1991-02-22 | 1991-04-30 | 露光装置及びそれを用いた素子製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09190975A true JPH09190975A (ja) | 1997-07-22 |
JP2891219B2 JP2891219B2 (ja) | 1999-05-17 |
Family
ID=18443651
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8355388A Expired - Lifetime JP2891219B2 (ja) | 1996-12-20 | 1996-12-20 | 露光装置及びそれを用いた素子製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2891219B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11329963A (ja) * | 1998-03-05 | 1999-11-30 | Carl Zeiss:Fa | レンズの摺動を伴う照明光学系及びrema対物レンズと、その動作方法 |
KR100697268B1 (ko) * | 2000-08-07 | 2007-03-21 | 삼성전자주식회사 | 반도체 제조 공정에 사용되는 노광 장치 |
CN103299243A (zh) * | 2010-11-19 | 2013-09-11 | 恩斯克科技有限公司 | 接近式曝光装置以及接近式曝光方法 |
JP2016192343A (ja) * | 2015-03-31 | 2016-11-10 | ウシオ電機株式会社 | 光源装置 |
-
1996
- 1996-12-20 JP JP8355388A patent/JP2891219B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11329963A (ja) * | 1998-03-05 | 1999-11-30 | Carl Zeiss:Fa | レンズの摺動を伴う照明光学系及びrema対物レンズと、その動作方法 |
KR100697268B1 (ko) * | 2000-08-07 | 2007-03-21 | 삼성전자주식회사 | 반도체 제조 공정에 사용되는 노광 장치 |
CN103299243A (zh) * | 2010-11-19 | 2013-09-11 | 恩斯克科技有限公司 | 接近式曝光装置以及接近式曝光方法 |
JP2016192343A (ja) * | 2015-03-31 | 2016-11-10 | ウシオ電機株式会社 | 光源装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2891219B2 (ja) | 1999-05-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3278896B2 (ja) | 照明装置及びそれを用いた投影露光装置 | |
JP2946950B2 (ja) | 照明装置及びそれを用いた露光装置 | |
JPH04369209A (ja) | 露光用照明装置 | |
JPH0545889A (ja) | 投影露光装置 | |
JP2001284240A (ja) | 照明光学系、および該照明光学系を備えた投影露光装置と該投影露光装置によるデバイスの製造方法 | |
JP5392468B2 (ja) | 照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法 | |
JP3817365B2 (ja) | 投影露光装置及びそれを用いたデバイスの製造方法 | |
JP3576685B2 (ja) | 露光装置及びそれを用いたデバイスの製造方法 | |
TW200839460A (en) | Exposure apparatus and semiconductor device fabrication method | |
JP4535260B2 (ja) | 照明光学装置、露光装置、および露光方法 | |
JP4332331B2 (ja) | 露光方法 | |
JP2009253167A (ja) | 露光装置及びデバイス製造方法 | |
JP2890892B2 (ja) | 露光装置及びそれを用いた素子製造方法 | |
JPH1070070A (ja) | 照明装置及びそれを用いた投影露光装置 | |
JP2891219B2 (ja) | 露光装置及びそれを用いた素子製造方法 | |
JP3814444B2 (ja) | 照明装置及びそれを用いた投影露光装置 | |
JP3102077B2 (ja) | 半導体デバイスの製造方法及び投影露光装置 | |
JPH06204123A (ja) | 照明装置及びそれを用いた投影露光装置 | |
JP2891218B2 (ja) | 露光装置及びそれを用いた素子製造方法 | |
JP4235410B2 (ja) | 露光方法 | |
JP2891217B2 (ja) | 露光装置及びそれを用いた素子製造方法 | |
JPH06204114A (ja) | 照明装置及びそれを用いた投影露光装置 | |
JP2003015314A (ja) | 照明光学装置および該照明光学装置を備えた露光装置 | |
JPH0547629A (ja) | 半導体デバイスの製造方法及びそれを用いた投影露光装置 | |
JP3376043B2 (ja) | 照明装置及びそれを用いた投影露光装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080226 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090226 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100226 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100226 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110226 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120226 Year of fee payment: 13 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120226 Year of fee payment: 13 |