JPH09189535A - 表面欠陥検査装置 - Google Patents
表面欠陥検査装置Info
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- JPH09189535A JPH09189535A JP106596A JP106596A JPH09189535A JP H09189535 A JPH09189535 A JP H09189535A JP 106596 A JP106596 A JP 106596A JP 106596 A JP106596 A JP 106596A JP H09189535 A JPH09189535 A JP H09189535A
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ベルト状被検査体の裏面の凹凸、張力の変
動、振動、回転ムラ、或いは表面に付着したほこり等に
よって表面欠陥の検出結果にノイズが重畳する。 【解決手段】 転写ベルト1にテンションロール4の重
量に基づいて所定の張力を付与するとともにアイドルロ
ール5によってラインセンサ11の受光視野9の裏面か
ら所定の圧力を加えるようにした。
動、振動、回転ムラ、或いは表面に付着したほこり等に
よって表面欠陥の検出結果にノイズが重畳する。 【解決手段】 転写ベルト1にテンションロール4の重
量に基づいて所定の張力を付与するとともにアイドルロ
ール5によってラインセンサ11の受光視野9の裏面か
ら所定の圧力を加えるようにした。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は表面欠陥検査装置に
関し、特に、電子写真方式の画像出力装置に用いられる
ロールによってガイドされるシート部品の表面欠陥を高
い精度で迅速に測定でき、かつ、コストアップを抑えた
表面欠陥検査装置に関する。
関し、特に、電子写真方式の画像出力装置に用いられる
ロールによってガイドされるシート部品の表面欠陥を高
い精度で迅速に測定でき、かつ、コストアップを抑えた
表面欠陥検査装置に関する。
【0002】
【従来技術】複写機やレーザプリンタ等の電子写真方式
の画像出力装置に用いられる感光体ドラム、定着ロー
ル、帯電ロール、及び現像スリーブ等のロール部品や、
転写ベルト等のシート部品は、出力画像の品質を左右す
る重要な機能部品である。従って、これらの部品が表面
に欠陥を有していると、出力画像に黒点や筋を発生させ
る原因となる。これを防ぐために、これらの部品の外観
検査を行って欠陥の有無を検出している。
の画像出力装置に用いられる感光体ドラム、定着ロー
ル、帯電ロール、及び現像スリーブ等のロール部品や、
転写ベルト等のシート部品は、出力画像の品質を左右す
る重要な機能部品である。従って、これらの部品が表面
に欠陥を有していると、出力画像に黒点や筋を発生させ
る原因となる。これを防ぐために、これらの部品の外観
検査を行って欠陥の有無を検出している。
【0003】ロール部品や、シート部品の表面の欠陥
(以下、表面欠陥という)には種々のものがある。例え
ば、感光体ドラムの場合、切削、研磨された金属パイプ
の表面に多層の感光層を浸析塗布して製作しているが、
金属パイプの研磨工程においてホイール状の研磨装置を
用いるために研磨されたロール表面に「円周方向傷」が
発生する。また、感光層の塗布工程では金属パイプに塗
料が不均一に塗布されることによる「異物」や「色む
ら」が生じることがある。また、金属パイプへの塗布条
件が変化すると、気泡が発生し、「へこみ」や「ふくら
み」の原因となる。また、転写ベルトの樹脂の成形工程
においても、溶剤の発泡残りによる「突起」が発生する
ことがある。その他、表面処理工程では、処理材料の不
均一による「異物」や「色むら」が生じることがあり、
更に、取扱い時における「打痕」や「擦り傷」等も表面
欠陥になる。
(以下、表面欠陥という)には種々のものがある。例え
ば、感光体ドラムの場合、切削、研磨された金属パイプ
の表面に多層の感光層を浸析塗布して製作しているが、
金属パイプの研磨工程においてホイール状の研磨装置を
用いるために研磨されたロール表面に「円周方向傷」が
発生する。また、感光層の塗布工程では金属パイプに塗
料が不均一に塗布されることによる「異物」や「色む
ら」が生じることがある。また、金属パイプへの塗布条
件が変化すると、気泡が発生し、「へこみ」や「ふくら
み」の原因となる。また、転写ベルトの樹脂の成形工程
においても、溶剤の発泡残りによる「突起」が発生する
ことがある。その他、表面処理工程では、処理材料の不
均一による「異物」や「色むら」が生じることがあり、
更に、取扱い時における「打痕」や「擦り傷」等も表面
欠陥になる。
【0004】従来、このような表面欠陥を検出する外観
検査として、検査員の目視による目視検査が行われてき
た。しかし、目視検査では検査に要するコストや検査工
数が増大し、検査品質にバラつきが生じるという問題が
あり、加えて、検査対象が反射表面であるために検査員
の疲労が激しく、検査要員を確保することが難しいとい
う問題がある。
検査として、検査員の目視による目視検査が行われてき
た。しかし、目視検査では検査に要するコストや検査工
数が増大し、検査品質にバラつきが生じるという問題が
あり、加えて、検査対象が反射表面であるために検査員
の疲労が激しく、検査要員を確保することが難しいとい
う問題がある。
【0005】かかる問題を解決するものとして、検査要
員の目視によらずに検査対象の表面欠陥を検査する装置
が特開平5−107197号公報に開示されている。
員の目視によらずに検査対象の表面欠陥を検査する装置
が特開平5−107197号公報に開示されている。
【0006】図5は、従来の表面欠陥検査装置を示し、
白色拡散光源である蛍光灯18と、蛍光灯18から照射
される白色拡散光をスリット光とするスリット19と、
スリット光が照射される円筒状の被検査体20と、被検
査体20を回転させる回転ステージ21と、被検査体2
0の表面で反射されたスリット光を縮小光学系22を介
して受光するラインセンサ23と、ラインセンサ23か
ら受光量に応じた表面状態信号を入力して被検査体20
の表面欠陥を検出する欠陥検出部24を有する。
白色拡散光源である蛍光灯18と、蛍光灯18から照射
される白色拡散光をスリット光とするスリット19と、
スリット光が照射される円筒状の被検査体20と、被検
査体20を回転させる回転ステージ21と、被検査体2
0の表面で反射されたスリット光を縮小光学系22を介
して受光するラインセンサ23と、ラインセンサ23か
ら受光量に応じた表面状態信号を入力して被検査体20
の表面欠陥を検出する欠陥検出部24を有する。
【0007】この表面欠陥検査装置によると、被検査体
に照射されるスリット光の境界位置H1にラインセンサ
23の受光視野を一致させる第1検出位置で被検査体を
走査することにより、被検査体の表面に存在する緩やか
な凹凸状の「へこみ」や「ふくらみ」を検出でき、スリ
ット光の中心位置H2にラインセンサ23の受光視野を
一致させる第2検出位置で被検査体を走査することによ
り、被検査体の表面に存在する「色むら」、「異物」、
「打痕」及び「擦り傷」等の表面欠陥を検出することが
できる。
に照射されるスリット光の境界位置H1にラインセンサ
23の受光視野を一致させる第1検出位置で被検査体を
走査することにより、被検査体の表面に存在する緩やか
な凹凸状の「へこみ」や「ふくらみ」を検出でき、スリ
ット光の中心位置H2にラインセンサ23の受光視野を
一致させる第2検出位置で被検査体を走査することによ
り、被検査体の表面に存在する「色むら」、「異物」、
「打痕」及び「擦り傷」等の表面欠陥を検出することが
できる。
【0008】図6は、上記した表面欠陥検査装置におけ
る表面欠陥を検出する動作を示し、被検査体20の表面
に表面欠陥がない場合、あるいは表面欠陥があってもそ
れが「色むら」等の場合には、(a)に示すように、蛍
光灯18からスリット19を介して被検査体20に照射
されるスリット光は、ラインセンサ23への反射方向A
に対して正反射方向Bに反射される。一方、(b)に示
すように、被検査体20の表面に「ふくらみ」や「へこ
み」等の表面欠陥25があると、被検査体20に投影さ
れたスリット光の境界線に歪みが生じてスリット光の反
射方向が変化する。この歪みに基づく反射散乱光Bがラ
インセンサ23で受光されることによって表面欠陥が検
出される。
る表面欠陥を検出する動作を示し、被検査体20の表面
に表面欠陥がない場合、あるいは表面欠陥があってもそ
れが「色むら」等の場合には、(a)に示すように、蛍
光灯18からスリット19を介して被検査体20に照射
されるスリット光は、ラインセンサ23への反射方向A
に対して正反射方向Bに反射される。一方、(b)に示
すように、被検査体20の表面に「ふくらみ」や「へこ
み」等の表面欠陥25があると、被検査体20に投影さ
れたスリット光の境界線に歪みが生じてスリット光の反
射方向が変化する。この歪みに基づく反射散乱光Bがラ
インセンサ23で受光されることによって表面欠陥が検
出される。
【0009】このようにして被検査体の表面に存在する
緩やかな凹凸状の表面欠陥を検出することが可能になる
が、近年、画像出力装置の小型化が進み、それに伴って
ロール部品等も小径化されてロール表面の曲率半径が小
さくなっていることから、円周方向での境界位置の変化
を検出することが困難になっている。
緩やかな凹凸状の表面欠陥を検出することが可能になる
が、近年、画像出力装置の小型化が進み、それに伴って
ロール部品等も小径化されてロール表面の曲率半径が小
さくなっていることから、円周方向での境界位置の変化
を検出することが困難になっている。
【0010】一方、無端帯状のベルト部材の表面欠陥を
検査する装置として、特開平3−226619号公報に
開示されるものがある。
検査する装置として、特開平3−226619号公報に
開示されるものがある。
【0011】図7は、特開平3−226619号公報に
開示される表面欠陥検査装置を示し、被検査体である感
光体ベルト26と、感光体ベルト26を張架する駆動ロ
ール27及びアイドルロール28と、駆動ロール27及
びアイドルロール28を伸縮部材29を介して支持する
支持部材30A及び30Bと、駆動ロール27を回転さ
せる回転駆動力を発生する駆動モータ31と、駆動モー
タ31で発生した回転駆動力を駆動ロール27に伝達す
る駆動力伝達ベルト32と、アイドルロール28の頂点
部分の感光体ベルト26に光を照射する光源33と、感
光体ベルト26で反射された反射光を受光するラインセ
ンサ34及び35と、ラインセンサ34及び35の受光
強度に応じて光電変換された電気信号を入力して画像処
理を行う画像処理部36と、画像処理部で画像処理され
た画像を表示するディスプレイ37を有している。
開示される表面欠陥検査装置を示し、被検査体である感
光体ベルト26と、感光体ベルト26を張架する駆動ロ
ール27及びアイドルロール28と、駆動ロール27及
びアイドルロール28を伸縮部材29を介して支持する
支持部材30A及び30Bと、駆動ロール27を回転さ
せる回転駆動力を発生する駆動モータ31と、駆動モー
タ31で発生した回転駆動力を駆動ロール27に伝達す
る駆動力伝達ベルト32と、アイドルロール28の頂点
部分の感光体ベルト26に光を照射する光源33と、感
光体ベルト26で反射された反射光を受光するラインセ
ンサ34及び35と、ラインセンサ34及び35の受光
強度に応じて光電変換された電気信号を入力して画像処
理を行う画像処理部36と、画像処理部で画像処理され
た画像を表示するディスプレイ37を有している。
【0012】しかし、この表面欠陥検査装置によると、
ラインセンサ34及び35の受光視野をアイドルロール
28上の感光体ベルト26に合わせているため、感光体
ベルト26に付着したほこり、或いはアイドルロール2
8表面の凹凸がノイズとして検出されてしまうという問
題がある。
ラインセンサ34及び35の受光視野をアイドルロール
28上の感光体ベルト26に合わせているため、感光体
ベルト26に付着したほこり、或いはアイドルロール2
8表面の凹凸がノイズとして検出されてしまうという問
題がある。
【0013】このようなノイズ成分を排除するには、例
えば、図8に示すように、駆動ロール27及びアイドル
ロール28の間に受光視野Aを設けて感光体ベルト26
に光を照射し、その反射光をラインセンサ34及び35
で受光する構成が考えられるが、この場合には、ライン
センサ34及び35の受光視野Aにおける感光体ベルト
26に振動、或いはベルトの張りムラに基づく歪み成分
が反射光とともに検出されてしまうため、表面欠陥の検
出精度が低下するという問題がある。
えば、図8に示すように、駆動ロール27及びアイドル
ロール28の間に受光視野Aを設けて感光体ベルト26
に光を照射し、その反射光をラインセンサ34及び35
で受光する構成が考えられるが、この場合には、ライン
センサ34及び35の受光視野Aにおける感光体ベルト
26に振動、或いはベルトの張りムラに基づく歪み成分
が反射光とともに検出されてしまうため、表面欠陥の検
出精度が低下するという問題がある。
【0014】感光体ベルト42に張力を付与する構成
は、図9に示すように、スプリング38A〜38Cによ
ってロール39〜41を支持する構成が特開平3−22
6619号公報に開示されている。このスプリング38
A〜38Cを、図9(a)に示すように圧縮方向に押圧
して感光体ベルト42の内周部に挿入した後、圧縮方向
の力を解除すると、スプリング38A〜38Cの反発力
に基づいて図9(b)に示すようにロール39〜41の
間隔が拡大し、その結果、感光体ベルト42にスプリン
グの反発力に応じた所定の張力が付与される。
は、図9に示すように、スプリング38A〜38Cによ
ってロール39〜41を支持する構成が特開平3−22
6619号公報に開示されている。このスプリング38
A〜38Cを、図9(a)に示すように圧縮方向に押圧
して感光体ベルト42の内周部に挿入した後、圧縮方向
の力を解除すると、スプリング38A〜38Cの反発力
に基づいて図9(b)に示すようにロール39〜41の
間隔が拡大し、その結果、感光体ベルト42にスプリン
グの反発力に応じた所定の張力が付与される。
【0015】図10は、感光体ベルト42に張力を付与
する他の構成を示し、2つのロール43及び44を温度
に応じて伸縮自在な支持部材45で支持し、この支持部
材45を図10(a)に示すように変形させてロール4
3及び44間の距離を縮めた状態で感光体ベルト42の
内周部に挿入した後、支持部材45を冷却又は加熱して
図10(b)に示すように形状を直線状に復元させるこ
とによって、感光体ベルト42に所定の張力を付与して
いる。
する他の構成を示し、2つのロール43及び44を温度
に応じて伸縮自在な支持部材45で支持し、この支持部
材45を図10(a)に示すように変形させてロール4
3及び44間の距離を縮めた状態で感光体ベルト42の
内周部に挿入した後、支持部材45を冷却又は加熱して
図10(b)に示すように形状を直線状に復元させるこ
とによって、感光体ベルト42に所定の張力を付与して
いる。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の表面欠
陥検査装置によると、アイドルロールと駆動ロールから
なる複数のロールで張架されたベルトにスプリング、温
度依存性伸縮部材等の張力付与部材で張力を掛け、ロー
ル周上で、或いはアイドルロールと駆動ロールの間の位
置をセンサの受光位置に設定してベルトの表面欠陥を検
出しているので、図7に示すような、アイドルロール周
上での検出ではアイドルロール表面にある凹凸がベルト
上にノイズとして表れ誤検出される恐れがあり、一方、
図8に示すようなロール間での検出はベルトの張力が不
足したり、不均一になってベルト表面にばたつきが発生
し、精度の高い検出ができない。加えて、被検査体の交
換時には、スプリングや温度に応じて伸縮する部材を手
作業で圧縮する必要があり、作業性が悪いという問題が
ある。
陥検査装置によると、アイドルロールと駆動ロールから
なる複数のロールで張架されたベルトにスプリング、温
度依存性伸縮部材等の張力付与部材で張力を掛け、ロー
ル周上で、或いはアイドルロールと駆動ロールの間の位
置をセンサの受光位置に設定してベルトの表面欠陥を検
出しているので、図7に示すような、アイドルロール周
上での検出ではアイドルロール表面にある凹凸がベルト
上にノイズとして表れ誤検出される恐れがあり、一方、
図8に示すようなロール間での検出はベルトの張力が不
足したり、不均一になってベルト表面にばたつきが発生
し、精度の高い検出ができない。加えて、被検査体の交
換時には、スプリングや温度に応じて伸縮する部材を手
作業で圧縮する必要があり、作業性が悪いという問題が
ある。
【0017】また、スプリングを用いてベルトに張力を
付与する場合、スプリングの経年変化によって弾性特性
の低下を生じ、温度に応じた熱膨張によってベルトに張
力を付与する場合、温度変化によってベルトに付与され
る張力が変化する。このように、ベルトの張力に変化が
生じると、ベルトの張りムラや振動に基づくノイズが生
じて表面欠陥の検出結果に重畳するという問題がある。
従って、本発明の目的は煩雑な作業を伴わずに所定の張
力をベルト状の被検査体に付与でき、被検査体の表面欠
陥に応じた反射散乱光を精度良く測定することができる
表面欠陥検査装置を提供することにある。
付与する場合、スプリングの経年変化によって弾性特性
の低下を生じ、温度に応じた熱膨張によってベルトに張
力を付与する場合、温度変化によってベルトに付与され
る張力が変化する。このように、ベルトの張力に変化が
生じると、ベルトの張りムラや振動に基づくノイズが生
じて表面欠陥の検出結果に重畳するという問題がある。
従って、本発明の目的は煩雑な作業を伴わずに所定の張
力をベルト状の被検査体に付与でき、被検査体の表面欠
陥に応じた反射散乱光を精度良く測定することができる
表面欠陥検査装置を提供することにある。
【0018】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するため、ベルト状の被検査体を回転自在に支持する
支持手段と、前記被検査体に所定の張力を付与する第1
の張力付与手段と、前記被検査体がほぼ直線状になる位
置に所定の張力を付与する第2の張力付与手段と、前記
被検査体の前記位置に照射光を出射する光源と、前記照
射光に基づく前記被検査体の前記位置からの反射光を受
光する受光手段と、前記反射光に基づいて前記被検査体
の表面の欠陥の立体形状に基づく特徴量を算出する特徴
量算出手段と、前記特徴量に基づいて前記被検査体の良
否の判定を行う良否判定手段とを有する表面欠陥検査装
置を提供する。
成するため、ベルト状の被検査体を回転自在に支持する
支持手段と、前記被検査体に所定の張力を付与する第1
の張力付与手段と、前記被検査体がほぼ直線状になる位
置に所定の張力を付与する第2の張力付与手段と、前記
被検査体の前記位置に照射光を出射する光源と、前記照
射光に基づく前記被検査体の前記位置からの反射光を受
光する受光手段と、前記反射光に基づいて前記被検査体
の表面の欠陥の立体形状に基づく特徴量を算出する特徴
量算出手段と、前記特徴量に基づいて前記被検査体の良
否の判定を行う良否判定手段とを有する表面欠陥検査装
置を提供する。
【0019】上記の表面欠陥検査装置において、支持手
段は、被検査体をループ状に張架する複数のガイドロー
ルであり、第1の張力付与手段は、一端を回転軸に支持
されたアームの他端に回転的に支持され、ループ状に張
架された被検査体の内側に圧接するテンションロールで
あり、第2の張力付与手段は、複数のガイドロールによ
って張架された被検査体を外側に押圧する接触摩擦係数
の小さなアイドルロールである構成としても良い。光源
は、被検査体の前記位置に主走査方向に伸びるスリット
光を照射する構成であっても良い。受光手段は、被検査
体の前記位置に照射されるスリット光の境界位置を受光
位置とする構成としても良い。第2の張力付与手段は、
前記位置における被検査体に175度以上180度未満
の内側角度を有するように被検査体を内側から押圧する
構成としても良い。テンションロールは、自重に基づい
て被検査体の内側に圧接する構成としても良く、重りに
基づいて被検査体の内側に圧接する構成としても良い。
段は、被検査体をループ状に張架する複数のガイドロー
ルであり、第1の張力付与手段は、一端を回転軸に支持
されたアームの他端に回転的に支持され、ループ状に張
架された被検査体の内側に圧接するテンションロールで
あり、第2の張力付与手段は、複数のガイドロールによ
って張架された被検査体を外側に押圧する接触摩擦係数
の小さなアイドルロールである構成としても良い。光源
は、被検査体の前記位置に主走査方向に伸びるスリット
光を照射する構成であっても良い。受光手段は、被検査
体の前記位置に照射されるスリット光の境界位置を受光
位置とする構成としても良い。第2の張力付与手段は、
前記位置における被検査体に175度以上180度未満
の内側角度を有するように被検査体を内側から押圧する
構成としても良い。テンションロールは、自重に基づい
て被検査体の内側に圧接する構成としても良く、重りに
基づいて被検査体の内側に圧接する構成としても良い。
【0020】
【発明の実施の形態】以下、本発明の表面欠陥検査装置
を図面を参照しつつ説明する。
を図面を参照しつつ説明する。
【0021】図1は、本発明の第1の実施の形態におけ
る表面欠陥検査装置を示し、被検査体である転写ベルト
1を回転自在に支持するガイドロール2,3と、転写ベ
ルト1に所定の張力を付与するテンションロール4と、
転写ベルト1の表面を僅かに突出させるアイドルロール
5と、ガイドロール2,3及びアイドルロール5の回転
軸を図示しないベアリングを介して回転自在に支持する
支持部材6a,6bと、支持部材6a,6bにおける支
持軸6Aを中心にテンションロール4を揺動可能に支持
するテンションロール支持アーム4aと、白色拡散光を
出射する蛍光灯7と、蛍光灯7から出射される白色拡散
光を帯状のスリット光とするスリット8と、転写ベルト
1で反射される反射光を縮小光学系10を介して受光す
るラインセンサ11を有しており、ラインセンサ11の
受光視野9は、アイドルロール5の頂点に位置するよう
に設けられている。
る表面欠陥検査装置を示し、被検査体である転写ベルト
1を回転自在に支持するガイドロール2,3と、転写ベ
ルト1に所定の張力を付与するテンションロール4と、
転写ベルト1の表面を僅かに突出させるアイドルロール
5と、ガイドロール2,3及びアイドルロール5の回転
軸を図示しないベアリングを介して回転自在に支持する
支持部材6a,6bと、支持部材6a,6bにおける支
持軸6Aを中心にテンションロール4を揺動可能に支持
するテンションロール支持アーム4aと、白色拡散光を
出射する蛍光灯7と、蛍光灯7から出射される白色拡散
光を帯状のスリット光とするスリット8と、転写ベルト
1で反射される反射光を縮小光学系10を介して受光す
るラインセンサ11を有しており、ラインセンサ11の
受光視野9は、アイドルロール5の頂点に位置するよう
に設けられている。
【0022】テンションロール4は、テンションロール
支持アーム4aを介して支持部材6a,6bに支持され
ることによって、その重量に基づく回転方向の力を転写
ベルト1に加える。図1では、テンションロール支持ア
ーム4aが支持軸6Aを中心に反時計方向に回転しよう
とすることによって転写ベルト1に所定の張力が付与さ
れる。また、テンションロール4を支持しているテンシ
ョンロール支持アーム4aを時計方向に回転させると、
ガイドロール2とテンションロール4の接線長、及びガ
イドロール3とテンションロール4の接線長が変化し、
その結果、各ロールを介することにより得られる転写ベ
ルト1の搬送長が転写ベルト1の内周長に対して短くな
るように構成されている。
支持アーム4aを介して支持部材6a,6bに支持され
ることによって、その重量に基づく回転方向の力を転写
ベルト1に加える。図1では、テンションロール支持ア
ーム4aが支持軸6Aを中心に反時計方向に回転しよう
とすることによって転写ベルト1に所定の張力が付与さ
れる。また、テンションロール4を支持しているテンシ
ョンロール支持アーム4aを時計方向に回転させると、
ガイドロール2とテンションロール4の接線長、及びガ
イドロール3とテンションロール4の接線長が変化し、
その結果、各ロールを介することにより得られる転写ベ
ルト1の搬送長が転写ベルト1の内周長に対して短くな
るように構成されている。
【0023】転写ベルト1を装着する際には、まず、テ
ンションロール支持アーム4aを時計方向に回転させて
転写ベルト1の搬送長を短くしておき、ロール部分に転
写ベルト1を挿入した後にテンションロール支持アーム
4aを反時計方向に回転させて各ロールの表面を転写ベ
ルト1の内周面に内接させることによって張力を付与す
る。
ンションロール支持アーム4aを時計方向に回転させて
転写ベルト1の搬送長を短くしておき、ロール部分に転
写ベルト1を挿入した後にテンションロール支持アーム
4aを反時計方向に回転させて各ロールの表面を転写ベ
ルト1の内周面に内接させることによって張力を付与す
る。
【0024】図2は、第1の実施の形態における各ロー
ルの位置関係を示し、アイドルロール5は、転写ベルト
1を裏面から押圧することによってスリット光が照射さ
れる受光視野9をわずかに突出させている。ここで、ガ
イドロール2からアイドルロール5に至る転写ベルト1
と、アイドルロール5からガイドロール3に至る転写ベ
ルト1がなす角度θは略平面(180度)に近い角度に
設定されている。
ルの位置関係を示し、アイドルロール5は、転写ベルト
1を裏面から押圧することによってスリット光が照射さ
れる受光視野9をわずかに突出させている。ここで、ガ
イドロール2からアイドルロール5に至る転写ベルト1
と、アイドルロール5からガイドロール3に至る転写ベ
ルト1がなす角度θは略平面(180度)に近い角度に
設定されている。
【0025】この角度θは、転写ベルト1で反射される
反射光にアイドルロール5の表面の凹凸や、アイドルロ
ール5の表面に付着したほこり等によるノイズが重畳さ
れることを避けるために175度以上180度未満に設
定することが好ましく、具体的には178度であること
が好ましい。175度以下であると、アイドルロール5
が転写ベルト1を押圧する力が大きくなって前述したノ
イズが重畳する原因となる。また、180度であると転
写ベルト1に押圧力が付与されず、ベルトの張りムラや
ベルト回転時に発生する振動に基づく歪みが生じて表面
欠陥の検出精度が低下する。
反射光にアイドルロール5の表面の凹凸や、アイドルロ
ール5の表面に付着したほこり等によるノイズが重畳さ
れることを避けるために175度以上180度未満に設
定することが好ましく、具体的には178度であること
が好ましい。175度以下であると、アイドルロール5
が転写ベルト1を押圧する力が大きくなって前述したノ
イズが重畳する原因となる。また、180度であると転
写ベルト1に押圧力が付与されず、ベルトの張りムラや
ベルト回転時に発生する振動に基づく歪みが生じて表面
欠陥の検出精度が低下する。
【0026】図3は、第1の実施の形態における信号処
理回路のブロック図を示し、ラインセンサ11の受光強
度に応じた光量信号を入力する信号抽出回路13と、信
号抽出回路13から出力される画像信号を画像処理する
とともにフレームメモリ14にストアさせる画像処理部
15と、画像処理部15の出力信号に基づいて転写ベル
ト1の良否判定を行う良否判定回路17と、画像処理部
15で画像処理された画像、及び良否判定回路17にお
ける判定結果を表示するディスプレイ16とを有する。
理回路のブロック図を示し、ラインセンサ11の受光強
度に応じた光量信号を入力する信号抽出回路13と、信
号抽出回路13から出力される画像信号を画像処理する
とともにフレームメモリ14にストアさせる画像処理部
15と、画像処理部15の出力信号に基づいて転写ベル
ト1の良否判定を行う良否判定回路17と、画像処理部
15で画像処理された画像、及び良否判定回路17にお
ける判定結果を表示するディスプレイ16とを有する。
【0027】以下に、第1の実施例における表面欠陥検
査装置の動作を説明する。まず、テンションロール4を
支持するテンションロール支持アーム4aを時計周りに
回転させることによって転写ベルト1の搬送長を短くす
る。この状態でロール部分に転写ベルト1を挿入した
後、テンションロール支持アーム4aを反時計周りに回
転させることによって転写ベルト1の内周面に各ロール
を内接させる。
査装置の動作を説明する。まず、テンションロール4を
支持するテンションロール支持アーム4aを時計周りに
回転させることによって転写ベルト1の搬送長を短くす
る。この状態でロール部分に転写ベルト1を挿入した
後、テンションロール支持アーム4aを反時計周りに回
転させることによって転写ベルト1の内周面に各ロール
を内接させる。
【0028】次に、蛍光灯7から照射される白色拡散光
をスリット8を介して転写ベルト1に照射し、その反射
光を縮小光学系10を介してラインセンサ11で受光す
る。ラインセンサ11は、アイドルロール5の頂点部分
を受光視野9とし、反射される反射光を主走査して得ら
れるアナログレベルの光量信号を信号抽出回路13に出
力する。この動作を転写ベルト1の副走査方向に繰り返
して行うことによって、転写ベルト1の表面全体を走査
する。
をスリット8を介して転写ベルト1に照射し、その反射
光を縮小光学系10を介してラインセンサ11で受光す
る。ラインセンサ11は、アイドルロール5の頂点部分
を受光視野9とし、反射される反射光を主走査して得ら
れるアナログレベルの光量信号を信号抽出回路13に出
力する。この動作を転写ベルト1の副走査方向に繰り返
して行うことによって、転写ベルト1の表面全体を走査
する。
【0029】信号抽出回路13は、予め設定した信号閾
値とラインセンサからの光量信号とを比較することによ
って転写ベルト1上の表面欠陥に応じた2値化信号を発
生して画像処理部15に出力する。画像処理部15はこ
の2値化信号をフレームメモリ14に格納する。
値とラインセンサからの光量信号とを比較することによ
って転写ベルト1上の表面欠陥に応じた2値化信号を発
生して画像処理部15に出力する。画像処理部15はこ
の2値化信号をフレームメモリ14に格納する。
【0030】転写ベルト1の表面全体の走査が終了する
と、フレームメモリ14に格納されている2値化信号は
画像処理部15で画像処理されてディスプレイ16に表
示されるとともに、良否判定回路17に出力されて表面
欠陥が生じている部分の画素数Sが算出され、この画素
数Sに基づいて転写ベルト1の良否判定が行われる。
と、フレームメモリ14に格納されている2値化信号は
画像処理部15で画像処理されてディスプレイ16に表
示されるとともに、良否判定回路17に出力されて表面
欠陥が生じている部分の画素数Sが算出され、この画素
数Sに基づいて転写ベルト1の良否判定が行われる。
【0031】この良否判定の方法として、例えば、画素
閾値Sth以上のものが1つ以上あったときに、その転
写ベルト1を不良品と判定するようにしても良い。
閾値Sth以上のものが1つ以上あったときに、その転
写ベルト1を不良品と判定するようにしても良い。
【0032】図4は、第1の実施の形態におけるテンシ
ョンロールの他の構成を示し、表面欠陥の検査を行うベ
ルトの種類に応じてテンションロール4の両軸端に所定
の質量の重り4Aを設ける構成としても良い。図におい
て、重り4Aは、被検査体である感光体ベルト12に応
じた質量(3Kg)に設定されている。この構成による
と、ベルト状被検査体の種類に応じた所定の張力をベル
トに付与することができる。
ョンロールの他の構成を示し、表面欠陥の検査を行うベ
ルトの種類に応じてテンションロール4の両軸端に所定
の質量の重り4Aを設ける構成としても良い。図におい
て、重り4Aは、被検査体である感光体ベルト12に応
じた質量(3Kg)に設定されている。この構成による
と、ベルト状被検査体の種類に応じた所定の張力をベル
トに付与することができる。
【0033】
【発明の効果】以上説明した通り、本発明の表面欠陥検
査装置によると、ベルト状被検査体を裏面からわずかに
押圧するアイドルロールを設けたことにより、ロール表
面のノイズの影響を受けることなく高精度な検査が可能
になる。また、テンションロールの質量に基づいて所定
の張力を付与するとともにアイドルロールによってライ
ンセンサの受光視野の裏面から所定の圧力を加えるよう
にしたため、煩雑な作業を伴わずに所定の張力をベルト
状の被検査体に付与でき、被検査体の表面欠陥に応じた
反射散乱光を精度良く測定することができる。
査装置によると、ベルト状被検査体を裏面からわずかに
押圧するアイドルロールを設けたことにより、ロール表
面のノイズの影響を受けることなく高精度な検査が可能
になる。また、テンションロールの質量に基づいて所定
の張力を付与するとともにアイドルロールによってライ
ンセンサの受光視野の裏面から所定の圧力を加えるよう
にしたため、煩雑な作業を伴わずに所定の張力をベルト
状の被検査体に付与でき、被検査体の表面欠陥に応じた
反射散乱光を精度良く測定することができる。
【図1】本発明の第1の実施の形態における表面欠陥検
査装置を示す説明図である。
査装置を示す説明図である。
【図2】第1の実施の形態における表面欠陥検査装置を
示す説明図である。
示す説明図である。
【図3】第1の実施の形態における信号処理回路のブロ
ック図である。
ック図である。
【図4】第1の実施の形態におけるテンションロールの
他の構成を示す説明図である。
他の構成を示す説明図である。
【図5】従来の表面欠陥検査装置を示す説明図である。
【図6】従来の表面欠陥検査装置における表面欠陥の検
出動作を示す説明図である。
出動作を示す説明図である。
【図7】従来の表面欠陥検査装置を示す説明図である。
【図8】従来の表面欠陥検査装置を示す説明図である。
【図9】従来の表面欠陥検査装置を示す説明図である。
【図10】従来の表面欠陥検査装置を示す説明図であ
る。
る。
1,転写ベルト 2,ガイドロール 3,ガイドロール 4,テンションロール 4A,重り 4a,テンションロール支持アーム 5,アイドルロール 6A,支持軸 6a,支持部材 6b,支持部材 7,蛍光灯 8,スリット 9,受光視野 10,縮小光学系 11,ラインセンサ 12,感光体ベルト 13,信号抽出回路 14,フレームメモリ 15,画像処理部 16,ディスプレイ 17,良否判定回路 18,蛍光灯 19,スリット 20,被検査体 21,回転ステージ 22,縮小光学系 23,ラインセンサ 24,欠陥検出部 25,表面欠陥 26,感光体ベルト 27,駆動ロール 28,アイドルロール 29,伸縮部材 30A,30B,支持部材 31,駆動モータ 32,駆動力伝達ベルト 33,光源 34,ラインセンサ 35,ラインセンサ 36,画像処理部 37,ディスプレイ 38A〜38C,スプリング 39〜41,ロール 42,感光体ベルト 43〜44,ロール 45,支持部材
Claims (7)
- 【請求項1】 ベルト状の被検査体を回転自在に支持す
る支持手段と、 前記被検査体に所定の張力を付与する第1の張力付与手
段と、 前記被検査体がほぼ直線状になる位置に所定の張力を付
与する第2の張力付与手段と、 前記被検査体の前記位置に照射光を出射する光源と、 前記照射光に基づく前記被検査体の前記位置からの反射
光を受光する受光手段と、 前記反射光に基づいて前記被検査体の表面の欠陥の立体
形状に基づく特徴量を算出する特徴量算出手段と、 前記特徴量に基づいて前記被検査体の良否の判定を行う
良否判定手段とを有することを特徴とする表面欠陥検査
装置。 - 【請求項2】 前記支持手段は、前記被検査体をループ
状に張架する複数のガイドロールであり、 前記第1の張力付与手段は、一端を回転軸に支持された
アームの他端に回転的に支持され、前記ループ状に張架
された前記被検査体の内側に圧接するテンションロール
であり、 前記第2の張力付与手段は、前記複数のガイドロールに
よって張架された前記被検査体を外側へ押圧する接触摩
擦係数の小さなアイドルロールである請求項第1項記載
の表面欠陥検査装置。 - 【請求項3】 前記光源は、前記被検査体の前記位置に
主走査方向に伸びるスリット光を照射する構成の請求項
第1項記載の表面欠陥検査装置。 - 【請求項4】 前記受光手段は、前記被検査体の前記位
置に照射される前記スリット光の境界位置を受光位置と
する構成の請求項第1項記載の表面欠陥検査装置。 - 【請求項5】 前記第2の張力付与手段は、前記位置に
おける前記被検査体に175度以上180度未満の内側
角度を有するように前記被検査体を内側から押圧する構
成の請求項第1項記載の表面欠陥検査装置。 - 【請求項6】 前記テンションロールは、自重に基づい
て前記被検査体の内側に圧接する構成の請求項第2項記
載の表面欠陥検査装置。 - 【請求項7】 前記テンションロールは、重りに基づい
て前記被検査体の内側に圧接する構成の請求項第2項記
載の表面欠陥検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP106596A JPH09189535A (ja) | 1996-01-08 | 1996-01-08 | 表面欠陥検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP106596A JPH09189535A (ja) | 1996-01-08 | 1996-01-08 | 表面欠陥検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09189535A true JPH09189535A (ja) | 1997-07-22 |
Family
ID=11491142
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP106596A Pending JPH09189535A (ja) | 1996-01-08 | 1996-01-08 | 表面欠陥検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH09189535A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001249012A (ja) * | 1999-12-28 | 2001-09-14 | Bridgestone Corp | 被検体の外観形状検査方法及び装置 |
JP2006275618A (ja) * | 2005-03-28 | 2006-10-12 | Nec Robotics Eng Ltd | ラベル検査装置 |
JP2010137346A (ja) * | 2008-12-15 | 2010-06-24 | Disco Abrasive Syst Ltd | 研削装置 |
JPWO2023100638A1 (ja) * | 2021-12-02 | 2023-06-08 |
-
1996
- 1996-01-08 JP JP106596A patent/JPH09189535A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001249012A (ja) * | 1999-12-28 | 2001-09-14 | Bridgestone Corp | 被検体の外観形状検査方法及び装置 |
JP4514007B2 (ja) * | 1999-12-28 | 2010-07-28 | 株式会社ブリヂストン | 被検体の外観形状検査方法及び装置 |
JP2006275618A (ja) * | 2005-03-28 | 2006-10-12 | Nec Robotics Eng Ltd | ラベル検査装置 |
JP2010137346A (ja) * | 2008-12-15 | 2010-06-24 | Disco Abrasive Syst Ltd | 研削装置 |
JPWO2023100638A1 (ja) * | 2021-12-02 | 2023-06-08 |
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