JPH09180210A

JPH09180210A - 光ディスク検査装置

Info

Publication number: JPH09180210A
Application number: JP35094995A
Authority: JP
Inventors: Yasushi Sato; 寧佐藤
Original assignee: Sony Tektronix Corp
Current assignee: Tektronix Japan Ltd
Priority date: 1995-12-25
Filing date: 1995-12-25
Publication date: 1997-07-11

Abstract

(57)【要約】【課題】対物レンズの位置調整範囲を拡大できる光ディ
スク検査装置を提供すること。【解決手段】被検査光ディスク表面までの距離を検出す
ると共に、上記被検査光ディスクに記録された情報を検
出する光学ピックアップと、上記被検査光ディスクの表
面と上記光学ピックアップとの間の距離を略一定に維持
する手段とを有し、更に、上記光学ピックアップの所定
の距離検出範囲より広い範囲にわたって上記被検査光デ
ィスク表面と上記光学ピックアップとの間の距離を検出
する別の距離検出器を具え、該距離検出器の出力に応じ
て上記光学ピックアップと上記被検査光ディスクとの間
の距離を制御し、これにより、従来よりも広い範囲に亘
って対物レンズの位置を調整することが可能になる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ＣＤ、ＣＤＲＯ
Ｍ、ＬＤ、ＭＤ、ＭＯ、ＤＶＤのような光ディスクの検
査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、音楽、映像、コンピュータ分野、
情報産業等において、大容量のデータを記録、再生する
ための媒体として光ディスクが脚光を浴びている。光デ
ィスクには、ＣＤ（コンパクト・ディスク）、ＣＤＲＯ
Ｍ、ＬＤ（レーザー・ディスク）、ＭＤ（ミニディス
ク）、ＭＯ（光磁気ディスク）等が既に実用化されてお
り、また、ＤＶＤ（デジタル・ビデオ・ディスク）等の
新たな媒体も提案されている。このような光ディスク
は、情報記録の高密度化の要請が益々高まってきている
ので、急激に大容量化が進行している。この結果、光デ
ィスクの製造技術も高精度化が求められ、そのため、光
ディスクの検査の精度も向上させる必要性が益々高まっ
てきている。

【０００３】図３は、従来の光ディスク検査装置の一部
の焦点制御系の構成を示すブロック図である。光学ピッ
クアップ１０は、可動対物レンズ１２と、これを駆動す
る駆動コイル１４と、光源用レーザー・ダイオード、光
検出用フォト・ダイオード、及び他の光学系装置を内蔵
したＯＰブロック１６とを含んでいる。このような光学
ピックアップは、種々の光ディスク装置の読み出し装置
として使用されており、周知のものである。ＯＰブロッ
ク１６から出力された光線が対物レンズ１２を介して被
検査光ディスク１８に照射され、その反射光が再び対物
レンズ１２を介してＯＰブロック１６内のフォト・ダイ
オードにより検出される。このＯＰブロック１６は、更
に、周知の焦点誤差検出装置も内蔵しており、焦点誤差
に応じた焦点誤差信号を発生する。この焦点誤差信号
は、サーボ回路２０に供給され、このサーボ回路２０か
らの制御信号が駆動コイル１４に供給され、可動対物レ
ンズ１２の位置が適正に調整され、焦点誤差信号が略ゼ
ロの時に、焦点が最適な状態に維持されることになる。
図４は、このような焦点誤差信号の一例を示すグラフで
ある。横軸は、対物レンズ１２から被検査光ディスク１
８の表面までの距離であり、縦軸は、焦点誤差信号の電
圧である。通常は、サーボ回路２０の適正な制御によ
り、焦点誤差信号は、点Ａの位置に維持されている。こ
の場合、焦点誤差の適正制御範囲は、点Ｂから点Ｃまで
の約１０μｍ程度である。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかし、光ディスクを
検査するために、図３の制御回路２２からサーボ回路２
０にオフセット電圧を供給し、サーボ制御系の釣り合い
状態を変化させることにより対物レンズ１２の位置を適
正位置からシフトさせる場合がある。このような場合に
は、図４の点Ｂから点Ｃまでの約１０μｍ程度の範囲を
超えて対物レンズ１２をシフトさせると、距離の検出可
能範囲を超えてしまうので、サーボ制御が適正に働か
ず、対物レンズ１２を所望の位置に維持させることがで
きなくなる。これでは、対物レンズの位置は、図４の点
Ｂから点Ｃまでの間に制限されることとなり、光ディス
クの検査範囲も制限される結果となる。

【０００５】したがって、本発明の目的は、対物レンズ
の位置調整範囲を拡大できる光ディスク検査装置を提供
することである。

【０００６】

【課題を解決する為の手段】本発明の光ディスク検査装
置は、被検査光ディスク表面までの距離を検出すると共
に、上記被検査光ディスクに記録された情報を検出する
光学ピックアップと、上記被検査光ディスクの表面と上
記光学ピックアップとの間の距離を略一定に維持する手
段とを有し、更に、上記光学ピックアップの所定の距離
検出範囲より広い範囲にわたって上記被検査光ディスク
表面と上記光学ピックアップとの間の距離を検出する別
の距離検出器を具え、該距離検出器の出力に応じて上記
光学ピックアップと上記被検査光ディスクとの間の距離
を制御し、これにより、従来よりも広い範囲に亘って対
物レンズの位置を調整することが可能になる。

【０００７】

【発明の実施の形態】図１は、本発明に係る光ディスク
検査装置の一部分の構成を示すブロック図である。図３
の従来例と共通する要素には、同じ参照符号を付してい
る。これら共通の要素の動作は、図３の場合と同様であ
る。図１の場合、静電容量センサのような別の距離検出
器２４を対物レンズ１２に設けている。この距離検出器
２４は、光学ピックアップ１０の中のＯＰブロック１６
に内蔵されている距離検出機構と比較してずっと長い範
囲にわたって距離の検出が可能である。この距離検出器
２４は、被検査光ディスク１８と対物レンズ１２との距
離がＯＰブロック１６の検出可能な範囲を超えた場合に
利用される。距離検出器２４の検出出力は、位置検出器
２６に供給され、所定の範囲の検出電圧に変換される。
この検出電圧は、ＡＤＣ（アナログ・デジタル変換器）
２８によりデジタル・データに変換され、制御回路３０
に送られる。制御回路３０は、被検査ディスク１８と対
物レンズ１２との間の距離に応じてスイッチ回路３２を
制御する。すなわち、検出距離がＯＰブロック１６の距
離検出可能範囲以内であれば、スイッチ回路３２をサー
ボ回路２０側に接続し、従来と同様の焦点制御動作を実
行する。しかし、被検査光ディスク１８と対物レンズ１
２との間の距離がＯＰブロック１６の距離検出範囲を超
えると、制御回路３０は、スイッチ回路３２を切り換え
て制御回路３０からのサーボ制御信号を駆動コイル１４
に供給する。この結果、対物レンズの焦点制御範囲は、
従来の場合よりも格段に広くなるので、広い範囲に亘っ
て対物レンズ１２の位置を制御可能となり、被検査光デ
ィスク１８の検査を効果的に行うことが可能となる。

【０００８】図２は、図４で示した従来の焦点誤差信号
と本発明で採用した距離検出器２４の誤差信号との関係
を示すグラフである。対物レンズ１２と被検査光ディス
ク１８との間の距離の検出範囲は、ＯＰブロック１６の
場合には、約１０μｍ程度に過ぎないが、別の距離検出
器２４の場合には、点Ｄから点Ｅまでの約１００μｍと
なっている。したがって、距離検出可能範囲は、距離検
出器２４を採用することにより、約１０倍になってお
り、光ピックアップ１０の対物レンズ１２の焦点制御範
囲を大幅に拡大することができる。

【０００９】通常は、図４の場合と同様に点Ｂから点Ｃ
までの範囲内でＯＰブロック１６により適正な距離検出
ができる。しかし、制御回路３０からサーボ回路２０に
供給される制御信号の値に応じて、対物レンズ１２と被
検査光ディスク１８との距離が点Ｂから点Ｃまでの範囲
を超えると、スイッチ回路３２を切り換え、距離検出器
２４の検出出力に応じて制御回路３０が駆動コイル１４
を直接制御する。これにより、点Ｄから点Ｅまでの広範
囲にわたって対物レンズ１２と被検査光ディスク１８と
の距離を適正な目標値に安定的維持することが可能にな
る。

【００１０】以上、本発明の好適実施例を説明したが、
本発明は、上述の実施例のみに限定されるものではな
く、本発明の要旨から逸脱することなく、種々の変形及
び修正を加え得ることは当業者には明らかである。

【００１１】

【発明の効果】光学ピックアップの所定の距離検出範囲
より広い範囲にわたって上記被検査光ディスク表面と上
記光学ピックアップとの間の距離を検出する別の距離検
出器を具え、この距離検出器の出力に応じて光学ピック
アップと被検査光ディスクとの間の距離を制御するよう
にしたので、従来よりも大幅に広い範囲に亘って対物レ
ンズの位置を調整することが可能になる。この結果、被
検査光ディスクの検査における従来の焦点制御範囲の制
限を排除することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の好適な実施の形態を示すブロック図で
ある。

【図２】図１の装置の動作を説明するためのグラフであ
る。

【図３】従来の装置の一例を示すブロック図である。

【図４】図３の装置の動作を説明するためのグラフであ
る。

【符号の説明】

１２対物レンズ１４駆動コイル１６ＯＰブロック２０サーボ回路２４距離検出器２６位置検出器２８アナログ・デジタル変換器３０制御回路３２スイッチ回路

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】被検査光ディスク表面までの距離を検出
すると共に、上記被検査光ディスクに記録された情報を
検出する光学ピックアップと、上記被検査光ディスクの
表面と上記光学ピックアップとの間の距離を略一定に維
持する手段とを有する光ディスク検査装置において、上記光学ピックアップの所定の距離検出範囲より広い範
囲にわたって上記被検査光ディスク表面と上記光学ピッ
クアップとの間の距離を検出する別の距離検出器を具
え、該距離検出器の出力に応じて上記光学ピックアップと上
記被検査光ディスクとの間の距離を制御することを特徴
とする光ディスク検査装置。
【請求項２】上記距離検出器は、上記被検査光ディス
クとの間の静電容量の変化に基づいて上記距離を検出す
ることを特徴とする請求項１記載の光ディスク検査装
置。
【請求項３】上記距離検出器は、上記被検査光ディス
クと上記光検出器との間の距離が上記所定の距離検出範
囲を超えたときに上記被検査光ディスクと上記光検出器
との間の距離を検出することを特徴とする請求項１又は
２記載の光ディスク検査装置。
【請求項４】対物レンズと、該対物レンズを介して被検査光ディスク表面に光ビーム
を照射すると共に、上記被検査光ディスクからの反射光
を検出して上記被検査光ディスクの情報を検出する光学
ピックアップと、該光学ピックアップの出力に応じて対物レンズと上記被
検査光ディスク表面との間の距離を略一定に調整する位
置調整手段と、上記上記光学ピックアップの所定の距離検出範囲より広
い範囲にわたって上記被検査光ディスク表面と上記対物
レンズとの間の距離を検出する距離検出器とを具え、該距離検出器の出力に応じて上記位置調整手段を制御
し、上記光学ピックアップと上記被検査光ディスクとの
間の距離を制御することを特徴とする光ディスク検査装
置。
【請求項５】上記距離検出器は、上記被検査光ディス
クとの間の静電容量の変化を検出する静電容量センサを
含み、該静電容量センサの出力に基づいて上記被検査光
ディスクと上記対物レンズとの離間距離を検出すること
を特徴とする請求項４記載の光ディスク検査装置。
【請求項６】上記距離検出器は、上記被検査光ディス
クと上記対物レンズとの間の距離が上記所定の距離検出
範囲を超えたときに上記被検査光ディスクと上記対物レ
ンズとの間の距離を検出することを特徴とする請求項４
又は５記載の光ディスク検査装置。