JPH09180142A - 磁気ヘッドの検査方法および磁気ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ＭＲヘッドのＭＲ素子の磁区構造変化に伴う
再生波形変動を短時間で正確に検査する。 【解決手段】 記録用媒体の一部に設けられた検査用領
域に検査用信号を記録した後（ステップ５０１，５０
２）、検査用領域からＭＲヘッドによって検査用信号の
読出しおよび測定を行うステップ（ステップ５０３）
と、検査用領域から離れた磁界印加領域に移動してＭＲ
ヘッドに磁界を印加するステップとを所定の回数だけ繰
り返した後（ステップ５０４〜５０７）、測定結果の各
種変動量（たとえば再生出力変動、再生波形の非対称性
の変動）を計算して（ステップ５０８）評価し（ステッ
プ５０９）、変動量が規定値以下の場合に当該ＭＲヘッ
ドを良品とし（ステップ５１０）、規定値を越えた場合
に不良品と判定する（ステップ５１１）磁気ヘッドの検
査方法である。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、磁気ディスク装
置、磁気テープ装置あるいはビデオやオーディオ信号を
記録再生する一般の磁気記録再生装置における磁気ヘッ
ドの検査技術に関し、より具体的には信号の再生を行う
磁気抵抗効果型ヘッドの性能の検査、選別、評価等に適
用して有効な技術に関する。

【０００２】

【従来の技術】たとえば、磁気抵抗効果型ヘッド（以下
ＭＲヘッドと記述する）は磁気抵抗効果を有する薄膜
（以下ＭＲ膜と記述する）から構成され、媒体からの漏
洩磁束の変化をその抵抗変化として検出し、データの再
生を行うものである。ＭＲヘッドは高密度で記録された
媒体上の信号を効率良く再生するのに適したデバイスと
して期待されている。磁気抵抗効果を再生ヘッドに利用
する考えは公知であり、たとえば、チン ツアンら（C.
Tsang et.al, J.Appl.Phys, 55(6), 15, 1984)［１］
や、松本 光功、’磁気ヘッドと磁気記録’、電子総合
出版、1983, p182−p190［文献２］に詳述されている。
ＭＲ膜はその抵抗変化を検出するための２本の電極で区
切られ、感磁部とよばれる電極で挾まれた部分が媒体か
らの漏洩磁界を検出する。ＭＲ膜の抵抗変化は通常、非
線形となる。このためＭＲヘッドでは短冊状のＭＲ膜の
短い方向（ＭＲ高さ方向）に非線形補償のためのバイア
ス磁界（横方向バイアス磁界）を必要とする。バイアス
磁界の印加方法については古くから検討されており、前
述の文献にも種々の方法が紹介されているのでここでは
省略する。

【０００３】ＭＲヘッドにはバルクハウゼンノイズとよ
ばれる磁性膜特有のノイズ現象があり、ヘッド実用化の
妨げとなっている。［文献１］はＭＲ膜の抵抗値がバル
クハウゼンノイズにより不連続に変化する現象を開示し
ており、バルクハウゼンノイズは、ＭＲ膜の中に存在す
る複数の磁区構造の変化に起因している。このような複
数の磁区構造の存在はバルクハウゼンノイズの発生とと
もに再生出力の変動や再生波形の変動の発生も引き起こ
す。

【０００４】記録時に記録ヘッドに記録電流を印加した
際に発生する記録磁界は、記録ギャップでは数千エルス
テッド、ＭＲ素子部では数十〜数百エルステッドにな
る。このような磁界がＭＲ素子に印加された場合、その
前後でＭＲ素子の磁区状態が変化してしまう場合があ
る。ＭＲ素子の磁区状態が変化すると前記バルクハウゼ
ンノイズの発生や再生出力、波形の変化などが生じてし
まう。再生出力や波形の変化がひどい場合、検出データ
を誤って認識してしまう場合が生じる。

【０００５】このような磁区構造の変化の抑制方法につ
いても数多くの検討がなされているが、ＭＲヘッドは膜
厚数１０ナノメータの薄膜を積層した構造であり、生産
された全てのヘッドについて磁区変化を完全に抑制する
事は非常に困難である。またＭＲ膜が磁気記録装置内で
経時変化を起こし磁区構造の変化を起こすことも懸念さ
れる。

【０００６】磁気記録装置内で磁区構造が変化を起こし
再生波形の変動が生じた場合、このような現象をモニタ
ーし、一時的に直流の記録電流をヘッドに流すことによ
りＭＲ素子の磁区構造を制御し、再生波形の変動がない
状態にする方法も提案されている（たとえば特開平７−
１３４８０４号公報）。しかし、磁気記録装置内に取り
付けられた複数の磁気ヘッドの各々について磁区構造制
御に必要な最適な記録電流値を決定し、装置使用時に適
用するのは困難である。また、このような対処法で必ず
しも最適な磁区構造に制御できるとは限らず、その場合
には磁区構造が変化を起こしたヘッドについては使用が
不可能になってしまう。さらに、このような対処法を磁
気記録装置内で行った場合は、情報の記録再生動作に必
要な時間が増加し、磁気記録装置の性能を低下させる要
因となる。

【０００７】したがって生産されたＭＲヘッドを磁気記
録再生装置に搭載する前に、磁区構造変化に伴う再生波
形の変動の有無を効果的に検出し、磁気記録装置の保証
する寿命の間に装置動作に影響を与えるような再生波形
変動が起きないことを確認する検査を行うことが極めて
重要である。

【０００８】装置寿命を５年とした場合、実際の装置で
は記録再生は数万〜数百万回行われると予想される。こ
の間、再生波形変動が許容できる範囲であることが必要
とされる。再生波形を定量的に表す方法としては再生波
形の振幅値、再生波形振幅値の非対称性、再生波形の半
値幅等が従来使用されている。再生波形の変動を定量的
に表す方法としては、これらの量を磁気ヘッドが磁気記
録装置内で使用される条件のもとで記録再生を数十〜数
百回繰り返し測定し、その測定値の変動を調べる方法が
行われてきた。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】たとえば従来から使用
されてきたインダクティブ型のヘッドについて再生出力
や波形の半値幅のくり返し測定を行い、その変動を解析
する事によりヘッド動作の安定性をクラッセンらは議論
している（K.Klassen et.al IEEE Tras.on Magnetics,
Vol.30, No2, 375-380) 文献３ 。同様の測定をＭＲヘ
ッドに対して行い、再生出力の変動を調べた測定結果を
図１１に示す。ここでＮ回再生出力を繰り返し測定した
場合の再生出力変動は、次の（式１）のように定義し
た。ただし、（式１）において、VmaxはＮ回再生出力測
定時における再生出力の最大値、VminはＮ回再生出力測
定時における再生出力の最小値、VavgはＮ回再生出力測
定時における再生出力の平均値である。

【００１０】

【数１】

【００１１】ここで１回の再生出力の測定値としてはト
ラック一周の再生波形の振幅値の平均値であるＴＡＡ値
（Track Average Amplitude)を用いる。また再生波形の
振幅値としては図７に示すようなｐ−ｐ値（再生波形８
０１の波形振幅値８０４）を用いた。再生出力のくり返
し測定値は、必ずしも正規分布をしているとは限らず、
数百回程度の繰り返し測定で、実際に記録再生を数万回
以上繰り返した場合の再生出力の変動量を正確に見積も
ることは困難である。また変動を正確に見積もるために
測定回数を多くする検査であると、測定時間が増大し、
磁気ヘッドの検査工程での生産性を低下させることにな
る。ここでは再生出力について紹介したが、他の再生波
形を示す量、たとえば波形の非対称性や波形の半値幅な
どについても同様な問題点がある。

【００１２】本発明の目的はＭＲヘッドのＭＲ素子の磁
区構造変化に伴う再生波形変動を短時間で正確に測定す
ることが可能な磁気ヘッドの検査技術を提供することに
ある。

【００１３】本発明の他の目的はＭＲヘッドのＭＲ素子
の性能の劣化を短時間で正確に予測することが可能な磁
気ヘッドの検査技術を提供することにある。

【００１４】本発明の他の目的は、ＭＲ素子を含む複合
型の磁気ヘッドの不良品の選別を短時間で的確に行うこ
とが可能な磁気ヘッドの検査技術を提供することにあ
る。

【００１５】本発明のさらに他の目的は、ＭＲ素子を用
いた磁気ヘッドの予防保守が可能な磁気ディスク装置を
提供することにある。

【００１６】

【課題を解決するための手段】本発明の磁気ヘッドの検
査方法は、媒体に信号を記録する記録ヘッド部と、磁気
抵抗効果を有する薄膜素子から構成され媒体からの漏洩
磁束の変化をその素子の抵抗変化として検出しデータの
再生を行う磁気抵抗効果型再生ヘッドから成る複合型磁
気ヘッドにおいて、記録媒体に記録された再生信号波形
に対し、該磁気ヘッドの磁気抵抗効果型再生ヘッドへの
外部からの磁界の印加と前記再生信号波形の電気的特性
の測定を交互に繰り返すことによって得られる複数の測
定値の変動を検査するものである。

【００１７】磁気ヘッドの磁気抵抗効果型再生ヘッドへ
外部からの磁界の印加を行う方法としては、磁気ヘッド
の外部に別個に設けられた、たとえば電磁石や永久磁石
を用いることができる。

【００１８】また、磁気ヘッドの磁気抵抗効果型再生ヘ
ッドへ外部からの磁界の印加を行う方法としては、磁気
抵抗効果型再生ヘッドとともに設けられている記録ヘッ
ド部を利用し、磁気ヘッドを磁気記録再生装置内で使用
する場合の記録電流値より大きな値の記録電流を用いて
記録動作を行い、この時に記録ヘッド部から発生する磁
界を用いることができる。

【００１９】また、磁気ヘッドの磁気抵抗効果型再生ヘ
ッドへ外部からの磁界の印加を行う方法としては、磁気
抵抗効果型再生ヘッドとともに設けられている記録ヘッ
ド部を利用し、磁気ヘッドを磁気記録再生装置内で使用
する場合の記録周波数より大きな値の記録周波数を用い
て記録動作を行い、この時に記録ヘッド部から発生する
磁界を用いることができる。

【００２０】また、磁気抵抗効果型再生ヘッドとともに
設けられている記録ヘッド部から発生する磁界を利用す
る場合、通常の記録電流よりも大きな電流を記録ヘッド
部に印加して記録動作を行わせることと、通常の記録周
波数よりも大きな周波数で記録ヘッド部に記録動作を行
わせることとを組み合わせてもよい。

【００２１】また、記録媒体上に検査用の領域を持た
せ、その検査用領域にあらかじめ再生用信号を記録して
おき、磁気ヘッドの磁気抵抗効果型再生ヘッドへの外部
からの磁界を印加する際には、検査用領域に印加磁界の
影響が及ばない他の位置まで移動させるようにしてもよ
い。

【００２２】また、複合型磁気ヘッドを備えた磁気ディ
スク装置において、磁気ディスク上に再生用信号が記録
された検査用の領域を設定し、この検査用の領域以外の
位置で、随時、複合型磁気ヘッドの記録ヘッド部への定
格値よりも大きな記録電流や記録周波数の印加によって
発生される比較的大きな磁界を磁気抵抗効果型再生ヘッ
ドに作用させる動作と、検査用の領域から再生用信号を
読み出して測定する動作とを反復し、複数の測定値の変
動から磁気抵抗効果型再生ヘッドの性能の劣化等の予
測、評価を行う制御論理を持たせたものである。

【００２３】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照しながら詳細に説明する。

【００２４】図１は、本発明の一実施の形態である磁気
ヘッドの検査方法の一例を示すフローチャートであり、
図２は、本発明の磁気ヘッドの検査方法の幾つかの実施
例および比較例での測定条件の一例を対比して例示した
説明図である。また、図３の（ａ）および（ｂ）は、本
実施の形態の検査方法において用いられる検査装置の一
例を示す斜視図および側面図であり、図４、図５、図６
および図７は、本実施の形態の検査方法の作用の一例を
示す線図、図８は、本実施の形態の検査方法で用いられ
た記録再生複合型ヘッドの一例を示す斜視図である。

【００２５】まず、本実施の形態における検査装置の構
成を簡単に説明する。記録用媒体４０４は、図示しない
スピンドルモータ等に支持されて所定の速度で回転す
る。記録用媒体４０４の一主面の近傍には、磁気ヘッド
取付具４０２が配置されており、この磁気ヘッド取付具
４０２の先端部には、検査対象の複合磁気ヘッド４０３
が固定され、実使用状態を再現可能なように押圧荷重等
が磁気ヘッド取付具４０２から複合磁気ヘッド４０３に
作用されるとともに、磁気ヘッド取付具４０２の水平方
向の移動動作によって、複合磁気ヘッド４０３は、記録
用媒体４０４の径方向の任意の位置に位置付けられる。
さらに、記録用媒体４０４の一主面の近傍の所定の位置
には、複合磁気ヘッド４０３に所望の強さの磁界を印加
することが可能な磁界印加用電磁石４０１が配置されて
いる。

【００２６】記録用媒体４０４の一部には、特定の信号
が予め記録された検査用領域４０４ａが円周状に設けら
れ、磁界印加用電磁石４０１の配置位置は、検査用領域
４０４ａから径方向に十分に離れた異なる磁界印加領域
４０４ｂに設定されており、磁界印加用電磁石４０１か
ら複合磁気ヘッド４０３に作用される磁界の影響は検査
用領域４０４ａに及ばないように配慮されている。

【００２７】検査用領域４０４ａに記録される特定の信
号としては、再生波形が単純で、波形に対する各種測定
が容易なように、比較的周期の大きな信号が適してい
る。具体的には、たとえば、磁気記録信号の１−７符号
化方式における８Ｔパターン（“１０００００００”の
繰り返し）を用いることが考えられる。

【００２８】一方、本実施の形態における検査対象の複
合磁気ヘッド４０３は、一例として、図８に例示される
ような構造を備えている。すなわち、セラミックス等の
基板上に形成された下部シールド２０５の上には、磁気
抵抗効果を線型応答に近づけるためのＳＡＬ膜２１１
（ソフトフィルム膜）、分離膜２１０、ＭＲ膜２０９が
順に積層されたＭＲ素子部４０３ａが形成され、ＭＲ素
子部４０３ａの両端には、一対の磁区制限膜２０７が配
置されている。一対の磁区制限膜２０７の上には、ＭＲ
膜２０９に通電するための一対の電極２０６が形成され
ている。下部シールド２０５との間にこれらの構造を挟
むようにシールド２０４が形成されており、このシール
ド２０４の上には、導体からなるコイル２０２およびシ
ールド２０４とコイル２０２の中央部で接続されること
によって当該コイル２０２に鎖交するコアをなす磁気ヘ
ッド上部磁性膜２０１が配置されている。

【００２９】磁気ヘッド上部磁性膜２０１とコイル２０
２およびシールド２０４によって記録ヘッド部４０３ｂ
が構成され、磁気ヘッド上部磁性膜２０１とシールド２
０４との間にはＭＲ素子部の直上部に記録ギャップ２０
３が形成されている。コイル２０２への通電によって記
録ギャップ２０３には磁界が発生し、この磁界によって
磁気記録媒体を磁化することによって記録動作が行われ
る。

【００３０】次に、本発明の一実施の形態である磁気ヘ
ッドの検査方法の原理を明らかにすべく、再生波形変動
を調べた例として、特に再生波形の振幅値および再生波
形の非対称性について調べた結果について述べる。先に
述べたように記録磁界がＭＲ膜に作用した場合、ＭＲ膜
の磁区構造が変化してしまうことがある。図３に示すよ
うに磁界印加用電磁石４０１を用い、磁界印加領域４０
４ｂにおける磁界の印加と、検査用領域４０４ａにおけ
る再生用信号の再生を交互に繰り返し１００回行い、そ
の際得られた再生波形の振幅値の変動量および再生波形
の非対称性の変動量を調べる実験を行った結果の一例を
図４に示す。ここで再生波形の非対称性は、次の（式
２）で定義した。ただし、次の（式２）において、Vpos
は再生波形の正の振幅値、Vnegは再生波形の負の振幅値
である。

【００３１】

【数２】

【００３２】ここで再生波形の正、負の振幅値について
は、図７に示すような０−ｐ値（再生波形８０１の正の
波形振幅値８０２または負の波形振幅値８０３）をトラ
ック１周分について平均した値を使用した。

【００３３】また再生波形の非対称性の変動量は、次の
（式３）のように定義した。ただし、次の（式３）にお
いて、AmaxはＮ回の波形振幅の非対称性測定時における
波形振幅の非対称性の最大値、AminはＮ回の波形振幅の
非対称性測定時における波形振幅の非対称性の最小値で
ある。

【００３４】

【数３】

【００３５】なお本実施の形態では、再生波形変動をあ
らわす量として再生振幅および再生波形の非対称性の変
動量を用いるが、他の方法、たとえば、波形の半値幅等
の量を用いてもよく、特に限定するものではない。また
変動量の定義として（式１）、（式３）を用いているが
他の統計量、たとえば標準偏差等を用いてもよく特に
（式１）、（式３）に限定されるものではない。

【００３６】図４（ａ）に示すように印加磁界を大きく
すると再生振幅の変動量、再生波形の非対称性の変動量
が大きくなる現象を見いだした。このとき磁界印加用電
磁石４０１の作る磁界の代わりに記録ヘッド部４０３ｂ
のコイル２０２に記録電流を流すことによって記録ギャ
ップ２０３から発生する磁界によってもＭＲ素子部４０
３ａに磁界を印加することができる。この場合、記録電
流値を大きくすることは印加磁界を大きくすることに対
応すると考えられる。

【００３７】記録電流値を大きくした場合も、図４
（ｂ）に示すように磁界印加用電磁石４０１による磁界
を大きくした場合と同様の効果が得られることがわかっ
た。さらに、このとき周波数を大きくすることにより再
生電圧の変動量が大きくなることがわかった。これらの
現象を用いることにより再生電圧や再生波形の変動量を
増大させ加速的に試験を行うことができる。

【００３８】後に実施例で詳細に述べるが、ＭＲヘッド
が実際に記録装置で使用される際にＭＲ膜に作用するよ
り強い磁界の印加を行なった状態で記録再生を行うこと
により、ＭＲヘッドの再生出力や波形の変動を加速的に
引き起こし、短時間でこれらの現象を調べることができ
る。このような試験を行う場合、外部から印加する磁界
の強さや記録ヘッド部４０３ｂの記録電流の作る磁界の
強さ、周波数がある値以上になるとヘッドが媒体にきち
んと情報を記録できなくなり、再生出力や波形変動の測
定ができなくなる恐れがある。このとき、図１に示すよ
うなフローチャートに従い、あらかじめ記録用媒体４０
４の決まった位置（検査用領域４０４ａ）に再生用の信
号を記録しておき、ＭＲ膜への磁界印加は再生用信号か
ら十分離れた位置（磁界印加領域４０４ｂ）で行い、磁
界印加後、再生用信号を記録した位置（検査用領域４０
４ａ）まで複合磁気ヘッド４０３を移動し再生出力、波
形の測定を行う動作を繰り返すことによりこの問題を解
決できる。

【００３９】すなわち、最初に検査用領域４０４ａに複
合磁気ヘッド４０３を位置付けて（ステップ５０１）、
検査用信号を記録し（ステップ５０２）、検査用信号の
読み出しおよび測定を行い（ステップ５０３）、その
後、磁界印加領域４０４ｂに複合磁気ヘッド４０３を移
動させ（ステップ５０４）、たとえば、磁界印加用電磁
石４０１によってＭＲ素子部４０３ａに所定の強さの磁
界を印加し（ステップ５０５）、検査用領域４０４ａに
複合磁気ヘッド４０３を移動させ（ステップ５０６）、
測定回数が所定の値に達したか否かを判定し、未到達の
場合には、ステップ５０３以降を繰り返す。そして、所
定の測定回数に到達したら、前述の（式１）、（式３）
で示される値を計算し（ステップ５０８）、各種変動量
が規定値以下の場合には合格（良品）と判定し（ステッ
プ５１０）、規定値を超過した場合には、故障の発生が
予想される不良品と判断して不合格とする（ステップ５
１１）。

【００４０】次に、検査条件を具体的に規定した幾つか
の実施例について図２を用いて具体的に説明する。

【００４１】図２において、比較例は、従来通りＭＲヘ
ッドが装置で使用される場合と同じ条件で再生出力、波
形変動を調べた場合である。図８に例示した複合型ＭＲ
ヘッド（複合磁気ヘッド４０３）で以上の実施例、比較
例の検査法で再生出力の変動を調べた場合の結果が図５
である。図５からわかるように比較例の試験方法では数
百回以下の測定回数で数十万回のばら付きを見積もるこ
とは難しい。他方、本発明の実施例１〜７に示すような
方法で加速試験を行った場合、比較例よりも少ない回数
で装置で１０万回使用した場合の変動率を推定できる。
なお本実施例で使用した複合型ＭＲヘッドに磁界印加用
電磁石４０１で外部から磁界を印加した際にＭＲ膜に作
用する磁界強度は、有限要素法によるシミュレーション
によって見積もった。

【００４２】これらの試験方法を複数の異なるヘッドに
対して実施し、比較例で１０万回測定したときに得られ
る変動の値が実施例の方法では何回の結果で得られたか
を示したのが図６である。ＭＲ膜に印加する磁界が通常
の記録時に作用する磁界より大きい場合、またＭＲ膜に
印加する磁界の周波数が通常の記録時に作用する磁界の
周波数より高い場合、比較例で行なった試験よりも少な
い回数で再生出力および波形変動の変動を予測できるこ
とがわかる。特に磁界強度が通常の記録時に作用する磁
界の1.６倍以上であれば１００回以下の試験回数で１０
万回使用する場合の値を予測することができる。また、
この時、周波数を高くすることにより、より少ない測定
回数で試験を行うことができ、検査時間を短縮できる。
しかしヘッド外部から印加する磁界の強さや記録ヘッド
部４０３ｂの記録電流の作る磁界の強さ、周波数がある
値以上になるとヘッドが媒体にきちんと情報を記録でき
なくなり、再生出力や波形変動の測定ができなくなる恐
れがある。この場合も前述したように試験を行う際、図
１に示すようにあらかじめ媒体の決まった位置に再生用
の信号を記録しておき、ＭＲ膜への磁界印加は再生用信
号から十分離れた位置で行い、磁界印加後、再生用信号
を記録した位置までヘッドを移動し再生出力、波形の測
定を行う動作を繰り返すことにより、この問題を解決で
きる。

【００４３】なお上記の説明において測定量を再生出
力、波形振幅の対称性変動についてのみ述べたが、これ
らの測定量の代わりに波形幅、分解能、ＳＮ比、ビット
シフト量等他の測定量を用いても同様の効果が得られ、
本発明の検査法において測定量を再生出力、波形振幅の
対称性変動のみに限定するものではない。また再生出力
値としてトラック一周の振幅値の平均値であるＴＡＡ値
を用いたが、ＴＡＡ値の代わりにＲＭＳ値やトラック内
の一部の振幅値等の量を用いてもよく特にＴＡＡ値に限
定するものではない。

【００４４】以上詳しく説明したように本発明の上述の
実施の形態および実施例によれば、ＭＲヘッドのＭＲ素
子の磁区変化に伴う再生出力変動および再生波形変動を
短時間で正確に測定することができる。従って、この原
理を磁気ヘッドの検査工程にに適用して磁気ヘッドの検
査方法を行なうことでＭＲヘッドの選別がより容易で確
実になり、磁気ヘッドの検査工程の生産性が大幅に向上
する。

【００４５】また検査プログラムを持つ記憶装置を作成
し、出荷時、または使用中に試験を行うことで装置の信
頼性を高めることができる。以下、磁気ディスク装置に
適用した場合の一例を示す。図９は本発明の磁気ヘッド
の検査方法を実行する機能を備えた磁気ディスク装置の
全体構成を一部破断して示す斜視図である。

【００４６】図９に例示されるように、複数の磁気ディ
スク３１０が共通のスピンドル３１４に所定の間隔で同
軸かつ平行な姿勢で固定され、個々の磁気ディスク３１
０の複数の記録面の各々には、ロードアーム３１１の先
端部に個別に保持された複数の複合磁気ヘッド４０３が
セットされている。複合磁気ヘッド４０３は、たとえ
ば、図８に例示した構成のものを用いることができる。
ロードアーム３１１の基端部はピボット軸３１２ａを中
心として揺動するアクチュエータ３１２に支持され、こ
のアクチュエータ３１２はさらにボイスコイルモータ３
１３によって駆動される。

【００４７】すなわち、ボイスコイルモータ３１３に対
する通電方向や通電量の制御によって、アクチュエータ
３１２およびロードアーム３１１は磁気ディスク３１０
と平行な平面内を、揺動速度や角度が制御された揺動運
動をし、この揺動運動によって、ロードアーム３１１の
先端部に支持されている複合磁気ヘッド４０３は磁気デ
ィスク３１０の記録面上を当該磁気ディスク３１０の径
方向に移動し、たとえば磁気ディスク３１０の記録面上
に同心円状に配置された複数のトラックの間の移動（シ
ーク動作）や、特定のトラックに対して追従する動作を
行う。装置全体の制御は、制御基板３１５に設けられた
図示しないコントローラが行う。

【００４８】本実施の形態の磁気ディスク装置では、磁
気ディスク３１０の複数のトラックの一部には、検査用
信号が予め記録された検査用トラック３１０ａと、この
検査用トラック３１０ａから、磁界印加の影響を受けな
い程度に、たとえば数トラック離れた位置に設定される
磁界印加用トラック３１０ｂが設定されている。検査用
トラック３１０ａおよび磁界印加用トラック３１０ｂ
は、たとえば磁気ディスク３１０の最内外周側に設けら
れた、ユーザのアクセスできないガードバンド領域等を
利用して設定することができる。

【００４９】制御基板３１５に設けられた図示しないコ
ントローラには、図１０に例示されるフローチャートの
ような磁気ヘッドの検査動作を行う制御論理がプログラ
ムされている。

【００５０】そして、制御基板３１５に設けられた図示
しないコントローラが、たとえば装置の電源投入時に図
１０の動作を行う検査プログラムを起動して、自発的に
複合磁気ヘッド４０３の検査を行ったり、上位のホスト
コンピュータからのヘッド検査コマンド等の指令に基づ
いて随時、検査プログラムを起動する等の動作により複
合磁気ヘッド４０３の検査を実行し、不良が予想される
場合には、装置の筐体外部に設けられた図示しないＬＥ
Ｄ等を点灯させたり、上位のホストコンピュータに検査
結果を報告する等の動作によって、複合磁気ヘッド４０
３の異常の予報や、交換を促す等の予防保守を実現す
る。

【００５１】

【発明の効果】本発明の磁気ヘッドの検査方法によれ
ば、ＭＲヘッドのＭＲ素子の磁区構造変化に伴う再生波
形変動を短時間で正確に測定することができる、という
効果が得られる。

【００５２】また、ＭＲヘッドのＭＲ素子の性能の劣化
を短時間で正確に予測することができる、という効果が
得られる。

【００５３】また、ＭＲ素子を含む複合型の磁気ヘッド
の不良品の選別を短時間で的確に行うことができる、と
いう効果が得られる。

【００５４】また、本発明の磁気ディスク装置によれ
ば、ＭＲ素子を用いた磁気ヘッドの予防保守ができる、
という効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例である磁気ヘッドの検査方法
の一例を示すフローチャートである。

【図２】本発明の磁気ヘッドの検査方法の幾つかの実施
例および比較例での測定条件の一例を対比して例示した
説明図である。

【図３】（ａ）および（ｂ）は、本発明の一実施の形態
である検査方法において用いられる検査装置の一例を示
す斜視図および側面図である。

【図４】（ａ）および（ｂ）は、印加磁界強度と再生出
力の変動との関係、および記録電流値と再生出力の変動
との関係の一例を示す線図である。

【図５】測定回数と予測可能な再生出力変動量との関係
を、本願発明の実施例と比較例とを対照して示す線図で
ある。

【図６】ＭＲ素子に対する印加磁界の強度と特性変動を
予測可能な測定回数との関係の一例を示す線図である。

【図７】再生波形の振幅値の定義の一例を示す線図であ
る。

【図８】本発明の一実施の形態である検査方法で用いら
れた記録再生複合型ヘッドの一例を示す斜視図である。

【図９】本発明の磁気ヘッドの検査方法を実行する機能
を備えた磁気ディスク装置の全体構成を一部破断して示
す斜視図である。

【図１０】本発明の磁気ヘッドの検査方法を実行する機
能を備えた磁気ディスク装置の作用の一例を示すフロー
チャートである。

【図１１】（ａ）〜（ｃ）は、比較例での再生出力変動
の測定結果の一例を示すグラフである。

【符号の説明】

２０１…磁気ヘッド上部磁性膜、２０２…コイル、２０
３…記録ギャップ、２０４…シールド、２０５…下部シ
ールド、２０６…電極、２０７…磁区制限膜、２０９…
ＭＲ膜、２１０…分離膜、２１１…ＳＡＬ膜、３１０…
磁気ディスク、３１０ａ…検査用トラック、３１０ｂ…
磁界印加用トラック、３１１…ロードアーム、３１２…
アクチュエータ、３１２ａ…ピボット軸、３１３…ボイ
スコイルモータ、３１４…スピンドル、３１５…制御基
板、４０１…磁界印加用電磁石、４０２…磁気ヘッド取
付具、４０３…複合磁気ヘッド、４０３ａ…ＭＲ素子
部、４０３ｂ…記録ヘッド部、４０４…記録用媒体、４
０４ａ…検査用領域、４０４ｂ…磁界印加領域、８０１
…再生波形、８０２…正の波形振幅値（正の０−ｐ
値）、８０３…負の波形振幅値（負の０−ｐ値）、８０
４…波形振幅値（ｐ−ｐ値）。

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 記録媒体に信号を記録する記録ヘッド部
   と、磁気抵抗効果を有する薄膜素子から構成され、前記
   記録媒体からの漏洩磁束の変化を前記薄膜素子の抵抗変
   化として検出することによって前記信号の再生を行う磁
   気抵抗効果型再生ヘッドとを含む磁気ヘッドの検査方法
   であって、 前記磁気抵抗効果型再生ヘッドへ外部から磁界を印加す
   る第１のステップと、前記記録媒体に記録された前記信
   号から前記磁気抵抗効果型再生ヘッドによって再生され
   る前記再生信号波形の電気的特性を測定する第２のステ
   ップとを交互に繰り返すことによって得られる複数の測
   定値の変動を検査することを特徴とする磁気ヘッドの検
   査方法。
2. 【請求項２】 請求項１記載の磁気ヘッドの検査方法に
   おいて、 前記第１のステップでは、前記磁気ヘッドを磁気記録再
   生装置に装着して使用する場合の記録電流値より大きな
   値の記録電流を用いて記録動作を行う時に前記記録ヘッ
   ド部から発生する磁界によって、前記磁気抵抗効果型再
   生ヘッドへの外部からの前記磁界の印加を行うことを特
   徴とする磁気ヘッドの検査方法。
3. 【請求項３】 請求項１または２記載の磁気ヘッドの検
   査方法において、 前記第１のステップでは、前記磁気ヘッドを磁気記録再
   生装置に装着して使用する場合の記録周波数より大きな
   値の記録周波数を用いて記録動作を行う時に前記記録ヘ
   ッド部から発生する磁界によって、前記磁気抵抗効果型
   再生ヘッドへの外部からの前記磁界の印加を行うことを
   特徴とする磁気ヘッドの検査方法。
4. 【請求項４】 請求項１，２または３記載の磁気ヘッド
   の検査方法において、 あらかじめ再生用信号が記録された検査用の第１の領域
   を前記記録媒体上に設定し、前記第１の領域において前
   記再生用信号を前記磁気抵抗効果型再生ヘッドで再生し
   再生信号波形の電気的特性を測定する前記第２のステッ
   プを実行するとともに、前記磁気抵抗効果型再生ヘッド
   へ外部から磁界を印加する前記第１のステップを実行す
   る際には前記第１の領域に印加磁界の影響が及ばない第
   ２の領域まで前記磁気ヘッドを移動させることを特徴と
   する磁気ヘッドの検査方法。
5. 【請求項５】 回転する磁気ディスクと、前記磁気ディ
   スクに信号を記録する記録ヘッド部、および磁気抵抗効
   果を有する薄膜素子から構成され前記磁気ディスクから
   の漏洩磁束の変化を前記薄膜素子の抵抗変化として検出
   することによって前記信号の再生を行う磁気抵抗効果型
   再生ヘッドを含む磁気ヘッドと、前記磁気ヘッドを前記
   磁気ディスク上の任意の位置に位置決めするアクチュエ
   ータと、全体の制御を行う制御部とを含む磁気ディスク
   装置であって、 前記磁気ディスク上には、前記磁気抵抗効果型再生ヘッ
   ドによって再生される前記再生信号波形の電気的特性を
   測定する第２のステップのための検査用の信号が記録さ
   れる第１の領域と、通常の書込動作時における書込電流
   および記録周波数の少なくとも一方の値を上回る書込信
   号を前記記録ヘッド部に印加し、この時当該記録ヘッド
   部から発生する磁界を前記磁気抵抗効果型再生ヘッドに
   印加する第１のステップが行われる第２の領域が設けら
   れ、 前記制御部には、随時、前記磁気ヘッドを前記第２およ
   び第１の領域に交互に位置づけて前記第１および第２の
   ステップを反復実行し、複数の前記第２のステップにお
   ける測定結果に基づいて前記磁気抵抗効果型再生ヘッド
   の状態を評価する制御論理を備えたことを特徴とする磁
   気ディスク装置。