JPH09152488A - 障害物検出装置 - Google Patents

障害物検出装置

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JPH09152488A
JPH09152488A JP31312295A JP31312295A JPH09152488A JP H09152488 A JPH09152488 A JP H09152488A JP 31312295 A JP31312295 A JP 31312295A JP 31312295 A JP31312295 A JP 31312295A JP H09152488 A JPH09152488 A JP H09152488A
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JP
Japan
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obstacle
electrode
reactance
circuit
electrode plate
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Application number
JP31312295A
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English (en)
Inventor
Manabu Tsuruta
田 学 鶴
Yuichi Murakami
上 裕 一 村
Nobuyuki Ota
田 信 之 太
Toshimitsu Oka
俊 光 岡
Naofumi Fujie
江 直 文 藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Aisin Corp
Original Assignee
Aisin Seiki Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 電力供給開始時にも障害物の検出が可能な装
置を、簡単な構成により行うと共に、センサ信号を補正
して正確に障害物検出を行う。 【解決手段】 センサ電極の零点補正を行う補正モード
のとき(a)のリアクタンスXA と、障害物が近くにな
い検出モードのとき(b)のリアクタンスXB を、等し
くなるようにセンサ電極の電極板の大きさ、または電極
間の間隔を設定しておき、リレー6により検出モード
(c)に切り換わったときのリアクタンスXC が補正モ
ード時のリアクタンスXA と異なった場合に障害物有と
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、障害物検出装置に
関するものであり、特にセンサを利用して、人、建造
物、金属等の障害物を検出する障害物検出装置に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】従来、障害物検出装置に関するものとし
ては、特開平3−233390号公報に示されるよう
に、コンデンサの静電容量はε0 ・εr・S/DW (ε
0 :真空の誘電率、εr:媒質の誘電率)で表されるこ
とを利用して、環境条件による静電容量C1の変化に対
して、同一条件で変化する静電容量C2と抵抗R2から
なる直列抵抗から構成されるものが知られている(図9
参照)。
【0003】例えば、天候等の環境条件で媒質の比誘電
率εr が変化すればコンデンサC2の端子電圧も変化す
る。そこで、この装置では、発振回路OSCの出力を抵
抗R1及びコンデンサC1からなる直列回路と、抵抗R
2及び環境条件として空気等を電極間に介在させたコン
デンサC2からなる直列回路から構成されるブリッジに
接続し、両者の電位差により障害物Gを検出している。
【0004】また、特開昭58−115384号公報に
は、複数のコンデンサC2,C3,C4と、環境条件に
より決まる静電容量C1と共に発振回路OSCを構成
し、発振回路OSCの発振周波数をF/V変換回路Fに
より周波数を電圧に変換し、障害物Gが近接すると発振
回路OSCの発振条件が変化して障害物Gの有無を検出
するものが開示されている(図10参照)。
【0005】尚、ここでは容量性を意味するときは静電
容量と記し、回路等の定数的な意味のときにはコンデン
サと記載するが、両者は基本的に同一である。
【0006】
【本発明が解決しようとする課題】上記に示す、特開平
3−233390号公報では、電源が切られた時には電
源が入っている時の状態での障害物Gの有無の状態を記
憶し、再び電源が入ったときには、記憶された状態か
ら、障害物Gを検出するものである。このため、電源が
切られてから障害物Gが移動し、障害物Gの状態が記憶
された状態とは異なった場合には、正確に障害物Gを検
出することはできなくなる。
【0007】また、特開昭58−115384号公報に
示されるものでは、電源オン時に障害物Gの変化量がな
くても障害物検出は可能であるが、環境条件により補正
を行っているため、環境条件を検出するセンサが必要に
なってくる。そこで、この装置においては環境条件をセ
ンサにより検出し、環境条件の補正を行ってから障害物
検出を行うため、電源を投入してから障害物Gを検出し
始めるまでの時間が長くかかってしまう。
【0008】以上のことから、本発明では、環境条件に
左右されずに障害物検出を行うことができる装置を簡単
な構成により行うと共に、電源投入時にセンサ部の補正
を行い、障害物を正確に検出することができる装置を提
供することを課題とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めの技術的手段として、センサ電極と障害物検出回路を
備え、センサ電極と障害物との間に形成されたセンサ電
極の入力インピーダンスを、障害物検出回路に入力する
ことによって障害物を検出する障害物検出装置におい
て、センサ電極は複数の電極板と、障害物検出回路と電
極板のうち少なくとも1つの電極板との間を断続する切
換手段を備え、障害物検出装置に対する電力供給開始時
には補正モードとし、その後切換手段を切り換えて障害
物検出を行う検出モードとした。このような上記の構成
にしたことから、電源投入時に簡単な構成による零点補
正が可能となる。
【0010】請求項2では、図7に示すようにセンサ電
極7,8,9は、切換手段6と接続された第1電極板
(電極1)と、障害物検出回路4’に接続されると共に
第1電極板との間にインピーダンスを発生させる第2電
極板(電極2)及び接地されると共に第2電極との間に
インピーダンスを発生される第3電極板(電極3)とを
備えて、切換手段6は補正モード(a)においては第1
電極板が接地されると共に検出モード(c)において第
1電極板が障害物検出回路4’に接続されるような構成
にしたことにより簡単な構成で3枚電極による零点補正
が可能となる。
【0011】具体的には請求項3に示されるように、補
正モード(a)状態の第1リアクタンスXA (以下、リ
アクタンスXA と称す)と、検出モード(b)状態で障
害物が近くにないときの第2リアクタンスXB (以下、
リアクタンスXB と称す)とは等しくなるように、セン
サ電極の電極板7,8,9の大きさ、電極間の距離を設
定することにより電源投入時にセンサ値の零点補正がな
され、3枚電極での障害物検出がより正確に行える。
【0012】請求項4では、切換手段6により補正モー
ド(a)から検出モード(c)に切り換わったときの第
3リアクタンスXC (以下、リアクタンスXC と称す)
が、補正モード(a)時の第1リアクタンスXA と異な
った場合には障害物有とすることにより、障害物15の
検出が可能となる。ここでは、障害物15が接近または
離れるとセンサ電極が受けるリアクタンス成分が変化す
ることを利用して障害物の検出が可能となる。
【0013】請求項5では、図8に示されるようにセン
サ電極の電極板7’,8’,9’,10’は第1電極板
(電極1)と、接地されると共に第1電極板との間にイ
ンピーダンスを発生させる第2電極板(電極2)と、第
2電極板との間にインピーダンスを発生させる第3電極
板(電極3)及び接地されると共に第3電極板との間に
インピーダンスを発生させる第4電極板(電極4)とを
備え、切換手段6は補正モード(a)において第3電極
板が障害物検出回路4’に接続されると共に、検出モー
ド(c)において第1電極板が障害物検出回路4’に接
続されるようにしたことで簡単な構成で4枚電極による
センサ電極の零点補正が可能となる。
【0014】請求項6では、補正モード(a)状態の第
4リアクタンスXA ’(以下、リアクタンスXA ’と称
す)と、検出モード(b)状態で障害物が近くにないと
きの第5リアクタンスXB ’(以下、リアクタンスXB
’と称す)とは等しくなるように、センサ電極の電極
板7’,8’,9’,10’の大きさ、電極間の距離を
設定することにより電源投入時にセンサ値の零点補正が
なされ、4枚電極での障害物検出がより正確に行える。
【0015】請求項7では、切換手段6により補正モー
ド(a)から検出モード(c)に切り換わったときの第
6リアクタンスXC ’(以下、リアクタンスXC ’と称
す)が、補正モード(a)時の第1リアクタンスXA ’
と異なった場合には障害物有とすることにより、障害物
15の検出が可能となる。ここでは、障害物15が接近
または離れるとセンサ電極が受けるリアクタンス成分が
変化することを利用して障害物の検出が可能となる。
【0016】請求項8では、切換手段6にはリレーまた
はスイッチを用いることにより、簡単な構成により補正
モード(a)を作ることができる。例えば、切換手段6
にはリレー6を用いているが、トランジスタ、FET等
によるスイッチング素子を用いてもできるものである。
【0017】請求項9では、補正モード(a)から検出
モード(c)への切り換えは、電力供給開始後、抵抗と
コンデンサからなる簡単な構成のCR回路により実現で
き、センサ信号の補正後に自動的に検出モード(c)に
切り換えが可能となる。
【0018】尚、ここではインピーダンスの虚数成分で
あるリアクタンスの変化を検出して障害物検出を行うこ
とが可能である。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面を
参照して説明する。
【0020】図1は本発明の実施形態における発振回路
の基本原理説明図であり、(a)はFETを用いた場合
の発振回路図、(b)はトランジスタを用いた場合の発
振回路図、(c)は、その等価回路である。
【0021】図1(a)の発振回路はFETのドレイン
DとゲートG間に接続されたインピーダンスZ2と、ソ
ースSとゲートG間に接続されたインピーダンスZ3
と、インピーダンスZ2,Z3の両端子間、即ちFET
のドレインDとソースS間に接続されたインピーダンス
Z1とにより発振を行う。
【0022】この等価回路は、(c)に示されるように
増幅回路Aと帰還回路Fの組合せとして相互コンダクタ
ンスgm、ドレイン抵抗rdを用いて等価回路に表すこ
とが可能であり、この場合の発振条件は、次式のように
表される。
【0023】 −rd・gm−1−Z2/Z3=rd(Z1+Z2+Z3)/(Z1+Z3) ・・・(1) この式(1)の左辺は実数で振幅条件となり、右辺は虚
数で周波数条件となる。 rd・gm・Z1・Z3+Z1・Z3+Z1・Z2≦0 ・・・(2) Z1+Z2+Z3=0 ・・・(3) ここで、式(2)は振幅に関係し、式(3)は周波数の
変化に対応する条件となる。
【0024】一般的に、インピーダンスZ1,Z3を誘
導性、インピーダンスZ2を容量性とする場合、ハート
レー型と呼ばれ、また、インピーダンスZ1,Z3を容
量性、インピーダンスZ2を誘導性とする場合、コルピ
ッツ型と呼ばれている。本発明を実施する場合において
は、両者いずれでもよいが、ここではハートレー型の場
合について説明する。
【0025】図2は本発明の実施形態における障害物検
出装置を説明するハートレー型発振回路の基本的原理説
明図である。また、図3は図2に示されるインピーダン
スZ3の等価回路であり、図4は図3の回路の周波数と
リアクタンスとの関係を示す周波数特性図である。尚、
ここに示される点線f1は、図2のインピーダンスZ1
の周波数特性を示している。
【0026】ここで、図2に戻り説明すると、抵抗RG
はFETのゲートGの直流バイアスのための抵抗、抵抗
RS はFETのソースSの直流バイアス抵抗であり、コ
ンデンサCS ,CC はバイパスコンデンサである。この
回路構成で、発振条件を決めるのはインピーダンスZ
1,Z2,Z3となる。尚、本発明の実施の形態におい
ては、ハートレー型発振回路のためインピーダンスZ2
が容量性、Z1,Z3は誘導性となる。
【0027】この回路のインピーダンスZ3は、等価回
路(図3参照)に示すように、抵抗R3、コンデンサC
3及びリアクタンスL3からなる直列回路と、その回路
に並列接続されたコンデンサC0で表され、共振周波数
f3Sは次式として表せる。
【0028】f3s=1/2π√(L3・C3) また、並列回路の共振周波数f3pは、 f3p=1/2π√{L3・C3・C0/(C3+C
0)} となる。即ち、図4の実線に示されるように共振周波数
f3Sと共振周波数f3pの間で誘導性となり発振する。そ
こで、インピーダンスZ1のリアクタンスを誘導性とす
れば、共振周波数はf3Sとf3pの範囲内で発振を行うよ
うになる。ここに示される点線は、インピーダンスZ1
の周波数特性f1を表す。
【0029】一般的に、電気的機械振動子のQファクタ
は非常に大きく、共振周波数はf3pからf3Sであり、こ
の範囲内で発振レベルの検出を行うことができる。そこ
で、共振回路を構成するインピーダンスZ1の共振周波
数f1を周波数条件式(3)を満たす範囲f1>f3で
変化させ、発振レベルを常に一定になるようにして発振
レベルの変化を検出し、その発振レベルにより障害物検
出を行う。
【0030】例えば、障害物がセンサ電極に近づいたと
きにはインピーダンスZ1のf1が図4に点線で示され
るインピーダンスZ1の周波数f1が左方向に移動し、
離れたときには右方向に移動することにより、狭い共振
周波数の範囲からのずれで発振レベルが変化することに
より、障害物検出を行うものである。
【0031】図5は本発明の実施形態における障害物検
出装置の回路図である。
【0032】図5において、FETのドレインDとゲー
トG間に接続されたインピーダンスZ2のコンデンサC
Z2と、FETのソースSとゲートG間に接続された水晶
振動子XTAL のインピーダンスZ3及びFETのドレイ
ンDとソースS間に接続されたインピーダンスZ1によ
り発振回路を構成している。
【0033】カップリングコンデンサC10を介し、F
ETのドレインD側に接続された検波回路1は、ダイオ
ードD11,D12,抵抗R11,コンデンサC11か
らなり、抵抗R11に印加された電圧がダイオードD1
2を介しコンデンサC11に充電される。この検波回路
1によって発振レベルは直流電圧V0に変換され、判定
回路2と後述する発振制御回路30の出力制御回路とカ
ウンタ制御回路に伝送される。
【0034】判定回路2は、比較回路COMPの一方に
所定の基準となる閾値電圧VT1を入力し、他方に検波回
路1からの電圧V0を入力して電圧比較を行い、閾値電
圧VT1よりも電圧V0が大きいときは、比較回路COM
Pの出力は低電位(Loと示す)となり、また、電圧V
0の方が閾値電圧VT1よりも小さいときは比較回路CO
MPの出力は高電位(Hiと示す)となる。しかし、通
常の状態においては比較回路COMPの出力はLoとな
っている。
【0035】次に、発振制御回路30について説明す
る。発振制御回路30内のnビットアップ/ダウンカウ
ンタ10は、比較回路COMPの出力がLoで所定値が
プリセットされ、Hiでカウンタ動作をウェイト状態に
するものである。
【0036】カウンタ動作を起こすクロック入力は、こ
こでは図示してない発振回路(波形成形回路)からのク
ロック入力を使用しており、このクロック入力は、クロ
ックスタート・ストップ信号によりnビットアップ/ダ
ウンカウンタ10に入力され、スタート信号(Hi)で
ANDゲートを開き、ストップ信号(Lo)でANDゲ
ートを閉じるようになっている。
【0037】尚、ANDゲートのクロック信号入力は、
自己の発振回路からの信号を使用しているが、他のクロ
ック発生器からの信号を入力することも可能である。
【0038】nビットアップ/ダウンカウンタ10は、
本実施の形態では4bitのカウンタを2つ用いてカウ
ンタ動作を行うものであり、カウンタ制御回路13から
カウントアップするかカウントダウンするかを決めるカ
ウンタ制御信号及びnビットアップ/ダウンカウンタ1
0をスタートさせるかストップさせるかを決めるイネー
ブル信号が入力される。
【0039】D/A変換回路11は、nビットアップ/
ダウンカウンタ10のカウンタ出力を受け、その出力に
相当するアナログ信号V01を出力するものである。
【0040】出力制御回路12は、検波回路1からの電
圧V0とD/A変換回路11からのアナログ出力V01
を受け、出力制御回路内にはオペアンプOPを備えてい
る。このオペアンプOPの出力は、両者の信号を比較し
て電圧V0の方が大きい場合にはLoになり、またD/
A変換回路からの電圧V01の方が大きい場合にはHi
になる。
【0041】上述したカウンタ制御回路は、検波回路1
からの出力電圧V0とnビットアップ/ダウンカウンタ
10のカウンタ値をD/A変換した電圧V01とが入力
され、電圧V01に対して電圧V0が下がった状態では
ダウンカウントし、また電圧V0が上がっている状態で
はアップカウントする信号をカウンタ制御信号により出
力すると共に、電圧V0とV01の差の絶対値が所定電
圧以上の場合にイネーブル信号をLoにして、カウンタ
動作を開始させるスタート信号をクロックスタート・ス
トップ信号により出力する。
【0042】オペアンプOPの出力は抵抗R35を介し
て可変容量ダイオードVSに加えられ、障害物検出回路
4’のインピーダンスZ1の周波数が変動しても共振周
波数fが一定となるように制御される。
【0043】ここで、nビットアップ/ダウンカウンタ
10、D/A変換回路11、出力制御回路12、カウン
タ制御回路13により、発振制御回路30を構成する。
【0044】インピーダンスZ1は、インダクタンス
L、キャパシタンスCからなる共振回路からなってお
り、インダクタンスLは1:nの巻線比の相互インダク
タンスで構成されることにより、インダクタンスLのセ
ンサ電極側のリアクタンスの変化によるインピーダンス
の変化が小さくても、発振回路により検波回路1側には
大きな変化が表れることにより、微弱なインピーダンス
の変化でも確実に検出することが可能となるために、障
害物が、例えば40cm程度の距離にいても検出するこ
とができるようになる。
【0045】インダクタンスLの巻線n側は、コンデン
サCZ1,可変容量ダイオードVSの直流回路が接続され
ており、インダクタンスLの巻線比n側とコンデンサC
Z1との接続点にはセンサ回路4(図6参照)が接続さ
れ、そのセンサ回路4には、障害物を検出可能な複数枚
からなるセンサ電極が付くセンサ部5が接続される。
【0046】次に、図6のセンサ回路4について説明す
る。
【0047】センサ回路4はリレー6及びコンデンサC
41と抵抗R43からなるCR回路を含む回路から構成
されている。リレー6のスイッチング側には後述するセ
ンサ電極が付いている。
【0048】このセンサ電極のうち、電極1,2はリレ
ー6のスイッチング側のC,B端子に各々接続されてお
り、電極3は接地されている。
【0049】リレー6のA端子は接地されており、電極
2は、リレー6を非通電(オフ)状態においてB端子と
C端子はつながれ電極1に接続されると共に、インピー
ダンスZ1のインダクタンスLの巻線比n側とコンデン
サCZ1との接続点(図5のSEN)に接続される。ま
た、コイル側の上流にはPNP型のトランジスタTr4
1のコレクタが接続される。一方、下流側は接地されて
おり、このリレー6に並列にダイオードD41が接続さ
れている。
【0050】トランジスタTr41のエミッタは電源投
入時に印加される定電圧VCCに接続され、ベースには入
力保護のための抵抗R41,R42及びインバータIN
Vが備え付けられる。抵抗R41の他端には同じく定電
圧VCCに接続される電解コンデンサC41と抵抗43か
らなるCR回路により一次遅れ系を形成し、抵抗R43
には並列にダイオードD42が接続されている。
【0051】図7のセンサ電極について説明すると、セ
ンサ電極は、電極板7,8,9から成り立っている。こ
のセンサ電極(電極と示す)は導体板から成り、電極1
と電極2の間隔d12、電極2と電極3の間隔d23及
び電極板の大きさは、後述する一定の条件のもとで設定
され、互いに並設されている。
【0052】この電極は、電極1と電極2の間のリアク
タンスをX2、電極2と電極3の間のリアクタンスをX
1、また、電極1と電極3のリアクタンスとX3、電極
1と障害物15とのリアクタンスをX4となる。
【0053】また、センサ電極を図8の第2実施形態に
示す構成にしてもよい。
【0054】図8において、電極1はリレー6のA端子
に接続され、電極3はリレー6のB端子に接続されてい
る。電極2と電極4は共に接地されており、リレー6の
C端子はインピーダンスZ1の変化を検出する障害物検
出回路4’のSEN入力に入力されている。電極1また
は電極3とSEN入力との切り換えは、リレー6により
切り換えがなされるものである。電力供給開始時におい
てリレー6はB端子側(電極3側)に接続され、そのと
きのインピーダンスがSEN入力に入力される構成でも
可能となる。尚、ここでは電極1と電極2のリアクタン
スをX2、電極2と電極3のリアクタンスをX1、電極
3と電極4のリアクタンスをX5、電極1と障害物との
リアクタンスをX4とする。
【0055】本発明の実施の形態においては、センサ電
極を3枚構成及び4枚構成の電極を示すが、多方向の障
害物検出を行う場合には、センサ電極の枚数が増えるた
めセンサ電極数は限定されないものとする。
【0056】次に、障害物検出の動作について説明す
る。
【0057】そこで、最初に図7を参照して回路動作を
説明すると、障害物検出装置に電源が投入される前の状
態(b)においては、リレー6が非通電状態(オフ)と
なっている状態で電極1と電極2は接続され、電極3は
接地されていることから、このときのリアクタンスXB
(=X1+X3)が、図5に示すインピーダンスZ1の
センサ入力SENに入力される。
【0058】そこで電源が投入されると、リレー6は
(a)に示される状態(A端子とC端子が接続された状
態)になり、電源投入により定電圧VCCが印加されるこ
とによってインバータINVの出力がLoになり、トラ
ンジスタTr41がオンされて、リレー6のコイル側に
電流が流れる。その結果、リレー6の接点がA側に倒れ
て電極1が接地される。このときのリアクタンスXA は
XA =X1+X2になり、このリアクタンス成分が初期
状態で等しく(XA =XB )なるように電極1,2,3
の大きさ、電極間の間隔(d12,d23)を適合させ
るように予め設定しておく。
【0059】尚、この状態でリアクタンスXA は、電極
1が接地されているために電極1はセンサとしては機能
せず、電極1の近くに障害物15がいてもいなくてもX
A =X1+X2が成立する(補正モード)。
【0060】次に、電源が投入された状態直後ではリレ
ー6はA端子に接続されているが、センサ回路4(図6
参照)にはコンデンサC41と抵抗43からなるCR回
路をもっているため、一次遅れ系により次第に電圧の変
化が低下していき、一定の電圧レベルになったときにセ
ンサ回路4のトランジスタTr41はオフされ、リレー
6のコイルに電流が流れなくなる。つまり、電源投入が
なされてからCR回路の定数により決まる時間が経過し
てからリレー6がオフされ、リレー6の接点がB端子に
戻る。その結果、電極1〜3はセンサとしての機能を始
め、障害物15を検出できる状態となる(検出モー
ド)。
【0061】電源投入後に一次遅れ系によりリレー6が
戻った状態(c)に示すように、障害物15が電極1の
近くにある場合のリアクタンスをXC とすると、リアク
タンスXC はXC =X1+X3+X4になる。このリア
クタンスXC を補正モード(a)の状態のときのリアク
タンスXA と比較を行う。そこで、リアクタンスXCが
リアクタンスXA と異なれば、障害物15があるという
検出が可能となる。
【0062】一方、図8の構成にした場合では、障害物
15が近くにいない電源投入前の状態を(b)とする
と、このときのリアクタンスXB ’はXB ’=X2にな
り、電力供給開始時の補正モード(a)でのリアクタン
スをXA ’とすると、XA ’=X1+X5となる。その
後、センサ回路4のもつCR回路によりリレー6がオフ
して検出モード(c)となる。このとき、XA ’=XB
’となるように予め電極の大きさ、及び電極の間隔を
決めておき、検出モード(c)の状態になった場合に、
リアクタンスXC ’が補正モード(a)時のリアクタン
スXA ’と異なっていれば障害物有と検出されるもので
ある。
【0063】例えば、人、建造物、金属等の障害物15
が近づくと、センサ部5のリアクタンスが変化すること
によりインピーダンスZ1も変化する。その結果、発振
レベルが変化し、検波回路1で得られた電圧V0が低下
することで障害物15を検出するするものである。
【0064】更に、回路内部の信号処理においては、障
害物15に所定以上近づくとセンサ部5の信号が入力さ
れる障害物検出回路4’のインピーダンスZ1のSEN
入力が変化し、その結果、発振回路の共振周波数fが変
化することにより、周波数条件式(3)が満たされなく
なり発振が停止する。これにより、検波回路1で得られ
た電圧V0も低下し、比較回路COMPの閾値電圧VT1
よりも電圧V0が小さくなり、比較回路COMPの出力
はHiとなり、障害物に所定以上接近していることが検
出されることになる。
【0065】そこで、この時、nビットアップ/ダウン
カウンタ10をプリセットし、検波回路1で得られた電
圧V0とD/A変換回路11からのアナログ出力V01
は、カウンタ制御回路13に入力され、電圧V0とV0
1の出力差によってnビットアップ/ダウンカウンタ1
0のカウンタ出力の増減が決定され、電圧V0とV01
の出力差の絶対値の大きさが所定値以上のとき、nビッ
トアップ/ダウンカウンタ10を動作状態とするイネー
ブル信号(カウンタ動作を開始させる信号)を出力する
と共に、ANDゲートを開き、クロック信号によりカウ
ンタ動作をさせるものである。電圧V0とV01の出力
差によってnビットアップ/ダウンカウンタ10が計数
を行い、その計数値をD/A変換回路11によってアナ
ログ値に変換する。ここでは、電圧V0とV01の出力
差が所定の値以下になるまで計数を行い、そのnビット
アップ/ダウンカウンタ10の計数値はD/A変換回路
11によってアナログ値に変換され、所定の出力差、例
えば、電圧V0とV01の差が零になったとき、つま
り、電圧V0とV01は等しくなったときに、nビット
アップ/ダウンカウンタ10による制御を停止する。
【0066】この状態でV0とV01が等しくなったと
き、発振回路は発振周波数fで再度発振を継続し、この
間にnビットアップ/ダウンカウンタ10はリセットさ
れ、初期値に戻る。
【0067】しかし、この状態で電圧V0とV01が等
しくならないとき、つまり、障害物が近くで止まった状
態が続く場合には、発振回路は発振周波数fで発振でき
なくなり、nビットアップ/ダウンカウンタ10は停止
し、センサ部5と障害物Gが接近した検出状態を維持す
る。即ち、障害物15が接近した状態が維持されること
になる。
【0068】故に、この障害物検出装置は、複数の電極
板から障害物を検出するセンサ電極を形成し、電源投入
時にセンサ電極の零点補正を行い、補正後に障害物検出
を行うものである。
【0069】このとき、3枚電極の構成では、零点補正
を行うときのインピーダンスXA と、障害物が近くにな
い検出モードでのインピーダンスXB は、等しくなるよ
うに、センサ電極の電極板の大きさとか電極間の間隔を
予め決めておき、検出モードに移ったときの検出モード
でのリアクタンスXC が、リアクタンスXA と異なれ
ば、障害物有として検出が可能となる。
【0070】また、4枚電極の構成では、零点補正を行
うときのインピーダンスXA ’と、障害物が近くにない
検出モードでのインピーダンスXB ’は、等しくなるよ
うに、センサ電極の電極板の大きさとか電極間の間隔を
予め決めておき、検出モードに移ったときの検出モード
でのリアクタンスXC ’が、リアクタンスXA ’と異な
れば、障害物有として検出が可能となる。
【0071】このセンサ電極の補正は電源投入時にリレ
ー等の簡単な構成によりなされるものであり、補正モー
ド(a)から検出モード(c)への切り換えは、電源投
入後センサ回路のもつCR回路により一次遅れ系を抵抗
とコンデンサの定数の設定により形成し、簡単な構成に
より自動的に切り換えを行うものである。
【0072】
【効果】上記のことから、センサ電極は複数の電極板
と、障害物検出回路と電極板の内少なくとも1つの電極
板との間を断続する切換手段を備え、障害物検出装置に
対する電力供給開始時には補正モードとし、その後切換
手段を切り換えて障害物検出を行う検出モードとした。
このことから、電源投入時にセンサ電極による信号の値
を補正し、補正後に障害物検出が可能となる。
【0073】このセンサ電極は、切換手段と接続された
第1電極板と、障害物検出回路に接続されると共に第1
電極板との間にインピーダンスを発生させる第2電極板
及び接地されると共に第2電極との間にインピーダンス
を発生される第3電極板とを備えて、切換手段は補正モ
ードにおいては第1電極板が接地されると共に、検出モ
ードにおいて第1電極板が障害物検出回路に接続される
ような構成にしたことにより、簡単な構成で3枚電極に
よる零点補正が可能となる。
【0074】具体的には、補正モード状態の第1リアク
タンスXA と、検出モードで障害物が近くにないときの
第2リアクタンスXB とは等しくなるように、センサ電
極の電極板の大きさ、電極間の距離を設定することによ
り電力供給開始時にセンサ値の零点補正がなされ、3枚
電極での障害物検出がより正確に行える。
【0075】この補正モードから検出モードに切り換わ
ったときの第3リアクタンスXC が、補正モード時の第
1リアクタンスXA と異なった場合には障害物有とする
ことにより、障害物の検出が可能となる。
【0076】また、別のセンサ電極の構成において、セ
ンサ電極の電極板は第1電極板と、接地されると共に第
1電極板との間にインピーダンスを発生させる第2電極
板と、第2電極板との間にインピーダンスを発生させる
第3電極板及び接地されると共に第3電極板との間にイ
ンピーダンスを発生させる第4電極板とを備え、切換手
段は補正モードにおいて第3電極板が障害物検出回路に
接続されると共に、検出モードにおいて第1電極板が障
害物検出回路に接続されるようにしたことで、簡単な構
成で4枚電極によるセンサ電極の零点補正が可能とな
る。
【0077】この補正モード状態の第4リアクタンスX
A ’と、検出モードで障害物が近くにないときの第5リ
アクタンスXB ’とは等しくなるように、センサ電極の
電極板の大きさ、電極間の距離を設定することにより電
力供給開始時にセンサ値の零点補正がなされ、4枚電極
での障害物検出がより正確に行える。
【0078】このとき補正モードから検出モードに切り
換わったときの第6リアクタンスXC ’が、補正モード
時の第1リアクタンスXA ’と異なった場合には障害物
有とすることにより、障害物の検出が可能となる。
【0079】この検出モードへの切り換えには、リレー
またはスイッチを用いることにより、補正モードを作る
ことができ、簡単な構成により補正モードを作ることが
できる。
【0080】更には、補正モードから検出モードへの切
り換えは、電力供給開始後、抵抗とコンデンサからなる
簡単な構成のCR回路により、センサ信号の補正後に自
動的に検出モードに切り換えが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施形態における障害物検出装置を
説明するための公知の発振回路の基本的原理説明図であ
る。
【図2】 本発明の実施形態における障害物検出装置を
説明するためのハートレー型発振回路の基本的回路図で
ある。
【図3】 図2のインピーダンスZ3の等価回路図であ
る。
【図4】 図3の周波数とリアクタンスとの関係を示す
特性図である。
【図5】 本発明の実施形態における障害物検出装置の
全体を示す回路図である。
【図6】 本発明の実施形態におけるセンサ検出回路を
示すセンサ検出回路図である。
【図7】 本発明の第1実施形態におけるセンサ部に接
続されるリレーにより切り換わるインピーダンスを示し
た図である。
【図8】 本発明の第2実施形態におけるセンサ部に接
続されるリレーにより切り換わるインピーダンスを示し
た図である。
【図9】 従来の第1の障害物検出装置の原理図であ
る。
【図10】 従来の第2の障害物検出装置の原理図であ
る。
【符号の説明】
1 : 検波回路 2 : 判定回路 4 : センサ検出回路 4’: 障害物検出回路 5 : センサ部 6 : リレー 7,8,9 : 電極板 7’,8’,9’,10’ : 電極板 30: 発振制御回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 岡 俊 光 愛知県刈谷市朝日町2丁目1番地 アイシ ン精機株式会社内 (72)発明者 藤 江 直 文 愛知県刈谷市朝日町2丁目1番地 アイシ ン精機株式会社内

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 センサ電極と障害物検出回路を備え、前
    記センサ電極と障害物との間に形成された前記センサ電
    極の入力インピーダンスを、前記障害物検出回路に入力
    することによって障害物を検出する障害物検出装置にお
    いて、前記センサ電極は複数の電極板と、前記障害物検
    出回路と前記電極板のうち少なくとも1つの電極板との
    間を断続する切換手段を備え、前記障害物検出装置に対
    する電力供給開始時には補正モードとし、その後前記切
    換手段を切り換えて障害物検出を行う検出モードにする
    ことを特徴とする障害物検出装置。
  2. 【請求項2】 前記センサ電極は、前記切換手段と接続
    された第1電極板と、前記障害物検出回路に接続される
    と共に前記第1電極板との間にインピーダンスを発生さ
    せる第2電極板及び接地されると共に前記第2電極との
    間にインピーダンスを発生される第3電極板とを備え、
    前記切換手段は前記補正モードにおいては前記第1電極
    板が接地されると共に、前記検出モードにおいて前記第
    1電極板が前記障害物検出回路に接続されるように作動
    することを特徴とする請求項1に記載の障害物検出装
    置。
  3. 【請求項3】 前記補正モード状態の第1リアクタンス
    と、前記検出モード状態で障害物が近くにないときの第
    2リアクタンスとは等しくなるように、前記センサ電極
    の電極板の大きさ、または電極間の距離が設定されるこ
    とを特徴とする請求項2に記載の障害物検出装置。
  4. 【請求項4】 前記補正モードから前記検出モードに切
    り換わったときの第3リアクタンスが前記第1リアクタ
    ンスとは異なったときに障害物有とすることを特徴とす
    る請求項3に記載の障害物検出装置。
  5. 【請求項5】 前記センサ電極は第1電極板と、接地さ
    れると共に前記第1電極板との間にインピーダンスを発
    生させる第2電極板と、前記第2電極板との間にインピ
    ーダンスを発生させる第3電極板及び接地されると共に
    前記第3電極板との間にインピーダンスを発生させる第
    4電極板とを備え、前記切換手段は前記補正モードにお
    いて前記第3電極板が前記障害物検出回路に接続される
    と共に、前記検出モードにおいて前記第1電極板が前記
    障害物検出回路に接続されるように作動することを特徴
    とする請求項1に記載の障害物検出装置。
  6. 【請求項6】 前記補正モード状態の第4リアクタンス
    と、前記検出モード状態で障害物が近くにないときの第
    5リアクタンスとは等しくなるように、前記センサ電極
    の電極板の大きさ、または電極間の距離が設定されるこ
    とを特徴とする請求項5に記載の障害物検出装置。
  7. 【請求項7】 前記補正モードから前記検出モードに切
    り換わったときの第6リアクタンスが前記第4リアクタ
    ンスとは異なったときに障害物有とすることを特徴とす
    る請求項6に記載の障害物検出装置。
  8. 【請求項8】 前記切換手段にはリレーまたはスイッチ
    を用いることを特徴とする請求項1に記載の障害物検出
    装置。
  9. 【請求項9】 前記補正モードから前記検出モードへの
    切り換えは、電力供給開始後、抵抗とコンデンサからな
    るCR回路により遅延させ切り換えられることを特徴と
    する請求項1に記載の障害物検出装置。
JP31312295A 1995-11-30 1995-11-30 障害物検出装置 Pending JPH09152488A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20140133503A (ko) * 2012-02-08 2014-11-19 크레사테크 리미티드 금속 전도체 장애 검출 장치 및 방법
JP2018060635A (ja) * 2016-10-03 2018-04-12 株式会社東海理化電機製作所 入力装置
CN109596694A (zh) * 2018-11-21 2019-04-09 中山大学 一种适用于不同阻抗电化学体系的测量分析装置

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