CN113258916A - 电容触摸检测电路、芯片和电子设备 - Google Patents

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CN113258916A CN202110497087.8A CN202110497087A CN113258916A CN 113258916 A CN113258916 A CN 113258916A CN 202110497087 A CN202110497087 A CN 202110497087A CN 113258916 A CN113258916 A CN 113258916A
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唐亮
张忠
程涛
许欢
宗嘉
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Shanghai Awinic Technology Co Ltd
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Shanghai Awinic Technology Co Ltd
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    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03K—PULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/94—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the way in which the control signals are generated
    • H03K17/965—Switches controlled by moving an element forming part of the switch
    • H03K17/975—Switches controlled by moving an element forming part of the switch using a capacitive movable element

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Abstract

本申请公开一种电容触摸检测电路、一种芯片及电子设备，所述电容触摸检测电路包括振荡模块，所述振荡模块包括：比较器、充放电单元以及振荡控制单元；所述比较器的第一输入端连接至电容检测端，第二输入端通过第一开关连接至第一参考电压，以及通过第二开关连接至第二参考电压，所述第一参考电压大于所述第二参考电压；所述振荡控制单元连接至所述比较器的输出端，用于根据所述比较器的输出信号输出振荡控制信号，以控制所述第一开关和第二开关的通断状态；所述充放电单元用于在所述比较器的输出端与第一输入端之间形成正反馈充放电控制，使得所述比较器的第一输入端电压在第一参考电压和第二参考电压之间振荡。上述电路无需LDO供电，能降低功耗。

Description

电容触摸检测电路、芯片和电子设备
技术领域
本申请涉及电容检测技术领域，具体涉及一种电容触摸检测电路、一种芯片和一种电子设备。
背景技术
电容触摸按键是一种应用广泛的非接触式按键，相比于传统机械式按键。电容按键具有反应灵敏，寿命长，性能稳定等有点，因此其被广泛应用到各种电子产品的操作面板中。
现有的电容触摸按键检测结构主要有以下几种：张弛振荡器电容检测、逐次逼近电容检测、积分微分电容检测、电容数字检测。每种结构都有其各自的优缺点。
张弛振荡器电容检测结构作为其中一种常用的检测结构，在各类电子产品中均得到广泛的应用。现有的张弛振荡器检测结构的其中一种结构是利用施密特触发器形成振荡器，通过对外接电容进行充放电实现检测，具体的，当充电到高阈值电压VTH时，施密特触发器发生翻转，输出为0，并对外接电容进行放电；当放电到施密特触发器的低阈值电压VTL时，施密特触发器再次发生翻转，输出为1，并对电容重新进行充电；依次反复，施密特触发器输出方波信号。外接电容的电容值正比于施密特触发器的输出频率，在一定时间内，对频率进行计数，那么计数值正比于外接电容的值。芯片管脚外接电容触摸按键，当手接触按键后，会引起触摸按键电容值的改变，使得计数值相应的发生变化，从而可以通过计数值差来对触摸动作进行判断。
为了使振荡器的输出频率和电源电压无关，现有技术中大都需要再电容检测电路中加入LDO(Low Dropout Regulator；低压差线性稳压器)电路，以提供稳定的电源。LDO电路一方面给振荡器提供参考电压，另一方面给振荡器本身供电。但是加入LDO电路使得整个电容检测电路的功耗上升。
如何进一步降低张弛振荡器类型的电容检测电路的功耗，是目前亟待解决的问题。
发明内容
鉴于此，本申请提供一种电容触摸检测电路、一种芯片以及一种电子设备，以解决现有的电容触摸检测电路功耗较大的问题。
本申请提供的一种电容触摸检测电路，包括：振荡模块和计数模块，所述振荡模块用于输出振荡信号；所述振荡模块包括：比较器、充放电单元以及振荡控制单元；所述比较器的第一输入端连接至电容检测端，第二输入端通过第一开关连接至第一参考电压，以及通过第二开关连接至第二参考电压，所述第一参考电压大于所述第二参考电压；所述振荡控制单元连接至所述比较器的输出端，用于根据所述比较器的输出信号输出振荡信号，以控制所述第一开关和第二开关的通断状态；所述充放电单元用于在所述比较器的输出端与第一输入端之间形成正反馈充放电控制，使得所述比较器的第一输入端电压在第一参考电压和第二参考电压之间振荡。
可选的，还包括：参考电压模块，连接至电源电压，用于将电源电压进行转换，输出所述第一参考电压和所述第二参考电压。
可选的，所述振荡信号的振荡频率随被检测电容大小变化，而与所述电源电压的大小无关。
可选的，所述参考电压模块包括：顺次串联于电源电压与地端之间的第二电阻、第三电阻以及第四电阻；所述第二电阻和第三电阻的连接端作为第一参考电压输出端，用于输出所述第一参考电压；所述第三电阻和第四电阻的连接端作为第二参考电压输出端，用于输出所述第二参考电压。
可选的，所述参考电压模块还包括：第一电容，一端连接于所述第一参考电压输出端，另一端接地；第二电容，一端连接于所述第二参考电压输出端，另一端接地。
可选的，还包括：缓冲模块，用于对所述第一参考电压和第二参考电压分别进行稳压后输出。
可选的，所述缓冲模块包括：第一运算放大器、第二运算放大器、第三电容和第四电容；所述第一运算放大器的输出端与负输入端连接，正输入端连接至所述第一参考电压；所述第二运算放大器的输出端与负输入端连接，正输入端连接至所述第二参考电压。
可选的，所述振荡控制单元以所述比较器输出信号作为第一控制信号，并输出与所述第一控制信号反相的第二控制信号。
可选的，所述振荡控制单元包括：与非门、第一反相器、第二反相器；所述与非门的一个输入端连接至所述比较器的输出端，另一输入端用于输入使能控制信号，所述与非门的输出端连接至所述第一反相器；所述第一反相器的输出端作为所述振荡模块的输出端输出振荡信号，所述振荡信号同时作为所述第一控制信号；所述第一反相器的输出端还连接至所述第二反相器的输入端，所述第二反相器输出端用于输出所述第二控制信号。
可选的，所述充放电单元包括：第一电阻，串联于所述第一反相器的输出端/比较器输出端和所述电容检测端之间。
可选的，所述电容检测端为一焊垫，所述电容检测端用于连接至一灵敏度调节电容以及感应极板。
可选的，所述灵敏度调节电容以及感应极板均设置于所述电容触摸检测电路外部的电路板上。
可选的，还包括：计数模块，连接至所述振荡模块的输出端，用于对所述振荡信号进行计数。
本申请还提供一种芯片，包括如上述任一项所述的电容触摸检测电路。
本申请提供一种电子设备，包括：如上述任一项所述的电容触摸检测电路。
本申请上述电容触摸检测电路的振荡模块的输出频率只和充放电单元的充放电电阻和检测端的电容值有关，和电源电压无关，所以无论电源电压如何变化，输出频率周期稳定，整个电路不需要LDO供电，可以降低电路功耗。
进一步，通过电源电压经过具备低通滤波功能的参考电压模块和缓冲模块，提供抗干扰的参考电压给比较器的正输入端，所以此电路的抗干扰能力较强。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请一实施例的电容触摸检测电路的结构示意图；
图2是本申请一实施例的电容触摸检测电路的结构示意图；
图3是本申请一实施例的电容触摸检测过程的时序示意图。
具体实施方式
如背景技术中所述，现有技术中，为了使得振荡器的输出频率和电源电压无关，需要在电路结构中增加LDO电路，导致功耗上升，电子设备的续航能力下降。
下面结合附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而非全部实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。在不冲突的情况下，下述各个实施例及其技术特征可以相互组合。
请参考图1，为本发明一实施例的电容触摸检测电路的结构示意图。
该实施例中，所述电容触摸检测电路包括：包括振荡模块110和计数模块120，所述振荡模块110用于输出频率随检测电容大小变化但与电源电压无关的振荡信号，所述计数模块120用于对所述振荡信号进行计数。
所述振荡模块110包括：比较器CMP、充放电单元112以及振荡控制单元111。
所述比较器CMP的第一输入端连接至电容检测端PAD，第二输入端通过第一开关SA连接至第一参考电压VH，以及通过第二开关SB连接至第二参考电压VL，所述第一参考电压VH大于所述第二参考电压VL。该实施例中，所述第一输入端为负输入端，第二输入端为正输入端。
所述电容检测端PAD为所述电容触摸检测电路所在芯片的焊垫，用于和外部连接，具体的用于焊接至电路板上，连接至电路板上的感应极板。当用户进行触摸操作，导致感应极板与地之间的传感电容Csensor发生变化，就会使得所述电容检测端与地之间的总的电容值发生变化。所述感应极板可以是电路板上的导线。
该实施例中，所述电容检测端PAD还连接至一灵敏度调节电容Cx，用于调节所述触摸检测的灵敏度。所述灵敏度调节电容Cx的容值通常为0-50pf。
所述振荡控制单元111连接至所述比较器CMP的输出端，用于根据所述比较器CMP的输出信号输出振荡控制信号，以控制所述第一开关SA和第二开关SB的通断状态。所述振荡控制单元111还包括一控制端，用于输入振荡使能信号EN，控制所述振荡模块110的使能状态。
具体的，当EN＝1，所述振荡控制单元111使能，跟随所述比较器CMP的输出信号输出振荡控制信号，具体的，所述振荡控制信号包括第一控制信号DOUT，和第二控制信号DOUT_B；所述第一控制信号DOUT用于控制第一开关SA的通断，第二控制信号DOUT_B用于控制第二开关SB的通断，所述第一控制信号DOUT和第二控制信号DOUT_B为反相信号，使得同一时刻中，第一开关SA和第二开关SB中仅有一个开关导通。
所述充放电单元112用于在所述比较器CMP的输出端与第一输入端之间形成正反馈的充放电控制，使得所述比较器CMP的第一输入端电压在第一参考电压VH和第二参考电压VL之间振荡。该实施例中，所述振荡控制单元111输出的第一控制信号DOUT与比较器CMP的输出为同相信号。该实施例中，所述充放电单元112连接于第一控制信号DOUT输出端与所述比较器CMP的第一输入端之间，当DOUT为高电平时，对电容检测端PAD与地之间的电容进行充电；当DOUT为低电平时，电容检测端PAD与地之间的电容进行放电。在其他实施例中，所述充放电单元112还可以连接于所述比较器CMP的输出端与所述比较器CMP的第一输入端之间。
在一个实施例中，当EN＝0时，第一控制信号DOUT＝0(低电平)，第二控制信号DOUT_B＝1(高电平)，比较器CMP的第二输入端(正输入端)连接第二参考电压VL；电容检测端PAD通过所述充放电单元112放电至0，计数器120不计数。当比较器CMP使能，且EN＝1时，电容检测端PAD电压小于VL，比较器CMP输出信号转为高电平，DOUT＝1，DOUT_B＝0，开关SA导通，SB断开，比较器的正输入端连接第一参考电压VH；由于DOUT＝1,充放电单元112对所述电容检测端PAD充电，使得PAD端电压自VL增大，至VH时，比较器CMP输出信号再次翻转，比较器CMP正输入端切换为第二参考电压VL，PAD端进行放电，当PAD端电压小于VL，比较器CMP输出再次翻转；循环往复，使得PAD端电压在VL和VH之间往复振荡，比较器CMP输出方波振荡信号，进而使得所述振荡控制单元111输出与所述PAD端电压同频的第一控制信号DOUT。所述第一控制信号DOUT还作为所述振荡模块110的输出信号，所述计数器120对所述第一控制信号DOUT进行计数。
当用户进行触摸操作时，电容检测端PAD与地之间的触摸电容Csensor大小发生变化，进而使得PAD端的充放电速率发生变化，使得PAD端的电压变化频率发生变化，最终使得所述第一控制信号DOUT的频率发生变化，计数器120的计数值发生变化，从而检测出触摸操作。
该实施例中，电容触摸检测电路还包括参考电压模块130，连接至电源电压VDD，用于将电源电压VDD进行转换，输出所述第一参考电压VH和所述第二参考电压VL。进一步的，所述参考电压模块130与所述振荡模块110之间还连接有缓冲模块140，所述缓冲模块140用于对所述第一参考电压VH和第二参考电压VL分别进行稳压后输出。在其他实施例中，也可以将所述参考电压模块130直接连接至所述振荡模块110。
该实施例中，实施参考电压模块130包括顺次串联于电源电压VDD与地端之间的第二电阻R2、第三电阻R3以及第四电阻R4；所述第二电阻R2和第三电阻R3的连接端作为第一参考电压VH输出端，用于输出所述第一参考电压VH；所述第三电阻R3和第四电阻R4的连接端作为第二参考电压VL输出端，用于输出所述第二参考电压VL。所述第二电阻、第三电阻R3以及第四电阻R4，作为分压电阻，所述第一参考电压
Figure BDA0003054847360000071
第二参考电压
Figure BDA0003054847360000072
可以通过调整所述第二电阻R2、第三电阻R3以及第四电阻R4的大小，调整所述第一参考电压VH和第二参考电压VL。上述第二电阻R2、第三电阻R3以及第四电阻R4可以分别由一个或多个电阻串联和/或并联组成，所述第二电阻R2、第三电阻R3以及第四电阻R4仅作为等效示意，不限定其实际的具体结构。
进一步的，为了避免电源电压VDD波动的噪声影响，该实施例中，所述参考电压模块110还包括：第一电容C1，一端连接于所述第一参考电压VH输出端，另一端接地；第二电容C2，一端连接于所述第二参考电压VL输出端，另一端接地。所述第一电容C1、第二电容C2、第二电阻R2、第三电阻R3以及第四电阻R4构成低通滤波器，为输出的第一参考电压VH和第二参考电压VL滤除高频干扰。
所述缓冲模块140包括：第一运算放大器OP1、第二运算放大器OP2、第三电容C3和第四电容C4；所述第一运算放大器OP1的输出端与负输入端连接，正输入端连接至所述第一参考电压VH；所述第二运算放大器OP2的输出端与负输入端连接，正输入端连接至所述第二参考电压VL。且，所述第一运算放大器OP1的输出与地之间串联有第三电容C3，作为第一运算放大器OP1的电容负载；所述第二运算放大器OP2的输出与地之间串联有第四电容C4，作为第二运算放大器OP2的电容负载。第一运算放大器OP1、第二运算放大器OP2、第三电容C3和第四电容C4构成的缓冲模块140为电路提供驱动能力，同时稳定所述第一参考电压VH和第二参考电压VL。
电源电压VDD经过具备低通滤波功能的参考电压模块130和缓冲模块140，提供抗干扰的参考电压给比较器CMP的正输入端，所以此电路的抗干扰能力较强。
请参考图2，为本发明一实施例的电容触摸检测电路的结构示意图。
该实施例中，所述振荡模块110的充放电单元112包括第一电阻R1。所述第一电阻R1可以由一个或多个电阻串联和/或并联组成，所述第一电阻R1仅作为等效示意，不限定其实际的具体结构。
所述振荡控制单元111进一步包括：与非门NAND、第一反相器INV1、第二反相器INV2；所述与非门NAND的一个输入端连接至所述比较器CMP的输出端，另一输入端用于输入使能控制信号EN，所述与非门NAND的输出端连接至所述第一反相器INV1；所述第一反相器INV1的输出端用于输出第一控制信号DOUT，同时也作为所述振荡模块110的输出端，所述第一控制信号DOUT同时作为所述振荡模块110输出的振荡信号；所述第一反相器INV1的输出端还连接至所述第二反相器INV2的输入端，所述第二反相器INV2输出端用于输出第二控制信号DOUT_B，所述第二控制信号DOUT_B为所述第一控制信号DOUT的反相信号。
EN＝0(低电平)时，所述振荡控制单元111为非启动状态，与非门NAND输出高电平，经过第一反相器INV1后，输出第一控制信号DOUT＝0(低电平)，第二控制信号DOUT_B＝1(高电平)，控制第一开关SA断开，第二开关SB导通，比较器CMP的正输入端连接第二参考电压VL，此时电容检测端PAD通过第一电阻R1放电至电压为0，计数器120不计数。
EN＝1(高电平)时，振荡控制单元111为启动状态，此时比较器CMP输出高电平，DOUT＝1，DOUT_B＝0，第一开关SA导通，第二开关SB断开，比较器CMP正输入端接第一参考电压VH；由于DOUT＝1为高电平，对所述电容检测端PAD充电。充电过程中，比较器CMP持续输出为1，当电容检测端PAD电压上升至VH后，比较器CMP输出翻转为0。
当比较器CMP输出翻转为0，DOUT＝0，DOUT_B＝1，电容检测端PAD进入放电过程，比较器CMP正输入端通过第二开关SB连接至第二参考电压VL。放电过程中，比较器CMP持续输出为0，当电容检测端PAD电压下降至VL后，比较器CMP输出翻转为1，返回到充电过程。
如此周而复始，比较器CMP输出方波，通过所述振荡控制单元111输出相同的方波信号DOUT，通过计数器120，统计DOUT在指定测量时间内的振荡周期数，作为电容采样数据。
由于振荡周期T＝k*Ctotal，k为振荡系数，与充放电电阻R1和电压摆幅VL-VH相关。测量时间TMeas内，振荡计数为N，
Figure BDA0003054847360000091
Figure BDA0003054847360000092
Ctotal为PAD端与地之间的总电容，包括传感电容Csensor以及其他寄生电容、以及灵敏度调节电容Cx。由于Ctotal的变化会改变振荡频率，当有触摸时，Csensor变大，导致Ctotal变大，从而导致振荡频率变小，从而计数值N变小，从而据此判断是否有触摸操作。
对上述公式(1)求导，得到：
Figure BDA0003054847360000093
Figure BDA0003054847360000094
由公式(3)可知，计数值N的变化率
Figure BDA0003054847360000095
与总电容Ctotal的变化速率成反比，计数值N的变化率越高，触摸检测的灵敏度越高。由于dN和Ctotal负相关，因此Ctotal中的固有电容越小，dN越大，灵敏度越高。由上述从上述式中可以得到，计数值N的变化率与Ctotal的变化率成正比。
触摸电容Ctotal＝Cins+dCtotal，Cins为电容检测端PAD与地之间的固有寄生电容，dCtotal是由于触摸造成的电容变化值，dCtotal＝dCsensor。可以通过调节所述固有寄生电容Cins的大小，调节灵敏度。
在一些实施例中，所述电容检测端PAD与地之间的固有电容Cins通常包括：比较器CMP负输入端口与地之间的寄生电容CPAD，负输入端口处还通常连接有静电释放结构(ESD)，存在寄生电容CESD，在外接灵敏度调节电容Cx时，总电容Ctotal＝Cx+CPAD+CESD+Csensor，计数值变化率：
Figure BDA0003054847360000101
由公式(4)可以看出，PAD寄生电容CPAD、ESD寄生电容CESD越小，可以提高芯片的灵敏度。并且PAD要与电源VDD和地之间寄生电容最小，这样可以提高抗干扰能力，所以这里需要选用最小尺寸的焊垫作为所述电容检测端PAD。在一些实施例中，所述PAD的尺寸可以为60μm*60μm。
在电路结构确定的情况下，CESD和CPAD值固定，在内部寄生电容最小化之后，可以通过外接的灵敏度调节电容Cx调节检测灵敏度，Cx越小灵敏度越大。这样做的好处是给予外部电容调节灵敏度更多的权重
在通过数字电路对数据处理过程中，以电容变化的百分比
Figure BDA0003054847360000102
与触摸阈值作比较，当电容变化超过触摸阈值，则判断发生了触摸操作。以电容变化的百分比进行判断，可以确保测量结果不受测量时间、振荡摆幅、充放电电流等因素的影响，灵敏度只与
Figure BDA0003054847360000103
有关。
由于振荡信号DOUT的振荡周期大小和总电容Ctotal的充放电时间相关，因此可以根据总电容Cx的充放电时间推导振荡周期。
由电容充电电压公式：
Figure BDA0003054847360000104
其中，V(t)为t时刻的电容极板电压，V0为电源电压，τ＝R1*Ctotal，一般来说触摸电容Cx远大于内部比较器CMP端口的寄生电容，因此C1≈Cx，所以τ≈Rx*Cx。
对上述公式整理得：
Figure BDA0003054847360000111
电容检测端PAD上电压从
Figure BDA0003054847360000112
上升到
Figure BDA0003054847360000113
的时间即振荡时钟上电周期T1,则根据公式(5)，可推导出：
Figure BDA0003054847360000114
其中，R＝R2+R3+R4。
电容检测端PAD上电压从VH下降到VL的时间即振荡时钟下电周期为T2，
Figure BDA0003054847360000115
完整的时钟周期为：
Figure BDA0003054847360000116
所以，可通过调节充放电电阻R1的值来调节时钟振荡周期。
由于电容检测端的寄生电容远小于灵敏度调节电容Cx，因此，Ctotal≈Cx。
从上述振荡器周期公式(8)可以看出，振荡模块110输出频率只和电阻和电容值有关，和电源电压VDD无关。所以随着电池供电的电源电压VDD降低，输出频率周期稳定。整个电路不需要LDO供电，可以降低电路功耗。
请参考图3，为本发明一实施例电容触摸检测过程的时序图。
其中，PH1，PH2和PH3为一次检测的完整过程的三个阶段。
PH1为检测准备阶段，此阶段内，振荡控制单元111的使能控制EN信号为0，振荡模块110处于关闭状态。先打开比较器CMP，使比较器CMP处于工作状态，建立稳定的输出。
PH2为电容检测阶段，此阶段内，使能控制EN信号为1，振荡模块110块振荡并输出稳定方波信号DOUT给计数器120，数字部分计数方波个数N。在比较器CMP稳定之后，在启动振荡模块110，可以防止输出的振荡信号DOUT发生跳变。
PH3为检测的数据处理阶段，此阶段内，使能控制EN信号保持为1，不过数字部分不再接收振荡模块110输出信号的计数值N。
数据处理结束后，比较器CMP输出为低，振荡器EN为0，振荡模块110输出为低电平，整个检测过程结束。
本发明的实施例还提供一种芯片，所述芯片内形成有如上述任一实施例所述的电容触摸检测电路。
本发明的实施例还提供一种电子设备，包括如上述任一实施例所述的电容触摸检测电路。所述电容触摸检测电路的检测精度提高，可以提高对所述电子设备的触摸控制的准确性。所述电子设备可以是具有触摸控制功能的手机、平板电脑、笔记本电脑、智能门锁等设备。
以上所述仅为本申请的实施例，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，例如各实施例之间技术特征的相互结合，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (15)

1.一种电容触摸检测电路，其特征在于，包括：振荡模块，用于输出振荡信号，所述振荡模块包括：
比较器、充放电单元以及振荡控制单元；
所述比较器的第一输入端连接至电容检测端，第二输入端通过第一开关连接至第一参考电压，以及通过第二开关连接至第二参考电压，所述第一参考电压大于所述第二参考电压；
所述振荡控制单元连接至所述比较器的输出端，用于根据所述比较器的输出信号输出振荡控制信号，以控制所述第一开关和第二开关的通断状态；
所述充放电单元用于在所述比较器的输出端与第一输入端之间形成正反馈充放电控制，使得所述比较器的第一输入端电压在第一参考电压和第二参考电压之间振荡。
2.根据权利要求1所述的电容触摸检测电路，其特征在于，还包括：参考电压模块，连接至电源电压，用于将电源电压进行转换，输出所述第一参考电压和所述第二参考电压。
3.根据权利要求2所述的电容触摸检测电路，其特征在于，所述振荡信号的振荡频率随被检测电容大小变化，而与所述电源电压的大小无关。
4.根据权利要求2所述的电容触摸检测电路，其特征在于，所述参考电压模块包括：顺次串联于电源电压与地端之间的第二电阻、第三电阻以及第四电阻；所述第二电阻和第三电阻的连接端作为第一参考电压输出端，用于输出所述第一参考电压；所述第三电阻和第四电阻的连接端作为第二参考电压输出端，用于输出所述第二参考电压。
5.根据权利要求3所述的电容触摸检测电路，其特征在于，所述参考电压模块还包括：第一电容，一端连接于所述第一参考电压输出端，另一端接地；第二电容，一端连接于所述第二参考电压输出端，另一端接地。
6.根据权利要求1所述的电容触摸检测电路，其特征在于，还包括：缓冲模块，用于对所述第一参考电压和第二参考电压分别进行稳压后输出。
7.根据权利要求6所述的电容触摸检测电路，其特征在于，所述缓冲模块包括：第一运算放大器、第二运算放大器、第三电容和第四电容；所述第一运算放大器的输出端与负输入端连接，正输入端连接至所述第一参考电压；所述第二运算放大器的输出端与负输入端连接，正输入端连接至所述第二参考电压。
8.根据权利要求1所述的电容触摸检测电路，其特征在于，所述振荡控制单元以所述比较器输出信号作为第一控制信号，并输出与所述第一控制信号反相的第二控制信号。
9.根据权利要求8所述的电容触摸检测电路，其特征在于，所述振荡控制单元包括：与非门、第一反相器、第二反相器；所述与非门的一个输入端连接至所述比较器的输出端，另一输入端用于输入使能控制信号，所述与非门的输出端连接至所述第一反相器；所述第一反相器的输出端作为所述振荡模块的输出端，输出振荡信号，所述振荡信号同时作为所述第一控制信号；所述第一反相器的输出端还连接至所述第二反相器的输入端，所述第二反相器输出端用于输出所述第二控制信号。
10.根据权利要求1所述的电容触摸检测电路，其特征在于，所述充放电单元包括：第一电阻，串联于所述第一反相器的输出端/比较器输出端和所述电容检测端之间。
11.根据权利要求1所述的电容触摸检测电路，其特征在于，所述电容检测端为一焊垫，所述电容检测端用于连接至一灵敏度调节电容以及感应极板。
12.根据权利要求11所述的电容触摸检测电路，其特征在于，所述灵敏度调节电容以及感应极板均设置于所述电容触摸检测电路外部的电路板上。
13.根据权利要求1所述的电容触摸检测电路，其特征在于，还包括：计数模块，连接至所述振荡模块的输出端，用于对所述振荡信号进行计数。
14.一种芯片，其特征在于，包括如权利要求1至13中任一项所述的电容触摸检测电路。
15.一种电子设备，其特征在于，包括：如权利要求1至13中任一项权利要求所述的电容触摸检测电路。
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