JPH09145965A - 光モジュール及びその製造方法 - Google Patents

光モジュール及びその製造方法

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JPH09145965A
JPH09145965A JP30415795A JP30415795A JPH09145965A JP H09145965 A JPH09145965 A JP H09145965A JP 30415795 A JP30415795 A JP 30415795A JP 30415795 A JP30415795 A JP 30415795A JP H09145965 A JPH09145965 A JP H09145965A
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JP
Japan
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substrate
optical element
optical
joint surface
emitting portion
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Application number
JP30415795A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroyasu Sasaki
博康 佐々木
Toshiyuki Mogi
俊行 茂木
Satoru Kikuchi
悟 菊池
Ryuta Takahashi
龍太 高橋
Masato Shishikura
正人 宍倉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Cable Ltd
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Cable Ltd
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明の目的は、光素子における出射部または
出射部を基板上の形成された光導波路に対して正確に位
置が合わせられて光素子を基板上に接合搭載された光モ
ジュールを製造できるようにした光モジュールの製造方
法を提供することにある。 【解決手段】本発明は、基板および光素子を透過する光
を前記基板の表面側または裏面側から照射し、前記基板
および光素子を通して得られる基板の接合面上に形成さ
れた第1の位置合わせマーカーと光素子の接合面上に形
成された第2の位置合わせマーカーとの画像信号を検出
し、この検出された画像信号に基づいて前記光素子にお
ける出射部または出射部を前記基板上に形成された光導
波路に対して位置合わせして、前記光素子の接合面に形
成された上側電極と前記基板上の接合面に形成された下
側電極との間において接合して光モジュールを製造する
ことを特徴とする光モジュールの製造方法である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、基板上にレーザー
ダイオード(LD)やホトダイオード(PD)等の光素
子を位置合わせして組立(接合搭載)して光モジュール
を製造する光モジュールの製造方法および基板上に光素
子を接合搭載して構成した光モジュールに関する。
【0002】
【従来の技術】光モジュールを組立(接合搭載)する光
モジュールの製造方法における基板上への光素子の位置
決め搭載方法として、1994年信学全春期大C−29
2「画像認識によるLD位置決め実装方式」(第1の従
来技術)に記載されている方法が知られている。この第
1の従来技術は、LDとSi基板の光路をはさんで2個
の円形のマーカーをホトリソグラフィーによるパターニ
ングで設けて、双方のマーカー(いれこになっており、
片方のマーカーの影がもう一方のくり抜き穴にはまる構
成となっている。)を赤外線画像で検出して位置ずれを
測定して、位置合わせを行うものである。この方式では
画像検出の分解能を補うため、それぞれのマーカーの面
積重心を計算して位置ずれを算出している。また特開平
4−102810号公報(第2の従来技術)においても
知られている。この第2の従来技術にも、発光素子の接
合面上に形成された上側電極のメサ・ストライプ構造の
溝の中央に基板の接合面上に形成された下側電極の位置
合わせマーカーを合わせることにより基板上に形成され
た光導波路のコアと発光素子の活性領域とが正確に位置
合わせされて発光素子が基板に接合されることが記載さ
れている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記いずれの従来技術
においても、マーカーがいれこであるため、初期位置の
ずれが大きいと、発光素子側のマーカーが基板側のマー
カーの外側と重なり、発光素子側のマーカーの検出が困
難となって、位置測定に支障を来すことが生じる。そし
て、片側のマーカー対に重なり合いがない場合でも、方
向のずれが検出できないため、位置合わせ作業は続行で
きない。
【0004】本発明の目的は、上記課題を解決すべく、
光素子における出射部または出射部を基板上の形成され
た光導波路に対して正確に位置が合わせられて光素子を
基板上に接合搭載された光モジュールを製造できるよう
にした光モジュールの製造方法を提供することにある。
また本発明の他の目的は、基板側の位置合わせマーカー
と光素子側の位置合わせマーカーとの間において、初期
位置のずれが大きくても透過光学画像に基づいて高精度
の位置合わせを可能にして、光素子における出射部また
は出射部を基板上の形成された光導波路に対して正確に
位置が合わせられて光素子を基板上に接合搭載された光
モジュールを製造できるようにした光モジュールの製造
方法を提供することにある。また本発明の他の目的は、
光素子における出射部または出射部を基板上の形成され
た光導波路に対して正確に位置が合わせられて光素子を
基板上に接合搭載されて構成された光モジュールを提供
することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、基板および光素子を透過する光を前記基
板の表面側または裏面側から照射し、前記基板および光
素子を通して得られる基板の接合面上に形成された第1
の位置合わせマーカーと光素子の接合面上に形成された
第2の位置合わせマーカーとの画像信号を検出し、この
検出された画像信号に基づいて前記光素子における出射
部または出射部を前記基板上に形成された光導波路に対
して位置合わせして、前記光素子の接合面に形成された
上側電極と前記基板上の接合面に形成された下側電極と
の間において接合して光モジュールを製造することを特
徴とする光モジュールの製造方法である。また本発明
は、基板および光素子を透過する光を前記基板の表面側
または裏面側から照射し、前記基板および光素子を通し
て得られる互いに重ならないように基板の接合面上に形
成された第1の位置合わせマーカーと光素子の接合面上
に形成された第2の位置合わせマーカーとの画像信号を
検出し、この検出された画像信号に基づいて前記光素子
における出射部または出射部を前記基板上に形成された
光導波路に対して位置合わせして、前記光素子の接合面
に形成された上側電極と前記基板上の接合面に形成され
た下側電極との間において接合して光モジュールを製造
することを特徴とする光モジュールの製造方法である。
【0006】また本発明は、基板および光素子を透過す
る光を前記基板の表面側または裏面側から照射し、前記
基板および光素子を通して得られる基板の接合面上に上
側電極から離して形成された第1の2次元位置合わせマ
ーカーと光素子の接合面上に下側電極から離して形成さ
れた第2の2次元位置合わせマーカーとの画像信号を検
出し、この検出された画像信号に基づいて前記光素子に
おける出射部または出射部を前記基板上の形成された光
導波路に対して2次元に位置合わせして、前記光素子の
接合面に形成された上側電極と前記基板上の接合面に形
成された下側電極との間において接合して光モジュール
を製造することを特徴とする光モジュールの製造方法で
ある。また本発明は、基板および光素子を透過する光を
前記基板の表面側または裏面側から照射し、前記基板お
よび光素子を通して得られる基板の接合面上に上側電極
から離して形成された第1の2次元位置合わせマーカー
と光素子の接合面上に下側電極から離して前記第1の2
次元位置合わせマーカーと重ならないように形成された
第2の2次元位置合わせマーカーとの画像信号を検出
し、この検出された画像信号に基づいて前記光素子にお
ける出射部または出射部を前記基板上の形成された光導
波路に対して2次元に位置合わせして、前記光素子の接
合面に形成された上側電極と前記基板上の接合面に形成
された下側電極との間において接合して光モジュールを
製造することを特徴とする光モジュールの製造方法であ
る。
【0007】また本発明は、基板および光素子を透過す
る光を前記基板の表面側または裏面側から照射し、前記
基板および光素子を通して得られる基板の接合面上に上
側電極から離して形成された複数の第1の長方形位置合
わせマーカーと光素子の接合面上に下側電極から離して
形成された複数の第2の長方形位置合わせマーカーとの
画像信号を検出し、この検出された画像信号に基づいて
前記光素子における出射部または出射部を前記基板上の
形成された光導波路に対して2次元に位置合わせして、
前記光素子の接合面に形成された上側電極と前記基板上
の接合面に形成された下側電極との間において接合して
光モジュールを製造することを特徴とする光モジュール
の製造方法である。また本発明は、基板および光素子を
透過する光を前記基板の表面側または裏面側から照射
し、前記基板および光素子を通して得られる基板の接合
面上に上側電極から離して形成された複数の第1の長方
形位置合わせマーカーと光素子の接合面上に下側電極か
ら離して前記複数の第1の長方形位置合わせマーカーと
重ならないように形成された複数の第2の長方形位置合
わせマーカーとの画像信号を検出し、この検出された画
像信号に基づいて前記光素子における出射部または出射
部を前記基板上の形成された光導波路に対して2次元に
位置合わせして、前記光素子の接合面に形成された上側
電極と前記基板上の接合面に形成された下側電極との間
において接合して光モジュールを製造することを特徴と
する光モジュールの製造方法である。
【0008】また本発明は、光導波路を有し、第1の接
合面上に下側電極を形成し、該下側電極から離して対称
軸を前記光導波路の光軸と平行にして透過光学画像に基
づいて位置合わせするための第1の2次元位置合わせマ
ーカーを前記第1の接合面上に形成した基板と、出射部
または出射部を有し、第2の接合面上に上側電極を形成
し、該上側電極から離して対称軸を前記出射部または出
射部の光軸と平行にして前記第1の2次元位置合わせマ
ーカーと重ならないような透過光学画像光に基づいて位
置合わせするための第1の2次元位置合わせマーカーを
前記第2の接合面上に形成した光素子とを備え、前記基
板の第1の接合面上の上側電極と前記光素子の第2の接
合面上の下側電極との間において接合して構成したこと
を特徴とする光モジュールである。
【0009】また本発明は、光軸に平行な複数の長方形
からなる基板側の位置合わせマーカーの間隔を、光軸に
平行な複数の長方形からなる光素子側の位置合わせマー
カーの間隔よりも互いに重ならないように広くまたは狭
くして、各位置合わせのマーカーを基板の接合面上にお
よび光素子の接合面上の各々に形成したことを特徴とす
る。また本発明は、レーザーダイオード(LD)やホト
ダイオード(PD)等の光素子において、接合面上に電
極と離して形成する位置合わせマーカーの一方の端部
を、特に光の出射または入射する面と一致させることを
特徴とする。また本発明は、多数の光素子を作り込むウ
エハ上において、隣接する光素子間でこの光素子の分離
線を越えて二つの光素子にまたがるように2次元の例え
ば長方形の位置合わせマーカーを設けることを特徴とす
る。
【0010】以上説明したように、本発明によれば、光
素子における出射部または出射部を基板上の形成された
光導波路に対して正確に位置が合わせられて光素子を基
板上に接合搭載された光モジュールを製造することがで
きる効果を奏する。また本発明によれば、基板側の位置
合わせマーカーと光素子側の位置合わせマーカーとの間
において、初期位置のずれが大きくても透過光学画像に
基づいて高精度の位置合わせを可能にして、光素子にお
ける出射部または出射部を基板上の形成された光導波路
に対して正確に位置が合わせられて光素子を基板上に接
合搭載された光モジュールを製造することができる効果
を奏する。また本発明によれば、光素子における出射部
または出射部を基板上の形成された光導波路に対して正
確に位置が合わせられて光素子を基板上に接合搭載され
て構成された光モジュールを実現することができる。ま
た本発明によれば、レーザーダイオード(LD)やホト
ダイオード(PD)等の光素子において、レーザー光が
出射または入射する端面は壁開によって形成されるた
め、この壁開面の位置はホトリソグラフィーなどによる
薄膜構造に対し±30μm程度、精度の良い場合で±1
0μm程度の位置ばらつきを生じたとしても、光素子に
おける出射部または出射部を基板上の形成された光導波
路に対して光軸及び光軸と直角方向について正確に位置
合わせが行われるので、基板上の光導波路と光素子にお
ける出射部または出射部との間における光結合損失をな
くし、光モジュールとして大幅な性能向上を図ることが
できる。
【0011】
【発明の実施の形態】本発明に係る実施の形態について
図面を用いて説明する。ところで、光素子として、レー
ザーダイオード(LD)やホトダイオード(PD)の各
々と両方が形成されたものとがある。
【0012】図1は、本発明に係る光モジュールの一実
施例における組立構成を示す斜視図である。図2は、本
発明に係る光モジュールの一実施例における組立時の上
面図で、説明のためにマーカーと電極も破線で示してい
る。即ち、光素子の内LD1を、基板(一部分のみ図
示)10のLD搭載ピット11に搭載する構成となって
いる。LD1の接合面2には、上側電極4が形成され、
この上側電極4と離して位置合わせ用の複数本の長方形
状(直線状成分が2軸方向に有する形状)のマーカー5
が形成される。レーザー光の出射はLD1の出射部(活
性領域)6からなされる。即ち、LD1の出射部(活性
領域)6から出射されるレーザー光の光軸を図2に一点
鎖線7で示す。基板10にはレーザー光を導く光導波路
12があり、LD1の出射レーザー光は、この光導波路
12に入射する。即ち、基板10上の光導波路12とL
D1からのレーザ光の出射部とは光結合される。また基
板10の接合面上に形成された下側電極13は、LD1
の接合面2上に形成された上側電極4との間において、
例えばAu/Sn等の接合材にて接合接続される。
【0013】そして、位置合わせ用の複数本の長方形状
のマーカー5における長手方向の直線成分は、上記LD
1の出射部(活性領域)6の光軸7に対して平行で、且
つ対称に上側電極4から離して形成している。なおレー
ザーの出射は、複数本のマーカー5にはさまれた上側電
極4の細長く飛び出た部分4aのすぐ上の部分6からな
される。基板10のLD搭載ピット11内の接合面上に
も、下側電極13と離して複数本の長方形状(直線状成
分が2軸方向に有する形状)のマーカー14を形成して
いる。そして、位置合わせ用の複数本の長方形状のマー
カー14における長手方向の直線成分は、上記光導波路
12の光軸に対して平行で、且つ対称に下側電極13か
ら離して形成している。そして図2に示すように、位置
合わせ用のマーカー14と位置合わせ用のマーカー5と
は、基板10とLD1との間において相当位置ずれが生
じていても互いに重ならないように基板10およびLD
1の各々の接合面上に電極と離して配置されている。な
お、双方の位置合わせ用のマーカー5、14は、必ずし
も光軸を中心として対称に配置する必要はない。その場
合、複数本の位置合わせ用のマーカー5、14の対称軸
が、光軸からシフトすることになる。しかし、このシフ
ト量は予め定まっているので、位置合わせする際この決
められたシフト量を補正することによって基板10上の
光導波路12とLD1の出射部と位置合わせすることが
できる。
【0014】ところで、LD1の基材の材質はInPを
主成分とし、基板10の基材の材質はSiで形成されて
いるため、赤外光に対して透明である。一方、双方の位
置合わせ用のマーカー5、14は、各接合面に金属の導
電膜を成膜して、エッチング加工で電極と同時に形成さ
れる。そして、基板10上の光導波路12は、エッチン
グ加工された位置合わせ用のマーカー14を基準にして
サブミクロンの高精度に形成される。LD1は、ウエハ
状態でウエハ上に形成された基準マークを基準にしてL
D素子構成を形成した後、接合面2に金属の導電膜を形
成してウエハ上に形成された基準マークを基準にして上
側電極4及び位置合わせ用のマーカー5をエッチング加
工で形成する。従って、LD1において、位置合わせ用
のマーカー5はレーザ光の出射部6を基準にしてサブミ
クロンの高精度に形成されることになる。このようにL
D1および基板10の基材は、共に赤外光に対して透明
であり、しかも双方の位置合わせ用のマーカー5、14
は共に電極と同じ金属の導電膜で形成されているので、
赤外光をLD1の表面側または基板10の裏側から照明
することにより、双方の位置合わせ用のマーカー5、1
4についての赤外光による透過画像を検出器37により
明瞭に、即ち高解像度で認識することができる。
【0015】そして、LD1の接合面2の上側電極4ま
たは基板10の接合面の下側電極13上にはAu/Sn
等の接合材膜(接合材層)が形成される。次にLD1
を、基板10のLD搭載ピット11に接合搭載して組立
て製造することについて説明する。図3には、組立装置
の概略構成を示す。まず上記の如く製造された基板10
を、例えばX,Y微動ステージ31上に位置決めして載
置する。他方上記の如く製造されて位置決めされたLD
(発光素子)1を例えば搬送アーム32の先に設けられ
たチャック33で吸着して上記基板10のLD搭載ピッ
ト11内に搬送して停止させて基板10の接合面(下側
電極13が形成された面)とLD1の接合面2(上側電
極4が形成された面)とを軽く接触させるかまたは僅か
な間隙が生じるように対向させる。次に赤外光光源34
から出射された赤外光を集光レンズ35により集光させ
て平行光で基板10の裏側から照射し、透過光に基づく
位置合わせ用のマーカー5、14の像をNAが0.3〜
0.4程度で、倍率が15〜30倍程度の顕微鏡用対物
レンズ36で拡大して結像させ、この結像した位置合わ
せ用のマーカー5、14の画像を検出器(TVカメラ等
の2次元イメージセンサ)37で受光して位置合わせ用
のマーカー5、14の画像信号を得ることができる。
【0016】そして、CPU38は、上記検出器37か
ら得られる位置合わせ用のマーカー5、14の画像信号
(図4にはY方向の一走査線の画像信号46を示す。図
5にはあるマーカー上のX方向の一走査線の画像信号5
1を示す。)に基づいて各位置合わせ用のマーカー5、
14における各長方形形状に対してY方向及びX方向の
多数のエッジの位置座標を算出し、算出された各長方形
形状の多数個のエッジ位置座標に対して直線近似を行う
ことで、精度よく各マーカ5、14における各長方形形
状に対してY方向及びX方向の平均的なエッジ位置を算
出し、これら算出された各長方形形状のY方向及びX方
向の平均的なエッジ位置から、各位置合わせ用のマーカ
ー5、14のY方向の中心位置y5,y14からY方向の
位置ずれΔy=(y5−y14)を算出すると共に各位置
合わせ用のマーカー5、14における各長方形形状のX
方向の中心位置x5a,x5b;x14a,x14bからX方向の
位置ずれΔx=((x5a+x5b)/2−(x14a+x14
b)/2)を算出する。また回転ずれΔθ=tan~1(x
14a−x14b)/L14−tan~1(x5a−x5b)/L5 によ
って算出することができる。上記説明では、CPU38
は各位置合わせ用のマーカー5、14から得られる画像
信号(図4にはY方向の一走査線の画像信号46を示
す。図5にはあるマーカー上のX方向の一走査線の画像
信号51を示す。)から長方形形状のマーカのエッジ座
標を算出してからY方向の位置ずれΔy=(y5−y1
4)およびX方向の位置ずれΔx=((x5a+x5b)/
2−(x14a+x14b)/2)を算出したが、画像信号に
対してある座標において折り返してその信号の一致度を
調べて一致度が最小の座標をY方向の中心位置y5,y1
4およびX方向の中心位置x5a,x5b;x14a,x14bと
し(折り返しパターンマッチング方式)、これからY方
向の位置ずれΔy=(y5−y14)およびX方向の位置
ずれΔx=((x5a+x5b)/2−(x14a+x14b)/
2)を算出しても良い。ところで、光軸7と直角方向
(Y方向)には高い位置合わせ精度が得られれば、光軸
7方向(X方向)には比較的低い位置合わせ精度でも基
板10上の光導波路12とLD1からのレーザ光の出射
部との間において光結合損失のない光結合を実現するこ
とができる。そこで、マーカーとして長方形形状に限定
されるものではないが、Y方向のエッジ座標データがよ
り多く得られるようにX方向を向いた直線成分が多くと
れるようにマーカーとして長方形形状またはこの長方形
形状に類似した形成をとることにした。即ち、マーカー
において長方形形状にしたのは、長辺側においてより多
くの走査線によるエッジ座標データが得られ、その結果
Y方向には高精度の位置算出が可能となるためである。
一般にこのようなLD素子1の搭載では、光軸7方向
(X方向)の位置合わせ精度は緩く、光軸7と垂直方向
(Y方向)は厳しい。長方形形状マーカーはこの必要な
位置合わせ精度にも合致させることができ、位置合わせ
に都合がよい。
【0017】たとえば、マーカーを検出するための光学
系に、NA=0.35で倍率20倍の顕微鏡用対物レン
ズ36を用い、観察するときの赤外線の波長を約1.3
μmとすると光学系の解像度は約2.6μmとなる。検
出器37も含めたCPUの画像処理系38における画素
サイズを0.9μmとし、光軸垂直方向の必要精度を
0.3μmとすると約84個のエッジ位置データを用い
れば、必要精度の確保が可能となる。ちなみに84個の
エッジデータを得る為のマーカーの長さは76μmであ
る。位置検出に伴う誤差には、像のボケや像歪があるが
ここでは省略する。マーカーは2本の場合、光軸7と平
行なエッジは4本となるので、マーカーの長さの4倍の
エッジデータを用いることが可能であり、長さ50ない
し100μm程度のマーカーで十分な精度が得られる。
一方光軸方向の必要精度を2.5μmとすると、光軸と
垂直な辺での2個のエッジデータがあれば良い。このよ
うに、長方形のマーカーは必要とするデータの個数に合
わせた形状とすることが可能であり、画像処理に適切で
ある。また長辺が光軸と平行であるため、エッジ位置デ
ータからの直線近似結果から、光軸方向をも精度良く補
正することが可能となる。
【0018】また上記に説明したように、基板10側の
2本のマーカー14の間隔は、LD1のマーカー5の間
隔より広くして形成してあるので、原理的に2組のマー
カーが同時に重なり合うことはない。従って、初期の位
置ずれが大きくて、片方のマーカーが重なっても、もう
一方のマーカーど位置検出可能である。また片方のマー
カー同士の間隔はLDの初期位置誤差よりも広くしてお
くことで、マーカーの重なりを極力生じないようにする
ことができる。一般にLD1を搭載する装置において、
プリアライメントを行うことでこの初期の位置誤差は1
0ないし20μm程度とすることが可能である。したが
って、LDと基板の双方のマーカーの間隔は20μmを
越える程度とすると良い。なお、基板側のマーカーの間
隔をLD側マーカーより広い場合で説明したが、これは
反対であっても良い。次に、CPU38は、算出された
Y方向の位置ずれΔyおよびX方向の位置ずれΔxに基
づいて、X,Y微動ステージ31を駆動する駆動手段4
0の駆動回路39を駆動制御して、X,Y微動ステージ
31を微動させて基板10のX,Y方向の位置を補正し
てチャック33に吸着されたLD1に対して、基板10
は位置合わせされる。回転方向についても位置ずれ量が
仕様を満足せず、位置合わせする必要がある場合には、
回転ずれΔθに基づいても補正をする。上記実施例で
は、X,Y微動ステージ31を微動させて基板10の位
置を補正する方式について説明したが、搬送アーム32
またはチャック33に微動ステージを備えてLD1を
X,Y方向に微動させても良い。
【0019】次にチャック33またはX,Y微動ステー
ジ31をZ方向に微動させて接合材膜が形成された状態
でLD1の接合面2に形成された上側電極4と基板10
の接合面に形成された下側電極13とを密着させる。次
にレーザ光を照射加熱などの手段により接合材を加熱し
てLD1は基板10のLD搭載ピット11に接合搭載し
て組立られる。次に、基板10のLD搭載ピット11内
の下側電極13の端子13bと基板10上に形成された
端子15との間でワイヤボンディングによって接続し、
更にLD1に形成された端子16と基板10上に形成さ
れた端子17との間でワイヤボンディングによって接続
する。これによって光モジュールが完成する。この光モ
ジュールの組立に当たっては、LD1の出射レーザー光
が基板10の導波路11に入射するようにLD1の位置
合わせ用のマーカー5と基板10の位置合わせ用のマー
カー14との位置を上記した如く透過画像で検出し、サ
ブミクロンオーダーで相対的な位置ずれを算出し、この
算出されたサブミクロンオーダーでの相対的な位置ずれ
を補正して、LD1を基板10に接合搭載して固定する
ことにより、基板10上の光導波路12とLD1からの
レーザ光の出射部との間においてサブミクロンオーダー
の精度で位置合わせすることが可能となり、光結合損失
の少ない光結合を実現することができる。
【0020】以上説明した実施例は、基板上に搭載する
光素子としてレーザーダイオード(LD)のみを用いて
説明したが、ホトダイオードやほかの機能の光素子であ
っても適用は可能である。即ち、上記実施例において、
LD1の代わりにホトダイオード(PD)にしても、同
様に基板10上の光導波路12とPDへのレーザ光の入
射部との間において光結合損失の少ない光結合を実現し
て基板10上にPDを接合搭載して組立ることができ
る。また図6には、光素子1’としてレーザーダイオー
ドおよびホトダイオードが組み込まれた場合を示したも
のである。光素子1’において、図6に示す手前側はL
Dで、奥側はPDで構成される。18はPDに入射する
レーザ光の入射部を示す。19は接合面2に形成された
PDにおける上側電極を示す。5’は、図1及び図2に
示す位置合わせ用のマーカー5と同様に、光素子1’の
接合面2に上側電極4、19から離して長手方向をX方
向(光軸方向)に向けた複数の長方形形状をした位置合
わせ用のマーカーである。この位置合わせ用のマーカー
5’は、出射部6および入射部18を基準にして0.0
2μm以下の高精度でエッチング加工により形成されて
いるものとする。
【0021】11’は基板10’上に形成された光素子
搭載ピットである。20は基板10’上に設けられたレ
ーザ光が送られてくる光導波路である。21は光素子搭
載ピット11’内に接合面に形成されたPDに対する下
側電極である。14’は図1及び図2に示す位置合わせ
用のマーカー14と同様に、基板10’の接合面に下側
電極13、21から離して長手方向をX方向(光軸方
向)に向けた複数の長方形形状をした位置合わせ用のマ
ーカーである。光導波路12および光導波路18は、位
置合わせ用のマーカー14’を基準にして0.02μm
以下の高精度で基板10’上に設けられるものとする。
【0022】そして上記基板10’上に設けられた光導
波路12と光導波路18とはその先で光分岐回路(図示
せず)に接続され、更にその先は光ファイバ(図示せ
ず)に接続される。次に図1及び図2に示す実施例と同
様に、光素子1’を、基板10’の光素子搭載ピット1
1’に接合搭載して組立て製造することについて説明す
る。図3には、組立装置の概略構成を示す。まず上記の
如く基板10と同様に製造された基板10’を、例えば
X,Y微動ステージ31上に位置決めして載置する。他
方上記の如くLD1と同様に製造されて位置決めされた
光素子1’を例えば搬送アーム32の先に設けられたチ
ャック33で吸着して上記基板10’の光素子搭載ピッ
ト11’内に搬送して停止させて基板10’の接合面
(下側電極13および21が形成された面)と光素子
1’の接合面(上側電極4および19が形成された面)
とを軽く接触させるかまたは僅かな間隙が生じるように
対向させる。次に赤外光光源34から出射された赤外光
を集光レンズ35により集光させて平行光で基板10’
の裏側から照射し、透過光に基づく位置合わせ用のマー
カー5’、14’の像をNAが0.3〜0.4程度で、
倍率が15〜30倍程度の顕微鏡用対物レンズ36で拡
大して結像させ、この結像した位置合わせ用のマーカー
5’、14’の画像を検出器(TVカメラ等の2次元イ
メージセンサ)37で受光して位置合わせ用のマーカー
5’、14’の画像信号を得ることができる。
【0023】そして、CPU38は、上記検出器37か
ら得られる位置合わせ用のマーカー5’、14’の画像
信号(図4にはY方向の一走査線の画像信号46を示
す。図5にはあるマーカー上のX方向の一走査線の画像
信号51を示す。)に基づいて各位置合わせ用のマーカ
ー5’、14’における各長方形形状に対してY方向及
びX方向の多数のエッジの位置座標を算出し、算出され
た各長方形形状の多数個のエッジ位置座標に対して直線
近似を行うことで、精度よく各マーカ5’、14’にお
ける各長方形形状に対してY方向及びX方向の平均的な
エッジ位置を算出し、これら算出された各長方形形状の
Y方向及びX方向の平均的なエッジ位置から、各位置合
わせ用のマーカー5’、14’のY方向の中心位置y
5,y14からY方向の位置ずれΔy=(y5−y14)を算
出すると共に各位置合わせ用のマーカー5、14におけ
る各長方形形状のX方向の中心位置x5a,x5b;x14
a,x14bからX方向の位置ずれΔx=((x5a+x5b)
/2−(x14a+x14b)/2)を算出する。また回転ず
れΔθ=tan~1(x14a−x14b)/L14−tan~1(x5
a−x5b)/L5 によって算出することができる。上記説
明では、CPU38は各位置合わせ用のマーカー5’、
14’から得られる画像信号(図4にはY方向の一走査
線の画像信号46を示す。図5にはあるマーカー上のX
方向の一走査線の画像信号51を示す。)から長方形形
状のマーカのエッジ座標を算出してからY方向の位置ず
れΔy=(y5−y14)およびX方向の位置ずれΔx=
((x5a+x5b)/2−(x14a+x14b)/2)を算出
したが、画像信号に対してある座標において折り返して
その信号の一致度を調べて一致度が最小の座標をY方向
の中心位置y5,y14およびX方向の中心位置x5a,x5
b;x14a,x14bとし(折り返しパターンマッチング方
式)、これからY方向の位置ずれΔy=(y5−y14)
およびX方向の位置ずれΔx=((x5a+x5b)/2−
(x14a+x14b)/2)を算出しても良い。
【0024】次に、CPU38は、算出されたY方向の
位置ずれΔyおよびX方向の位置ずれΔxに基づいて、
X,Y微動ステージ31を駆動する駆動手段40の駆動
回路39を駆動制御して、X,Y微動ステージ31を微
動させて基板10’のX,Y方向の位置を補正してチャ
ック33に吸着された光素子1’に対して、基板10’
は位置合わせされる。41はX,Y微動ステージの変位
を検出する変位検出器またはレーザ測長器である。従っ
て、駆動回路39において駆動手段40を駆動制御して
X,Y微動ステージ31を微動させる際、変位検出器ま
たはレーザ測長器41から検出されるX,Y微動ステー
ジの変位情報をフィードバックさせるためである。その
必要がない場合には、変位検出器またはレーザ測長器4
1は不要となる。ところで回転方向についても位置ずれ
量が仕様を満足せず、位置合わせする必要がある場合に
は、回転ずれΔθに基づいても補正をする。上記実施例
では、X,Y微動ステージ31を微動させて基板10の
位置を補正する方式について説明したが、搬送アーム3
2またはチャック33に微動ステージを備えてLD1を
X,Y方向に微動させても良い。
【0025】次にチャック33またはX,Y微動ステー
ジ31をZ方向に微動させて接合材膜が形成された状態
で光素子1’の接合面に形成された上側電極4および1
9と基板10’の接合面に形成された下側電極13およ
び21とを密着させる。次にレーザ光を照射加熱などの
手段により接合材を加熱して光素子1’は基板10’の
光素子搭載ピット11’に接合搭載して組立られる。こ
れにより、基板10’上の光導波路12および20と光
素子1’におけるレーザ光の出射部6およびレーザ光の
入射部18との間において光結合損失のない光結合を実
現することができる。次に基板10’の光素子搭載ピッ
ト11’内の下側電極13の端子13bと基板10’上
に形成された端子15との間でワイヤボンディングによ
って接続し、更に光素子1’のLDに形成された端子1
6と基板10’上に形成された端子17との間でワイヤ
ボンディングによって接続する。更に基板10’の光素
子搭載ピット11’内の下側電極21の端子21bと基
板10’上に形成された端子22との間でワイヤボンデ
ィングによって接続し、更に光素子1’のPDに形成さ
れた端子23と基板10’上に形成された端子24との
間でワイヤボンディングによって接続する。これにより
光モジュールが完成する。
【0026】図7は、本発明に係るLDの接合面に形成
した位置合わせ用のマーカーの他の実施例を示すLDの
上面からの透視図である。マーカー5の一辺がLD1の
レーザー光の出射する端面3まであることが特徴であ
る。これによりマーカーのエッジ位置を測定すること
で、レーザー光を出射する端面位置を取得することがで
き、LDの基板搭載時に、基板10の導波路12とLD
1との間隔を精度良く位置合わせすることが可能とな
る。図8は本発明に係るマーカーをウエハ段階で形成す
ることを説明するための図であり、ウエハ全体とその一
部拡大図で説明する。ウエハ50には多数の光素子(L
D素子)51が作り込まれており、個々の素子分離のた
めの分割線52がある。拡大図で分割線52aはレーザ
ー光の出射する端面または入射する端面に対応し、その
両側に光素子51aと51bがある。マーカー線53
(5、5’)はこの分割線52aを越えてふたつの光素
子51aと51bにかけて形成してある。分割線52a
に沿って光素子を分離(切断)すると、マーカー線53
は光素子51aと51b側に2分され、図1及び図2並
びに図6に示すマーカー5、5’となる。このとき、マ
ーカーの端は光素子分割の端面位置と一致して形成され
る。
【0027】
【発明の効果】本発明によれば、光素子と基板との間で
マーカーの位置ずれが大きくても、同時の重なりが生じ
ないため、確実な位置および方向の検出が可能となり、
その結果確実で、且つ高精度な光素子の基板への接合搭
載による基板上の光導波路と光素子におけるレーザ光の
出射部または入射部との間において光結合損失のない光
結合を実現した光モジュールを得ることができる効果を
奏する。また本発明によれば、光を出射する面の位置を
精度良く取得することができるので、光素子に相対する
光導波路との間隔を狭くまたはばらつきの少ない量に設
定でき、その結果この間隔に起因する光損失を低減また
はばらつきを小さくでき、光モジュールの特性を向上さ
せることができる効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る光モジュールの一実施例を示す組
立構成図である。
【図2】本発明に係る光モジュールの一実施例における
組立時の上面図である。
【図3】本発明に係る組立装置の一実施例を示す概略構
成図である。
【図4】図3に示す検出器で検出される画像信号におい
てY方向の走査線によって得られる信号波形を示す図で
ある。
【図5】図3に示す検出器で検出される画像信号におい
てマーカー上のX方向の走査線によって得られる信号波
形を示す図である。
【図6】本発明に係る光モジュールの他の実施例を示す
組立構成図である。
【図7】本発明に係るLDの接合面に形成した位置合わ
せ用のマーカーの他の実施例を示すLDの上面からの透
視図である。
【図8】本発明に係る光素子の接合面に形成する位置合
わせ用のマーカーをウエハの状態から作り上げる方法を
説明するための図である。
【符号の説明】
1…LD(レーザダイオード)、 1’…光素子、 2
…接合面 3…レーザー光出射端面、 4、19…上側電極 5、5’…位置合わせ用のマーカー、 6…レーザ光出
射部 7…光軸、 10、10’…基板、 11…LD搭載ピ
ット 11’…光素子搭載ピット、 12…光導波路、 1
3、21…下側電極 14、14’…位置合わせ用のマーカー 31…X,Y微動ステージ、 32…搬送アーム、 3
3…チャック 34…赤外光光源、 35…集光レンズ、 36…顕微
鏡用対物レンズ 37…検出器、 38…CPU、 39…駆動回路、
40…駆動手段 50…ウエハ、 52…分割線
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 菊池 悟 埼玉県入間郡毛呂山町旭台15番地日立東部 セミコンダクタ株式会社内 (72)発明者 高橋 龍太 茨城県日立市日高町5丁目1番1号日立電 線株式会社オプトロシステム研究所内 (72)発明者 宍倉 正人 東京都国分寺市東恋ケ窪1丁目280番地株 式会社日立製作所中央研究所内

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板および光素子を透過する光を前記基板
    の表面側または裏面側から照射し、前記基板および光素
    子を通して得られる基板の接合面上に形成された第1の
    位置合わせマーカーと光素子の接合面上に形成された第
    2の位置合わせマーカーとの画像信号を検出し、この検
    出された画像信号に基づいて前記光素子における出射部
    または出射部を前記基板上に形成された光導波路に対し
    て位置合わせして、前記光素子の接合面に形成された上
    側電極と前記基板上の接合面に形成された下側電極との
    間において接合して光モジュールを製造することを特徴
    とする光モジュールの製造方法。
  2. 【請求項2】基板および光素子を透過する光を前記基板
    の表面側または裏面側から照射し、前記基板および光素
    子を通して得られる互いに重ならないように基板の接合
    面上に形成された第1の位置合わせマーカーと光素子の
    接合面上に形成された第2の位置合わせマーカーとの画
    像信号を検出し、この検出された画像信号に基づいて前
    記光素子における出射部または出射部を前記基板上に形
    成された光導波路に対して位置合わせして、前記光素子
    の接合面に形成された上側電極と前記基板上の接合面に
    形成された下側電極との間において接合して光モジュー
    ルを製造することを特徴とする光モジュールの製造方
    法。
  3. 【請求項3】基板および光素子を透過する光を前記基板
    の表面側または裏面側から照射し、前記基板および光素
    子を通して得られる基板の接合面上に上側電極から離し
    て形成された第1の2次元位置合わせマーカーと光素子
    の接合面上に下側電極から離して形成された第2の2次
    元位置合わせマーカーとの画像信号を検出し、この検出
    された画像信号に基づいて前記光素子における出射部ま
    たは出射部を前記基板上の形成された光導波路に対して
    2次元に位置合わせして、前記光素子の接合面に形成さ
    れた上側電極と前記基板上の接合面に形成された下側電
    極との間において接合して光モジュールを製造すること
    を特徴とする光モジュールの製造方法。
  4. 【請求項4】基板および光素子を透過する光を前記基板
    の表面側または裏面側から照射し、前記基板および光素
    子を通して得られる基板の接合面上に上側電極から離し
    て形成された第1の2次元位置合わせマーカーと光素子
    の接合面上に下側電極から離して前記第1の2次元位置
    合わせマーカーと重ならないように形成された第2の2
    次元位置合わせマーカーとの画像信号を検出し、この検
    出された画像信号に基づいて前記光素子における出射部
    または出射部を前記基板上の形成された光導波路に対し
    て2次元に位置合わせして、前記光素子の接合面に形成
    された上側電極と前記基板上の接合面に形成された下側
    電極との間において接合して光モジュールを製造するこ
    とを特徴とする光モジュールの製造方法。
  5. 【請求項5】基板および光素子を透過する光を前記基板
    の表面側または裏面側から照射し、前記基板および光素
    子を通して得られる基板の接合面上に上側電極から離し
    て形成された複数の第1の長方形位置合わせマーカーと
    光素子の接合面上に下側電極から離して形成された複数
    の第2の長方形位置合わせマーカーとの画像信号を検出
    し、この検出された画像信号に基づいて前記光素子にお
    ける出射部または出射部を前記基板上の形成された光導
    波路に対して2次元に位置合わせして、前記光素子の接
    合面に形成された上側電極と前記基板上の接合面に形成
    された下側電極との間において接合して光モジュールを
    製造することを特徴とする光モジュールの製造方法。
  6. 【請求項6】基板および光素子を透過する光を前記基板
    の表面側または裏面側から照射し、前記基板および光素
    子を通して得られる基板の接合面上に上側電極から離し
    て形成された複数の第1の長方形位置合わせマーカーと
    光素子の接合面上に下側電極から離して前記複数の第1
    の長方形位置合わせマーカーと重ならないように形成さ
    れた複数の第2の長方形位置合わせマーカーとの画像信
    号を検出し、この検出された画像信号に基づいて前記光
    素子における出射部または出射部を前記基板上の形成さ
    れた光導波路に対して2次元に位置合わせして、前記光
    素子の接合面に形成された上側電極と前記基板上の接合
    面に形成された下側電極との間において接合して光モジ
    ュールを製造することを特徴とする光モジュールの製造
    方法。
  7. 【請求項7】光導波路を有し、第1の接合面上に下側電
    極を形成し、該下側電極から離して対称軸を前記光導波
    路の光軸と平行にして透過光学画像に基づいて位置合わ
    せするための第1の2次元位置合わせマーカーを前記第
    1の接合面上に形成した基板と、出射部または出射部を
    有し、第2の接合面上に上側電極を形成し、該上側電極
    から離して対称軸を前記出射部または出射部の光軸と平
    行にして前記第1の2次元位置合わせマーカーと重なら
    ないような透過光学画像光に基づいて位置合わせするた
    めの第1の2次元位置合わせマーカーを前記第2の接合
    面上に形成した光素子とを備え、前記基板の第1の接合
    面上の上側電極と前記光素子の第2の接合面上の下側電
    極との間において接合して構成したことを特徴とする光
    モジュール。
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