JPH09145781A - プリント回路カードおよびまたはフラットモジュールの検査装置 - Google Patents
プリント回路カードおよびまたはフラットモジュールの検査装置Info
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- JPH09145781A JPH09145781A JP7298573A JP29857395A JPH09145781A JP H09145781 A JPH09145781 A JP H09145781A JP 7298573 A JP7298573 A JP 7298573A JP 29857395 A JP29857395 A JP 29857395A JP H09145781 A JPH09145781 A JP H09145781A
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- Japan
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- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 claims abstract description 14
- 238000011990 functional testing Methods 0.000 description 6
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
- G01R1/07328—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 支持板がそのほとんど全体に接触ピンを備え
ているときにも、回路内テストと機能テストを自動的に
実施できる装置を提供する。 【解決手段】 プリント回路カードや電気回路用フラッ
トモジュールとして形成された試験片を検査する装置の
場合、異なる長さの接触ピン４を有する支持板３がケー
シング２内に設けられている。試験片用収容部１０が、
支持板の上方に配置された被覆板７に設けられている。
試験片を接触ピンの方へ引き寄せるための負圧を発生す
るユニット１６が設けられている。両端位置の間で試験
片の移動方向に対して横方向に移動可能であり、一方の
側に直角に突出するスペーサ１５を備えているスライダ
１２が、収容部を有する被覆板の下面に取付けられてい
る。負圧を発生させることによって停止位置から移動し
た試験片の移動路程が、スライダによって、接触ピンの
異なる長さに応じて、異なる二つの平面内で制限可能で
ある。
ているときにも、回路内テストと機能テストを自動的に
実施できる装置を提供する。 【解決手段】 プリント回路カードや電気回路用フラッ
トモジュールとして形成された試験片を検査する装置の
場合、異なる長さの接触ピン４を有する支持板３がケー
シング２内に設けられている。試験片用収容部１０が、
支持板の上方に配置された被覆板７に設けられている。
試験片を接触ピンの方へ引き寄せるための負圧を発生す
るユニット１６が設けられている。両端位置の間で試験
片の移動方向に対して横方向に移動可能であり、一方の
側に直角に突出するスペーサ１５を備えているスライダ
１２が、収容部を有する被覆板の下面に取付けられてい
る。負圧を発生させることによって停止位置から移動し
た試験片の移動路程が、スライダによって、接触ピンの
異なる長さに応じて、異なる二つの平面内で制限可能で
ある。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント回路カー
ド（導線カード）およびまたは電気回路用フラットモジ
ュールを検査するための装置に関し、更に詳しくは、異
なる長さの接触ピンを有する少なくとも１枚の支持板が
ケーシング内に設けられ、プリント回路カードまたはフ
ラットモジュールとして形成された試験片のための少な
くとも一つの収容部が、支持板の上方に配置された被覆
板に設けられ、試験片を接触ピンの方へ引き寄せるため
の負圧を発生するユニットが設けられ、両端位置の間で
試験片の移動方向に対して横方向に移動可能であるスラ
イダが設けられ、このスライダがその一方の側から直角
に突出するスペーサを備え、負圧を発生させることによ
って停止位置から移動した試験片の移動路程が、スペー
サによって、接触ピンの異なる長さに応じて、異なる二
つの平面内で制限可能である装置に関する。
ド（導線カード）およびまたは電気回路用フラットモジ
ュールを検査するための装置に関し、更に詳しくは、異
なる長さの接触ピンを有する少なくとも１枚の支持板が
ケーシング内に設けられ、プリント回路カードまたはフ
ラットモジュールとして形成された試験片のための少な
くとも一つの収容部が、支持板の上方に配置された被覆
板に設けられ、試験片を接触ピンの方へ引き寄せるため
の負圧を発生するユニットが設けられ、両端位置の間で
試験片の移動方向に対して横方向に移動可能であるスラ
イダが設けられ、このスライダがその一方の側から直角
に突出するスペーサを備え、負圧を発生させることによ
って停止位置から移動した試験片の移動路程が、スペー
サによって、接触ピンの異なる長さに応じて、異なる二
つの平面内で制限可能である装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】このような装置は、プリント回路カード
またはフラットモジュールを全自動検査するためのもの
である。簡単にするために、次に、プリント回路カード
についてのみ説明する。このような装置によって例え
ば、完成したプリント回路カードのいわゆる回路内テス
トと機能テストが行われる。そのために、収容部内に設
けられたプリント回路カードを備えた被覆板は、負圧に
よって支持板へ引き寄せられ、支持板の接触ピンがプリ
ント回路カードに接触する。
またはフラットモジュールを全自動検査するためのもの
である。簡単にするために、次に、プリント回路カード
についてのみ説明する。このような装置によって例え
ば、完成したプリント回路カードのいわゆる回路内テス
トと機能テストが行われる。そのために、収容部内に設
けられたプリント回路カードを備えた被覆板は、負圧に
よって支持板へ引き寄せられ、支持板の接触ピンがプリ
ント回路カードに接触する。
【０００３】両テストを順々に行うことができる装置
は、米国のＶＡ、ウェイネスボロのバージニア パネル
コーポレーション（Virginia Panel Corporation) 社
によって販売されている。この装置のケーシング内に
は、支持板の下方に、機能することができる試験片のプ
ロトタイプと、テストシステムまたはコンピュータに接
続するためおよび他の追加機能のためのインターフェー
スを備えた膨大電子装置が配置されている。
は、米国のＶＡ、ウェイネスボロのバージニア パネル
コーポレーション（Virginia Panel Corporation) 社
によって販売されている。この装置のケーシング内に
は、支持板の下方に、機能することができる試験片のプ
ロトタイプと、テストシステムまたはコンピュータに接
続するためおよび他の追加機能のためのインターフェー
スを備えた膨大電子装置が配置されている。
【０００４】このような装置は冒頭に述べた種類のドイ
ツ連邦共和国特許第３５２９２０７号明細書によっても
知られている。この装置の支持板には異なる長さの接触
ピンが取付けられている。プリント回路カードのための
収容部を備えた被覆板は負圧によって二つの異なる平面
内にもたらされる。すべての接触ピンがプリント回路カ
ードに接触する下側の平面では、例えば回路内テストが
行われる。機能テストを行う上側の平面では、長い接触
ピンだけがプリント回路カードに接触する。上側の平面
を調節するために、スペーサを備えた、二つの位置の間
で移動可能なスライダが設けられている。この公知の装
置の場合、スライダは支持板に載り、支持板に取りつけ
られたガイドによって案内されている。スライダは電気
モータによってその両端位置の間で移動可能である。
ツ連邦共和国特許第３５２９２０７号明細書によっても
知られている。この装置の支持板には異なる長さの接触
ピンが取付けられている。プリント回路カードのための
収容部を備えた被覆板は負圧によって二つの異なる平面
内にもたらされる。すべての接触ピンがプリント回路カ
ードに接触する下側の平面では、例えば回路内テストが
行われる。機能テストを行う上側の平面では、長い接触
ピンだけがプリント回路カードに接触する。上側の平面
を調節するために、スペーサを備えた、二つの位置の間
で移動可能なスライダが設けられている。この公知の装
置の場合、スライダは支持板に載り、支持板に取りつけ
られたガイドによって案内されている。スライダは電気
モータによってその両端位置の間で移動可能である。
【０００５】最近、例えば米国のヒューレット パッカ
ード(Hewletted-Packard) 社から、３０７Ｘの名称で、
プリント回路カードを検査するための装置が販売されて
いる。この装置はこの技術分野の今日の標準に、非常に
短いテスト時間で対応する。最新のすべてのコンピュー
タを利用するために、この装置の場合には、支持板のほ
とんど全面が接触ピンを備えている。それによって、両
端位置の間を移動可能なスライダを取りつけるためのス
ペースが支持板上にない。上記のテストを行うために、
この最新の装置の場合には、そのために設けた機器に接
触ピンを接続することによって、例えばプリント回路カ
ードの回路内テストが行われる。接触ピンを異なるよう
に接続する際に、機能テストのための装置が使用され
る。両テストのために実際には別個の２個の装置が使用
される。
ード(Hewletted-Packard) 社から、３０７Ｘの名称で、
プリント回路カードを検査するための装置が販売されて
いる。この装置はこの技術分野の今日の標準に、非常に
短いテスト時間で対応する。最新のすべてのコンピュー
タを利用するために、この装置の場合には、支持板のほ
とんど全面が接触ピンを備えている。それによって、両
端位置の間を移動可能なスライダを取りつけるためのス
ペースが支持板上にない。上記のテストを行うために、
この最新の装置の場合には、そのために設けた機器に接
触ピンを接続することによって、例えばプリント回路カ
ードの回路内テストが行われる。接触ピンを異なるよう
に接続する際に、機能テストのための装置が使用され
る。両テストのために実際には別個の２個の装置が使用
される。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】本発明の根底をなす課
題は、ほとんど全体に接触ピンを備えた支持板の場合に
も、回路内テストと機能テストを自動的に行うために適
するように、冒頭に述べた種類の装置を形成することで
ある。
題は、ほとんど全体に接触ピンを備えた支持板の場合に
も、回路内テストと機能テストを自動的に行うために適
するように、冒頭に述べた種類の装置を形成することで
ある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この課題は、本発明に従
い、スライダが試験片用収容部を備えた被覆板の下面に
取付けられていることによって解決される。被覆板の下
面にスライダを取付けたため、接触ピンをほとんど全体
に設けた支持体を本装置で用いるときにも、有効である
ことが実証されているそれ自体公知の、異なる両テスト
平面を生じるためのスライダを使用することができる。
被覆板の下面にスライダを取付けることにより、スライ
ダは、スペースが供され非常に簡単に取付けできる場所
に設けられる。スライダのスペーサは、スライダのその
都度の位置で、接触ピンの間の隙間内に挿入される。ス
ライダの移動時のスペーサのための自由空間は不要であ
る。なぜなら、この移動時にスペーサが接触ピンの範囲
に係合しないからである。スライダを被覆板に取付ける
際に、スライダの正確な配置および調節を除いて、注意
を払う必要はない。すなわち、被覆板は傷つく恐れのあ
る接触ピンまたは接触ピンを収容するためのスリーブを
支持しない。被覆板は更に、他の何らかの機能要素を持
っていない。これは、何らかの理由でスライダを新しい
スライダと交換しなければならないときにも有利であ
る。
い、スライダが試験片用収容部を備えた被覆板の下面に
取付けられていることによって解決される。被覆板の下
面にスライダを取付けたため、接触ピンをほとんど全体
に設けた支持体を本装置で用いるときにも、有効である
ことが実証されているそれ自体公知の、異なる両テスト
平面を生じるためのスライダを使用することができる。
被覆板の下面にスライダを取付けることにより、スライ
ダは、スペースが供され非常に簡単に取付けできる場所
に設けられる。スライダのスペーサは、スライダのその
都度の位置で、接触ピンの間の隙間内に挿入される。ス
ライダの移動時のスペーサのための自由空間は不要であ
る。なぜなら、この移動時にスペーサが接触ピンの範囲
に係合しないからである。スライダを被覆板に取付ける
際に、スライダの正確な配置および調節を除いて、注意
を払う必要はない。すなわち、被覆板は傷つく恐れのあ
る接触ピンまたは接触ピンを収容するためのスリーブを
支持しない。被覆板は更に、他の何らかの機能要素を持
っていない。これは、何らかの理由でスライダを新しい
スライダと交換しなければならないときにも有利であ
る。
【０００８】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態が図に略示し
てある。長方形の底面を有する箱状のケーシング１内に
は、ブロックの形で図示した電子装置２が設けられてい
る。この“電子装置”には、回路と、回路内テスト（イ
ンサーキットテスト）および機能テストを行うために必
要な付加回路とが含まれている。この回路は知られてい
るので、ここでは説明しない。ケーシング１の上縁に
は、ケーシングを密封被覆する支持板３が設けられてい
る。接触ピン４は同様に、原理的に知られている。接触
ピンは支持板３内に固定されたスリーブ５内に挿入され
ている。図１には、簡単にするためにスリーブ５が１個
だけ記入してある。スリーブは支持板３を貫通してい
る。ケーシング１の内部に達するスリーブの端部に、電
子装置に接続するための導線６が接続することができ
る。接触ピン４はスリーブ５内で軸方向に移動可能であ
る。接触ピンはばねの作用を受けている。異なる二つの
長さを有する接触ピン４がそれぞれ所定の数設けられて
いる。
てある。長方形の底面を有する箱状のケーシング１内に
は、ブロックの形で図示した電子装置２が設けられてい
る。この“電子装置”には、回路と、回路内テスト（イ
ンサーキットテスト）および機能テストを行うために必
要な付加回路とが含まれている。この回路は知られてい
るので、ここでは説明しない。ケーシング１の上縁に
は、ケーシングを密封被覆する支持板３が設けられてい
る。接触ピン４は同様に、原理的に知られている。接触
ピンは支持板３内に固定されたスリーブ５内に挿入され
ている。図１には、簡単にするためにスリーブ５が１個
だけ記入してある。スリーブは支持板３を貫通してい
る。ケーシング１の内部に達するスリーブの端部に、電
子装置に接続するための導線６が接続することができ
る。接触ピン４はスリーブ５内で軸方向に移動可能であ
る。接触ピンはばねの作用を受けている。異なる二つの
長さを有する接触ピン４がそれぞれ所定の数設けられて
いる。
【０００９】支持板３の上方には、支持板に対して離し
て被覆板７が設けられている。この被覆板は図１に示す
静止位置でばね８によって支持されている。このばね８
はケーシング１の外周に沿っておよび他の個所に設けら
れている。支持板３と被覆板７の間には、周方向に延び
るシール９が設けられている。被覆板７は更に、少なく
とも一つの収容部１０を備えている。この収容部内には
試験片としての検査すべきプリント回路カードを挿入可
能である。被覆板７は接触ピン４と同じ数の貫通穴１１
を備えている。この貫通穴のうち、図１には、スリーブ
５と同様に１個だけが記入してある。接触ピン４は貫通
穴１１に挿入され、プリント回路カードに接触可能であ
る。
て被覆板７が設けられている。この被覆板は図１に示す
静止位置でばね８によって支持されている。このばね８
はケーシング１の外周に沿っておよび他の個所に設けら
れている。支持板３と被覆板７の間には、周方向に延び
るシール９が設けられている。被覆板７は更に、少なく
とも一つの収容部１０を備えている。この収容部内には
試験片としての検査すべきプリント回路カードを挿入可
能である。被覆板７は接触ピン４と同じ数の貫通穴１１
を備えている。この貫通穴のうち、図１には、スリーブ
５と同様に１個だけが記入してある。接触ピン４は貫通
穴１１に挿入され、プリント回路カードに接触可能であ
る。
【００１０】被覆板７の下面にはスライダ１２が取付け
られている。このスライダは両端位置の間で両方向矢印
１３の方向に移動可能である。そのために特に電気モー
タ１４、例えば直流モータが使用される。スライダ１２
の一方の側からスペーサ１５が直角に突出している。こ
のスペーサのうち、図１には２個だけが記入してある。
られている。このスライダは両端位置の間で両方向矢印
１３の方向に移動可能である。そのために特に電気モー
タ１４、例えば直流モータが使用される。スライダ１２
の一方の側からスペーサ１５が直角に突出している。こ
のスペーサのうち、図１には２個だけが記入してある。
【００１１】装置には更に、支持板３と被覆板７の間に
負圧を発生するための外部のユニット１６が所属してい
る。このユニット１６はホース１７を介して支持板３と
被覆板７の間の空間に接続している。この空間は外側に
対してシール９によってシールされている。更に、スリ
ーブ５が支持板３内に密封シールされて設けられてい
る。
負圧を発生するための外部のユニット１６が所属してい
る。このユニット１６はホース１７を介して支持板３と
被覆板７の間の空間に接続している。この空間は外側に
対してシール９によってシールされている。更に、スリ
ーブ５が支持板３内に密封シールされて設けられてい
る。
【００１２】プリント回路カードが収容部１０内に置か
れると、被覆板７のすべての貫通穴１１が被覆される。
そして、ケーシング１の外側に配置されたユニット１６
から負圧が発生させられる。それによって、プリント回
路カードを備えた被覆板７は、ばね８の作用に抗して下
側の平面まで下方へ引っ張られる。それによって、プリ
ント回路カードはすべての接触ピン４に充分に押圧され
て接触する。その際、スペーサ１５は作用しない。スペ
ーサは支持体３の凹部に係合する。被覆板７またはプリ
ント回路カードのこの下側の平面内で回路内テストが行
われる。
れると、被覆板７のすべての貫通穴１１が被覆される。
そして、ケーシング１の外側に配置されたユニット１６
から負圧が発生させられる。それによって、プリント回
路カードを備えた被覆板７は、ばね８の作用に抗して下
側の平面まで下方へ引っ張られる。それによって、プリ
ント回路カードはすべての接触ピン４に充分に押圧され
て接触する。その際、スペーサ１５は作用しない。スペ
ーサは支持体３の凹部に係合する。被覆板７またはプリ
ント回路カードのこの下側の平面内で回路内テストが行
われる。
【００１３】機能テストのために、プリント回路カード
を備えた被覆板７は、下側の平面の上方に位置する他の
平面に移動させられる。そのために、負圧が弱められる
ので、ばね８は被覆板を所定の距離だけ上方へ押圧す
る。被覆板７のこの新しい位置において、スライダ１２
はその第２の端位置へ移動させられる。負圧を新たに強
めると、被覆板７は再び下方へ移動させられる。しか
し、この移動距離は支持板３に支持されたスペーサ１５
によって制限される。それによって、プリント回路カー
ドは機能テストのための長い接触ピン４に充分に押圧さ
れて接触する。
を備えた被覆板７は、下側の平面の上方に位置する他の
平面に移動させられる。そのために、負圧が弱められる
ので、ばね８は被覆板を所定の距離だけ上方へ押圧す
る。被覆板７のこの新しい位置において、スライダ１２
はその第２の端位置へ移動させられる。負圧を新たに強
めると、被覆板７は再び下方へ移動させられる。しか
し、この移動距離は支持板３に支持されたスペーサ１５
によって制限される。それによって、プリント回路カー
ドは機能テストのための長い接触ピン４に充分に押圧さ
れて接触する。
【００１４】逆の順序で行ってもよいこの両テストの終
了後、負圧が解除される。被覆板７は図１に示すその停
止位置に戻る。プリント回路カードは収容部１０から取
り出し可能である。
了後、負圧が解除される。被覆板７は図１に示すその停
止位置に戻る。プリント回路カードは収容部１０から取
り出し可能である。
【図１】本発明による装置の横断面図である。
【図２】本発明による装置の平面図である。
１ ケーシング ３ 支持板 ４ 接触ピン ７ 被覆板 １０ 試験片の収容部 １２ スライダ １５ スペーサ １６ 負圧発生ユニット
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ウーヴエ・ケラーマン ドイツ連邦共和国、30451 ハノーバー、 ウイルヘルム− ブルーム− ストラー セ、24
Claims (1)
- 【請求項１】 プリント回路カードおよびまたは電気回
路用フラットモジュールを検査するための装置であっ
て、 異なる長さの接触ピンを有する少なくとも１枚の支持板
がケーシング内に設けられ、 プリント回路カードまたはフラットモジュールとして形
成された試験片のための少なくとも一つの収容部が、支
持板の上方に配置された被覆板に設けられ、 試験片を接触ピンの方へ引き寄せるための負圧を発生す
るユニットが設けられ、 両端位置の間で試験片の移動方向に対して横方向に移動
可能であるスライダが設けられ、このスライダがその一
方の側に直角に突出するスペーサを備え、 負圧を発生させることによって停止位置から移動した試
験片の移動路程が、スライダによって、接触ピンの異な
る長さに応じて、異なる二つの平面内で制限可能であ
る、前記の装置において、 スライダ（１２）が試験片用の収容部（１０）を有する
被覆板（７）の下面に取付けられていることを特徴とす
る装置。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4428797A DE4428797C2 (de) | 1994-08-13 | 1994-08-13 | Vorrichtung zum Prüfen von Leiterkarten und/oder Flachbaugruppen |
| DE59507487T DE59507487D1 (de) | 1994-08-13 | 1995-10-31 | Vorrichtung zum Prüfen von Leiterkarten und/oder Flachbaugruppen |
| DK95117123T DK0772048T3 (da) | 1994-08-13 | 1995-10-31 | Anordning til prøvning af printplader og/eller flade moduler |
| EP95117123A EP0772048B1 (de) | 1994-08-13 | 1995-10-31 | Vorrichtung zum Prüfen von Leiterkarten und/oder Flachbaugruppen |
| JP7298573A JPH09145781A (ja) | 1994-08-13 | 1995-11-16 | プリント回路カードおよびまたはフラットモジュールの検査装置 |
| US08/587,921 US5801543A (en) | 1994-08-13 | 1996-01-17 | Device for testing printed circuit boards and/or flat modules |
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4428797A DE4428797C2 (de) | 1994-08-13 | 1994-08-13 | Vorrichtung zum Prüfen von Leiterkarten und/oder Flachbaugruppen |
| EP95117123A EP0772048B1 (de) | 1994-08-13 | 1995-10-31 | Vorrichtung zum Prüfen von Leiterkarten und/oder Flachbaugruppen |
| JP7298573A JPH09145781A (ja) | 1994-08-13 | 1995-11-16 | プリント回路カードおよびまたはフラットモジュールの検査装置 |
| US08/587,921 US5801543A (en) | 1994-08-13 | 1996-01-17 | Device for testing printed circuit boards and/or flat modules |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09145781A true JPH09145781A (ja) | 1997-06-06 |
Family
ID=27436031
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7298573A Withdrawn JPH09145781A (ja) | 1994-08-13 | 1995-11-16 | プリント回路カードおよびまたはフラットモジュールの検査装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5801543A (ja) |
| EP (1) | EP0772048B1 (ja) |
| JP (1) | JPH09145781A (ja) |
| DE (2) | DE4428797C2 (ja) |
| DK (1) | DK0772048T3 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105572570A (zh) * | 2016-03-08 | 2016-05-11 | 浙江乔兴建设集团湖州智能科技有限公司 | 一种印制电路板上元件的检测装置 |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19802003C1 (de) * | 1998-01-20 | 1999-10-21 | Siemens Nixdorf Inf Syst | Prüfvorrichtung zum Prüfen der Funktionen von baugruppentypspezifischen Flachbaugruppen und Fertigungseinrichtung mit solchen Prüfvorrichtungen |
| JP4921348B2 (ja) * | 2007-12-28 | 2012-04-25 | 矢崎総業株式会社 | 導通検査具の導通ピン保護構造 |
| DE102009012021B4 (de) * | 2009-03-10 | 2011-02-03 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Messvorrichtung zur elektrischen Vermessung einer einseitig an einer Messseite elektrisch kontaktierbaren Messstruktur |
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Family Cites Families (4)
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