JPH0876848A - 電子部品の位置決め方法、およびその装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】電子部品に位置決め専用の認識用マークを設け
ることなく、電子部品の正確な位置決めが行えるように
し、もって電子部品の製造に際しての作業工程の簡素
化、電子部品の小型化が図れるようにする。 【構成】電子部品１を所定箇所に設けられたカメラ４の
撮像領域内に配置させた後に、そのカメラ４によって少
なくとも上記電子部品１の電極形成領域の一端部側の領
域を撮像し、次いでこの撮像された電子部品１の電極形
成領域の画像データに基づいて上記複数の電極１１のう
ち最端部に位置する第１電極１１ａの位置を求めること
により、この第１電極１１ａの位置とカメラ４の撮像中
心との位置ずれ寸法量を算出し、その後その算出された
寸法量の位置ずれを解消すべくその位置ずれ寸法量に対
応する寸法量だけ上記電子部品１と上記カメラ４との何
れか一方を他方に相対させて移動させる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本願発明は、たとえば液晶パネル
などの電子部品が正常に駆動するか否かなどの検査を行
うような場合において、その電子部品を所定の位置へ正
確に位置決めするのに用いられる電子部品の位置決め方
法、およびその装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】たとえば液晶パネルなどにおいては、そ
の製造工程が終了した段階において、測定プローブを用
いるなどして、その液晶パネルが正常に駆動するか否か
を検査することが望まれる。この場合、液晶パネルに設
けられている小ピッチ間隔の多数本の電極に対して、測
定プローブの端子を正確に接触させる必要がある。

【０００３】そこで、従来では、測定プローブと液晶パ
ネルとの正確な位置合わせを行う方法として、たとえば
図８に示すように、液晶パネル１ｅに酸化インジウム膜
（ＩＴＯ膜）によって多数本の電極１１を形成する際
に、同時に認識用マークＭＫを液晶パネル１ｅの一端部
に設けていた。そして、従来では、この認識用マークＭ
Ｋを所定箇所に設置されたカメラまたは光学センサＣに
よって検知させることにより、液晶パネル１ｅを所定箇
所に位置決めし、測定プローブとの接触を行わせるよう
にしていた。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の方法では、認識用マークＭＫを液晶パネル１ｅに設
ける必要があるために、このマークＭＫを設ける作業工
程分だけ液晶パネル１ｅの製造工程が煩雑化するという
難点があった。

【０００５】また、認識用マークＭＫを設けるためのス
ペースを液晶パネル１ｅに確保する必要があるために、
液晶パネル１ｅがそれだけ大型化するという難点も生じ
ていた。とくに、認識用マークＭＫを電極１１と同一の
ＩＴＯ膜で形成するような場合においては、液晶パネル
１ｅが静電気による悪影響を受けることを回避するため
に認識用マークＭＫをできる限り電極１１から遠ざける
必要があり、認識用マークＭＫと電極１１との距離Ｓを
大きくする必要がある。したがって、液晶パネル１ｅの
大型化が一層顕著となっていた。

【０００６】さらに、上記認識用マークＭＫは、液晶パ
ネル１ｅの大型化をできる限り抑制することを目的とし
て、ガラス基板１３の端部に設けられているのが通例で
ある。ところが、これではガラス基板１３の端部に割れ
や欠けなどが発生した場合には、もはやその認識用マー
クＭＫを認識することすら不可能となり、正確な位置合
わせ作業が行えなくなるという難点も生じていた。

【０００７】本願発明は、このような事情のもとで考え
出されたものであって、電子部品に位置決め専用の認識
用マークを設けることなく、電子部品の正確な位置決め
が行えるようにし、もって電子部品の製造に際しての作
業工程の簡素化、電子部品の小型化が図れるようにする
ことをその課題としている。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本願発明は、電子部品に
設けられている電極に着目し、電極形成領域のうち最端
部に位置する電極を位置決めの基準として利用すること
により、認識用マークを用いることなく、電子部品の位
置決めを行わせるという従来には見られない新規な発想
の下に発明されたものである。すなわち、上記の課題を
解決するため、本願発明では、次の技術的手段を講じて
いる。

【０００９】本願の請求項１に記載の発明は、電子部品
を所定箇所に設けられたカメラの撮像領域内へ配置させ
た後に、そのカメラによって少なくとも上記電子部品の
電極形成領域の一端部側の領域を撮像し、次いでこの撮
像された画像データに基づいて上記電子部品の電極形成
領域のうち最端部に位置する第１電極の位置を求めるこ
とにより、この第１電極の位置とカメラの撮像中心との
位置ずれ寸法量を算出し、その後その算出された寸法量
の位置ずれを解消すべくその位置ずれ寸法量に対応する
寸法量だけ上記電子部品と上記カメラとの何れか一方を
他方に相対させて移動させることを特徴としている。

【００１０】本願の請求項２に記載の発明は、上記請求
項１に記載の電子部品の位置決め方法において、上記電
子部品の検査を行うための測定プローブが、上記カメラ
を支持する移動テーブルに取付けられており、上記カメ
ラの撮像中心と上記電子部品の第１電極との位置ずれを
解消させた後には、上記測定プローブの最端部の端子を
上記第１電極に位置合わせすべく上記移動テーブルを所
定寸法量だけ移動させることを特徴としている。

【００１１】本願の請求項３に記載の発明は、上記請求
項１に記載の電子部品の位置決め方法を実施するための
電子部品の位置決め装置であって、電子部品をカメラの
撮像領域内へ移送して配置する移送手段と、少なくとも
この移送手段と同一方向に沿って往復動自在に設けら
れ、かつ上記カメラを支持する移動テーブルと、上記カ
メラによって撮像された電子部品の電極形成領域の画像
データに基づいてその電極形成領域の最端部に位置する
第１電極の位置を求めるとともに、この第１電極の位置
とカメラの撮像中心との位置ずれ寸法量を算出する画像
データ処理手段とを備えていることを特徴としている。

【００１２】

【発明の作用および効果】上記請求項１に記載の発明に
おいては、電子部品の電極形成領域をカメラによって撮
像し、その画像データに基づいて電子部品の最端部に位
置する第１電極の位置とカメラの撮像中心との位置ずれ
寸法量を算出し、その後その算出された寸法量の位置ず
れを解消すべくその位置ずれ寸法量に対応する寸法量だ
け上記電子部品と上記カメラとのいずれか一方を他方に
相対させて移動させるために、カメラの撮像位置を基準
として、電子部品の第１電極の位置を正確に位置決めで
きることとなる。

【００１３】すなわち、上記一連の方法によれば、従来
とは異なり、認識用マークを電子部品に設けることな
く、電子部品とカメラとの相対的な位置決めが行える結
果、電子部品を所望の位置へ正確に位置決めすることが
できることとなる。したがって、電子部品の製造過程に
おいて認識用マークを設ける作業工程を行う必要がなく
なり、電子部品の製造作業が簡素化でき、また電子部品
に認識用マークを設けるスペースを確保する必要もなく
なるため、電子部品の小型化も図れるという格別な効果
が得られる。

【００１４】さらに、電子部品に形成された第１電極を
位置決めの基準としているために、従来の認識用マーク
とは異なり、電子部品の一端部に割れや欠けなどが多少
発生した場合であっても、これらに原因して第１電極の
認識が直ちに不可能となるようなことはない。したがっ
て、従来とは異なり、電子部品の僅かな損傷に原因して
電子部品の位置決めが困難になるといったことも極力防
止できるという効果も得られる。

【００１５】請求項２に記載の発明においては、カメラ
の撮像中心と電子部品の第１電極との位置ずれを解消さ
せた後に、カメラを支持する移動テーブルを移動させる
ことにより、この移動テーブルに別途取付けられている
測定プローブの最端部の端子を上記電子部品の第１電極
に位置合わせすることができる。したがって、測定プロ
ーブを用いての電子部品の検査を適切に行うことができ
るという効果が得られる。

【００１６】請求項３に記載の発明においては、所定の
電子部品を移送手段によってカメラの撮像領域内へ移送
し、停止させた後に、このカメラによってその電子部品
の電極形成領域の画像を撮像することができる。また、
画像データ処理手段では、上記撮像によって得られた画
像データに基づき、電子部品の第１電極の位置を求めて
から、この第１電極の位置とカメラの撮像中心との位置
ずれ寸法量を算出させることができる。そして、この位
置ずれは、たとえば電子部品を停止させた状態におい
て、上記カメラを支持する移動テーブルを、上記画像デ
ータ処理部によって算出された位置ずれ寸法量だけ所定
方向へ移動させることにより解消することができ、これ
によって電子部品とカメラとの相対的な位置決めが図れ
ることとなる。したがって、上記請求項１に記載の電子
部品の位置決め方法を適切に実施できることとなる。

【００１７】

【実施例の説明】以下、本願発明の好ましい実施例を、
図面を参照しつつ具体的に説明する。

【００１８】図１は本願発明に係る電子部品の位置決め
装置全体の概略構成を示す平面図、図２はその要部斜視
図、図３はその回路構成の一例を示すブロック図であ
る。

【００１９】図１に示す位置決め装置は、電子部品の一
例としての液晶パネル１を矢印ａの一定方向に沿って移
送させるための移送コンベア２、この移送コンベア２の
左右両側に設けられた一対の移動テーブル３，３ａ、こ
れら一対の移動テーブル３，３ａのうち一方の移動テー
ブル３に取付けられたカメラ４、および液晶パネル１の
一端面１２を検知するための端面検知センサ５などを具
備して構成されている。また、上記一対の移動テーブル
３，３ａの双方には測定プローブ６，６ａも取付けられ
ている。さらに、図２に示すように、上記カメラ４には
画像データ処理部７が接続されている他、この画像デー
タ処理部７にはこの位置決め装置の各部の動作制御を行
うためのコントローラ８も接続されている。

【００２０】図１において、上記移送コンベア２は、液
晶パネル１の左右両側面部１０ａ，１０ｂをその両側か
ら挟み付ける２条のベルト２０ａ，２０ｂと、これら各
ベルト２０ａ，２０ｂを循環駆動させるための複数のプ
ーリー２１とから構成されている。このうち、一方のベ
ルト２０ｂや移動テーブル３ａが設けられている基台２
２ｂは、一点鎖線に示すように矢印ｂ方向に沿って移動
調整自在であり、この基台２２ｂを固定側の他方の基台
２２ａ側に対して移動させることにより、２条のベルト
２０ａ，２０ｂ間の幅Ｗを幅Ｗ１に拡大させることがで
きる。したがって、上記移送コンベア２では、液晶パネ
ル１のサイズに対応させて、そのベルト２０ａ，２０ｂ
間の幅を任意に増減変更自在である。

【００２１】上記一対の移動テーブル３，３ａは、いず
れも上記液晶パネル１の移送方向と同方向に沿うＸ方向
と、これに直交するＹ方向に沿って移動自在である。す
なわち、図２に示すように、一方の移動テーブル３は、
Ｘ方向とＹ方向との各方向に移動ガイドを行うためのス
ライドテーブル３０ａ，３０ｂ上に載設されており、
Ｘ，Ｙの両方向へ往復動自在である。また、他方の移動
テーブル３ａについてもこれと同様な構成である。

【００２２】上記カメラ４は、移動テーブル３に取付け
られた支持杆３１および支持アーム３２によって支持さ
れ、液晶パネル１の移送経路の直上に位置するように配
置されている。このカメラ４としては、たとえばＣＣＤ
カメラが適用され、その下方には、同軸落射照明部４０
や光学レンズ４１が取付けられている。同軸落射照明部
４０では、その光源から液晶パネル１に対して光の照射
を行うと、その反射光が入射光と同軸となるように反射
し、これが光学レンズ４１によって集光されてカメラ４
に入射するようになっている。また、このカメラ４の下
方には、液晶パネル１の電極１１を拡大して撮像するた
めの顕微鏡（図示略）も具備されている。

【００２３】上記画像データ処理部７は、図３に示すよ
うに、上記カメラ４から出力されるアナログの画信号
（階調信号）をデジタル信号に変換するＡ／Ｄコンバー
タ７０や、このデジタル信号に変換された各画素（ドッ
ト）の信号を白または黒のいずれかの画像データ信号と
して２値化処理する２値化回路７１を具備している。ま
た、この画像データ処理部７は、それら以外として、パ
ターンマッチング回路７２や、位置ずれ量算出部７３な
ども具備している。

【００２４】上記パターンマッチング回路７２は、カメ
ラ４によって撮像された液晶パネル１の画像データのう
ち、液晶パネル１の最端部に位置する第１電極１１ａの
中心座標を求めるための回路である。これを具体的に説
明すると、まず液晶パネル１に形成されている複数の電
極１１のうち、たとえば最右端（移送方向に対しては最
前端）に位置する第１電極１１ａとその隣りに位置する
２番目の電極１１ｂがカメラ４によって撮像されると、
図４（ａ）に示すような画像データが得られる。この場
合、電極１１ａ，１１ｂは白色の画像領域Ｗ１，Ｗ２と
なり、それ以外のガラス板の領域は黒色となる（ただ
し、図４では便宜上、白色領域をクロスハッチングで示
している）。

【００２５】一方、各電極１１のサイズは予め判明して
おり、このパターンマッチング回路７２には、図４
（ｂ）に示すような、１つの電極１１の画像に相当する
画像データＧ１が予めそのメモリに格納されており、こ
の画像データＧ１を図４（ａ）で示した画像データにマ
ッチングさせる処理を行う。すなわち、このパターンマ
ッチング回路７２では、上記画像データＧ１の中心Ｏ
を、図４（ｃ）に示すように、座標Ｏ１，Ｏ２，Ｏ３〜
Ｏｎの順序で順次変化させてゆく。そして、図４（ｂ）
で示した画像データＧ１の白黒データの配置が、図４
（ａ）で示す画像領域Ｗ１と一致すれば、その位置が第
１電極１１ａの画像領域であると判断する。

【００２６】上記位置ずれ量算出部７３は、上記パター
ンマッチング回路７２によるパターンマッチングの結果
から、図４（ａ）に示すように、第１電極１１ａの画像
Ｗ１の中心座標Ｏｂがカメラ４の撮像中心Ｏａに対して
位置ずれしている寸法量Ｌ（実際の寸法量）を算出する
ものである。

【００２７】なお、上記したパターンマッチング処理
は、液晶パネル１の第１電極１１ａをカメラ４によって
適切に撮像できている場合には、１回のパターンマッチ
ング処理で十分であるが、電極１１の相互間のピッチは
微小であるため、必ずしも上記第１電極１１ａをカメラ
４によって常に適切に撮像できるとは限らない。すなわ
ち、たとえば図５（ａ）に示すように、第１電極１１ａ
の画像Ｗ１が、撮像領域Ｆよりも右側にはみ出しを生じ
るような場合がある。この場合には、２番目の電極１１
ｂの画像Ｗ２を第１電極１１ａの画像として誤認する虞
れがある。

【００２８】したがって、パターンマッチング回路７２
によって１通りのパターンマッチングが終了した後に
は、カメラ４を右側へ一定寸法だけ移動させ、再度パタ
ーンマッチング処理を行うことが望まれる。カメラ４の
移動により、たとえば図５（ｂ）に示すように、第１電
極１１ａの画像Ｗ１を撮像領域Ｆ内に配置させることが
でき、撮像中心Ｏａに対する第１電極１ａの画像Ｗ１の
中心Ｏｂの位置ずれ量Ｌを正確に求めることが可能とな
る。

【００２９】上記コントローラ８は、マイクロコンピュ
ータなどで構成されたものであり、上記位置ずれ量算出
部７３で算出された位置ずれ量Ｌのデータや、端面検知
センサ５からの入力信号などに基づき、この位置決め装
置の各部の動作制御を実行するものである。

【００３０】具体的には、まずこのコントローラ８は、
移送コンベア２によって移送される液晶パネル１の第１
電極１１ａをカメラ４の撮像領域内に配置させるように
移送コンベア２の動作制御を行う。すなわち、カメラ４
よりも移送コンベア２の上流側に配置された端面検知セ
ンサ５によって液晶パネル１の一端面１２が検知される
と、その検知信号の受信後に液晶パネル１を一定の距離
だけ移送させてから移送コンベア２を停止させる制御を
行う。この制御は、移送コンベア２の駆動制御を行う移
送コンベア駆動制御部２３に制御信号を送出することに
よって行われる。端面検知センサ５とカメラ４との相互
間の寸法は固定され、また液晶パネル１の一端面１２か
ら第１電極１１ａまでの距離も予め判明しているため
に、上記した制御によって、カメラ４の撮像領域内へほ
ぼ正確に第１電極１１ａを配置させることが可能であ
る。ただし、液晶パネル１の一端面１２に割れや欠けな
どが存在する場合があるために、必ずしも第１電極１１
ａの中心をカメラ４の撮像中心に正確に一致させること
はできない。

【００３１】次いで、上記コントローラ８は、カメラ４
や画像データ処理部７を作動させることにより、カメラ
４で撮像された画像データに基づき、液晶パネル１の第
１電極１１ａの中心Ｏｂと撮像中心Ｏａとの位置ずれ寸
法量Ｌを算出させる。そして、この位置ずれ寸法量Ｌの
データを位置ずれ量算出部７３から受信すると、その後
移動テーブル３を上記位置ずれ寸法量Ｌと同一寸法量だ
け、上記第１電極１１ａの位置ずれ方向と同一方向へ移
動させる。この制御は、移動テーブル３をＸ，Ｙ方向に
移動させるための移動テーブル動作制御部６１に制御信
号を送信することにより行われる。

【００３２】さらに、上記コントローラ８は、その後測
定プローブ６の最端部の端子６０ａを液晶パネル１の第
１電極１１ａの直上へ配置させるように、移動テーブル
３をなおも一定寸法だけＸ方向に沿って移動させる制御
を行う。この場合の移動テーブル３の移動寸法量は、カ
メラ４の撮像中心位置から測定プローブ６の最端部に位
置する端子６０ａの中心位置までの距離である。次い
で、コントローラ８は、その後測定プローブ６の昇降動
作を行わせるための測定プローブ動作制御部６３に制御
信号を送信する。これにより、図２に示すように、測定
プローブ６を支持する支持杆６２が下降し、測定プロー
ブ６の先端部の下面側に設けられている各端子６０を液
晶パネル１の各電極１１に対して導通接触させることが
できる。

【００３３】なお、上記説明では、一対の移動テーブル
３，３ａのうち、他方の移動テーブル３ａについての説
明は省略しているが、この他方側の移動テーブル３ａ
は、たとえば図６に示すように、ガラス基板１３Ａの左
右両側縁に、電極１１，１１Ａを各々一連に形成したタ
イプの液晶パネル１Ａを位置決め対象とする場合に用い
られるものである。すなわち、図１に示すように、移動
テーブル３ａには、上記電極１１Ａに接触させるための
端子６０Ａを備えた測定プローブ６ａが設けられてお
り、この測定プローブ６ａを用いて液晶パネル１Ａの検
査を行うときにのみ用いられる。上記液晶パネル１Ａで
は、一対の電極１１，１１Ａは同時に印刷形成され、電
極１１，１１Ａの相互間に位置ずれがないのが一般的で
あるから、この他方の移動テーブル３ａの位置決め制御
については、一方の移動テーブル３と同一動作を行わせ
ればよい。

【００３４】次に、上記した電子部品の位置決め装置を
用いた場合についての本願発明に係る電子部品の位置決
め方法の一例について説明する。

【００３５】まず、図１において、移送コンベア２に液
晶パネル１を供給し、矢印ａ方向に移送させる。する
と、この液晶パネル１の前面側の一端面１２が端面検知
センサ５によって検知され、その後移送コンベア２は一
定寸法だけ液晶パネル１を移送してからコントローラ８
の制御により停止する。これにより、液晶パネル１に形
成された複数の電極１１の形成領域うち第１電極１１ａ
を含む一端側の領域をカメラ４の撮像領域内に配置させ
ることができる。

【００３６】次いで、上記移送コンベア２を停止させた
状態において、カメラ４で上記液晶パネル１の第１電極
１１ａの周辺部を撮像させ、これによって得られた画像
データを画像データ処理部７で処理させる。この画像デ
ータ処理部７では、上記図４で説明したパターンマッチ
ング処理によって第１電極１１ａの画像Ｗ１の中心Ｏｂ
が求められ、さらにこの中心Ｏｂと撮像中心Ｏａとの位
置ずれ寸法量Ｌも算出される。この位置ずれ寸法量Ｌ
は、カメラ４の中心に対する第１電極１１ａの偏心量で
ある。

【００３７】なお、第１電極１１ａの位置ずれについて
は、Ｘ方向のみならず、Ｙ方向への位置ずれも考えられ
るが、液晶パネル１はその左右両側面１０ａ，１０ｂが
２条のベルト２０ａ，２０ｂによって挟まれ、Ｙ方向へ
の位置ずれが極力防止されたかたちで移送されているた
め、実際上はＹ方向への位置ずれを無視することが可能
である。

【００３８】上記のようにして、第１電極１１ａの位置
ずれ寸法量Ｌが求められると、コントローラ８は、その
位置ずれ方向と同一方向へその位置ずれ寸法量Ｌと同一
寸法だけ移動テーブル３を移動させる。これにより、第
１電極１１ａとカメラ４とはその中心どうしが互いに一
致する。そして、その後コントローラ８は、カメラ４の
中心から測定プローブ６の最端部の端子６０ａまでの寸
法Ｌａだけ移動テーブル３を矢印Ｘ１方向へ移動させ
る。これにより、図７に示すように、測定プローブ６の
最端部の端子６０ａを液晶パネル１の第１電極１１ａに
正確に一致させることができ、測定プローブ６の各端子
６０を各電極１１に対して精度よく位置合わせすること
ができる。

【００３９】なお、上記の位置合わせ作業に際しては、
移動テーブル３は停止させたままとし、液晶パネル１側
を移送させることにより位置合わせする方法を適用して
もよい。

【００４０】上記の位置合わせが終了した後には、上記
測定プローブ６を下降させ、その端子６０を液晶パネル
１の各電極１１に導通接触させ、測定プローブ６から液
晶パネル１への電力供給を行わせる。これにより、液晶
パネル１が正常に作動するか否かの確認が行えることと
なる。

【００４１】また、上記確認作業が終了した後には、移
動テーブル３を図１に示した元通りの位置へ復帰させ、
上記した一連の作業を繰り返して行えばよい。このよう
に、液晶パネル１に位置決め専用の認識用マークを設け
ていなくても、多数の液晶パネル１の位置決め作業と作
動の確認作業とを正確に、かつ能率よく行うことが可能
である。

【００４２】なお、上記実施例では、測定プローブ６を
用いて液晶パネル１の作動の確認作業を行う場合を一例
として説明したが（請求項２に対応）、本願発明はこれ
に限定されない。たとえば液晶パネル１のガラス基板の
測定検査などを行う用途などに本願発明に係る位置決め
方法を採用することも可能である。

【００４３】また、上記実施例では、電子部品の一例と
して液晶パネルを具体例として説明したが、やはり本願
発明はこれに限定されない。本願発明においては、たと
えば液晶パネル以外の表示素子や、各種電子回路用の素
子など、カメラによって撮像できる箇所に電極が形成さ
れている電子部品であれば、種々の電子部品の位置決め
用途に適用することが可能である。

【００４４】その他、本願発明に係る電子部品の位置決
め方法の各工程は種々に変更自在であり、さらに本願発
明に係る電子部品の位置決め装置の各部の具体的な構成
も種々に設計変更自在である。

【図面の簡単な説明】

【図１】本願発明に係る電子部品の位置決め装置の全体
構成の一例を示す概略平面図。

【図２】図１に示す電子部品の位置決め装置の要部の構
成を示す斜視図。

【図３】図１に示す電子部品の位置決め装置の回路構成
の一例を示すブロック図。

【図４】（ａ）〜（ｃ）はカメラで撮像された画像デー
タのパターンマッチング処理の一例を示す説明図。

【図５】（ａ），（ｂ）はパターンマッチング処理の他
の例を示す説明図。

【図６】液晶パネルの他の例を示す概略斜視図。

【図７】図１に示す電子部品の位置決め装置の動作状態
を示す概略平面図。

【図８】従来の電子部品の位置決め方法の一例を示す斜
視図。

【符号の説明】

１，１Ａ 液晶パネル（電子部品） ２ 移送コンベア ３，３ａ 移動テーブル ４ カメラ ５ 端面検知センサ ６，６ａ 測定プローブ ７ 画像データ処理部 ８ コントローラ １１ 電極 １１ａ 第１電極 ６０ 端子（測定プローブの） ６０ａ 端子（測定プローブの最端部の）

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 電子部品を所定箇所に設けられたカメラ
   の撮像領域内へ配置させた後に、そのカメラによって少
   なくとも上記電子部品の電極形成領域の一端部側の領域
   を撮像し、 次いでこの撮像された画像データに基づいて上記電子部
   品の電極形成領域のうち最端部に位置する第１電極の位
   置を求めることにより、この第１電極の位置とカメラの
   撮像中心との位置ずれ寸法量を算出し、 その後その算出された寸法量の位置ずれを解消すべくそ
   の位置ずれ寸法量に対応する寸法量だけ上記電子部品と
   上記カメラとの何れか一方を他方に相対させて移動させ
   ることを特徴とする、電子部品の位置決め方法。
2. 【請求項２】 上記電子部品の検査を行うための測定プ
   ローブが、上記カメラを支持する移動テーブルに取付け
   られており、 上記カメラの撮像中心と上記電子部品の第１電極との位
   置ずれを解消させた後には、上記測定プローブの最端部
   の端子を上記第１電極に位置合わせすべく上記移動テー
   ブルを所定寸法量だけ移動させることを特徴とする、請
   求項１に記載の電子部品の位置決め方法。
3. 【請求項３】 電子部品をカメラの撮像領域内へ移送し
   て配置する移送手段と、 少なくともこの移送手段と同一方向に沿って往復動自在
   に設けられ、かつ上記カメラを支持する移動テーブル
   と、 上記カメラによって撮像された電子部品の電極形成領域
   の画像データに基づいてその電極形成領域の最端部に位
   置する第１電極の位置を求めるとともに、この第１電極
   の位置とカメラの撮像中心との位置ずれ寸法量を算出す
   る画像データ処理手段とを備えていることを特徴とす
   る、電子部品の位置決め装置。