JP2003185596A - 薄型板状体の撮像処理方法および撮像処理装置 - Google Patents

薄型板状体の撮像処理方法および撮像処理装置

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JP2003185596A
JP2003185596A JP2001386832A JP2001386832A JP2003185596A JP 2003185596 A JP2003185596 A JP 2003185596A JP 2001386832 A JP2001386832 A JP 2001386832A JP 2001386832 A JP2001386832 A JP 2001386832A JP 2003185596 A JP2003185596 A JP 2003185596A
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sensor camera
thin plate
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JP2001386832A
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English (en)
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Toshiyuki Okada
敏幸 岡田
Hiroki Fukumoto
弘紀 福元
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 薄板基板などの薄型板状体の自重タワミによ
り取り込み画像がピンボケ状態となって、検査による欠
陥の検出性能などが低下することを防止できて、欠陥の
検出などを高精度に行える薄型板状体の撮像処理方法を
提供する。 【解決手段】 複数の撮像素子が所定の直線方向に配列
されたラインセンサカメラ8を薄型板状体からなる被撮
像物2の面状部に対向させて配置し、ラインセンサカメ
ラ8により被撮像物2の画像を取り込んで画像処理する
撮像処理方法において、被撮像物2を、ラインセンサカ
メラ8の撮像素子配列方向(Y方向)と直交する方向
(X方向)に湾曲させて保持した状態で、ラインセンサ
カメラ8により撮像する。これにより、被撮像物2にお
けるラインセンサカメラ48撮像素子配列方向のタワミ
量を低減させた状態で撮像できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶やPDP(プ
ラズマ・ディスプレイ・パネル)といった薄板基板のパ
ターン異常や異物などの欠陥を検出するためなどに適し
た薄型板状体の撮像処理方法および撮像処理装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】今日において、液晶、PDPといったデ
ィスプレイパネルの解像度が向上し、この種のパネル
(薄板基板)を形成する電極や、その他のパターンの微
細化が進んでいる。それに伴い、製造工程でのパターン
異常や異物の付着等によりパネルの歩留まりが低下し、
これらの不良原因によるロスコストがパネルのコストダ
ウンを阻害している。
【0003】そこで、近年では、パネルを撮像するとと
もに、その撮像データから、パネル内の電極等のパター
ン欠陥や異物を、画像処理により検出する撮像検査装置
を導入し、この撮像検査装置を用いた検査において不良
と判定したパネルを修正して手直しを加えることにより
良品パネルに再生し、ロスコストを削減する取り組みが
なされている。
【0004】図5は、このような撮像検査装置の一例と
して、PDPパネルの電極部分の欠陥検査に使用される
撮像検査装置を示す斜視図である。図5に示すように、
撮像検査装置は、基台1と、被検査物である薄板基板
(被検査パネルと称す)2を基台1上に保持する保持手
段としてのワークテーブル3と、基台1上に設けられた
X方向ガイド4に沿って駆動自在とされたX駆動台5
と、X駆動台5において、X方向に直交するY方向に移
動自在に支持され、モータにより回転駆動されるY駆動
軸6aによりY方向に駆動されるY駆動台6と、被検査
パネル2に下方から光を照射させる透過照明部7と、画
像の取り込みを行うラインセンサカメラ8と、ラインセ
ンサカメラ8と被検査パネル2との距離を測定するオー
トフォーカスセンサ9と、このオートフォーカスセンサ
9で測定した距離データに基づいて、ラインセンサカメ
ラ8と被検査パネル2との距離をラインセンサカメラ8
の焦点深度内で一定に保つように調整するオートフォー
カス軸10と、被検査パネル2の任意位置を拡大表示さ
せるレビューカメラ11とを備えている。
【0005】なお、透過照明部7は、X駆動台5におけ
る被検査パネル2よりも下方になる位置に取り付けられ
ている。また、Y駆動台6にはラインセンサカメラ8、
オートフォーカスセンサ9、レビューカメラ11が取り
付けられており、ラインセンサカメラ8はさらにオート
フォーカス軸10により昇降可能に支持されている。
【0006】ワークテーブル3は、X方向に沿うように
延設されており、被検査パネル2の両端部各辺を支持す
るように一対設けられ、被検査パネル2を載せる箇所が
ほぼ水平面となるように配設されている。
【0007】ラインセンサカメラ8には撮像素子として
のCCD素子が横方向(Y方向)に一列に配置されてお
り、一定周期でスキャンを行うことにより画像取り込み
を行う。図4はラインセンサカメラ8による画像取り込
みの原理を示す図である。図4において、12はカメラ
駆動方向(X方向)と直角方向(Y方向)に一列に並
び、ラインセンサカメラ8のCCD素子により取り込ま
れる個々の画素を示している。
【0008】例えば、ラインセンサカメラ8の分解能が
5μm×5μmであり、画素数が6000画素とした場
合、ラインセンサカメラ8の固定状態で5μm×30m
mの領域の画像取り込みが可能となる。ラインセンサカ
メラ8のスキャン周期が20kHzであれば、スキャン
方向の6000画素については1/20,000秒で画
像取り込みが可能である。したがって、ラインセンサカ
メラ8をスキャン方向と直角方向(カメラ駆動方向:X
方向)に連続的に100mm/secで駆動すれば、駆
動方向についても1/20,000秒での移動量が5μ
mとなり、画素12の切れ間無く連続的に画像取り込み
が可能になる。つまり、1秒間で30mm×100mm
の画像を取り込むことができる。
【0009】このような撮像検査装置を用いて、プラズ
マ・ディスプレイ・パネルの表面板における電極部分の
欠陥を検出する場合を例に挙げて説明する。図6はプラ
ズマ・ディスプレイ・パネルの表面板電極の概略図で、
図6(a)は背面板全体の電極構成図、図6(b)は電
極部を拡大した電極詳細図である。
【0010】ここで、図6(a)における13は表面板
電極、図6(b)における13aは電極部である。ま
ず、欠陥部の検出のために表面板電極13の電極部13
aの画像を取り込む必要がある。ここで、電極部13a
の領域は50型のプラズマ・ディスプレイ・パネルで幅
600mm、長さ1100mm程度であり、ラインセン
サカメラ8のスキャン幅は、検出分解能にもよるが、一
般に30mm程度である。したがって、図6(a)に示
すカメラ駆動方向(X方向)にラインセンサカメラ8を
走査すれば、一回の走査で電極幅600mmのうち1/
20である30mmの画像の取り込みが可能である。
【0011】このラインセンサカメラ8の走査はX駆動
台5を移動させることにより行う。そして、一回の走査
が完了すると、Y駆動台6を移動させてラインセンサカ
メラ8のスキャン幅である30mmのピッチ送りを行
い、さらにX駆動台5の移動動作によってラインセンサ
カメラ8の走査を行い、このようなX駆動台5の走査と
Y駆動軸6aによるY駆動台6のピッチ送りとを20回
繰り返すことにより、50型プラズマ・ディスプレイ・
パネルの電極部13a全体の画像を取り込むことが可能
である。
【0012】画像取り込みを行った電極部13aの画像
の一例を図7(a)に示す。この例において、撮像検査
装置により検出すべき欠陥Zは、アイランド、突起とい
った正規のパターン以外の形状である。そこで、ライン
センサカメラ8にて取り込んだ画像に前処理を行い、正
規のパターンを消した後、残った画像について欠陥Zの
検出を行う。
【0013】取り込んだ画像から正規のパターンを消去
する方法の一例としては、連続するパターンにおいて、
隣接したパターンとの画素の階調の差を求め、連続パタ
ーンのみを消去する方法が用いられている。この方法に
よって連続パターンを消去した例を図7(b)に示す。
このようにして連続パターンを消去した画像を用いて欠
陥Zの検出を行う。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】上記のような撮像検査
装置を用いてプラズマ・ディスプレイ・パネルの電極部
13aの欠陥検出を行う場合、ラインセンサカメラ8に
より、電極部13aの鮮明な画像を撮像する必要があ
る。ラインセンサカメラ8で鮮明な画像を得るには、被
検査パネル2をラインセンサカメラ8の焦点深度内に保
持する必要がある。
【0015】ラインセンサカメラ8の走査は、上述した
ようにX駆動台5を移動させながら行うが、この走査時
において常に、被検査パネル2がラインセンサカメラ8
の焦点深度内に入るようにすることが望ましい。したが
って、走査時においては、被検査パネル2とラインセン
サカメラ8との距離の測定をオートフォーカスセンサ7
により行い、ラインセンサカメラ8と被検査パネル2と
の距離(このオートフォーカスセンサ7の測定値)が常
に一定になるように、X駆動台5の移動動作に同期させ
てオートフォーカス軸10を動作させるよう制御してお
り、これにより、オートフォーカス軸10に取り付けら
れたラインセンサカメラ8を上下させて、被検査パネル
2の撮像箇所がラインセンサカメラ8の焦点深度内に位
置するよう図っている。
【0016】この撮像検査装置の性能を高めるために
は、ラインセンサカメラ8により鮮明な画像を取り込む
必要があるが、電極部13aとそれ以外の部分のコント
ラスト比が高い鮮明な画像を取り込むには、透過照明部
7を用いて被検査パネル2の裏側から照明を当てると効
果的にコントラスト比の高い画像を得ることができる。
これは、プラズマ・ディスプレイ・パネルの電極部13
aは光を通さず、それ以外のガラス部分は、光の大部分
を通すため、ラインセンサカメラ8には、電極部13a
は黒く、それ以外の部分は白い画像として取り込むこと
ができるからである。しかしながら、透過照明部7を用
いる場合、ワークテーブル3を電極部13aに掛かる部
分で保持すると透明照明9が影になり、鮮明な画像を取
り込むことができない。このため、被検査パネル2はパ
ネル全面の内、電極部13aがない端部をワークテーブ
ル3で保持しなければならない。他の方法としては、被
検査パネル2を透明なガラス基板で保持する方法が用い
られる場合もあるが、その場合、長時間の使用でガラス
基板に異物が付着して、欠陥Zと誤認識される危険性が
ある。
【0017】図2に示すように、被検査パネル2の両側
(両辺部)をワークテーブル3で保持した場合、図8
(a)に示すように、被検査パネル2は自重によりパネ
ル中心に向かって自重タワミが発生する。自重タワミが
発生している状況でのラインセンサカメラ8の焦点深度
と被検査パネル2との関係の模式図を図8に示す。図8
(a)はラインセンサカメラ8と被検査パネル2との位
置関係を示す斜視図、図8(b)は図8(a)のA方向
から矢視した拡大図である。被検査パネル2が50型の
プラズマ・ディスプレイ・パネルである場合、自重タワ
ミは中心部分で数mm程度となり、被検査パネル2の幅
が600mm、自重タワミ量が2mm、ラインセンサカ
メラ8のCCD素子幅が30mmとすると、タワミを直
線近似した場合、ラインセンサカメラ8におけるCCD
素子幅30mm間のタワミ量は、0.2mmとなる。検
査分解能10μm程度の欠陥を検出する場合のラインセ
ンサカメラ8の焦点深度は0.2mm程度であり、実際
の被検査パネル2のタワミ曲線は直線ではないため、被
検査パネル2の全面に渡ってはラインセンサカメラ8の
焦点深度内に入れることができず、高精細な画像を取り
込むことができなくなる。
【0018】すなわち、図5に示すように、オートフォ
ーカスセンサ7により被検査パネル2とラインセンサカ
メラ8との距離を測定して、被検査パネル2がラインセ
ンサカメラ8の焦点深度内に入るようにオートフォーカ
ス軸10を同期動作させながら画像を取り込む場合で
も、オートフォーカスセンサ7での測定点においてはラ
インセンサカメラ8の焦点に正確に合致させて撮像でき
るが、ラインセンサカメラ8のCCD素子の配列方向に
対して、上記のように被検査パネル2の自重タワミが発
生すると、オートフォーカスセンサ7での測定点から前
記CCD素子の配列方向に前記タワミによる寸法差を生
じるため、ラインセンサカメラ8におけるCCD素子幅
30mm間のタワミ量が、ラインセンサカメラ8の焦点
深度内に入らない恐れがあり、高精細な画像を取り込む
ことができずに、検査精度が低下してしまう。
【0019】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、プラズマ・ディスプレイ用パネルにおいて電極など
の欠陥を検出するための検査などの撮像処理において、
薄板基板などの薄型板状体の自重タワミにより取り込み
画像がピンボケ状態(撮像ラインの箇所がラインセンサ
カメラの焦点深度内に入らないことによる取り込み画像
がぼける状態)となって、検査による欠陥の検出性能が
低下することなどを防止できて、欠陥の検出などの処理
を高精度に行うことができる薄型板状体の撮像処理方法
および撮像処理装置を提供することを目的とする。
【0020】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
めに本発明の撮像処理方法は、複数の撮像素子が所定の
直線方向に配列されたラインセンサカメラを薄型板状体
からなる被撮像物の面状部に対向させて配置し、前記ラ
インセンサカメラにより被撮像物の画像を取り込んで画
像処理する薄型板状体の撮像処理方法であって、被撮像
物を、前記ラインセンサカメラの撮像素子配列方向と直
交する方向に湾曲させて保持した状態で、前記ラインセ
ンサカメラにより撮像することを特徴とする。
【0021】また、本発明の撮像処理装置は、複数の撮
像素子が所定の直線方向に配列されたラインセンサカメ
ラと、薄型板状体からなる被検査物を保持する保持手段
と、前記ラインセンサカメラにより取り込んだ被撮像物
の画像を処理する画像処理手段とを備え、前記ラインセ
ンサカメラを薄型板状体からなる被撮像物の面状部に対
向させて配置し、前記保持手段により被撮像物を、ライ
ンセンサカメラの撮像素子配列方向と直交する方向に対
して湾曲させて保持する構成としたことを特徴とする。
【0022】これらの撮像処理方法ならびに撮像処理装
置によれば、薄板基板などの薄型板状体の自重タワミに
より取り込み画像がピンボケ状態となることを防止でき
る。
【0023】
【発明の実施の形態】請求項1記載の発明は、複数の撮
像素子が所定の直線方向に配列されたラインセンサカメ
ラを薄型板状体からなる被撮像物の面状部に対向させて
配置し、前記ラインセンサカメラにより被撮像物の画像
を取り込んで画像処理する薄型板状体の撮像処理方法で
あって、被撮像物を、前記ラインセンサカメラの撮像素
子配列方向と直交する方向に湾曲させて保持した状態
で、前記ラインセンサカメラにより撮像することを特徴
とする。
【0024】請求項2記載の発明は、請求項1に記載の
薄型板状体の撮像処理方法において、被撮像物である薄
型板状体は薄板基板であり、薄板基板を検査するために
撮像することを特徴とする。
【0025】請求項3記載の発明は、請求項1または2
に記載の薄型板状体の撮像処理方法において、被撮像物
に光を照射して、被撮像物を透過する光をラインセンサ
カメラにより撮像することを特徴とする。
【0026】請求項4記載の発明は、請求項1〜3の何
れかに記載の薄型板状体の撮像処理方法において、被撮
像物に対してラインセンサカメラをその撮像素子配列方
向と直交する方向に沿って相対的に移動させるととも
に、ラインセンサカメラ側に取り付けらたオートフォー
カスセンサによりラインセンサカメラから被検査物にお
けるラインセンサカメラ撮像範囲の所定点までの距離を
測定して、この測定距離に合わせてラインセンサカメラ
の位置を調整しながら、撮像することを特徴とする。
【0027】本発明の請求項5記載の薄型板状体の撮像
処理装置は、複数の撮像素子が所定の直線方向に配列さ
れたラインセンサカメラと、薄型板状体からなる被検査
物を保持する保持手段と、前記ラインセンサカメラによ
り取り込んだ被撮像物の画像を処理する画像処理手段と
を備え、前記ラインセンサカメラを薄型板状体からなる
被撮像物の面状部に対向させて配置し、前記保持手段に
より被撮像物を、ラインセンサカメラの撮像素子配列方
向と直交する方向に対して湾曲させて保持する構成とし
たことを特徴とする。
【0028】請求項6記載の発明は、請求項5に記載の
薄型板状体の撮像処理装置において、被撮像物である薄
型板状体は薄板基板であり、薄板基板の処理画像に基づ
いて薄板基板を検査する検査手段を備えたことを特徴と
する。
【0029】請求項7記載の発明は、請求項5または6
に記載の薄型板状体の撮像処理装置において、ラインセ
ンサカメラにより撮像する被撮像物に対して光を照射し
て、ラインセンサカメラに被撮像物を通しての透過照明
を与える透過照明部を備えたことを特徴とする。
【0030】請求項8記載の発明は、請求項5〜7の何
れかに記載の薄型板状体の撮像処理装置において、被撮
像物に対してラインセンサカメラをその撮像素子配列方
向と直交する方向に沿って相対的に移動させる移動手段
を備え、保持手段は、前記移動方向に延びる対となった
載せ台で構成され、載せ台の載せ面が前記移動方向に対
して湾曲する形状に形成されていることを特徴とする。
【0031】請求項9記載の発明は、請求項5〜7の何
れかに記載の薄型板状体の撮像処理装置において、被撮
像物に対してラインセンサカメラをその撮像素子配列方
向と直交する方向に沿って相対的に移動させる移動手段
を備え、保持手段は、前記移動方向に延びる対となった
載せ台で構成され、載せ台には、前記移動方向に対して
湾曲する湾曲線に上端が沿うように突出された複数の載
置点が設けられていることを特徴とする。
【0032】請求項10記載の発明は、請求項5〜7の
何れかに記載の薄型板状体の撮像処理装置において、被
撮像物に対してラインセンサカメラをその撮像素子配列
方向と直交する方向に沿って相対的に移動させる移動手
段を備え、保持手段は、被検査物の前記移動方向に対し
て両端部となる両辺部またはその近傍箇所を保持する対
となった載せ台で構成され、これらの載せ台により被撮
像物を、ラインセンサカメラの撮像素子配列方向と直交
する方向に対して湾曲させて保持していることを特徴と
する。
【0033】請求項11記載の発明は、請求項8〜10
の何れかに記載の薄型板状体の撮像処理装置において、
ラインセンサカメラ側に取り付けられ、ラインセンサカ
メラから被検査物におけるラインセンサカメラ撮像範囲
の所定点までの距離を測定する距離測定手段と、この距
離測定手段にて測定した距離に合わせてラインセンサカ
メラの位置を調整する位置調整手段とを備えたことを特
徴とする。
【0034】上記請求項1記載の方法、ならびに、請求
項5記載の構成によれば、被撮像物が、ラインセンサカ
メラの撮像素子配列方向と直交する方向に湾曲させて保
持されるため、被撮像物が前記直交方向に直線状に沿う
形状に保持された場合と比較して、ラインセンサカメラ
の撮像素子配列方向に対しては被撮像物が曲がり難くな
り、その結果、被撮像物におけるラインセンサカメラ撮
像素子配列方向のタワミ量が低減され、この結果、ライ
ンセンサカメラの全ての撮像素子による被撮像物の撮像
箇所が全て焦点深度内に入ることとなって、高精細な画
像を取り込むことができる。
【0035】したがって、このような構成や方法を、上
記請求項2記載の方法、ならびに、請求項6記載の構成
のように、被撮像物である薄型板状体が薄板基板であ
り、薄板基板を検査するために撮像する場合に適用した
場合には、薄板基板の高精細な画像を取り込むことがで
きて、良好に検査することができる。
【0036】また、上記請求項3記載の方法、ならびに
請求項7記載の構成によれば、ラインセンサカメラによ
り被撮像物の透過画像を良好に得ることができる。ま
た、上記請求項4記載の方法によれば、被撮像物に対し
てラインセンサカメラをその撮像素子配列方向と直交す
る方向に沿って相対的に移動させて走査させる場合で
も、ラインセンサカメラの全ての撮像素子による被撮像
物の撮像箇所が全て焦点深度内に入ることとなって、高
精細な画像を取り込むことができる。
【0037】また、上記請求項8〜10記載の構成によ
れば、保持手段により、被撮像物を、ラインセンサカメ
ラの撮像素子配列方向と直交する方向に湾曲させた状態
で良好に保持することができる。
【0038】また、上記請求項11記載の構成によれ
ば、被撮像物に対してラインセンサカメラをその撮像素
子配列方向と直交する方向に沿って相対的に移動させて
走査させる場合でも、ラインセンサカメラの全ての撮像
素子による被撮像物の撮像箇所が全て焦点深度内に入る
こととなって、高精細な画像を取り込むことができる。
【0039】以下、本発明の実施の形態について図面を
参照して説明する。図1は本発明の実施の形態に係る撮
像検査装置を示す図である。図1に示すように、この撮
像検査装置は、基台1と、被検査物である薄板基板(被
検査パネルと称す)2を基台1上に保持する保持手段と
してのワークテーブル21と、基台1上に設けられたX
方向ガイド4に沿って駆動自在とされたX駆動台5と、
X駆動台5において、X方向に直交するY方向に移動自
在に支持され、モータにより回転駆動されるY駆動軸6
aによりY方向に駆動されるY駆動台6と、被検査パネ
ル2に下方から光を照射させる透過照明部7と、画像の
取り込みを行うラインセンサカメラ8と、ラインセンサ
カメラ8と被検査パネル2との距離を測定するオートフ
ォーカスセンサ9と、このオートフォーカスセンサ7で
測定した距離データに基づいて、ラインセンサカメラ8
と被検査パネル2との距離、より正確にはラインセンサ
カメラ8と被検査パネル2におけるフォーカスセンサ7
の測定点との距離を、ラインセンサカメラ8の焦点深度
内で一定に保つように調整するオートフォーカス軸10
と、被検査パネル2の任意位置を拡大表示させるレビュ
ーカメラ11とを備えている。
【0040】なお、透過照明部7は、X駆動台5におけ
る被検査パネル2よりも下方になる位置に取り付けられ
て、被検査パネル2に下方から光を照射させてラインセ
ンサカメラ8に被検査パネル2を通しての透過照明を与
えるようになっている。また、Y駆動台6にはラインセ
ンサカメラ8、オートフォーカスセンサ9、レビューカ
メラ11が取り付けられており、ラインセンサカメラ8
はさらにオートフォーカス軸10により昇降可能に支持
されている。
【0041】図4に示すように、ラインセンサカメラ8
には撮像素子としてのCCD素子が横方向(Y方向)に
一列に配置されており、一定周期でスキャンを行うこと
により画像取り込みを行う。ラインセンサカメラ8によ
る画像取り込みの原理は、図4に示すような従来のもの
と同様とされており、カメラ駆動方向(X方向)と直角
方向(Y方向)に一列に並ぶ個々の画素が、ラインセン
サカメラ8のCCD素子により取り込まれる。
【0042】ラインセンサカメラ8の分解能が5μm×
5μmであり、画素数が6000画素とした場合、ライ
ンセンサカメラ8の固定状態で5μm×30mmの領域
の画像取り込みが可能となる。ラインセンサカメラ8の
スキャン周期が20kHzであれば、スキャン方向の6
000画素については1/20,000秒で画像取り込
みが可能である。したがって、ラインセンサカメラ8を
スキャン方向と直角方向(カメラ駆動方向:X方向)に
連続的に100mm/secで駆動すれば、駆動方向に
ついても1/20,000秒での移動量が5μmとな
り、画素12の切れ間無く連続的に画像取り込みが可能
になる。つまり、1秒間で30mm×100mmの画像
を取り込むことができる。この画像取り込みを行うため
に、ラインセンサカメラ8をX駆動台5により等速に移
動させる。
【0043】被検査パネル2を保持するワークテーブル
21は、X方向に延設されており、被検査パネル2のY
軸方向両端部となる各辺を支持するように一対設けられ
ている。そして特に、図2(a)に示すように、被検査
パネル2がラインセンサカメラ8の駆動方向、つまり、
X駆動台4の駆動方向(X方向)に対して上下に湾曲す
るように、ワークテーブル21の載せ面21aが、X方
向に対して上下に湾曲する形状に形成されている。ま
た、この実施の形態では、ワークテーブル21の載せ面
21aが、ワークテーブル21の中心位置で被検査パネ
ル2が最も高くなる形状に形成されている。なお、図2
(a)に示すように、ワークテーブル21の載せ面21
aにより被検査パネル2の端部全面を保持する構成とす
る代わりに、図2(b)に示すように、ワークテーブル
21として、X方向に対して湾曲する湾曲線に上端が沿
うように上方に柱状に延びる形状に突出された複数の分
割支持部材21bを設けて、この分割支持部材21bの
上端面により、被検査パネル2の両辺部を支持するよう
にしてもよい。
【0044】上記構成において、透過照明部7により被
検査パネル2に下方から光を照射させた状態で、X駆動
台5を駆動させて被検査パネル2に対してラインセンサ
カメラ8をX方向に沿って一定速度で移動させて、ライ
ンセンサカメラ8により被検査パネル2を通した透過画
像を撮像しながら走査させる。また、X方向の走査が終
了すると、Y方向にピッチ送りを行い、これらのX方向
の走査とY方向へのピッチ送りとを繰り返す。
【0045】X方向の走査時、すなわち撮像時には、被
検査パネル2とラインセンサカメラ8との距離の測定を
オートフォーカスセンサ7により行い、ラインセンサカ
メラ8と被検査パネル2のオートフォーカスセンサ7に
よる距離測定点との距離(すなわちオートフォーカスセ
ンサ7の測定値)が焦点距離に一致するように、X駆動
台5の動作に同期させてオートフォーカス軸10を動作
させる。
【0046】この場合に、上記構成によれば、被検査パ
ネル2が、ラインセンサカメラ8の撮像素子配列方向と
直交するX方向に湾曲させて保持されるため、図5に示
すように被検査パネル2がX方向に水平となるように保
持した場合と比較して、ラインセンサカメラ8の撮像素
子配列方向であるY方向に対しては被検査パネル2が曲
がり難くなり、その結果、被検査パネル2におけるY方
向(ラインセンサカメラ撮像素子配列方向)のタワミ量
が低減される。したがって、上記のように、ラインセン
サカメラ8をX方向に走査させる場合でも、ラインセン
サカメラ8の全ての撮像素子による被撮像物の撮像箇所
が全て焦点深度内に確実に入ることとなって、被検査パ
ネル2としての薄板基板の自重タワミによる画像のピン
ボケを防止して、高精細な画像を取り込むことができ
る。この結果、被検査パネル2に対して高精細な画像を
取り込み、検査による欠陥検出を高精度に行うことがで
きるため、検査の信頼性が向上する。
【0047】なお、この実施の形態においては、被検査
パネル2の中心部分を持ち上げて湾曲させる構成となっ
ているが、中心部分を下げて保持した場合でも、同様の
作用効果が得られる。
【0048】また、上記構成においては、保持手段とし
てのワークテーブル21により、被検査パネル2におけ
るY方向両端に位置する辺を支持した場合を述べたが、
これに限るものでなく、図3(a)、(b)に示すよう
に、Y方向に沿って延びる一対の載せ台22にて、被検
査パネル2におけるX方向両端に位置する辺を支持して
もよい。ただし、この場合においてもは、被検査パネル
2をX方向に対してたるませるなどして湾曲する形状に
なるように配設する。この構成によっても、被検査パネ
ル2におけるY方向(ラインセンサカメラ撮像素子配列
方向)のタワミ量が低減されるので、上記実施の形態と
同様の作用効果を得ることができる。
【0049】なお、上記撮像検査装置の構成ならびにそ
の撮像検査方法は、透過照明を必要とするなど、ワーク
テーブル全面で被検査パネル2を保持することができな
い構成の検査に特に有効であるが、これに限るものでは
ない。
【0050】また、上記実施の形態においては、薄板基
板(被検査パネル2)に対する欠陥や異物などの検査を
行う場合を述べたが、これに限るものではなく、薄型板
状体を良好に撮像して、その撮像画像に基づいて処理を
するどのようなものにも適用でき、この場合には薄型板
状体の高精細な画像を取り込むことができるため、処理
も良好な信頼性を得ながらできるものである。
【0051】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、薄
板基板などの薄型板状体を、ラインセンサカメラの撮像
素子配列方向と直交する方向に意図的に湾曲させて撮像
することにより、薄型板状体におけるラインセンサカメ
ラの撮像素子配列方向のタワミ量を低減させた状態で撮
像できるので、薄板基板などの薄型板状体の自重タワミ
による画像のピンボケを防止できて、パターン不良を高
精度に検出できるなど、良好な画像を用いて良好な処理
を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態に係る撮像検査装置の斜
視図である。
【図2】(a)および(b)はそれぞれ同撮像検査装置
のワークテーブルにて被検査パネルを保持した状態を簡
略的に示した図である。
【図3】(a)および(b)は本発明の他の実施の形態
に係る撮像検査装置のワークテーブルにて被検査パネル
を保持した状態を簡略的に示した斜視図および側面図で
ある。
【図4】ラインセンサカメラによる画像取り込みの原理
を示す図である。
【図5】従来の撮像検査装置の斜視図である。
【図6】プラズマ・ディスプレイ・パネルの表面板電極
を概略的に示すもので、(a)は背面板全体の電極構成
を示す図、(b)は電極部を拡大した図である。
【図7】電極パターンの欠陥を抽出する原理を説明する
もので、(a)は電極部を示す図、(b)は連続パター
ンを消去して欠陥の検出を行った状態を示す図である。
【図8】自重タワミが発生している状況でのラインセン
サカメラの焦点深度と被検査パネルとの関係を模式的に
示す図であり、(a)はラインセンサカメラと被検査パ
ネルとの位置関係を示す斜視図、(b)は図8(a)の
A方向から矢視した拡大図である。
【符号の説明】
2 被検査パネル(被撮像物:薄板基板:薄型板
状体) 5 X駆動台 6 Y駆動台 7 透過照明部 8 ラインセンサカメラ 9 オートフォーカスセンサ 10 オートフォーカス軸(位置調整手段) 12 画素 21、22 ワークテーブル(保持手段)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2G051 AA51 AB02 BA01 CA20 CB02 CD07 DA07 EA11 EA12 EA16 ED02 ED08 ED11 5B047 AA11 BA02 BB02 BC14 BC30 5C054 AA01 CA04 CD03 CF07 CG02 CH02 EA01 EA05 FC12 FC15 GB11 HA05 5C061 BB03 BB05 CC09 EE21

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の撮像素子が所定の直線方向に配列
    されたラインセンサカメラを薄型板状体からなる被撮像
    物の面状部に対向させて配置し、前記ラインセンサカメ
    ラにより被撮像物の画像を取り込んで画像処理する薄型
    板状体の撮像処理方法であって、被撮像物を、前記ライ
    ンセンサカメラの撮像素子配列方向と直交する方向に湾
    曲させて保持した状態で、前記ラインセンサカメラによ
    り撮像することを特徴とする薄型板状体の撮像処理方
    法。
  2. 【請求項2】 被撮像物である薄型板状体は薄板基板で
    あり、薄板基板を検査するために撮像することを特徴と
    する請求項1に記載の薄型板状体の撮像処理方法。
  3. 【請求項3】 被撮像物に光を照射して、被撮像物を透
    過する光をラインセンサカメラにより撮像することを特
    徴とする請求項1または2に記載の薄型板状体の撮像処
    理方法。
  4. 【請求項4】 被撮像物に対してラインセンサカメラを
    その撮像素子配列方向と直交する方向に沿って相対的に
    移動させるとともに、ラインセンサカメラ側に取り付け
    らたオートフォーカスセンサによりラインセンサカメラ
    から被検査物におけるラインセンサカメラ撮像範囲の所
    定点までの距離を測定して、この測定距離に合わせてラ
    インセンサカメラの位置を調整しながら、撮像すること
    を特徴とする請求項1〜3の何れかに記載の薄型板状体
    の撮像処理方法。
  5. 【請求項5】 複数の撮像素子が所定の直線方向に配列
    されたラインセンサカメラと、薄型板状体からなる被検
    査物を保持する保持手段と、前記ラインセンサカメラに
    より取り込んだ被撮像物の画像を処理する画像処理手段
    とを備え、前記ラインセンサカメラを薄型板状体からな
    る被撮像物の面状部に対向させて配置し、前記保持手段
    により被撮像物を、ラインセンサカメラの撮像素子配列
    方向と直交する方向に対して湾曲させて保持する構成と
    したことを特徴とする薄型板状体の撮像処理装置。
  6. 【請求項6】 被撮像物である薄型板状体は薄板基板で
    あり、薄板基板の処理画像に基づいて薄板基板を検査す
    る検査手段を備えたことを特徴とする請求項5に記載の
    薄型板状体の撮像処理装置。
  7. 【請求項7】 ラインセンサカメラにより撮像する被撮
    像物に対して光を照射して、ラインセンサカメラに被撮
    像物を通しての透過照明を与える透過照明部を備えたこ
    とを特徴とする請求項5または6に記載の薄型板状体の
    撮像処理装置。
  8. 【請求項8】 被撮像物に対してラインセンサカメラを
    その撮像素子配列方向と直交する方向に沿って相対的に
    移動させる移動手段を備え、保持手段は、前記移動方向
    に延びる対となった載せ台で構成され、載せ台の載せ面
    が前記移動方向に対して湾曲する形状に形成されている
    ことを特徴とする請求項5〜7の何れかに記載の薄型板
    状体の撮像処理装置。
  9. 【請求項9】 被撮像物に対してラインセンサカメラを
    その撮像素子配列方向と直交する方向に沿って相対的に
    移動させる移動手段を備え、保持手段は、前記移動方向
    に延びる対となった載せ台で構成され、載せ台には、前
    記移動方向に対して湾曲する湾曲線に上端が沿うように
    突出された複数の載置点が設けられていることを特徴と
    する請求項5〜7の何れかに記載の薄型板状体の撮像処
    理装置。
  10. 【請求項10】 被撮像物に対してラインセンサカメラ
    をその撮像素子配列方向と直交する方向に沿って相対的
    に移動させる移動手段を備え、保持手段は、被検査物の
    前記移動方向に対して両端部となる両辺部またはその近
    傍箇所を保持する対となった載せ台で構成され、これら
    の載せ台により被撮像物を、ラインセンサカメラの撮像
    素子配列方向と直交する方向に対して湾曲させて保持し
    ていることを特徴とする請求項5〜7の何れかに記載の
    薄型板状体の撮像処理装置。
  11. 【請求項11】 ラインセンサカメラ側に取り付けら
    れ、ラインセンサカメラから被検査物におけるラインセ
    ンサカメラ撮像範囲の所定点までの距離を測定する距離
    測定手段と、この距離測定手段にて測定した距離に合わ
    せてラインセンサカメラの位置を調整する位置調整手段
    とを備えたことを特徴とする請求項8〜10の何れかに
    記載の薄型板状体の撮像処理装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005062148A (ja) * 2002-11-01 2005-03-10 Photon Dynamics Inc 平坦なパターン形成済み媒体検査用の方法と装置
JP2006090740A (ja) * 2004-09-21 2006-04-06 Ngk Spark Plug Co Ltd 配線基板の検査方法、配線基板の製造方法及び配線基板の検査装置
WO2011007651A1 (ja) * 2009-07-15 2011-01-20 有限会社共同設計企画 基板検査装置
CN104067100A (zh) * 2011-12-16 2014-09-24 住友化学株式会社 挠性光学测定用夹具

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