JP2009262422A - 印刷装置及びその制御方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】印刷装置の省スペース化を図りながら、マシンタクトを短縮できる印刷装置及びその制御方法を提供する。
【解決手段】印刷装置100は、プリント基板20の搬入時に、印刷マスク取付けベース30の側面に配置された基板用読取部31を用いてプリント基板20のアライメントマーク21,22を計測すると共に、プリント基板搬送テーブル40の側面に設けられたマスク用読取部41を用いて印刷マスク10のアライメントマーク11,12を計測し、これらのアライメントマークの位置に基づいて、プリント基板搬送テーブル40をXY方向及びθ回転方向に微調整して、プリント基板20及び印刷マスク10の位置合わせを行い、さらに、クリーム半田が印刷されたプリント基板20の搬出時に、基板用読取部31により、プリント基板20の品質を検査する。
【選択図】図1

Description

本発明は、印刷装置及びその制御方法に関し、更に詳しくは、プリント基板上で電子部品が実装される部分にクリーム半田を印刷する際に好適に用いられる印刷装置及びその制御方法に関する。
プリント基板上に電子部品を実装する際には、いわゆるスクリーン印刷装置が用いられる(例えば、特許文献1,2)。スクリーン印刷装置では、プリント基板と印刷マスク(印刷用スクリーンともいう)とを位置合わせした後に重ね合わせて、プリント基板上の電子部品が実装される部分(ランド)にクリーム半田を印刷する。
特許文献1の印刷装置は、印刷マスクの表面を走査して平面画像を読み込むマスク認識カメラと、プリント基板の表面を走査して平面画像を読み込む基板認識カメラとを有する。また、印刷装置は、印刷マスクの平面画像とプリント基板の平面画像の基準となる基準データを格納しておくメモリと、マスク認識カメラ及び基板認識カメラでそれぞれ読み取られた平面画像のズレをメモリ内の基準データと比較して、印刷マスクとプリント基板との位置を調整する制御部とを備える。
特許文献2の印刷装置は、複数のランドが形成された回路基板(プリント基板)の全面に亘って回路基板読取部により画像読取する。また、印刷装置は、ランド位置に対応して複数のランド用開口部が形成された印刷用スクリーンの全面に亘って印刷用スクリーン読取部により画像読取し、得られた画像データからランド用開口部及びランドの情報(ランド面積や隣接ランドとの距離)を検出する。さらに、印刷装置は、この検出されたランド用開口部及びランドの情報に基づいて、印刷用スクリーンとプリント基板とを相対的に移動させる。
特開平9−323401号公報 特開2002−160347号公報
近年、スクリーン印刷装置には、高速かつ高精度であること、さらに、省スペースであることが求められている。しかし、特許文献1,2に記載のスクリーン印刷装置では、印刷マスクの平面画像と、プリント基板の平面画像とを別々の位置、別々のカメラで認識し、その後に、プリント基板を印刷マスクの下に搬送して、印刷マスクとプリント基板との位置合わせを行っている。
そのため、特許文献1には、以下の問題点があった。即ち、プリント基板のアライメントマークを認識する場所を印刷ステージと別の場所に確保する必要があり装置サイズが大きくなる。また、マスク認識カメラを取り付けるXY軸と、基板認識カメラを取り付けるXY軸とが別々となり、画像認識の精度を落とす要因となっている。さらに、カメラが認識位置に移動して、アライメントマークを認識し、カメラが退避するまでの間は、その他の動作が停止しており、マシンタクトが長くなる。なお、マシンタクトとは、例えば、印刷装置により印刷対象に印刷が行われるまでに要する時間をいう。
これに対して、特許文献2の図6には、印刷マスクとプリント基板を粗決めした後に、印刷マスクとプリント基板の間に、回路基板読取部と印刷用スクリーン読取部とを一体化したカメラを挿入し、レンズを上下に切り替えてアライメントマークを認識した後に、位置合わせをする構成が記載されている。
しかし、上記構成では、以下の問題点があった。即ち、印刷マスクとプリント基板の間に上記カメラを挿入するスペースが必要であるので、装置サイズが大きくなる。また、認識後に印刷マスク又はプリント基板をZ軸方向に移動させる際に、該スペースが大きいので、Z軸方向の移動に伴い、位置合わせ精度が低下する可能性がある。さらに、特許文献1と同様に、カメラが移動して、アライメントマークを認識し、カメラが退避するまでの間に、その他の動作が停止しており、マシンタクトが長くなる。
本発明は、省スペース化を図りながら、マシンタクトを短縮できる印刷装置及びその制御方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明は、第1のアライメントマークを有する印刷マスクを保持するマスクホルダと、
第2のアライメントマークを有する印刷対象を搭載するテーブルと、
前記テーブルを前記マスクホルダに対して相対的に、少なくともX方向に移動させる駆動装置と、
前記テーブルに一体的に支持され、前記テーブルの相対的なX方向の移動中に、前記第1のアライメントマークを読み取る第1の読取り手段と、
前記マスクホルダに一体的に支持され、前記テーブルの相対的なX方向の移動中に、前記第2のアライメントマークを読み取る第2の読取り手段と、
前記第1及び第2の読取り手段による読取り結果に従って、前記第1のアライメントマークと前記第2のアライメントマークのX−Y座標を演算する演算手段と、
前記演算手段による演算結果に従って、前記第1のアライメントマークと前記第2のアライメントマークとが整合するように、前記駆動装置を制御する制御装置とを備えることを特徴とする印刷装置を提供する。
また、本発明は、印刷対象を支持するテーブルを、印刷マスクを支持するマスクホルダに対して、X方向に相対的に移動させて、前記印刷マスクに形成された第1のアライメントマークと前記印刷対象に形成された第2のアライメントマークとを整合させて、前記印刷対象に印刷を行う印刷装置の制御方法であって、
前記テーブルの相対的なX方向の移動中に、前記テーブルに支持した第1の読取り手段によって前記第1のアライメントマークを読み取り、
前記テーブルの相対的なX方向の移動中に、前記マスクホルダに支持した第2の読取り手段によって前記第2のアライメントマークを読み取り、
前記第1及び第2の読取り手段による読取り結果に従って、前記第1のアライメントマークと前記第2のアライメントマークのX−Y座標を演算し、
前記演算結果に従って、前記第1のアライメントマークと前記第2のアライメントマークとを整合させることを特徴とする印刷装置の制御方法を提供する。
なお、本発明の用語である「相対的なX方向の移動」には、マスクホルダに対してテーブルを移動させるだけではなく、テーブルに対してマスクホルダを移動させることも含む。
本発明の印刷装置及びその制御方法によると、テーブルの相対的なX方向の移動中に、テーブルに支持した第1の読取り手段、及び第2の読取り手段により、第1及び第2のアライメントマークを読み取ることができる。その結果として、印刷装置の省スペース化を図りながら、マシンタクトを短縮できる。
以下、図面を参照し、本発明の例示的な実施の形態について詳細に説明する。図1は、本発明の一実施形態に係る印刷装置の構成を示す斜視図である。本印刷装置は、いわゆるスクリーン印刷装置として示されており、図2(a)は、図1に示す矢印Aの方向から見た一部を示す側面図であり、また、図2(b)は、矢印Bの方向から見た一部を示す上面図である。なお、同図には、X方向、Y方向、及びZ方向を示している。
印刷装置100は、印刷マスク10のアライメントマーク11,12とプリント基板20のアライメントマーク21,22とに基づいて、印刷マスク10とプリント基板20とを位置合わせした後に、双方を重ね合わせる。次いで、印刷装置100は、プリント基板20上の電子部品を実装する位置に、スキージ等によりクリーム半田を印刷する。
印刷装置100は、印刷マスク10を取り付ける印刷マスク取付けベース30と、基板用読取部31と、プリント基板20を保持するプリント基板搬送テーブル40と、マスク用読取部41とを備えている。基板用読取部31は、印刷マスク取付けベース30の側面に一体的に支持されている。マスク用読取部41は、プリント基板搬送テーブル40の側面に一体的に支持されている。
プリント基板搬送テーブル40は、X、Y、Z方向及びθ回転方向に移動可能な駆動機構50を有している。この駆動機構50は、X方向に駆動するためのX軸用ボールネジステージ51と、Y方向に駆動するためのY軸用ボールネジステージ52と、Z方向に駆動するためのZ軸用ボールネジステージ53と、θ回転方向に駆動するための回転機構54を備える。
次に、図3を参照して、上記駆動機構50、基板用読取部31及びマスク用読取部41の機能等について説明する。プリント基板搬送テーブル40の駆動機構50に含まれるX軸用、Y軸用及びZ軸用ボールネジステージ51〜53、さらに回転機構54は、パルスモータで駆動されている。パルスモータを含む各ステージ51〜53及び回転機構54は、同図に示すように、パソコン60で制御されており、パソコン60から出力される制御信号の1パルス単位で移動と位置決めが可能となる。
基板用読取部31は、1次元レーザー変位センサで構成されており、プリント基板20の表面の凹凸(凹凸データ)を読み取る機能を有する。なお、プリント基板20のアライメントマーク21,22は、凹部として形成されており、凹部を深くしても、印刷マスク10と接触することはない。また、基板用読取部31は、Y軸方向に角度を振って走査できる。つまり、基板用読取部31は、角度を変えながら、プリント基板20の表面でのY方向の高さ分布を検出することで、プリント基板20の1次元の凹凸データを読み取ることができる。
マスク用読取部41は、複数のCCD(charge coupled device)を1次元に並んで配設された1次元スキャナであって、印刷マスク10の画像(画像データ)を1次元的に読み取ることができる。なお、マスク用読取部41は、プリント基板搬送テーブル40のY方向に沿った側面に一体的に支持されているので、印刷マスク10のY方向の画像データを得ることができる。
これらの基板用読取部31及びマスク用読取部41は、いずれもパソコン60によって制御されている。このため、パソコン60は、任意のタイミングで、基板用読取部31から凹凸データを読み取り、また、マスク用読取部41から画像データを読み取ることができる。
また、基板用読取部31及びマスク用読取部41からそれぞれ読み取られた凹凸データ及び画像データは、パソコン60に内蔵されたメモリ61に記憶される。さらに、メモリ61は、後述するクリーム半田を印刷した後のプリント基板20の品質を検査する際に用いられる基準となるデータ(規格データ)を記憶している。
以下、図4〜図8を参照して、印刷装置100の動作について詳細に説明する。図4は、プリント基板20のアライメントマーク21,22と、印刷マスク10のアライメント11,12との位置合わせ(整合)を行う際の処理を示すフローチャートである。この位置合わせ処理は、図5(a)に示すプリント基板20の搬入時に伴う動作である。なお、以下に示す各処理は、パソコン60内の図示しない演算部又は制御部が主体となる。
まず、制御部は、駆動機構50を制御して、プリント基板搬送テーブル40を所定の位置に移動させる(ステップS11)。ステップS11では、この所定の位置が、制御部からの制御信号のパルス数に基づいて、プリント基板搬送テーブル40のX方向への移動距離を算出するための基準位置となる。
次に、制御部は、駆動機構50のX軸用ボールネジステージ51に含まれるパルスモータに対してパルスを印加して、1パルス分に対応する1ピッチ分だけ、プリント基板搬送テーブル40をX方向に移動させる(ステップS12)。
次に、制御部は、基板用読取部(1次元スキャナ)31を制御して、直下にプリント基板20が搬送されると、Y方向に角度を振ってプリント基板20の表面を走査させて、Y方向の高さ分布である凹凸データを読み取らせる。同時に、制御部は、マスク用読取部(1次元レーザー変位センサ)41を制御して、直上に印刷マスク10が位置すると、印刷マスク10の表面をY方向に走査させて、画像データを読み取らせる。このようにしてステップS13の処理が行われる。
続いて、制御部は、これらのデータを1次元に配列されたデータとしてメモリ61に記憶する(ステップS14)。なお、ステップS13で読み取った凹凸データ及び画像データは、共にY方向に沿って1次元に配列されたデータに相当する。
続いて、上記ステップS12〜S14の処理を、プリント基板20の搬送が完了するまで繰り返す(ステップS15)。搬送が完了すると(Y)、制御部は、メモリ61から1次元配列の凹凸データ及び画像データを読み出して、X方向に沿って読み取った順番に並べて合成し、プリント基板20全体の2次元凹凸データ、及び印刷マスク10全体の2次元画像データを作成し、メモリ61に記憶する(ステップS16)。
なお、ステップS15でプリント基板20の搬送が完了するまでの搬送動作では、プリント基板搬送テーブル40の上面と、印刷マスク取付けベース30の下面とのクリアランス、即ちZ方向の距離が小さくても、互いに接触することはない。例えば、ステップS16に示すように、基板用読取部31から2次元凹凸データが取得され、また、マスク用読取部41から2次元画像データを取得される。これは、基板用読取部31及びマスク用読取部41が、上記したように、印刷マスク取付けベース30及びプリント基板搬送テーブル40の側面にそれぞれ一体的に支持されていることに起因する。
次に、図6を参照して、ステップS16の合成処理について説明する。制御部は、例えば、データD0〜D9からなるY方向に沿って配列された1次元の画像データを、X方向に10ピッチ分移動した際に取得した10列分を並べる。これにより、同図に示すように、10×10からなる2次元画像データが形成される。また、制御部は、2次元凹凸データを作成する際も同様に、1次元の凹凸データをX方向に沿って例えば10列分並べることで、1次元の凹凸データを合成することができる。なお、同図では、印刷マスク10のアライメントマーク11,12の位置を示した。
続いて、演算部は、ステップS16で作成したプリント基板20の2次元凹凸データと、印刷マスク10の2次元画像データとを読み取る。演算部は、これらのデータに基づいて、プリント基板20のアライメントマーク21,22と印刷マスク10のアライメントマーク11,12との位置情報を算出して、補正計算を行う(ステップS17)。なお、補正計算とは、印刷マスク10に対するプリント基板20のXY方向のずれ量と、θ回転方向のずれ量(以下、θ回転量という)とを算出し、これらのずれ量に基づいて最終補正量を計算することをいう。
以下、図7及び図8を参照して、ステップS17での補正計算について具体的に説明する。図7は、ステップS17での補正計算に伴う各処理を示すフローチャートである。まず、演算部は、プリント基板20の2次元凹凸データと、印刷マスク10の2次元画像データに2値化処理を施す(ステップS21)。次に、演算部は、2値化したこれらのデータからアライメントマークを割り出し、メモリ61に登録済みのデータとのパターンマッチングを行う(ステップS22)。
続いて、演算部は、パターンマッチングの結果に基づいて、プリント基板20及び印刷マスク10のアライメントマークの中心座標を算出する(ステップS23)。なお、ここでのアライメントマークは、一般化のために、プリント基板20、印刷マスク10上の適宜の位置に形成されているものとした。即ち、図8に示すように、印刷マスク10の2つのアライメントマークの中心座標を(xa1,ya1)、(xa2,ya2)とし、プリント基板20の2つのアライメントマークの中心座標を(xb1,yb1)、(xb2,yb2)とした。
次に、演算部は、印刷マスク10に対するプリント基板20のXY方向のずれ量を計算して、XY方向における最終補正量を計算する(ステップS24)。以下、計算過程を示す。まず、印刷マスク10の2つのアライメントマークの中間座標を求める。この際、中間座標を(xa0,ya0)とすると、図8に示す2つのアライメントマークの中心座標を用いて、式(1)に示すように、
xa0=(xa2+xa1)/2
ya0=(ya2+ya1)/2 (1)
となる。
次に、プリント基板20の2つのアライメントマークの中間座標を求める。この際、中間座標を(xb0,yb0)とすると、図8に示す2つのアライメントマークの中心座標を用いて、式(2)に示すように、
xb0=(xb2+xb1)/2
yb0=(yb2+yb1)/2 (2)
となる。
続いて、印刷マスク10の中間座標と、プリント基板20の中間座標との差を求める。ここで、XY方向のずれ量を(xf’,yf’)とし、これを中間座標(xa0,ya0)(xb0,yb0)を用いると、式(3)に示すように、
Figure 2009262422
となり、印刷マスク10に対するプリント基板20のXY方向のずれ量が算出される。
この値に、基板用読取部31及びマスク用読取部41の取付け位置におけるXY方向のオフセット(xα,yα)を加えた最終補正量を(xf,yf)とすると、最終補正量は、式(4)に示すように、
Figure 2009262422
となる。
次に、演算部は、印刷マスク10に対するプリント基板20のθ回転量を計算して、θ方向における最終補正量を計算する(ステップS25)。以下、計算過程を示す。まず、印刷マスク10の2つのアライメントマークの傾きを求める。この際、図8に示す印刷マスク10の2つのアライメントマークの中心座標を用いると、アライメントマークの傾きθaは、式(5)に示すように、
Figure 2009262422
となる。
次に、プリント基板20の2つのアライメントマークの傾きを求める。この際、図8に示すプリント基板20の2つのアライメントマークの中心座標を用いると、アライメントマークの傾きθbは、式(6)に示すように、
Figure 2009262422
となる。
続いて、印刷マスク10の傾きθaと、プリント基板20の傾きθbとの差を求める。この差を、θ’とすると、式(7)に示すように、
Figure 2009262422
となり、印刷マスク10に対するプリント基板20のθ回転量が算出される。
この値に、基板用読取部31及びマスク用読取部41の取付け位置におけるθ回転のオフセットθαを加えた最終補正量をθとすると、式(8)に示すように、
Figure 2009262422
となる。
再び、図4に戻って説明する。上記ステップS17での補正計算の後に、制御部は、式(4)に示すXY方向での最終補正量と、式(8)に示すθ方向での最終補正量とに従い、駆動機構50を制御して、プリント基板搬送テーブル40をXYθ方向に駆動して調整を行う。次いで、制御部は、プリント基板20のアライメントマークと印刷マスク10のアライメントマークを整合させて、位置合わせを行う(ステップS18)。
以下、印刷装置100の上記位置合わせ以降の動作として、プリント基板20に対するクリーム半田の印刷と、印刷後にプリント基板20を搬出する際に行われる品質検査について説明する。制御部は、上記位置合わせの後に、駆動機構50のZ軸用ボールネジステージ53を制御して、プリント基板搬送テーブル40をZ軸方向に上昇させて、印刷マスク10にプリント基板20を押し当てる。この状態で、プリント基板20上の電子部品が実装される位置に、スキージ等を用いてクリーム半田が印刷される。
このとき、Z軸方向への移動距離は、プリント基板20の上面の高さと、印刷マスク10の下面の高さとの差がないので、ほぼ「ゼロ」になる。そのため、プリント基板20の押し当てに伴う位置ズレを最小限に抑えることができる。
続いて、制御部は、図5(b)に示すように、プリント基板20上にクリーム半田23が印刷されると、プリント基板搬送テーブル40を、Z方向に沿って降下させる。さらに、制御部は、搬入時でのX方向の移動とは逆方向に移動させることで、プリント基板20を印刷マスク10の下から搬出させる。
この際に、制御部は、基板用読取部31を制御して、クリーム半田23が印刷されたプリント基板20の表面を走査して、Y方向に沿った1次元の凹凸データから2次元凹凸データを作成する。なお、2次元凹凸データを作成する処理は、搬入時での処理と同様であるから省略する。
次に、パソコン60内の検査部は、プリント基板20の半田印刷面の2次元凹凸データと、上記したプリント基板20の搬入動作中にメモリ61に記憶した印刷前のプリント基板20全体の2次元凹凸データとを比較して実際の半田の厚みを算出する。さらに、検査部は、実際の半田の厚みと、メモリ61に記憶されている規格データと比較することで、品質検査を行う。以下、図9を参照して、具体的に説明する。
検査部は、図9に示すように、半田印刷面の凹凸の高さd1と、同位置での印刷前でのプリント基板20の凹凸の高さd0との差d1−d0を求め、この差をプリント基板20の所定位置での実際の半田の厚みd2とする。次に、検査部は、メモリ61に記憶されている規格データ、即ちプリント基板20の同位置で品質が保障される半田厚みの値と、実際の半田厚みd2との差を求める。この差が規格外であれば品質を不良と判定する。
ところで、上記関連技術として説明した印刷装置を用いた場合には、別の装置又は、同一装置内の別の機構を用いて品質の検査を行う必要があった。そのため、検査のための独立した工程が必要であり、そのための時間も別途必要であった。これに対して、印刷装置100による品質検査では、搬出動作中に、印刷前及び印刷後に取得したプリント基板20の2次元凹凸データを比較して、実際の半田の厚みを算出する。
その結果、プリント基板20の反りや凹凸のばらつきの影響を受けずに、印刷後での実際の厚みを精度よく測定できる。また、プリント基板20がプリント基板搬送テーブル40の上で固定されており、物理的な位置ずれが生じない。そのため、基板用読取部31で印刷前と印刷後とを同じ状態で走査でき、品質検査を高精度に行うことができる。
このように、本実施形態の印刷装置100によれば、プリント基板20の搬入時に、位置合わせに必要な印刷マスク10とプリント基板20の表面データが取得できると共に、プリント基板20の搬出時に、印刷面の品質検査を行うことができる。その結果として、マシンタクトを増加することなく、効率的な動作を実現できる。
また、印刷マスク取付けベース30側からプリント基板20の表面を認識できると共に、プリント基板搬送テーブル40から印刷マスク10の表面を認識できるように、基板用読取部31とマスク用読取部41が配置されているので、省スペース化を図ることができ、また、認識に伴うマシンタクトを短縮できる。
さらに、プリント基板20と印刷マスク10とのXY方向及びθ方向の位置合わせを行った後に、Z方向への移動動作が最小限で済むので、押し付けによる誤差を最小限にできる。
上記実施形態では、X、Y、Z、及びθステージの駆動にボールネジを使用しているが、これに限定されず、ベルト駆動に置き換えてもよい。また、X、Y、Z、及びθステージの駆動源に、パルスモータを使用しているが、これに限定されず、サーボモータ等の他の駆動源に置き換えてもよい。さらに、マスク用読取部41の撮像素子としてCCDを使用しているが、これに限定されず、他の撮像素子に置き換えてもよい。
また、プリント基板20の凹凸データを1次元レーザー変位センサである基板用読取部31で読み取り、印刷マスク10の画像データを1次元スキャナであるマスク用読取部41を読み取るようにしたが、これに限定されず、基板用読取部31及びマスク用読取部41を1次元レーザー変位センサとしてもよい。
なお、上記実施形態では、印刷マスク取付けベース30に対してプリント基板搬送テーブル40を移動させてプリント基板20の搬送及び搬出動作を行っていたが、これに限定されず、プリント基板搬送テーブル40を固定して、印刷マスク取付けベース30を移動させてプリント基板20の搬入及び搬出動作を行ってもよい。
以上、本発明をその好適な実施形態に基づいて説明したが、本発明の印刷装置及びその制御方法は、上記実施形態の構成にのみ限定されるものではなく、上記実施形態の構成から種々の修正及び変更を施したものも、本発明の範囲に含まれる。
本発明の一実施形態に係る印刷装置の構成を示す斜視図。 (a)及び(b)は、図1に示す印刷装置の側面又は上面を示す図。 駆動機構、基板用読取部及びマスク用読取部の制御について示す図。 プリント基板と印刷マスクとの位置合わせの動作を示すフローチャート。 (a)及び(b)は、プリント基板の搬入時及び搬出時を示す図。 1次元配列のデータから2次元データを作成する際の概念図。 補正計算に伴う各処理を示すフローチャート。 プリント基板及び印刷マスクのアライメントマークの中心座標と中間座標を示す図。 品質検査を説明するための図。
符号の説明
10:印刷マスク
20:プリント基板
30:印刷マスク取付けベース
31:基板用読取部
40:プリント基板搬送テーブル
41:マスク用読取部
50:駆動機構
51:X軸用ボールネジステージ
52:Y軸用ボールネジステージ
53:Z軸用ボールネジステージ
60:パソコン
61:メモリ
100:印刷装置

Claims (5)

  1. 第1のアライメントマークを有する印刷マスクを保持するマスクホルダと、
    第2のアライメントマークを有する印刷対象を搭載するテーブルと、
    前記テーブルを前記マスクホルダに対して相対的に、少なくともX方向に移動させる駆動装置と、
    前記テーブルに一体的に支持され、前記テーブルの相対的なX方向の移動中に、前記第1のアライメントマークを読み取る第1の読取り手段と、
    前記マスクホルダに一体的に支持され、前記テーブルの相対的なX方向の移動中に、前記第2のアライメントマークを読み取る第2の読取り手段と、
    前記第1及び第2の読取り手段による読取り結果に従って、前記第1のアライメントマークと前記第2のアライメントマークのX−Y座標を演算する演算手段と、
    前記演算手段による演算結果に従って、前記第1のアライメントマークと前記第2のアライメントマークとが整合するように、前記駆動装置を制御する制御装置とを備えることを特徴とする印刷装置。
  2. 前記第2の読取り手段が、Y方向に走査されて前記印刷対象の表面のY方向の高さ分布を検出する変位検出手段である、請求項1に記載の印刷装置。
  3. 前記印刷対象の印刷が完了した後に前記変位検出手段によって検出された前記印刷対象の高さ分布と、基準の高さ分布とを比較し、印刷の品質を検査する検査手段を更に有する、請求項2に記載の印刷装置。
  4. 前記第1の読取り手段が、複数の光センサがY方向に並んで配設された一次元スキャナである、請求項1〜3の何れか一に記載の印刷装置。
  5. 印刷対象を支持するテーブルを、印刷マスクを支持するマスクホルダに対して、X方向に相対的に移動させて、前記印刷マスクに形成された第1のアライメントマークと前記印刷対象に形成された第2のアライメントマークとを整合させて、前記印刷対象に印刷を行う印刷装置の制御方法であって、
    前記テーブルの相対的なX方向の移動中に、前記テーブルに支持した第1の読取り手段によって前記第1のアライメントマークを読み取り、
    前記テーブルの相対的なX方向の移動中に、前記マスクホルダに支持した第2の読取り手段によって前記第2のアライメントマークを読み取り、
    前記第1及び第2の読取り手段による読取り結果に従って、前記第1のアライメントマークと前記第2のアライメントマークのX−Y座標を演算し、
    前記演算結果に従って、前記第1のアライメントマークと前記第2のアライメントマークとを整合させることを特徴とする印刷装置の制御方法。
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