JPH0876052A - 画像重ね合わせ光学装置 - Google Patents
画像重ね合わせ光学装置Info
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- JPH0876052A JPH0876052A JP21349394A JP21349394A JPH0876052A JP H0876052 A JPH0876052 A JP H0876052A JP 21349394 A JP21349394 A JP 21349394A JP 21349394 A JP21349394 A JP 21349394A JP H0876052 A JPH0876052 A JP H0876052A
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Abstract
向面の画像を重ね合わせた状態で観察でき、かつ、安価
にできる画像重ね合わせ光学装置を提供する。 【構成】 互いに対向する試料W1,W2 の対向面に光を
照射する照明系11,12と、対物レンズ5と、対物レン
ズ5で結像された画像を撮像する撮像手段6(カメラ
7,8)と、試料W1,W2 の対向面の画像を重ね合わせ
て対物レンズ5に入射させるビームスプリッタプリズム
12とを備える。試料W1,W2 の対向面の反射光はビー
ムスプリッタプリズム12によって重ね合わせたのち、
対物レンズ5を介して撮像手段6によって撮像されるか
ら、試料試料W1,W2 の対向面の間隔が狭い場合でも対
向面の画像を重ね合わせた状態で観察できる。
Description
面の画像を重ね合わせて観察する画像重ね合わせ光学装
置に関する。たとえば、ICパターンの欠陥検査などに
利用できる。
は、検査対象物とマスタとを対向配置した状態におい
て、互いに対向する対向面の画像を取り込み、これらを
重ね合わせて観察することによって、検査対象物の欠陥
を検査することが行われている。従来、対向する2物体
の対向面の画像を重ね合わせて観察するには、2本の対
物レンズを用い、それぞれの対物レンズによって各対向
面の画像を撮像し、これを重ね合わせた状態で観察する
ようにしていた。
方式では、2本の対物レンズを用いる関係から専有スペ
ースが比較的大きく、2物体の対向面の間隔が狭い場合
には観察が困難な場合があった。しかも、観察が可能な
場合でも、対物レンズを2本必要とするため、高価にな
りがちであった。
解決し、2物体の対向面の間隔が狭い場合でも2物体の
対向面の画像を重ね合わせた状態で観察でき、しかも、
安価にできる画像重ね合わせ光学装置を提供することに
ある。
光学装置は、対向する2物体の対向面の画像を重ね合わ
せて観察する画像重ね合わせ光学装置であって、前記2
物体の対向面に光を照射する照明系と、対物レンズと、
この対物レンズで結像された画像を撮像する撮像手段
と、前記2物体の対向面の画像を重ね合わせて前記対物
レンズに入射させる画像重ね合わせ光学系とを備えた構
成である。
2物体の対向面の間に配置され、対角面に前記一方の対
向面の画像を前記対物レンズ方向へ反射させるとともに
前記他方の対向面の画像を対物レンズ方向とは反対方向
へ反射させるビームスプリッタを有し、かつ、前記対物
レンズとは反対側の面に光反射面を有するビームスプリ
ッタプリズムから構成されたもの、前記2物体の対向面
の間に配置され、対角面に前記一方の対向面の画像を前
記対物レンズ方向へ反射させるとともに前記他方の対向
面の画像を対物レンズ方向とは反対方向へ反射させるビ
ームスプリッタを有するビームスプリッタプリズムと、
このビームスプリッタプリズムの前記対物レンズとは反
対側の面に対向配置されたミラーとから構成されたも
の、前記一方の対向面の画像を前記対物レンズの光軸上
に入射させるペンタプリズムと、前記他方の対向面の画
像を前記対物レンズの光軸上に入射させる菱形プリズム
と、前記対物レンズの光軸上に配置され前記ペンタプリ
ズムおよび菱形プリズムからの画像を重ね合わせて前記
対物レンズに入射させるキューブプリズムとから構成さ
れたもの、のいずれの構成でもよい。また、画像重ね合
わせ光学系に代えて、前記2物体の対向面の画像を交互
に前記対物レンズに入射させる可動ミラーを設けるとと
もに、交互に取り込まれる対向面の画像を記憶し互いに
重ね合わせて表示する手段を設けた、構成でもよい。
ね合わせ光学系によって2物体の対向面の画像が重ね合
わされたのち、対物レンズに入射される。すると、その
画像は、対物レンズによって結像されたのち、撮像手段
によって撮像される。従って、1本の対物レンズでよい
から、つまり、従来のように2本の対物レンズを用いな
くてもよいから、2物体の対向面の間隔が狭い場合でも
2物体の対向面の画像を重ね合わせた状態で観察でき、
しかも、安価にできる。
体の対向面の間に配置され、対角面に前記一方の対向面
の画像を前記対物レンズ方向へ反射させるとともに前記
他方の対向面の画像を対物レンズ方向とは反対方向へ反
射させるビームスプリッタを有し、かつ、前記対物レン
ズとは反対側の面に光反射面を有するビームスプリッタ
プリズムから構成すれば、よりコンパクトにできる。こ
の際、光反射面に代えて、ビームスプリッタプリズムの
前記対物レンズとは反対側の面にミラーを対向配置して
も、同様な効果が期待できる。また、画像重ね合わせ光
学系を、前記一方の対向面の画像を前記対物レンズの光
軸上に入射させるペンタプリズムと、前記他方の対向面
の画像を前記対物レンズの光軸上に入射させる菱形プリ
ズムと、前記対物レンズの光軸上に配置され前記ペンタ
プリズムおよび菱形プリズムからの画像を重ね合わせて
前記対物レンズに入射させるキューブプリズムとから構
成すれば、ペンタプリズムおよび菱形プリズムをそれぞ
れ別々に回動調整することによって、2物体の対向面の
画像を個別に位置調整しながら重ね合わすことができ
る。
記2物体の対向面の画像を交互に前記対物レンズに入射
させる可動ミラーを設けるとともに、交互に取り込まれ
る対向面の画像を記憶し互いに重ね合わせて表示する手
段を設けた構成とすれば、プリズムなどを用いることな
く構成できるから、光学系としてはより安価にできる。
細に説明する。本実施例の画像重ね合わせ光学装置の原
理を図1を参照しながら説明する。同図において、11,
12 は互いに対向する2物体(ここでは、検査対象物で
ある試料W1 とマスタである試料W2 )の対向面に光を
照射する照明系、5は対物レンズ、6は対物レンズ5で
結像された画像を撮像する撮像手段、11は試料W1,W
2 の対向面の画像を重ね合わせて前記対物レンズ5に入
射させる画像重ね合わせ光学系である。
2 と、光源21,22 からの光を平行光とするレンズ31,
32 と、レンズ31,32 からの平行光を試料W1,W2 に
向かって反射させるとともに試料W1,W2 からの反射光
を透過させるビームスプリッタ4 1,42 とから構成され
ている。前記撮像手段6は、対物レンズ5を透過した画
像を撮像する測定用高倍率白黒カメラ7と、対物レンズ
5を透過した光をビームスプリッタ9およびレンズ10
を介して分岐した光を撮像する観察用低倍率カラーカメ
ラ8とを含む。前記画像重ね合わせ光学系11は、前記
試料W1,W2 の対向面の間に配置され、対角面に前記一
方の対向面の画像を前記対物レンズ5方向へ反射させる
とともに前記他方の対向面の画像を対物レンズ5方向と
は反対方向へ反射させるビームスプリッタ12Aを有
し、かつ、前記対物レンズ5とは反対側の面に光反射面
12Bを有するビームスプリッタプリズム12によって
構成されている。
と、その光はレンズ31,32 により平行光とされたの
ち、ビームスブリッタ41,42 によって反射され試料W
1,W2に照射される。一方の試料W1 からの反射光は、
ビームスプリッタ41 を透過し、続いて、ビームスプリ
ッタプリズム12のビームスプリッタ12A面で反射さ
れる。他方の試料W2 からの反射光は、ビームスプリッ
タ42 を透過し、ビームスプリッタプリズム12のビー
ムスプリッタ12A面と光反射面12Bとで反射され、
続いて、ビームスプリッタ12A面を透過して一方の試
料W1 の反射光と重ね合わされたのち、対物レンズ5に
よって結像される。従って、観察用低倍率カラーカメラ
8を見ながら検査部位を確認し、その部位について測定
用高倍率白黒カメラ7によって重ね合わされた2つの試
料W1,W2 の画像を確認することによって、欠陥の有無
を検査することができる。
の具体的構造を図2〜図6を参照しながら詳細に説明す
る。図2は同画像重ね合わせ光学装置の外観を示してい
る。同図において、21は本体、22は本体21の先端
に螺合され内部に前記対物レンズ5を収納した対物レン
ズ鏡筒、23は対物レンズ鏡筒22の先端にその対物レ
ンズ鏡筒22の光軸を中心として回動可能かつ固定可能
に取り付けられた光照射ヘッド、24は前記光源21,2
2 からの光を前記光照射ヘッド23に供給する光ファイ
バ251,25 2 を保持するファイバガイドである。な
お、前記本体21には、その基端側に前記測定用高倍率
白黒カメラ7および観察用低倍率カラーカメラ8が装着
されているとともに、内部に前記ビームスプリッタ9や
レンズ10が収納されている。
に示すように、L字形状のベース31と、天板32と、
一対の側板331,332 と、端板34とから箱状に形成
されている。ベース31の起立片31Aは前記対物レン
ズ鏡筒22の先端部に回動可能かつ固定可能に保持され
ているとともに、水平片31Bには内部に前記ビームス
プリッタプリズム12を有するビームスプリッタプリズ
ムユニット35と、前記一対のビームスプリッタ41,4
2 と、ビームスプリッタプリズムユニット35を回動調
整する調整装置36とがそれぞれ設けられている。
5は、図5に示すように、前記L字形状ベース31の水
平片31Bに回動自在に支持された回転軸51と、この
回転軸51の上部に設けられたプリズムホルダ52と、
このプリズムホルダ52内に保持された前記ビームスプ
リッタプリズム12と、前記プリズムホルダ52の前端
面から前方へ向かって突出されたアーム53とから構成
されている。前記各ビームスプリッタ41,42 は、前記
ビームスプリッタプリズムユニット35を挟んだ両側で
かつ前記L字形状ベース31の水平片31Bに保持プレ
ート411,412 を介して斜めに取り付けられている。
前記調整装置36は、前記各ビームスプリッタ41,42
より前方でかつ前記L字形状ベース31の水平片31B
に設けられた支持ブロック421,422 と、この各支持
ブロック421,422 に螺合され前記ビームスプリッタ
プリズムユニット35のアーム53を両側から挟持する
調整ねじ431,432 とから構成されている。
252 から出射された光を前記ビームスプリッタ41,4
2 に反射させるミラーユニット441,442 が取り付け
られている。各ミラーユニット441,442 は、図6に
示すように、前記各ビームスプリッタ41,42 の真上で
かつ前記天板32に貫通支持され内部に前記レンズ3 1,
32 を有する第1の保持筒61と、この第1の保持筒6
1の上端面に斜めに取り付けられたミラー62と、前記
第1の保持筒61の上部に設けられ前記光ファイバ25
1,252 の先端部を保持する第2の保持筒63とから構
成されている。前記各側板331,332 には、前記ビー
ムスプリッタ41,42 によって両側外側へ向かって反射
された光を光照射ヘッド23の外側に位置する試料W1,
W2 へ出射する透過窓451,452 が形成されている。
各透過窓451,452 にはガラス461,462 が装着さ
れている。
ァイバ251,252 からの光は、ミラーユニット441,
442 のミラー62およびレンズ31,32 を介してビー
ムスプリッタ41,42 に入射され、そのビームスプリッ
タ41,42 で外側に反射されたのち、透過窓451,45
2 を通って試料W1,W2 に照射される。試料W1 からの
反射光は、ビームスプリッタ41を透過し、続いて、ビ
ームスプリッタプリズム12のビームスプリッタ12A
面で反射される。他方の試料W2 からの反射光は、ビー
ムスプリッタ42 を透過し、ビームスプリッタプリズム
12のビームスプリッタ12A面と光反射面12Bとで
反射され、続いて、ビームスプリッタ12A面を透過し
て一方の試料W1 の反射光と重ね合わされたのち、対物
レンズ5によって結像される。
光学装置とを相対移動させながら、観察用低倍率カラー
カメラ8で確認しながら検査部位に順次移動させる。各
検査部位では、測定用高倍率白黒カメラ7によって重ね
合わされた2つの試料W1,W 2 の画像を確認しながら、
欠陥の有無を検査することができる。
像とが図3中X方向にずれ、たとえば、図7(A)に示
すように撮像されていた場合には、次のようにして調整
する。調整装置36の調整ねじ432 を緩め、調整ねじ
431 をねじ込む。すると、アーム53を介してビーム
スプリッタプリズムユニット35が図3中反時計方向へ
回動される。すると、試料W1 の画像が図1中左側に、
試料W2 の画像が図1中右側にそれぞれ移動されるか
ら、これにより、図7(B)に示すように、試料W1 の
画像と試料W2 の画像とを重ね合わせることができる。
また、試料W1 の画像と試料W2 の画像とが図3中Y方
向にずれていた場合には、対物レンズ鏡筒22に対して
光照射ヘッド23を回動調整すればよい。
からの反射光を画像重ね合わせ光学系11によって重ね
合わせたのち、対物レンズ5を介して撮像手段6によっ
て撮像するようにしたので、つまり、1本の対物レンズ
でよいから、試料W1,W2 の対向面の間隔が狭い場合で
も試料W1,W2 の対向面の画像を重ね合わせた状態で観
察でき、かつ、安価にできる。
面にビームスプリッタ12Aを有するビームスプリッタ
プリズム12の対物レンズ5とは反対側の面に光反射面
12Bを形成した構成であるから、単一の部品で構成で
きる。つまり、部品点数を少なくできる。しかも、光反
射面12は金属の蒸着によって簡易に形成することがで
きる利点がある。
る照明系11,12 をそれぞれ別個に設けたので、各試料
W1,W2 の反射率が大きく異なる場合には、各照明系1
1,1 2 の光源21,22 の光量を調整すれば、最適な照度
にできる。なお、片側だけの試料W1,W2 を観察する場
合には、他の片側の照明系11,12 をオフするようにす
ればよい。
て説明したが、本発明は、この実施例に限られるもので
なく、本発明の要旨を逸脱しない範囲での変更が可能で
ある。たとえば、上記実施例では、有限遠光学系となっ
ているが、無限遠光学系を採用してもよい。その場合、
分岐後の倍率変更をチューブレンズにて行うことも可能
である。
ついては、図8または図9に示す構成でもよい。まず、
図8に示す画像重ね合わせ光学系112 は、前記試料W
1,W 2 の対向面の間に配置され、対角面に前記一方の対
向面の画像を前記対物レンズ5方向へ反射させるととも
に前記他方の対向面の画像を対物レンズ5方向とは反対
方向へ反射させるビームスプリッタ12Aを有するビー
ムスプリッタプリズム12と、このビームスプリッタプ
リズム12の前記対物レンズ5とは反対側の面に隙間を
隔てて対向配置されたミラー13とから構成されてい
る。つまり、上記実施例のビームスプリッタプリズム1
2から光反射面12Bが省略され、それに代わって、ミ
ラー13がベース31側に設けられている。この構成に
よれば、上記実施例で述べた効果のほかに、ミラー13
をC1 軸を中心に矢示方向に回動すると試料W2 からの
画像がX方向へ移動し、また、C2軸を中心に矢示方向
に回動すると試料W2 からの画像がY方向へ移動するの
で、試料W2 からの画像を個別に位置調整しながら重ね
合わせることができる。
13 は、前記一方の対向面の画像を前記対物レンズ5の
光軸上に入射させるペンタプリズム14と、前記他方の
対向面の画像を前記対物レンズ5の光軸上に入射させる
菱形プリズム15と、前記対物レンズ5の光軸上に配置
され前記ペンタプリズム14および菱形プリズム15か
らの画像を重ね合わせて前記対物レンズ5に入射させる
キューブプリズム16とから構成されている。また、照
明系13 は、落射照明用光源23 と、前記対物レンズ5
と撮像手段6との間の光軸上に配置され光源23 からの
光を対物レンズ5方向へ反射させるとともに、対物レン
ズ5を透過した光を透過させるビームスプリッタ43 と
を含んで構成されている。光源23 から出射された光
は、ビームスプリッタ43 で反射されたのち、対物レン
ズ5を経てキューブレンズ16に入射される。ここで、
光路aと光路bとに分岐される。光路aに分岐された光
は、ペンタプリズム14で2回反射されたのち、試料W
1 に照射される。光路bに分岐された光は、菱形プリズ
ム15で2回反射されたのち、試料W2 に照射される。
各試料W1,W2 からの反射光は、同経路をたどりキュー
ブプリズム16で重ね合わされたのち、対物レンズ5を
通じて撮像手段6で撮像される。この構成によれば、ペ
ンタプリズム14および菱形プリズム15をそれぞれ略
中央を中心として回動調整すれば、各試料W1,W2 の画
像がX方向に位置調整されるため、試料W1,W2 の対向
面の画像を個別に位置調整しながら重ね合わすことがで
きる。また、光源の数は、上記実施例より少なくてす
む。なお、反射率の異なる試料W1,W2 を観察する場合
には、各光路a,bにNDフィルタ17を設置すれば、
最適な照度が得られる。
せ光学系11に代えて、試料W1,W 2 の対向面の画像を
交互に対物レンズ5に入射させる可動ミラー18を設け
るとともに、撮像手段6によって撮像された対向面の画
像(交互に取り込まれた画像)を記憶し互いに重ね合わ
せて表示する記憶表示手段19を設けても、同様な効果
が得られる。なお、ここでは、図9のペンタプリズム1
4および菱形プリズム15の機能をミラーM1,M2,M3,
M4 で構成してある。また、照明系は、図示省略してあ
るが、図9の照明系13 と同じである。この場合には、
可動ミラー18を二点鎖線の状態に切り換えておくと、
試料W 1 の反射光はミラーM1,M2 で反射されたのち、
対物レンズ5によって結像される。このときの画像を撮
像手段6で撮像し、記憶表示手段19に記憶しておく。
次に、可動ミラー18を実線の状態に切り換えると、試
料W2 の反射光はミラーM3,M4 および可動ミラー18
で反射されたのち、対物レンズ5によって結像される。
従って、このときの画像を撮像手段6で撮像し、記憶表
示手段19に記憶しておき、先に記憶した画像と重ね合
わせて表示する。この構成によれば、プリズムなどを用
いることなく構成できるから、光学系としてはより安価
にできる。
タとの画像を重ね合わせて観察しながら検査対象物の欠
陥の有無を検出する場合について説明したが、本発明
は、これに限らず、対向する2物体の対向面の画像を重
ね合わせて観察するものであれば、全てに適用できる。
ば、2物体の対向面の間隔が狭い場合でも2物体の対向
面の画像を重ね合わせた状態で観察でき、しかも、安価
にできるという効果を奏する。
ある。
ある。
面図である。
トを示す斜視図である。
る。
を示す図である。
換えた状態の図である。
Claims (5)
- 【請求項1】 対向する2物体の対向面の画像を重ね合
わせて観察する画像重ね合わせ光学装置であって、 前記2物体の対向面に光を照射する照明系と、 対物レンズと、 この対物レンズで結像された画像を撮像する撮像手段
と、 前記2物体の対向面の画像を重ね合わせて前記対物レン
ズに入射させる画像重ね合わせ光学系とを備えたことを
特徴とする画像重ね合わせ光学装置。 - 【請求項2】 請求項1に記載の画像重ね合わせ光学装
置において、前記画像重ね合わせ光学系は、前記2物体
の対向面の間に配置され、対角面に前記一方の対向面の
画像を前記対物レンズ方向へ反射させるとともに前記他
方の対向面の画像を対物レンズ方向とは反対方向へ反射
させるビームスプリッタを有し、かつ、前記対物レンズ
とは反対側の面に光反射面を有するビームスプリッタプ
リズムから構成されている、ことを特徴とする画像重ね
合わせ光学装置。 - 【請求項3】 請求項1に記載の画像重ね合わせ光学装
置において、前記画像重ね合わせ光学系は、前記2物体
の対向面の間に配置され、対角面に前記一方の対向面の
画像を前記対物レンズ方向へ反射させるとともに前記他
方の対向面の画像を対物レンズ方向とは反対方向へ反射
させるビームスプリッタを有するビームスプリッタプリ
ズムと、このビームスプリッタプリズムの前記対物レン
ズとは反対側の面に対向配置されたミラーとから構成さ
れている、ことを特徴とする画像重ね合わせ光学装置。 - 【請求項4】 請求項1に記載の画像重ね合わせ光学装
置において、前記画像重ね合わせ光学系は、前記一方の
対向面の画像を前記対物レンズの光軸上に入射させるペ
ンタプリズムと、前記他方の対向面の画像を前記対物レ
ンズの光軸上に入射させる菱形プリズムと、前記対物レ
ンズの光軸上に配置され前記ペンタプリズムおよび菱形
プリズムからの画像を重ね合わせて前記対物レンズに入
射させるキューブプリズムとから構成されている、こと
を特徴とする画像重ね合わせ光学装置。 - 【請求項5】 請求項1に記載の画像重ね合わせ光学装
置において、画像重ね合わせ光学系に代えて、前記2物
体の対向面の画像を交互に前記対物レンズに入射させる
可動ミラーを設けるとともに、交互に取り込まれる対向
面の画像を記憶し互いに重ね合わせて表示する手段を設
けた、ことを特徴とする画像重ね合わせ光学装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21349394A JP3559071B2 (ja) | 1994-09-07 | 1994-09-07 | 画像重ね合わせ光学装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21349394A JP3559071B2 (ja) | 1994-09-07 | 1994-09-07 | 画像重ね合わせ光学装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0876052A true JPH0876052A (ja) | 1996-03-22 |
JP3559071B2 JP3559071B2 (ja) | 2004-08-25 |
Family
ID=16640119
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21349394A Expired - Fee Related JP3559071B2 (ja) | 1994-09-07 | 1994-09-07 | 画像重ね合わせ光学装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3559071B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005083399A1 (ja) * | 2004-02-27 | 2005-09-09 | Technical Co., Ltd | 多方向同時観察光学系、画像読み取り装置、画像読み取り方法および多方向同時観察光学系複合体 |
WO2005083398A1 (ja) * | 2004-02-27 | 2005-09-09 | Technical Co.,Ltd. | 多方向同時観察光学系、画像読み取り装置、画像読み取り方法および多方向同時観察光学系複合体 |
WO2006070444A1 (ja) * | 2004-12-27 | 2006-07-06 | Technical Co., Ltd. | 多方向同時観察光学系および画像読み取り装置 |
JP2007333639A (ja) * | 2006-06-16 | 2007-12-27 | Toshiba Corp | 検査装置 |
-
1994
- 1994-09-07 JP JP21349394A patent/JP3559071B2/ja not_active Expired - Fee Related
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WO2005083399A1 (ja) * | 2004-02-27 | 2005-09-09 | Technical Co., Ltd | 多方向同時観察光学系、画像読み取り装置、画像読み取り方法および多方向同時観察光学系複合体 |
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JPWO2005083399A1 (ja) * | 2004-02-27 | 2008-01-17 | 株式会社テクニカル | 多方向同時観察光学系、画像読み取り装置、画像読み取り方法および多方向同時観察光学系複合体 |
WO2006070444A1 (ja) * | 2004-12-27 | 2006-07-06 | Technical Co., Ltd. | 多方向同時観察光学系および画像読み取り装置 |
JP2007333639A (ja) * | 2006-06-16 | 2007-12-27 | Toshiba Corp | 検査装置 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP3559071B2 (ja) | 2004-08-25 |
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