JPH0875605A - Ｌｅｄチップ光学特性計測センサ - Google Patents
Ｌｅｄチップ光学特性計測センサInfo
- Publication number
- JPH0875605A JPH0875605A JP24053194A JP24053194A JPH0875605A JP H0875605 A JPH0875605 A JP H0875605A JP 24053194 A JP24053194 A JP 24053194A JP 24053194 A JP24053194 A JP 24053194A JP H0875605 A JPH0875605 A JP H0875605A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- led chip
- light
- groove
- measuring sensor
- optical characteristic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Led Devices (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 全体として小型化、薄型化が可能であり、Ｌ
ＥＤチップのセット位置にあまり影響を受けず安定した
計測データを得ることができるようにする。 【構成】 測定すべきＬＥＤチップがセットされる溝部
１１０を有する本体部１００と、溝部を覆うべく本体部
１００に取り付けられる遮光カバー２００と、ＬＥＤチ
ップからの光を受光する受光素子３００とを備え、溝部
１１０にはＬＥＤチップからの光を受光素子３００に導
く導出口１１１が設けられるとともに、ＬＥＤチップか
ら直接導出口１１１側に入射されなかった光を反射させ
て導出口１１１に導く放物線状の反射壁部１１２が設け
られており、遮光カバー２００にはＬＥＤチップに接触
するプローブを挿入する挿入孔２１０がＬＥＤチップの
セット位置に対応して設けられており、溝部１１０の導
出口１１１は本体部１１０の側面部に開口しており、導
出口１１１に受光素子３００の受光部３１０が臨んでい
る。
ＥＤチップのセット位置にあまり影響を受けず安定した
計測データを得ることができるようにする。 【構成】 測定すべきＬＥＤチップがセットされる溝部
１１０を有する本体部１００と、溝部を覆うべく本体部
１００に取り付けられる遮光カバー２００と、ＬＥＤチ
ップからの光を受光する受光素子３００とを備え、溝部
１１０にはＬＥＤチップからの光を受光素子３００に導
く導出口１１１が設けられるとともに、ＬＥＤチップか
ら直接導出口１１１側に入射されなかった光を反射させ
て導出口１１１に導く放物線状の反射壁部１１２が設け
られており、遮光カバー２００にはＬＥＤチップに接触
するプローブを挿入する挿入孔２１０がＬＥＤチップの
セット位置に対応して設けられており、溝部１１０の導
出口１１１は本体部１１０の側面部に開口しており、導
出口１１１に受光素子３００の受光部３１０が臨んでい
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＬＥＤチップの光学的
特性を計測するセンサに関する。
特性を計測するセンサに関する。
【０００２】
【従来の技術】ベアチップ状態のＬＥＤチップは、基板
にボンディングする前に光学的特性、例えば光量や色合
いを測定する必要がある。この光学的測定には図１０に
示すようなＬＥＤチップ光学特性計測センサが用いられ
ていた。
にボンディングする前に光学的特性、例えば光量や色合
いを測定する必要がある。この光学的測定には図１０に
示すようなＬＥＤチップ光学特性計測センサが用いられ
ていた。
【０００３】図１０（Ａ）に示すＬＥＤチップ光学特性
計測センサは、ＬＥＤチップ５００を１つずつ載置する
板状の載置板７１０と、この載置板７１０を覆う遮光容
器７２０と、この遮光容器７２０に設けられた導出口７
２１からの光を受ける受光素子３００とを有している。
また、前記遮光容器７２０には載置板７１０に載置され
たＬＥＤチップ５００の一方の電極に接触するプローブ
４００が挿入される挿入孔７２２が開設されている。こ
のプローブ４００には図外の電源が接続されている。さ
らに、前記載置板７１０は図外の電源に接続されている
とともに、ＬＥＤチップ５００の他方の電極に接触して
いる。
計測センサは、ＬＥＤチップ５００を１つずつ載置する
板状の載置板７１０と、この載置板７１０を覆う遮光容
器７２０と、この遮光容器７２０に設けられた導出口７
２１からの光を受ける受光素子３００とを有している。
また、前記遮光容器７２０には載置板７１０に載置され
たＬＥＤチップ５００の一方の電極に接触するプローブ
４００が挿入される挿入孔７２２が開設されている。こ
のプローブ４００には図外の電源が接続されている。さ
らに、前記載置板７１０は図外の電源に接続されている
とともに、ＬＥＤチップ５００の他方の電極に接触して
いる。
【０００４】ＬＥＤチップ５００からの光は、導出口７
２１を覆うように設けられた受光素子３００で受光され
る。また、図１０（Ｂ）に示すように、導出口７２１に
光ファイバ７３０を設けておき、当該光ファイバ７３０
によってＬＥＤチップ５００からの光を受光素子３００
にまで導くようにしてもよい。
２１を覆うように設けられた受光素子３００で受光され
る。また、図１０（Ｂ）に示すように、導出口７２１に
光ファイバ７３０を設けておき、当該光ファイバ７３０
によってＬＥＤチップ５００からの光を受光素子３００
にまで導くようにしてもよい。
【０００５】載置板７１０にＬＥＤチップ５００を載置
し、ＬＥＤチップ５００の他方の電極にプローブ４００
を接触させると、ＬＥＤチップ５００は発光する。
し、ＬＥＤチップ５００の他方の電極にプローブ４００
を接触させると、ＬＥＤチップ５００は発光する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来のＬＥＤチップ光学特性計測センサに以下のよう
な問題点がある。すなわち、ＬＥＤチップ５００は０．
３ミリ角程度の大きさであり市販の受光素子３００より
はるかに小さく、全方向に発散する光を集光するにはそ
の近傍に受光センサを配する必要がある。このため、Ｌ
ＥＤチップ光学特性計測センサが設置される周囲には空
間が必要となる。よって、ＬＥＤチップ光学特性計測セ
ンサの小型化、薄型化が非常に困難なのである。これ
は、ＬＥＤチップ光学特性計測センサを用いたＬＥＤチ
ップ選別装置等の設計の自由度を低減させることにな
る。
た従来のＬＥＤチップ光学特性計測センサに以下のよう
な問題点がある。すなわち、ＬＥＤチップ５００は０．
３ミリ角程度の大きさであり市販の受光素子３００より
はるかに小さく、全方向に発散する光を集光するにはそ
の近傍に受光センサを配する必要がある。このため、Ｌ
ＥＤチップ光学特性計測センサが設置される周囲には空
間が必要となる。よって、ＬＥＤチップ光学特性計測セ
ンサの小型化、薄型化が非常に困難なのである。これ
は、ＬＥＤチップ光学特性計測センサを用いたＬＥＤチ
ップ選別装置等の設計の自由度を低減させることにな
る。
【０００７】また、受光素子３００に受光される光は、
ＬＥＤチップ５００から直接受光素子３００（或いは光
ファイバ７３０）に照射される光の他に、遮光容器７２
０の壁部で反射された光もある。特に、遮光容器７２０
の反導出口側は単なる平面壁であるため、ＬＥＤチップ
５００から反導出口側に照射された光は少なくとも２回
の反射を繰り返して導出口７２１にまで導かれる。導出
口７２１に導かれた光の光量は減少している。このた
め、正確な光学的特性の測定は困難である。
ＬＥＤチップ５００から直接受光素子３００（或いは光
ファイバ７３０）に照射される光の他に、遮光容器７２
０の壁部で反射された光もある。特に、遮光容器７２０
の反導出口側は単なる平面壁であるため、ＬＥＤチップ
５００から反導出口側に照射された光は少なくとも２回
の反射を繰り返して導出口７２１にまで導かれる。導出
口７２１に導かれた光の光量は減少している。このた
め、正確な光学的特性の測定は困難である。
【０００８】また、反射の回数は、ＬＥＤチップ５００
の載置板７１０に対するセット位置によって変化する。
これにより、受光素子３００（或いは光ファイバ７３
０）に照射される光量が変化する。これでは、正確な光
学的特性の測定は困難である。
の載置板７１０に対するセット位置によって変化する。
これにより、受光素子３００（或いは光ファイバ７３
０）に照射される光量が変化する。これでは、正確な光
学的特性の測定は困難である。
【０００９】本発明は上記事情に鑑みて創案されたもの
で、全体として小型化、薄型化が可能であり、ＬＥＤチ
ップのセット位置にあまり影響を受けず安定した計測デ
ータを得ることができるＬＥＤチップ光学特性計測セン
サを提供することを目的としている。
で、全体として小型化、薄型化が可能であり、ＬＥＤチ
ップのセット位置にあまり影響を受けず安定した計測デ
ータを得ることができるＬＥＤチップ光学特性計測セン
サを提供することを目的としている。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明に係るＬＥＤチッ
プ光学特性計測センサは、測定すべきＬＥＤチップがセ
ットされる溝部を有する本体部と、前記溝部を覆うべく
前記本体部に取り付けられる遮光カバーと、前記ＬＥＤ
チップからの光を受光する受光素子とを備えており、前
記溝部にはＬＥＤチップからの光を前記受光素子に導く
導出口が設けられるとともに、ＬＥＤチップから直接導
出口側に入射されなかった光を反射させて前記導出口に
導く放物線状の反射壁部が設けられており、前記遮光カ
バーにはＬＥＤチップに接触するプローブを挿入する挿
入孔がＬＥＤチップのセット位置に対応して設けられて
いる。
プ光学特性計測センサは、測定すべきＬＥＤチップがセ
ットされる溝部を有する本体部と、前記溝部を覆うべく
前記本体部に取り付けられる遮光カバーと、前記ＬＥＤ
チップからの光を受光する受光素子とを備えており、前
記溝部にはＬＥＤチップからの光を前記受光素子に導く
導出口が設けられるとともに、ＬＥＤチップから直接導
出口側に入射されなかった光を反射させて前記導出口に
導く放物線状の反射壁部が設けられており、前記遮光カ
バーにはＬＥＤチップに接触するプローブを挿入する挿
入孔がＬＥＤチップのセット位置に対応して設けられて
いる。
【００１１】また、本発明に係るＬＥＤチップ光学特性
計測センサは、測定すべきＬＥＤチップがセットされる
溝部を有する本体部と、前記溝部を覆うべく前記本体部
に取り付けられる遮光カバーと、前記溝部に先端の凸レ
ンズ部が嵌め込まれる光ファイバと、前記ＬＥＤチップ
からの光を前記光ファイバを介して受光する受光素子と
を備えており、前記溝部にはＬＥＤチップから前記凸レ
ンズに直接入射されなかった光を反射させて凸レンズに
導く放物線状の反射壁部が設けられており、前記遮光カ
バーにはＬＥＤチップに接触するプローブを挿入する挿
入孔がＬＥＤチップのセット位置に対応して設けられて
いる。
計測センサは、測定すべきＬＥＤチップがセットされる
溝部を有する本体部と、前記溝部を覆うべく前記本体部
に取り付けられる遮光カバーと、前記溝部に先端の凸レ
ンズ部が嵌め込まれる光ファイバと、前記ＬＥＤチップ
からの光を前記光ファイバを介して受光する受光素子と
を備えており、前記溝部にはＬＥＤチップから前記凸レ
ンズに直接入射されなかった光を反射させて凸レンズに
導く放物線状の反射壁部が設けられており、前記遮光カ
バーにはＬＥＤチップに接触するプローブを挿入する挿
入孔がＬＥＤチップのセット位置に対応して設けられて
いる。
【００１２】
【実施例】図１は本発明の第１の実施例に係るＬＥＤチ
ップ光学特性計測センサの概略的分解斜視図、図２はこ
の第１の実施例に係るＬＥＤチップ光学特性計測センサ
でのＬＥＤチップから光の反射壁部における反射を示す
概略的平面図、図３はこの第１の実施例に係るＬＥＤチ
ップ光学特性計測センサの概略的断面図、図４は第１の
実施例におけるＬＥＤチップ光学特性計測センサでＬＥ
Ｄチップを反射壁部の焦点からＬＥＤチップを若干ずら
してセットした場合のＬＥＤチップから光の反射壁部に
おける反射を示す概略的平面図である。
ップ光学特性計測センサの概略的分解斜視図、図２はこ
の第１の実施例に係るＬＥＤチップ光学特性計測センサ
でのＬＥＤチップから光の反射壁部における反射を示す
概略的平面図、図３はこの第１の実施例に係るＬＥＤチ
ップ光学特性計測センサの概略的断面図、図４は第１の
実施例におけるＬＥＤチップ光学特性計測センサでＬＥ
Ｄチップを反射壁部の焦点からＬＥＤチップを若干ずら
してセットした場合のＬＥＤチップから光の反射壁部に
おける反射を示す概略的平面図である。
【００１３】図５は本発明の第２の実施例に係るＬＥＤ
チップ光学特性計測センサの概略的分解斜視図、図６は
この第２の実施例に係るＬＥＤチップ光学特性計測セン
サでのＬＥＤチップから光の反射壁部における反射を示
す概略的平面図、図７はこの第２の実施例に係るＬＥＤ
チップ光学特性計測センサの概略的断面図である。
チップ光学特性計測センサの概略的分解斜視図、図６は
この第２の実施例に係るＬＥＤチップ光学特性計測セン
サでのＬＥＤチップから光の反射壁部における反射を示
す概略的平面図、図７はこの第２の実施例に係るＬＥＤ
チップ光学特性計測センサの概略的断面図である。
【００１４】図８は本発明の第３の実施例に係るＬＥＤ
チップ光学特性計測センサの概略的分解斜視図、図９は
この第３の実施例に係るＬＥＤチップ光学特性計測セン
サでのＬＥＤチップから光の反射壁部における反射及び
光ファイバの凸レンズにおける集光を示す概略的平面図
である。
チップ光学特性計測センサの概略的分解斜視図、図９は
この第３の実施例に係るＬＥＤチップ光学特性計測セン
サでのＬＥＤチップから光の反射壁部における反射及び
光ファイバの凸レンズにおける集光を示す概略的平面図
である。
【００１５】第１の実施例に係るＬＥＤチップ光学特性
計測センサは、測定すべきＬＥＤチップ５００がセット
される溝部１１０を有する本体部１００と、前記溝部１
１０を覆うべく前記本体部１００に取り付けられる遮光
カバー２００と、前記ＬＥＤチップ５００からの光を受
光する受光素子３００とを有している。
計測センサは、測定すべきＬＥＤチップ５００がセット
される溝部１１０を有する本体部１００と、前記溝部１
１０を覆うべく前記本体部１００に取り付けられる遮光
カバー２００と、前記ＬＥＤチップ５００からの光を受
光する受光素子３００とを有している。
【００１６】前記本体部１００は、導電性を有し、かつ
光を反射する性質を有する軽合金等から構成されてい
る。この本体部１００に設けられる溝部１１０は、測定
すべきＬＥＤチップ５００の高さ寸法より若干大きい深
さ寸法を有している。また、溝部１１０の周囲には遮光
カバー２００の厚さ寸法と同一の深さ寸法を有する凹部
１２０が形成されている。
光を反射する性質を有する軽合金等から構成されてい
る。この本体部１００に設けられる溝部１１０は、測定
すべきＬＥＤチップ５００の高さ寸法より若干大きい深
さ寸法を有している。また、溝部１１０の周囲には遮光
カバー２００の厚さ寸法と同一の深さ寸法を有する凹部
１２０が形成されている。
【００１７】前記溝部１１０は、一方が本体部１００の
側面部に開口して導出口１１１となっている。また、溝
部１１０の他方は反射壁部１１２として形成されてい
る。かかる反射壁部１１２は、平面視放物線状に形成さ
れている。従って、反射壁部１１２の焦点Ｆに相当する
位置から反射壁部１１２に入射された光は、平行光線と
なって導出口１１１側に反射されるのである。このた
め、反射壁部１１２には鏡面処理が施されている。
側面部に開口して導出口１１１となっている。また、溝
部１１０の他方は反射壁部１１２として形成されてい
る。かかる反射壁部１１２は、平面視放物線状に形成さ
れている。従って、反射壁部１１２の焦点Ｆに相当する
位置から反射壁部１１２に入射された光は、平行光線と
なって導出口１１１側に反射されるのである。このた
め、反射壁部１１２には鏡面処理が施されている。
【００１８】このように構成された本体部１００は、図
外の電源に接続されている。すなわち、本体部１００
は、溝部１１０にセットされたＬＥＤチップ５００の一
方の電極に電気的に接続していることになる。
外の電源に接続されている。すなわち、本体部１００
は、溝部１１０にセットされたＬＥＤチップ５００の一
方の電極に電気的に接続していることになる。
【００１９】なお、ＬＥＤチップの他方の電極には、図
外の電源に接続されたプローブ４００が接続される。
外の電源に接続されたプローブ４００が接続される。
【００２０】前記遮光カバー２００は、凹部１２０に嵌
め込まれることによって本体部１００に取り付けられ、
導出口１１１を除いて溝部１１０を覆うものである。か
かる遮光カバー２００には、プローブ４００が挿入され
る挿入孔２１０が開設されている。この挿入孔２１０
は、図３にも示されているように、外面側が大径の逆円
錐台状に形成されている。これは、ＬＥＤチップ５００
からの光が挿入孔２１０、詳しくは挿入孔２１０とプロ
ーブ４００との間の隙間から外部に漏れ出るのを最小限
にするためである。なお、挿入孔２１０の小径部は挿入
されるプローブ４００の先端部よりは若干大きめである
ことは勿論である。
め込まれることによって本体部１００に取り付けられ、
導出口１１１を除いて溝部１１０を覆うものである。か
かる遮光カバー２００には、プローブ４００が挿入され
る挿入孔２１０が開設されている。この挿入孔２１０
は、図３にも示されているように、外面側が大径の逆円
錐台状に形成されている。これは、ＬＥＤチップ５００
からの光が挿入孔２１０、詳しくは挿入孔２１０とプロ
ーブ４００との間の隙間から外部に漏れ出るのを最小限
にするためである。なお、挿入孔２１０の小径部は挿入
されるプローブ４００の先端部よりは若干大きめである
ことは勿論である。
【００２１】前記受光素子３００は、受光部３１０を導
出口１１１に臨ませて本体部１００の側面部に取り付け
られる。かかる受光素子３００は、例えばフォトトラン
ジスタ等であり、受光部３１０に入射された光の光量、
すなわち受光量や色合い等に応じた信号を出力すること
ができるものである。
出口１１１に臨ませて本体部１００の側面部に取り付け
られる。かかる受光素子３００は、例えばフォトトラン
ジスタ等であり、受光部３１０に入射された光の光量、
すなわち受光量や色合い等に応じた信号を出力すること
ができるものである。
【００２２】このように構成されたＬＥＤチップ光学特
性計測センサにおいてＬＥＤチップ５００は、反射壁部
１１２の焦点Ｆに相当する位置において溝部１１０にセ
ットされる。従って、ＬＥＤチップ５００から反射壁部
１１０に入射された光は反射壁部１１０によって導出口
１１１側に平行光線として反射される。
性計測センサにおいてＬＥＤチップ５００は、反射壁部
１１２の焦点Ｆに相当する位置において溝部１１０にセ
ットされる。従って、ＬＥＤチップ５００から反射壁部
１１０に入射された光は反射壁部１１０によって導出口
１１１側に平行光線として反射される。
【００２３】測定すべきＬＥＤチップ５００を溝部１１
０の焦点Ｆにセットする。この状態で遮光カバー２００
でもって溝部１１０を覆い、遮光カバー２００の挿入孔
２１０からプローブ４００を挿入し、ＬＥＤチップ５０
０の電極にプローブ４００の先端を接触させる。
０の焦点Ｆにセットする。この状態で遮光カバー２００
でもって溝部１１０を覆い、遮光カバー２００の挿入孔
２１０からプローブ４００を挿入し、ＬＥＤチップ５０
０の電極にプローブ４００の先端を接触させる。
【００２４】本体部１００は、上述したように図外の電
源に接続されているから、ＬＥＤチップ５００は発光す
る。ＬＥＤチップ５００から反射壁部１１２側に照射さ
れた光は、図２に示すように、導出口１１１側に平行光
線として反射される。もちろん、反射壁部１１２に照射
されなかった光も導出口１１１側に導かれる。
源に接続されているから、ＬＥＤチップ５００は発光す
る。ＬＥＤチップ５００から反射壁部１１２側に照射さ
れた光は、図２に示すように、導出口１１１側に平行光
線として反射される。もちろん、反射壁部１１２に照射
されなかった光も導出口１１１側に導かれる。
【００２５】導出口１１１には、受光素子３００の受光
部３１０が臨んでいるので、ＬＥＤチップ５００から照
射された光は前記受光部３１０によって受光される。受
光素子３００は受光量や色合いに応じた信号を出力する
ので、受光素子３００の出力に応じてＬＥＤチップの光
学的特性を計測することができる。
部３１０が臨んでいるので、ＬＥＤチップ５００から照
射された光は前記受光部３１０によって受光される。受
光素子３００は受光量や色合いに応じた信号を出力する
ので、受光素子３００の出力に応じてＬＥＤチップの光
学的特性を計測することができる。
【００２６】ここで、ＬＥＤチップ５００を反射壁部１
１２の焦点Ｆではなく、図４に示すように、若干導出口
１１１側にセットすると、反射壁部１１２で反射された
光は平行光線としてではなく、導出口１１１の中央側に
収束するようになる。このようにすると、受光部３１０
の小さい受光素子３００等を使用する場合に好適とな
る。
１２の焦点Ｆではなく、図４に示すように、若干導出口
１１１側にセットすると、反射壁部１１２で反射された
光は平行光線としてではなく、導出口１１１の中央側に
収束するようになる。このようにすると、受光部３１０
の小さい受光素子３００等を使用する場合に好適とな
る。
【００２７】次に、第２の実施例に係るＬＥＤチップ光
学特性計測センサについて図４〜図７を参照しつつ説明
する。なお、第１の実施例に係るＬＥＤチップ光学特性
計測センサと略同一の部品等には同一の符号を付して説
明を行う。
学特性計測センサについて図４〜図７を参照しつつ説明
する。なお、第１の実施例に係るＬＥＤチップ光学特性
計測センサと略同一の部品等には同一の符号を付して説
明を行う。
【００２８】第２の実施例に係るＬＥＤチップ光学特性
計測センサは、測定すべきＬＥＤチップ５００がセット
される溝部１１０を有する本体部１００と、前記溝部１
１０を覆うべく前記本体部１００に取り付けられる遮光
カバー２００と、前記ＬＥＤチップ５００からの光を受
光する受光素子３００とを有している。この点では、上
述した第１の実施例に係るＬＥＤチップ光学特性計測セ
ンサと同様であるが、導出口１１１が以下の点で異な
る。
計測センサは、測定すべきＬＥＤチップ５００がセット
される溝部１１０を有する本体部１００と、前記溝部１
１０を覆うべく前記本体部１００に取り付けられる遮光
カバー２００と、前記ＬＥＤチップ５００からの光を受
光する受光素子３００とを有している。この点では、上
述した第１の実施例に係るＬＥＤチップ光学特性計測セ
ンサと同様であるが、導出口１１１が以下の点で異な
る。
【００２９】すなわち、第２の実施例に係るＬＥＤチッ
プ光学特性計測センサにおける導出口１１１は、本体部
１００の側面部ではなくいわば上面部に設けられている
のである。
プ光学特性計測センサにおける導出口１１１は、本体部
１００の側面部ではなくいわば上面部に設けられている
のである。
【００３０】この相違点のため、まず、本体部１００の
形状が第１の実施例のものとは異なる。第２の実施例に
係るＬＥＤチップ光学特性計測センサにおける本体部１
００は、図５に示すように、溝部１１０の反射壁部１１
２が放物線状に形成されている点は共通するが、本体部
１００の側面部には開口していない点で相違する。反射
壁部１１２と対向する側は、反射壁部１１２からみて登
り傾斜の傾斜面１１３として形成されているのである。
形状が第１の実施例のものとは異なる。第２の実施例に
係るＬＥＤチップ光学特性計測センサにおける本体部１
００は、図５に示すように、溝部１１０の反射壁部１１
２が放物線状に形成されている点は共通するが、本体部
１００の側面部には開口していない点で相違する。反射
壁部１１２と対向する側は、反射壁部１１２からみて登
り傾斜の傾斜面１１３として形成されているのである。
【００３１】この傾斜面１１３は、ＬＥＤチップ５００
からの光を上側に反射させるものであり、反射壁部１１
２と同様に鏡面処理が施されている。
からの光を上側に反射させるものであり、反射壁部１１
２と同様に鏡面処理が施されている。
【００３２】また、遮光カバー２００は少なくとも傾斜
面１１３を覆わない。この遮光カバー２００に覆われて
いない部分が導出口１１１となるのである。従って、受
光素子３００は、図５及び図７に示すように、受光部３
１０を傾斜面１１３に向けた状態で本体部１００に取り
付けられる。
面１１３を覆わない。この遮光カバー２００に覆われて
いない部分が導出口１１１となるのである。従って、受
光素子３００は、図５及び図７に示すように、受光部３
１０を傾斜面１１３に向けた状態で本体部１００に取り
付けられる。
【００３３】なお、遮光カバー２００には、本体部１０
０に取り付けた場合、反射壁部１１２の焦点Ｆに対応し
た位置にプローブ４００を挿入する挿入孔２１０が設け
られている点、その挿入孔２１０が逆円錐台状である点
は、第１の実施例のものと共通する。
０に取り付けた場合、反射壁部１１２の焦点Ｆに対応し
た位置にプローブ４００を挿入する挿入孔２１０が設け
られている点、その挿入孔２１０が逆円錐台状である点
は、第１の実施例のものと共通する。
【００３４】また、本体部１００には、取り付けられた
受光素子３００を左右両側から挟持する一対の挟持壁１
３０が設けられている。
受光素子３００を左右両側から挟持する一対の挟持壁１
３０が設けられている。
【００３５】このように構成されたＬＥＤチップ光学特
性計測センサにおいてＬＥＤチップ５００は、反射壁部
１１２の焦点Ｆに相当する位置において溝部１１０にセ
ットされる。従って、ＬＥＤチップ５００から反射壁部
１１０に入射された光は反射壁部１１０によって傾斜面
１１３側に平行光線として反射される。
性計測センサにおいてＬＥＤチップ５００は、反射壁部
１１２の焦点Ｆに相当する位置において溝部１１０にセ
ットされる。従って、ＬＥＤチップ５００から反射壁部
１１０に入射された光は反射壁部１１０によって傾斜面
１１３側に平行光線として反射される。
【００３６】測定すべきＬＥＤチップ５００を溝部１１
０の焦点Ｆにセットする。この状態で遮光カバー２００
でもって溝部１１０を覆い、遮光カバー２００の挿入孔
２１０からプローブ４００を挿入し、ＬＥＤチップ５０
０の電極にプローブ４００の先端を接触させる。
０の焦点Ｆにセットする。この状態で遮光カバー２００
でもって溝部１１０を覆い、遮光カバー２００の挿入孔
２１０からプローブ４００を挿入し、ＬＥＤチップ５０
０の電極にプローブ４００の先端を接触させる。
【００３７】ＬＥＤチップ５００は、本体部１００とプ
ローブ４００とから給電されて発光する。ＬＥＤチップ
５００から反射壁部１１２側に照射された光は、図６に
示すように、傾斜面１１３側に平行光線として反射され
る。もちろん、反射壁部１１２に照射されなかった光も
傾斜面１１３側に導かれる。
ローブ４００とから給電されて発光する。ＬＥＤチップ
５００から反射壁部１１２側に照射された光は、図６に
示すように、傾斜面１１３側に平行光線として反射され
る。もちろん、反射壁部１１２に照射されなかった光も
傾斜面１１３側に導かれる。
【００３８】傾斜面１１３に照射された光は、傾斜面１
１３によって上方に反射される。この傾斜面１１３は導
出口１１１となっており、当該導出口１１１には受光素
子３００の受光部３１０が臨んでいるので、ＬＥＤチッ
プ５００から照射された光は前記受光部３１０によって
受光される。受光素子３００は受光量や色合いに応じた
信号を出力するので、受光素子３００の出力に応じてＬ
ＥＤチップの光学的特性を計測することができる。
１３によって上方に反射される。この傾斜面１１３は導
出口１１１となっており、当該導出口１１１には受光素
子３００の受光部３１０が臨んでいるので、ＬＥＤチッ
プ５００から照射された光は前記受光部３１０によって
受光される。受光素子３００は受光量や色合いに応じた
信号を出力するので、受光素子３００の出力に応じてＬ
ＥＤチップの光学的特性を計測することができる。
【００３９】次に、第３の実施例に係るＬＥＤチップ光
学特性計測センサについて図８及び図９を参照しつつ説
明する。なお、第１又は第２の実施例に係るＬＥＤチッ
プ光学特性計測センサと略同一の部品等には同一の符号
を付して説明を行う。
学特性計測センサについて図８及び図９を参照しつつ説
明する。なお、第１又は第２の実施例に係るＬＥＤチッ
プ光学特性計測センサと略同一の部品等には同一の符号
を付して説明を行う。
【００４０】第３の実施例に係るＬＥＤチップ光学特性
計測センサは、測定すべきＬＥＤチップ５００がセット
される溝部１１０を有する本体部１００と、前記溝部１
１０を覆うべく前記本体部１００に取り付けられる遮光
カバー２００と、前記溝部１１０に先端の凸レンズ部６
１０が嵌め込まれる光ファイバ６００と、前記ＬＥＤチ
ップ５００からの光を前記光ファイバ６００を介して受
光する受光素子３００とを有している。
計測センサは、測定すべきＬＥＤチップ５００がセット
される溝部１１０を有する本体部１００と、前記溝部１
１０を覆うべく前記本体部１００に取り付けられる遮光
カバー２００と、前記溝部１１０に先端の凸レンズ部６
１０が嵌め込まれる光ファイバ６００と、前記ＬＥＤチ
ップ５００からの光を前記光ファイバ６００を介して受
光する受光素子３００とを有している。
【００４１】第３の実施例に係るＬＥＤチップ光学特性
計測センサが、第１又は第２の実施例に係るＬＥＤチッ
プ光学特性計測センサと異なる点は、ＬＥＤチップ５０
０からの光が光ファイバ６００によって受光素子５００
に導かれる点である。
計測センサが、第１又は第２の実施例に係るＬＥＤチッ
プ光学特性計測センサと異なる点は、ＬＥＤチップ５０
０からの光が光ファイバ６００によって受光素子５００
に導かれる点である。
【００４２】このため、本体部１００の溝部１１０は、
一方が本体部１００の側面部に開口している。この開口
している部分は光ファイバ６００が嵌まり込む部分であ
って、この開口に向かって溝部１１０は収束している。
一方が本体部１００の側面部に開口している。この開口
している部分は光ファイバ６００が嵌まり込む部分であ
って、この開口に向かって溝部１１０は収束している。
【００４３】すなわち光ファイバ６００の先端部は凸レ
ンズ６１０として形成されているので、溝部１１０の一
方側はこの凸レンズ６１０の外形に対応した形状に形成
されているのである。
ンズ６１０として形成されているので、溝部１１０の一
方側はこの凸レンズ６１０の外形に対応した形状に形成
されているのである。
【００４４】また、溝部１１０の他方側が、放物線状の
反射壁部１１２である点は、第１及び第２の実施例に係
るＬＥＤチップ光学特性計測センサと同様である。
反射壁部１１２である点は、第１及び第２の実施例に係
るＬＥＤチップ光学特性計測センサと同様である。
【００４５】さらに、その他の点、例えば遮光カバー２
００には、本体部１００に取り付けた場合、反射壁部１
１２の焦点Ｆに対応した位置にプローブ４００を挿入す
る挿入孔２１０が設けられている点、その挿入孔２１０
が逆円錐台状である点は、第１及び第２の実施例のもの
と共通する。
００には、本体部１００に取り付けた場合、反射壁部１
１２の焦点Ｆに対応した位置にプローブ４００を挿入す
る挿入孔２１０が設けられている点、その挿入孔２１０
が逆円錐台状である点は、第１及び第２の実施例のもの
と共通する。
【００４６】このように構成されたＬＥＤチップ光学特
性計測センサにおいてＬＥＤチップ５００は、反射壁部
１１２の焦点Ｆに相当する位置において溝部１１０にセ
ットされる。従って、ＬＥＤチップ５００から反射壁部
１１０に入射された光は反射壁部１１０によって光ファ
イバ６００の凸レンズ６１０側に平行光線として反射さ
れる。
性計測センサにおいてＬＥＤチップ５００は、反射壁部
１１２の焦点Ｆに相当する位置において溝部１１０にセ
ットされる。従って、ＬＥＤチップ５００から反射壁部
１１０に入射された光は反射壁部１１０によって光ファ
イバ６００の凸レンズ６１０側に平行光線として反射さ
れる。
【００４７】測定すべきＬＥＤチップ５００を溝部１１
０の焦点Ｆにセットする。この状態で遮光カバー２００
でもって溝部１１０を覆い、遮光カバー２００の挿入孔
２１０からプローブ４００を挿入し、ＬＥＤチップ５０
０の電極にプローブ４００の先端を接触させる。
０の焦点Ｆにセットする。この状態で遮光カバー２００
でもって溝部１１０を覆い、遮光カバー２００の挿入孔
２１０からプローブ４００を挿入し、ＬＥＤチップ５０
０の電極にプローブ４００の先端を接触させる。
【００４８】ＬＥＤチップ５００は、本体部１００と、
プローブ４００とによって給電されて発光する。ＬＥＤ
チップ５００から反射壁部１１２側に照射された光は、
図９に示すように、凸レンズ６１０側に平行光線として
反射される。もちろん、反射壁部１１２に照射されなか
った光も凸レンズ６１０側に導かれる。
プローブ４００とによって給電されて発光する。ＬＥＤ
チップ５００から反射壁部１１２側に照射された光は、
図９に示すように、凸レンズ６１０側に平行光線として
反射される。もちろん、反射壁部１１２に照射されなか
った光も凸レンズ６１０側に導かれる。
【００４９】光ファイバ６００の終端部には、受光素子
３００の受光部３１０が臨んでいるので、ＬＥＤチップ
５００から照射された光は前記受光部３１０によって受
光される。受光素子３００は受光量や色合いに応じた信
号を出力するので、受光素子３００の出力に応じてＬＥ
Ｄチップの光学的特性を計測することができる。
３００の受光部３１０が臨んでいるので、ＬＥＤチップ
５００から照射された光は前記受光部３１０によって受
光される。受光素子３００は受光量や色合いに応じた信
号を出力するので、受光素子３００の出力に応じてＬＥ
Ｄチップの光学的特性を計測することができる。
【００５０】
【発明の効果】本発明に係るＬＥＤチップ光学特性計測
センサは、測定すべきＬＥＤチップがセットされる溝部
を有する本体部と、前記溝部を覆うべく前記本体部に取
り付けられる遮光カバーと、前記ＬＥＤチップからの光
を受光する受光素子とを備えており、前記溝部にはＬＥ
Ｄチップからの光を前記受光素子に導く導出口が設けら
れるとともに、ＬＥＤチップから直接導出口側に入射さ
れなかった光を反射させて前記導出口に導く放物線状の
反射壁部が設けられており、前記遮光カバーにはＬＥＤ
チップに接触するプローブを挿入する挿入孔がＬＥＤチ
ップのセット位置に対応して設けられている。このた
め、ＬＥＤチップから照射された光、特に反射壁部に照
射された光が平行光線として導出口に導かれるため、反
射は反射壁部での１回だけになる。よって、導出口に導
かれる光の光量の減少は最小限に抑えられる。このた
め、従来のＬＥＤチップ光学特性計測センサより正確な
光学的特性の測定が可能となる。
センサは、測定すべきＬＥＤチップがセットされる溝部
を有する本体部と、前記溝部を覆うべく前記本体部に取
り付けられる遮光カバーと、前記ＬＥＤチップからの光
を受光する受光素子とを備えており、前記溝部にはＬＥ
Ｄチップからの光を前記受光素子に導く導出口が設けら
れるとともに、ＬＥＤチップから直接導出口側に入射さ
れなかった光を反射させて前記導出口に導く放物線状の
反射壁部が設けられており、前記遮光カバーにはＬＥＤ
チップに接触するプローブを挿入する挿入孔がＬＥＤチ
ップのセット位置に対応して設けられている。このた
め、ＬＥＤチップから照射された光、特に反射壁部に照
射された光が平行光線として導出口に導かれるため、反
射は反射壁部での１回だけになる。よって、導出口に導
かれる光の光量の減少は最小限に抑えられる。このた
め、従来のＬＥＤチップ光学特性計測センサより正確な
光学的特性の測定が可能となる。
【００５１】また、前記溝部の導出口は、本体部の側面
部に開口しており、当該導出口に受光素子の受光部が臨
んでいる。或いは、前記溝部の底面は、ＬＥＤチップか
らの光を遮光カバー側に反射させる傾斜面を有してお
り、遮光カバーは少なくとも前記傾斜面を覆わず、遮光
カバーに覆われていない部分を導出口として、当該導出
口に受光素子の受光部が臨んでいる。このため、周囲の
空間に応じたＬＥＤチップ光学特性計測センサとするこ
とができ、ＬＥＤチップ選別装置の設計の自由度を向上
させるので好都合である。
部に開口しており、当該導出口に受光素子の受光部が臨
んでいる。或いは、前記溝部の底面は、ＬＥＤチップか
らの光を遮光カバー側に反射させる傾斜面を有してお
り、遮光カバーは少なくとも前記傾斜面を覆わず、遮光
カバーに覆われていない部分を導出口として、当該導出
口に受光素子の受光部が臨んでいる。このため、周囲の
空間に応じたＬＥＤチップ光学特性計測センサとするこ
とができ、ＬＥＤチップ選別装置の設計の自由度を向上
させるので好都合である。
【００５２】一方、測定すべきＬＥＤチップがセットさ
れる溝部を有する本体部と、前記溝部を覆うべく前記本
体部に取り付けられる遮光カバーと、前記溝部に先端の
凸レンズ部が嵌め込まれる光ファイバと、前記ＬＥＤチ
ップからの光を前記光ファイバを介して受光する受光素
子とを備えており、前記溝部にはＬＥＤチップから前記
凸レンズに直接入射されなかった光を反射させて凸レン
ズに導く放物線状の反射壁部が設けられており、前記遮
光カバーにはＬＥＤチップに接触するプローブを挿入す
る挿入孔がＬＥＤチップのセット位置に対応して設けら
れたＬＥＤチップ光学特性計測センサとすれば、周囲に
受光素子を設置する空間のない場合であっても、受光素
子は他の余裕のある箇所に設置することができ、ＬＥＤ
チップ先鞭装置の設計の自由度を大幅に向上させるので
非常に好都合である。
れる溝部を有する本体部と、前記溝部を覆うべく前記本
体部に取り付けられる遮光カバーと、前記溝部に先端の
凸レンズ部が嵌め込まれる光ファイバと、前記ＬＥＤチ
ップからの光を前記光ファイバを介して受光する受光素
子とを備えており、前記溝部にはＬＥＤチップから前記
凸レンズに直接入射されなかった光を反射させて凸レン
ズに導く放物線状の反射壁部が設けられており、前記遮
光カバーにはＬＥＤチップに接触するプローブを挿入す
る挿入孔がＬＥＤチップのセット位置に対応して設けら
れたＬＥＤチップ光学特性計測センサとすれば、周囲に
受光素子を設置する空間のない場合であっても、受光素
子は他の余裕のある箇所に設置することができ、ＬＥＤ
チップ先鞭装置の設計の自由度を大幅に向上させるので
非常に好都合である。
【図１】本発明の第１の実施例に係るＬＥＤチップ光学
特性計測センサの概略的分解斜視図である。
特性計測センサの概略的分解斜視図である。
【図２】この第１の実施例に係るＬＥＤチップ光学特性
計測センサでのＬＥＤチップから光の反射壁部における
反射を示す概略的平面図である。
計測センサでのＬＥＤチップから光の反射壁部における
反射を示す概略的平面図である。
【図３】この第１の実施例に係るＬＥＤチップ光学特性
計測センサの概略的断面図である。
計測センサの概略的断面図である。
【図４】第１の実施例におけるＬＥＤチップ光学特性計
測センサでＬＥＤチップを反射壁部の焦点からＬＥＤチ
ップを若干ずらしてセットした場合のＬＥＤチップから
光の反射壁部における反射を示す概略的平面図である。
測センサでＬＥＤチップを反射壁部の焦点からＬＥＤチ
ップを若干ずらしてセットした場合のＬＥＤチップから
光の反射壁部における反射を示す概略的平面図である。
【図５】本発明の第２の実施例に係るＬＥＤチップ光学
特性計測センサの概略的分解斜視図である。
特性計測センサの概略的分解斜視図である。
【図６】この第２の実施例に係るＬＥＤチップ光学特性
計測センサでのＬＥＤチップから光の反射壁部における
反射を示す概略的平面図である。
計測センサでのＬＥＤチップから光の反射壁部における
反射を示す概略的平面図である。
【図７】この第２の実施例に係るＬＥＤチップ光学特性
計測センサの概略的断面図である。
計測センサの概略的断面図である。
【図８】本発明の第３の実施例に係るＬＥＤチップ光学
特性計測センサの概略的分解斜視図である。
特性計測センサの概略的分解斜視図である。
【図９】この第３の実施例に係るＬＥＤチップ光学特性
計測センサでのＬＥＤチップから光の反射壁部における
反射及び光ファイバの凸レンズにおける集光を示す概略
的平面図である。
計測センサでのＬＥＤチップから光の反射壁部における
反射及び光ファイバの凸レンズにおける集光を示す概略
的平面図である。
【図１０】従来のこの種のＬＥＤチップ光学特性計測セ
ンサを示す概略的構成図である。
ンサを示す概略的構成図である。
１００ 本体部 １１０ 溝部 １１１ 導出口 １１２ 反射壁部 ２００ 遮光カバー ２１０ 挿入孔 ３００ 受光素子 ３１０ 受光部 ５００ ＬＥＤチップ Ｆ 焦点
Claims (4)
- 【請求項１】 測定すべきＬＥＤチップがセットされる
溝部を有する本体部と、前記溝部を覆うべく前記本体部
に取り付けられる遮光カバーと、前記ＬＥＤチップから
の光を受光する受光素子とを具備しており、前記溝部に
はＬＥＤチップからの光を前記受光素子に導く導出口が
設けられるとともに、ＬＥＤチップから直接導出口側に
入射されなかった光を反射させて前記導出口に導く放物
線状の反射壁部が設けられており、前記遮光カバーには
ＬＥＤチップに接触するプローブを挿入する挿入孔がＬ
ＥＤチップのセット位置に対応して設けられていること
を特徴とするＬＥＤチップ光学特性計測センサ。 - 【請求項２】 前記溝部の導出口は、本体部の側面部に
開口しており、当該導出口に受光素子の受光部が臨んで
いることを特徴とする請求項１記載のＬＥＤチップ光学
特性計測センサ。 - 【請求項３】 前記溝部の底面は、ＬＥＤチップからの
光を遮光カバー側に反射させる傾斜面を有しており、遮
光カバーは少なくとも前記傾斜面を覆わず、遮光カバー
に覆われていない部分を導出口として、当該導出口に受
光素子の受光部が臨んでいることを特徴とする請求項１
記載のＬＥＤチップ光学特性計測センサ。 - 【請求項４】 測定すべきＬＥＤチップがセットされる
溝部を有する本体部と、前記溝部を覆うべく前記本体部
に取り付けられる遮光カバーと、前記溝部に先端の凸レ
ンズ部が嵌め込まれる光ファイバと、前記ＬＥＤチップ
からの光を前記光ファイバを介して受光する受光素子と
を具備しており、前記溝部にはＬＥＤチップから前記凸
レンズに直接入射されなかった光を反射させて凸レンズ
に導く放物線状の反射壁部が設けられており、前記遮光
カバーにはＬＥＤチップに接触するプローブを挿入する
挿入孔がＬＥＤチップのセット位置に対応して設けられ
ていることを特徴とするＬＥＤチップ光学特性計測セン
サ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24053194A JP3375752B2 (ja) | 1994-09-07 | 1994-09-07 | Ｌｅｄチップ光学特性計測センサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24053194A JP3375752B2 (ja) | 1994-09-07 | 1994-09-07 | Ｌｅｄチップ光学特性計測センサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0875605A true JPH0875605A (ja) | 1996-03-22 |
| JP3375752B2 JP3375752B2 (ja) | 2003-02-10 |
Family
ID=17060920
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24053194A Expired - Fee Related JP3375752B2 (ja) | 1994-09-07 | 1994-09-07 | Ｌｅｄチップ光学特性計測センサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3375752B2 (ja) |
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007292783A (ja) * | 2007-07-09 | 2007-11-08 | Seiwa Electric Mfg Co Ltd | 光学特性測定装置 |
| EP1901562A1 (en) | 1996-10-24 | 2008-03-19 | Fujitsu Ltd. | Video coding apparatus and decoding apparatus |
| JP2010091341A (ja) * | 2008-10-06 | 2010-04-22 | Micronics Japan Co Ltd | Ｌｅｄの試験装置 |
| JP2011002412A (ja) * | 2009-06-22 | 2011-01-06 | Citizen Electronics Co Ltd | 光学指向特性測定装置 |
| JP2011059118A (ja) * | 2009-09-14 | 2011-03-24 | Star Technologies Inc | 発光素子用検知モジュール及びこれを用いる試験装置 |
| JP2011153929A (ja) * | 2010-01-27 | 2011-08-11 | Panasonic Corp | 全光量測定システム、全光量測定装置、および、全光量測定方法 |
| JP2012013547A (ja) * | 2010-06-30 | 2012-01-19 | Panasonic Corp | 全光量測定システム、全光量測定装置、全光量測定方法 |
| JP2012026868A (ja) * | 2010-07-23 | 2012-02-09 | Panasonic Corp | 全光量測定システム、および、全光量測定方法 |
| WO2012073357A1 (ja) * | 2010-12-01 | 2012-06-07 | パイオニア株式会社 | 半導体発光素子用受光モジュール及び半導体発光素子用検査装置 |
| WO2012120709A1 (ja) * | 2011-03-08 | 2012-09-13 | パイオニア株式会社 | 半導体発光素子の発光状況測定方法 |
| WO2012124057A1 (ja) * | 2011-03-15 | 2012-09-20 | パイオニア株式会社 | 半導体発光素子検査装置 |
| JP5665966B2 (ja) * | 2011-03-08 | 2015-02-04 | パイオニア株式会社 | 半導体発光素子の発光状況測定方法 |
-
1994
- 1994-09-07 JP JP24053194A patent/JP3375752B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1901562A1 (en) | 1996-10-24 | 2008-03-19 | Fujitsu Ltd. | Video coding apparatus and decoding apparatus |
| JP2007292783A (ja) * | 2007-07-09 | 2007-11-08 | Seiwa Electric Mfg Co Ltd | 光学特性測定装置 |
| JP2010091341A (ja) * | 2008-10-06 | 2010-04-22 | Micronics Japan Co Ltd | Ｌｅｄの試験装置 |
| JP2011002412A (ja) * | 2009-06-22 | 2011-01-06 | Citizen Electronics Co Ltd | 光学指向特性測定装置 |
| JP2011059118A (ja) * | 2009-09-14 | 2011-03-24 | Star Technologies Inc | 発光素子用検知モジュール及びこれを用いる試験装置 |
| CN102023053A (zh) * | 2009-09-14 | 2011-04-20 | 思达科技股份有限公司 | 发光元件的测试装置及其感测模块 |
| JP2011153929A (ja) * | 2010-01-27 | 2011-08-11 | Panasonic Corp | 全光量測定システム、全光量測定装置、および、全光量測定方法 |
| JP2012013547A (ja) * | 2010-06-30 | 2012-01-19 | Panasonic Corp | 全光量測定システム、全光量測定装置、全光量測定方法 |
| JP2012026868A (ja) * | 2010-07-23 | 2012-02-09 | Panasonic Corp | 全光量測定システム、および、全光量測定方法 |
| WO2012073357A1 (ja) * | 2010-12-01 | 2012-06-07 | パイオニア株式会社 | 半導体発光素子用受光モジュール及び半導体発光素子用検査装置 |
| JP4975199B1 (ja) * | 2010-12-01 | 2012-07-11 | パイオニア株式会社 | 半導体発光素子用受光モジュール及び半導体発光素子用検査装置 |
| CN103370802A (zh) * | 2010-12-01 | 2013-10-23 | 日本先锋公司 | 一种半导体发光元件用光接收模块以及半导体发光元件用检测装置 |
| WO2012120709A1 (ja) * | 2011-03-08 | 2012-09-13 | パイオニア株式会社 | 半導体発光素子の発光状況測定方法 |
| WO2012120652A1 (ja) * | 2011-03-08 | 2012-09-13 | パイオニア株式会社 | 半導体発光素子の発光状況測定方法 |
| JP5665966B2 (ja) * | 2011-03-08 | 2015-02-04 | パイオニア株式会社 | 半導体発光素子の発光状況測定方法 |
| WO2012124057A1 (ja) * | 2011-03-15 | 2012-09-20 | パイオニア株式会社 | 半導体発光素子検査装置 |
| JP5213147B2 (ja) * | 2011-03-15 | 2013-06-19 | パイオニア株式会社 | 半導体発光素子検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3375752B2 (ja) | 2003-02-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR940011263B1 (ko) | Led어레이 | |
| US5130531A (en) | Reflective photosensor and semiconductor light emitting apparatus each using micro Fresnel lens | |
| TW492243B (en) | Contact image sensor with light guide | |
| GB2420405A (en) | Laser distance measuring device with coincident emitting and receiving optical axes | |
| JPH0875605A (ja) | Ｌｅｄチップ光学特性計測センサ | |
| EP0797090A2 (en) | Integrally formed surface plasmon resonance sensor | |
| JPH0242381A (ja) | 光電センサ | |
| JP4602965B2 (ja) | 光電入力装置、このような装置の製造方法、及びこのような装置の助けを借りて物体の動きを測定する方法 | |
| JP2004191246A (ja) | 凹凸検出センサ | |
| JP2007212608A (ja) | 光モジュール | |
| US6061374A (en) | Laser diode integrating enclosure and detector | |
| US5274721A (en) | Fiber optic system and method | |
| US4479714A (en) | Reflection densitometer with ellipsoid reflection surface | |
| JPS6269111A (ja) | 反射型傾き検出素子 | |
| JP2551608B2 (ja) | 光センサ | |
| JPH0737888B2 (ja) | 走行する糸の断面積又は容積の測定装置 | |
| JP3613835B2 (ja) | 密着型イメージセンサー | |
| JPH0933434A (ja) | 光電式塵埃センサ | |
| JP3347542B2 (ja) | 濃度センサー | |
| JPH0726842B2 (ja) | 光センサ | |
| JP2002267498A (ja) | 光検出器 | |
| CN218159092U (zh) | 光学指纹识别装置及电子设备 | |
| JP2000133822A (ja) | 光半導体装置 | |
| JPH09163071A (ja) | 密着型イメージセンサー | |
| JPH023188Y2 (ja) |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |