JP2007292783A - 光学特性測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】LEDチップ10の光を受光手段300で受光し、この受光手段300の出力結果に基いてLEDチップ10の光の光学特性を測定する装置であって、LEDチップ10が置かれる部分が少なくとも透明であるプレートと、このプレートを挟んでLEDチップ10の発光面と対向しており且つLEDチップ10の各方向の光を受光手段300に集める集光器500を備え、集光器500は、受光手段300が覗いており且つLEDチップ10の光を反射して受光手段300に入射させるために拡散反射性を有した略球面状の凹部510が設けられている。
【選択図】図1
Description
100 搬送手段
200 プローブピン
300 受光手段300
310 光ファイバ
400 測定部
500 集光器
510 凹部
600 遮蔽物
700 反射部材
710 凹部
Claims (5)
- LEDチップの光を受光手段で受光し、この受光手段の出力結果に基いてLEDチップの光の光学 特性を測定する光学特性測定装置において、
LEDチップが置かれる部分が少なくとも透明であるプレートと、
このプレートを挟んでLEDチップの発光面と対向しており且つLEDチップの光を受光手段に集める集光器と、を備えており、
集光器は、受光手段が覗いており且つLEDチップの各方向の光の光束を集めて当該受光手段に入射させるために拡散反射性を有した略球面状の凹部が設けられていることを特徴とする光学特性測定装置。 - 請求項1記載の光学特性測定装置において、
前記集光器の凹部内には、LEDチップと受光手段との間に位置し、LEDチップの光が受光手段に直接入射するのを遮蔽する遮蔽物が設けられており、
この遮蔽物の外周面はLEDチップの光を前記凹部に反射させるために拡散反射性を有していることを特徴とする光学特性測定装置。 - 請求項2記載の光学特性測定装置において、
前記遮蔽物は略球体であることを特徴とする光学特性測定装置。 - 請求項1、2又は3記載の光学特性測定装置において、
LEDチップを挟んで前記集光器と対向する反射部材を更に備えており、
この反射部材はLEDチップの光を集光器の凹部に向けて反射するようになっていることを特徴とする光学特性測定装置。 - 請求項4記載の光学特性測定装置において、
前記反射部材にはLEDチップの光を反射するための略半球面状の凹部が設けられていることを特徴とする光学特性測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007179184A JP4932622B2 (ja) | 2007-07-09 | 2007-07-09 | 光学特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2007179184A JP4932622B2 (ja) | 2007-07-09 | 2007-07-09 | 光学特性測定装置 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2005047605A Division JP2006234497A (ja) | 2005-02-23 | 2005-02-23 | 光学特性測定装置 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2011241591A Division JP2012073261A (ja) | 2011-11-02 | 2011-11-02 | 光学特性測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007292783A true JP2007292783A (ja) | 2007-11-08 |
JP4932622B2 JP4932622B2 (ja) | 2012-05-16 |
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ID=38763496
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2007179184A Expired - Fee Related JP4932622B2 (ja) | 2007-07-09 | 2007-07-09 | 光学特性測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4932622B2 (ja) |
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A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20070709 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100907 |
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A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20101027 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
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A521 | Written amendment |
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A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
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A521 | Written amendment |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150224 Year of fee payment: 3 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R360 | Written notification for declining of transfer of rights |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150224 Year of fee payment: 3 |
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R370 | Written measure of declining of transfer procedure |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150224 Year of fee payment: 3 |
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