KR20100026923A - 테스트 소켓 및 테스트 모듈 - Google Patents

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KR20100026923A KR1020080113097A KR20080113097A KR20100026923A KR 20100026923 A KR20100026923 A KR 20100026923A KR 1020080113097 A KR1020080113097 A KR 1020080113097A KR 20080113097 A KR20080113097 A KR 20080113097A KR 20100026923 A KR20100026923 A KR 20100026923A
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Abstract

본 발명은 광원과 마주보는 감지 영역을 포함하는 이미지 센서를 테스트하기 위한 테스트 소켓을 개시한다. 이 테스트 소켓은 이미지 센서와 테스트 신호의 발생원 사이에서 신호를 전송하기 위한 신호 연결기구, 상기 광원과 마주보는 면에 배치되되, 개구부를 갖는 지지층, 및 이미지 센서와 지지층 사이에 배치되어 상기 이미지 센서를 지지하는 투명층을 포함한다.
Figure P1020080113097
테스트 소켓, 테스트 모듈, 광원, 이미지 센서, 감지 영역, 지지층, 투명층

Description

테스트 소켓 및 테스트 모듈{TEST SOCKET AND TEST MODULE}
본 발명은 테스트 소켓 및 테스트 모듈에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는, 이미지 센서의 테스트 소켓 및 테스트 모듈에 관한 것이다.
상보형 금속 산화막 반도체(CMOS) 또는 전하 결합 소자(CCD)와 같은 이미지 센서는 패키징 공정이 완료된 후 최종 테스트로 진행될 것이다.
도 1은 이미지 센서의 최종 테스트를 위한 종래의 테스트 모듈을 도시한 것이다. 이미지 센서(18)를 테스트하기 위해, 테스트 모듈(1)은 광원(10), 테스트 헤드(11), 다수의 포고 핀(pogo-pins)(13), 포고 타워(12), 신호 보드(16), 테스트 보드(15), 로드 보드(load board)(14), 및 테스트 소켓(17)을 포함한다.
광원(10)은 테스트 헤드(11)의 개구부(19)에 배열되어, 테스트 중에 이 광원(10)은 균일하고 부드러운 광(light)을 조사하면 이 광은 로드 보드(14)의 개구부(20), 포고 타워(12)의 개구부(21), 테스트 보드(15)의 개구부(22), 테스트 소켓(17)의 지지층(28)의 개구부(23)를 순차적으로 투과하고, 이미지 센서(18)의 감지 영역(24)에 도달하게 된다.
이 감지 영역(24)은 픽셀 어레이(도시 생략)를 포함하는데, 이 필셀 어레이 는 각 픽셀에 광(27)을 투과시키기 위한 투명 윈도우(도시 생략)에 의해 덮여 질 수도 있다.
테스트 헤드(11)는 테스트 신호를 제공한다. 로드 보드(14)는 포고 타워(12), 테스트 보드(15), 다수의 포고 핀(13)을 통해 테스트 신호를 전송하여 신호 보드(16)에 도달하도록 한다. 이미지 센서(18)는 신호 보드(16)와 전기적으로 연결되는 테스트 소켓(17)의 다수의 핀(26)을 전기적으로 연결하기 위한 다수의 패드(25)를 포함함으로써, 테스트 신호들이 이미지 센서(18)에 전송될 수 있다. 테스트 중에, 광원(10)은 광(27)을 감지 영역(24)의 각 픽셀에 조사하는데 이 각 픽셀이 광을 감지하게 되며, 테스트 결과들이 전술한 경로와 반대인 경로를 통해 테스트 헤드(11)로 다시 전송된다.
도 2는 종래기술의 결점을 도시하기 위한 도 1의 부분 측면도이다. 이상적으로는, 광원(10)에서 감지 영역(24)으로 방사된 광(27)은 시준광의 형태를 가져야 하지만, 실제적으로 이 광(27)은 도 2에 도시된 바와 같이, 비시준광(non-collimated light)의 형태로 방사된다. 테스트 소켓(17)의 지지층(28)이 낮은 굴절율의 폴리머로 형성되고, 지지층(28)의 개구부(23)의 측벽과 테스트 보드(15)의 개구부(22)가 낮은 굴절률을 갖는 필름으로 코팅된다하더라도, 비시준광(27)은 반사로 인해 임의 각도로 감지 영역(24) 속으로 전송된다.
비시준광(27)의 반사를 감소시키기 위해, 지지층(28)의 개구부(23)의 폭이 확대될 수도 있지만, 이미지 센서(18)의 크기는 더욱 감소된다. 이미지 센서(18)를 지지하기 위한 최소한의 보강에 대한 필요성이 상실되기 때문에, 지지층(28)의 개구부(23)의 폭은 확대될 수 없다. 또한, 이미지 센서(18)의 감지 영역(24)과 가장자리 사이의 간격 역시 감소하게 된다. 또한, 이것은 감지 영역의 고르지 못한 조명이나 그림자가 생기는 원인이 될 것이다.
더욱이, 서로 다른 크기의 서로 다른 이미지 센서(18)를 위해서는 지지층(28)의 개구부(23)의 폭이 서로 다른 다양한 테스트 소켓(17)이 요구된다.
따라서, 종래기술의 단점을 극복한 테스트 소켓 및 테스트 모듈을 제공하는 것이 유리할 것이다.
본 발명의 목적은 감지 영역에서의 불규칙한 조명 또는 그림자의 발생을 방지하고 제조비용을 줄이며 효율을 증가시키기 위한 신규한 테스트 소켓 및 테스트 모듈을 제공하는데 있다.
상기 목적에 따르면, 본 발명은, 광원과 마주보는 감지 영역을 구비한 이미지 센서를 테스트하기 위한 테스트 소켓을 제공하고, 이 테스트 소켓은,
상기 이미지 센서와 신호원(signal source)사이에서 테스트 신호와 테스트 결과를 전송하기 위한 신호 연결기구;
상기 광원과 마주보는 면에 배치되되, 상기 광원에서 방사된 광을 통과시키기 위한 개구부를 갖는 지지층; 및
광에 대해 어느 정도 투과성이 있고, 상기 지지층과 상기 이미지 센서 사이 에 배치되어 상기 이미지 센서를 지지하는 투명층;을 포함하여 구성된다.
상기 목적에 따르면, 본 발명은, 광원과 마주보는 감지 영역을 구비한 이미지 센서를 테스트하기 위한 테스트 모듈을 제공하고, 이 테스트 모듈은,
상호 전기적으로 연결되는 신호 보드와 다수의 포고 핀;
상기 광원과 마주보는 면에 배치되되, 상기 광원에서 방사된 광을 통과시키기 위한 개구부를 갖는 지지층; 및
광에 대해 어느 정도 투과성이 있고, 상기 지지층과 상기 이미지 센서 사이에 배치되어 상기 이미지 센서를 지지하는 투명층;을 포함하는 테스트 소켓을 포함한다. 테스트 모듈은, 개구를 가지며 상기 다수의 포고 핀 아래에 배치되고 상기 테스트 소켓과 전기적으로 연결되는 테스트 보드; 상기 테스트 보드 아래에 배치되고 상기 테스트 보드와 전기적으로 연결되는 포고 타워; 상기 포고 타워 아래에 배치되고 상기 포고 타워와 전기적으로 연결되는 로드 보드; 개구를 가지며 상기 로드 보드 아래에 배치되고 상기 로드 보드와 전기적으로 연결되는 테스트 헤드; 및 상기 테스트 헤드의 개구부에 배치되고 상기 지지층의 개구부를 통해 광을 상기 이미지 센서의 감지 영역으로 방사하는 광원을 추가로 포함한다.
본 발명의 상세한 설명이 이하의 실시예에서 논의될 것이다. 이하의 실시예는 본 발명의 범위를 한정하기 위한 것이 아니며, 기타 다른 응용범위에 적용될 수 있다. 도면이 상세하게 도시되어 있지만, 개시된 구성요소들의 품질은, 이들 구성요소의 개수를 명백하게 제한하는 것을 제외하고, 개시된 것보다 양호한 것일 수도 있고 불량한 것일 수도 있음을 이해해야 한다. 가능한 한, 동일하거나 유사한 구성요소를 나타내기 위해 도면 및 상세한 설명에서는 동일하거나 유사한 참조부호가 사용된다. 제시된 도면은 단순화된 형식으로 도시되며 정밀한 크기로 도시되어 있지는 않음을 유념해야 한다. 본 명세서에 개시된 내용과 관련하여, 편의성과 명료성을 위해 첨부 도면에 대해 상부(top), 하부(bottom), 좌측(left), 우측(right), 상향(up), 하향(down), 위에(over), 보다 위에(above), 아래에(below), 바로 아래에(beneath), 후방(rear) 및 전방(front)과 같은 방향성 용어들이 사용된다. 이러한 방향성 용어들은 어떤 방식으로든 본 발명의 범위를 한정하는 것으로 해석되어서는 안된다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 소켓(30)의 측면도이다. 테스트 소켓(30)은 상보형 금속 산화막 반도체(CMOS) 또는 전하 결합 소자(CCD)와 같은 이미지 센서(31)를 배치하기 위해 이용된다. 이미지 센서(31)는 광원(45)(도 4 참조)과 마주보고 있는 픽셀 어레이(도시생략)를 갖는 감지 영역(32)을 포함한다. 광원(45)에서 방사된 광(33)을 각 픽셀로 투과시키기 위한 투명 윈도우(도시생략)가 픽셀 어레이를 덮을 수도 있다.
감지 영역(32)에 대향하는 표면에서, 이미지 센서는 테스트 소켓(30)의 다수의 핀(37)을 전기적으로 연결하기 위한 다수의 패드(36)를 포함하는데, 이 다수의 핀(37)은 하우징(47) 내부에 배치되어 진공 처리되고, 신호 보드(35)와 전기적으로 연결된다. 테스트 소켓(30)은 하우징(47)내부에 배치되는 다수의 포고 핀(34)을 추가로 포함한다. 테스트중 일 때, 신호원(도시생략)은 포고 핀(34), 신호 보 드(35), 및 다수의 핀(37)을 통해 이미지 센서(31)로 전송되는 테스트 신호를 제공한다.
또한, 테스트 소켓(30)은 광(33)과 마주보는 표면에 지지층(39)을 포함한다. 이 지지층(39)은 감시 영역(32)의 폭 보다 큰 폭을 갖는 개구부(38)를 갖는다. 이개구부(38)의 형상은 제한되지 않고 감지 영역(32)의 형상과 일치할 수도 있다. 만약, 감지 영역(32)의 형상이 장방형이면, 개구부(38)의 형상도 장방형이 될 수 있고, 개구부(38)의 길이 및 폭은 감지 영역(32)의 길이 및 폭 보다 크다. 만약, 감지 영역(32)의 형상이 원형이면, 개구부(38)의 형상도 원형이 될 수 있고, 개구부(38)의 원주는 감지 영역(32)의 원주 보다 크다.
더욱이, 테스트 소켓(30)은 지지층(39)과 이미지 센서(31) 사이에 배치되는 투명층(40)을 추가로 포함한다. 이 투명층(40)은 광에 대해 어느 정도 투과성이 있고, 석영, 유리, 강화유리, 폴리머, 광학재 및 그 조합으로 제조될 수 있다. 산광기(diffuser)는 광학재의 일례가 될 수 있다. 투명층(40)의 형상은 제한되지 않으며, 감지 영역(32) 또는 지지층(39)의 개구부(38)의 형상과 일치할 수도 있다. 투명층(40)의 크기(또는 원주)는 개구부(38)의 크기(또는 원주)와 같거나 이보다 크다. 예컨대, 개구부(38)의 형상이 장방형이면, 투명층(40)의 형상도 장방형이 될 수 있고, 투명층(40)의 길이 및 폭은 개구부(38)의 길이 및 폭 보다 크다. 만약, 개구부(38)의 형상이 원형이면, 투명층(40)의 형상도 원형이 될 수 있고, 투명층(40)의 원주는 개구부(38)의 원주 보다 크다.
테스트 중일 때, 광(33)은 지지층(39)의 개구부(38)를 통해 광(33)을 감지하 는 감지 영역(32)의 각 픽셀로 방사되고, 테스트 결과는 전술한 경로와 반대인 경로를 통해 신호원으로 다시 전송된다.
다양한 이미지 센서를 위한 다양한 신호-연결 기구(signal-connecting mechanism)를 구비할 있음을 이해해야 한다. 본 발명에 따르면, 전술한 이 신호-연결 기구는 다수의 패드(36), 다수의 핀(37), 신호 보드(35) 및 다수의 포고 핀(34)을 포함하는 요소에 한정되지 않고, 다른 형태로 테스트 신호를 연결하기 위한 다른 요소들을 포함할 수 있다. 본 발명의 핵심적인 개념은 테스트 소켓(30)이, 광과 마주보고 있고 개구부(38)의 크기가 이미지 센서(31)의 감지 영역(32)의 크기보다 큰 지지층(39), 이미지 센서(31)와 지지층(40) 사이에 배치되는 투명층(40), 및 이미지 센서(31)와 신호원 사이에서 테스트 신호와 테스트 결과를 전송하기 위한 신호-연결 기구를 포함하고 있다는 것이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 모듈을 도시한 것이다. 테스트 모듈(3)은 전술한 실시예와 동일한 구성요소들과 변형예를 포함하는 테스트 소켓을 포함한다. 이 테스트 모듈은 다수의 포고 핀(34) 아래에 배치되는 테스트 보드(41), 테스트 보드(41) 아래에 배치되는 포고 타워(42), 포고 타워(42) 아래에 배치되는 로드 보드(43), 로드 보드(43) 아래에 배치되는 테스트 헤드(44), 및 테스트 헤드(44)의 개구부(46)에 배치되는 광원(45)을 추가로 포함한다.
또한, 테스트 헤드(44)는 로드 보드(43), 포고 타워(42), 테스트 보드(41), 다수의 포고 핀(34), 신호 보드(35), 및 다수의 핀(37)을 통해 최종적으로 이미지 센서(31)에 전송되는 테스트 신호를 제공한다. 광(33)이 감지 영역(32)의 각 픽셀 에 조사되면, 테스트 결과는 전술한 경로와 반대인 경로를 통해 테스트 헤드(44)로 다시 전송된다.
본 명세서에 개시된 실시예에서, 지지층(39)의 개구부(38)는 감지 영역(32)의 폭, 원주 또는 크기보다 큰 폭, 원주 또는 크기를 가지며, 반사 또는 기타 다른 인자로 인해 발생하는 감지 영역(32)의 불규칙한 조명이나 그림자의 형성이 방지될 수 있다. 또한, 투명층(40)은 예컨대, 석영등과 같은 적절한 물질로 이루어질 경우, 광(33)은 감지 영역(32)에 골고루 전달될 것이다. 더욱이, 산광기가 투명층(40)으로 이용되면, 광을 잘 분산시킬 수 있다. 또한, 투명층(40)은 이미지 센서의 크기가 얼마이든 간에 이미지 센서(31)의 지지 구조물로서의 기능을 수행할 수 있다. 따라서, 테스트 소켓(30) 또는 지지층(39)을 대체할 필요성이 제거되어, 시간이 절약되고 비용이 절감된다.
지금까지 특정 실시예가 예시되고 설명되었지만, 첨부된 특허청구의 범위에 의해서만 한정되도록 의도된 본 발명의 범위를 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 수정이 이루어질 수 있음을 당업자라면 이해할 수 있을 것이다.
도 1은 종래의 테스트 모듈을 도시한 측면도이다.
도 2는 종래기술의 결점을 도시하기 위한 도 1의 부분 측면도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 소켓의 측면도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 모듈의 측면도이다.

Claims (5)

  1. 광원과 마주보는 감지 영역을 구비한 이미지 센서를 테스트하기 위한 테스트 소켓으로서,
    상기 이미지 센서와 신호원 사이에서 테스트 신호와 테스트 결과를 전송하기 위한 신호 연결기구(signal-connecting mechanism);
    상기 광원과 마주보는 면에 배치되고, 상기 광원에서 방사된 광을 통과시키기 위한 개구부를 갖는 지지층; 및
    광에 대해 투과성이 있고, 상기 지지층과 상기 이미지 센서 사이에 배치되어 상기 이미지 센서를 지지하는 투명층
    을 포함하여 구성되는 테스트 소켓.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 지지층의 개구부의 크기는 상기 감지 영역의 크기보다 크고, 상기 투명층의 크기는 상기 지지층의 개구부의 크기와 같거나 이 보다 큰 것을 특징으로 하는 테스트 소켓.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 투명층은 석영, 유리, 보강유리(tempered glass), 폴리머, 광학재(optical material) 및 그 조합으로 구성된 그룹에서 선택된 물질로 이루어지는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 광학재는 산광기(diffuser)를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 신호-연결 기구는,
    상기 이미지 센서의 다수의 패드와 전기적으로 연결되는 다수의 핀;
    상기 다수의 핀에 전기적으로 연결되는 신호 보드; 및
    상기 신호 보드 아래에 배치되어 상기 신호 보드에 전기적으로 연결되는 다수의 포고 핀을 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓.
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