JP2011153929A - 全光量測定システム、全光量測定装置、および、全光量測定方法 - Google Patents
全光量測定システム、全光量測定装置、および、全光量測定方法 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】光源300を配置可能な第一空間を備え、配置された光源300から放射される光を正反射する反射面部113を有し、直接光と反射光とが通過する第一開口111を有する第一筐体101と、第二空間を備え、第一開口111と同一形状かつ同一面積の第二開口121と、光を吸収する吸収面部123を内面に有する第二筐体102と、第一開口111を通過する第一光量Cと、第二開口121を通過する第二光量Aとを検出する検出手段と、第一光量Cと第二光量AとをD=A+(C−A)/t(t:前記正反射における反射率補正係数)に代入し全光量を算出する演算手段104とを備える。
【選択図】図1
Description
図1は、全光量測定システムを模式的に示す図である。
次に、本願発明に係る他の全光量測定システム100を説明する。
101 第一筐体
102 第二筐体
103 検出手段
104 演算手段
110 第一空間
111 第一開口
112 第一挿入孔
113 反射面部
114 第一検出器
115 第一増幅器
120 第二空間
121 第二開口
122 第二挿入孔
123 吸収面部
124 第二検出器
125 第二増幅器
131 光量抑制フィルタ
132 視感度補正フィルタ
230 転換手段
300 光源
301 光源配置手段
310 移送機構
311 回避機構
320 昇降台
Claims (10)
- 光源から放射される光の全光量を測定するシステムであって、
内方に前記光源を配置可能な第一空間を備える第一筐体であって、前記第一空間に配置された前記光源から放射される光を正反射する反射面部を内面に有し、前記光源から直接到達する直接光と前記反射面部で反射した後到達する反射光とが通過する第一開口を有する第一筐体と、
内方に前記光源を配置可能な第二空間を備える第二筐体であって、前記第一開口と同一形状かつ同一面積の第二開口と、前記第二空間に配置された前記光源から放射され、前記第二開口に直接到達する直接光のみを通過させるように光を吸収する吸収面部を内面に有する第二筐体と、
前記第一開口を通過する光の光量である第一光量と、前記第二開口を通過する光の光量である第二光量とを検出する検出手段と、
検出された前記第一光量と前記第二光量とに基づいて前記光源の全光量を算出する演算手段と
を備える全光量測定システム。 - 前記第一筐体は、
内方に備える前記第一空間が円錐台形状となる筒形状であり、
前記第一空間の底面に該当する部分に前記第一開口が設けられ、
前記第一空間の側面に該当する部分に前記反射面部が設けられ、
前記第一開口と対向する面に前記光源を前記第一空間に配置するための第一挿入孔
を備える請求項1に記載の全光量測定システム。 - 前記第二筐体は、
内方に備える前記第二空間が前記第一空間と同一形状かつ同一体積となる筒形状であり、
前記第二空間の底面に該当する部分に前記第二開口が設けられ、
前記第二空間の側面に該当する部分に前記吸収面部が設けられ、
前記第二開口と対向する面に前記光源を前記第二空間に配置するための第二挿入孔
を備える請求項2に記載の全光量測定システム。 - 前記反射面部は、
前記光源から放射された光が一度の反射で第一開口に到達するように配置される
請求項1に記載の全光量測定システム。 - 前記検出手段は、
前記第一開口に配置され第一光量に対応する信号を出力する第一検出器と、
前記第二開口に配置され第二光量に対応する信号を出力する第二検出器と
を備える請求項1に記載の全光量測定システム。 - 前記検出手段は、
第一光量、及び、第二光量に対応する信号を出力する検出器を備え、
さらに、
前記第一開口に対応する位置と前記第二開口に対応する位置とのいずれかに前記検出器を転換自在に配置する転換手段
を備える請求項1に記載の全光量測定システム。 - 前記検出手段は、
第一光量、及び、第二光量に対応する信号を出力する検出器であり、前記第一開口全域を通過する光を検出するフォトダイオードからなる検出器
を備える請求項1に記載の全光量測定システム。 - さらに、
第一光量、および、第二光量を低下させる光量抑制フィルタ
を備える請求項7に記載の全光量測定システム。 - 光源から放射される光の全光量を測定するための全光量測定装置であって、
内方に前記光源を配置可能な第一空間を備える第一筐体であって、前記第一空間に配置された前記光源から放射される光を正反射する反射面部を内面に有し、前記光源から直接到達する直接光と前記反射面部で反射した後到達する反射光とが通過する第一開口を有する第一筐体と、
内方に前記光源を配置可能な第二空間を備える第二筐体であって、前記第一開口と同一形状かつ同一面積の第二開口と、前記第二空間に配置された前記光源から放射され、前記第二開口に直接到達する直接光のみを通過させるように光を吸収する吸収面部を内面に有する第二筐体と、
前記第一開口を通過する光の光量である第一光量と、前記第二開口を通過する光の光量である第二光量とを検出する検出手段と
を備える全光量測定装置。 - 照射される光の量に対応する信号を出力する検出器を用い、光源から放射される光の全光量を測定する方法であって、
前記光源と前記検出器とを所定の位置関係に配置し、
前記光源から放射され前記検出器に直接到達する直接光の光量Aと、前記光源から放射され正反射により前記検出器に到達する反射光の光量Bとの和を光量Cとして検出し、
前記光源と前記検出器との位置関係と同じ位置関係になるように、前記光源と前記検出器、または、別体の検出器を配置し、
前記光源から放射され前記検出器、または、前記別体の検出器に直接到達する直接光の光量Aを検出し、
光源から放射される光の全光量Dを
D=A+(C−A)/t (t:前記正反射における反射率補正係数)
の式により算出する
全光量測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP5665324B2 JP5665324B2 (ja) | 2015-02-04 |
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Country | Link |
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