JP2012026868A - 全光量測定システム、および、全光量測定方法 - Google Patents
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract description 95
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 title description 5
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims abstract description 82
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 62
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 26
- 238000011084 recovery Methods 0.000 claims abstract description 14
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims description 57
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims description 57
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 16
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 15
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 10
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 5
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 3
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 claims 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 15
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 15
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 13
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 12
- 230000006870 function Effects 0.000 description 9
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 9
- TZCXTZWJZNENPQ-UHFFFAOYSA-L barium sulfate Chemical compound [Ba+2].[O-]S([O-])(=O)=O TZCXTZWJZNENPQ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 6
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
【解決手段】発光デバイス300を着脱自在に所定の位置に保持するソケット105と、ソケット105を供給ステーション、第一測定ステーション、第二測定ステーション、回収ステーションの順番で間欠的に移送する移送手段310と、第一筐体101、および、第二筐体102に対し、発光デバイス300が測定可能状態と、移送可能となる移送可能状態とを転換する転換手段140と、ソケット105に保持されている発光デバイス300に電力を供給して発光デバイスを駆動する電力供給手段315と、第一光量Cと第二光量Aとを検出する検出手段103と、検出された第一光量Cと第二光量Aとに基づいて全光量を算出する演算手段104とを備える。
【選択図】図1
Description
2 第一測定ステーション
3 第二測定ステーション
4 回収ステーション
100 全光量測定システム
101 第一筐体
102 第二筐体
103 検出手段
104 演算手段
105 ソケット
110 第一空間
111 第一開口
112 第一挿入孔
113 反射面部
114 第一検出器
115 第一増幅器
116 第一決定部
120 第二空間
121 第二開口
122 第二挿入孔
123 吸収面部
124 第二検出器
125 第二増幅器
126 第二決定部
131 光量抑制フィルタ
132 視感度補正フィルタ
140 転換手段
141 第一転換手段
142 第二転換手段
143 第一筐体保持部
151 第一チャック
152 第二チャック
153 案内面
154 吸引孔
155 通電手段
156 ピン挿入孔
157 穴
158 第一電極
159 第二電極
160 中継手段
161 ピン
162 ボルト
163 配管
170 フローティング機構
300 発光デバイス
310 移送手段
311 回収手段
312 係合部
313 装着手段
315 電力供給手段
316 クランプ制御機構
317 ノズル
318 端子
319 駆動回路
Claims (8)
- 複数の発光デバイスのそれぞれの全光量を連続的に測定するシステムであって、
発光デバイスを着脱自在に所定の位置に保持するソケットと、
複数の前記ソケットを、供給ステーション、第一測定ステーション、第二測定ステーション、回収ステーションの順番で間欠的に移送する移送手段とを備え、
前記供給ステーションにおいては、発光デバイスを前記ソケットに装着する装着手段を備え、
前記回収ステーションにおいては、発光デバイスを前記ソケットから回収する回収手段を備え、
第一測定ステーション、および、第二測定ステーションの一方においては、前記ソケットに保持された発光デバイスを内方に配置可能な第一空間を備える第一筐体であって、前記第一空間に配置された発光デバイスから放射される光を正反射する反射面部と、発光デバイスから直接到達する直接光と前記反射面部で反射した後到達する反射光とが通過する第一開口と、発光デバイスを前記第一空間に配置するための第一挿入孔とを有する第一筐体を備え、
第一測定ステーション、および、第二測定ステーションの他方においては、前記ソケットに保持された発光デバイスを内方に配置可能な第二空間を備える第二筐体であって、前記第一開口と同一形状かつ同一面積の第二開口と、前記第二空間に配置された発光デバイスから放射され前記第二開口に直接到達する直接光のみを通過させるように光を吸収する吸収面部と、発光デバイスを前記第二空間に配置するための第二挿入孔とを有する第二筐体を備え、
前記第一測定ステーション、および、第二測定ステーションにおいて、前記第一筐体、および、前記第二筐体を前記ソケットに対して接近離反させることにより、前記ソケットに保持された発光デバイスが前記第一筐体の内方に配置されて光量が測定可能となる測定可能状態と、前記移送手段による前記ソケットの移送が可能となる移送可能状態とを転換する転換手段と、
前記第一測定ステーション、および、第二測定ステーションにおいて、前記ソケットに保持されている発光デバイスに電力を供給して発光デバイスを駆動する電力供給手段と、
前記第一開口を通過する光の光量である第一光量と、前記第二開口を通過する光の光量である第二光量とをする検出手段と、
検出された前記第一光量と前記第二光量とに基づいて発光デバイスの全光量を算出する演算手段と
を備える全光量測定システム。 - 前記移送手段は、前記ソケットを着脱自在に保持するソケット保持部を備える請求項1に記載の全光量測定システム。
- 前記転換手段は、前記第一挿入孔の外端部周縁、および、前記第二挿入孔の外端部周縁を前記移送手段および前記ソケットの少なくとも一方に近接、または、当接させることで、前記第一空間、および、前記第二空間への迷光の進入を抑制する
請求項1に記載の全光量測定システム。 - 前記第一筐体は、前記第一挿入孔の外端部周縁と前記移送手段および前記ソケットの少なくとも一方とが近接状態、または、当接状態となった場合、発光デバイスと前記第一筐体との位置を決定する、前記第一挿入孔の外端部周縁に配置される第一決定部を備え、
前記第二筐体は、前記第二挿入孔の外端部周縁と前記移送手段および前記ソケットの少なくとも一方とが近接状態、または、当接状態となった場合、発光デバイスと前記第二筐体との位置を決定する、前記第二挿入孔の外端部周縁に配置される第二決定部を備え、
さらに当該全光量測定システムは、
前記移送手段および前記ソケットの少なくとも一方に、前記第一決定部および前記第二決定部のいずれにも係合する係合部を備える
請求項3に記載の全光量測定システム。 - 前記第一決定部は、発光デバイスが前記第一空間に配置された状態において、発光デバイスを取り囲むような環形状であり、
前記第二決定部は、発光デバイスが前記第二空間に配置された状態において、発光デバイスを取り囲むような環形状であり、
前記係合部は、前記第一決定部および前記第二決定部のいずれにも係合する環形状である
請求項4に記載の全光量測定システム。 - さらに、
前記第一決定部と前記係合部とが係合する場合に、前記第一筐体の所定の平面内でのずれを許容し、前記第二決定部と前記係合部とが係合する場合に、前記第二筐体の前記平面内でのずれを許容するフローティング機構を備える
請求項4に記載の全光量測定システム。 - 前記転換手段は、前記第一筐体を着脱自在に保持する第一筐体保持部と、前記第二筐体を着脱自在に保持する第二筐体保持部とを備える
請求項1に記載の全光量測定システム。 - 発光デバイスを内方に配置可能な第一空間と、前記第一空間に配置された発光デバイスから放射される光を正反射する反射面部と、発光デバイスから直接到達する直接光と前記反射面部で反射した後到達する反射光とが通過する第一開口と、発光デバイスを前記第一空間に配置するための第一挿入孔とを有する第一筐体と、発光デバイスを内方に配置可能な第二空間と、前記第一開口と同一形状かつ同一面積の第二開口と、前記第二空間に配置された発光デバイスから放射され前記第二開口に直接到達する直接光のみを通過させるように光を吸収する吸収面部と、発光デバイスを前記第二空間に配置するための第二挿入孔とを有する第二筐体とを備える全光量測定システムを用い、複数の発光デバイスのそれぞれの全光量を連続的に測定する方法であって、
発光デバイスをソケットに装着する装着工程と、
発光デバイスを転換手段により測定可能状態とする転換工程と、
前記第一開口を通過する光の光量である第一光量を検出手段により検出する第一検出工程と、
前記第二開口を通過する光の光量である第二光量を検出手段により検出する第二検出工程と、
検出された前記第一光量と前記第二光量とに基づいて発光デバイスの全光量を演算手段により算出する演算工程と、
発光デバイスを前記ソケットから取り外す回収工程と
を同時期に実行する全光量測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2010165792A JP5318043B2 (ja) | 2010-07-23 | 2010-07-23 | 全光量測定システム、および、全光量測定方法 |
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