JP3375752B2 - Ledチップ光学特性計測センサ - Google Patents
Ledチップ光学特性計測センサInfo
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- JP3375752B2 JP3375752B2 JP24053194A JP24053194A JP3375752B2 JP 3375752 B2 JP3375752 B2 JP 3375752B2 JP 24053194 A JP24053194 A JP 24053194A JP 24053194 A JP24053194 A JP 24053194A JP 3375752 B2 JP3375752 B2 JP 3375752B2
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Led Devices (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、LEDチップの光学的
特性を計測するセンサに関する。
特性を計測するセンサに関する。
【0002】
【従来の技術】ベアチップ状態のLEDチップは、基板
にボンディングする前に光学的特性、例えば光量や色合
いを測定する必要がある。この光学的測定には図5に示
すようなLEDチップ光学特性測定センサが用いられて
いた。
にボンディングする前に光学的特性、例えば光量や色合
いを測定する必要がある。この光学的測定には図5に示
すようなLEDチップ光学特性測定センサが用いられて
いた。
【0003】図5(A)に示すLEDチップ光学特性測
定センサは、LEDチップ500を1つずつ載置する板
状の載置板710と、この載置板710を覆う遮光容器
720と、この遮光容器720に設けられた導出口72
1からの光を受ける受光素子300とを有している。ま
た、前記遮光容器720には載置板710に載置された
LEDチップ500の一方の電極に接触するプローブ4
00が挿入される挿入孔722が開設されている。この
プローブ400には図外の電源が接続されている。さら
に、前記載置板710は図外の電源に接続されていると
ともに、LEDチップ500の他方の電極に接触してい
る。
定センサは、LEDチップ500を1つずつ載置する板
状の載置板710と、この載置板710を覆う遮光容器
720と、この遮光容器720に設けられた導出口72
1からの光を受ける受光素子300とを有している。ま
た、前記遮光容器720には載置板710に載置された
LEDチップ500の一方の電極に接触するプローブ4
00が挿入される挿入孔722が開設されている。この
プローブ400には図外の電源が接続されている。さら
に、前記載置板710は図外の電源に接続されていると
ともに、LEDチップ500の他方の電極に接触してい
る。
【0004】LEDチップ500からの光は、導出口7
21を覆うように設けられた受光素子300で受光され
る。また、図5(B)に示すように、導出口721に光
ファイバ730を設けておき、当該光ファイバ730に
よってLEDチップ500からの光を受光素子300に
まで導くようにしてもよい。
21を覆うように設けられた受光素子300で受光され
る。また、図5(B)に示すように、導出口721に光
ファイバ730を設けておき、当該光ファイバ730に
よってLEDチップ500からの光を受光素子300に
まで導くようにしてもよい。
【0005】載置板710にLEDチップ500を載置
し、LEDチップ500の他方の電極にプローブ400
を接触させると、LEDチップ500は発光する。
し、LEDチップ500の他方の電極にプローブ400
を接触させると、LEDチップ500は発光する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来のLEDチップ光学特性計測センサに以下のよう
な問題点がある。すなわち、LEDチップ500は0.
3ミリ角程度の大きさであり市販の受光素子300より
はるかに小さく、全方向に発散する光を集光するにはそ
の近傍に受光センサを配する必要がある。このため、L
EDチップ光学特性計測センサが設置される周囲には空
間が必要となる。よって、LEDチップ光学特性計測セ
ンサの小型化、薄型化が非常に困難なのである。これ
は、LEDチップ光学特性計測センサを用いたLEDチ
ップ選別装置等の設計の自由度を低減させることにな
る。
た従来のLEDチップ光学特性計測センサに以下のよう
な問題点がある。すなわち、LEDチップ500は0.
3ミリ角程度の大きさであり市販の受光素子300より
はるかに小さく、全方向に発散する光を集光するにはそ
の近傍に受光センサを配する必要がある。このため、L
EDチップ光学特性計測センサが設置される周囲には空
間が必要となる。よって、LEDチップ光学特性計測セ
ンサの小型化、薄型化が非常に困難なのである。これ
は、LEDチップ光学特性計測センサを用いたLEDチ
ップ選別装置等の設計の自由度を低減させることにな
る。
【0007】また、受光素子300に受光される光は、
LEDチップ500から直接受光素子300(或いは光
ファイバ730)に照射される光の他に、遮光容器72
0の壁部で反射された光もある。特に、遮光容器720
の反導出口側は単なる平面壁であるため、LEDチップ
500から反導出口側に照射された光は少なくとも2回
の反射を繰り返して導出口721にまで導かれる。導出
口721に導かれた光の光量は減少している。このた
め、正確な光学的特性の測定は困難である。
LEDチップ500から直接受光素子300(或いは光
ファイバ730)に照射される光の他に、遮光容器72
0の壁部で反射された光もある。特に、遮光容器720
の反導出口側は単なる平面壁であるため、LEDチップ
500から反導出口側に照射された光は少なくとも2回
の反射を繰り返して導出口721にまで導かれる。導出
口721に導かれた光の光量は減少している。このた
め、正確な光学的特性の測定は困難である。
【0008】また、反射の回数は、LEDチップ500
の載置板710に対するセット位置によって変化する。
これにより、受光素子300(或いは光ファイバ73
0)に照射される光量が変化する。これでは、正確な光
学的特性の測定は困難である。
の載置板710に対するセット位置によって変化する。
これにより、受光素子300(或いは光ファイバ73
0)に照射される光量が変化する。これでは、正確な光
学的特性の測定は困難である。
【0009】本発明は上記事情に鑑みて創案されたもの
で、全体として小型化、薄型化が可能であり、LEDチ
ップのセット位置にあまり影響を受けず安定した計測デ
ータを得ることができるLEDチップ光学特性計測セン
サを提供することを目的としている。
で、全体として小型化、薄型化が可能であり、LEDチ
ップのセット位置にあまり影響を受けず安定した計測デ
ータを得ることができるLEDチップ光学特性計測セン
サを提供することを目的としている。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明に係るLEDチッ
プ光学特性測定センサは、測定すべきLEDチップがセ
ットされる溝部を有する本体部と、前記溝部を覆うべく
前記本体部に取り付けられる遮光カバーと、前記LED
チップからの光を受光する受光素子とを具備しており、
前記溝部にはLEDチップからの光を前記受光素子に導
く導出口が設けられるとともに、LEDチップから直接
導出口側に入射されなかった光を反射させて前記導出口
に導く放物線状の反射壁部が設けられており、前記遮光
カバーにはLEDチップに接触するプローブを挿入する
挿入孔がLEDチップのセット位置に対応して設けられ
ており、前記セット位置は放物線状の反射壁部の焦点又
は焦点より若干導出口側である。
プ光学特性測定センサは、測定すべきLEDチップがセ
ットされる溝部を有する本体部と、前記溝部を覆うべく
前記本体部に取り付けられる遮光カバーと、前記LED
チップからの光を受光する受光素子とを具備しており、
前記溝部にはLEDチップからの光を前記受光素子に導
く導出口が設けられるとともに、LEDチップから直接
導出口側に入射されなかった光を反射させて前記導出口
に導く放物線状の反射壁部が設けられており、前記遮光
カバーにはLEDチップに接触するプローブを挿入する
挿入孔がLEDチップのセット位置に対応して設けられ
ており、前記セット位置は放物線状の反射壁部の焦点又
は焦点より若干導出口側である。
【0011】
【0012】
【実施例】図1は本発明の実施例に係るLEDチップ光
学特性測定センサの概略的分解斜視図、図2はこの実施
例に係るLEDチップ光学特性測定センサでのLEDチ
ップから光の反射壁部における反射を示す概略的平面
図、図3はこの実施例に係るLEDチップ光学特性測定
センサの概略的断面図、図4はこの実施例におけるLE
Dチップ光学特性測定センサでLEDチップを反射壁部
の焦点から若干ずらしてセットした場合のLEDチップ
から光の反射壁部における反射を示す概略的平面図であ
る。
学特性測定センサの概略的分解斜視図、図2はこの実施
例に係るLEDチップ光学特性測定センサでのLEDチ
ップから光の反射壁部における反射を示す概略的平面
図、図3はこの実施例に係るLEDチップ光学特性測定
センサの概略的断面図、図4はこの実施例におけるLE
Dチップ光学特性測定センサでLEDチップを反射壁部
の焦点から若干ずらしてセットした場合のLEDチップ
から光の反射壁部における反射を示す概略的平面図であ
る。
【0013】
【0014】
【0015】本発明の実施例に係るLEDチップ光学特
性測定センサは、測定すべきLEDチップ500がセッ
トされる溝部110を有する本体部100と、前記溝部
110を覆うべく前記本体部100に取り付けられる遮
光カバー200と、前記LEDチップ500からの光を
受光する受光素子300とを有している。
性測定センサは、測定すべきLEDチップ500がセッ
トされる溝部110を有する本体部100と、前記溝部
110を覆うべく前記本体部100に取り付けられる遮
光カバー200と、前記LEDチップ500からの光を
受光する受光素子300とを有している。
【0016】前記本体部100は、導電性を有し、かつ
光を反射する性質を有する軽合金等から構成されてい
る。この本体部100に設けられる溝部110は、測定
すべきLEDチップ500の高さ寸法より若干大きい深
さ寸法を有している。また、溝部110の周囲には遮光
カバー200の厚さ寸法と同一の深さ寸法を有する凹部
120が形成されている。
光を反射する性質を有する軽合金等から構成されてい
る。この本体部100に設けられる溝部110は、測定
すべきLEDチップ500の高さ寸法より若干大きい深
さ寸法を有している。また、溝部110の周囲には遮光
カバー200の厚さ寸法と同一の深さ寸法を有する凹部
120が形成されている。
【0017】前記溝部110は、一方が本体部100の
側面部に開口して導出口111となっている。また、溝
部110の他方は反射壁部112として形成されてい
る。かかる反射壁部112は、平面視放物線状に形成さ
れている。従って、反射壁部112の焦点Fに相当する
位置から反射壁部112に入射された光は、平行光線と
なって導出口111側に反射されるのである。このた
め、反射壁部112には鏡面処理が施されている。
側面部に開口して導出口111となっている。また、溝
部110の他方は反射壁部112として形成されてい
る。かかる反射壁部112は、平面視放物線状に形成さ
れている。従って、反射壁部112の焦点Fに相当する
位置から反射壁部112に入射された光は、平行光線と
なって導出口111側に反射されるのである。このた
め、反射壁部112には鏡面処理が施されている。
【0018】このように構成された本体部100は、図
外の電源に接続されている。すなわち、本体部100
は、溝部110にセットされたLEDチップ500の一
方の電極に電気的に接続していることになる。
外の電源に接続されている。すなわち、本体部100
は、溝部110にセットされたLEDチップ500の一
方の電極に電気的に接続していることになる。
【0019】なお、LEDチップの他方の電極には、図
外の電源に接続されたプローブ400が接続される。
外の電源に接続されたプローブ400が接続される。
【0020】前記遮光カバー200は、凹部120に嵌
め込まれることによって本体部100に取り付けられ、
導出口111を除いて溝部110を覆うものである。か
かる遮光カバー200には、プローブ400が挿入され
る挿入孔210が開設されている。この挿入孔210
は、図3にも示されているように、外面側が大径の逆円
錐台状に形成されている。これは、LEDチップ500
からの光が挿入孔210、詳しくは挿入孔210とプロ
ーブ400との間の隙間から外部に漏れ出るのを最小限
にするためである。なお、挿入孔210の小径部は挿入
されるプローブ400の先端部よりは若干大きめである
ことは勿論である。
め込まれることによって本体部100に取り付けられ、
導出口111を除いて溝部110を覆うものである。か
かる遮光カバー200には、プローブ400が挿入され
る挿入孔210が開設されている。この挿入孔210
は、図3にも示されているように、外面側が大径の逆円
錐台状に形成されている。これは、LEDチップ500
からの光が挿入孔210、詳しくは挿入孔210とプロ
ーブ400との間の隙間から外部に漏れ出るのを最小限
にするためである。なお、挿入孔210の小径部は挿入
されるプローブ400の先端部よりは若干大きめである
ことは勿論である。
【0021】前記受光素子300は、受光部310を導
出口111に臨ませて本体部100の側面部に取り付け
られる。かかる受光素子300は、例えばフォトトラン
ジスタ等であり、受光部310に入射された光の光量、
すなわち受光量や色合い等に応じた信号を出力すること
ができるものである。
出口111に臨ませて本体部100の側面部に取り付け
られる。かかる受光素子300は、例えばフォトトラン
ジスタ等であり、受光部310に入射された光の光量、
すなわち受光量や色合い等に応じた信号を出力すること
ができるものである。
【0022】このように構成されたLEDチップ光学特
性計測センサにおいてLEDチップ500は、反射壁部
112の焦点Fに相当する位置において溝部110にセ
ットされる。従って、LEDチップ500から反射壁部
110に入射された光は反射壁部110によって導出口
111側に平行光線として反射される。
性計測センサにおいてLEDチップ500は、反射壁部
112の焦点Fに相当する位置において溝部110にセ
ットされる。従って、LEDチップ500から反射壁部
110に入射された光は反射壁部110によって導出口
111側に平行光線として反射される。
【0023】測定すべきLEDチップ500を溝部11
0の焦点Fにセットする。この状態で遮光カバー200
でもって溝部110を覆い、遮光カバー200の挿入孔
210からプローブ400を挿入し、LEDチップ50
0の電極にプローブ400の先端を接触させる。
0の焦点Fにセットする。この状態で遮光カバー200
でもって溝部110を覆い、遮光カバー200の挿入孔
210からプローブ400を挿入し、LEDチップ50
0の電極にプローブ400の先端を接触させる。
【0024】本体部100は、上述したように図外の電
源に接続されているから、LEDチップ500は発光す
る。LEDチップ500から反射壁部112側に照射さ
れた光は、図2に示すように、導出口111側に平行光
線として反射される。もちろん、反射壁部112に照射
されなかった光も導出口111側に導かれる。
源に接続されているから、LEDチップ500は発光す
る。LEDチップ500から反射壁部112側に照射さ
れた光は、図2に示すように、導出口111側に平行光
線として反射される。もちろん、反射壁部112に照射
されなかった光も導出口111側に導かれる。
【0025】導出口111には、受光素子300の受光
部310が臨んでいるので、LEDチップ500から照
射された光は前記受光部310によって受光される。受
光素子300は受光量や色合いに応じた信号を出力する
ので、受光素子300の出力に応じてLEDチップの光
学的特性を計測することができる。
部310が臨んでいるので、LEDチップ500から照
射された光は前記受光部310によって受光される。受
光素子300は受光量や色合いに応じた信号を出力する
ので、受光素子300の出力に応じてLEDチップの光
学的特性を計測することができる。
【0026】ここで、LEDチップ500を反射壁部1
12の焦点Fではなく、図4に示すように、若干導出口
111側にセットすると、反射壁部112で反射された
光は平行光線としてではなく、導出口111の中央側に
収束するようになる。このようにすると、受光部310
の小さい受光素子300等を使用する場合に好適とな
る。
12の焦点Fではなく、図4に示すように、若干導出口
111側にセットすると、反射壁部112で反射された
光は平行光線としてではなく、導出口111の中央側に
収束するようになる。このようにすると、受光部310
の小さい受光素子300等を使用する場合に好適とな
る。
【0027】
【0028】
【0029】
【0030】
【0031】
【0032】
【0033】
【0034】
【0035】
【0036】
【0037】
【0038】
【0039】
【0040】
【0041】
【0042】
【0043】
【0044】
【0045】
【0046】
【0047】
【0048】
【0049】
【0050】
【発明の効果】本発明に係るLEDチップ光学特性測定
センサは、測定すべきLEDチップがセットされる溝部
を有する本体部と、前記溝部を覆うべく前記本体部に取
り付けられる遮光カバーと、前記LEDチップからの光
を受光する受光素子とを備えており、前記溝部にはLE
Dチップからの光を前記受光素子に導く導出口が設けら
れるとともに、LEDチップから直接導出口側に入射さ
れなかった光を反射させて前記導出口に導く放物線状の
反射壁部が設けられており、前記遮光カバーにはLED
チップに接触するプローブを挿入する挿入孔がLEDチ
ップのセット位置に対応して設けられており、前記セッ
ト位置は放物線状の反射壁部の焦点又は焦点より若干導
出口側である。このため、前記焦点にセットしたLED
チップから照射された光、特に反射壁部に照射された光
が平行光線として導出口に導かれるため、反射は反射壁
部での1回だけになる。よって、導出口に導かれる光の
光量の減衰は最小限に抑えられる。このため、従来のL
EDチップ光学特性測定センサより正確な光学的特性の
測定が可能になる。また、前記焦点より若干導出口側に
LEDチップをセットした場合には、反射壁部で反射さ
れた光は平行光線としてではなく、導出口の中央側に収
束するようになる。このようにすると、受光部の小さい
受光素子を使用する場合に好適となる。
センサは、測定すべきLEDチップがセットされる溝部
を有する本体部と、前記溝部を覆うべく前記本体部に取
り付けられる遮光カバーと、前記LEDチップからの光
を受光する受光素子とを備えており、前記溝部にはLE
Dチップからの光を前記受光素子に導く導出口が設けら
れるとともに、LEDチップから直接導出口側に入射さ
れなかった光を反射させて前記導出口に導く放物線状の
反射壁部が設けられており、前記遮光カバーにはLED
チップに接触するプローブを挿入する挿入孔がLEDチ
ップのセット位置に対応して設けられており、前記セッ
ト位置は放物線状の反射壁部の焦点又は焦点より若干導
出口側である。このため、前記焦点にセットしたLED
チップから照射された光、特に反射壁部に照射された光
が平行光線として導出口に導かれるため、反射は反射壁
部での1回だけになる。よって、導出口に導かれる光の
光量の減衰は最小限に抑えられる。このため、従来のL
EDチップ光学特性測定センサより正確な光学的特性の
測定が可能になる。また、前記焦点より若干導出口側に
LEDチップをセットした場合には、反射壁部で反射さ
れた光は平行光線としてではなく、導出口の中央側に収
束するようになる。このようにすると、受光部の小さい
受光素子を使用する場合に好適となる。
【0051】また、前記溝部の導出口は、本体部の側面
部に開口しており、当該導出口に受光素子の受光部が臨
んでいる。このため、周囲の空間に応じたLEDチップ
光学特性測定センサとすることができ、LEDチップ選
別装置の設計の自由度を向上させるので好都合である。
部に開口しており、当該導出口に受光素子の受光部が臨
んでいる。このため、周囲の空間に応じたLEDチップ
光学特性測定センサとすることができ、LEDチップ選
別装置の設計の自由度を向上させるので好都合である。
【0052】
【図1】本発明の実施例に係るLEDチップ光学特性測
定センサの概略的分解斜視図である。
定センサの概略的分解斜視図である。
【図2】この実施例に係るLEDチップ光学特性測定セ
ンサでのLEDチップから光の反射壁部における反射を
示す概略的平面図である。
ンサでのLEDチップから光の反射壁部における反射を
示す概略的平面図である。
【図3】この実施例に係るLEDチップ光学特性測定セ
ンサの概略的断面図である。
ンサの概略的断面図である。
【図4】この実施例におけるLEDチップ光学特性測定
センサでLEDチップを反射壁部の焦点から若干ずらし
てセットした場合のLEDチップから光の反射壁部にお
ける反射を示す概略的平面図である。
センサでLEDチップを反射壁部の焦点から若干ずらし
てセットした場合のLEDチップから光の反射壁部にお
ける反射を示す概略的平面図である。
【図5】従来のこの種のLEDチップ光学特性測定セン
サを示す概略的構成図である。
サを示す概略的構成図である。
100 本体部
110 溝部
111 導出口
200 遮光カバー
210 挿入孔
300 受光素子
310 受光部
500 LEDチップ
F 焦点
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名)
G01M 11/00 - 11/08
G01J 1/00 - 1/60
H01L 33/00
G01R 31/26
Claims (2)
- 【請求項1】 測定すべきLEDチップがセットされる
溝部を有する本体部と、前記溝部を覆うべく前記本体部
に取り付けられる遮光カバーと、前記LEDチップから
の光を受光する受光素子とを具備しており、前記溝部に
はLEDチップからの光を前記受光素子に導く導出口が
設けられるとともに、LEDチップから直接導出口側に
入射されなかった光を反射させて前記導出口に導く放物
線状の反射壁部が設けられており、前記遮光カバーには
LEDチップに接触するプローブを挿入する挿入孔がL
EDチップのセット位置に対応して設けられており、前
記セット位置は放物線状の反射壁部の焦点又は焦点より
若干導出口側であることを特徴とするLEDチップ光学
特性測定センサ。 - 【請求項2】 前記溝部の導出口は、本体部の側面部に
開口しており、当該導出口に受光素子の受光部が臨んで
いることを特徴とする請求項1記載のLEDチップ光学
特性測定センサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24053194A JP3375752B2 (ja) | 1994-09-07 | 1994-09-07 | Ledチップ光学特性計測センサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24053194A JP3375752B2 (ja) | 1994-09-07 | 1994-09-07 | Ledチップ光学特性計測センサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0875605A JPH0875605A (ja) | 1996-03-22 |
| JP3375752B2 true JP3375752B2 (ja) | 2003-02-10 |
Family
ID=17060920
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24053194A Expired - Fee Related JP3375752B2 (ja) | 1994-09-07 | 1994-09-07 | Ledチップ光学特性計測センサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3375752B2 (ja) |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3466032B2 (ja) | 1996-10-24 | 2003-11-10 | 富士通株式会社 | 動画像符号化装置および復号化装置 |
| JP4932622B2 (ja) * | 2007-07-09 | 2012-05-16 | 星和電機株式会社 | 光学特性測定装置 |
| JP5239716B2 (ja) * | 2008-10-06 | 2013-07-17 | 株式会社日本マイクロニクス | Ledの試験装置 |
| JP5350906B2 (ja) * | 2009-06-22 | 2013-11-27 | シチズン電子株式会社 | 光学指向特性測定装置 |
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-
1994
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