JP3358121B2

JP3358121B2 - 光電式塵埃センサ

Info

Publication number: JP3358121B2
Application number: JP18595995A
Authority: JP
Inventors: 敏行前田; 利夫田中
Original assignee: Daikin Industries Ltd
Current assignee: Daikin Industries Ltd
Priority date: 1995-07-21
Filing date: 1995-07-21
Publication date: 2002-12-16
Anticipated expiration: 2015-07-21
Also published as: JPH0933434A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は光電式塵埃センサ
に関し、さらに詳細にいえば、発光部と受光部とを有
し、発光部からの光が直接には受光部に照射されないよ
うに、両者間に遮光部材を設け、塵埃（煙の粒子を含
む）が存在する場合に、塵埃に起因する散乱光の一部を
受光部により受光するようにした光電式塵埃センサに関
する。

【０００２】

【従来の技術】従来から、暗箱内に発光部と受光部とを
配置するとともに、発光部からの光が直接に受光部に導
かれることを阻止するための遮光部材を配置し、暗箱内
に煙などの塵埃が侵入した場合に、塵埃に起因する散乱
光を受光部において受光し、受光部からの出力信号（散
乱光強度にほぼ対応する出力信号）に基づいて塵埃を検
出するようにした光電式塵埃センサが提案されている。

【０００３】このような光電式塵埃センサにおいては、
塵埃に起因する散乱反射光の強度が発光部からの出力光
強度と比較して著しく微弱であるから、発光部からの出
力光が暗箱の各部において反射され、最終的に受光部に
より受光されることを極力防止しなければならない。こ
のような要求を満足させるために、粉塵を検出する光学
室を構成する側面を傾斜させ、発光部の照射面および受
光部の検知領域の光軸と交差する面に光沢を持たせた構
成の光電式塵埃センサ（特開平５−２６８０８号公報参
照）、発光部からの直接光を取込むように暗箱内に光ト
ラップを設けた構成の光電式塵埃センサ（実開昭６３−
１１０９９２号公報、特開平５−２３２０２０号公報参
照）が提案されている。

【０００４】特開平５−２６８０８号公報に記載された
光電式塵埃センサでは、光軸と交差する面に光沢を持た
せ、鏡面反射を行わせるようにしているので、これらの
面における反射光が迷光（ノイズ光）として作用するこ
とを抑制し、ひいては塵埃検出精度を高めることができ
ると期待されている。実開昭６３−１１０９９２号公
報、特開平５−２３２０２０号公報に記載された光電式
塵埃センサは、発光部からの直接光を光トラップ内に導
くことにより迷光（ノイズ光）を殆ど皆無にし、ひいて
は塵埃検出精度を高めることができると期待されてい
る。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】特開平５−２６８０８
号公報に示す構成の光電式塵埃センサは、特定の面に光
沢を持たせて鏡面反射を行わせるようにしているのであ
るから、これらの特定の面における反射では光を十分に
減衰させることができない。したがって、暗箱内で光を
多重反射させても、多重反射の回数の増加により期待さ
れるほどには光を減衰させることができないという不都
合がある。また、光電式塵埃センサは暗箱内に塵埃を含
む流体（気体）を導入し、塵埃に起因する散乱反射光の
強度を検出するのであるから、光沢を持たせた面に塵埃
が付着する可能性が高く、塵埃の測定回数が増加した場
合、塵埃の濃度が高い気体を用いて測定を行った場合に
は、これらの面における拡散反射成分が増加してしま
い、受光部に導かれるノイズ光の強度が増加してしまう
という不都合がある。

【０００６】実開昭６３−１１０９９２号公報、特開平
５−２３２０２０号公報に示す構成の光電式塵埃センサ
は、発光部からの直接光を全て光トラップに導入しなけ
ればならないので、発光部から出力される光をビーム状
に絞るためのレンズ系が必要になり、構成が複雑化する
とともに、コストアップを招いてしまうという不都合が
ある。この場合には、発光部からの直接光を全て光トラ
ップに導入できるようにレンズ系の配置位置、焦点距離
などを正確に設定しなければならなくなる。また、光を
ビーム状に絞るためのレンズ系を省略することも可能で
あるが、この場合には、光トラップの光導入用開口を大
きくしなければならず、光導入用開口を大きくしたこと
に起因して光トラップ自体を大型化しなければならなく
なるという不都合がある。

【０００７】

【発明の目的】この発明は上記の問題点に鑑みてなされ
たものであり、特別な処理を施すことなく、発光部から
の直接光に起因するノイズ光を大幅に低減して塵埃検出
精度を高めることができる光電式塵埃センサを提供する
ことを目的としている。

【０００８】

【課題を解決するための手段】請求項１の光電式塵埃セ
ンサは、ケース体の内部に、発光部、第１受光部および
発光部からの光が直接第１受光部に入射することを阻止
する遮光部材が設けられてあり、発光部からの光が直接
照射される第１板部材がこの光を第１受光部から離れる
方向に反射するように設けられてあるとともに、第１板
部材により反射された光をさらに反射させるとともに、
第１板部材とで多重反射を行わせるための第２板部材が
設けられてあり、さらに、第１板部材の所定位置に、発
光部からの光を通過させる穴が形成されてあるととも
に、この穴を通過した光をとじ込めて減衰させる光トラ
ップが設けられてある。

【０００９】請求項２の光電式塵埃センサは、第１板部
材が光トラップの一部を兼ねているものである。請求項
３の光電式塵埃センサは、発光部からの光の強度を一定
に保持するために、発光部からの光のうち、第１板部材
に形成された穴を通過する光を受光する第２受光部をさ
らに設けたものである。

【００１０】

【作用】請求項１の光電式塵埃センサであれば、ケース
体の内部に、発光部、第１受光部および発光部からの光
が直接第１受光部に入射することを阻止する遮光部材が
設けられてあり、発光部からの光が直接照射される第１
板部材がこの光を第１受光部から離れる方向に反射する
ように設けられてあるとともに、第１板部材により反射
された光をさらに反射させるとともに、第１板部材とで
多重反射を行わせるための第２板部材が設けられてあ
り、さらに、第１板部材の所定位置に、発光部からの光
を通過させる穴が形成されてあるとともに、この穴を通
過した光をとじ込めて減衰させる光トラップが設けられ
てあるので、発光部からの直接光のうち、少なくとも一
部は穴を通して光トラップに導入される。そして、発光
部からの直接光のうち、光トラップに導入されなかった
光があれば、第１板部材と第２板部材とにより多重反射
される。したがって、発光部からの直接光をビーム状に
絞り込んでいなくても、光トラップと、第１板部材およ
び第２板部材による多重反射とによって発光部からの直
接光に起因するノイズ光を十分に減衰させることがで
き、塵埃を高精度に検出することができる。もちろん、
光を減衰させる部分を小形化できる。

【００１１】請求項２の光電式塵埃センサであれば、第
１板部材が光トラップの一部を兼ねているので、構成を
簡素化することができ、しかも請求項１と同様の作用を
達成することができる。請求項３の光電式塵埃センサで
あれば、発光部からの光の強度を一定に保持するため
に、発光部からの光のうち、第１板部材に形成された穴
を通過する光を受光する第２受光部をさらに設けている
ので、第２受光部からの出力信号に基づいてフィードバ
ック制御を行うことにより発光部からの光の強度を一定
に保持することができ、しかも、第２受光部による反射
光がノイズ光として作用することを防止することができ
る。

【００１２】

【発明の実施の形態】以下、添付図面によってこの発明
の実施の態様を詳細に説明する。図１はこの発明の光電
式塵埃センサの一実施態様の内部機構を示す平面図、図
２は概略正面図である。この光電式塵埃センサは、発光
ダイオードなどからなる発光部１ａおよびフォトダイオ
ードなどからなる第１受光部１ｂが搭載された基板１
と、暗箱（ケース体）２とから構成されている。ここ
で、基板１としては、例えば、ガラスエポキシからなる
プリント配線基板が例示でき、暗箱２としては、例え
ば、アクリルニトリルブタジエンスチレン共重合体（以
下、ＡＢＳと略称する）を用いて成形された箱体が例示
できる。

【００１３】暗箱２は全体が立方体状の箱体であり、そ
の内部に上方に延びる壁部材を形成することにより、発
光部収容空間２ａ、第１受光部収容空間２ｂを形成して
いるとともに、発光部収容空間２ａ、第１受光部収容空
間２ｂにそれぞれレンズ系２ｃ、２ｄを設けている。そ
して、両レンズ系２ｃ，２ｄの光軸が所定の角度をなす
ように両レンズ系２ｃ，２ｄが配置されている。また、
レンズ系２ｃの光軸上であって、発光部収容空間２ａの
内奥部に発光部１ａを侵入させるための穴が形成されて
いるとともに、レンズ系２ｄの光軸上であって、第１受
光部収容空間２ｂの内奥部に第１受光部１ｂを侵入させ
るための穴が形成されている。なお、レンズ系２ｃを省
略することが可能である。

【００１４】そして、発光部収容空間２ａと第１受光部
収容空間２ｂとの中間部に、発光部１ａからレンズ系２
ｃを通して出射される光が直接レンズ系２ｄを通して第
１受光部１ｂに導かれることを防止する遮光部材２ｅが
設けられている。また、ノイズ光として作用する可能性
がある光がレンズ系２ｄを通して第１受光部１ｂに導か
れることを防止するノイズ光遮光部材２ｆが発光部収容
空間２ａ、第１受光部収容空間２ｂ、遮光部材２ｅとほ
ぼ正対する位置に設けられている。ノイズ光遮光部材２
ｆは複数個設けられており、互いに隣合うノイズ光遮光
部材２ｆ１，２ｆ２によってノイズ光減衰室を構成して
いる。このノイズ光減衰室に導入された光はこの室の吸
光度が高い内壁面で複数回反射させられることにより、
その強度が十分に減衰させられる。また、発光部１ａか
らの直接光が照射されるノイズ光遮光部材（第１板部
材）２ｆ１の所定位置に直接光を通過させるための穴２
ｊが形成されているとともに、このノイズ光遮光部材２
ｆ１と第１受光部収容空間２ｂを規定する板部材と暗箱
２の外壁部材とで光トラップ２ｋを構成している。な
お、ノイズ光遮光部材２ｆ１と対向するノイズ光遮光部
材２ｆ２および両ノイズ光遮光部材２ｆ１，２ｆ２の間
に位置する暗箱２の外壁部材が第２板部材に該当する。

【００１５】さらに、遮光部材２ｅとほぼ正対する所定
位置に応力を逃がすためのスリット部２ｇが形成されて
おり、遮光部材２ｅの基部およびスリット部２ｇを挟ん
で遮光部材２ｅと反対側の所定位置にねじ止め用の穴が
形成され、これらの穴を通して基板１がねじ２ｈによっ
てねじ止めされている。また、遮光部材２ｅの先端に近
接する所定位置に流体導入用の開口２ｉが設けられてい
る。もちろん、基板１の対応箇所にも流体導入用の開口
（図示せず）が設けられている。

【００１６】上記の構成の光学式塵埃センサの作用は次
のとおりである。発光部１ａおよび第１受光部１ｂが搭
載された基板１を暗箱２の下面に接触させ、この状態に
おいて１対のねじ２ｈにより基板１と暗箱２とを一体的
に連結することにより、光学的塵埃センサの組み立てを
完了する。この状態においては、発光部１ａ、レンズ系
２ｃ、遮光部材２ｅ、レンズ系２ｄおよび第１受光部１
ｂの相対位置が所期のとおりに設定されている。

【００１７】このようにして組み立てられた光電式塵埃
センサを所定位置に配置することにより、以下のように
して測定対象雰囲気中における塵埃の濃度を測定するこ
とができる。測定対象雰囲気が塵埃を全く含んでいない
場合には、発光部１ａからレンズ系２ｃを通して出射さ
れる光はそのまま直線的に伝播し、遮光部材２ｅの存在
によってレンズ系２ｄには全く照射されない。この結
果、第１受光部１ｂからの出力信号は小さいままであ
る。なお、直線的に伝播する光のうち、少なくとも一部
は穴２ｊを通して光トラップ２ｋに導入され、とじ込め
られることによりほぼ完全に減衰する。また、直線的に
伝播する光の残部はノイズ光遮光部材２ｆ１，２ｆ２お
よび暗箱２の外壁部材によって多重反射されることによ
り十分に減衰する。したがって、発光部１ａからの直接
光に起因するノイズ光は第１受光部１ｂには殆ど影響を
及ぼさない。

【００１８】さらに詳細に説明する。ノイズ光遮光部材
２ｆ１の反射率をα、穴２ｊの中の反射率をβ、発光部
１ａからノイズ光遮光部材２ｆ１に照射されるビームの
半径をａ、穴２ｊの半径をｒ、発光部１ａの光出力を
Ｐ、穴２ｊから穴２ｊの奥の反射体までの距離をＬ、ビ
ームの範囲内で明るさが変わらないと仮定すれば、ノイ
ズ光遮光部材２ｆ１での反射量Ｒｓは、Ｒｓ＝Ｐα（ａ²−ｒ²）／ａ² となる。また、穴２ｊに入る光はＰｒ²／ａ²、穴２ｊの
中で反射した光はβＰｒ ²／ａ²、穴２ｊから出てくる光
（反射光は拡散反射するものと仮定する）は穴２ｊで反
射した光のうちのπｒ²／（２πＬ²）となる。したがっ
て、穴２ｊでの反射量ＲｈはＲｈ＝（βＰｒ⁴）／２Ｌ²ａ² となる。

【００１９】図３に、穴２ｊの直径を変化させた場合に
おけるＲｓ｛ノイズ光遮光部材２ｆ１による迷走光（ノ
イズ光）｝、Ｒｈ｛光トラップ２ｋによる迷走光（ノイ
ズ光）｝、Ｒｓ＋Ｒｈ｛総迷走光量（総ノイズ光）｝の
変化のシミュレーション結果を示す。図３から明らかな
ように、ビームの直径が約３０ｍｍである場合に、穴２
ｊの直径を約２０ｍｍに設定することにより総迷走光量
を最小にできることが分かる。

【００２０】発光部１ａとしてビームが比較的狭い発光
ダイオードを採用した場合には、出力光のうち、中心が
明るいので、Ｒｓは穴２ｊの面積に対して直線的には低
下せず、穴２ｊが小さい範囲で急激に低下すると考えら
れる。また、Ｒｈは穴２ｊの小さい範囲で増加するもの
の、穴２ｊの面積の２乗に比例することから、Ｒｓほど
の変化はないと考えられる。発光部１ａとして発光ダイ
オードを採用した場合のシミュレーション結果を図４に
示す。図３と図４とを比較すれば、発光ダイオードを採
用することにより、総迷走光量を著しく低減できること
が分かる。

【００２１】また、発光部１ａとして、ビームが比較的
広くて一様な光に近い特性を有する発光ダイオード（ビ
ームの半径が１０．５ｍｍ、ここでビーム径は発光部１
ａの指向特性から得られるビーム半値角の正弦と、ノイ
ズ光遮光部材２ｆ１までの距離とに基づいて算出され
る）、ビームが比較的狭くて、中心が明るい特性を有す
る発光ダイオード（ビームの半径が７．３ｍｍ）をそれ
ぞれ採用し、穴２ｊの直径を０，２，４，６，８，１０
ｍｍに設定した場合およびノイズ光遮光部材２ｆ１を省
略した場合における総迷走光量の変化の実測値を図５、
図６に黒四角、白四角で示す。なお、図６には、センサ
が汚れた場合に対応させるべく、ノイズ光遮光部材２ｆ
１で反射した光が当たる部分にテープを貼って反射光の
減衰率を下げた（反射率を上げた）状態での総迷走光量
の変化の実測値の変化を黒四角で示している。また、発
光部１ａから受光部１ｂまでの距離は７１ｍｍ、発光部
１ａから光トラップ２ｋの穴２ｊまでの距離は６０ｍｍ
である。

【００２２】図５の実測値から明らかなように、穴２ｊ
の直径が４ｍｍの時に総迷走光量（塵埃の濃度が０の時
の第１受光部１ｂからの出力電圧値）が極小になってい
ることが分かる。図６に白四角で示す実測値から明らか
なように、穴２ｊの直径が小さいほど総迷走光量が少な
くなっている。これは、ノイズ光遮光部材２ｆ１，２ｆ
２による光の減衰が良好に行われ、光トラップ２ｋでの
光の減衰が穴２ｊからの距離が小さいことに起因して良
好には行われなかったことが原因であると思われる。図
６に黒四角で示す実測値から明らかなように、穴２ｊの
直径が４〜８ｍｍの時に総迷走光量が極小になっている
ことが分かる。ここで、穴２ｊの直径が６ｍｍの時に総
迷走光量が大きくなっているのは、ノイズ光遮光部材２
ｆ１の作製精度が原因であると思われる。

【００２３】測定対象雰囲気が塵埃を含んでいる場合に
は、流体導入用の開口２ｉを通して塵埃を含む流体が暗
箱２の内部に侵入するので、発光部１ａからレンズ系２
ｃを通して出射される光が塵埃によって散乱反射され、
散乱反射光の一部がレンズ系２ｄを通して第１受光部１
ｂに導かれる。この結果、第１受光部１ｂからの出力信
号が、受光する散乱反射光の強度に対応して大きくな
る。また、直線的に伝播する光は光トラップ２ｋ、ノイ
ズ光遮光部材２ｆ１，２ｆ２および暗箱２の外壁部材に
より十分に減衰されるので、第１受光部１ｂには殆ど影
響を及ぼさない。したがって、第１受光部１ｂからの出
力信号に基づいて測定対象雰囲気中の塵埃の濃度を測定
することができる。

【００２４】以上は温度変化、経時変化などの影響を受
けていない状態における作用である。温度変化、経時変
化などの影響を受けた場合には、基板１と暗箱２との熱
膨張係数が互いに異なるとともに、基板１と暗箱２とが
１対のねじ２ｈにより一体的に連結されているのである
から、両者の間の熱膨張差に起因して応力が発生し、基
板１、暗箱２に歪が発生する。しかし、この実施態様に
おいては、１対のねじ２ｈによる連結部どうしの間に応
力を逃がすためのスリット部２ｇが形成されているので
あるから、上述のように応力が発生しても、この応力の
大半がスリット部２ｇにより逃がされ、発光部１ａ、レ
ンズ系２ｃ、遮光部材２ｅ、レンズ系２ｄおよび第１受
光部１ｂの相対位置は殆ど変化しない。したがって、温
度変化、経時変化などの影響を受けない場合と同様に測
定雰囲気中の塵埃の濃度を測定することができる。

【００２５】図７はこの発明の光学的塵埃センサの他の
実施の態様の内部機構を示す平面図である。この実施態
様が図１の実施態様と異なる点は、穴２ｊを通して光ト
ラップ２ｋ内に導入される発光部１ａからの直接光を受
光するための第２受光部２ｍを設けた点のみである。な
お、この第２受光部２ｍからの出力信号は図示しないフ
ィードバック回路を介して発光部１ａを駆動する駆動回
路（図示せず）にフィードバックされ、発光部１ａから
の出力光強度を一定に保持すべく発光部１ａを制御する
ようにしている。

【００２６】この実施態様を採用した場合には、第２受
光部２ｍが光トラップ２ｋの内部において発光部１ａか
らの直接光を受光するようにしているので、第２受光部
２ｍによって反射される直接光が光トラップ２ｋの外部
に戻って迷走光になってしまう割合を著しく低減するこ
とができる。したがって、図１の実施態様と比較して迷
走光を殆ど増加させることなく、発光部１ａからの出力
光強度を一定に保持することができ、ひいては塵埃の検
出精度を高めることができる。

【００２７】なお、この実施の態様において、第２受光
部２ｍの反射係数を得ることができるのであれば、この
反射係数をも考慮して穴２ｊの直径の最適値を得ること
ができるが、反射係数を求めることが困難である場合に
は、実験的に穴２ｊの直径の最適値を得ればよい。発光
部１ａとして、ビームが比較的広くて一様な光に近い特
性を有する発光ダイオード、ビームが比較的狭くて、中
心が明るい特性を有する発光ダイオードをそれぞれ採用
し、穴２ｊの直径を０，２，４，６，８，１０ｍｍに設
定した場合およびノイズ光遮光部材２ｆ１を省略した場
合における総迷走光量の変化の実測値を図８に黒四角、
白四角で示す。

【００２８】何れの場合にも、穴２ｊの直径が２ｍｍの
時に総迷走光量の極小が認められている。ただし、極小
のレベルは非常に小さい。これは、光トラップ２ｋの内
部での反射が著しく大きいため、穴２ｊを開けない方が
迷走光量が小さくなるからであると考えられる。第２受
光部２ｍを設けていない場合、第２受光部２ｍを光トラ
ップ２ｋの内部の所定位置、ノイズ光遮光部材２ｆ１の
直後、ノイズ光遮光部材２ｆ１の直前に設けた場合にお
ける総迷走光量の変化の実測値を図９に黒四角で示す。

【００２９】ノイズ光遮光部材２ｆ１の直前に第２受光
部２ｍを設けた場合に総迷走光量が著しく大きいことが
分かり、図７の実施の態様を採用することにより総迷走
光量を低減できていることが分かる。また、第２受光部
２ｍを光トラップ２ｋの内部の所定位置、ノイズ光遮光
部材２ｆ１の直後にそれぞれ設けた場合に、総迷走光量
が互いにほぼ等しいのは、穴２ｊからの距離の差が余り
大きくないからであると思われる。

【００３０】

【発明の効果】請求項１の発明は、発光部からの直接光
のうち、少なくとも一部は穴を通して光トラップに導入
され、発光部からの直接光のうち、光トラップに導入さ
れなかった光があれば、第１板部材と第２板部材とによ
り多重反射され、ひいては、発光部からの直接光をビー
ム状に絞り込んでいなくても、光トラップと、第１板部
材および第２板部材による多重反射とによって発光部か
らの直接光に起因するノイズ光を十分に減衰させること
ができ、塵埃を高精度に検出することができ、さらに、
直接光を減衰させる部分を小形化できるという特有の効
果を奏する。

【００３１】請求項２の発明は、構成を簡素化すること
ができるほか、請求項１と同様の効果を奏する。請求項
３の発明は、第２受光部からの出力信号に基づいてフィ
ードバック制御を行うことにより発光部からの光の強度
を一定に保持することができ、しかも、第２受光部によ
る反射光がノイズ光として作用することを防止すること
ができるという特有の効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】図１はこの発明の光電式塵埃センサの一実施態
様の内部機構を示す平面図である。

【図２】同上概略正面図である。

【図３】穴の直径を変化させた場合におけるＲｓ、Ｒ
ｈ、Ｒｓ＋Ｒｈの変化のシミュレーション結果を示す図
である。

【図４】発光部としてビームが比較的狭い発光ダイオー
ドを採用した場合におけるＲｓ、Ｒｈ、Ｒｓ＋Ｒｈの変
化のシミュレーション結果を示す図である。

【図５】発光部として、ビームが比較的広くて一様な光
に近い特性を有する発光ダイオードを採用し、穴の直径
を０，２，４，６，８，１０ｍｍに設定した場合および
ノイズ光遮光部材を省略した場合における総迷走光量の
変化の実測値を示す図である。

【図６】発光部として、ビームが比較的狭くて、中心が
明るい特性を有する発光ダイオードを採用し、穴の直径
を０，２，４，６，８，１０ｍｍに設定した場合および
ノイズ光遮光部材を省略した場合における総迷走光量の
変化の実測値を示す図である。

【図７】この発明の光電式塵埃センサの他の実施の態様
を示す平面図である。

【図８】発光部として、ビームが比較的広くて一様な光
に近い特性を有する発光ダイオード、ビームが比較的狭
くて、中心が明るい特性を有する発光ダイオードをそれ
ぞれ採用し、穴の直径を０，２，４，６，８，１０ｍｍ
に設定した場合およびノイズ光遮光部材を省略した場合
における総迷走光量の変化の実測値を示す図である。

【図９】第２受光部を設けていない場合、第２受光部を
光トラップ２ｋの内部の所定位置、ノイズ光遮光部材の
直後、ノイズ光遮光部材の直前に設けた場合における総
迷走光量の変化の実測値を示す図である。

【符号の説明】

１基板１ａ発光部１ｂ第１受光部２暗箱２ｃ，２ｄレンズ系２ｅ遮光部材２ｆ１，２ｆ２ノイズ光遮光部材２ｊ穴２ｋ光トラップ２ｍ第２受光部

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献特開平４−160697（ＪＰ，Ａ) 実開昭62−37751（ＪＰ，Ｕ) 実開昭63−110992（ＪＰ，Ｕ) 実開平２−83450（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G01N 21/00 - 21/61 G01N 15/14

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】ケース体（２）の内部に、発光部（１
ａ）、第１受光部（１ｂ）および発光部（１ａ）からの
光が直接第１受光部（１ｂ）に入射することを阻止する
遮光部材（２ｅ）が設けられてあり、発光部（１ａ）か
らの光が直接照射される第１板部材（２ｆ１）が第１受
光部（１ｂ）から離れる方向に反射するように設けられ
てあるとともに、第１板部材（２ｆ１）により反射され
た光をさらに反射させるとともに、第１板部材（２ｆ
１）とで多重反射を行わせるための第２板部材（２ｆ
２）が設けられてあり、さらに、第１板部材（２ｆ１）
の所定位置に、発光部（１ａ）からの光を通過させる穴
（２ｊ）が形成されてあるとともに、この穴（２ｊ）を
通過した光をとじ込めて減衰させる光トラップ（２ｋ）
が設けられてあることを特徴とする光電式塵埃センサ。
【請求項２】第１板部材（２ｆ１）が光トラップ（２
ｋ）の一部を兼ねている請求項１に記載の光電式塵埃セ
ンサ。
【請求項３】発光部（１ａ）からの光の強度を一定に
保持するために、発光部（１ａ）からの光のうち、第１
板部材（２ｆ１）に形成された穴（２ｊ）を通過する光
を受光する第２受光部（２ｍ）をさらに設けてある請求
項１または請求項２に記載の光電式塵埃センサ。