JPH08606A - X線ct装置 - Google Patents
X線ct装置Info
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- JPH08606A JPH08606A JP6141877A JP14187794A JPH08606A JP H08606 A JPH08606 A JP H08606A JP 6141877 A JP6141877 A JP 6141877A JP 14187794 A JP14187794 A JP 14187794A JP H08606 A JPH08606 A JP H08606A
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- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 スライス方向に画質を劣化させることなく高
速撮影可能なX線CT装置の提供を目的とする。 【構成】 スライス方向選択機構11は、最小スライス
幅W1の整数倍スライス幅選択を行う。一方、X線検出
器23は、この最小スライス幅W1に相当するスライス
方向検出幅d1を3列以上で最大スライス幅相当分、ス
ライス方向に配列する。これによって、スライス方向選
択機構11で選んだ任意のスライス幅Wiに対して、ス
ライス方向検出素子が1対1に整合した関係となり、ス
ライス方向の分解能が向上する。
速撮影可能なX線CT装置の提供を目的とする。 【構成】 スライス方向選択機構11は、最小スライス
幅W1の整数倍スライス幅選択を行う。一方、X線検出
器23は、この最小スライス幅W1に相当するスライス
方向検出幅d1を3列以上で最大スライス幅相当分、ス
ライス方向に配列する。これによって、スライス方向選
択機構11で選んだ任意のスライス幅Wiに対して、ス
ライス方向検出素子が1対1に整合した関係となり、ス
ライス方向の分解能が向上する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、X線CT装置に係り、
特に高速撮像可能なX線CT装置に関する。
特に高速撮像可能なX線CT装置に関する。
【0002】
【従来の技術】X線CT装置は、被検体を挟んで対向す
る位置に絞られたX線ビームを放射するX線源と、被検
体を透過したX線ビームを受光するX線検出器とを配置
し、この両者を同期して被検体の周りに円弧を描きなが
ら回転させることによって得た被検体の透過X線量の角
度(360゜又は180゜+α)情報を、演算処理とし
て断層像に合成する装置である。被検体を前記回転軸に
沿って移動させつつ前記処理を行えば、被検体内部の情
報を三次元的に得ることができる。
る位置に絞られたX線ビームを放射するX線源と、被検
体を透過したX線ビームを受光するX線検出器とを配置
し、この両者を同期して被検体の周りに円弧を描きなが
ら回転させることによって得た被検体の透過X線量の角
度(360゜又は180゜+α)情報を、演算処理とし
て断層像に合成する装置である。被検体を前記回転軸に
沿って移動させつつ前記処理を行えば、被検体内部の情
報を三次元的に得ることができる。
【0003】X線CT装置は、特に生体内奥部の状況を
把握するのに有用なため、頭部診断用および全身診断用
に開発され、高性能化をめざして絶えず改良が計られて
いる。近年患者数が増大し、また撮影中に患者の体動の
ため発生するアーチファクトを除去する必要から、高性
能化の主要な目標は高速化に向けられている。撮影時間
を短縮する方法には、前記X線源とX線検出器を回転さ
せるスキャナーを高速回転させてスキャン時間を短縮さ
せるやり方だけでなく、被検体(患者)の移動速度を向
上させて撮影領域を迅速に撮影できるようにすることが
必要である。
把握するのに有用なため、頭部診断用および全身診断用
に開発され、高性能化をめざして絶えず改良が計られて
いる。近年患者数が増大し、また撮影中に患者の体動の
ため発生するアーチファクトを除去する必要から、高性
能化の主要な目標は高速化に向けられている。撮影時間
を短縮する方法には、前記X線源とX線検出器を回転さ
せるスキャナーを高速回転させてスキャン時間を短縮さ
せるやり方だけでなく、被検体(患者)の移動速度を向
上させて撮影領域を迅速に撮影できるようにすることが
必要である。
【0004】スキャナーの回転速度を高めた装置とし
て、最近患者に対してら旋スキャンを行って断層画像を
得るスリップリング方式のX線CT装置が市販されてい
る。
て、最近患者に対してら旋スキャンを行って断層画像を
得るスリップリング方式のX線CT装置が市販されてい
る。
【0005】一方、被検体の移動速度を高めるには、ス
キャナーの一回転間に撮像できる面積を増やす必要があ
る。こうした点を考慮していないX線検出器には、例え
ば、特開平3−287091号や特開平4−11858
0号がある。これはX線検出素子群をチャンネル方向に
1列だけ配置したものである。しかし、スキャナーの一
回転間に撮像できる面積を増やすことができないため、
最近、X線発生源から放射されるX線ビームをスキャナ
ーの回転方向と垂直な、いわゆるスライス方向にも広
げ、且つその広がりに対応して検出素子群を2列並べた
X線検出器を構成するX線CT装置が発表されている。
キャナーの一回転間に撮像できる面積を増やす必要があ
る。こうした点を考慮していないX線検出器には、例え
ば、特開平3−287091号や特開平4−11858
0号がある。これはX線検出素子群をチャンネル方向に
1列だけ配置したものである。しかし、スキャナーの一
回転間に撮像できる面積を増やすことができないため、
最近、X線発生源から放射されるX線ビームをスキャナ
ーの回転方向と垂直な、いわゆるスライス方向にも広
げ、且つその広がりに対応して検出素子群を2列並べた
X線検出器を構成するX線CT装置が発表されている。
【0006】図2は、2列の検出素子群及びそのX線C
T装置の検出系を示す図である。図の10はX線管の焦
点であり、いわばCT装置のX線発生源である。この焦
点で絞られたX線ビームはファンビーム角度θで被検体
(図示せず)に照射される。被検体を透過したファンビ
ームX線ビームは、その後方に配置されて対向して回転
するX線検出器20に全て入射する。
T装置の検出系を示す図である。図の10はX線管の焦
点であり、いわばCT装置のX線発生源である。この焦
点で絞られたX線ビームはファンビーム角度θで被検体
(図示せず)に照射される。被検体を透過したファンビ
ームX線ビームは、その後方に配置されて対向して回転
するX線検出器20に全て入射する。
【0007】X線検出器20は、チャンネル方向にm個
のチャンネル数分、スライス方向に2列分配置されたX
線検出素子群21、22から成る。各X線検出素子群
は、円弧方向に長さ(チャンネル幅)t0、スライス方
向にd0の互いに電気的に独立したX線検出素子を隙間
なく並べて形成されている。スライス方向の2列分は、
最大2列分のスライス厚みの計測を行うのに利用する。
のチャンネル数分、スライス方向に2列分配置されたX
線検出素子群21、22から成る。各X線検出素子群
は、円弧方向に長さ(チャンネル幅)t0、スライス方
向にd0の互いに電気的に独立したX線検出素子を隙間
なく並べて形成されている。スライス方向の2列分は、
最大2列分のスライス厚みの計測を行うのに利用する。
【0008】X線源10とX線検出器20は対向して回
転する。この回転で得たX線検出素子群21、22の受
光X線量は、各々計測回路30、31で電気信号に変換
されて計測される。計測された各素子の受光X線量(被
検体透過X線量)は、各々画像処理装置40に送られて
演算の上、断層X線画像に再構成される。この再構成像
は表示装置50に表示され、診断に供する。
転する。この回転で得たX線検出素子群21、22の受
光X線量は、各々計測回路30、31で電気信号に変換
されて計測される。計測された各素子の受光X線量(被
検体透過X線量)は、各々画像処理装置40に送られて
演算の上、断層X線画像に再構成される。この再構成像
は表示装置50に表示され、診断に供する。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】前記したスライス方向
に2列の検出素子群を配置するCT装置は、1回の計測
で最大スライスの計測が可能であるため、透過検出面積
が2倍に増大する。従って被検体(患者)の移動速度を
従来の2倍に向上させることができ、撮影時間の高速化
に役立つ。しかし、従来例では、更にスライス方向に多
重のX線検出素子群を配置して高速化を行うことは、困
難であった。これを、図2を用いて説明する。
に2列の検出素子群を配置するCT装置は、1回の計測
で最大スライスの計測が可能であるため、透過検出面積
が2倍に増大する。従って被検体(患者)の移動速度を
従来の2倍に向上させることができ、撮影時間の高速化
に役立つ。しかし、従来例では、更にスライス方向に多
重のX線検出素子群を配置して高速化を行うことは、困
難であった。これを、図2を用いて説明する。
【0010】図2でスライス幅W(ビーム中央位置のス
ライス幅)が検出素子幅d0に対応したスライス幅W0で
あればこの計測系は正しく機能するが、スライス幅Wが
W0よりも狭いW1(その時の対応する検出幅をd1とす
る)の場合には、中央の素子群22に隣接するスライス
のX線200、201が入射し、データが不正確にな
る。素子配列数が2列の場合には例えば図の201、2
02のように配列の境界部分にX線ビームの中心300
を設定すれば前述の問題は発生しないが、このような対
処は3列以上の素子配列の場合にはできない。
ライス幅)が検出素子幅d0に対応したスライス幅W0で
あればこの計測系は正しく機能するが、スライス幅Wが
W0よりも狭いW1(その時の対応する検出幅をd1とす
る)の場合には、中央の素子群22に隣接するスライス
のX線200、201が入射し、データが不正確にな
る。素子配列数が2列の場合には例えば図の201、2
02のように配列の境界部分にX線ビームの中心300
を設定すれば前述の問題は発生しないが、このような対
処は3列以上の素子配列の場合にはできない。
【0011】このことを具体的に説明する。 (1)、検出素子幅d0(これに対応するスライス厚を
W0)である3個の素子配列とする。 (2)、最小スライス厚W1(これに対応する検出素子
の感応領域幅をd1とする。更にd0>d1の関係にあ
る)であるとする。 (3)、最小スライス厚W1の整数倍でスライス厚Wが
設定可能であるとする。 (4)、以上の(1)〜(3)の条件のもとで設定スラ
イス幅Wを2W1、3W1にした場合の検出例を図7
(イ)、(ロ)に示す。(a)、図7(イ)がW=2W
1の例であり、3個の検出素子21A、21B、21C
の中で21Aと21Bとの境界RにX線ビームの中心ビ
ームがくるようにした。こうした境界Rと中心ビームと
の関係にしておけば、検出素子21A、21Bとで均等
に半分のビーム幅のX線を検出できる。(b)、図7
(ロ)がW=3W1の例であり、3個の検出素子21
A、21B、21Cの中央QにX線ビームの中心ビーム
がくるようにした例である。この場合、中央の検出素子
21Bは、検出幅d1よりも大きいため、斜線で示す部
分には余分にX線量が入力することになり、左右の検出
素子21A、21Cでは、逆に本来の検出幅d1よりも
装置の斜線だけ少ないX線量が入力することになる。従
って、検出素子21A、21B、21Cとで入力するX
線量が異なってしまう。以上述べたように従来の検出器
構造ではスライス厚方向の素子配列数が3以上では入射
するX線量とスライス幅が対応しないという欠点があっ
た。
W0)である3個の素子配列とする。 (2)、最小スライス厚W1(これに対応する検出素子
の感応領域幅をd1とする。更にd0>d1の関係にあ
る)であるとする。 (3)、最小スライス厚W1の整数倍でスライス厚Wが
設定可能であるとする。 (4)、以上の(1)〜(3)の条件のもとで設定スラ
イス幅Wを2W1、3W1にした場合の検出例を図7
(イ)、(ロ)に示す。(a)、図7(イ)がW=2W
1の例であり、3個の検出素子21A、21B、21C
の中で21Aと21Bとの境界RにX線ビームの中心ビ
ームがくるようにした。こうした境界Rと中心ビームと
の関係にしておけば、検出素子21A、21Bとで均等
に半分のビーム幅のX線を検出できる。(b)、図7
(ロ)がW=3W1の例であり、3個の検出素子21
A、21B、21Cの中央QにX線ビームの中心ビーム
がくるようにした例である。この場合、中央の検出素子
21Bは、検出幅d1よりも大きいため、斜線で示す部
分には余分にX線量が入力することになり、左右の検出
素子21A、21Cでは、逆に本来の検出幅d1よりも
装置の斜線だけ少ないX線量が入力することになる。従
って、検出素子21A、21B、21Cとで入力するX
線量が異なってしまう。以上述べたように従来の検出器
構造ではスライス厚方向の素子配列数が3以上では入射
するX線量とスライス幅が対応しないという欠点があっ
た。
【0012】本発明の目的は、スライス方向に3列以上
のX線検出素子列を配置しても画質を劣化させることな
く高速撮影を行いうるX線CT装置を提供することであ
る。
のX線検出素子列を配置しても画質を劣化させることな
く高速撮影を行いうるX線CT装置を提供することであ
る。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明は、X線発生源
と、該X線発生源と被検体との間に設けられ、ファンビ
ームX線のスライス方向であるX線スライス幅Wi(但
し、iはスライス幅番号であって、i=1、2、…、
n)を、最小スライス幅W1の整数倍に調整することが
できるX線スライス幅調整機構と、チャンネル幅t0、
最小スライス幅W1相当のスライス検出幅d1のサイズを
有する検出素子が、ファンビーム方向にチャンネル相当
分、スライス方向に少なくとも最大スライス幅Wn相当
のスライス検出幅分配列した構成をなし、且つ前記X線
発生源と対向して回転するX線検出器と、を備えたX線
CT装置を開示する。
と、該X線発生源と被検体との間に設けられ、ファンビ
ームX線のスライス方向であるX線スライス幅Wi(但
し、iはスライス幅番号であって、i=1、2、…、
n)を、最小スライス幅W1の整数倍に調整することが
できるX線スライス幅調整機構と、チャンネル幅t0、
最小スライス幅W1相当のスライス検出幅d1のサイズを
有する検出素子が、ファンビーム方向にチャンネル相当
分、スライス方向に少なくとも最大スライス幅Wn相当
のスライス検出幅分配列した構成をなし、且つ前記X線
発生源と対向して回転するX線検出器と、を備えたX線
CT装置を開示する。
【0014】更に本発明は、X線発生源と、該X線発生
源と被検体との間に設けられ、ファンビームX線のスラ
イス方向であるX線スライス幅Wi(但し、iはスライ
ス幅番号であって、i=1、2、…、n)を、最小スラ
イス幅W1の整数倍で可変することができるX線スライ
ス幅調整機構と、チャンネル幅t0、最小スライス幅W0
相当のスライス検出幅d1のサイズを有する検出素子
を、ファンビーム方向にチャンネル相当分、スライス方
向に少なくとも最大スライス幅Wn相当のスライス検出
幅分、配列した構成をなし、且つ前記X線発生源と対向
して回転するX線検出器と、前記検出素子のX線受光量
を各々計測して増幅する複数の増幅素子から成る増幅器
と、設定調整されたX線スライス幅Wiのスライス幅番
号iに応じて選択された、スライス方向の増幅素子数分
の出力を加算して取り出すようにした、増幅素子出力の
選択手段と、を備えたX線CT装置を開示する。
源と被検体との間に設けられ、ファンビームX線のスラ
イス方向であるX線スライス幅Wi(但し、iはスライ
ス幅番号であって、i=1、2、…、n)を、最小スラ
イス幅W1の整数倍で可変することができるX線スライ
ス幅調整機構と、チャンネル幅t0、最小スライス幅W0
相当のスライス検出幅d1のサイズを有する検出素子
を、ファンビーム方向にチャンネル相当分、スライス方
向に少なくとも最大スライス幅Wn相当のスライス検出
幅分、配列した構成をなし、且つ前記X線発生源と対向
して回転するX線検出器と、前記検出素子のX線受光量
を各々計測して増幅する複数の増幅素子から成る増幅器
と、設定調整されたX線スライス幅Wiのスライス幅番
号iに応じて選択された、スライス方向の増幅素子数分
の出力を加算して取り出すようにした、増幅素子出力の
選択手段と、を備えたX線CT装置を開示する。
【0015】
【作用】X線スライス幅調整機構は、予めX線検出器検
出面におけるX線検出幅が、検出素子の最小検出幅d1
になる最小スライス幅を単位とし、その整数倍のスライ
ス幅を付与する。一方、X線検出器は、最小検出幅d1
の整数倍の列数存在する。かくして、X線スライス幅調
整機構でスライス幅を変更しても、X線検出器は対応し
て検出でき、分解能を劣化させない。
出面におけるX線検出幅が、検出素子の最小検出幅d1
になる最小スライス幅を単位とし、その整数倍のスライ
ス幅を付与する。一方、X線検出器は、最小検出幅d1
の整数倍の列数存在する。かくして、X線スライス幅調
整機構でスライス幅を変更しても、X線検出器は対応し
て検出でき、分解能を劣化させない。
【0016】更に、スライス方向に数列分の検出素子の
透過X線受光量を1つの検出素子からの如く加算して画
像処理装置に送る機能を有する。
透過X線受光量を1つの検出素子からの如く加算して画
像処理装置に送る機能を有する。
【0017】
【実施例】以下本発明を実施例に基づいて、より詳しく
述べる。図1は、実施例におけるX線CT装置の検出系
をに示したものである。情報処理系は、ブロック図で簡
単に示してある。図において、10はCT装置のX線発
生源であるX線管の焦点、11はCT装置のX線の二次
的放射源の役割を果たすX線スライス幅調整機構、23
はX線検出器、35はプリアンプ、41は画像処理装
置、51は制御装置、61は画像表示装置、90は加算
選択手段である。
述べる。図1は、実施例におけるX線CT装置の検出系
をに示したものである。情報処理系は、ブロック図で簡
単に示してある。図において、10はCT装置のX線発
生源であるX線管の焦点、11はCT装置のX線の二次
的放射源の役割を果たすX線スライス幅調整機構、23
はX線検出器、35はプリアンプ、41は画像処理装
置、51は制御装置、61は画像表示装置、90は加算
選択手段である。
【0018】X線検出器23は、n列の検出素子群2
5、26…から成る。検出素子群25、26は、素子群
毎に、チャンネル総数分mの単位検出素子70から成
る。従って、X線検出器23は、n×mの単位検出素子
を配列したものである。単位検出素子70は、チャンネ
ル方向の検出幅tとスライス方向の検出幅d1から成
る。隣り合う単位検出素子は、相互に独立してX線を検
出できるように区分されている。単位検出素子70の検
出幅d1は、スライス幅調整機構11の最小スライス幅
W1に対応した検出幅である。検出素子群25、26…
の総列数nは、スライス幅調整機構11の最大スライス
幅Wnに対応した値である。即ち、総列数nによる総ス
ライス幅WはW=n×W1であり、これがWnに相当す
る。
5、26…から成る。検出素子群25、26は、素子群
毎に、チャンネル総数分mの単位検出素子70から成
る。従って、X線検出器23は、n×mの単位検出素子
を配列したものである。単位検出素子70は、チャンネ
ル方向の検出幅tとスライス方向の検出幅d1から成
る。隣り合う単位検出素子は、相互に独立してX線を検
出できるように区分されている。単位検出素子70の検
出幅d1は、スライス幅調整機構11の最小スライス幅
W1に対応した検出幅である。検出素子群25、26…
の総列数nは、スライス幅調整機構11の最大スライス
幅Wnに対応した値である。即ち、総列数nによる総ス
ライス幅WはW=n×W1であり、これがWnに相当す
る。
【0019】尚、図1では簡単のために被検体を省略し
ているが、勿論X線断層像を合成する場合にはX線スラ
イス幅調整機構11とX線検出器23との間に被検体を
配置することは、云うまでもない。
ているが、勿論X線断層像を合成する場合にはX線スラ
イス幅調整機構11とX線検出器23との間に被検体を
配置することは、云うまでもない。
【0020】X線管からの放出X線はコーン形状である
が、これはフィルタ調整機構(図示せず)で扇状X線と
なる。図で焦点10からの放出X線が扇状になっている
のはこの理由による。X線スライス幅調整機構11は扇
状X線に対して特にスライス方向に放射幅および放射位
置を精密に制御する。その指令は、オペレータが画像表
示装置61を介して行い、制御装置51を経て伝達、実
行される。
が、これはフィルタ調整機構(図示せず)で扇状X線と
なる。図で焦点10からの放出X線が扇状になっている
のはこの理由による。X線スライス幅調整機構11は扇
状X線に対して特にスライス方向に放射幅および放射位
置を精密に制御する。その指令は、オペレータが画像表
示装置61を介して行い、制御装置51を経て伝達、実
行される。
【0021】X線スライス幅調整機構11は、スライス
幅Wとしてn個のWi(但し、iは整数であって例えば
i=1、2、…、n、即ち、W1、W2、…、Wn個。こ
こで、W1が最小スライス幅、Wnが最大スライス幅に相
当する)のスライス幅を選択可能な構成である。ここで
スライス幅Wとは、X線管の焦点10とX線検出器の検
出面との距離の、半分の位置(回転中心軸)での、スラ
イス方向のX線幅である。最小スライス幅W1と第i番
目のスライス幅Wiは、Wi=iW1となっている。かく
してスライス幅調整機構11は最小スライス幅W1の整
数倍のスライス幅が選択できる。最小スライス幅W1で
のX線検出面での検出幅はd1である。即ち、最小スラ
イス幅W1は、単位検出素子の検出スライス幅d1に対応
させてある。最大スライス幅Wnは総列数nでのスライ
ス幅nW1に相当する。これは検出面でみるに、nd 1と
なる。
幅Wとしてn個のWi(但し、iは整数であって例えば
i=1、2、…、n、即ち、W1、W2、…、Wn個。こ
こで、W1が最小スライス幅、Wnが最大スライス幅に相
当する)のスライス幅を選択可能な構成である。ここで
スライス幅Wとは、X線管の焦点10とX線検出器の検
出面との距離の、半分の位置(回転中心軸)での、スラ
イス方向のX線幅である。最小スライス幅W1と第i番
目のスライス幅Wiは、Wi=iW1となっている。かく
してスライス幅調整機構11は最小スライス幅W1の整
数倍のスライス幅が選択できる。最小スライス幅W1で
のX線検出面での検出幅はd1である。即ち、最小スラ
イス幅W1は、単位検出素子の検出スライス幅d1に対応
させてある。最大スライス幅Wnは総列数nでのスライ
ス幅nW1に相当する。これは検出面でみるに、nd 1と
なる。
【0022】図3〜図5に加算選択手段90の選択事例
を具体的に示す。図3は、スライス幅Wが、W=W
8(=8W1)の例であって、チャンネル番号1の例であ
る。このチャンネル番号1での8個の検出素子で得るデ
ータをD11、D12…、D18と示した。サフィックスの最
初の数字がチャンネル番号であり、サフィックスの第2
の数字が検出素子番号を示す。図3(イ)〜(ニ)は、
この8個のデータD11〜D18に対する、加算選択手段9
0による選択例を示す。
を具体的に示す。図3は、スライス幅Wが、W=W
8(=8W1)の例であって、チャンネル番号1の例であ
る。このチャンネル番号1での8個の検出素子で得るデ
ータをD11、D12…、D18と示した。サフィックスの最
初の数字がチャンネル番号であり、サフィックスの第2
の数字が検出素子番号を示す。図3(イ)〜(ニ)は、
この8個のデータD11〜D18に対する、加算選択手段9
0による選択例を示す。
【0023】図3(イ)…8個のデータD11〜D18の全
加算の例。これは、8個のデータD11〜D18の平均値を
第1チャンネルの計測データとする例である。 図3(ロ)…4個のデータD11〜D14、D15〜D18に2
分し、それぞれ加算した例。第1チャンネルから2つの
計測データ(D11+D12+D13+D14)、(D15+D16
+D17+D18)が得られる。これにより1回の計測で2
つのスライス分(1スライスは4W1の大きさ)の計測
データを得、2つの再構成像を得ることができる。 図3(ハ)…2個のデータ毎に区分し、D11+D12、D
13+D14、D15+D16、D17+D18と区分毎に加算し、
4つのスライス分(1スライスは2W1の大きさ)の計
測データを得、4つの再構成像を得ることができる。 図3(ニ)…加算を一切行わずに、8個のデータをその
まま得る例であり、8スライス(1スライスはW1の大
きさ)の計測データを得、8つの再構成像を得ることが
できる。
加算の例。これは、8個のデータD11〜D18の平均値を
第1チャンネルの計測データとする例である。 図3(ロ)…4個のデータD11〜D14、D15〜D18に2
分し、それぞれ加算した例。第1チャンネルから2つの
計測データ(D11+D12+D13+D14)、(D15+D16
+D17+D18)が得られる。これにより1回の計測で2
つのスライス分(1スライスは4W1の大きさ)の計測
データを得、2つの再構成像を得ることができる。 図3(ハ)…2個のデータ毎に区分し、D11+D12、D
13+D14、D15+D16、D17+D18と区分毎に加算し、
4つのスライス分(1スライスは2W1の大きさ)の計
測データを得、4つの再構成像を得ることができる。 図3(ニ)…加算を一切行わずに、8個のデータをその
まま得る例であり、8スライス(1スライスはW1の大
きさ)の計測データを得、8つの再構成像を得ることが
できる。
【0024】図4は6個のスライス幅(6W1)を選択
した場合での各種の加算選択例を示す図である。 図4(イ)…6個のデータの総加算例である。 図4(ロ)…3個毎の2つに区分し加算した例である。 図4(ハ)…2個毎の3つに区分し加算した例である。 図4(ニ)…区分せずに6個をそのまま出力した例であ
る。
した場合での各種の加算選択例を示す図である。 図4(イ)…6個のデータの総加算例である。 図4(ロ)…3個毎の2つに区分し加算した例である。 図4(ハ)…2個毎の3つに区分し加算した例である。 図4(ニ)…区分せずに6個をそのまま出力した例であ
る。
【0025】図5は他の各種の加算選択例を示す図であ
る。 図5(イ)…8個のスライス幅(8W1)の選択下で
の、5個と3個の2区分化し、加算した例である。 図5(ロ)…5個のスライス幅(5W1)の選択下で
の、3個と2個の2区分化し、加算した例である。 図5(ハ)…3個のスライス幅(3W1)の選択下で
の、1個と2個の2区分化し、加算した例である。
る。 図5(イ)…8個のスライス幅(8W1)の選択下で
の、5個と3個の2区分化し、加算した例である。 図5(ロ)…5個のスライス幅(5W1)の選択下で
の、3個と2個の2区分化し、加算した例である。 図5(ハ)…3個のスライス幅(3W1)の選択下で
の、1個と2個の2区分化し、加算した例である。
【0026】このように本実施例では、スライス選択機
構11により最小スライス幅W1の整数倍のスライス幅
Wを選択できると共に、この選択したスライス幅のもと
で、加算選択手段90により更に種々の選択が可能にな
る。この際、加算選択手段90による選択は、診断目的
や要求画像精度、診断部位等によって、操作者が判断し
て行う。
構11により最小スライス幅W1の整数倍のスライス幅
Wを選択できると共に、この選択したスライス幅のもと
で、加算選択手段90により更に種々の選択が可能にな
る。この際、加算選択手段90による選択は、診断目的
や要求画像精度、診断部位等によって、操作者が判断し
て行う。
【0027】加算選択手段90の具体構成を図6
(イ)、(ロ)に示す。図6(イ)はアナログ式の例で
あり、スイッチ群91に対して、外部からの選択指令で
加算群92内の該当加算器への入力数及び対応入力番号
を決める。この選択結果の入力を受けて加算器(アナロ
グ)群92の該当加算器が加算を行う。図6(ロ)はデ
ィジタル式の例であり、AD変換群93で信号D1〜Dn
のすべてのAD変換を行ってデータ化し、これをメモリ
94に格納する。メモリ94に対して外部から読出制御
を行って、選択指令に従ってのデータ読出しを行う。そ
して加算器(ディジタル)で必要な加算を行う。
(イ)、(ロ)に示す。図6(イ)はアナログ式の例で
あり、スイッチ群91に対して、外部からの選択指令で
加算群92内の該当加算器への入力数及び対応入力番号
を決める。この選択結果の入力を受けて加算器(アナロ
グ)群92の該当加算器が加算を行う。図6(ロ)はデ
ィジタル式の例であり、AD変換群93で信号D1〜Dn
のすべてのAD変換を行ってデータ化し、これをメモリ
94に格納する。メモリ94に対して外部から読出制御
を行って、選択指令に従ってのデータ読出しを行う。そ
して加算器(ディジタル)で必要な加算を行う。
【0028】加算選択手段90で得られたデータは、画
像処理装置41へ送られて演算され、X線断層像に再構
成される。
像処理装置41へ送られて演算され、X線断層像に再構
成される。
【0029】本発明の単位検出素子70としては、以下
の構成が好ましい。 (1)、全固体系検出素子 (a)、シンチレータとフォトダイオード(単結晶型、
非晶質型)の組合せ。 (b)、シンチレータとその背面に直接成膜した非晶質
フォトダイオードの組合せ。 (c)、上記(a)または(b)において、シンチレー
タのスライス方向長さがフォトダイオードの長さより長
いシンチレータとフォトダイオードの組合せ。 (2)、ガス系検出素子 一体の電離箱の各単位検出素子配置領域に、少なくとも
互いに絶縁された片側電極をパターン印刷等で形成した
低圧ガス系X線検出器。尚、前記全固体系検出素子にお
いては、各検出素子間の分離を良好ならしめるために、
隣接素子のシンチレータの間に光反射層を形成した金属
板を配置することが望ましい。
の構成が好ましい。 (1)、全固体系検出素子 (a)、シンチレータとフォトダイオード(単結晶型、
非晶質型)の組合せ。 (b)、シンチレータとその背面に直接成膜した非晶質
フォトダイオードの組合せ。 (c)、上記(a)または(b)において、シンチレー
タのスライス方向長さがフォトダイオードの長さより長
いシンチレータとフォトダイオードの組合せ。 (2)、ガス系検出素子 一体の電離箱の各単位検出素子配置領域に、少なくとも
互いに絶縁された片側電極をパターン印刷等で形成した
低圧ガス系X線検出器。尚、前記全固体系検出素子にお
いては、各検出素子間の分離を良好ならしめるために、
隣接素子のシンチレータの間に光反射層を形成した金属
板を配置することが望ましい。
【0030】図8には、検出素子構成を示す。スライス
厚方向に4個のシンチレータ素子を配し、その下部にフ
ォトダイオードを配し、ワイヤボンディングで電気的接
続をはかった。フォトダイオードはd1の領域毎に電気
的に独立している必要があるがシンチレータは必ずしも
分離されている必要はない。シンチレータのd1毎の区
分には光を反射あるいは吸収する膜状のもの(金属でも
よい)を用いる。
厚方向に4個のシンチレータ素子を配し、その下部にフ
ォトダイオードを配し、ワイヤボンディングで電気的接
続をはかった。フォトダイオードはd1の領域毎に電気
的に独立している必要があるがシンチレータは必ずしも
分離されている必要はない。シンチレータのd1毎の区
分には光を反射あるいは吸収する膜状のもの(金属でも
よい)を用いる。
【0031】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
任意のスライス厚み(スライス方向分解能)を選択しな
がら、画質を劣化させることなくスライス方向に3列以
上の検出素子列を配置したX線CT装置を得ることがで
きる。この結果、高画質で高速撮影されたX線断層像が
得られる。
任意のスライス厚み(スライス方向分解能)を選択しな
がら、画質を劣化させることなくスライス方向に3列以
上の検出素子列を配置したX線CT装置を得ることがで
きる。この結果、高画質で高速撮影されたX線断層像が
得られる。
【図1】実施例のX線CT装置のX線放射系、検出系を
説明するための図である。
説明するための図である。
【図2】従来例によるX線CT装置のX線放射系、検出
無為系を説明するための図である。
無為系を説明するための図である。
【図3】本発明の加算選択手段90での加算選択例を示
す図である。
す図である。
【図4】本発明の加算選択手段90での他の加算選択例
を示す図である。
を示す図である。
【図5】本発明の加算選択手段90での更に他の加算選
択例を示す図である。
択例を示す図である。
【図6】本発明の加算選択手段90の具体的構成例図で
ある。
ある。
【図7】従来例の動作説明図である。
【図8】シンチレータとフォトダイオードとより成る検
出素子例を示す図である。
出素子例を示す図である。
10 X線管の焦点 11 X線スライス幅調整機構 20、23 X線検出器 21、22、25、26、100 X線検出素子群 30、31、130 計測回路 35 プリアンプ 40、41 画像処理装置 50、51 制御装置 60、61 画像表示装置 70 単位検出素子 90 加算器
Claims (5)
- 【請求項1】 X線発生源と、 該X線発生源と被検体との間に設けられ、ファンビーム
X線のスライス方向であるX線スライス幅Wi(但し、
iはスライス幅番号であって、i=1、2、…、n)
を、最小スライス幅W1の整数倍に調整することができ
るX線スライス幅調整機構と、 チャンネル幅t0、最小スライス幅W1相当のスライス検
出幅d1のサイズを有する検出素子が、ファンビーム方
向にチャンネル相当分、スライス方向に少なくとも最大
スライス幅Wn相当のスライス検出幅分配列した構成を
なし、且つ前記X線発生源と対向して回転するX線検出
器と、を備えたX線CT装置。 - 【請求項2】 X線発生源と、 該X線発生源と被検体との間に設けられ、ファンビーム
X線のスライス方向であるX線スライス幅Wi(但し、
iはスライス幅番号であって、i=1、2、…、n)
を、最小スライス幅W1の整数倍で可変することができ
るX線スライス幅調整機構と、 チャンネル幅t0、最小スライス幅W0相当のスライス検
出幅d1のサイズを有する検出素子を、ファンビーム方
向にチャンネル相当分、スライス方向に少なくとも最大
スライス幅Wn相当のスライス検出幅分、配列した構成
をなし、且つ前記X線発生源と対向して回転するX線検
出器と、 前記検出素子のX線受光量を各々計測して増幅する複数
の増幅素子から成る増幅器と、 設定調整されたX線スライス幅Wiのスライス幅番号i
に応じて選択された、スライス方向の増幅素子数分の出
力を加算して取り出すようにした、増幅素子出力の選択
手段と、 を備えたX線CT装置。 - 【請求項3】 前記検出素子がシンチレータと光電変換
素子の組合せ、またはX線を直接電流に変換する半導体
素子のいずれかであることを特徴とする請求項1又は2
記載のX線CT装置。 - 【請求項4】 前記X線検出器が、一体の電離箱の前記
各検出素子配置領域に、少なくとも互いに絶縁された片
側電極をパターン印刷等で規則正しく複数個形成して成
ることを特徴とする請求項1又は2記載のX線CT装
置。 - 【請求項5】 前記検出素子列の前記スライス方向に配
列される前記検出素子が3以上である請求項1又は2記
載のX線CT装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6141877A JPH08606A (ja) | 1994-06-23 | 1994-06-23 | X線ct装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6141877A JPH08606A (ja) | 1994-06-23 | 1994-06-23 | X線ct装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08606A true JPH08606A (ja) | 1996-01-09 |
Family
ID=15302246
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6141877A Pending JPH08606A (ja) | 1994-06-23 | 1994-06-23 | X線ct装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08606A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11221207A (ja) * | 1997-11-26 | 1999-08-17 | General Electric Co <Ge> | コンピュータ断層像撮影システム用の検出器モジュール |
JPH11231062A (ja) * | 1997-11-26 | 1999-08-27 | General Electric Co <Ge> | スケーラブル・マルチスライス走査コンピュータ断層撮影システム用のフォトダイオード・アレイ |
JP2003225230A (ja) * | 2001-11-29 | 2003-08-12 | Toshiba Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
JP2006340787A (ja) * | 2005-06-07 | 2006-12-21 | Shimadzu Corp | 断層撮影装置 |
JPWO2013191001A1 (ja) * | 2012-06-20 | 2016-05-26 | 株式会社日立メディコ | X線ct装置 |
-
1994
- 1994-06-23 JP JP6141877A patent/JPH08606A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11221207A (ja) * | 1997-11-26 | 1999-08-17 | General Electric Co <Ge> | コンピュータ断層像撮影システム用の検出器モジュール |
JPH11231062A (ja) * | 1997-11-26 | 1999-08-27 | General Electric Co <Ge> | スケーラブル・マルチスライス走査コンピュータ断層撮影システム用のフォトダイオード・アレイ |
JP4630407B2 (ja) * | 1997-11-26 | 2011-02-09 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | マルチスライス検出器 |
JP2003225230A (ja) * | 2001-11-29 | 2003-08-12 | Toshiba Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
JP2006340787A (ja) * | 2005-06-07 | 2006-12-21 | Shimadzu Corp | 断層撮影装置 |
JPWO2013191001A1 (ja) * | 2012-06-20 | 2016-05-26 | 株式会社日立メディコ | X線ct装置 |
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