JPH09276260A - Ｘ線ビーム位置検出システム - Google Patents

Ｘ線ビーム位置検出システム

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JPH09276260A
JPH09276260A JP8340296A JP34029696A JPH09276260A JP H09276260 A JPH09276260 A JP H09276260A JP 8340296 A JP8340296 A JP 8340296A JP 34029696 A JP34029696 A JP 34029696A JP H09276260 A JPH09276260 A JP H09276260A
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JP
Japan
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ray beam
detector
focus
ray
path length
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JP8340296A
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Michael Floyd Gard
マイケル・フロイド・ガード
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General Electric Co
Original Assignee
General Electric Co
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Publication date
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    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05G—X-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08—Electrical details
    • H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
    • H05G1/30—Controlling
    • H05G1/52—Target size or shape; Direction of electron beam, e.g. in tubes with one anode and more than one cathode
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05G—X-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08—Electrical details
    • H05G1/26—Measuring, controlling or protecting

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ピン・スキャンを一切実行せずに焦点位置を
決定し、維持すると共に、焦点位置の整列を容易にする
ことのできるＸ線ビーム位置検出システムを提供する。 【解決手段】 本発明は、一形態では、計算機式断層写
真法システムにおいて従来のスキャン・データを用いて
焦点位置を決定するシステムであり、計算機式断層写真
法システムは、一実施例では、対称に配置された２つの
放射線経路（６０、６２）に沿ってＸ線（１６）を減衰
させるボウタイ・フィルタ（５４）を含んでいる。これ
らの対称な光線経路（６０、６２）は、同定可能な経路
の長さでそれぞれの検出器チャンネル（１８）に入射し
ている。これらの光線経路（６０、６２）の長さを比較
して、焦点（５０）がシフトしたか否かを決定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、一般的には計算機式断
層写真法（ＣＴ）の作像に関し、更に具体的には、ＣＴ
スキャンから収集された投影データからの焦点位置の決
定に関する。
【０００２】
【従来の技術】少なくとも１つの公知のＣＴシステム構
成では、Ｘ線源はファン（扇形の）・ビームを投射し、
このビームは、デカルト座標系のＸ−Ｙ平面であって、
一般に「作像平面」と呼ばれる平面内に位置するように
コリメートされる。Ｘ線管の付近には、ボウタイ・フィ
ルタ（bowtie filter）とも呼ばれる特殊なＸ線減衰器
がしばしば設置されており、低エネルギのＸ線を除去し
ている。フィルタを設置しないと、低エネルギのＸ線
が、診断画像に何ら寄与することなく余分な放射線吸収
量を提供することになる。次いで、Ｘ線ビームは、患者
等の被作像物体を通過する。ビームは、物体によって減
衰された後に、放射線検出器の配列に入射する。検出器
配列において受け取られる減衰したビーム放射線の強度
は、物体によるＸ線ビームの減衰量に依存している。配
列内の各々の検出器素子は、検出器の位置におけるビー
ムの減衰量の測定値である個別の電気信号を発生する。
すべての検出器からの減衰測定値を個別に収集して、透
過プロファイル（断面）を形成する。
【０００３】公知の第３世代ＣＴシステムでは、Ｘ線源
及び検出器配列は、回転可能なガントリ上に配置されて
いる。ガントリが回転するにつれて、Ｘ線源の位置と検
出器配列の位置とが作像平面を画定する。ガントリは、
Ｘ線ビームが物体と交差する角度が定常的に変化するよ
うに、被作像物体の周りを回転する。１つのガントリ角
度における検出器配列からの１群のＸ線減衰測定値、即
ち、投影データを「ビュー」と呼ぶ。物体の「走査（ス
キャン）」は、Ｘ線源及び検出器の１回転の間に様々な
ガントリ角度で形成された１組のビューで構成されてい
る。軸方向走査（アクシャル・スキャン）の場合には、
投影データを処理して、物体から切り取られた２次元ス
ライスに対応する画像を構成する。１組の投影データか
ら画像を再構成する１つの方法は、当業界でフィルタ補
正逆投影（filtered back projection）法と呼ばれてい
る。この方法は、ある走査からの減衰測定値を「ＣＴ
数」又は「Hounsfield単位」と呼ばれる整数に変換し、
これらの整数を用いて、陰極線管表示装置上の対応する
ピクセルの輝度を制御する。
【０００４】Ｘ線源は典型的には、アノードとカソード
とを収納している排気されたガラス製のＸ線エンベロー
プ（筐体）を含んでいる。Ｘ線は、アノードとカソード
とに跨がって高電圧を印加し、カソードからの電子を加
速してアノード上にある焦点に衝突させることにより発
生される。Ｘ線管によって発生されたＸ線は、全体的に
円錐形のパターンで焦点から分散する。
【０００５】例えば第３世代ＣＴスキャナのようなＣＴ
スキャナにおいて、軸方向走査から高品質画像を形成す
るためには、焦点はｘ軸内で適正に整列していることが
望ましい。焦点が０．０２ｍｍを超えて整列逸脱する
と、公知のＣＴスキャナでは明らかな分解能の低下及び
画像の劣化が生ずることが知られている。従って、最適
な画質を獲得するために焦点位置をｘ軸内で適正に維持
することが望ましい。
【０００６】Ｘ線管を整列させるには、工場においてに
せよ現場での管交換中にせよ、典型的には、ピン・スキ
ャン（pin scan）と呼ばれる多数の特殊な走査を行っ
て、ガントリ上でのＸ線管の位置の機械的な調整を行う
ことが必要である。これは時間の掛かる工程であるの
で、管の寿命中に最適な焦点位置を維持するために管の
位置を機械的に調節することは、一般的に不都合である
と共に非実用的である。
【０００７】焦点の整列は、多数の焦点を有する管を用
いているシステムではとりわけ困難である。一般に、多
数の焦点を正確に同一の位置に維持すること（即ち、焦
点一致性（focal spot coincidence）を維持すること）
は困難であり、１つの焦点位置を機械的に最適化するた
めには、他の焦点を代償とする必要のあることがしばし
ばである。
【０００８】焦点の熱ドリフトも又、画質を劣化させ
る。具体的には、使用中にＸ線管の様々な構成部品が熱
するにつれて、熱膨張によって、厳密性の求められる
（critical）Ｘ線源構造に機械的な小変位が生ずると共
に、焦点位置の対応するシフトが生ずる。投影データを
較正する補正ベクタのような様々な較正工程及び補正を
用いて熱ドリフトの影響を最低限に抑えるが、ここに用
いられる補正は、劣化が生じた後に画質を復元させる試
みとして適用されている。
【０００９】整列に関するこれらの問題を回避すると共
に焦点移動を補正するために、磁界偏向を用いて焦点を
位置決めする方法が知られている。同じ目的のために、
静電偏向を用いる方法も知られている。しかしながら、
両手法とも、焦点を最適な整列に戻すのに所望される移
動量を決定するためには、ピン・スキャン又は類似の測
定からの位置情報を要求する。この情報の収集は、時間
を要することを除けば、管の交換中又は作業日の開始時
ならば不適当ではないが、焦点の熱ドリフトを補正する
ために一連の走査を中断してピン・スキャンを実行する
ことは明らかに望ましくない。
【００１０】従って、ピン・スキャンを一切実行せずに
焦点位置を決定すると共に維持することが望ましい。
又、多数の焦点を有する管を用いたシステムにおいて焦
点位置の整列を容易にすることが望ましい。
【００１１】
【発明の概要】これらの目的及びその他の目的は、一実
施例では、従来のスキャン・データから焦点のｘ軸位置
を決定するシステムで達成されることができる。具体的
には、一実施例によれば、焦点のｘ軸位置は、対称に配
置された放射線経路（raypath）に沿ってボウタイ・フ
ィルタでのＸ線ビームの減衰量を知り、各々の放射線経
路の経路の長さを決定すると共に比較することにより決
定される。各々の放射線経路は、１スキャンにわたって
各々の検出器によって受け取られた信号強度の和に直接
に関係付けられる。焦点がｘ軸方向に移動すると、各々
の放射線経路の長さが変化する。焦点のシフトを示す放
射線経路の差は、以下の方程式に従って決定され得る。
【００１２】
【数７】
【００１３】ここで、 ｐA −ｐB ＝焦点と検出器Ａとの間、及び焦点と検出器
Ｂとの間における放射線経路の長さの差、 μBT＝ボウタイ・フィルタの減衰係数、
【００１４】
【数８】
【００１５】
【数９】
【００１６】である。次いで、この放射線経路の差を当
初の放射線経路の長さの差と比較して、焦点がシフトし
たか否かを決定する。上述のようにしてビーム位置を同
定することにより、焦点の整列及び焦点の移動を容易に
検出することができる。又、このようなシステムによっ
て、ピン・スキャンを一切実行せずに焦点位置を決定す
ることができる。
【００１７】
【実施例】図１及び図２を参照すると、計算機式断層写
真（ＣＴ）作像システム１０が、「第３世代」ＣＴスキ
ャナにおいて典型的なガントリ１２を含んでいるものと
して示されている。ガントリ１２は、Ｘ線源１４を有し
ており、Ｘ線源１４は、Ｘ線のファン・ビーム１６をガ
ントリ１２の反対側にある検出器配列１８に向かって投
射する。検出器配列１８は、検出器素子２０、即ち検出
器チャンネルによって形成されており、これらの検出器
素子２０は一括で、患者２２を通過する投射されたＸ線
を検知する。各々の検出器素子２０は、入射するＸ線ビ
ームの強度、従って患者２２を通過する間でのビームの
減衰量を表す電気信号を発生する。Ｘ線投影データを収
集するための１スキャンの間に、ガントリ１２及びガン
トリ１２に装着された構成部品は、回転中心２４の周り
を回転する。
【００１８】ガントリ１２の回転及びＸ線源１４の動作
は、ＣＴシステム１０の制御機構２６によって制御され
ている。制御機構２６は、Ｘ線制御装置２８と、ガント
リ・モータ制御装置３０とを含んでいる。Ｘ線制御装置
２８は、Ｘ線源１４に対して電力信号及びタイミング信
号を供給し、ガントリ・モータ制御装置３０は、ガント
リ１２の回転速度及び位置を制御する。制御機構２６内
に設けられたデータ収集システム（ＤＡＳ）３２が、検
出器素子２０からのアナログ・データをサンプリングし
て、後続処理のためにこのデータをディジタル信号に変
換する。画像再構成装置３４が、サンプリングされてデ
ィジタル化されたＸ線データをＤＡＳ３２から受け取っ
て、高速画像再構成を行う。再構成された画像は、計算
機３６への入力として印加され、計算機３６は、大容量
記憶装置３８に画像を記憶させる。
【００１９】計算機３６は又、キーボードを有している
コンソール４０を介して、オペレータから命令（コマン
ド）及び走査パラメータを受け取る。付設された陰極線
管表示装置４２によって、オペレータは、再構成された
画像、及び計算機３６からのその他のデータを観察する
ことができる。オペレータが供給した命令及びパラメー
タを計算機３６で用いて、ＤＡＳ３２、Ｘ線制御装置２
８及びガントリ・モータ制御装置３０に制御信号及び情
報を供給する。加えて、計算機３６はテーブル・モータ
制御装置４４を動作させ、テーブル・モータ制御装置４
４は、モータ式テーブル４６を制御して、ガントリ１２
内で患者２２を位置決めする。具体的には、テーブル４
６は、患者２２の部分をガントリ開口４８内で移動させ
る。
【００２０】本発明の一実施例によれば、図３を参照す
ると、Ｘ線源１４は焦点５０を有しており、焦点５０か
らＸ線ビーム１６が発している。次いでＸ線ビーム１６
は、ボウタイ・フィルタ５４によってフィルタされると
共に、ビーム１６の内部の中央に位置しているファン・
ビーム軸５８に沿って検出器配列１８に向かって投射さ
れる。ボウタイ・フィルタ５４に入射した後に、２つの
放射線経路６０及び６２は、中心線のファン・ビーム軸
５８に関して対称に配置される。２つの対称な放射線経
路６０及び６２は、検出器チャンネルＡ及びＢで終端す
る。焦点５０がシフトすると、放射線経路６０及び６２
の長さが変化する。例えば、焦点５０が検出器Ｂに向か
ってｘ方向に移動すると、放射線経路６２は短くなると
共に放射線経路６０は長くなる。このように、焦点５０
のシフトは、放射線経路６０及び６２の長さのあらゆる
変化を同定することにより検出されることができる。
【００２１】各々の放射線経路６０及び６２の長さは、
検出器チャンネルＡ及びＢで受け取られる信号強度に関
係付けられる。検出器チャンネルＡ及びＢで測定される
放射線量は、ボウタイ・フィルタにおける減衰量と、被
走査物体における減衰量とによって決定される。強度Ｉ
0 を有する当初のＸ線信号については、チャンネルＡ及
びＢでそれぞれ測定される強度ＩA 及びＩB は、以下の
各方程式によって決定される。
【００２２】 ＩA ＝Ｉ0 ・ｅｘｐ（−μBTｐA ）・ｅｘｐ（−μOBJ ｐOBJ,A ） （２ａ） ＩB ＝Ｉ0 ・ｅｘｐ（−μBTｐB ）・ｅｘｐ（−μOBJ ｐOBJ,B ） （２ｂ） ここで、 ｐA ＝焦点５０から検出器チャンネルＡまでの放射線経
路の長さ、 ｐB ＝焦点５０から検出器チャンネルＢまでの放射線経
路の長さ、 μOBJ ＝被走査物体の減衰、 μBT＝ボウタイ・フィルタの減衰係数、 ｅｘｐ（−μBTｐA ）＝検出器Ａに関連する放射線経路
のボウタイ・フィルタによる減衰量、 ｅｘｐ（−μBTｐB ）＝検出器Ｂに関連する放射線経路
のボウタイ・フィルタによる減衰量、 ｅｘｐ（−μOBJ ｐOBJ,A ）＝検出器Ａに関連する放射
線経路に沿った物体による減衰量、並びに ｅｘｐ（−μOBJ ｐOBJ,B ）＝検出器Ｂに関連する放射
線経路に沿った物体による減衰量である。
【００２３】所与の焦点位置について、放射線経路の長
さｐA 及びｐB は一定であるので、各々の検出器チャン
ネルＡ及びＢについて、ボウタイ・フィルタ５４での減
衰損失は一定である。理想的な幾何学的形状の場合に
は、これらの長さは、一定であるばかりでなく、対称性
の故に等しくもある。しかしながら、長さｐA 及びｐB
は一般には、同一でない。
【００２４】典型的には、被走査物体での減衰μOBJ
は、ビュー角度の関数である。距離ｐ OBJ,A 及びｐ
OBJ,B は、検出器Ａ及びＢにそれぞれ対応しており、被
走査物体を貫通している放射線経路の長さである。従来
の軸方向走査における完全な３６０°の回転にわたっ
て、検出器Ａ及び検出器Ｂでのすべての測定値の和は、
以下の方程式に従って決定され得る。
【００２５】
【数１０】
【００２６】項ｅｘｐ（−μBTｐA ）及び項ｅｘｐ（−
μBTｐB ）は、定数であるので、加算記号の外側に移動
させてもよい。検出器チャンネルＡでの加算された信号
と、検出器チャンネルＢでの加算された信号とは、完全
なスキャン回転、即ち３６０°にわたると実質的に同一
である。なぜなら、検出器素子Ａ及びＢまでの放射線経
路は対称に配置されており、両チャンネルとも被走査物
体内の正確に同一な物質を観測するからである。チャン
ネルＡとチャンネルＢとでは位相が変位しているに過ぎ
ない。このことは、平行ビーム形状において最も明白で
ある。例えば、各々の検出器チャンネルＡ及びＢについ
て、
【００２７】
【数１１】
【００２８】である。（３ａ）及び（３ｂ）によって求
められた２つの加算された信号強度の比は、
【００２９】
【数１２】
【００３０】を与える。従って、方程式（５）の結果と
して、
【００３１】
【数１３】
【００３２】及び
【００３３】
【数１４】
【００３４】が得られる。
【００３５】
【数１５】
【００３６】
【数１６】
【００３７】ｌｎ（１＋ｘ）は、微小なｘについては近
似的にｘに等しいので、方程式（７）及び（８）を結合
して以下の式を得ることができる。
【００３８】
【数１７】
【００３９】その結果、方程式（７）及び（９）を結合
して以下の式を得ることができる。
【００４０】
【数１８】
【００４１】このように、ボウタイ・フィルタ５４を介
した経路の長さの差は、ボウタイ・フィルタの材料の減
衰係数（材料定数）と、完全な３６０°の軸方向走査に
わたって測定されたときの検出器セルＡ及びＢにおいて
加算された強度の比との既知の関数となる。
【００４２】システム１０についての当初の経路の長さ
の差ｐA −ｐB は、適正に整列した焦点については一定
となる、即ち、完全に整列した焦点は、常に同一の値の
ｐA−ｐB を与える。熱の影響で生起する可能性のある
焦点の移動のときには、ボウタイ・フィルタを貫通して
いる１つの経路の長さは長くなり、他方の経路の長さは
短くなる。この変化は、方程式（１０）によって求めら
れる経路の長さの差に反映される。従って、この経路の
長さの差を知れば、焦点位置の変化を同定するのに十分
である。焦点位置の変化が検出された後に、例えば磁気
的にでも、又は静電的にでも、焦点を偏向させることに
より、焦点を再配置することができる。
【００４３】本発明のもう１つの実施例によれば、Ｘ線
ビーム１６は、ボウタイ・フィルタ５４を貫通している
４つの放射線経路を利用することができる。これら４つ
の放射線経路は、４つの検出器チャンネルＡ1 、Ａ2 、
Ｂ1 及びＢ2 に入射する。チャンネルＡ1 及びＡ2 は、
ファン・ビーム軸５８の一方の側に配置されており、チ
ャンネルＢ1 及びＢ2 は、ファン・ビーム軸５８の他方
の側に配置されている。合成信号強度ＩA 及びＩB は、
４つのチャンネルによって、即ち、ＩA ＝ＩA1＋ＩA2及
びＩB ＝ＩB1＋ＩB2によって形成される。
【００４４】更にもう１つの実施例では、Ｘ線ビーム１
６は、６つ又はそれ以上の検出器チャンネルＡ1 、Ａ
2 、…、Ａn 及びＢ1 、Ｂ2 、…、Ｂn に入射するボウ
タイ・フィルタ５４を介した放射線経路を利用すること
ができる。ここで、ｎは、チャンネルの総数の２分の１
である。各々の検出器チャンネルＡn は、ビーム軸５８
に関して、対応するチャンネルＢn の反対側に位置して
いる。合成信号強度ＩA及びＩB は、ＩA ＝ＩA1＋ＩA2
＋…＋ＩAn及びＩB ＝ＩB1＋ＩB2＋…＋ＩBnによって形
成される。チャンネルは、２つよりも多い方が、走査中
の患者の動きによって生ずるあらゆる減衰をよりよく補
正するものと考えられる。
【００４５】これらの様々な実施例は、標準的な軸方向
走査と組み合わせても、又は螺旋走査と組み合わせても
用いることができる。具体的には、本アルゴリズムは、
ＩAとＩB との間の位相差、及びテーブルの並進速度が
既知であれば、螺旋走査と共に用いることができる。加
えて、フィルタ５４はボウタイ・フィルタ型のフィルタ
であるものとここには記載しているが、フィルタ５４は
多くの異なる構造を有することができる。但し、フィル
タ５４は、焦点がｘ軸方向に移動するにつれて単調に変
化する経路の長さの差を与えるために要求されている。
【００４６】本発明の様々な実施例に関する以上の記述
から、本発明の目的が達成されたことは明らかである。
本発明を詳細にわたって記述すると共に図解したが、こ
れらは説明及び例示のみを意図しているのであって、限
定のためのものであると解釈してはならないことを明瞭
に理解されたい。例えば、ここに記載したＣＴシステム
は、Ｘ線源と検出器との両者がガントリと共に回転する
ような「第３世代」システムである。しかしながら、所
与のＸ線ビームに対して実質的に均一な応答を提供する
ように個々の検出器素子を補正すれば、検出器が全環状
の静止式検出器であって、Ｘ線源のみがガントリと共に
回転するような「第４世代」システムを含めて他の多く
のＣＴシステムを用いることができる。更に、ここに記
載したシステムは、軸方向走査を実行しているが、３６
０°を超えるデータが要求されるものの、本発明を螺旋
走査と共に用いることもできる。同様に、ここに記載し
た実施例は、２つの検出器チャンネルを用いていたが、
２つよりも多い検出器チャンネルを用いることもでき
る。従って、本発明の要旨は、特許請求の範囲によって
のみ限定されるものとする。
【図面の簡単な説明】
【図１】ＣＴ作像システムの見取り図である。
【図２】図１に示すシステムのブロック模式図である。
【図３】本発明の一実施例の幾何学的形状を示す模式図
である。
【符号の説明】
１０ ＣＴシステム １２ ガントリ １４ Ｘ線源 １６ Ｘ線ビーム １８ 検出器配列 ２０ 検出器素子 ２２ 患者 ２４ 回転中心 ２６ 制御機構 ２８ Ｘ線制御装置 ３０ ガントリ・モータ制御装置 ３２ データ収集システム（ＤＡＳ） ３４ 画像再構成装置 ３６ 計算機 ３８ 大容量記憶装置 ４０ コンソール ４２ 陰極線管表示装置 ４４ テーブル・モータ制御装置 ４６ モータ式テーブル ４８ ガントリ開口 ５０ 焦点 ５４ ボウタイ・フィルタ ５８ ファン・ビーム軸 ６０、６２ 放射線経路

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 物体を走査する計算機式断層写真法シス
    テム（１０）においてＸ線ビームの位置を決定するＸ線
    ビーム位置検出システムであって、前記計算機式断層写
    真法システム（１０）は、焦点（５０）を有しているＸ
    線源（１４）と、前記焦点（５０）がｘ軸内で移動する
    につれて単調に変化する経路の長さの差を発生するフィ
    ルタ（５４）と、少なくとも２つの検出器チャンネル
    （１８）とを含んでおり、前記Ｘ線源（１４）は、Ｘ線
    ビーム（１６）を発生しており、前記フィルタ（５４）
    は、少なくとも２つの対称に設けられた放射線経路（６
    ０、６２）に沿って前記ビーム（１６）を減衰させてお
    り、前記Ｘ線（１６）は、前記検出器チャンネル（１
    ８）に入射しており、前記Ｘ線ビーム位置検出システム
    は、 前記検出器チャンネル（１８）での信号強度を同定し、 スキャン全体にわたって各々の検出器チャンネル（１
    ８）についての同定された前記信号強度を加算し、 該加算結果を用いてＸ線ビーム位置の変化を決定するよ
    うに構成されているＸ線ビーム位置検出システム。
  2. 【請求項２】 前記Ｘ線ビームの位置の変化を決定する
    ために、前記システムは更に、 【数１】 に従って現在の経路の長さの差ｐA −ｐB を同定するよ
    うに構成されており、 ここで、 ｐA −ｐB ＝前記焦点（５０）と検出器チャンネルＡと
    の間、及び前記焦点（５０）と検出器チャンネルＢとの
    間における放射線経路の長さの差、 μBT＝前記フィルタ（５４）の減衰係数、 【数２】 【数３】 である請求項１に記載のシステム。
  3. 【請求項３】 前記Ｘ線ビームの位置の変化を決定する
    ために、前記システムは更に、当初の経路の長さの差を
    同定すると共に前記現在の経路の長さの差を前記当初の
    経路の長さの差と比較するように構成されている請求項
    ２に記載のシステム。
  4. 【請求項４】 前記計算機式断層写真法システム（１
    ０）は、軸方向走査を実行するように構成されている請
    求項２に記載のシステム。
  5. 【請求項５】 前記計算機式断層写真法システム（１
    ０）は、螺旋走査を実行するように構成されている請求
    項２に記載のシステム。
  6. 【請求項６】 前記計算機式断層写真法システム（１
    ０）は、２つの検出器チャンネル（１８）を有している
    請求項２に記載のシステム。
  7. 【請求項７】 前記計算機式断層写真法システム（１
    ０）は、少なくとも４つの連続的な検出器チャンネル
    （１８）を有しており、少なくとも１つのＸ線放射線経
    路は、各々の検出器チャンネル（１８）に入射してお
    り、前記Ｘ線ビームの位置の変化を決定するために、前
    記システムは更に、 【数４】 に従って現在の経路の長さの差ｐA −ｐB を同定するよ
    うに構成されており、 ここで、 ｐA ＝前記焦点（５０）と、前記当初の中心線の一方の
    側に位置している各々の検出器チャンネルＡとの間の放
    射線経路の長さの和、 ｐB ＝前記焦点（５０）と、前記当初の中心線の他方の
    側に位置している各々の検出器チャンネルＢとの間の放
    射線経路の長さの和、 ｐA −ｐB ＝放射線経路の長さの差、 μBT＝前記フィルタ（５４）の減衰係数、 【数５】 【数６】 である請求項１に記載のシステム。
  8. 【請求項８】 前記Ｘ線ビームの位置の変化を決定する
    ために、前記システムは更に、当初の経路の長さの差を
    同定すると共に前記現在の経路の長さの差を前記当初の
    経路の長さの差と比較するように構成されている請求項
    ７に記載のシステム。
  9. 【請求項９】 前記計算機式断層写真法システム（１
    ０）は、軸方向走査を実行するように構成されている請
    求項７に記載のシステム。
  10. 【請求項１０】 前記計算機式断層写真法システム（１
    ０）は、螺旋走査を実行するように構成されている請求
    項７に記載のシステム。
JP8340296A 1995-12-22 1996-12-20 Ｘ線ビーム位置検出システム Withdrawn JPH09276260A (ja)

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