JPH0854204A - 平面形状測定装置 - Google Patents

平面形状測定装置

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JPH0854204A
JPH0854204A JP34982493A JP34982493A JPH0854204A JP H0854204 A JPH0854204 A JP H0854204A JP 34982493 A JP34982493 A JP 34982493A JP 34982493 A JP34982493 A JP 34982493A JP H0854204 A JPH0854204 A JP H0854204A
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文宏 竹村
Hiroyuki Terauchi
宏之 寺内
Katsuaki Kamitari
勝昭 神足
Yasutake Oshima
泰毅 大島
Hideaki Miyamukai
英明 宮向
Shiro Majima
志郎 真島
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明では、一軸形式の測定装置でありなが
ら、極めて正確に測定することができ、しかも安価な平
面形状測定装置を提供することを目的とするものであ
る。 【構成】 一軸型のスライダと、このスライダに、スラ
イダの移動方向と直交する方向に取付けられた二つの接
触型の変位センサと、この変位センサの移動位置を検出
する位置検出機構と、前記変位センサから得た被測定物
の表面の形状情報信号と、前記位置検出機構から得た位
置信号とを演算する演算処理部とを備え、第一の測定の
後被測定物を所定の方向に移動させて再び測定して、そ
の測定結果を演算処理することで被測定物の表面形状を
測定することを特徴とするものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、平面形状測定装置に関
し、さらに詳しくは、シリコンウエハのポリッシュプレ
−トなどの表面形状を立体的に測定するのに適した板状
物の平面形状測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から平面形状測定装置として種々の
ものがあるが、その測定装置の代表的なものとしては図
11に示すようなエア−スライダ軸に変位センサを一個
設け、これを直線的に移動させることで一ライン毎の平
面情報を検出するようにしたものがある。すなわち、ベ
ッド1の上方にエア−スライダ軸2を水平に配置して、
その下側には若干の空間を形成し、これにエア−スライ
ダ3を取付け、モ−タ4及びタイミングベルト6によ
り、前記スライダ3をエア−スライダ軸2に沿って、移
動自在として、移動による変位をロ−タリ−エンコ−ダ
7により検出できるように形成され、前記スライダ3に
はセンサ5が装着されている。
【0003】また、ワ−クWは前記ベッド1上に置か
れ、かつ、前記エア−スライダ軸2の下部空間に位置さ
れるようになっている。尚、図において符号8は演算部
としてのパソコン、符号9はプリンタをそれぞれ示して
いる。
【0004】この装置では、エア−スライダ軸2に沿っ
てスライダ3を移動させながら、ポリッシュプレ−トで
あるワ−クWの表面形状情報、即ち、図12に示す直線
3に沿った形状情報を検出すると共に、位置検出情報
とを合わせて図13に示される形状情報を得る。次に、
図14に示すように、ワ−クWを90度回転させて再び
直線X4 上の形状を測定して、図15に示すワ−クWの
表面形状情報を得る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上述のような従来の装
置では、ワ−クWの第一回めの測定結果(C=O=D)
と、回転後の測定結果(E=O=F)とは、ワ−クWを
回転させるために位置的な条件が変わり、同一基準面で
の測定結果とはならず、併せて、2ラインの測定結果に
相互関係がないことから全表面の形状情報を正確に得る
ことが極めて困難であった。
【0006】また、広範囲に移動する一軸形式の測定装
置を2軸形式にすることも提案されているが、2軸有し
ていることから装置全体が大型化し、また装置が高額に
なってしまうという課題があった。そこで、本発明で
は、一軸形式の測定装置でありながら、極めて正確に測
定することができ、しかも安価な平面形状測定装置を提
供することを目的とするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明にかかる平面形状測定装置は、一軸型のスラ
イダと、このスライダに、スライダの移動方向と直交す
る方向に取付けられた二つの接触型の変位センサと、こ
の変位センサの移動位置を検出する位置検出機構と、前
記変位センサから得た被測定物の表面の形状情報信号
と、前記位置検出機構から得た位置信号とを演算する演
算処理部とを備え、第一の測定の後被測定物を所定の方
向に移動させて再び測定して、その測定結果を演算処理
することで被測定物の表面形状を測定することを特徴と
するものである。
【0008】
【実施例】以下本発明にかかる平面形状測定装置の一実
施例を図1乃至図3に基づいて説明する。図1は本発明
の一実施例にかかる平面形状測定装置の全体斜視図を示
し、図2は本発明の一実施例にかかる平面形状測定装置
の平面図を示し、図3は本発明の一実施例にかかる平面
形状測定装置の側面図を示している。これらの図面にお
いて、符号10はベッドを兼ねる定盤であって、前記定
盤10の上に配置された支持脚11、11間に正確に直
線加工されたエア−スライダ軸12の端部が支持固定さ
れ、前記エア−スライダ軸12は定盤10上に架設され
る。したがって、エア−スライダ軸12と定盤10との
間に空間が形成されてる。
【0009】前記エア−スライダ軸12には、エア−ス
ライダ13が搭載されており、このエア−スライダ13
は前記エア−スライダ軸12に沿って直線移動可能に構
成されている。即ち、前記エア−スライダ軸12の両端
部に配置されているプ−リ14、14間にはタイミング
ベルトなどのスリップなく正確に回転を伝えるベルト1
5が架装されていて、そのベルト15の端部が前記エア
−スライダ13に固定されている。
【0010】前記プ−リ14は支持脚11、11の外側
に張り出した支持台16、16の上に搭載されているモ
−タ17、ロ−タリエンコ−ダ18と同軸支持されて、
モ−タ17の回転がベルト15により確実にエア−スラ
イダ13に伝えられ、かつ、エア−スライダ13の移動
情報がロ−タリエンコ−ダ18により検出されるように
なっている。
【0011】また、前記エア−スライダ13にはエア−
スライダ軸12を中心とした両側に電気マイクロメ−タ
などのセンサ19、20が垂直面内で首振り運動可能に
取付けられている。尚、前記センサ19、20の先端部
分に形成された接触子19a,20a後で説明するよう
にワ−クWの表面に接触して表面の形状情報を検出でき
るようになっている。
【0012】そして、前記定盤10の上にワ−クWが搭
載され、このワ−クWの搭載位置を決めるために、定盤
10にはストッパとして、また、ワ−クWを定盤10の
上で回転させる際のガイドとなる一対のロ−ル21、2
1が所定の位置に軸を垂直にして配置されている。
【0013】さらに、前記エア−スライダ13に搭載さ
れたセンサ19、20から得た表面の形状情報とロ−タ
リエンコ−ダ17から得た変位情報とを演算するパソコ
ン22、また得られた情報を印刷するプリンタ23、及
びエア−スライダ13などの駆動系を制御する制御部2
4を備えている。
【0014】次に、本発明の装置を用いた測定作業につ
いて説明する。先ず、図4に示すように、ワ−クWの中
心Oがセンサ19の移動線上になるように位置を設定し
た後、直線G0Hをセンサ19によりトレ−スし、直線
IQJをセンサ20によりトレ−スする。この時、2つ
の直線、直線G0Hと直線IQJとの間隔Zは、二つの
センサ19と、20の間隔になる。
【0015】さらに、ワ−クWを中心の移動がないよう
にして、図5に示すように90度回転させ、直線KOL
と直線MPNに沿った表面形状の情報を得る。このと
き、ワ−クWを90度回転する前と後では、ワ−クWの
表面形状や、定盤との接触状態により異なることになる
が、測定結果のG0Hの情報と、測定結果KOLのう
ち、Oの高さ情報を一致させ、さらに直線IQJと直線
KQOLにおけるQの高さ情報を一致させることにより
二組のセンサ19、20により得たデ−タが同一基準面
のデ−タに変換されることになる。このときの測定曲線
を図6に示す。また、以上のデ−タから図10に示すよ
うにワ−クWの表面形状を立体的に得ることができる。
【0016】次に、ワ−クWの中心Oに関するデ−タを
得ることができる場合と、そのデ−タを得ることができ
ない場合とについて説明を加えることにする。先ず、ワ
−クWの中心Oに関するデ−タを得ることができる場合
には、二つのセンサ19、20とにより、図8に示すよ
うにa,bから45度分割4方向のデ−タを得るように
する。
【0017】すなわち、ロ、ハ、ニの点を平面基準とし
て、2方向aはロ、ニにより傾きが決定され、イの位置
が判明する。また、1方向bからホの位置が決まり、
イ、ホから3方向の傾きが決定される。さらに、イ、へ
により4方向の傾きが判明し、イ、ハから4方向の傾き
が決定されて、全体の平面度を算出する。
【0018】また、ワ−クWの中心Oに関するデ−タを
得ることができない場合、即ちワ−クWの平面形状測定
面の中心部に孔もしくは凹部が形成されている場合、図
9に示すように、まずト、チ、リを基準面として、1方
向bのデ−タからヌ、ルが決まる。さらに、3方向bか
らオ、ヨが決定され、さらに、ル、オと2方向bのデ−
タからレ、タ、ソ、の傾きが判明し、ヨ、ソ、から1方
向aの傾きが、さらにまた、ト、リから2方向aの傾き
が、ヌ、レから3方向a、チ、タから4方向aの傾きが
判明する。
【0019】次に、本発明の他の実施例について、図1
0に基づいて説明する。一実施例においては、ワ−クW
が水平な定盤の上に載置する形式の平面形状測定装置を
示したが、図10に示すようにワ−クWを垂直に立てた
ものであってもよい。即ち、この装置10の概略を説明
すると、ベッド31の上に、ロ−ラ付きの台車32が軌
道33上に搭載されており、この台車32、32の間に
ポリッシュプレ−トであるワ−クWが前記軌道33の長
さ方向と直交する平面に沿った方向に搭載される。
【0020】前記台車32、32にはワ−クWの周縁が
納まる溝をもった安定ロ−ル34、34があってこれら
のロ−ル34、34は正確に平行配置されており、左右
の送りピッチは常に同一である。
【0021】この安定ロ−ル34、34は前記台車32
の上において、油圧などのシリンダ35により上昇、下
降させることができるようになっていて、安定ロ−ル3
4、34上にワ−クWを搭載した後測定位置まで台車3
2、32を移動し、ストロ−クいっぱいに送り込み、ス
トッパ35a,36a,37aにつき当て、前記シリン
ダ35を収縮させて測定位置までワ−クWを下降させた
後、固定機構35、36b、37によりワ−クWを固定
できるようになっている。尚、図中の36は、予期せぬ
プレ−ト転倒防止のための安全機構である。一軸を中心
として、回動可能に形成されている。
【0022】これらの固定機構と隣り合って、一軸型の
エア−スライダ軸38が配置され、このエア−スライダ
軸38にエア−スライダ39が搭載されており、このエ
ア−スライダ39に測定機構40が搭載されている。
【0023】このスライダ39に搭載された測定機構4
0は、前記エア−スライダ軸38に沿って駆動部41の
出力により無端ベルト42が駆動されることで移動され
るもので、測定機構40には、二つのセンサ43があっ
て、これによりワ−クWの真直度の測定を行う。
【0024】そして、ワ−クWの設定が終了した後、ス
ライダ19をエア−スライダ−軸18に沿って移動させ
ながらセンサ23により表面の形状、言い換えると、真
直度を測定するとともに、スライダ19の変位情報と、
前記センサ23から得た表面形状情報とを、この実施例
では図示を省略してあるが演算部において演算されて、
ワ−クWの全体の表面情報にすることができる。
【0025】さらに、ワ−クWを例えば、45度回転さ
せて、前述の要領により再びセンサ23による測定を行
い、表面情報と変位情報とからワ−クWの表面を測定す
る。上述のように、この実施例においては、ワ−クWは
垂直面に沿った状態におかれて表面の形状の測定が行わ
れるので、25kgを越えるに至ったポリシュプレ−ト
などのワ−クWを自重によるたわみの影響をまったく受
けずに正確に測定することができる。
【0026】
【発明の効果】本発明による測定装置によれば、エア−
スライダ及びエア−スライダ軸からなるエア−スライド
装置が一台であるから、装置の価格が廉価であり、被測
定物を測定する間はこれを動かす必要がなく、またエア
−スライダをガイドするエア−スライダが一軸形式であ
ることから摺動面が少ないので測定誤差の発生原因が極
めて少なく、高精度の測定が可能になる。さらに、セン
サを二つ備えた構成により、被測定物の表面形状の立体
的な認識が可能になり、被測定物の表面中心に凹部があ
って、その中心を通る複数本の測定ラインの交点の高さ
デ−タが得られないようなものであっても表面の立体的
な形状把握が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は本発明の一実施例にかかる平面形状測定
装置の全体斜視図である。
【図2】図2は本発明の一実施例にかかる平面形状測定
装置の平面図である。
【図3】図3は本発明の一実施例にかかる平面形状測定
装置の側面図である。
【図4】本発明の測定装置による測定過程を示す説明図
である。
【図5】さらに本発明の測定装置による測定過程を示す
説明図である。
【図6】本発明の測定装置による測定結果を示す曲線図
である。
【図7】本発明の測定装置による測定結果の立体的斜視
図である。
【図8】本発明の測定装置による他の測定過程の説明図
である。
【図9】本発明の測定装置による他の測定過程の説明図
である。
【図10】本発明の他の実施例にかかる測定装置の正面
図である。
【図11】従来の測定装置の斜面図である。
【図12】従来の測定過程を示す説明図である。
【図13】従来の測定装置による測定結果を示す曲線図
である。
【図14】従来の測定装置によるさらに行う測定過程の
説明図である。
【図15】図14に示す測定過程に対応した曲線図であ
る。
【符号の説明】
10 定盤 11 支持脚 12 エア−スライダ軸 13 エア−スライダ 14 プ−リ 15 ベルト 16 支持台 17 モ−タ 18 ロ−タリエンコ−ダ 19 センサ 20 センサ 21 ロ−ル 22 パソコン 23 プリンタ 24 制御部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大島 泰毅 神奈川県秦野市曽屋30 東芝セラミックス 株式会社開発研究所内 (72)発明者 宮向 英明 神奈川県秦野市曽屋30 東芝セラミックス 株式会社開発研究所内 (72)発明者 真島 志郎 神奈川県秦野市曽屋30 東芝セラミックス 株式会社開発研究所内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一軸型のスライダと、このスライダに、
    スライダの移動方向と直交する方向に並列に取付けられ
    た二つの接触型の変位センサと、この変位センサの移動
    位置を検出する位置検出機構と、前記変位センサから得
    た被測定物の表面の形状情報信号と、前記位置検出機構
    から得た位置信号とを演算する演算処理部とを備え、第
    一の測定の後被測定物を所定の方向に移動させて再び測
    定し、数回の測定結果を演算処理することで被測定物の
    表面形状を測定することを特徴とする平面形状測定装
    置。
JP34982493A 1993-12-27 1993-12-27 平面形状測定装置及びこの装置を用いた平面形状測定方法 Expired - Lifetime JP3310748B2 (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6497047B1 (en) 1999-03-10 2002-12-24 Fujikoshi Kikai Kogyo Kabushiki Kaisha Flatness measuring equipment
JP2006119106A (ja) * 2004-10-25 2006-05-11 Nec Electronics Corp 平坦度測定器
KR100902733B1 (ko) * 2004-11-08 2009-06-15 현대중공업 주식회사 선박용 고정익 프로펠러의 날개 표면 기복 계측장치
JP2012117957A (ja) * 2010-12-02 2012-06-21 Nikon Corp 平面度測定装置
CN115787414A (zh) * 2022-12-06 2023-03-14 袁胜 路面平整度检测平衡支架及其检测结构及检测方法

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