JPH0854204A - 平面形状測定装置 - Google Patents
平面形状測定装置Info
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- JPH0854204A JPH0854204A JP34982493A JP34982493A JPH0854204A JP H0854204 A JPH0854204 A JP H0854204A JP 34982493 A JP34982493 A JP 34982493A JP 34982493 A JP34982493 A JP 34982493A JP H0854204 A JPH0854204 A JP H0854204A
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- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
ら、極めて正確に測定することができ、しかも安価な平
面形状測定装置を提供することを目的とするものであ
る。 【構成】 一軸型のスライダと、このスライダに、スラ
イダの移動方向と直交する方向に取付けられた二つの接
触型の変位センサと、この変位センサの移動位置を検出
する位置検出機構と、前記変位センサから得た被測定物
の表面の形状情報信号と、前記位置検出機構から得た位
置信号とを演算する演算処理部とを備え、第一の測定の
後被測定物を所定の方向に移動させて再び測定して、そ
の測定結果を演算処理することで被測定物の表面形状を
測定することを特徴とするものである。
Description
し、さらに詳しくは、シリコンウエハのポリッシュプレ
−トなどの表面形状を立体的に測定するのに適した板状
物の平面形状測定装置に関する。
ものがあるが、その測定装置の代表的なものとしては図
11に示すようなエア−スライダ軸に変位センサを一個
設け、これを直線的に移動させることで一ライン毎の平
面情報を検出するようにしたものがある。すなわち、ベ
ッド1の上方にエア−スライダ軸2を水平に配置して、
その下側には若干の空間を形成し、これにエア−スライ
ダ3を取付け、モ−タ4及びタイミングベルト6によ
り、前記スライダ3をエア−スライダ軸2に沿って、移
動自在として、移動による変位をロ−タリ−エンコ−ダ
7により検出できるように形成され、前記スライダ3に
はセンサ5が装着されている。
れ、かつ、前記エア−スライダ軸2の下部空間に位置さ
れるようになっている。尚、図において符号8は演算部
としてのパソコン、符号9はプリンタをそれぞれ示して
いる。
てスライダ3を移動させながら、ポリッシュプレ−トで
あるワ−クWの表面形状情報、即ち、図12に示す直線
X3に沿った形状情報を検出すると共に、位置検出情報
とを合わせて図13に示される形状情報を得る。次に、
図14に示すように、ワ−クWを90度回転させて再び
直線X4 上の形状を測定して、図15に示すワ−クWの
表面形状情報を得る。
置では、ワ−クWの第一回めの測定結果(C=O=D)
と、回転後の測定結果(E=O=F)とは、ワ−クWを
回転させるために位置的な条件が変わり、同一基準面で
の測定結果とはならず、併せて、2ラインの測定結果に
相互関係がないことから全表面の形状情報を正確に得る
ことが極めて困難であった。
置を2軸形式にすることも提案されているが、2軸有し
ていることから装置全体が大型化し、また装置が高額に
なってしまうという課題があった。そこで、本発明で
は、一軸形式の測定装置でありながら、極めて正確に測
定することができ、しかも安価な平面形状測定装置を提
供することを目的とするものである。
に、本発明にかかる平面形状測定装置は、一軸型のスラ
イダと、このスライダに、スライダの移動方向と直交す
る方向に取付けられた二つの接触型の変位センサと、こ
の変位センサの移動位置を検出する位置検出機構と、前
記変位センサから得た被測定物の表面の形状情報信号
と、前記位置検出機構から得た位置信号とを演算する演
算処理部とを備え、第一の測定の後被測定物を所定の方
向に移動させて再び測定して、その測定結果を演算処理
することで被測定物の表面形状を測定することを特徴と
するものである。
施例を図1乃至図3に基づいて説明する。図1は本発明
の一実施例にかかる平面形状測定装置の全体斜視図を示
し、図2は本発明の一実施例にかかる平面形状測定装置
の平面図を示し、図3は本発明の一実施例にかかる平面
形状測定装置の側面図を示している。これらの図面にお
いて、符号10はベッドを兼ねる定盤であって、前記定
盤10の上に配置された支持脚11、11間に正確に直
線加工されたエア−スライダ軸12の端部が支持固定さ
れ、前記エア−スライダ軸12は定盤10上に架設され
る。したがって、エア−スライダ軸12と定盤10との
間に空間が形成されてる。
ライダ13が搭載されており、このエア−スライダ13
は前記エア−スライダ軸12に沿って直線移動可能に構
成されている。即ち、前記エア−スライダ軸12の両端
部に配置されているプ−リ14、14間にはタイミング
ベルトなどのスリップなく正確に回転を伝えるベルト1
5が架装されていて、そのベルト15の端部が前記エア
−スライダ13に固定されている。
に張り出した支持台16、16の上に搭載されているモ
−タ17、ロ−タリエンコ−ダ18と同軸支持されて、
モ−タ17の回転がベルト15により確実にエア−スラ
イダ13に伝えられ、かつ、エア−スライダ13の移動
情報がロ−タリエンコ−ダ18により検出されるように
なっている。
スライダ軸12を中心とした両側に電気マイクロメ−タ
などのセンサ19、20が垂直面内で首振り運動可能に
取付けられている。尚、前記センサ19、20の先端部
分に形成された接触子19a,20a後で説明するよう
にワ−クWの表面に接触して表面の形状情報を検出でき
るようになっている。
載され、このワ−クWの搭載位置を決めるために、定盤
10にはストッパとして、また、ワ−クWを定盤10の
上で回転させる際のガイドとなる一対のロ−ル21、2
1が所定の位置に軸を垂直にして配置されている。
れたセンサ19、20から得た表面の形状情報とロ−タ
リエンコ−ダ17から得た変位情報とを演算するパソコ
ン22、また得られた情報を印刷するプリンタ23、及
びエア−スライダ13などの駆動系を制御する制御部2
4を備えている。
いて説明する。先ず、図4に示すように、ワ−クWの中
心Oがセンサ19の移動線上になるように位置を設定し
た後、直線G0Hをセンサ19によりトレ−スし、直線
IQJをセンサ20によりトレ−スする。この時、2つ
の直線、直線G0Hと直線IQJとの間隔Zは、二つの
センサ19と、20の間隔になる。
にして、図5に示すように90度回転させ、直線KOL
と直線MPNに沿った表面形状の情報を得る。このと
き、ワ−クWを90度回転する前と後では、ワ−クWの
表面形状や、定盤との接触状態により異なることになる
が、測定結果のG0Hの情報と、測定結果KOLのう
ち、Oの高さ情報を一致させ、さらに直線IQJと直線
KQOLにおけるQの高さ情報を一致させることにより
二組のセンサ19、20により得たデ−タが同一基準面
のデ−タに変換されることになる。このときの測定曲線
を図6に示す。また、以上のデ−タから図10に示すよ
うにワ−クWの表面形状を立体的に得ることができる。
得ることができる場合と、そのデ−タを得ることができ
ない場合とについて説明を加えることにする。先ず、ワ
−クWの中心Oに関するデ−タを得ることができる場合
には、二つのセンサ19、20とにより、図8に示すよ
うにa,bから45度分割4方向のデ−タを得るように
する。
て、2方向aはロ、ニにより傾きが決定され、イの位置
が判明する。また、1方向bからホの位置が決まり、
イ、ホから3方向の傾きが決定される。さらに、イ、へ
により4方向の傾きが判明し、イ、ハから4方向の傾き
が決定されて、全体の平面度を算出する。
得ることができない場合、即ちワ−クWの平面形状測定
面の中心部に孔もしくは凹部が形成されている場合、図
9に示すように、まずト、チ、リを基準面として、1方
向bのデ−タからヌ、ルが決まる。さらに、3方向bか
らオ、ヨが決定され、さらに、ル、オと2方向bのデ−
タからレ、タ、ソ、の傾きが判明し、ヨ、ソ、から1方
向aの傾きが、さらにまた、ト、リから2方向aの傾き
が、ヌ、レから3方向a、チ、タから4方向aの傾きが
判明する。
0に基づいて説明する。一実施例においては、ワ−クW
が水平な定盤の上に載置する形式の平面形状測定装置を
示したが、図10に示すようにワ−クWを垂直に立てた
ものであってもよい。即ち、この装置10の概略を説明
すると、ベッド31の上に、ロ−ラ付きの台車32が軌
道33上に搭載されており、この台車32、32の間に
ポリッシュプレ−トであるワ−クWが前記軌道33の長
さ方向と直交する平面に沿った方向に搭載される。
納まる溝をもった安定ロ−ル34、34があってこれら
のロ−ル34、34は正確に平行配置されており、左右
の送りピッチは常に同一である。
の上において、油圧などのシリンダ35により上昇、下
降させることができるようになっていて、安定ロ−ル3
4、34上にワ−クWを搭載した後測定位置まで台車3
2、32を移動し、ストロ−クいっぱいに送り込み、ス
トッパ35a,36a,37aにつき当て、前記シリン
ダ35を収縮させて測定位置までワ−クWを下降させた
後、固定機構35、36b、37によりワ−クWを固定
できるようになっている。尚、図中の36は、予期せぬ
プレ−ト転倒防止のための安全機構である。一軸を中心
として、回動可能に形成されている。
エア−スライダ軸38が配置され、このエア−スライダ
軸38にエア−スライダ39が搭載されており、このエ
ア−スライダ39に測定機構40が搭載されている。
0は、前記エア−スライダ軸38に沿って駆動部41の
出力により無端ベルト42が駆動されることで移動され
るもので、測定機構40には、二つのセンサ43があっ
て、これによりワ−クWの真直度の測定を行う。
ライダ19をエア−スライダ−軸18に沿って移動させ
ながらセンサ23により表面の形状、言い換えると、真
直度を測定するとともに、スライダ19の変位情報と、
前記センサ23から得た表面形状情報とを、この実施例
では図示を省略してあるが演算部において演算されて、
ワ−クWの全体の表面情報にすることができる。
せて、前述の要領により再びセンサ23による測定を行
い、表面情報と変位情報とからワ−クWの表面を測定す
る。上述のように、この実施例においては、ワ−クWは
垂直面に沿った状態におかれて表面の形状の測定が行わ
れるので、25kgを越えるに至ったポリシュプレ−ト
などのワ−クWを自重によるたわみの影響をまったく受
けずに正確に測定することができる。
スライダ及びエア−スライダ軸からなるエア−スライド
装置が一台であるから、装置の価格が廉価であり、被測
定物を測定する間はこれを動かす必要がなく、またエア
−スライダをガイドするエア−スライダが一軸形式であ
ることから摺動面が少ないので測定誤差の発生原因が極
めて少なく、高精度の測定が可能になる。さらに、セン
サを二つ備えた構成により、被測定物の表面形状の立体
的な認識が可能になり、被測定物の表面中心に凹部があ
って、その中心を通る複数本の測定ラインの交点の高さ
デ−タが得られないようなものであっても表面の立体的
な形状把握が可能になる。
装置の全体斜視図である。
装置の平面図である。
装置の側面図である。
である。
説明図である。
である。
図である。
である。
である。
図である。
である。
説明図である。
る。
Claims (1)
- 【請求項1】 一軸型のスライダと、このスライダに、
スライダの移動方向と直交する方向に並列に取付けられ
た二つの接触型の変位センサと、この変位センサの移動
位置を検出する位置検出機構と、前記変位センサから得
た被測定物の表面の形状情報信号と、前記位置検出機構
から得た位置信号とを演算する演算処理部とを備え、第
一の測定の後被測定物を所定の方向に移動させて再び測
定し、数回の測定結果を演算処理することで被測定物の
表面形状を測定することを特徴とする平面形状測定装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34982493A JP3310748B2 (ja) | 1993-12-27 | 1993-12-27 | 平面形状測定装置及びこの装置を用いた平面形状測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34982493A JP3310748B2 (ja) | 1993-12-27 | 1993-12-27 | 平面形状測定装置及びこの装置を用いた平面形状測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0854204A true JPH0854204A (ja) | 1996-02-27 |
JP3310748B2 JP3310748B2 (ja) | 2002-08-05 |
Family
ID=18406369
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP34982493A Expired - Lifetime JP3310748B2 (ja) | 1993-12-27 | 1993-12-27 | 平面形状測定装置及びこの装置を用いた平面形状測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3310748B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6497047B1 (en) | 1999-03-10 | 2002-12-24 | Fujikoshi Kikai Kogyo Kabushiki Kaisha | Flatness measuring equipment |
JP2006119106A (ja) * | 2004-10-25 | 2006-05-11 | Nec Electronics Corp | 平坦度測定器 |
KR100902733B1 (ko) * | 2004-11-08 | 2009-06-15 | 현대중공업 주식회사 | 선박용 고정익 프로펠러의 날개 표면 기복 계측장치 |
JP2012117957A (ja) * | 2010-12-02 | 2012-06-21 | Nikon Corp | 平面度測定装置 |
CN115787414A (zh) * | 2022-12-06 | 2023-03-14 | 袁胜 | 路面平整度检测平衡支架及其检测结构及检测方法 |
-
1993
- 1993-12-27 JP JP34982493A patent/JP3310748B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6497047B1 (en) | 1999-03-10 | 2002-12-24 | Fujikoshi Kikai Kogyo Kabushiki Kaisha | Flatness measuring equipment |
JP2006119106A (ja) * | 2004-10-25 | 2006-05-11 | Nec Electronics Corp | 平坦度測定器 |
KR100902733B1 (ko) * | 2004-11-08 | 2009-06-15 | 현대중공업 주식회사 | 선박용 고정익 프로펠러의 날개 표면 기복 계측장치 |
JP2012117957A (ja) * | 2010-12-02 | 2012-06-21 | Nikon Corp | 平面度測定装置 |
CN115787414A (zh) * | 2022-12-06 | 2023-03-14 | 袁胜 | 路面平整度检测平衡支架及其检测结构及检测方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3310748B2 (ja) | 2002-08-05 |
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Legal Events
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