JPH0843047A - 光学検査装置 - Google Patents

光学検査装置

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JPH0843047A
JPH0843047A JP18107894A JP18107894A JPH0843047A JP H0843047 A JPH0843047 A JP H0843047A JP 18107894 A JP18107894 A JP 18107894A JP 18107894 A JP18107894 A JP 18107894A JP H0843047 A JPH0843047 A JP H0843047A
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JP
Japan
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light
illumination means
ccd camera
optical inspection
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JP18107894A
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Hitoshi Hata
仁司 畑
Hiroshi Kominato
宏 小湊
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Toshiba Corp
Toshiba FA Systems Engineering Corp
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Toshiba Corp
Toshiba FA Systems Engineering Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】設置床面積とタクトタイムを増やすことなく、
ワークの形状や外観を容易に検査することができる光学
検査装置を得ること。 【構成】搬送コンベア1の上方に設けたCCDカメラ3
Aの下方に拡散照明用のハロゲンランプ13B,13Cを対
称的に配置する。搬送コンベア1の下方には、透過照明
用のハロゲンランプ13AをCCDカメラ3Aと同一軸心
線上に設ける。拡散照明電源4と透過照明電源5を、C
CDカメラ3Aのスキャニングのタイミングに合わせて
交互にオン・オフする。CCDカメラ3Aから画像処理
装置6に入力された画像情報は、拡散照明の反射光によ
る画像と透過照明による画像毎に集積して、それぞれ画
像処理を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば、ICのリード
フレームの外観を検査する光学検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図7は、ICのリードフレームを検査す
る従来の光学検査装置の一例を示す図である。図7にお
いて、左側から右方向に矢印Eで示すように移動する搬
送コンベア1の上面には、図示しないテープに所定の間
隔で貼り付けられたリードフレーム2が載置されてい
る。この搬送コンベア1の下部には、この搬送コンベア
の下方から上方を照明するハロゲンランプ13Aが縦に設
けられ、このハロゲンランプ13Aは、透過照明電源5に
接続されている。
【0003】一方、搬送コンベア1の上方には、ハロゲ
ンランプ13Aと同一軸心線上にCCD(Charge Coupled
Device 、電荷結合素子)カメラ3Cが撮像面を下向き
にして縦に取り付けられている。
【0004】このCCDカメラ3Cの下流側には、この
CCDカメラ3Cと同一形格品のCCDカメラ3Dが縦
に対称的に取り付けられている。このCCDカメラ3D
の下方には、一対のハロゲンランプ13B,13CがCCD
カメラ3Dの軸心線に対して左右に対称的に設けられ、
これらのハロゲンランプ13B,13Cは、拡散照明電源4
に接続されている。
【0005】CCDカメラ3C,3Dの出力信号線は、
切換スイッチ14Aを経て、画像処理装置6の入力側に接
続され、この画像処理装置6の出力側には、後述する画
像表示装置7,8が接続されている。
【0006】このように構成された光学検査装置におい
ては、リードフレーム2が搬送コンベア1によって搬送
されてCCDカメラ3Cとハロゲンランプ13Aを結ぶ線
上に来ると、ハロゲンランプ13Aの照明によって、リー
ドフレーム2の陰影がCCDカメラ3Cで撮像され、リ
ードフレーム2に形成されたリードの寄り、ばり、欠
け、変形やエッチング不良による短絡の有無などを含む
画像信号が画像処理装置6で画像処理され、画像表示装
置7に表示される。
【0007】リードフレーム2が更に下流側に搬送され
て、CCDカメラ3Dの下方の位置に来ると、ハロゲン
ランプ13A,13Cの光で照射された反射光によって、リ
ードフレーム2の表面状態がCCDカメラ3Dで撮像さ
れ、このCCDカメラ3Dの画像信号が切換スイッチ14
を経て入力された画像処理装置6で画像処理され、リー
ドフレーム2のリードのめっきの位置、めっき長さ、め
っきの欠け、めっき抜けやめっき飛びなどの異常の有無
を示す画像が画像表示装置8で表示される。
【0008】一方、図8は、1個のCCDカメラでリー
ドフレームの検査を行う従来の光学検査装置の一例を示
す図で、搬送コンベア1の上方には、ハロゲンランプ13
AとCCDカメラ3Cを結ぶ線に対して、CCDカメラ
13B,13Cが斜めに対称的に設けられている。
【0009】この場合には、CCDカメラ3Cの画像信
号は、画像処理装置6に直接入力され、ハロゲンランプ
13Aの照明電源5とハロゲンランプ13B,13Cの照明電
源4は、切換スイッチ14Bを経て、画像処理装置6に接
続されている。この画像処理6に画像表示装置7,8が
それそれ接続されていることは、図7に示した光学検査
装置と同様である。
【0010】このように構成された光学検査装置におい
ては、リードフレーム2が搬送コンベア1によって搬送
されてCCDカメラ3Cとハロゲンランプ13Aを結ぶ線
上に来ると、ハロゲンランプ13Aの照明によって、リー
ドフレーム2の陰影がCCDカメラ3Cで撮像され、リ
ードフレーム2に形成されたリードの寄り、ばり、欠
け、変形やエッチング不良による短絡の有無などを含む
画像信号が画像処理装置6で画像処理され、画像表示装
置7に表示される。
【0011】次に、このリードフレーム2は、再び搬送
コンベア1に載置され、このリードフレーム2が再び下
流側に搬送されて、CCDカメラ3Cの下方の位置に来
ると、ハロゲンランプ13A,13Cの光で照射された反射
光によって、リードフレーム2の表面状態がCCDカメ
ラ3Cで撮像される。次に、このCCDカメラ3Cの画
像信号が直接入力された画像処理装置6で画像処理さ
れ、リードフレーム2のリードのめっきの位置、めっき
長さ、めっきの欠け、めっき抜けやめっき飛びなどの異
常の有無を示す画像が画像表示装置8で表示される。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】ところが、このうち、
図7で説明した前者の光学検査装置においては、CCD
カメラ3Cとハロゲンランプ13Aで構成する検出ユニッ
トの下流側に、CCDカメラ3Dとハロゲンランプ13
B,13Cで構成する検出ユニットを組み込まなければな
らないので、検査ライン上に占める光学検査装置の搬送
ライン方向の占有面積が増えるだけでなく、CCDカメ
ラの数が2台となるので、高価となる欠点がある。
【0013】一方、図8で説明した後者の光学検査装置
においては、CCDカメラは1台であり、しかも、この
CCDカメラ3Cとハロゲンランプ13Aを結ぶ線上に一
対のハロゲンランプ13B,13Cを設けることで、検出ユ
ニットが一組となるので、小形となり、搬送ライン上に
占める光学検査装置のライン方向の占有面積を減らすこ
とはできる。
【0014】しかし、この方法は、被検出物となるリー
ドフレーム2を矢印Fに示すように2回パスしなければ
ならないので、1個のリードフレームの検査に要するタ
クトタイムが長くなり、第1回目でパスしたフレーム2
を上流側に返送する搬送装置が必要となるだけでなく、
タクトタイムが長くなることで、大量生産のICなどに
使用するリードフレームの検査には生産高向上の障害と
なり、採用できない。そこで、本発明の目的は、占有面
積とタクトタイムを増やすことなく、ワークの形状や外
観を容易に検査することのできる光学検査装置を得るこ
とである。
【0015】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明の
光学検査装置は、搬送コンベアの上方に設けられこの搬
送コンベアで搬送されるワークから入射する光を受光し
複数回のスキャニングでワークの画像処理を出力するラ
インセンサカメラと、搬送コンベアの上下に設けられラ
インセンサのスキャニングに同期してワークに光を交互
に照射する拡散照明手段及び透過照明手段と、ラインセ
ンサカメラから入力されたワークの画像情報を拡散照明
手段と透過照明手段から出射された照射光による画像情
報毎に画像処理する画像処理装置を備えたことを特徴と
する。
【0016】また、請求項2に記載の発明の光学検査装
置は、搬送コンベアの上方に設けられこの搬送コンベア
で搬送されるワークから入射する光を受光し複数回のス
キャニングでワークの画像情報を出力するラインセンサ
カメラと、搬送コンベアの上下に設けられラインセンサ
のスキャニングに同期して回転するシャッタを備えた拡
散照明手段及び透過照明手段と、ラインセンサカメラか
ら入力されたワークの画像情報を照射光による画像情報
毎に画像処理する画像処理装置を備えたことを特徴とす
る。
【0017】さらに、請求項3に記載の発明の光学検査
装置は、搬送コンベアの上方に設けられ、この搬送コン
ベアで搬送されるワークから入射する光を受光し複数回
のスキャニングでワークの画像情報を出力するラインセ
ンサカメラと、搬送コンベアの上下に設けられラインセ
ンサのスキャニングに同期して異なる色の光を出射する
拡散照明手段及び透過照明手段と、ラインセンサカメラ
から入力されたワークの画像情報を照射光毎に画像処理
する画像処理装置を備えたことを特徴とする。
【0018】
【作用】請求項1に記載の発明においては、搬送コンベ
アで搬送されて検査されるワークは、拡散照明手段から
照射される光の反射光と透過照明手段から照射される光
の透過光を交互に撮像するラインセンサカメラで撮像さ
れ、この画像情報は、この画像情報が交互に入力され反
射光による画像情報と透過光による画像情報毎に集積し
て処理する画像処理装置によって個別に画像化される。
【0019】また、請求項2に記載の発明においては、
搬送コンベアで搬送されて検査されるワークには、ライ
ンセンサカメラのスキャニングに同期して回転するシャ
ッタを備えた拡散照明手段及び透過照明手段から光が照
射され、ワークは、拡散照射手段から照射される光の反
射光と透過照明手段から照射される光の透過光によって
交互に撮像され、この画像情報は、この画像情報が交互
に入力され反射光による画像情報と透過光による画像情
報毎に集積して処理する画像処理装置によって個別に画
像化される。
【0020】さらに、請求項3に記載の発明において
は、搬送コンベアで搬送されて検査されるワークは、拡
散照明手段から照射される第1の着色光の反射光と透過
照明手段から照射される第2の着色光の透過光を交互に
撮像するラインセンサカメラで撮像され、この画像情報
は、この画像情報が同時に入力され反射光による画像情
報と透過光による画像情報毎に集積して処理する画像処
理装置によって画像化される。
【0021】
【実施例】以下、本発明の光学検査装置の一実施例を図
面を参照して説明する。図1は、請求項1に記載の発明
の光学検査装置の一実施例を示す図で、従来の技術で示
した図7及び図8に対応する図である。なお、図7及び
図8と同一部分には、同一符号を付して説明を省略す
る。
【0022】図1においては、構成要素は図8で示した
光学検査装置とほぼ同一であるが、その動作が図2に示
すように異なる。すなわち、画像処理装置6では、CC
Dカメラ3Aによるスキャン(すなわち、CCDカメラ
からこのCCDカメラに内蔵されたシフトレジスタに画
像情報を移すタイミング)と同期して、例えば、透過照
明電源5をオンする信号が出力され、次のCCDカメラ
3Aによるスキャンと同期して、拡散照明電源4をオン
する信号が出力される。
【0023】そのため、画像処理装置6とCCDカメラ
3Aとの間には、スキャンのタイミングを指令する信号
線が接続され、同様に、画像処理装置6と拡散照明電源
4及び透過照明電源5との間にも、切換えのタイミング
を指令する信号線がそれぞれ接続されている。
【0024】この結果、画像処理装置6には、拡散照明
電源4で点灯されたハロゲンランプ13B,13Cの反射光
による、リードフレーム2のリードのめっきの異常の有
無を示す画像信号と、透過照明電源5で点灯されたハロ
ゲンランプ13Aの照明によって得られた、リードの形状
不良の有無を示す画像信号が、交互に入力される。
【0025】すると、画像処理装置6では、CCDカメ
ラ3Aから入力された透過照明による画像信号とCCD
カメラ3Aから入力された拡散照明による画像信号が分
離された後、それぞれ集積され画像処理される。そし
て、リードフレーム2の陰影による前述したリードの寄
りや欠けなどの形状の欠陥の有無を示す画像が画像表示
装置7に表示され、リードフレーム2のリードのめっき
不良の有無などの表面状態を示す画像が画像表示装置8
に表示される。
【0026】図3は、拡散照明の光源が1個の場合を示
し、CCDカメラ3Aの下流側に斜めに設けた例、すな
わち、図1におけるハロゲンランプ13Bを省いた例を示
す。検査対象物の形状や要求される検査項目及び検査水
準によっては、拡散照明用ランプは、上流側又は下流
側、或いは、矢印Bと直交方向に1個だけ設けて構成を
更に簡単にしてもよい。
【0027】次に、図4(a),(b)は、画像表示装
置7,8に表示されたリードフレームの画像の一例を示
す図である。このうち、図4(a)は、透過照明用のハ
ロゲンランプ13Aから照射された光による、リードフレ
ーム2の陰影を撮像したCCDカメラ3Aから出力され
た画像信号が、画像処理装置6によって画像処理された
後、画像表示装置7に表示された画像の状態を示す。
【0028】図4(a)に示すように、透過照明による
画像では、光が透過されなかったリードフレーム2のリ
ード9の部分と、中央の長方形のアイランド10の部分が
陰影となって濃い黒色となっている。
【0029】また、図4(b)は、拡散照明用のハロゲ
ンランプ13B,13Cで照射された光の反射光が、CCD
カメラ3Aで受光され、この画像信号が画像処理装置6
によって画像処理された後、画像表示装置8の画面に表
示された画像の状態を示す。
【0030】図4(b)に示すように、拡散照明による
画像では、リードフレーム2の中央部のめっき部分11
は、光沢のよい反射面で照射光が反射された結果、白い
色となっており、次に反射率の高いリード9の部分が薄
い黒色で、リード9の間の反射光の少ない部分が濃い黒
色となっている。この場合にも、検査対象となるワーク
の形状や検査水準によっては、図1と同様に拡散照明の
光源を2個としてもよい。
【0031】次に、図5(a)は、請求項2に記載の発
明の光学検査装置の一実施例を示す図で、図1及び図3
に対応する図である。図5(a)においては、拡散照明
用のハロゲンランプ13Cの下部右側に隣接して、詳細を
図5(b)の斜視図に示す円板状のメカニカルシャッタ
12が設けられている。
【0032】このメカニカルシャッタ12の中心部には、
駆動モータ14の軸が貫通しており、このメカニカルシャ
ッタ12は、駆動モータ14の軸に図示しないキーを介して
固定されている。メカニカルシャッタ12には、図5
(b)に示すように、半円形の窓12aが形成されてい
る。
【0033】このように構成された光学検査装置におい
ては、ハロゲンランプ13A,13Cは、図2で示したよう
な点滅は行わないで、CCDカメラ3Aによるスキャン
と同期して各メカニカルシャッタ12の窓12aがハロゲン
ランプ13A,13Cの出射口の位置となるように回転され
る。
【0034】この場合には、ハロゲンランプ13A,13C
の立ち上がり特性が悪い場合でも、タイミングのずれの
影響を防ぐことができる利点がある。なお、図5におい
ては、拡散照明用のハロゲンランプは、1個としたが、
図1と同様に、検査するワークの形状や検査水準によっ
ては、CCDカメラ3Aとハロゲンランプ13Aを結ぶ線
の両側に対称的にそれぞれ設けてもよい。
【0035】また、図6は、請求項3に記載の発明の光
学検査装置の一実施例を示す図で、図1,図3及び図5
に対応する図である。図6においては、拡散照明光と透
過照明光の色を変えて、透過照明光のハロゲンランプ13
Dには、出射口に緑色のカバーを設けて緑色の光を出射
し、拡散照明光のハロゲンランプ13Eには、出射口に赤
色のカバーを設けて赤色の光を出射した場合を示す。
【0036】この場合には、図4(b)に示しためっき
部分11から出射された拡散照明による赤色光、及び、図
4(a),(b)で示したリード9の間から反射された
同じく拡散照明による暗い光と、図4(a)のリード9
の間から透過した透過照明による緑色の光、及び、リー
ド9とめっき部分11からの透過照明の陰影による暗い光
がCCDカメラ3Bに入射され、これらの光による画像
信号が画像処理装置6に入力される。
【0037】この場合には、ハロゲンランプ13D,13E
をオン・オフしなくても、CCDカメラ3Bに入射され
る光の色の違い(すなわち、波長の違い)で、波長が等
しい光を抽出することができるので、CCDカメラ3A
のスキャンとのタイミングと同期させたハロゲンランプ
13D,13Eの点滅が不要となる利点がある。この場合に
も、拡散用照明は1個としたが、ワークの形状や要求さ
れる検査項目及び検査水準によっては、図1と同様に2
個としてもよい。
【0038】なお、上記実施例では、リードフレーム2
の上下から照射する光の光源として、ハロゲンランプを
用いた例で説明したが、このハロゲンランプの他にキセ
ノンランプや高周波蛍光灯を用いてもよく、更に、図
1,図3に示すように点滅する場合には、この点滅を高
速に行うために、LED(Light Emitting Diodl、発光
ダイオード)を使ってもよい。
【0039】
【発明の効果】以上、請求項1に記載の発明によれば、
ワークの上方に設けた拡散照明手段と、ワークの下方に
設けた拡散照明手段をラインセンサのスキャニングに同
期させて交互に点灯するとともに、交互に撮像された拡
散照明手段の光の反斜光による画像情報と透過照明手段
の光の透過光による画像情報を、画像処理装置によって
個別に集積して画像処理したので、占有面積とタクトタ
イムを増やすことなく、ワークの形状や外観を容易に検
査することのできる光学検査装置を得ることができる。
【0040】また、請求項2に記載の発明によれば、ワ
ークの上方に設けた拡散照明手段とワークの下方に設け
た透過照明手段の出射部にラインセンサのスキャニング
に同期して回転するシャッタを設けて出射光をワークに
交互に照射するとともに、交互に撮像された拡散照明手
段の光の反射光による画像情報と透過照明手段の光の透
過光による画像情報を、画像処理装置によって個別に集
積して画像処理したので、占有面積とタクトタイムを増
やすことなく、ワークの形状や外観を容易に検査するこ
とのできる光学検査装置を得ることができる。
【0041】さらに、請求項3に記載の発明によれば、
ワークの上方に設けた拡散照明手段とワークの下方に設
けた透過照明手段から異なる色の照射光をワークに出射
し、拡散照明手段の光の反射光による画像情報と透過照
明手段の透過光による画像情報を画像処理装置によって
異なる色別に集積して画像処理したので、占有面積とタ
クトタイムを増やすことなく、ワークの形状や外観を容
易に検査することのできる光学検査装置を得ることがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】請求項1に記載の発明の光学検査装置の一実施
例を示す図。
【図2】請求項1に記載の発明の光学検査装置の作用を
示す図。
【図3】請求項1に記載の発明の光学検査装置の他の実
施例を示す図。
【図4】請求項1に記載の発明の光学検査装置で撮像さ
れた画像の一例を示す図。
【図5】請求項2に記載の発明の光学検査装置の一実施
例を示す図。
【図6】請求項3に記載の発明の光学検査装置の一実施
例を示す図。
【図7】従来の光学検査装置の一例を示す図。
【図8】従来の光学検査装置の図7と異なる一例を示す
図。
【符号の説明】
1…搬送コンベア、2…リードフレーム、3A,3B…
CCDカメラ、4…拡散照明電源、5…透過照明電源、
6…画像処理装置、7,8…画像表示装置、9…リー
ド、10…アイランド、11…めっき部分、12…メカニカル
シャッタ、13A,13B,13C,13D,13E…ハロゲンラ
ンプ、14…電動機。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小湊 宏 東京都府中市東芝町1番地 株式会社東芝 府中工場内

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 搬送コンベアの上方に設けられ前記搬送
    コンベアで搬送されるワークから入射する光を受光し複
    数回のスキャンニングで前記ワークの画像情報を出力す
    るラインセンサカメラと、前記コンベアの上下に設けら
    れ前記ラインセンサカメラのスキャニングに同期して前
    記ワークに光を交互に照射する拡散照明手段及び透過照
    明手段と、前記ラインセンサカメラから入力された前記
    ワークの画像情報を前記拡散照明手段と前記透過照明手
    段の照射光による画像情報毎に集積し処理する画像処理
    装置とよりなる光学検査装置。
  2. 【請求項2】 拡散照明手段及び透過照明手段に、ライ
    ンセンサカメラのスキャニングに同期して回転するシャ
    ッタを設けたことを特徴とする請求項1に記載の光学検
    査装置。
  3. 【請求項3】 拡散照明手段及び透過照明手段から照
    射される光を互いに異なる色の光としたことを特徴とす
    る請求項1に記載の光学検査装置。
JP18107894A 1994-08-02 1994-08-02 光学検査装置 Pending JPH0843047A (ja)

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