JPH0835079A - 低濃度調整装置 - Google Patents
低濃度調整装置Info
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Abstract
ようにする。 【構成】 基板処理装置では、薬液が低濃度の目標濃度
になるように調整される。この装置は希釈液貯留槽1か
ら希釈液を供給するポンプP1と薬液貯留槽2から薬液
を供給するポンプP2と基板処理槽3と濃度センサー8
と制御部20とを備えている。基処理槽3は希釈された
薬液を貯溜する。濃度センサー8は、目標濃度に対し
て、基板処理槽3に貯溜された薬液の濃度を所定の検出
誤差範囲で断続的に検出する。制御部20は、濃度セン
サー8が目標濃度と異なる濃度を検出したとき、目標濃
度Ctと検出濃度Cmとの半分の濃度を新たな目標値C
sに設定し、基板処理槽3内の薬液の濃度が設定された
目標値CsとなるようにポンプP1またはポンプP2を
制御して薬液濃度を調整する。
Description
に、薬液が低濃度の目標濃度になるように調整する低濃
度調整装置に関する。
エッチングや、エッチング後のフォトレジストの剥離処
理や、剥離後の基板の洗浄処理等の処理液による基板処
理工程が不可欠である。この種の基板処理工程では、た
とえばフッ酸(HF)の低濃度液でのエッチング処理や
洗浄処理が行われている。
合槽で所望の濃度に薬液を調合した後に処理槽に供給し
たり、処理槽内で所望の濃度に薬液を調合することが行
われている。このような薬液の調合時には、まず、薬液
と希釈液とを目標濃度となるようにそれぞれ定量供給
し、その濃度を濃度センサーで計測し、目標濃度から外
れている場合にはさらに検出された濃度と目標濃度との
差分だけ薬液又は希釈液を供給する。
の濃度を測定する濃度センサーは、センサーの再現性及
び検出精度が良好ではないために、所定範囲の検出誤差
が生じる。たとえば、1%濃度のフッ酸の濃度を測定す
ると1%±0.01%程度の検出誤差が生じる。したが
って、低濃度の処理液を濃度センサーの検出濃度に応じ
て一定濃度に制御するのが困難である。このため、最初
から目標濃度を狙って薬液と希釈液とを供給すると、薬
液濃度が濃くなりすぎることがある。このとき、逆に薄
めるように希釈液を入れると逆に薄くなりすぎ、次に濃
くなりすぎるということを繰り返し、濃度が目標濃度に
迅速に収束しにくい。
につれて濃度が薄くなることがある。このような場合
に、目標濃度を狙って薬液を調合すると同様な問題が生
じ、目標濃度に迅速に収束しにくい。本発明の目的は、
低濃度の薬液を目標濃度に迅速に収束させるようにする
ことにある。
装置は、薬液が低濃度の目標濃度になるように調整する
装置であって、貯溜槽と濃度検出手段と目標値設定手段
と濃度調整手段とを備えている。貯溜槽は、薬液を貯溜
するためのものである。濃度検出手段は、目標濃度に対
して、貯溜槽に貯溜された薬液の濃度を所定の検出誤差
範囲で断続的に検出するものである。目標値設定手段
は、濃度検出手段が目標濃度と異なる濃度を検出したと
き、目標濃度と検出濃度との間の濃度を新たな目標値に
設定するものである。濃度調整手段は、貯溜槽内の薬液
の濃度が目標値設定手段で設定された目標値となるよう
に薬液濃度を調整するものである。
濃度との間の半分の濃度を目標値に設定するのが好まし
い。また、濃度調整手段が、目標濃度より濃い濃度の薬
液を貯溜槽に供給する薬液供給手段と、検出濃度が目標
濃度より薄いとき、目標値設定手段で設定された目標値
に応じて薬液供給手段を動作させる動作手段とを有して
いるのが好ましい。
めの希釈液を貯溜槽に供給する希釈液供給手段と、検出
濃度が目標濃度より濃いとき、目標値設定手段で設定さ
れた目標値に応じて希釈液供給手段を動作させる動作手
段とを有しているのが好ましい。また、貯溜槽から薬液
を排出して貯溜槽に戻す循環手段をさらに備え、濃度検
出手段が、循環している薬液の濃度を検出するのが好ま
しい。
を調合するとき、目標濃度の検出誤差範囲の下限の濃度
になるように薬液供給手段及び希釈液供給手段を動作さ
せるのが好ましい。
槽に貯溜されると、濃度検出手段が所定の検出誤差範囲
で薬液の濃度を検出する。検出された濃度が目標濃度と
異なるとき、目標値設定手段は、目標濃度と検出濃度と
の間の濃度を新たな目標値に設定する。そして薬液の濃
度が目標値設定手段で設定された目標値となるように濃
度調整手段が薬液の濃度を調整する。
て行うのではなく、目標濃度と検出濃度との間の目標値
に対して行うので、濃度検出手段が所定の検出誤差範囲
で濃度を検出しても、濃度が濃くなったり薄くなったり
せず迅速に目標濃度に収束する。なお、検出濃度と目標
濃度との半分の濃度を目標値に設定する場合には、より
効率良く目標濃度に収束できる。
濃度の薬液を貯溜槽に供給する薬液供給手段と、検出濃
度が目標濃度より薄いとき、目標値設定手段で設定され
た目標値に応じて薬液供給手段を動作させる動作手段と
を有する場合には、検出濃度が薄いときに目標値に対し
て迅速に濃度が制御され、目標濃度に対する収束がより
迅速になる。
槽に供給する希釈液供給手段と、検出濃度が目標濃度よ
り濃いとき、目標値設定手段で設定された目標値に応じ
て希釈液供給手段を動作させ動作手段とを有する場合に
は、検出濃度が濃いときに目標値に対して迅速に濃度が
制御され、目標濃度に対する収束がより迅速になる。ま
た、貯溜槽から薬液を排出して貯溜槽に戻す循環手段を
さらに備え、濃度検出手段は循環している薬液の濃度を
検出する場合には、薬液が常に循環しているので、薬液
濃度をより精度良く検出できる。
液を調合するとき、目標濃度の検出誤差範囲の下限の濃
度になるように薬液供給手段及び希釈液供給手段を動作
させる場合には、薄めに濃度を設定した状態で濃度調整
を行うので、濃度が濃くなることがなくなり、迅速に所
望の目標濃度に収束する。
基板処理装置は、希釈液貯溜槽1と薬液貯溜槽2と基板
処理槽3とを有している。希釈液貯溜槽1には、希釈液
として例えば純水が貯溜されている。また薬液貯溜槽2
には、薬液として例えばフッ酸が貯溜されている。希釈
液貯溜槽1の底部には、基板処理槽3に希釈液を供給す
るための希釈液供給配管4が接続されている。希釈液供
給配管4の途中には、定量ポンプP1が配置されてい
る。同様に薬液貯溜槽2の底部には、薬液を基板処理槽
3に供給するための薬液供給配管5が接続されており、
その途中には定量ポンプP2が配置されている。
面を対向配置させて保持するための基板保持部10が設
けられている。基板処理槽3の底部には、循環配管6の
一端が接続されている。循環配管6の他端は、基板処理
槽3の上部から内部に導入されている。循環配管6の途
中には、循環ポンプP3、温度調節用の熱交換器7、濃
度センサー8、フィルター9及び循環バルブV1が一端
からこの順に配置されている。また、フィルター9と循
環バルブV1との間には、排出バルブV2が接続されて
いる。濃度センサー8は、低濃度のフッ酸(例えば1
%)の水溶液を±0.01%の検出誤差範囲で検出可能
なものであり、例えば、静電容量センサーや光センサー
から構成されている。
有している。制御部20は、CPU,RAM,ROMを
含むマイクロコンピュータから構成されている。制御部
20には、目標濃度等の入力を行うための操作パネル2
1及び濃度センサー8が接続されている。また、制御部
20には、定量ポンプP1,P2、循環ポンプP3、循
環バルブV1、供給バルブV2及び他の入出力部が接続
されている。
6に示す制御フローチャートに従って説明する。プログ
ラムがスタートするとまずステップS1で初期設定を行
う。この際、各ポンプP1〜P3をオフし、各バルブV
1,V2を閉状態にする。また、各種のセット値を初期
値にセットする。
標濃度Ctが入力されたか否かを判断する。ステップS
3では、調合指令がなされたか否かを判断する。ステッ
プS4では基板処理指令がなされたか否かを判断する。
ステップS5では排出指令がなされたか否かを判断す
る。ステップS6では他の指令がなされたか否かを判断
する。他の指令がなされていないと判断するとステップ
S2に戻る。
ステップS2からステップS10に移行する。ステップ
S10では、入力された目標濃度Ctをセットする。な
おこの目標濃度は、例えば1%にセットされる。この目
標濃度Ctは、若干の幅(例えばCt±0.005%程
度の幅)を持ってセットされる。調合指令がなされたと
判断するとステップS3からステップS11に移行す
る。ステップS11では調合処理(後述)を行う。基板
処理指令がなされたと判断するとステップS4からステ
ップS12に移行する。ステップS12では基板処理
(後述)がなされる。排出指令がなされたと判断すると
ステップS5からステップS13に移行する。ステップ
S13では排出処理(後述)がなされる。他の指令がな
されるとステップS6からステップS14に移行する。
ステップS14ではその指令に応じた他の処理が実行さ
れる。
テップS21で目標濃度Ctから検出誤差範囲αを減じ
た値を目標値Csとして設定する。ステップS22で
は、この目標値Csとなるように定量ポンプP1,P2
をオンする。例えば目標濃度Ctが1%にセットされ、
検出誤差範囲が±0.01%である場合には、目標値C
sとして0.99%が設定される。この目標値Csに応
じて、ポンプP1とポンプP2の吐出量がそれぞれ制御
され、希釈液及び薬液が希釈液貯留槽1及び薬液貯留槽
2からそれぞれ基板処理槽3に供給される。なお、基板
処理槽3の容量は予め定められているので、ここでは、
その容量に応じた目標値Csの濃度となるように各ポン
プP1,P2が制御される。この結果、図7に示すよう
な濃度になる。
つ。この時間T1は、希釈液及び処理液が基板処理槽3
に供給されるのに充分な時間である。ステップS24で
は循環バルブV1を開く。ステップS25では、循環ポ
ンプP3をオンする。この結果、基板処理槽3内の薬液
が循環配管6により循環する。ステップS26では時間
T2の経過を待つ。この時間T2は、循環時間を定める
ためのものである。所定の時間T2が経過するとステッ
プS27に移行する。
を取り込み、濃度Cmを測定する。ステップS28で
は、検出された濃度Cmが目標濃度Ctの範囲に入って
いるか否かを判断する。目標濃度Ctの範囲に入ってい
る場合にはメインルーチンに戻る。目標濃度Ctからそ
れている場合にはステップS29に移行する。ステップ
S29では、図7に示すように、目標濃度Ctと検出濃
度Cmとの半分の濃度を新たな目標値Csとして設定す
る。ステップS30では、検出濃度Cmが目標濃度Ct
より大きいか否かを判断する。検出濃度Cmが目標濃度
Ctより小さい場合には濃度が薄すぎるので、ステップ
S31に移行し、検出濃度Cmと目標値Csとの差分に
応じて定量ポンプP2をオンさせ、薬液を基板処理槽3
に供給する。また検出濃度Cmが目標濃度Ctより大き
いと判断した場合には濃度が濃すぎるので、ステップS
32に移行し、検出濃度Cmと目標値Csの差分に応じ
て定量ポンプP1をオンさせ、希釈液を基板処理槽3に
供給する。これらの処理が終了するとステップS26に
戻る。そして検出濃度Cmが目標濃度Ctの許容範囲内
に入るまでステップS26以降の動作を繰り返す。
テップS40でバルブV1を開いてバルブV2を閉じ
る。ステップS41では、循環ポンプP3をオンする。
ステップS42では、時間T3の経過を待つ。この時間
T3は、濃度センサー8による検出間隔を定めるための
時間である。ステップS43では濃度センサー8の出力
を取り込み、濃度Cmを測定する。ステップS44で
は、検出濃度Cmが目標濃度Ctの範囲に入っているか
否かを判断する。許容範囲からそれている場合にはステ
ップS45に移行する。ステップS45では、ステップ
S29と同様に、検出濃度Cmと目標濃度Ctとの半量
分の濃度を新たな目標値Csとして設定する。
濃度Ctより大きいか否かを判断する。検出濃度Cmが
目標濃度Ctより大きい場合にはステップS47に移行
する。この場合には濃度が濃すぎるので、ステップS4
7で目標値Csと検出濃度Cmの差分に応じてポンプP
1をオンさせ、希釈液を供給する。また、検出濃度Cm
が目標濃度Ctより小さい場合にはステップS48に移
行する。この場合には濃度が薄すぎるので、ステップS
48で目標濃度Csと検出濃度Cmとの差分に応じてポ
ンプP2をオンさせ、薬液を供給する。またこれらの処
理が終了するとステップS49に移行する。ステップS
49では基板終了指令がなされたか否かを判断する。基
板終了指令がなされるまでステップS42からステップ
S49の動作を繰り返す。基板終了指令がなされるとメ
インルーチンに戻る。
テップS51で、バルブV1を閉じてバルブV2を開
く、ステップS52では循環ポンプP3をオンする。ス
テップS53では、時間T4の経過を待つ。この時間T
4は、基板処理槽3から薬液が僅かに残った状態で排出
されるまでに充分な時間である。ステップS54では、
循環ポンプP3をオフする。この結果、僅かに残留した
薬液が自然落下により排出される。ステップS55で
は、バルブV1,V2を共に閉じる。
囲の下限の濃度を狙って調合を行い、調合中又は基板処
理中においては、検出濃度と目標濃度との半量分の濃度
に目標値を設定した薬液または希釈液を補給している。
このため、最初から目標濃度になるように薬液を調合す
る場合に比べて濃度センサーが検出誤差範囲を有してい
ても、濃度が濃くなったり薄くなったりせず目標濃度に
迅速に収束する。 〔他の実施例〕 (a) 目標値を検出濃度と目標濃度との半量に設定す
るのは一例であり、目標濃度と検出濃度との間の値であ
ればどのような濃度に目標値を設定しても良い。 (b) 調合処理時には目標濃度の検出誤差範囲の下限
を狙って調合を行うだけにして、濃度測定やそれに伴う
制御を省いてもよい。この場合には、図4のステップS
26以下の処理を省略してメインルーチンに戻れば良
い。これにより、調合処理が短時間で終了する。 (c) 基板処理時において、常に目標値を検出濃度と
目標濃度との半量に設定するのではなく、検出濃度が目
標濃度の検出誤差範囲から外れている場合には、検出誤
差範囲の境界濃度(例えばCt±α)を新たな目標値に
設定し、検出濃度が検出誤差範囲内に入っている場合に
のみ半量制御を行うようにしても良い。 (d) 調合処理時において、基板処理槽に供給する薬
液の濃度を意図的に薄くまたは濃くすることで、希釈液
供給または薬液供給を省くことができる。
調整を直接目標濃度に対して行うのではなく、目標濃度
と検出濃度との間の目標値に対してなされるので、濃度
検出手段が所定の検出誤差範囲で濃度を検出しても、濃
度が濃くなったり薄くなったりせず迅速に目標濃度に収
束する。
を目標値に設定する場合には、より効率良く目標濃度に
収束できる。また、濃度調整手段が薬液供給手段と動作
手段とを有する場合には、検出濃度が薄いときに目標値
に対して迅速に濃度が制御され、目標濃度に対しての収
束がより迅速になる。
作手段とを有する場合には、検出濃度が濃いときに目標
値に対して迅速に濃度が制御され、目標濃度に対しての
収束がより迅速になる。また、循環手段をさらに備え、
濃度検出手段は循環している薬液の濃度を検出する場合
には、薬液が常に循環しているので、薬液濃度をより精
度良く検出できる。
液を調合するとき、目標濃度の検出誤差範囲の下限の濃
度になるように薬液供給手段及び希釈液供給手段を動作
させる場合には、薄めに濃度を設定した状態で濃度調整
を行うので、濃度が濃くなることがなくなり、迅速に所
望の目標濃度に収束する。
ロック構成図。
Claims (6)
- 【請求項1】薬液が低濃度の目標濃度になるように調整
する低濃度調整装置であって、 前記薬液を貯溜するための貯溜槽と、 前記目標濃度に対して、前記貯溜槽に貯溜された前記薬
液の濃度を所定の検出誤差範囲で断続的に検出する濃度
検出手段と、 前記濃度検出手段が前記目標濃度と異なる濃度を検出し
たとき、前記目標濃度と前記検出濃度との間の濃度を新
たな目標値に設定する目標値設定手段と、 前記貯溜槽内の薬液の濃度が前記目標値設定手段で設定
された目標値となるように前記薬液を濃度調整する濃度
調整手段と、を備えた低濃度調整装置。 - 【請求項2】前記目標値設定手段は、前記検出濃度と前
記目標濃度との間の半分の濃度を前記目標値に設定す
る、請求項1に記載の低濃度調整装置。 - 【請求項3】前記濃度調整手段は、前記目標濃度より濃
い濃度の薬液を前記貯溜槽に供給する薬液供給手段と、
前記検出濃度が前記目標濃度より薄いとき、前記目標値
設定手段で設定された前記目標値に応じて前記薬液供給
手段を動作させる動作手段とを有する、請求項1又は2
に記載の低濃度調整装置。 - 【請求項4】前記濃度調整手段は、前記薬液を希釈する
ための希釈液を前記貯溜槽に供給する希釈液供給手段
と、前記検出濃度が前記目標濃度より濃いとき、前記目
標値設定手段で設定された前記目標値に応じて前記希釈
液供給手段を動作させる動作手段とを有する、請求項1
から3のいずれかに記載の低濃度調整装置。 - 【請求項5】前記貯留槽から薬液を排出して前記貯留槽
に戻す循環手段をさらに備え、前記濃度検出手段は循環
している薬液の濃度を検出する、請求項1から4のいず
れかに記載の低濃度調整装置。 - 【請求項6】前記動作手段は、前記貯溜槽内で新たに薬
液を調合するとき、前記目標濃度に対する検出誤差範囲
の下限の濃度となるように前記薬液供給手段及び前記希
釈液供給手段を動作させる、請求項1から5のいずれか
に記載の低濃度調整装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6168303A JP3040313B2 (ja) | 1994-07-20 | 1994-07-20 | 低濃度調整装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6168303A JP3040313B2 (ja) | 1994-07-20 | 1994-07-20 | 低濃度調整装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0835079A true JPH0835079A (ja) | 1996-02-06 |
JP3040313B2 JP3040313B2 (ja) | 2000-05-15 |
Family
ID=15865525
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6168303A Expired - Fee Related JP3040313B2 (ja) | 1994-07-20 | 1994-07-20 | 低濃度調整装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3040313B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110986483A (zh) * | 2019-12-18 | 2020-04-10 | 陈翠平 | 一种机械式空气分离提纯设备 |
US10832924B2 (en) | 2016-09-23 | 2020-11-10 | SCREEN Holdings Co., Ltd. | Substrate treating device and substrate treating method |
-
1994
- 1994-07-20 JP JP6168303A patent/JP3040313B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10832924B2 (en) | 2016-09-23 | 2020-11-10 | SCREEN Holdings Co., Ltd. | Substrate treating device and substrate treating method |
CN110986483A (zh) * | 2019-12-18 | 2020-04-10 | 陈翠平 | 一种机械式空气分离提纯设备 |
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---|---|
JP3040313B2 (ja) | 2000-05-15 |
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