JP5313647B2 - 基板処理装置及び基板処理方法 - Google Patents
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Description
すなわち、基板を処理していない最初の処理液と、ある一定の枚数の基板を処理した後の処理液とを共通のライフカウントというパラメータで管理していること、及び初期の処理レートが部分液交換後の処理レートよりも高い関係上、最初の処理液を部分液交換する際には、処理レートが目標とする一定の範囲に低下する前に行われる場合がある。したがって、その後に部分液交換を行っても、処理レートが目標範囲に入らないままで処理が継続されることになり、基板に対して不適切な処理が行われることがあるという問題がある。
すなわち、請求項1に記載の発明は、基板を処理液で処理する基板処理装置において、処理液を貯留し、基板に対して所定の処理を行う処理槽と、前記処理槽に処理液を供給する処理液供給手段と、前記処理槽から処理液を排出する処理液排出手段と、前記処理槽に前記処理液供給手段から新たな処理液を供給する全液交換を行ってから、その処理液で基板を処理することが許容される処理回数を規定した初回ライフカウントを予め記憶する第1記憶手段と、前記初回ライフカウントに達した後、前記処理槽の処理液の一部にあたる所定量を前記処理液排出手段で排出するとともに、前記処理液供給手段から前記所定量に相当する新たな処理液を供給する部分液交換を行ってから、その処理液で基板を処理することが許容される処理回数を規定した通常ライフカウントを予め記憶する第2記憶手段と、全液交換後は前記初回ライフカウントに達するまで基板を処理させ、前記初回ライフカウントに達して部分液交換を行った後は、前記通常ライフカウントに達するごとに部分液交換を行なわせつつ基板を処理させる制御手段と、を備え、前記初回ライフカウントは、前記通常ライフカウントよりも大きく設定され、前記初回ライフカウントは、目標とする処理レートの範囲に入る基板の処理回数であることを特徴とするものである。
図1は、実施例に係る基板処理装置の概略構成図である。なお、以下の説明においては、処理液として燐酸(H3PO4)及び純水を含む燐酸溶液を例に採って説明する。
制御部51は、各部を操作して全液交換を行わせる。但し、処理槽1は空であるので、開閉弁21,23を開放させるとともに開閉弁39,43を閉止させ、制御弁29を開放させて供給部31から内槽3に燐酸を供給させる。そしてポンプ15を作動させるとともに、インラインヒータ17を作動させて燐酸溶液を循環させつつ所要の処理条件(例えば、180℃の温度)の燐酸溶液を生成させる。また、制御弁49を開放させて、純水供給部47から純水を希釈液として適宜に供給させて、燐酸濃度を調整して初期の処理条件を整える。さらに、カウンタ57をリセットして、処理回数の積算値をゼロにする。この状態は、図2の時点t1にあたる。
カウンタ57の処理回数をインクリメントさせる。そして、処理回数が初期ライフカウントILCと一致しているか否かにより処理を分岐する。具体的には、それらが一致している場合には、ステップS6に移行して部分液交換を行う。なお、一致の状態は、図2の時点t2にあたる。一方、不一致である場合には、ステップS4に移行する。ここでは、まず不一致であったとして説明する。なお、不一致の状態は、図2の時点t1から時点t2の間にあたる。
保持アーム7に基板Wを保持させ、保持アーム7を処理位置にまで下降させ、所定時間の処理を行わせる。処理を終えたら、保持アーム7を上昇させて基板Wを搬出させる。そして、上述したステップS2に戻って処理を繰り返し行わせる。
処理回数と初期ライフカウントILCとが一致した場合、制御部51は、各部を操作して部分液交換を行わせる。まず、インラインヒータ17を停止させる。そして、開閉弁39,23を閉止させるとともに、開閉弁43を開放させ、さらに開閉弁21を開放させる。そして、ポンプ15を所定時間だけ動作させて、所定量の燐酸溶液を処理槽1から排出させる。次に、開放弁43を閉止させるとともに、開閉弁23を開放させる。そして、制御弁29を開放させて、排出させた量に相当する量の燐酸を供給部27から内槽3に供給させるとともに、ポンプ15及びインラインヒータ17を作動させて、部分液交換後の燐酸溶液を処理条件に調整させる。さらに、カウンタ57をリセットして、処理回数の積算値をゼロにする。なお、この状態は、図2の時点t2にあたる。
カウンタ57の処理回数をインクリメントさせる。そして、処理回数が通常ライフカウントNLCと一致しているか否かにより処理を分岐する。具体的には、それらが一致している場合には、ステップS6に戻って部分液交換を行う。なお、一致の状態は、図2の時点t3にあたる。一方、不一致である場合には、ステップS9に移行する。ここでは、まず不一致であったとして説明する。なお、不一致の状態は、図2の時点t2から時点t3の間にあたる。
保持アーム7に基板Wを保持させ、保持アーム7を処理位置にまで下降させ、所定時間の処理を行わせる。処理を終えたら、保持アーム7を上昇させて基板Wを搬出させる。
生成された処理液が総ライフカウント(初回・通常ライフカウントを合わせた最大使用可能な処理回数)を越えたか否かに応じて処理を分岐する。なお、総ライフカウントは、図示しない総ライフカウンタにより計数されている。総ライフカウント未満である場合には、ステップS7に戻って次の処理を行わせ、総ライフカウント以上の場合には、上述した一連の処理を終える。
1 … 処理槽
3 … 内槽
5 … 外槽
7 … 保持アーム
25 … 処理液供給源
31 … 供給部
47 … 純水供給部
51 … 制御部
53 … 第1メモリ
55 … 第2メモリ
57 … カウンタ
59 … 設定部
ILC … 初回ライフカウント
NLC … 通常ライフカウント
Claims (3)
- 基板を処理液で処理する基板処理装置において、
処理液を貯留し、基板に対して所定の処理を行う処理槽と、
前記処理槽に処理液を供給する処理液供給手段と、
前記処理槽から処理液を排出する処理液排出手段と、
前記処理槽に前記処理液供給手段から新たな処理液を供給する全液交換を行ってから、その処理液で基板を処理することが許容される処理回数を規定した初回ライフカウントを予め記憶する第1記憶手段と、
前記初回ライフカウントに達した後、前記処理槽の処理液の一部にあたる所定量を前記処理液排出手段で排出するとともに、前記処理液供給手段から前記所定量に相当する新たな処理液を供給する部分液交換を行ってから、その処理液で基板を処理することが許容される処理回数を規定した通常ライフカウントを予め記憶する第2記憶手段と、
全液交換後は前記初回ライフカウントに達するまで基板を処理させ、前記初回ライフカウントに達して部分液交換を行った後は、前記通常ライフカウントに達するごとに部分液交換を行なわせつつ基板を処理させる制御手段と、
を備え、
前記初回ライフカウントは、前記通常ライフカウントよりも大きく設定され、
前記初回ライフカウントは、目標とする処理レートの範囲に入る基板の処理回数であることを特徴とする基板処理装置。 - 請求項1に記載の基板処理装置において、
前記第1記憶手段の初回ライフカウントと、前記第2記憶手段の通常ライフカウントとを設定するための設定手段をさらに備えていることを特徴とする基板処理装置。 - 基板を処理液で処理する基板処理方法において、
処理槽に新たな処理液を供給する全液交換を行う過程と、
その処理液で基板を処理することが許容される処理回数を規定した初回ライフカウントに達するまで基板を処理する過程と、
前記初回ライフカウントに達した後、処理槽の処理液の一部にあたる所定量を排出するとともに、前記所定量に相当する新たな処理液を供給する部分液交換を行う過程と、
その処理液で基板を処理することが許容される処理回数を規定した通常ライフカウントに達するまで基板を繰り返し処理する過程と、
を備え、
前記初回ライフカウントは、前記通常ライフカウントよりも大きく設定され、
前記初回ライフカウントは、目標とする処理レートの範囲に入る基板の処理回数であることを特徴とする基板処理方法。
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