JPH08338852A - テストプローブ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 コンタクトピンの先端が変形することによる
接触不良を防止した、長寿命で高信頼性のテストプロー
ブを提供しようとするものである。 【構成】 細孔２１を有して先端が尖った軸芯２２、そ
の軸芯２２に半田付け等によって接続された引出線１
２、付勢手段たるスプリング１３、軸芯２２を軸支する
スリーブ１４、更に細孔２１には潤滑手段たる接点オイ
ルや接点グリス等の潤滑剤２３が充填され、軸芯２２の
先端部には恰もボールペンのボールの如き球体２４が回
転自在に装着され構成されている。本発明のテストプロ
ーブ２０は、この球体２４を介して導体ランド１０に接
触している。 【効果】 テストプローブの接触回数が増加してもテス
トプローブの先端が擦り減ることがなく、調整・検査の
信頼性を向上することができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は例えば電子部品を実装し
たプリント配線基板を調整・検査する際に用いられるテ
ストプローブ（測定用電極）に関し、更に詳しくは、先
端形状を改良して長寿命化を図ったテストプローブに関
するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、電子機器の小型化と高性能化に伴
い、これらの電子機器に用いられるプリント配線基板の
実装密度は高密度となり、実装部品もチップ状電子部品
を中心に小型化が進んでいる。それに伴い、電子部品を
実装したプリント配線基板の調整・検査も困難な状況と
なりつつある。このような電子部品を実装したプリント
配線集合基板を調整・検査する場合、テストプローブの
配設された調整・検査装置を用意して、この調整・検査
装置に電子部品を実装したプリント配線集合基板を載置
し、テストプローブによってプリント配線集合基板等を
調整・検査する方法が知られている。

【０００３】一方、例えばテレビジョン受像機等の電子
機器においても製造時の組み立てを終了した時点におい
て、調整・検査を行う必要がある。この電子機器の調整
・検査においても、同様にテストプローブが用いられて
いる。本発明はこの調整・検査装置に用いられるテスト
プローブに係わるものであり、本発明は前述のプリント
配線集合基板や半導体装置の検査装置等にも適用可能な
ものであるが、以下の説明では調整・検査対象の一例と
してテレビジョン受像機を採り挙げて説明を行う。

【０００４】従来技術の調整・検査装置について図２を
参照して説明する。図２は従来技術の調整・検査装置の
一例を示す構成図である。

【０００５】図２における従来技術の調整・検査装置の
構成は、パーソナルコンピュータを中心とした調整・検
査装置１、映像やデータを表示するＣＲＴモニタ２、判
断結果や調整コマンドの入出力を行うコントローラ３、
調整・検査装置１にケーブル１ａを介して接続された電
極部４、電極部４が接続される接点部５、接点部５に配
設された接続コード５ａ、調整を行うべきテレビジョン
受像機６、そして調整を行うべきテレビジョン受像機６
を載置するパレット７等で構成される。なお、調整・検
査装置１および調整を行うべきテレビジョン受像機６間
の各種情報の伝達は I²CＢＵＳによって行われる。

【０００６】かかる構成の従来技術の調整・検査装置の
動作を説明する。従来技術の調整・検査装置１は、調整
を行うべきテレビジョン受像機６に必要なデータや調整
プログラムをケーブル１ａを介して電極部４に伝達す
る。この際、調整・検査工程固有のデータや調整プログ
ラムは、フロッピー・ディスクＦＤ(Floppy Disk) 等か
ら調整・検査装置１のパーソナルコンピュータにダウロ
ードして取り込まれる。ＣＲＴモニタ２には各種調整用
の伝達情報や所望の調整用映像が表示される。

【０００７】一方、調整を行うべきテレビジョン受像機
６はＸ方向に可動するパレット７上に載置されて各種調
整・検査工程を移動する。また、パレット７上には、接
点部５が備えられていて、工程毎の接続コード５ａの接
続を簡略化している。即ち、工程の先頭で、調整を行う
べきテレビジョン受像機６に接続コード５ａを接続すれ
ば、その後は接点部５と電極部４を介して信号の送受を
行うようにすることにより、工程毎の接続コード５ａの
接続を省略することができる。なお、接続コード５ａは
一例としてビデオ信号、音声信号、および制御信号であ
る。

【０００８】作業者が調整を行うべきテレビジョン受像
機６の調整・検査を行う場合、作業者はコントローラ３
等を操作して制御情報を入力することにより、各種調整
を実行する。作業者から与えられた制御情報は調整・検
査装置１を経て、ケーブル１ａの I²CＢＵＳインターフ
ェイスによって電極部４に入力される。電極部４に入力
された制御情報は、電極部４に設置された本発明に関連
するテストプローブによって接点部５に接続され、接点
部５に配設された接続コード５ａを介して調整を行うべ
きテレビジョン受像機６に入力される。そして、各種調
整・検査事項が実行される。

【０００９】更に、従来技術の調整・検査装置に用いら
れるテストプローブの詳細について図３（ａ）〜（ｅ）
を参照して説明する。図３（ａ）は電極部に設置された
従来技術のテストプローブおよび接点部を示す斜視図、
（ｂ）はテストプローブの接触前を示す拡大断面図、
（ｃ）はテストプローブの接触状態を示す拡大断面図、
（ｄ）はテストプローブの位置擦れ状態を示す拡大断面
図、（ｅ）はテストプローブの変形例を示す拡大断面図
である。

【００１０】先ず、同図（ａ）において、電極部４には
固定板８に従来技術のテストプローブ９が連設されて構
成される。また、前述のパレットに取着された接点部５
には、従来技術のテストプローブ９の接点ポイントとな
る導体ランド１０が形成され、導体ランド１０から配線
パターン１０ａが所定部分まで延在している。なお、接
点部５はパレットに取着されているため、Ｘ方向に可動
している。そのため、接点部５の導体ランド１０には、
従来技術のテストプローブ９が接触したキズ１０ｂが刻
設される場合が多い。

【００１１】同図（ｂ）において、従来技術のテストプ
ローブ９は、コンタクトピン１１にに半田等によって接
続された引出線１２や、コンタクトピン１１に連設され
たスプリング１３、およびコンタクトピン１１を軸支す
るスリーブ１４で構成される。そして、このコンタクト
ピン１１を接点部に形成された導体ランド１０に接触す
るようになされている。

【００１２】同図（ｃ）の従来技術のテストプローブの
接触状態図において、従来技術のテストプローブ９は図
示の如く、接点部に形成された導体ランド１０に接触
し、従来技術のテストプローブ９を介して導体ランド１
０にビデオ信号、音声信号、および制御信号等が送受さ
れる。

【００１３】同図（ｄ）において、前述の如く導体ラン
ド１０はパレットに取着されていて一定方向に可動して
いるため、従来技術のテストプローブ９のコンタクトピ
ン１１が導体ランド１０に接触したまま、導体ランド１
０が可動すると、コンタクトピン１１は所定方向の力を
受容して、先端部が変形する。

【００１４】同図（ｅ）のテストプローブの変形例を示
す図において、導体ランド１０の変化が僅かであればコ
ンタクトピン１１の変形は元に復帰するが、導体ランド
１０が大きく変化したり、変化が蓄積された場合には従
来技術のテストプローブ９が導体ランド１０より離れた
ときでもコンタクトピン１１の先端が変形したままの状
態となる。

【００１５】

【発明が解決しようとする課題】以上説明した従来技術
のテストプローブにおいては、コンタクトピンの接触回
数が増加するとコンタクトピンの先端が擦り減って丸く
なるとともに、導体ランドは、図３（ａ）に示すよう
に、その接触面が削れてキズとなる。そのため、テスト
プローブの接触抵抗が大きくなり、調整・検査の信頼性
が損なわれるという不具合点があった。

【００１６】更に、コンタクトピンが導体ランドに接触
中に、導体ランドの位置が外部振動等でずれた場合に
は、コンタクトピンに変形力が加わり変形し、接触圧が
減少して接触不良となる。そのため、テストプローブの
稼働時間が減少するという不具合点があった。

【００１７】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、コンタクトピンの先端が擦り減ることによるストプ
ローブの接触不良や、コンタクトピンの長寿命化を図っ
たテストプローブを提供しようとするものである。

【００１８】

【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
めに本発明のテストプローブにおいては、調整・検査装
置に用いられるテストプローブであり、細孔を有して先
端が尖った導電体からなる軸芯と、軸芯に接続された引
出線と、軸芯に緩挿されて軸芯を付勢する付勢手段と、
軸芯を軸支するスリーブで構成される。更に、その軸芯
の細孔には潤滑手段が充填され、軸芯の先端にはボール
ペンの球体の如き回転自在で導電体からなる回転手段と
を備えて前記課題を解決した。

【００１９】また、軸芯の先端ではない他の一端には、
テストプローブが横方向や下方向からでも使用できるよ
うに、軸芯に充填された潤滑手段を加圧する加圧手段を
備えることとした。

【００２０】

【作用】以上のような構成のテストプローブにおいて、
テストプローブの軸芯の先端部には、回転自在なボール
ペンのボールのような回転手段を備えているため、コン
タクトピンの接触回数が増加しても、コンタクトピンの
先端が擦り減ることがない。また、テストプローブの先
端がボールペン形状であるため導体ランドにもキズが付
かない。そのため、調整・検査の信頼性を向上すること
ができる。

【００２１】更に、軸芯の先端以外の一端に加圧手段を
備えれば、テストプローブを横方向や下方向からでも使
用できるようになる。

【００２２】

【実施例】以下、本発明のテストプローブの実施例を図
１を参照して説明する。図１は本発明のテストプローブ
の一例を示す拡大断面図である。なお、従来技術で記載
した事項と共通する部分には同一の参照符号を付し、そ
れらの図示や説明を一部省略する。

【００２３】初めに、図１を参照して本発明のテストプ
ローブの構成を説明する。図１において、符号２０は本
発明のテストプローブを指す。本発明のテストプローブ
２０は、細孔２１を有して先端が尖った金属材料等から
なる軸芯２２と、その軸芯２２に半田付け等によって接
続された引出線１２、付勢手段たるスプリング１３、軸
芯２２を軸支するスリーブ１４等を備えて構成される。

【００２４】更に、軸芯の細孔２１には潤滑手段たる接
点オイルや接点グリス等の潤滑剤２３が充填されてい
て、軸芯２２の尖った先端部には、恰もボールペンのボ
ールの如き金属材料等からなる球体２４が回転自在に装
着されている。本発明のテストプローブ２０は、この球
体２４を介して前述の導体ランド１０に接触するように
なされている。

【００２５】次に、本発明のテストプローブの動作を説
明する。本発明の導電体たる金属材料で形成されたテス
トプローブ２０の軸芯２２は、スリーブ１４を介して固
定板８に取着されている。軸芯２２の細孔２１には接点
オイル等の潤滑剤２３が充填してあり、潤滑剤２３によ
って軸芯２２の先端部に装着された球体２４の動作を円
滑にする。球体２４は同じく導電体たる金属材料で形成
されていて、球体２４や同じく金属製の軸芯２２と接触
が図られテストプローブとして機能する。即ち、例えば
導体ランド１０の信号を検出しようとする場合、球体２
４から導電性の潤滑剤２３を介して軸芯２２に伝達され
る。その後、軸芯２２接続された引出線１２から所定の
信号を検出するようになされている。

【００２６】付勢手段たるスプリング１３は、一例とし
て軸芯２２やスリーブ１４に固定されていて、軸芯２２
を導体ランド１０に押しつけるように付勢している。そ
して、スプリング１３によって軸芯２２を所定の強さで
導体ランド１０に押しつけることにより、各種信号の送
受がなされる。

【００２７】このように、本発明のテストプローブ２０
においては、従来技術のコンタクトピンに代えて、恰も
ボールペンのボールの如き球体２４によって導体ランド
１０に接触するようにしたため、導体ランド１０を傷つ
けることなく、長時間に渡って良好な接触状態を保つこ
とができる。また、本発明のテストプローブ２０は磨耗
しないため、テストプローブの長寿命化を図ることがで
きる。

【００２８】本発明は前記実施例に限定されず、種々の
実施形態を採ることができる。例えば、本実施例では上
方向から接触するテストプローブについて例示したが、
軸芯に充填された潤滑剤を加圧する加圧手段を備えるこ
とにより、横方向や下方向から接触するテストプローブ
にも適用可能である。また、本発明は本実施例で例示し
た調整・検査装置に限らず、プリント配線基板のテスト
プローブや半導体装置の測定に用いられる測定用電極等
にも勿論適用可能である。更に、本発明の主旨を逸脱し
ない範囲で適宜応用が可能であることは言うまでもな
い。

【００２９】

【発明の効果】以上説明したように本発明のテストプロ
ーブによれば、軸芯の先端部に回転自在な回転手段を備
え、この回転手段を介して接点部に接触するようにし
た。そのため、テストプローブの接触回数が増加しても
テストプローブの先端が擦り減ることがなく、調整・検
査の信頼性を向上することができる。

【００３０】また、本発明のテストプローブは回転手段
を介して接点部に接触しているため、接触部が外力によ
って可動した場合にも、テストプローブが変形すること
がなく、テストプローブの長寿命化を図ることが可能と
なる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明のテストプローブの一例を示す拡大断
面図である。

【図２】 従来技術の調整・検査装置の一例を示す構成
図である。

【図３】 （ａ）は電極部に設置された従来技術のテス
トプローブおよび接点部を示す斜視図であり、（ｂ）は
テストプローブの接触前を示す拡大断面図であり、
（ｃ）はテストプローブの接触状態を示す拡大断面図で
あり、（ｄ）はテストプローブの位置擦れ状態を示す拡
大断面図であり、（ｅ）はテストプローブの変形例を示
す拡大断面図である。

【符号の説明】

１ 調整・検査装置 ２ ＣＲＴモニタ ３ コントローラ ４ 電極部 ５ 接点部 ６ 調整を行うべきテレビジョン受像機 ７ パレット ８ 固定板 ９ 従来技術のテストプローブ １０ 導体ランド １１ コンタクトピン １２ 引出線 １３ スプリング １４ スリーブ ２０ 本発明のテストプローブ ２１ 細孔 ２２ 軸芯 ２３ 潤滑剤 ２４ 球体

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 調整・検査装置に用いられるテストプロ
   ーブであって、 細孔を有し、先端が鋭端な導電体からなる軸芯と、 該軸芯に接続された引出線と、 該軸芯に緩挿され、該軸芯を付勢する付勢手段と、 該軸芯を軸支するスリーブと、 該軸芯の前記細孔には潤滑手段が充填されるとともに、
   該軸芯の前記先端には回転自在な導電体からなる回転手
   段と、を具備したことを特徴とするテストプローブ。
2. 【請求項２】 該軸芯の他の一端には、該軸芯に充填さ
   れた前記潤滑手段を加圧する加圧手段を備えていること
   を特徴とする請求項１に記載のテストプローブ。