JPH08304863A - 光デバイスの製造方法 - Google Patents

光デバイスの製造方法

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JPH08304863A
JPH08304863A JP10531395A JP10531395A JPH08304863A JP H08304863 A JPH08304863 A JP H08304863A JP 10531395 A JP10531395 A JP 10531395A JP 10531395 A JP10531395 A JP 10531395A JP H08304863 A JPH08304863 A JP H08304863A
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JP
Japan
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substrate
main surface
conductive film
film
optical device
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JP10531395A
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English (en)
Inventor
Koji Takemura
浩二 竹村
Hirohiko Katsuta
洋彦 勝田
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Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 特にプロセス上におけるハンドリングの容易
な比較的厚い基板においても、良好な周期微細分極反転
構造を均一にかつ再現性良く形成することが可能な光デ
バイスの製造方法を提供すること。 【構成】 単一分域化された強誘電体から成る基板1の
一主面に、帯状の絶縁膜3を所定間隔を空けて複数配列
するとともに、絶縁膜3を含む基板1の一主面に導電膜
4を被着させ、次に基板1の他主面側の表層を除去し、
しかる後、基板1の他主面に共通電極7を配置するとと
もに、共通電極7と導電膜4との間に電界を印加し、基
板1に分極反転を生ぜしめることを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば高密度光記録装
置、レーザープリンタ、カラーレーザーディスプレイ等
に用いられる光第2高調波発生素子(以下、SHG素子
という)や光変調器などの光デバイスの製造方法に関
し、特に厚みの薄い基板に電圧印加法を施して歩留り良
く作製するのに好適な光デバイスの製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、青色発光半導体レーザーととも
に、光第2高調波発生(SHG)を用いたコヒーレント
な青色光源の研究が盛んに行われている。なかでも周期
分域反転構造を用いた疑似位相整合(以下、QPMとい
う)SHG素子は、高い変換効率が得られることから最
も注目されている。さらに、このQPM−SHG素子の
要素技術である周期分極反転構造の作製方法として、T
i拡散法、Li2 O外拡散法、SiO2 装荷熱処理法等
が提案されているが、強誘電体基板の両主面に所望の電
極を形成し、直流電圧またはパルス状の電圧を印加する
ことにより、局所的に基板の分極方向を反転させる直接
電界印加法は、室温で微細かつ深い分極反転構造が作製
できることから注目されている(例えば、M.Yamada et
al.;Appl.Phys.Lett.62(5) P.435-436等を参照)。
【0003】ここで、室温で電圧印加法により分極反転
を行う際に重要な問題は、基板の絶縁破壊を如何に回避
するかにある。そこで、基板を薄くすることにより絶縁
破壊を極力防止することが提案されている(山田他、電
子情報通信学会論文誌C−I,Vol.J77-C-I,No.5,P.206
-213、1994年)。すなわち、基板厚みを薄くすることに
より基板の絶縁破壊電界を高くし、一方、抗電界は基板
の厚さに依存せず約200kV/cmと一定であるので、
約200μm 以下の基板厚で直流電圧印加での破壊電界
が分極反転電界よりも大きくなり、直接電界印加により
分極反転が可能となるのである。
【0004】次に、図2に基づき従来のSHG素子の製
造方法について説明する。図2(a)に示すように、ま
ず単分域化した強誘電性の基板1、例えばZカットのニ
オブ酸リチウム単結晶の基板を用意し、図2(b)に示
すように、その一方の主面、例えば+Z面に第1の金属
膜をリフトオフ法もしくはエッチング法により所望の櫛
状または梯子状の形状にパターニングする。なお、この
金属膜の材料としては高価な白金等の耐熱性の貴金属を
使用する必要はなく、アルミニウム等の安価な材料で充
分である。そして、図2(c)に示すように、基板の他
方の主面(例えば−Z主面)に一様に第2の金属膜を被
着形成する。
【0005】このようにして基板1の両主面に電極用の
金属膜を被着形成した後に、図2(d)に示すように、
第1及び第2の金属膜の間に直流電圧またはパルス電圧
を印加し、所望の分極反転領域8を形成する。そして、
しかる後に図2(e)に示すように、エッチング法によ
りこれら第1及び第2の金属膜を除去し、図2(f)に
示すように、プロトン交換法等を用いて導波路2を形成
することによりSHG素子を完成させるのである。
【0006】なお、本出願人は大面積で安定した分極反
転領域を形成するための方法を既に提案している。この
方法は、第1の金属膜を基板に直接パターニングするの
ではなく、SiO2 などの絶縁膜の分極反転用パターン
を形成した後に、基板の全面に金属膜を形成する工程を
除き、概ね上記図2と同様な方法でSHG素子等の光デ
バイスを作製する方法である。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな製造方法では、基板厚みを薄くすると、熱処理等が
伴う各プロセス工程において、基板の破損する確率が高
くなり、製品歩留りが極端に悪化するといった問題が生
じる。
【0008】特に、本出願人らの研究の結果、基板厚み
が約300μm 以下になると顕著にその傾向が見られる
ようになることが判明した。
【0009】そこで、本発明は上記諸問題を克服し、特
にプロセス上におけるハンドリングの容易な比較的厚い
基板を用いて、製品歩留りが良くしかも絶縁破壊を極力
防止し得る優れた光デバイスの製造方法を提供すること
を目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成させるた
めに、本発明の光デバイスの製造方法は、単一分域化さ
れた強誘電体から成る基板の一主面に、帯状の絶縁膜を
所定間隔を空けて複数配列するとともに、該絶縁膜を含
む基板の一主面に導電膜を被着させ、次に前記基板の他
主面側の表層を除去し、しかる後、前記基板の他主面に
共通電極を配置するとともに、該共通電極と前記導電膜
との間に電界を印加し、前記基板に分極反転を生ぜしめ
ることを特徴とする。
【0011】また、前記導電膜上に導電性接着剤を介し
て導電板を載置し、該導電板と前記共通電極との間に電
界を印加することによって、前記基板に分極反転を生ぜ
しめるようにしたことを特徴とする。
【0012】また、前記絶縁膜はSiO2 またはSi3
4 から成り、かつ厚さが5000Å以下であることを
特徴とする。
【0013】さらに、前記基板の厚みを0.5〜1.0
mmとし、該基板の他の主面を基板厚み約300μm 以下
にまで薄くするとよい。
【0014】
【作用】請求項1の発明によれば、従来のような300
μm 以下の基板厚みの薄い強誘電体の基板を用いて長い
プロセスを行うことがないため、基板の取扱に際しての
作業性が向上するだけでなく、基板の破損等による歩留
りの低下を防止することができる。
【0015】
【実施例】以下、図面に基づき本発明に係る実施例につ
いて説明する。まず、図1(a)に示すように、非線形
強誘電体の基板、すなわち、ニオブ酸リチウム(LiN
bO3 )の0.5mm厚程度の基板1を用意する。次に、
図1(b)に示すように、基板1の+Z面上にタンタル
マスク等を用いてプロトン交換法により、所望形状のチ
ャンネル導波路2を形成する。
【0016】そして、図1(c)に示すように、安定な
絶縁膜3を最終的に形成した分極反転領域と略反転形状
にパターニングする。この絶縁膜3としてはSiO2
またはSi3 4 膜を、スパッタリング法で5000Å
以下に成膜し、しかる後にパターニングする。ここで、
絶縁膜3の膜厚は分極反転比に応じて適宜変更するもの
とする。また、パターニングはフォトリソグラフとフッ
酸系のバッファエッチャントを利用し、微細な周期電極
が材料に接する部分のパターン膜を除去する。この時の
除去パターンは、例えば約1.5μm 幅の梯子状や櫛形
状にするが、必ずしも連続体である必要はなく、リッジ
状でも構わない。なお、絶縁膜3の成膜はスパッタリン
グ法の代わりにCVD法等の周知の方法によって行うよ
うにしてもよい。
【0017】次に、図1(d)に示すように、パターニ
ングされた安定な絶縁膜3上に、低抵抗の第1の導電膜
4、すなわち、ここではアルミニウムを蒸着法により一
様に成膜する。なお、この第1の導電膜4は蒸着法以外
にスパッタリング法等の周知の成膜法により形成しても
よい。
【0018】このように形成された第1の導電膜4の上
に、図1(e)に示すように、平行度がでた0.5mm程
度のアルミ金属板の導電板6を導電性接着剤5を用いて
接着する。ここで、導電性接着剤としてはペーストタイ
プ,フィルムタイプ,スピンコートタイプ等が使用可能
であり、この実施例ではSTAYSTIK社製の高分子
系熱可塑性接着剤を使用した。
【0019】そして、図1(f)に示すように、基板1
の他方の主面を研磨し、基板1の厚みを300μm 以
下、すなわち100〜200μm 程度にまで加工する。
ここで、研磨は片面ラップ盤により行った。基板1の厚
みは貼り合わせ前の作業性と貼り合わせ後の研磨工程で
の作業コストや時間を考慮すると0.5〜1.0mmが適
当であると思われる。
【0020】次に、図1(g)に示すように、研磨した
基板の他方の主面にも第2の導電膜7を成膜させる。す
なわち、第1の導電膜4と同様にアルミニウムを成膜さ
せる。ここで、第1の導電膜4及び第2の導電膜7の厚
みは両方とも厚いほど抵抗が下がる。また、第1の導電
膜4の領域面積はそのまま微細分極反転構造の面積とな
るが、例えば8mm×10mm程度でも可能である。
【0021】そして、図1(h)に示すように、例えば
室温で第1の導電膜4が正、第2の導電膜7が負になる
ように、20kV/mm程度の電界を直流電圧源9によっ
て、直流もしくはパルス状の電圧を印加する。ここで、
電界の印加は好ましくは真空中あるいはシリコーンオイ
ル等の絶縁油中等で行う。すなわち、電極間に高電圧が
印加されても放電が生じないように真空中などの絶縁媒
体中で行うとよいのである。
【0022】その後、図1(i)に示すように、導電板
6をIPAに浸漬し超音波洗浄器にかけて剥離後、第1
の導電膜4及び第2の導電膜7を相応のエッチング液
(例えばアルミニウムであれば、H2 PO4 :HN
3 :CH3 COOH:H2 Oを16:1:2:1の割
合で混合したもの)で除去する。このようにして、微細
でかつ均一な周期分極反転構造を長さ約10mmに渡って
形成することができた。
【0023】なお、図1(j)に示すように、必要に応
じて絶縁膜3をバッファフッ酸にて除去してもよい(た
だし、この場合は絶縁膜3がSiO2 の場合)。
【0024】上記実施例において、図1(a)〜(h)
はウエハ単位で行い、ダイシング等により所望のチップ
サイズにした後に、図1(i),(j)において、導電
板6、第1の導電膜4、第2の導電膜7、及び絶縁膜3
の剥離、エッチングを行えば、プロセスの全てにおいて
基板1の厚みが薄くなりすぎることはなく、基板1の取
扱が容易で製品歩留りが良好となる。
【0025】なお、上記実施例では基板としてニオブ酸
リチウムを用いた例について説明したが、タンタル酸リ
チウム(LiTaO3 )の単結晶基板を用いてもよい。
また、第1の導電膜を基板とは別体に用意し、第1の導
電膜に相当する電極体にストライプ状に絶縁膜を形成し
てもよい。また、分極反転後に電気モーメントをバラバ
ラにする可能性の無い導波路形成(イオン交換法やキュ
リー点以下の温度での金属熱拡散)を行い、電界印加に
より周期分極反転を行わせた後に導波路作製するように
してもよい。また、第2の導電膜はアースとして使用で
きエッチング等で除去してもしなくともよい。この場合
には−Z面に分極反転構造を作製するようにすると好適
に分極反転構造が得られる。
【0026】
【発明の効果】本発明の光デバイスの製造方法によれ
ば、容易に大面積の分極反転を安定に行えるとともに、
基板の厚みが薄くなっても、効率よくかつ楽に作業を行
うことができ、製品歩留りの低下を極力抑えることがで
きる。
【0027】また、周期電極を共通電極のごとく帯状の
絶縁膜上に形成すれば、従来のような複雑な電極の微細
パターニングを不要とすることができる。
【0028】さらに、周期電極,絶縁膜,共通電極を基
板とは別体に形成して、電極間に基板を挟むようにすれ
ば、電極や絶縁膜等の剥離工程により素子を損傷させる
ことがなくなる上、連続的大量に光デバイスを製造する
ことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)〜(j)はそれぞれ本発明に係る一実施
例を説明する概略断面図である。
【図2】(a)〜(f)はそれぞれ従来例を説明する概
略断面図である。
【符号の説明】
1 ・・・ 基板 2 ・・・ 光導波路 3 ・・・ 絶縁膜 4 ・・・ 第1の導電膜 5 ・・・ 導電性接着剤 6 ・・・ 導電板 7 ・・・ 第2の導電膜 9 ・・・ 直流電圧源

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 単一分域化された強誘電体から成る基板
    の一主面に、帯状の絶縁膜を所定間隔を空けて複数配列
    するとともに、該絶縁膜を含む基板の一主面に導電膜を
    被着させ、次に前記基板の他主面側の表層を除去し、し
    かる後、前記基板の他主面に共通電極を配置するととも
    に、該共通電極と前記導電膜との間に電界を印加し、前
    記基板に分極反転を生ぜしめることを特徴とする光デバ
    イスの製造方法。
  2. 【請求項2】 前記導電膜上に導電性接着剤を介して導
    電板を載置し、該導電板と前記共通電極との間に電界を
    印加することによって、前記基板に分極反転を生ぜしめ
    るようにしたことを特徴とする請求項1に記載の光デバ
    イスの製造方法。
  3. 【請求項3】 前記絶縁膜はSiO2 またはSi3 4
    から成り、かつ厚さが5000Å以下であることを特徴
    とする請求項1乃至2に記載の光デバイスの製造方法。
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