JPH08296B2 - パルスア−ク溶接機 - Google Patents

パルスア−ク溶接機

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JPH08296B2
JPH08296B2 JP12420587A JP12420587A JPH08296B2 JP H08296 B2 JPH08296 B2 JP H08296B2 JP 12420587 A JP12420587 A JP 12420587A JP 12420587 A JP12420587 A JP 12420587A JP H08296 B2 JPH08296 B2 JP H08296B2
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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は溶接用ワイヤと被溶接物である母材(以下、
単に「ワイヤ」、「母材」という)との間にパルス電流
とベース電流とを交互に供給して溶接をおこなうパルス
アーク溶接機に関するものである。
従来の技術 パルスアーク溶接に関する従来の技術は、ワイヤが母
材に接触短絡ているか非接触でアーク発生しているかの
溶接部の状態に関係なく、溶接機の内部で作成したタイ
ミングによりパルス電流印加しておこなっていた。
発明が解決しようとする問題点 従来のパルスアーク溶接機は前述の如く、溶接部の状
態に関係なく、溶接機の内部で作成したタイミングによ
りパルス電流を印加するために、平均溶接電圧値を低く
設定した時、すなわち、ワイヤ先端が母材に非接触でワ
イヤ先端の溶融塊をすべてスプレー状にして母材に移行
する(スプレー移行)のではなく、ワイヤ先端が母材に
接触してワイヤ先端の溶融塊を接触短絡電流によるピン
チ力や溶融金属の表面張力により母材に移行する(短絡
移行)確率が高まった時、短絡移行によるスパッタ発生
が多くなってくる。この平均溶接電圧値を低く設定する
のは溶接速度が速くなり、アンダーカットなどの溶接欠
陥を防止するためにおこなわれるが、同時に多大のスパ
ッタを発生させ、低スパッタなパルスアーク溶接の長所
を損う結果となる。特に溶接部の状態に関係なくパルス
電流印加するめにスパッタ発生は一層、顕著なものとな
る。このことを第6図を用いて説明する。
第6図はいずれも短絡移行混じりの平均溶接電圧値を
低く設定した時の従来のパルスアーク溶接機の溶接電流
波形の時間推移と溶接部の溶滴移行状態の時間推移とを
対応させて示している。
同図において9は溶接用ワイヤ、10は母材、91は溶接
アーク、92はスパッタを示している。第6図(a)はワ
イヤが母材に接触短絡したまま次のパルス電流印加をし
た場合で、溶融金属はパルス電流の強力なピンチ力によ
り時刻t6においてスパッタ92の飛散を伴って短絡解除さ
れる。第6図(b)は次のパルス電流印加の直前の時刻
t5において短絡解除した場合で、ワイヤ先端の溶融部形
状や移行した溶融金属の形状が針状となって整う前に次
のパルス電流印加がおこなわれるのでパルス電流により
時刻t6において多大なスパッタ92が発生する。
本発明は前記、従来のパルスアーク溶接機の問題点を
解決するためにおこなったもので、高速溶接時のように
平均溶接電圧を低く設定して短絡移行混じりの溶接とな
ってもスパッタ発生の少いパルスアーク溶接機を実現す
ることを目的とする。
問題点を解決するための手段 上記問題点を解決するために本発明は、溶接用ワイヤ
が被溶接物に接触短絡している時はHレベル、非接触で
アーク発生中はLレベルと状態を変えてアーク・短絡判
定信号を出力するアーク・短絡判定回路部と、一定の時
間周期でHレベルとLレベルの状態をくり返す基準クロ
ック信号を出力する基準クロック発生回路部と、クロッ
ク入力端子から入力される信号の状態変化の回数を計数
し、その計数値が所定の第1の時限に到達した時に一定
の期間だけ他の期間と状態を変えて第1時限信号を出力
することをくり返す第1タイマ回路部と、前記基準クロ
ック信号と前記第1時限信号とを入力とし、前記第1の
時限を計数完了した時を時間的起点として前記基準クロ
ック信号の状態変化の回数により前記第1の時限よりも
小なる所定の第2の時限を計数開始し、第2の時限を計
数している期間とその他の期間とで状態を変えて第2時
限信号を出力する第2タイマ回路部と、前記基準クロッ
ク信号と前記第2時限信号とを入力とし、前記第2の時
限を計数完了した時を時間的起点として前記基準クロッ
ク信号の状態変化の回数により所定の第3の時限を計数
開始し、第3の時限を計数している間はHレベル、その
他の期間はLレベルと状態を変えて第3時限信号を出力
する第3タイマ回路部とで構成され、前記第1タイマ回
路部のクロック入力端子には、前記アーク・短絡判定信
号と前記第3時限信号との論理積したものに前記基準ク
ロック信号を論理和したものを接続すると共に、前記第
1時限信号をパルス電流印加出力の起点信号として溶接
出力制御素子を制御する出力制御回路部に接続するもの
である。
作 用 上記構成により、強固なワイヤ接触短絡が発生しても
所定の時間遅れをもって次のパルス電流印加が行なわれ
る。そしてこの遅れ時間を適正値に選ぶことにより円滑
な溶接が継続される。
実施例 第1図に本発明による一構成例を示す。
同図において、1は溶接機入力端子、2は溶接用主変
圧器部、3は整流,平滑部、4は溶接出力制御素子、5
はリアクトル、6は分流器、7は溶接出力端子でIaはそ
の出力電流、Vaはその出力電圧を示す。8は通電用コン
タクトチップ、9は溶接用ワイヤ、10は母材、11は出力
制御回路部、12はアーク・短絡判定回路部でVASはその
出力信号、13は基準クロック発生回路部でVCKはその出
力信号、14は第1タイマ回路部でVt1はその出力信号、1
5は第2タイマ回路部でVt2はその出力信号、16は第3タ
イマ回路部でVt3はその出力信号、17は論理積素子でVP
はその出力信号、18は論理和素子でVQはその出力信号で
ある。
第1図の構成による作用を第2図の動作図により説明
する。
第2図は第1図の各出力,各信号の時間的推移を示す
動作図で、第2図の各信号の見出しの記号は第1図中の
同記号の信号に同じものである。
第2図の期間T0ではワイヤが母材に接触短絡しない場
合で、第1タイマ回路部14はクロック入力端子に入力さ
れる信号VQのパルス数を計数開始すると共に計数開始で
あることを示すVt1信号を出力する。第2タイマ回路部1
5はVt1信号を受けて基準クロック信号VCKにより第1の
時限tP1より小なる第2の時限tP2を計数開始し、時計数
中であることを示す第2時限信号Vt2を出力する。第3
タイマ路部16は前記Vt2信号が時計数完了であることを
受けて第3の時限tP3を基準クロック信号VCKにより時計
数開始し、時計数中であることを示す第3時限信号Vt3
を出力する。このT0期間においてワイヤの母材への接触
短絡が発生していないのでアーク・短絡判定回路部12の
出力信号VASはLレベルのままであり、これにより論理
積素子17の出力信号VPもLレベルのままとなる。従って
論理和素子18の出力信号VQは基準クロック信号VCKその
ものとなり、これが第1タイマ回路部14のクロック入力
端子に入力されるので第1タイマ回路部14の出力信号V
t1は所定のtP1時間後に第1時限信号Vt1を出力する。
第2図の期間T1は次のパルス電流印加のかなり以前で
あるtP2期間中のベース電流印加期間中にワイヤが母材
に接触短絡した場合で、この接触短絡は溶滴や溶融池の
振動や、短絡電流のピンチ力等によりtS0期間後、接触
短絡が解除され、スパッタ発生にはほとんど影響しない
場合を示す。この場合、ワイヤ接触短絡期間tS0はアー
ク・短絡判定信号VASがHレベルとなるが、第3時限信
号Vt3がLレベルであるので論理積素子17の出力信号VP
はLレベルとなり、この結果、第1タイマ回路部14のク
ロック入力端子への入力信号である論理和素子18の出力
信号VQは基準クロック信号VCKそのものとなる。従ってT
0期間と同様にT1期間のパルス電流周期はtP1のままとな
る。
第2図の期間T2は次のパルス電流印加の直前にワイヤ
が母材に接触短絡したものの、溶滴や溶融池の振動や短
絡電流のピンチ力等によりtS1期間後の次のパルス電流
印加の前に接触短絡が解除された場合である。これは第
6図(b)に示す状態である。この場合、従来例で述べ
たように接触短絡は解除したもののワイヤ先端の溶融部
形状や移行した溶融金属の形状が十分整っていないので
直ちにパルス電流印加すると溶融先端部がスパッタとな
って飛散する恐れがある。従って接触短絡の解除後、溶
融部先端形状が整ってからパルス電流印加する必要があ
る。この場合、アーク・短絡判定信号VASは接触短絡し
ているtS1期間Hレベルとなるが論理積素子17の出力信
号VPはtS1期間と第3時限信号Vt3がHレベルである期間
tP3との重複期間のtS11の間だけHレベルとなる。この
結果、論理和素子の出力VQはtS11期間はHレベルで他は
基準クロック信号VCKと同じ信号を出力する。これが第
1タイマ回路部14のクロック入力端子に入力されるので
第1の時限は基準のパルス周期tP1よりもtS11の長さだ
け延びたことになる。従ってワイヤ接触短絡の解除後、
溶融部先端形状が十分に整ってから次のパルス電流印加
がおこなわれるので多大なスパッタ飛散を防止すること
ができる。
第2図の期間T3はワイヤの接触短絡が強固で溶融部の
振動や短絡電流によるピンチ力では短絡解除しない場合
を示す。この場合、パルス電流印加を遅らせたままでは
スタッピングを起こし、溶接欠陥となるのでスパッタ発
生を容認してでもパルス電流印加してワイヤの接触短絡
を解除しなければならない。この場合、アーク・短絡判
定信号VASは短絡状態を示すHレベルのままであるので
論理積素子17の出力信号VPは第3の時限であるtP3
間、Hレベルとなる。この結果、論理和素子18の出力信
号VQはtP3の期間はHレベルとなり他の期間は基準クロ
ック信号VCK信号となる。このVQ信号が第1タイマ回路
部14のクロック入力端子に入力されるので第1タイマ回
路部14は基準のパルス周期tP1よりもtP3の時間だけ長く
時計数して次のパルス電流印加を出力制御回路部11に指
令する。この結果、パルス電流によりワイヤ接触短絡が
解除され、スタッピングによる溶接欠陥を未然に防止で
きる。すなわち、第1図の構成によれば、強固なワイヤ
接触短絡が発生しても最大tP3の時間遅れをもって次の
パルス電流印加がおこなわれ、このtP3の値を適正値に
選ぶことにより円滑な溶接が継続される。
次に第1図の基準クロック発生回路13と第1タイマ回
路部14,第2タイマ回路部15,第3タイマ回路部16、およ
び論理積素子17と論理和素子18とを含めた本発明の一実
施例を第3図に示す。
同図において19はプログラマブルインターバルタイマ
ICで1個の素子の中に制御部20と、第1タイマ回路部1
4,第2タイマ回路部15,第3タイマ回路部16の3個の独
立した動作をおこなうタイマが内蔵されている。17は論
理積素子、18は論理和素子、101はマイコン、102は発振
器、103,104はコンデンサで102と103,104により発振回
路を形成している。13は第1図の基準クロック発生回路
部で、前記マイコン101のCLK端子から出力された発振信
号を分周して出力するICである。なお、105は論理反転
素子である。
プログラマブルインターバルタイマIC19内の3個の各
タイマの動作や計数値はマイコン101のプログラムで設
定することができる。本発明の実施例では第1タイマ回
路部14をCKO端子から入力されるパルスの個数を計数
し、n個に1回の割合で同期信号をOUT0端子から出力す
る分周器として使用している。また、第2タイマ回路部
15と第3タイマ回路部16とはG1(G2)端子から入力され
る信号の状態変化時を時間的起点としてCK1(CK2)端子
から入力されるパルスの個数を計数し、マイコン101に
よって設定されるm個のパルスを計数中とその他の期間
とで状態を変える信号をOUT1(OUT2)端子に出力する再
起動可能なワンショットタイマとして使用している。第
3図の実施例により第2図に示した動作が実現される。
なお、第3図の実施例は、第2図の動作図と信号のH,L
レベルや時計数開始が入力信号の立上り時か立下り時か
の微妙な差異はあるが、基本的に第2図の動作をおこな
う。
なお、マイコン101の動作やプログラムに関しては前
述の如く、各タイマの動作モードや計数値を設定するの
みであるので説明を省略する。
また、アーク・短絡判定回路部12は第1図の構成例で
は溶接機の出力電圧値Vaを検出し、この値が所定の値以
上の場合はアーク発生中、所定値未満の場合はワイヤ接
触短絡中であるとしてアーク・短絡判定信号VASを出力
する。この回路部の実施例は比較器で容易に実現でき、
また、従来から一般的に使用されている方法であるので
詳細な説明を省略する。なお、このアーク・短絡検出回
路部12は第1図の如く溶接機の出力電圧値Vaで判定する
のではなく、アーク光を検出して判定する方法も考えら
れるが、本発明の要件ではない。
さらに第1図の構成例で溶接機の主回路方式を2次側
チョッパ方式として示したが、1次側インバータ方式と
してもよい。
次に本実施例の制御をおこなった場合と、従来通りの
制御でおこなった場合との溶接時のスパッタ発生量の比
較を第4図に示す。第4図において1は従来制御法によ
るもの、2は本発明の制御によるものを示す。
第4図に示す如く、アーンダーカット等の溶接欠陥を
防止するためにアーク長を短くし、平均溶接電圧値を低
くしてワイヤ短絡混じりにするほど効果が顕著に現われ
ることがわかる。
なお、溶接速度を低速から高速に上げていった場合も
平均溶接電圧値を下げていくことになるので、第4図と
同様に従来制御方法からスパッタ低減の効果が得られ
る。
また、第5図に基本パルス周期tP1と前記、第2の時
限tP2との差期間を変化させた場合のスパッタ発生量を
示す。溶接の諸条件については第5図中に記載してい
る。
第5図からわかるように、基本パルス周期tP1と第2
の時限tP2との差期間が0であるtaの場合は第1図の構
成例および第3図の実施例からわかるように第1タイマ
回路部14は基本パルス周期tP1で次のパルス電流印加を
指令してしまい、本発明の制御が適用されず、この結
果、第4図の1のように従来パルスアーク溶接機と同じ
スパッタ発生量となってしまう。
これが第2の時限tP2を基本パルス周期tP1よりも少し
小なるtbとすることにより本発明の制御が実現され、ス
パッタ発生量は前記taの場合よりも約75%に減少する。
以降、基本パルス周期tP1と第2の時限tP2の差期間を
順次大としていくと第5図のtc,td,teと次第にスパッタ
発生量は減少して本発明の効果が増してゆき、tfにおい
てtaの時の約55%のスパッタ発生量とすることができ
た。
この後、基本パルス周期tP1と第2の時限tP2との差期
間を増加させ、tg,th,tiとしてもスパッタ発生量はほと
んど変化せずtfの場合とほとんど同じスパッタ発生量と
なる。これは、次のパルス電流印加の前のベース電流期
間の早くからワイヤの接触短絡かアーク発生中かを判定
してもtfから判定した場合と同様であることがわかる。
また、前記第3の時限を大なる値とすることにより第5
図のtiよりもさらに右の方へ移すことができるが、こう
した場合、所定の基本周期tP1からのパルス電流印加が
遅れすぎる結果、スタッビング現象を発生させ、円滑な
溶接が維持できくなる。
なお、第5図の条件においてtfは約0.4msであり、こ
の値がスパッタ減少効果が最も大きく、かつ、安定な溶
接を維持できる点であると思われる。
発明の効果 上記説明から明らかなように、本発明によればワイヤ
接触短絡が発生しても、所定の時間遅れをもって次のパ
ルス電流印加が行なわれ、この遅れ時間を適正値に選ぶ
ことにより円滑な溶接を継続することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例によるブロック図、第2図は
同実施例における動作図、第3図は同実施例による回路
図、第4図は本実施例と従来例のスパッタ発生量の比較
図、第5図は基本パルス周期と第2の時限の差期間に対
するスパッタ発生量を示す特性図、第6図は従来のパル
スアーク溶接機の溶接電流波形と溶接部の溶滴移行状態
の対応を示す特性図である。 11……出力制御回路部、12……アーク・短絡判定回路
部、13……基準クロック発生回路部、14……第1タイマ
回路部、15……第2タイマ回路部、16……第3タイマ回
路部。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】溶接用ワイヤと被溶接物との間にパルス電
    流とベース電流とを交互に印加して溶接用ワイヤ先端の
    溶接塊をスプレー化させて被溶接物に移行せしめて溶接
    をおこなうパルスアーク溶接機において、前記溶接用ワ
    イヤが被溶接物に接触短絡している時と、非接触でアー
    ク発生中とを判別してアーク・短絡判定信号を出力する
    アーク・短絡判定回路部と、一定の時間周期の基準クロ
    ック信号を出力する基準クロック発生回路部と、クロッ
    ク入力端子から入力される信号の状態変化の回数を計数
    し、その計数値が所定の第1時限に到達した時に一定の
    期間だけ他の期間と状態を変えて第1時限信号を出力す
    ることをくり返す第1タイマ回路部と、前記基準クロッ
    ク信号と前記第1時限信号とを入力とし、前記第1時限
    を計数完了した時を時間的起点として前記基準クロック
    信号の回数により前記第1時限よりも小なる所定の第2
    時限を計数開始し、第2時限を計数している期間とその
    他の期間とで状態を変えて第2時限信号を出力する第2
    タイマ回路部と、前記基準クロック信号と前記第2時限
    信号とを入力とし、前記第2時限を計数完了した時を時
    間的起点として前記基準クロック信号の回数により所定
    の第3時限を計数開始し、第3時限を計数している期間
    とその他の期間とで状態を変えて第3時限信号を出力す
    る第3タイマ回路部とで構成され、前記第1タイマ回路
    部のクロック入力端子には、前記アーク・短絡判定信号
    と前記第3時限信号との論理積したものに前記基準クロ
    ック信号を論理和したものを入力する接続構成とすると
    共に、前記第1時限信号をパルス電流印加出力の起点信
    号として溶接出力制御素子を制御する出力制御回路部に
    接続し、パルス電流印加出力前の前記第1時限と第2時
    限の差期間に溶接用ワイヤが被溶接物に接触短絡してい
    なければ前記第1時限を周期としてパルス電流印加出力
    し、前記第1時限と第2時限の差期間に溶接用ワイヤが
    被溶接物に接触短絡していれば前記第3時限を上限とし
    た接触短絡時間を前記第1時限に加えたものを周期とし
    てパルス電流印加出力することを特徴としたパルスアー
    ク溶接機。
  2. 【請求項2】第1時限,第2時限,第3時限は、溶接用
    ワイヤの送給速度の設定によって決定されることを特徴
    とした特許請求の範囲第(1)項記載のパルスアーク溶
    接機。
  3. 【請求項3】第1時限,第2時限,第3時限は、溶接の
    平均電圧の設定によって決定されることを特徴とした特
    許請求の範囲第(1)項記載のパルスアーク溶接機。
  4. 【請求項4】第1時限,第2時限,第3時限は、溶接す
    る速度によって決定されることを特徴とした特許請求の
    範囲第(1)項記載のパルスアーク溶接機。
  5. 【請求項5】第1時限,第2時限,第3時限は、溶接用
    ワイヤのワイヤ材質またはワイヤ径によって決定される
    ことを特徴とした特許請求の範囲第(1)項記載のパル
    スアーク溶接機。
  6. 【請求項6】第1時限,第2時限,第3時限は、溶接ア
    ーク部をシールドするシールドガスの成分構成により決
    定されることを特徴とした特許請求の範囲第(1)項記
    載のパルスアーク溶接機。
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