JPH08274408A - 表面光レ−ザ - Google Patents
表面光レ−ザInfo
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- JPH08274408A JPH08274408A JP8059343A JP5934396A JPH08274408A JP H08274408 A JPH08274408 A JP H08274408A JP 8059343 A JP8059343 A JP 8059343A JP 5934396 A JP5934396 A JP 5934396A JP H08274408 A JPH08274408 A JP H08274408A
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- H01S5/2059—Methods of obtaining the confinement by means of particular conductivity zones, e.g. obtained by particle bombardment or diffusion
- H01S5/2063—Methods of obtaining the confinement by means of particular conductivity zones, e.g. obtained by particle bombardment or diffusion obtained by particle bombardment
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 光出力の特性を改善した表面光レ−ザを提供
する。 【解決手段】 表面光レ−ザは、基板と、前記基板上に
形成されて複数層の不純物を含有する半導体物質よりな
る第1反射層と、前記第1反射層上に形成されてレ−ザ
光を生成する活性層と、前記活性層上に形成されて前記
第1反射層と他の半導体型の複数の不純物半導体物質よ
りなる第2反射層と、前記第2反射層上に形成されて前
記第2反射層を通過した光の出射が可能な空洞を有する
電極層とを備え、前記電極層は外部電源と接続されて高
い電気伝導度を有する金属層と、前記金属層の底面に形
成されて前記第1,2反射層の反射率より低い反射率を
有する導電性補助反射層とからなることを特徴とする。
する。 【解決手段】 表面光レ−ザは、基板と、前記基板上に
形成されて複数層の不純物を含有する半導体物質よりな
る第1反射層と、前記第1反射層上に形成されてレ−ザ
光を生成する活性層と、前記活性層上に形成されて前記
第1反射層と他の半導体型の複数の不純物半導体物質よ
りなる第2反射層と、前記第2反射層上に形成されて前
記第2反射層を通過した光の出射が可能な空洞を有する
電極層とを備え、前記電極層は外部電源と接続されて高
い電気伝導度を有する金属層と、前記金属層の底面に形
成されて前記第1,2反射層の反射率より低い反射率を
有する導電性補助反射層とからなることを特徴とする。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は表面光レ−ザ(VC
SEL:vertical cavity surface emitting laser) に
係り、さらに詳細には出射光の特性を向上するように電
極層の構造を改善した表面光レ−ザに関する。
SEL:vertical cavity surface emitting laser) に
係り、さらに詳細には出射光の特性を向上するように電
極層の構造を改善した表面光レ−ザに関する。
【0002】
【従来の技術】一般に表面光レ−ザはエッジ発光レ−ザ
とは異なり積層された半導体物質層に対して垂直方向に
円形に近いガウシアンビ−ムを出射するので、出射光の
形状補正のための光学系が不要である。そして、VCS
ELの小型化が可能なので、単一半導体のウェ−ハ上に
複数の表面光レ−ザを集積することができる。したがっ
て、VCSELの二次元的な配列が容易である。このよ
うな利点により、VCSELは電子計算機、音響映像機
器、レ−ザプリンヤ、レ−ザスキャナ、医療装備及び通
信分野などの光応用分野で広く用いられる。
とは異なり積層された半導体物質層に対して垂直方向に
円形に近いガウシアンビ−ムを出射するので、出射光の
形状補正のための光学系が不要である。そして、VCS
ELの小型化が可能なので、単一半導体のウェ−ハ上に
複数の表面光レ−ザを集積することができる。したがっ
て、VCSELの二次元的な配列が容易である。このよ
うな利点により、VCSELは電子計算機、音響映像機
器、レ−ザプリンヤ、レ−ザスキャナ、医療装備及び通
信分野などの光応用分野で広く用いられる。
【0003】図1には従来の表面光レ−ザを示した。こ
の表面光レ−ザは、基板10、該基板10上に順次に形
成された第1反射層12、活性層14、第2反射層16
及び電極層20からなる。前記基板10はn型不純物を
含有する半導体物質、例えば、n型のGaAsでド−ピ
ングされている。前記第1反射層12は前記基板10の
ようなn型不純物を含有する半導体物質、例えば、n型
のAlx Ga1-x Asとn型のAlAsが交代に積層さ
れてなる。この第1反射層12は全体的に略99.9%
の高い反射率を有し、前記活性層14でレ−ジングされ
た光のうち特定波長領域の光を透過させる。前記第2反
射層16は前記第1反射層12とは反対型の不純物を含
有する同じ種の不純物半導体物質よりなる。すなわち、
活性層14上にp型のAlxGa1-x Asとp型のAl
Asが交代に積層されてなる。この第2反射層16は前
記活性層14でレ−ジングされた光が出射されるように
略99.6%の反射率を有する。また、前記第1反射層
12及び第2反射層16はそれぞれ外部電源と接続され
た前記基板10と電極層20を通して印加される電圧に
より前記活性層14側に電子と正孔の流れを誘導する。
前記活性層14は電子と正孔の再結合によるエネルギ−
の遷移により光を発生させる。この活性層14は単一量
子−ウェル構造、多重量子−ウェル構造又は超格子構造
を有することができ、単一半導体物質又は非伝導体物質
よりなり得る。
の表面光レ−ザは、基板10、該基板10上に順次に形
成された第1反射層12、活性層14、第2反射層16
及び電極層20からなる。前記基板10はn型不純物を
含有する半導体物質、例えば、n型のGaAsでド−ピ
ングされている。前記第1反射層12は前記基板10の
ようなn型不純物を含有する半導体物質、例えば、n型
のAlx Ga1-x Asとn型のAlAsが交代に積層さ
れてなる。この第1反射層12は全体的に略99.9%
の高い反射率を有し、前記活性層14でレ−ジングされ
た光のうち特定波長領域の光を透過させる。前記第2反
射層16は前記第1反射層12とは反対型の不純物を含
有する同じ種の不純物半導体物質よりなる。すなわち、
活性層14上にp型のAlxGa1-x Asとp型のAl
Asが交代に積層されてなる。この第2反射層16は前
記活性層14でレ−ジングされた光が出射されるように
略99.6%の反射率を有する。また、前記第1反射層
12及び第2反射層16はそれぞれ外部電源と接続され
た前記基板10と電極層20を通して印加される電圧に
より前記活性層14側に電子と正孔の流れを誘導する。
前記活性層14は電子と正孔の再結合によるエネルギ−
の遷移により光を発生させる。この活性層14は単一量
子−ウェル構造、多重量子−ウェル構造又は超格子構造
を有することができ、単一半導体物質又は非伝導体物質
よりなり得る。
【0004】前記電極層20には前記第2反射層16を
透過した出射光が通過するように空洞22が形成されて
いる。この電極層20は外部電源との電気伝達が容易に
なるように高い電気伝導度を有する金属よりなる。この
電極層20と前記基板10のそれぞれには電源が印加さ
れて前記表面光レ−ザの内部に電流が流れる。前記空洞
22の底面から離隔するように前記第2反射層16の内
部にはイオン又は陽性子注入により高抵抗部18が形成
されている。この高抵抗部18はVCSEL内の電流の
流れを制限して前記活性層14でレ−ジングされて前記
空洞22に出射される光の出力を向上させる。
透過した出射光が通過するように空洞22が形成されて
いる。この電極層20は外部電源との電気伝達が容易に
なるように高い電気伝導度を有する金属よりなる。この
電極層20と前記基板10のそれぞれには電源が印加さ
れて前記表面光レ−ザの内部に電流が流れる。前記空洞
22の底面から離隔するように前記第2反射層16の内
部にはイオン又は陽性子注入により高抵抗部18が形成
されている。この高抵抗部18はVCSEL内の電流の
流れを制限して前記活性層14でレ−ジングされて前記
空洞22に出射される光の出力を向上させる。
【0005】しかしながら、前記第2反射層16の高抵
抗部18が形成されない部分を通過した光の一部は前記
空洞22を通過せず、前記高抵抗部18の内側に延長さ
れた電極層20の突出部21に向かう。ここで、前記電
極層20は電気伝導度の高い金、銅などの金属よりなる
ので、該金属層に入射される光の大部分は反射されて前
記第2反射層16に向かう。前記第2反射層16側に向
かう光は前記空洞22を通して出射される光に影響を及
ぼす。すなわち、レ−ジングされる光の単一モ−ドの維
持及び均一な出射光量の維持に影響を及ぼす。
抗部18が形成されない部分を通過した光の一部は前記
空洞22を通過せず、前記高抵抗部18の内側に延長さ
れた電極層20の突出部21に向かう。ここで、前記電
極層20は電気伝導度の高い金、銅などの金属よりなる
ので、該金属層に入射される光の大部分は反射されて前
記第2反射層16に向かう。前記第2反射層16側に向
かう光は前記空洞22を通して出射される光に影響を及
ぼす。すなわち、レ−ジングされる光の単一モ−ドの維
持及び均一な出射光量の維持に影響を及ぼす。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】したがって、本発明は
前述したような点を改善するために案出されたものであ
り、電極層の構造を改善して均一な出射光量を得ること
にその目的がある。
前述したような点を改善するために案出されたものであ
り、電極層の構造を改善して均一な出射光量を得ること
にその目的がある。
【0007】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に本発明による表面光レ−ザは、基板と、前記基板上に
形成されて複数層の不純物を含有する半導体物質よりな
る第1反射層と、前記反射層上に形成されてレ−ザ光を
生成する活性層と、前記活性層上に形成されて前記第1
反射層と異なる半導体型の複数層の不純物半導体物質よ
りなる第2反射層と、前記第2反射層上に形成されて前
記第2反射層を通過した光の出射が可能な空洞を有する
電極層とを備える表面光レ−ザにおいて、前記電極層は
外部電源と接続されて高い電気伝導度を有する金属層
と、前記金属層の底面に形成されて前記第1,2反射層
の反射率より低い反射率を有する導電性補助反射層とか
らなることを特徴とする。
に本発明による表面光レ−ザは、基板と、前記基板上に
形成されて複数層の不純物を含有する半導体物質よりな
る第1反射層と、前記反射層上に形成されてレ−ザ光を
生成する活性層と、前記活性層上に形成されて前記第1
反射層と異なる半導体型の複数層の不純物半導体物質よ
りなる第2反射層と、前記第2反射層上に形成されて前
記第2反射層を通過した光の出射が可能な空洞を有する
電極層とを備える表面光レ−ザにおいて、前記電極層は
外部電源と接続されて高い電気伝導度を有する金属層
と、前記金属層の底面に形成されて前記第1,2反射層
の反射率より低い反射率を有する導電性補助反射層とか
らなることを特徴とする。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、添付した図面に基づき本発
明を詳細に説明する。図2に示したように、本発明の表
面光レ−ザは、基板30と、該基板30上に順次に形成
された第1反射層32、活性層34、第2反射層36及
び電極層40からなる。前記基板30はn型不純物を含
有する半導体物質、例えば、n型のGaAsでド−ピン
グされている。該基板30には外部電源の単一電極が接
続される。前記第1反射層32は前記基板30と同型の
不純物を含有する半導体物質、例えば、n型のAlx G
a1-x Asとn型のAlAsが交代に積層されてなる。
この第1反射層32は略99.9%の高反射率を有し、
前記活性層34でレ−ジングされた光のうち特定波長領
域の光を透過させる。前記第2反射層36は前記第1反
射層32と反対型の不純物を含有する半導体物質よりな
る。即ち、p型のAlx Ga1-x Asとp型のAlAs
が交代に積層されてなる。この第2反射層36は前記活
性層34でレ−ジングされた光が出射されるように略9
9.6%の反射率を有する。また、前記第1及び第2反
射層32,36はそれぞれ外部電源と接続された前記基
板30と電極層40を通して印加される電圧により前記
活性層34側に電子と正孔の流れを誘導する。前記活性
層34は電子と正孔の再結合によるエネルギ−遷移によ
り光を発生させる。該活性層34は単一量子−ウェル構
造、多重量子−ウェル構造や超格子構造を有する。
明を詳細に説明する。図2に示したように、本発明の表
面光レ−ザは、基板30と、該基板30上に順次に形成
された第1反射層32、活性層34、第2反射層36及
び電極層40からなる。前記基板30はn型不純物を含
有する半導体物質、例えば、n型のGaAsでド−ピン
グされている。該基板30には外部電源の単一電極が接
続される。前記第1反射層32は前記基板30と同型の
不純物を含有する半導体物質、例えば、n型のAlx G
a1-x Asとn型のAlAsが交代に積層されてなる。
この第1反射層32は略99.9%の高反射率を有し、
前記活性層34でレ−ジングされた光のうち特定波長領
域の光を透過させる。前記第2反射層36は前記第1反
射層32と反対型の不純物を含有する半導体物質よりな
る。即ち、p型のAlx Ga1-x Asとp型のAlAs
が交代に積層されてなる。この第2反射層36は前記活
性層34でレ−ジングされた光が出射されるように略9
9.6%の反射率を有する。また、前記第1及び第2反
射層32,36はそれぞれ外部電源と接続された前記基
板30と電極層40を通して印加される電圧により前記
活性層34側に電子と正孔の流れを誘導する。前記活性
層34は電子と正孔の再結合によるエネルギ−遷移によ
り光を発生させる。該活性層34は単一量子−ウェル構
造、多重量子−ウェル構造や超格子構造を有する。
【0009】前記電極層40には前記第2反射層36を
透過した出射光が通過するように空洞46が形成されて
いる。この電極層40は二層構造の金属層44と、低反
射率を有する補助反射層42とよりなる。前記金属層4
4は外部電源と接続され、高い電気伝導度を有する金、
銀などよりなることが望ましい。
透過した出射光が通過するように空洞46が形成されて
いる。この電極層40は二層構造の金属層44と、低反
射率を有する補助反射層42とよりなる。前記金属層4
4は外部電源と接続され、高い電気伝導度を有する金、
銀などよりなることが望ましい。
【0010】前記補助反射層42は前記金属層44と第
2反射層36との間に位置し、ニッケル、モリブデン、
白金、クロムなどの金属よりなる。この補助反射層42
は前記第1,2反射層32,36の反射率より小さい略
98%ないし99%の反射率を有する。その故、前記補
助反射層42の突出部から反射される光量が前記空洞4
6から反射される光量より小さくなる。したがって、前
記空洞46に出射される光に殆ど影響を与えない。前記
補助反射層42は高差モ−ドを有する光の出射を抑制し
て前記空洞46に低ノイズの単一モ−ドの光を出射させ
る。
2反射層36との間に位置し、ニッケル、モリブデン、
白金、クロムなどの金属よりなる。この補助反射層42
は前記第1,2反射層32,36の反射率より小さい略
98%ないし99%の反射率を有する。その故、前記補
助反射層42の突出部から反射される光量が前記空洞4
6から反射される光量より小さくなる。したがって、前
記空洞46に出射される光に殆ど影響を与えない。前記
補助反射層42は高差モ−ドを有する光の出射を抑制し
て前記空洞46に低ノイズの単一モ−ドの光を出射させ
る。
【0011】また、前記空洞46の低面を除く前記第2
反射層36の内部にはイオン又は陽性子を注入して形成
された高抵抗部38をさらに具備することができる。前
記高抵抗部38は電流の流れを制限して前記活性層34
でレ−ジングされて前記空洞46に出射される光の出力
を向上させる。
反射層36の内部にはイオン又は陽性子を注入して形成
された高抵抗部38をさらに具備することができる。前
記高抵抗部38は電流の流れを制限して前記活性層34
でレ−ジングされて前記空洞46に出射される光の出力
を向上させる。
【0012】
【発明の効果】したがって、本発明による表面光レ−ザ
は高差モ−ドを有する光の出射を抑制して空洞を通して
出射される光が単一基本モ−ドを保つように出射光の光
特性を改善する。
は高差モ−ドを有する光の出射を抑制して空洞を通して
出射される光が単一基本モ−ドを保つように出射光の光
特性を改善する。
【図1】従来の表面光レ−ザの概略構成を示す断面図で
ある。
ある。
【図2】本発明による表面光レ−ザの概略構成を示す断
面図である。
面図である。
30 基板 32 第1反射層 34 活性層 36 第2反射層 38 高抵抗部 40 電極層 42 補助反射層 44 金属層 46 空洞
Claims (3)
- 【請求項1】 基板と、前記基板上に形成されて複数層
の不純物を含有する半導体物質よりなる第1反射層と、
前記第1反射層上に形成されてレ−ザ光を生成する活性
層と、前記活性層上に形成されて前記第1反射層と異な
る半導体型の複数層の不純物半導体物質よりなる第2反
射層と、前記第2反射層上に形成されて前記第2反射層
を通過した光の出射が可能な空洞を有する電極層とを備
える表面光レ−ザにおいて、 前記電極層は、外部電源と接続されて高い電気伝導度を
有する金属層と、前記金属層の底面に形成されて前記第
1,2反射層の反射率より低い反射率を有する導電性補
助反射層とからなることを特徴とする表面光レ−ザ。 - 【請求項2】 前記補助反射層の反射率は略98〜99
%であることを特徴とする請求項1に記載の表面光レ−
ザ。 - 【請求項3】 前記空洞から離隔するように前記電極層
の空洞に出射される光量を増やすために前記第2反射層
には高抵抗部がイオン注入または陽性子注入により形成
されることを特徴とする請求項1に記載の表面光レ−
ザ。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR6215/1995 | 1995-03-23 | ||
KR1019950006215A KR0160684B1 (ko) | 1995-03-23 | 1995-03-23 | 표면광 레이저 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08274408A true JPH08274408A (ja) | 1996-10-18 |
JP3288573B2 JP3288573B2 (ja) | 2002-06-04 |
Family
ID=19410426
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP05934396A Expired - Fee Related JP3288573B2 (ja) | 1995-03-23 | 1996-03-15 | 表面光レ−ザ |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5753941A (ja) |
JP (1) | JP3288573B2 (ja) |
KR (1) | KR0160684B1 (ja) |
CN (1) | CN1159808C (ja) |
DE (1) | DE19611393B4 (ja) |
GB (1) | GB2299207B (ja) |
Cited By (2)
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