JPH08274130A - 電子部品の熱圧着装置 - Google Patents
電子部品の熱圧着装置Info
- Publication number
- JPH08274130A JPH08274130A JP7170995A JP7170995A JPH08274130A JP H08274130 A JPH08274130 A JP H08274130A JP 7170995 A JP7170995 A JP 7170995A JP 7170995 A JP7170995 A JP 7170995A JP H08274130 A JPH08274130 A JP H08274130A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thermocompression bonding
- substrate
- stage
- electrode
- outer lead
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/3494—Heating methods for reflowing of solder
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/36—Assembling printed circuits with other printed circuits
- H05K3/361—Assembling flexible printed circuits with other printed circuits
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
て、フィルムキャリアの下面に貼着されたアウターリー
ドを異方性導電テープを介して基板の電極にボンディン
グする際に、熱膨張による歪みが発生しにくい電子部品
の熱圧着装置を提供することを目的とする。 【構成】 基板6を載置するステージ29を、熱圧着ツ
ール9よりも熱伝導率の小さいガラスで形成する。電子
部品のフィルムキャリア2の下面のアウターリード3
を、異方性導電テープ8を介して基板6の電極7に接合
し、フィルムキャリア2に熱圧着ツール9を押し付け
る。この状態で、熱はステージ29へ逃げにくいので、
リード部のA点、O点、B点の温度勾配は小さくなり、
したがって熱膨張による歪みは小さく、アウターリード
3を電極7に精度よくボンディングできる。
Description
熱圧着ツールにより基板の電極に押し付けてボンディン
グする電子部品の熱圧着装置に関するものである。
ナーリードが設けられたフィルムキャリア(ポリイミド
などの合成樹脂で作られたテープ)にチップを搭載した
ものが知られている。図4は、従来の電子部品のボンデ
ィング中の斜視図であって、この電子部品1は、フィル
ムキャリア2の下面にリード(アウターリード3とイン
ナーリード4)が形成され、さらにインナーリード4上
にチップ5をボンディングして形成されている。電子部
品1は、そのアウターリード3をステージ29に載置さ
れた基板6の電極7に接合し、その状態で熱圧着ツール
9によりアウターリードを電極7に熱圧着してボンディ
ングする。その際、アウターリード3と電極7の間には
異方性導電テープ(以下、単に「テープ」という)8が
介装される。このような熱圧着技術が記載された先行技
術としては、例えば特開平3−46243号公報が知ら
れている。
の電極7に熱圧着される電子部品1のリード部Lは、上
から下へフィルムキャリア2、アウターリード3の2層
構造になっており、フィルムキャリア2の上面に熱圧着
ツール9を押し付け、テープ8を介してアウターリード
3を基板6の電極7に熱圧着する。この場合、熱圧着ツ
ール9は約270℃程度に加熱されている。したがっ
て、熱圧着ツール9をフィルムキャリア2の上面に押し
付けた状態で、フィルムキャリア2とアウターリード3
とテープ8はそれぞれ熱膨張し、この熱膨張による歪み
のために、電子部品1のアウターリード3と基板6の電
極7が位置ずれし、ボンディング精度が低下しやすいと
いう問題点を有していた。
ド部に押し付けてリード部を基板の電極にボンディング
する際に、熱膨張による歪みが発生しにくい電子部品の
熱圧着装置を提供することを目的とする。
テージと、このステージに載置された基板の電極に、フ
ィルムキャリア上にリードが形成された電子部品のリー
ド部を押し付けてボンディングする熱圧着ツールとを備
えた電子部品の熱圧着装置であって、ステージを熱圧着
ツールよりも熱伝導率の小さい素材により形成したもの
である。
押し付けた状態で、熱はステージから逃げにくいので、
リード部の温度勾配は小さくなり、したがって熱膨張に
ともなう歪みも小さくなり、電子部品のリード部を基板
の電極に精度よくボンディングできる。
説明する。図1は本発明の一実施例の電子部品の熱圧着
装置の斜視図、図2は同電子部品の熱圧着装置の部分断
面図、図3は同電子部品のリード部の温度分布図であ
る。なお従来の技術で説明したものと同一のものついて
は、同一符号を付すことにより説明を省略する。
ある。この電子部品1と基板6は上記従来例で説明した
ものと同じである。基板6はYテーブル21、Xテーブ
ル22、θ(回転)テーブル23を積層して構成される
可動ユニット20上に位置決めされている。したがって
Yテーブル21、Xテーブル22、θテーブル23が駆
動することにより、基板6はX方向、Y方向、θ方向に
移動し、その位置決めがなされる。24は可動ユニット
20を載置する基台である。
いる。台座25の両側部には支柱26が立設されてい
る。支柱26にはフレーム27が架設されている。フレ
ーム27の下面には加圧ユニット28が4個設けられて
いる。加圧ユニット28は熱圧着ツール9を備えてい
る。29はステージであって、熱圧着ツール9の直下に
設けられている。基板6の縁部に設けられた電極7にア
ウターリード3をボンディングするときは、可動ユニッ
ト20を駆動して基板6の縁部をステージ29上に位置
させ、下方から支持する。本実施例では、4個の電子部
品1を4個の熱圧着ツール9により、基板6の縁部に一
括してボンディングする。なお図1にはテープ8を図示
していないが、テープ8は基板6の電極7上、またはア
ウターリード3の下面に予め貼り付けられている。
レスである。またステージ29の材料はステンレスより
も熱伝導率がかなり小さいガラスである。また基板6は
ガラスエポキシ樹脂基板、またはセラミック基板または
ガラス基板である。
明する。まず図1において、可動ユニット20を駆動し
て、電子部品1がボンディングされる基板6の縁部をス
テージ29上に位置させる。次に図2に示すように、熱
圧着ツール9を下降させてフィルムキャリア2に押し付
ける。図2は押し付け状態を示している。また図3は、
押し付け状態におけるリード部の温度分布を示してい
る。また(表1)は、図3の温度分布の詳しいデータで
ある。
ィルムキャリア2の接合点、O点はテープ8と電極7の
接合点、Bは基板6とステージ29の接合点である。ま
た図3において、aは本実施例、bは本実施例と比較す
るための従来例である。本実施例のステージ29はガラ
ス、従来例のステージはステンレスである。また熱圧着
ツール9は、本実施例および従来例の何れもステンレス
である。また図3および(表1)において、O点の温度
が目標温度(本例では150℃)となるように熱圧着ツ
ール9を加熱している。
9の素材であるガラスの熱伝導率は0.94(Kcal
/mh℃)であり、従来例のステージの素材であるステ
ンレスの熱伝導率12.1(Kcal/mh℃)よりも
きわめて小さい。また図3および(表1)において、O
点の温度を150℃にした場合、本実施例のA点の温度
は175℃、B点の温度は145℃である。A点とB点
の温度差は175−145=30℃であり、O点の温度
Tにおける温度勾配ΔT/Tは0.19である。また同
様にして、従来例の温度勾配は0.43である。
本実施例の温度勾配は従来例の温度勾配よりもきわめて
小さい。これはステージ29として、熱伝導率の小さい
材料(すなわち、熱の逃げにくい材料)であるガラスを
採用したためである。温度勾配ΔT/Tが小さければ、
フィルムキャリア2、アウターリード3、基板6の電極
7間の熱膨張の差も小さく、アウターリード3の電極7
に対するボンディング位置精度が向上する。またO点を
目標温度(150℃)まで加熱するためには、本実施例
では図3に示すように熱圧着ツール9を220℃程度に
加熱すればよいが、従来例では270℃程度まで加熱せ
ねばならず、したがって本実施例は従来例よりも熱効率
がすぐれている。
T/Tは熱圧着ツールの材質にはほとんど左右されない
が、ステージの材質(ステンレス、ガラス)に大きく左
右されることが判る。したがって温度勾配を緩やかにし
て熱膨張による歪みを少なくするには、本発明が提案す
るようにガラスのような熱伝導率の小さい素材(好まし
くは0.5〜5.0Kcal/mh℃程度)をステージ
の材料として選択すべきである。なおSiNはチッ化シ
リコン、AlNはチッ化アルミ、Moはモリブデンであ
る。なお上記実施例ではテープ8を用いているが、本発
明はテープ8を用いないものにも適用できる。
ールをリード部に押し付けた状態で、熱はステージへ逃
げにくいので、リード部の温度勾配は小さくなり、した
がって熱膨張にともなう歪みも小さくなり、電子部品の
リード部を基板の電極に精度よくボンディングできる。
また目標温度を得るために熱圧着ツールを加熱する温度
を低くでき、熱効率もきわめてすぐれている。
視図
分断面図
分布図
Claims (2)
- 【請求項1】ステージと、このステージに載置された基
板の電極に、フィルムキャリア上にリードが形成された
電子部品のリード部を押し付けてボンディングする熱圧
着ツールとを備えた電子部品の熱圧着装置であって、前
記ステージを前記熱圧着ツールよりも熱伝導率の小さい
素材により形成したことを特徴とする電子部品の熱圧着
装置。 - 【請求項2】前記ステージの素材の熱伝導率が0.5〜
5.0Kcal/mh℃であることを特徴とする請求項
1記載の電子部品の熱圧着装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP07170995A JP3235395B2 (ja) | 1995-03-29 | 1995-03-29 | 電子部品の熱圧着装置および熱圧着方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP07170995A JP3235395B2 (ja) | 1995-03-29 | 1995-03-29 | 電子部品の熱圧着装置および熱圧着方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08274130A true JPH08274130A (ja) | 1996-10-18 |
JP3235395B2 JP3235395B2 (ja) | 2001-12-04 |
Family
ID=13468348
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP07170995A Expired - Fee Related JP3235395B2 (ja) | 1995-03-29 | 1995-03-29 | 電子部品の熱圧着装置および熱圧着方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3235395B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007087957A (ja) * | 2006-09-25 | 2007-04-05 | Fujitsu Ltd | 重ね合わせ部品の加熱方法および加熱装置 |
JP2008294396A (ja) * | 2007-04-23 | 2008-12-04 | Hitachi Chem Co Ltd | 接続方法、接続装置及び接続方法を用いて得られる接続構造体 |
US8153941B2 (en) | 2002-03-18 | 2012-04-10 | Fujitsu Limited | Method of heating superposed components and heating apparatus therefor |
-
1995
- 1995-03-29 JP JP07170995A patent/JP3235395B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8153941B2 (en) | 2002-03-18 | 2012-04-10 | Fujitsu Limited | Method of heating superposed components and heating apparatus therefor |
JP2007087957A (ja) * | 2006-09-25 | 2007-04-05 | Fujitsu Ltd | 重ね合わせ部品の加熱方法および加熱装置 |
JP2008294396A (ja) * | 2007-04-23 | 2008-12-04 | Hitachi Chem Co Ltd | 接続方法、接続装置及び接続方法を用いて得られる接続構造体 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3235395B2 (ja) | 2001-12-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0261123B1 (en) | Integrated flow meter and method for producing it | |
US6461890B1 (en) | Structure of semiconductor chip suitable for chip-on-board system and methods of fabricating and mounting the same | |
JPH07169781A (ja) | 半導体モジュールの製造方法 | |
CN102931123A (zh) | 在干燥和压力支撑组装过程中固定半导体管芯 | |
JPS63261831A (ja) | 層の接合方法及び接合を実施するための装置 | |
JPH08274130A (ja) | 電子部品の熱圧着装置 | |
JPH06295937A (ja) | 光電素子の実装方法 | |
JP2004349545A (ja) | 撮像素子の実装方法 | |
JPH02146757A (ja) | 半導体装置 | |
JPH07161863A (ja) | 半導体パッケージおよびモジュールとその製造方法 | |
US20070235858A1 (en) | Mounting assembly for semiconductor devices | |
JP3149631B2 (ja) | 半導体装置及びその実装装置及びその実装方法 | |
JP2576426B2 (ja) | 半導体装置のボンディング方法及びボンディング装置 | |
JPH0582568A (ja) | 半導体チツプの接着方法 | |
JP2661439B2 (ja) | ボンディング方法およびその治具 | |
JP2655058B2 (ja) | 半導体センサ | |
JP2004071608A (ja) | 半導体装置の製造装置 | |
JP3368140B2 (ja) | 電子部品の実装方法及びその構造 | |
JP4206635B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP2949872B2 (ja) | 電子部品接合装置 | |
JPH06232282A (ja) | チップキャリア | |
JPH0878476A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
JP2996202B2 (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
JP2999750B2 (ja) | ボンディング方法 | |
JP2591600B2 (ja) | ボンディング方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080928 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 7 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080928 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 8 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090928 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090928 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 9 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100928 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110928 Year of fee payment: 10 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |