JPH0824925A - 金属帯の圧延方法 - Google Patents
金属帯の圧延方法Info
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- JPH0824925A JPH0824925A JP7192524A JP19252495A JPH0824925A JP H0824925 A JPH0824925 A JP H0824925A JP 7192524 A JP7192524 A JP 7192524A JP 19252495 A JP19252495 A JP 19252495A JP H0824925 A JPH0824925 A JP H0824925A
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B13/00—Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion
- G05B13/02—Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion electric
- G05B13/0265—Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion electric the criterion being a learning criterion
- G05B13/027—Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion electric the criterion being a learning criterion using neural networks only
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B21—MECHANICAL METAL-WORKING WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL; PUNCHING METAL
- B21B—ROLLING OF METAL
- B21B37/00—Control devices or methods specially adapted for metal-rolling mills or the work produced thereby
- B21B37/16—Control of thickness, width, diameter or other transverse dimensions
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- B21—MECHANICAL METAL-WORKING WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL; PUNCHING METAL
- B21B—ROLLING OF METAL
- B21B37/00—Control devices or methods specially adapted for metal-rolling mills or the work produced thereby
- B21B37/16—Control of thickness, width, diameter or other transverse dimensions
- B21B37/22—Lateral spread control; Width control, e.g. by edge rolling
Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 粗ロール列および仕上ロール列中の金属帯を
圧延するため際に、幅広げの確実な予測を可能にする。 【構成】 粗ロール列１において行われる仕上ロール列
２の予設定のための予計算の枠内で、幅変化が関係する
影響量ｘvor が求められ、入力量として可変の回路網パ
ラメータａ、ｂ、ｗij、ｃi を有するニューロン回路網
１３に供給され、ニューロン回路網１３が幅変化に対す
る計算値ｙNN（ｘvor ）を形成し、それに基づいて予測
値ｙpre が計算され、金属帯５の仕上ロール列通過の間
に影響パラメータｘna chが測定され、金属帯５の仕上ロ
ール列通過後に測定または計算された影響量ｘnachがニ
ューロン回路網１３に供給され、回路網パラメータｙNN
（ｘnach）と金属帯５の測定された実際幅変化ｙist と
の間の偏差が、偏差を減少させるべく回路網パラメータ
ａ、ｂ、ｗij、ｃi を適応させる。
圧延するため際に、幅広げの確実な予測を可能にする。 【構成】 粗ロール列１において行われる仕上ロール列
２の予設定のための予計算の枠内で、幅変化が関係する
影響量ｘvor が求められ、入力量として可変の回路網パ
ラメータａ、ｂ、ｗij、ｃi を有するニューロン回路網
１３に供給され、ニューロン回路網１３が幅変化に対す
る計算値ｙNN（ｘvor ）を形成し、それに基づいて予測
値ｙpre が計算され、金属帯５の仕上ロール列通過の間
に影響パラメータｘna chが測定され、金属帯５の仕上ロ
ール列通過後に測定または計算された影響量ｘnachがニ
ューロン回路網１３に供給され、回路網パラメータｙNN
（ｘnach）と金属帯５の測定された実際幅変化ｙist と
の間の偏差が、偏差を減少させるべく回路網パラメータ
ａ、ｂ、ｗij、ｃi を適応させる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、粗ロール列および仕上
ロール列における金属帯を圧延するための方法であっ
て、粗ロール列における圧延プロセスが、仕上ロール列
における金属帯の幅変化に対する予測値に関係して、金
属帯が仕上ロール列からの走出の際に予め定められた目
標仕上がり帯幅を有するように設定される方法に関す
る。
ロール列における金属帯を圧延するための方法であっ
て、粗ロール列における圧延プロセスが、仕上ロール列
における金属帯の幅変化に対する予測値に関係して、金
属帯が仕上ロール列からの走出の際に予め定められた目
標仕上がり帯幅を有するように設定される方法に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】圧延プロセスにより生ずる金属帯の幅変
化は幅広げとも呼ばれる。その際に仕上ロール列におけ
る幅広げは仕上がり帯幅すなわち仕上ロール列から走出
する帯の幅と粗圧延帯幅すなわち仕上ロール列に走入す
る帯の幅との間の差であり、帯幅はそれぞれ等しい温度
における金属帯の幅である。幅広げの正確な予測は、粗
ロール列における金属帯をエッジングパスで続いての仕
上ロール列における幅広げが所望の目標仕上がり帯幅に
通ずるような粗圧延帯幅に圧延するために必要とされ
る。その際に粗ロール列における圧延プロセスは予測さ
れた幅広げに関係して、そこで金属帯が目標仕上がり帯
幅から仕上ロール列における予測された幅広げを差し引
いた帯幅に一致する粗圧延帯幅に圧延されるように設定
される。
化は幅広げとも呼ばれる。その際に仕上ロール列におけ
る幅広げは仕上がり帯幅すなわち仕上ロール列から走出
する帯の幅と粗圧延帯幅すなわち仕上ロール列に走入す
る帯の幅との間の差であり、帯幅はそれぞれ等しい温度
における金属帯の幅である。幅広げの正確な予測は、粗
ロール列における金属帯をエッジングパスで続いての仕
上ロール列における幅広げが所望の目標仕上がり帯幅に
通ずるような粗圧延帯幅に圧延するために必要とされ
る。その際に粗ロール列における圧延プロセスは予測さ
れた幅広げに関係して、そこで金属帯が目標仕上がり帯
幅から仕上ロール列における予測された幅広げを差し引
いた帯幅に一致する粗圧延帯幅に圧延されるように設定
される。
【０００３】仕上ロール列における金属帯の幅変化はた
とえば金属帯の幅、厚みおよび温度のような金属帯自体
に起因する影響量と、たとえば圧延ラインの個々の圧延
スタンドにおける圧延力のような仕上ロール列における
圧延プロセス中に作用する影響量とを含めて、多数の影
響量に関係する。しかしどの影響量が幅広げを最終的に
どの範囲で決定するかは詳細には知られていない。
とえば金属帯の幅、厚みおよび温度のような金属帯自体
に起因する影響量と、たとえば圧延ラインの個々の圧延
スタンドにおける圧延力のような仕上ロール列における
圧延プロセス中に作用する影響量とを含めて、多数の影
響量に関係する。しかしどの影響量が幅広げを最終的に
どの範囲で決定するかは詳細には知られていない。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、幅広
げとそれに影響する影響量との間の関係が正確に知られ
ていなくても幅広げの確実な予測を可能にすることにあ
る。
げとそれに影響する影響量との間の関係が正確に知られ
ていなくても幅広げの確実な予測を可能にすることにあ
る。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この課題は、本発明によ
れば、冒頭に記載した種類の方法において、少なくとも
粗ロール列における最後のエッジングパスの前に行われ
る仕上ロール列の予設定のための予計算の枠内で、幅変
化が関係するさまざまな影響量が求められ、また入力量
として可変の回路網パラメータを有するニューロン回路
網に供給され、ニューロン回路網が回路網回答として幅
変化に対する計算値を形成し、それに基づいて予測値が
求められ、金属帯の仕上ロール列通過中に影響パラメー
タが測定され、または他の測定されたプロセス量から計
算され、金属帯の仕上ロール列通過後に測定または計算
された影響量がニューロン回路網に供給され、またこう
して得られた回路網回答と金属帯の測定された実際幅変
化との間の偏差が、偏差を減少させるべく回路網パラメ
ータを適応させるために利用されることにより解決され
る。
れば、冒頭に記載した種類の方法において、少なくとも
粗ロール列における最後のエッジングパスの前に行われ
る仕上ロール列の予設定のための予計算の枠内で、幅変
化が関係するさまざまな影響量が求められ、また入力量
として可変の回路網パラメータを有するニューロン回路
網に供給され、ニューロン回路網が回路網回答として幅
変化に対する計算値を形成し、それに基づいて予測値が
求められ、金属帯の仕上ロール列通過中に影響パラメー
タが測定され、または他の測定されたプロセス量から計
算され、金属帯の仕上ロール列通過後に測定または計算
された影響量がニューロン回路網に供給され、またこう
して得られた回路網回答と金属帯の測定された実際幅変
化との間の偏差が、偏差を減少させるべく回路網パラメ
ータを適応させるために利用されることにより解決され
る。
【０００６】すなわち仕上ロール列における金属帯の幅
変化の予測は、影響量と幅変化との間の関係についてな
んらかのモデルを仮定する必要なしに、回路網パラメー
タの適応に基づいて自己学習するニューロン回路網を用
いて行われる。その際にニューロン回路網の使用は、な
んらかの仕方で幅変化に影響を有し得るすべての影響量
を幅変化の予測に組み入れることを可能にする。その際
に、影響量として、仕上ロール列への走入前の金属帯の
温度および厚み、仕上ロール列から走出の際の温度、厚
み、目標幅および走出速度、金属帯の材料硬さおよびプ
ロフィル、仕上ロール列の個々の圧延スタンドにおける
金属帯の相対的厚み減少、シフトローラからのシフト位
置および仕上ロール列の個々の圧延スタンドの間の金属
帯の張力の少なくともいくつかが使用される。
変化の予測は、影響量と幅変化との間の関係についてな
んらかのモデルを仮定する必要なしに、回路網パラメー
タの適応に基づいて自己学習するニューロン回路網を用
いて行われる。その際にニューロン回路網の使用は、な
んらかの仕方で幅変化に影響を有し得るすべての影響量
を幅変化の予測に組み入れることを可能にする。その際
に、影響量として、仕上ロール列への走入前の金属帯の
温度および厚み、仕上ロール列から走出の際の温度、厚
み、目標幅および走出速度、金属帯の材料硬さおよびプ
ロフィル、仕上ロール列の個々の圧延スタンドにおける
金属帯の相対的厚み減少、シフトローラからのシフト位
置および仕上ロール列の個々の圧延スタンドの間の金属
帯の張力の少なくともいくつかが使用される。
【０００７】幅広げを予測するためのモデル仮定に基づ
く従来の方法にくらべて、ニューロン回路網を用いるこ
とにより予測の有意義な改善が達成された。その際にニ
ューロン回路網は最も簡単な場合には適応線形ニューロ
ン（Ａｄａｌｉｎｅ）を含んでいる。代替的に、シグモ
イド回答挙動を有する要素から成る被覆された層を有す
るフィードフォワード回路網も使用され得る。
く従来の方法にくらべて、ニューロン回路網を用いるこ
とにより予測の有意義な改善が達成された。その際にニ
ューロン回路網は最も簡単な場合には適応線形ニューロ
ン（Ａｄａｌｉｎｅ）を含んでいる。代替的に、シグモ
イド回答挙動を有する要素から成る被覆された層を有す
るフィードフォワード回路網も使用され得る。
【０００８】継続帯、すなわち同一の帯品種の相い続く
金属帯の際には影響量がほぼ不変にとどまるので、幅広
げに対する予測値としてそれぞれ先行の金属帯の測定さ
れた実際幅変化が利用され得る。他方では切換帯の際に
は、すなわち帯品種が変化する際にはニューロン回路網
の回路網回答が予測として役立つ。
金属帯の際には影響量がほぼ不変にとどまるので、幅広
げに対する予測値としてそれぞれ先行の金属帯の測定さ
れた実際幅変化が利用され得る。他方では切換帯の際に
は、すなわち帯品種が変化する際にはニューロン回路網
の回路網回答が予測として役立つ。
【０００９】粗ロール列における少なくとも最後のエッ
ジングパスの前に位置する金属帯ｎ＋ｉ（ｉ≧１）と仕
上ロール列から走出する金属帯ｎとの間に１つまたは多
数の別の金属帯が位置しており、従って影響量の測定お
よびニューロン回路網の適応が第２、第３またはその後
の後続帯において初めて有効になり得ることを考慮に入
れて、仕上ロール列における金属帯ｎ＋ｉの幅変化に対
する予測値ｙpre （ｎ＋ｉ）はニューロン回路網から形
成された幅変化に対する計算値ｙNN（ｘvor （ｎ＋
ｉ））と、仕上ロール列から走出する金属帯ｎに対して
測定または計算された影響量ｘnachに基づいて形成され
た回路網回答ｙNN（ｘnach（ｎ））と、実際幅変化ｙ
ist （ｎ）とから ｙpre （ｎ＋ｉ）＝ｋ1 ・ｙist （ｎ）＋ｋ2 ・ｙ
NN（ｘvor （ｎ＋ｉ））＋（１−ｋ1 −ｋ2 ｙNN（ｘ
nach（ｎ））、ここで０≦ｋ1 、ｋ2 ≦１ に従って求められる。
ジングパスの前に位置する金属帯ｎ＋ｉ（ｉ≧１）と仕
上ロール列から走出する金属帯ｎとの間に１つまたは多
数の別の金属帯が位置しており、従って影響量の測定お
よびニューロン回路網の適応が第２、第３またはその後
の後続帯において初めて有効になり得ることを考慮に入
れて、仕上ロール列における金属帯ｎ＋ｉの幅変化に対
する予測値ｙpre （ｎ＋ｉ）はニューロン回路網から形
成された幅変化に対する計算値ｙNN（ｘvor （ｎ＋
ｉ））と、仕上ロール列から走出する金属帯ｎに対して
測定または計算された影響量ｘnachに基づいて形成され
た回路網回答ｙNN（ｘnach（ｎ））と、実際幅変化ｙ
ist （ｎ）とから ｙpre （ｎ＋ｉ）＝ｋ1 ・ｙist （ｎ）＋ｋ2 ・ｙ
NN（ｘvor （ｎ＋ｉ））＋（１−ｋ1 −ｋ2 ｙNN（ｘ
nach（ｎ））、ここで０≦ｋ1 、ｋ2 ≦１ に従って求められる。
【００１０】その際に、理想的な継続帯（いわゆる短時
間継承）に対しては値ｋ1 ＝１かつｋ2 ＝０が成り立
ち、また理想的な切換帯（いわゆる長時間継承）に対し
ては値ｋ1 ＝０かつｋ2 ＝１が成り立ち、その際に好ま
しくは値ｋ1 は絶対差ｙist （ｎ）−ｙNN（ｎ）の単調
増大関数であり、またｋ2 が絶対差ｙNN（ｎ＋１）−ｙ
NN（ｎ）の単調増大関数である。
間継承）に対しては値ｋ1 ＝１かつｋ2 ＝０が成り立
ち、また理想的な切換帯（いわゆる長時間継承）に対し
ては値ｋ1 ＝０かつｋ2 ＝１が成り立ち、その際に好ま
しくは値ｋ1 は絶対差ｙist （ｎ）−ｙNN（ｎ）の単調
増大関数であり、またｋ2 が絶対差ｙNN（ｎ＋１）−ｙ
NN（ｎ）の単調増大関数である。
【００１１】
【実施例】以下、図面に示されている実施例により本発
明を一層詳細に説明する。
明を一層詳細に説明する。
【００１２】図１には金属帯５を圧延するための圧延ス
タンド３または４を有する粗ロール列１および仕上ロー
ル列２が示されている。粗ロール列１の制御は、個々の
圧延スタンド３に作用し、またそこでさまざまな操作端
を操作する制御装置６により行われる。制御装置６は圧
延スタンド３の制御のために必要な情報を計算装置７か
らも測定値収集装置８からも得る。圧延プロセスの開始
時にはプロセスの調節のために必要な量に対する測定値
はまだ存在していない。従って計算装置７においてモデ
ル仮定に基づいてそれらの量に対する予測値が計算さ
れ、制御装置６に粗ロール列１の予設定のために伝達さ
れる。プロセスの進行中は測定値収集装置８によりプロ
セスの調節に用いられる量の測定値が収集され、制御装
置６に供給される。
タンド３または４を有する粗ロール列１および仕上ロー
ル列２が示されている。粗ロール列１の制御は、個々の
圧延スタンド３に作用し、またそこでさまざまな操作端
を操作する制御装置６により行われる。制御装置６は圧
延スタンド３の制御のために必要な情報を計算装置７か
らも測定値収集装置８からも得る。圧延プロセスの開始
時にはプロセスの調節のために必要な量に対する測定値
はまだ存在していない。従って計算装置７においてモデ
ル仮定に基づいてそれらの量に対する予測値が計算さ
れ、制御装置６に粗ロール列１の予設定のために伝達さ
れる。プロセスの進行中は測定値収集装置８によりプロ
セスの調節に用いられる量の測定値が収集され、制御装
置６に供給される。
【００１３】制御装置６はさらに導線９を経て仕上ロー
ル列２における金属帯５の予期すべき幅変化に対する予
測値ｙpre を求めるための情報を得る。この予測値ｙ
pre に関係して圧延プロセス、すなわち粗ロール列１に
おける金属帯５のエッジングは、粗帯幅、すなわち粗ロ
ール列１からの走出の際の金属帯５の幅が仕上ロール列
２からの走出の際の所望の目標仕上がり帯幅から仕上ロ
ール列２における金属帯５の予測された幅変化ｙpre を
差し引いた値に等しいように制御される。こうして仕上
ロール列２における金属帯５の幅変化の正確な予測の際
に、金属帯５が仕上ロール列２からの走出の際に所望の
目標仕上がり帯幅を有することが達成される。
ル列２における金属帯５の予期すべき幅変化に対する予
測値ｙpre を求めるための情報を得る。この予測値ｙ
pre に関係して圧延プロセス、すなわち粗ロール列１に
おける金属帯５のエッジングは、粗帯幅、すなわち粗ロ
ール列１からの走出の際の金属帯５の幅が仕上ロール列
２からの走出の際の所望の目標仕上がり帯幅から仕上ロ
ール列２における金属帯５の予測された幅変化ｙpre を
差し引いた値に等しいように制御される。こうして仕上
ロール列２における金属帯５の幅変化の正確な予測の際
に、金属帯５が仕上ロール列２からの走出の際に所望の
目標仕上がり帯幅を有することが達成される。
【００１４】仕上ロール列２では粗ロール列１中と同じ
く個々の圧延スタンド４が制御装置１０により制御さ
れ、制御装置１０はそのために必要な情報を計算装置１
１および測定値収集装置１２から得る。粗ロール列１を
通過する金属帯５が仕上ロール列２に走入する以前に、
計算装置１１において仕上ロール列２中の圧延プロセス
の調節のために必要な量に対する予測値が計算され、制
御装置１０に仕上ロール列２の予設定のために与えられ
る。これらの予め求められた量から、仕上ロール列２に
おける金属帯５の幅変化に影響を有し得る量が入力量ｘ
vor としてニューロン回路網１３に供給され、ニューロ
ン回路網１３は回路網回答として幅変化に対する計算値
ｙNN（ｘvor ）を発生し、またこれを制御装置６におけ
る予測値ｙpre の計算のために導線９上に与える。ニュ
ーロン回路網１３に対する影響量または入力量としては
特に入力ベクトルｘvor を形成する次の量、すなわち仕
上ロール列２への走入前の金属帯５の温度ＴＶおよび厚
みＤＶ、仕上ロール列２から走出の際の温度ＴＦ、厚み
ＤＦ、目標幅ＢＦおよび走出速度ＶＦ、金属帯５の材料
硬さＡＬおよびプロフィルＰＲ、仕上ロール列２の個々
の圧延スタンド４における金属帯５の相対的厚み減少Ｅ
ＰＳ１ないしＥＰＳ７、シフトローラからのシフト位置
ＳＣＨ３ないしＳＣＨ５および仕上ロール列２の個々の
圧延スタンド４の間の金属帯５の張力ＺＵＧ１ないしＺ
ＵＧ６が適している。
く個々の圧延スタンド４が制御装置１０により制御さ
れ、制御装置１０はそのために必要な情報を計算装置１
１および測定値収集装置１２から得る。粗ロール列１を
通過する金属帯５が仕上ロール列２に走入する以前に、
計算装置１１において仕上ロール列２中の圧延プロセス
の調節のために必要な量に対する予測値が計算され、制
御装置１０に仕上ロール列２の予設定のために与えられ
る。これらの予め求められた量から、仕上ロール列２に
おける金属帯５の幅変化に影響を有し得る量が入力量ｘ
vor としてニューロン回路網１３に供給され、ニューロ
ン回路網１３は回路網回答として幅変化に対する計算値
ｙNN（ｘvor ）を発生し、またこれを制御装置６におけ
る予測値ｙpre の計算のために導線９上に与える。ニュ
ーロン回路網１３に対する影響量または入力量としては
特に入力ベクトルｘvor を形成する次の量、すなわち仕
上ロール列２への走入前の金属帯５の温度ＴＶおよび厚
みＤＶ、仕上ロール列２から走出の際の温度ＴＦ、厚み
ＤＦ、目標幅ＢＦおよび走出速度ＶＦ、金属帯５の材料
硬さＡＬおよびプロフィルＰＲ、仕上ロール列２の個々
の圧延スタンド４における金属帯５の相対的厚み減少Ｅ
ＰＳ１ないしＥＰＳ７、シフトローラからのシフト位置
ＳＣＨ３ないしＳＣＨ５および仕上ロール列２の個々の
圧延スタンド４の間の金属帯５の張力ＺＵＧ１ないしＺ
ＵＧ６が適している。
【００１５】金属帯５が仕上ロール列２を通過する際
に、影響量ＴＶ、ＤＶ、…、ＺＵＧ６を含むプロセスに
とって重要な値が測定値収集装置１２により測定され、
制御装置１０および後計算のための装置１４に供給され
る。後計算はたとえば測定された影響量を統計的に処理
することおよび直接測定可能でない影響量を他の測定量
に関係して計算することを含んでいる。これらの後計算
された影響量、すなわち計算装置１１における予計算に
比較してはるかに正確な影響量により、金属帯５が仕上
ロール列２を通過した後にニューロン回路網１３の回路
網パラメータの適応が行われる。そのために後計算され
た影響量が入力ベクトルｘnachにまとめられ、ニューロ
ン回路網１３に与えられる。その際にニューロン回路網
１３から得られる回路網回答ｙNN（ｘnach）が適応アル
ゴリズム１５に供給され、この適応アルゴリズム１５に
はさらに、仕上ロール列２の前で個所１６において測定
された実際粗帯幅ＢＶならびに仕上ロール列２の後で個
所１７において測定された実際仕上がり帯幅ＢＶも供給
される。こうして得られた実際幅変化 ｙist ＝ＢＦ−ＢＶ は回路網回答ｙNN（ｘnach）と比較され、その際に回路
網回答ｙNN（ｘnach）と実際幅変化ｙist との間の偏差
は接続線１８を経てこの偏差を減少させるべく回路網パ
ラメータを適応させるために利用される。計算値ｙ
NN（ｘvor ）とならんで値ｙNN（ｘnach）およびｙist
も導線９を経て幅変化に対する予測値ｙpre の計算のた
めの制御装置６に与えられる。
に、影響量ＴＶ、ＤＶ、…、ＺＵＧ６を含むプロセスに
とって重要な値が測定値収集装置１２により測定され、
制御装置１０および後計算のための装置１４に供給され
る。後計算はたとえば測定された影響量を統計的に処理
することおよび直接測定可能でない影響量を他の測定量
に関係して計算することを含んでいる。これらの後計算
された影響量、すなわち計算装置１１における予計算に
比較してはるかに正確な影響量により、金属帯５が仕上
ロール列２を通過した後にニューロン回路網１３の回路
網パラメータの適応が行われる。そのために後計算され
た影響量が入力ベクトルｘnachにまとめられ、ニューロ
ン回路網１３に与えられる。その際にニューロン回路網
１３から得られる回路網回答ｙNN（ｘnach）が適応アル
ゴリズム１５に供給され、この適応アルゴリズム１５に
はさらに、仕上ロール列２の前で個所１６において測定
された実際粗帯幅ＢＶならびに仕上ロール列２の後で個
所１７において測定された実際仕上がり帯幅ＢＶも供給
される。こうして得られた実際幅変化 ｙist ＝ＢＦ−ＢＶ は回路網回答ｙNN（ｘnach）と比較され、その際に回路
網回答ｙNN（ｘnach）と実際幅変化ｙist との間の偏差
は接続線１８を経てこの偏差を減少させるべく回路網パ
ラメータを適応させるために利用される。計算値ｙ
NN（ｘvor ）とならんで値ｙNN（ｘnach）およびｙist
も導線９を経て幅変化に対する予測値ｙpre の計算のた
めの制御装置６に与えられる。
【００１６】図１に示されている例では影響量ｘnachの
最後の後計算およびニューロン回路網１３の適応は仕上
ロール列２の終端における帯ｎに対して実行されたが、
他方において仕上ロール列２における金属帯５の幅変化
に対するすぐ次の予測が粗ロール列１の始端に、少なく
とも粗ロール列１における最後のエッジングパスの前に
位置する帯ｎ＋ｉに対して要求される。すなわちこれら
の両帯ｎとｎ＋ｉとの間にｉ−１の金属帯５が粗ロール
列１および仕上ロール列２に位置しており、その際にｉ
≧１である。仕上ロール列２における金属帯ｎ＋ｉの幅
変化に対する予測値ｙpre （ｎ＋ｉ）は制御装置６で、
ニューロン回路網から形成された金属帯ｎ＋ｉの幅変化
に対する計算値ｙNN（ｘvor （ｎ＋ｉ））と、金属帯ｎ
に対して後計算された影響量ｘnachに基づいて形成され
た回路網回答ｙNN（ｘnach（ｎ））と、実際幅変化ｙ
ist （ｎ）とから ｙpre （ｎ＋ｉ）＝ｋ1 ｙist （ｎ）＋ｋ2 ｙNN（ｘ
vor （ｎ＋ｉ））＋（１−ｋ1 −ｋ2 ｙNN（ｘ
nach（ｎ））、ここで０≦ｋ1 、ｋ2 ≦１ に従って求められる。
最後の後計算およびニューロン回路網１３の適応は仕上
ロール列２の終端における帯ｎに対して実行されたが、
他方において仕上ロール列２における金属帯５の幅変化
に対するすぐ次の予測が粗ロール列１の始端に、少なく
とも粗ロール列１における最後のエッジングパスの前に
位置する帯ｎ＋ｉに対して要求される。すなわちこれら
の両帯ｎとｎ＋ｉとの間にｉ−１の金属帯５が粗ロール
列１および仕上ロール列２に位置しており、その際にｉ
≧１である。仕上ロール列２における金属帯ｎ＋ｉの幅
変化に対する予測値ｙpre （ｎ＋ｉ）は制御装置６で、
ニューロン回路網から形成された金属帯ｎ＋ｉの幅変化
に対する計算値ｙNN（ｘvor （ｎ＋ｉ））と、金属帯ｎ
に対して後計算された影響量ｘnachに基づいて形成され
た回路網回答ｙNN（ｘnach（ｎ））と、実際幅変化ｙ
ist （ｎ）とから ｙpre （ｎ＋ｉ）＝ｋ1 ｙist （ｎ）＋ｋ2 ｙNN（ｘ
vor （ｎ＋ｉ））＋（１−ｋ1 −ｋ2 ｙNN（ｘ
nach（ｎ））、ここで０≦ｋ1 、ｋ2 ≦１ に従って求められる。
【００１７】その際に理想的な継続帯、すなわち同一の
帯品種の相い続く帯に対しては値ｋ1 ＝１かつｋ2 ＝０
が成り立ち、また理想的な切換帯、すなわち１つの帯品
種から他の帯品種への切換に対しては値ｋ1 ＝０かつｋ
2 ＝１が成り立つ。その間に位置する帯に対しては値ｋ
1 は好ましくは差ｙist （ｎ）−ｙNN（ｎ）の関数、た
とえばｋ1 ＝ｐ1 ・｜ｙist （ｎ）−ｙNN（Ｎ）｜であ
り、また値ｋ2 は好ましくは差ｙNN（ｎ＋ｉ）−ｙ
NN（ｎ）の関数、たとえばｋ2 ＝ｐ2 ・｜ｙNN（ｎ＋
ｉ）−ｙNN（ｎ）｜である。
帯品種の相い続く帯に対しては値ｋ1 ＝１かつｋ2 ＝０
が成り立ち、また理想的な切換帯、すなわち１つの帯品
種から他の帯品種への切換に対しては値ｋ1 ＝０かつｋ
2 ＝１が成り立つ。その間に位置する帯に対しては値ｋ
1 は好ましくは差ｙist （ｎ）−ｙNN（ｎ）の関数、た
とえばｋ1 ＝ｐ1 ・｜ｙist （ｎ）−ｙNN（Ｎ）｜であ
り、また値ｋ2 は好ましくは差ｙNN（ｎ＋ｉ）−ｙ
NN（ｎ）の関数、たとえばｋ2 ＝ｐ2 ・｜ｙNN（ｎ＋
ｉ）−ｙNN（ｎ）｜である。
【００１８】図２にはニューロン回路網１３の例として
適応線形ニューロン（Ａｄａｌｉｎｅ）が示されてい
る。入力ベクトルｘとしてまとめられた２４の影響量Ｔ
Ｖ、ＤＶ、…、ＺＵＧ６は相応の数の入力要素１９を介
して加算点２０に供給され、そこでそれらはそれぞれ個
別の重み付け係数ａ1 、ａ2 、…ａ24を乗算されて加算
され、また一定値ｂを加算されて回路網応答 ｙNN＝ａｘ＋ｂ、ここでａ＝（ａ1 、ａ2 、…ａ24） を生ずる。回路網応答ｙNNは比較点２１で測定された実
際幅変化ｙist と比較され、その際に後段に対応付けら
れている適応アルゴリズム２２内で回路網パラメータａ
1 、ａ2 、…ａ24、ｂが Δａ＝μ（ｙist −ｙNN）・ｘnachおよびΔｂ＝μ（ｙ
ist −ｙNN） により適応され、その際にμは適応のステップ幅を定め
る。
適応線形ニューロン（Ａｄａｌｉｎｅ）が示されてい
る。入力ベクトルｘとしてまとめられた２４の影響量Ｔ
Ｖ、ＤＶ、…、ＺＵＧ６は相応の数の入力要素１９を介
して加算点２０に供給され、そこでそれらはそれぞれ個
別の重み付け係数ａ1 、ａ2 、…ａ24を乗算されて加算
され、また一定値ｂを加算されて回路網応答 ｙNN＝ａｘ＋ｂ、ここでａ＝（ａ1 、ａ2 、…ａ24） を生ずる。回路網応答ｙNNは比較点２１で測定された実
際幅変化ｙist と比較され、その際に後段に対応付けら
れている適応アルゴリズム２２内で回路網パラメータａ
1 、ａ2 、…ａ24、ｂが Δａ＝μ（ｙist −ｙNN）・ｘnachおよびΔｂ＝μ（ｙ
ist −ｙNN） により適応され、その際にμは適応のステップ幅を定め
る。
【００１９】図３にはニューロン回路網１３の例として
影響量ＴＶ、ＤＶ、…、ＺＵＧ６の各々に対するそれぞ
れ１つの入力要素２３を有する入力層を有するフィード
フォワード回路網が示されている。追加的な入力要素２
４を介してニューロン回路網にオフセット値Ｋ１が供給
される。入力層の後に、多くの、ここでは１０の要素２
５から成る被覆層が対応付けられており、それらのうち
各要素は−１と＋１との間のシグモイド経過を有する回
答挙動を有する。要素２５に入力側で供給される影響量
ｘj 、ｊ＝１，…，２４およびｘ25＝Ｋ１は層の各要素
２５内で個別の重み付け係数ｗij,i=1, …,10 、ｊ＝
１，…，２５を乗算されて加算され、またこうして形成
された和から出力側に回答
影響量ＴＶ、ＤＶ、…、ＺＵＧ６の各々に対するそれぞ
れ１つの入力要素２３を有する入力層を有するフィード
フォワード回路網が示されている。追加的な入力要素２
４を介してニューロン回路網にオフセット値Ｋ１が供給
される。入力層の後に、多くの、ここでは１０の要素２
５から成る被覆層が対応付けられており、それらのうち
各要素は−１と＋１との間のシグモイド経過を有する回
答挙動を有する。要素２５に入力側で供給される影響量
ｘj 、ｊ＝１，…，２４およびｘ25＝Ｋ１は層の各要素
２５内で個別の重み付け係数ｗij,i=1, …,10 、ｊ＝
１，…，２５を乗算されて加算され、またこうして形成
された和から出力側に回答
【数１】 が形成される。被覆層２７は、別のオフセット値Ｋ２に
対する入力要素としての役割をしまた相応の出力信号ｚ
11を発生する追加的な要素２６を有する。被覆層２７の
後に、被覆層の要素２５の回答ｚi にそれぞれ個別の重
み付け係数ｃi を乗算して回路網回答
対する入力要素としての役割をしまた相応の出力信号ｚ
11を発生する追加的な要素２６を有する。被覆層２７の
後に、被覆層の要素２５の回答ｚi にそれぞれ個別の重
み付け係数ｃi を乗算して回路網回答
【数２】 を形成する出力要素２７が対応付けられている。回路網
パラメータｗijおよびｃ i のオンライン適応は金属帯５
が仕上ロール列２を通過したつどバックプロパゲーショ
ンアルゴリズムに基づいて行われる。
パラメータｗijおよびｃ i のオンライン適応は金属帯５
が仕上ロール列２を通過したつどバックプロパゲーショ
ンアルゴリズムに基づいて行われる。
【図１】本発明による方法により粗および仕上ロール列
におけるプロセスを制御するためのブロック回路図。
におけるプロセスを制御するためのブロック回路図。
【図２】使用されるニューロン回路網の一例としての適
応線形ニューロン回路網の説明図。
応線形ニューロン回路網の説明図。
【図３】使用されるニューロン回路網の別の例としての
フィードフォワード回路網の説明図。
フィードフォワード回路網の説明図。
１ 粗ロール列 ２ 仕上ロール列 ３、４ 圧延スタンド ５ 金属帯 ６ 制御装置 ７ 計算装置 ８ 測定値収集装置 １０ 制御装置 １１ 計算装置 １２ 測定値収集装置 １３ ニューロン回路網 １５ 適応アルゴリズム
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ギユンター ゼルゲル ドイツ連邦共和国 90455 ニユルンベル ク ツアウンケーニツヒヴエーク ８ (72)発明者 オツトー グラムコフ ドイツ連邦共和国 91052 エルランゲン ホフマンシユトラーセ 103
Claims (9)
- 【請求項１】 粗ロール列（１）および仕上ロール列
（２）における金属帯（５）を圧延するための方法であ
って、粗ロール列（１）における圧延プロセスが、仕上
ロール列（２）における金属帯（５）の幅変化に対する
予測値（ｙpre）に関係して、金属帯（５）が仕上ロー
ル列（２）からの走出の際に予め定められた目標仕上が
り帯幅を有するように設定される方法において、少なく
とも粗ロール列（１）における最後のエッジングパスの
前に行われる仕上ロール列（２）の予設定のための予計
算の枠内で、幅変化が関係するさまざまな影響量（ｘ
vor）が求められ、入力量として可変の回路網パラメー
タ（ａ、ｂ、ｗij、ｃi ）を有するニューロン回路網
（１３）に供給され、ニューロン回路網（１３）が回路
網回答として幅変化に対する計算値（ｙNN（ｘvor ））
を形成し、それに基づいて予測値（ｙpre ）が計算さ
れ、金属帯（５）の仕上ロール列（２）通過中に影響パ
ラメータ（ｘnach）が測定され、または他の測定された
プロセス量から計算され、金属帯（５）の仕上ロール列
（２）通過後に測定または計算された影響量（ｘnach）
がニューロン回路網（１３）に供給され、またこうして
得られた回路網パラメータ（ｙNN（ｘnach））と金属帯
（５）の測定された実際幅変化（ｙis t ）との間の偏差
が、偏差を減少させるべく回路網パラメータ（ａ、ｂ、
ｗij、ｃi ）を適応させるために利用されることを特徴
とする金属帯の圧延方法。 - 【請求項２】 入力量として、仕上ロール列（２）への
走入前の金属帯（５）の温度（ＴＶ）および厚み（Ｄ
Ｖ）、仕上ロール列（２）から走出の際の温度（Ｔ
Ｆ）、厚み（ＤＦ）、目標幅（ＢＦ）および走出速度
（ＶＦ）、金属帯（５）の材料硬さ（ＡＬ）およびプロ
フィル（ＰＲ）、仕上ロール列（２）の個々の圧延スタ
ンドにおける金属帯（５）の相対的厚み減少（ＥＰＳ１
ないしＥＰＳ７）、シフトローラからのシフト位置（Ｓ
ＣＨ３ないしＳＣＨ５）および仕上ロール列（２）の個
々の圧延スタンド（４）の間の金属帯（５）の張力（Ｚ
ＵＧ１ないしＺＵＧ６）の少なくともいくつかが使用さ
れることを特徴とする請求項１記載の方法。 - 【請求項３】 ニューロン回路網（１３）が適応線形ニ
ューロン（Ａｄａｌｉｎｅ）を含んでいることを特徴と
する請求項１または２記載の方法。 - 【請求項４】 ニューロン回路網（１３）としてシグモ
イド回答挙動を有する要素（２５）から成る被覆層を有
するフィードフォワード回路網が使用されることを特徴
とする請求項１または２記載の方法。 - 【請求項５】 １つの帯品種からすぐ次の帯品種への切
換の際に回路網回答（ｙNN（ｘvor ））が幅広げに対す
る予測値（ｙpre ）として、また粗ロール列（１）の設
定のために利用され、また同一の帯品種の金属帯（５）
が相い続く際にそれぞれ先行の金属帯（５）の測定され
た実際幅変化が幅変化に対する予測値として、また粗ロ
ール列（１）の設定のために利用されることを特徴とす
る請求項１ないし４の１つに記載の方法。 - 【請求項６】 粗ロール列（１）における少なくとも最
後のエッジングパスの前に位置する金属帯ｎ＋ｉ（ｉ≧
１）と仕上ロール列（２）から走出する金属帯ｎとの間
に１つまたは多数の別の金属帯が位置する場合に、仕上
ロール列（２）における金属帯ｎ＋ｉの幅変化に対する
予測値ｙpre （ｎ＋ｉ）がニューロン回路網（１３）か
ら形成された幅変化に対する計算値ｙNN（ｘvor （ｎ＋
ｉ））と、仕上ロール列（２）から走出する金属帯ｎに
対して測定または計算された影響量ｘnachに基づいて発
生された回路網回答ｙNN（ｘnach（ｎ））と、実際幅変
化ｙist （ｎ）とから ｙpre （ｎ＋ｉ）＝ｋ1 ・ｙist （ｎ）＋ｋ2 ・ｙ
NN（ｘvor （ｎ＋ｉ））＋（１−ｋ1 −ｋ2 ・ｙNN（ｘ
nach（ｎ））、ここで０≦ｋ1 、ｋ2 ≦１ に従って求められることを特徴とする請求項１ないし４
の１つに記載の方法。 - 【請求項７】 値ｋ1 が差ｙist （ｎ）−ｙNN（ｎ）の
関数であり、またｋ2 が差ｙNN（ｎ＋ｉ）−ｙNN（ｎ）
の関数であることを特徴とする請求項６記載の方法。 - 【請求項８】 同一の帯品種の等しい金属帯（５）が相
い続く際に値ｋ1 ＝１かつｋ2 ＝０であり、１つの帯品
種から新しい帯品種への切換の際に値ｋ1 ＝０かつｋ2
＝１であることを特徴とする請求項６または７記載の方
法。 - 【請求項９】 請求項１ないし８の１つによる方法を実
施するために構成された手段を有する金属帯を圧延する
ための装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| AT94110599.1 | 1994-07-07 | ||
| EP94110599 | 1994-07-07 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0824925A true JPH0824925A (ja) | 1996-01-30 |
Family
ID=8216093
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7192524A Withdrawn JPH0824925A (ja) | 1994-07-07 | 1995-07-05 | 金属帯の圧延方法 |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5740686A (ja) |
| JP (1) | JPH0824925A (ja) |
| KR (1) | KR100249914B1 (ja) |
| CN (1) | CN1194825C (ja) |
| DE (1) | DE19522494C2 (ja) |
| RU (1) | RU2134621C1 (ja) |
| TW (1) | TW293789B (ja) |
| WO (1) | WO1996001705A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103402661A (zh) * | 2010-09-16 | 2013-11-20 | 西门子公司 | 用于轧制金属带材的、具有多个轧机机座的轧钢机的控制量的测定方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19618712B4 (de) * | 1996-05-09 | 2005-07-07 | Siemens Ag | Regelverfahren für ein Walzgerüst zum Walzen eines Bandes |
| DE19642918C2 (de) * | 1996-10-17 | 2003-04-24 | Siemens Ag | System zur Berechnung des Enddickenprofils eines Walzbandes |
| DE19644132B4 (de) | 1996-10-23 | 2005-07-07 | Siemens Ag | Verfahren zum Optimieren der Bandbreitenverteilung an den Enden eines eine Walzstraße durchlaufenden Bandes |
| DE19644131C2 (de) * | 1996-10-23 | 2002-09-19 | Siemens Ag | Verfahren zum Optimieren der Bandbreitenverteilung an den Enden eines eine Walzstraße in einem oder mehreren Stichen durchlaufenden Bandes |
| DE19715503A1 (de) * | 1997-04-14 | 1998-10-15 | Siemens Ag | Integriertes Rechner- und Kommunikationssystem für den Anlagenbereich |
| DE19731980A1 (de) * | 1997-07-24 | 1999-01-28 | Siemens Ag | Verfahren zur Steuerung und Voreinstellung eines Walzgerüstes oder einer Walzstraße zum Walzen eines Walzbandes |
| JP2000061520A (ja) * | 1998-08-25 | 2000-02-29 | Toshiba Corp | 熱間圧延機の平坦度制御装置 |
| ATE227615T1 (de) * | 1999-03-23 | 2002-11-15 | Siemens Ag | Verfahren und einrichtung zur bestimmung der walzkraft in einem walzgerüst |
| JP2000312909A (ja) * | 1999-04-27 | 2000-11-14 | Toshiba Corp | 板幅制御装置 |
| DE19930472A1 (de) * | 1999-07-01 | 2001-01-11 | Siemens Ag | Verfahren und Einrichtung zum Walzen eines Walzbandes mit variierender Dicke |
| DE10048470A1 (de) * | 2000-09-29 | 2002-04-25 | Siemens Ag | Verfahren und Vorrichtung zum Betreiben einer Warmwalzstraße mit mindestens einem Stauchgerüst |
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| CN101648215B (zh) * | 2008-08-14 | 2011-07-20 | 宝山钢铁股份有限公司 | 一种连轧机的带钢边缘降控制方法 |
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| DE102022207656A1 (de) * | 2022-07-26 | 2024-02-01 | Sms Group Gmbh | Verfahren zur Regelung einer Walzstraße sowie Walzstraße |
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| JPH0636928B2 (ja) * | 1989-08-11 | 1994-05-18 | 住友金属工業株式会社 | 熱間連続圧延における板幅制御方法 |
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-
1995
- 1995-06-21 DE DE19522494A patent/DE19522494C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1995-06-27 KR KR1019970700048A patent/KR100249914B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1995-06-27 CN CNB951939386A patent/CN1194825C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1995-06-27 RU RU97101897A patent/RU2134621C1/ru not_active IP Right Cessation
- 1995-06-27 WO PCT/EP1995/002503 patent/WO1996001705A1/de active IP Right Grant
- 1995-06-28 US US08/496,271 patent/US5740686A/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-07-05 JP JP7192524A patent/JPH0824925A/ja not_active Withdrawn
- 1995-07-07 TW TW084107100A patent/TW293789B/zh active
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|---|---|
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| CN1151708A (zh) | 1997-06-11 |
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| RU2134621C1 (ru) | 1999-08-20 |
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| US5740686A (en) | 1998-04-21 |
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| CN1194825C (zh) | 2005-03-30 |
| KR100249914B1 (ko) | 2000-04-01 |
| DE19522494A1 (de) | 1996-01-18 |
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