JPH08229064A - レ−ザ治療装置 - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 装置の動作温度、周囲温度の変化や装置の経
時的変化にも対応し、誤動作を防止して安定したレ−ザ
出力が得られ、信頼性の高いレ−ザ治療装置を提供す
る。 【構成】 励起光源の励起光を受けて治療用のパルスレ
−ザ光を出力する固体レ−ザ発振器と、前記励起光源へ
エネルギを供給する電源部と、前記固体レ−ザ発振器か
ら発振したパルスレ−ザ光の出力を検出する検出手段
と、該検出手段の検出結果に基づいて前記励起光源への
エネルギ供給を制御する制御手段と、疾患部にパルスレ
−ザ光を導く導光手段と、を有する。
時的変化にも対応し、誤動作を防止して安定したレ−ザ
出力が得られ、信頼性の高いレ−ザ治療装置を提供す
る。 【構成】 励起光源の励起光を受けて治療用のパルスレ
−ザ光を出力する固体レ−ザ発振器と、前記励起光源へ
エネルギを供給する電源部と、前記固体レ−ザ発振器か
ら発振したパルスレ−ザ光の出力を検出する検出手段
と、該検出手段の検出結果に基づいて前記励起光源への
エネルギ供給を制御する制御手段と、疾患部にパルスレ
−ザ光を導く導光手段と、を有する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、治療用レ−ザ光を患者
眼に照射して治療を行うレ−ザ治療装置に関する。
眼に照射して治療を行うレ−ザ治療装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】レ−ザ治療装置の発振モ−ドには、主と
してその熱作用により患部組織を凝固する連続波モ−ド
や、その衝撃作用により患部組織を破壊したり切開する
パルスモ−ド等が知られている。Ｎｄ：ＹＡＧレ−ザに
代表される固体レ−ザは、通常連続波モ−ドとパルスモ
−ドの両方で動作可能であるが、その目的により使用モ
−ドが異なる。レ−ザ媒質に励起光源の光を照射してレ
−ザを発生させる固体レ−ザにおいては、パルスモ−ド
で動作させる場合、レ−ザ発振器光路内にＱスイッチ
（一種の光学シャッタ）を配置し、固体レ−ザの特徴的
なレ−ザ上準位の寿命の長さを利用してジャイアントパ
ルスを発生する方法が知られている。また、複数のパル
スを連続して発振させるバ−ストモ−ドのものも知られ
ている。
してその熱作用により患部組織を凝固する連続波モ−ド
や、その衝撃作用により患部組織を破壊したり切開する
パルスモ−ド等が知られている。Ｎｄ：ＹＡＧレ−ザに
代表される固体レ−ザは、通常連続波モ−ドとパルスモ
−ドの両方で動作可能であるが、その目的により使用モ
−ドが異なる。レ−ザ媒質に励起光源の光を照射してレ
−ザを発生させる固体レ−ザにおいては、パルスモ−ド
で動作させる場合、レ−ザ発振器光路内にＱスイッチ
（一種の光学シャッタ）を配置し、固体レ−ザの特徴的
なレ−ザ上準位の寿命の長さを利用してジャイアントパ
ルスを発生する方法が知られている。また、複数のパル
スを連続して発振させるバ−ストモ−ドのものも知られ
ている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、固体レ−ザ
は、発振器内の動作温度によりそのレ−ザ出力が影響さ
れるという欠点がある。とくにＱスイッチによるパルス
レ−ザでは、この温度変化により一定の出力を得るため
に必要とされる励起エネルギが変化する。なかでも可飽
和色素のＱスイッチを使用したものでは、低い温度のと
きには出力パルスが得られなくなったり、高い温度のと
きには出力パルス数が設定数より多く出たりするという
問題がある。
は、発振器内の動作温度によりそのレ−ザ出力が影響さ
れるという欠点がある。とくにＱスイッチによるパルス
レ−ザでは、この温度変化により一定の出力を得るため
に必要とされる励起エネルギが変化する。なかでも可飽
和色素のＱスイッチを使用したものでは、低い温度のと
きには出力パルスが得られなくなったり、高い温度のと
きには出力パルス数が設定数より多く出たりするという
問題がある。
【０００４】また、固体レ−ザは励起光源の劣化等の経
時的変化によってもレ−ザ出力が変動するという欠点も
ある。本発明は、上記問題点に鑑み案出されたものであ
り、装置の動作温度、周囲温度の変化や装置の経時的変
化にも対応し、誤動作を防止して安定したレ−ザ出力が
得られ、信頼性の高いレ−ザ治療装置を提供することを
技術課題とする。
時的変化によってもレ−ザ出力が変動するという欠点も
ある。本発明は、上記問題点に鑑み案出されたものであ
り、装置の動作温度、周囲温度の変化や装置の経時的変
化にも対応し、誤動作を防止して安定したレ−ザ出力が
得られ、信頼性の高いレ−ザ治療装置を提供することを
技術課題とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記技術課題を解決する
ために、本発明は次のような構成を有することを特徴と
する。 （１） 励起光源の励起光を受けて治療用のパルスレ−
ザ光を出力する固体レ−ザ発振器と、前記励起光源へエ
ネルギを供給する電源部と、前記固体レ−ザ発振器から
発振したパルスレ−ザ光の出力を検出する検出手段と、
該検出手段の検出結果に基づいて前記励起光源へのエネ
ルギ供給を制御する制御手段と、疾患部にパルスレ−ザ
光を導く導光手段と、を有することを特徴とする。
ために、本発明は次のような構成を有することを特徴と
する。 （１） 励起光源の励起光を受けて治療用のパルスレ−
ザ光を出力する固体レ−ザ発振器と、前記励起光源へエ
ネルギを供給する電源部と、前記固体レ−ザ発振器から
発振したパルスレ−ザ光の出力を検出する検出手段と、
該検出手段の検出結果に基づいて前記励起光源へのエネ
ルギ供給を制御する制御手段と、疾患部にパルスレ−ザ
光を導く導光手段と、を有することを特徴とする。
【０００６】（２） （１）のレ−ザ治療装置は、さら
に前記固体レ−ザ発振器内の温度又は装置の周囲温度の
少なくても一方の温度を検知する温度検知手段を持ち、
前記制御手段は該温度検知手段の検知結果に基づいて前
記励起光源へのエネルギ供給を制御することを特徴とす
る。
に前記固体レ−ザ発振器内の温度又は装置の周囲温度の
少なくても一方の温度を検知する温度検知手段を持ち、
前記制御手段は該温度検知手段の検知結果に基づいて前
記励起光源へのエネルギ供給を制御することを特徴とす
る。
【０００７】（３） （１）の固体レ−ザ発振器はＱス
イッチを備える固体レ−ザ発振器であることを特徴とす
る。
イッチを備える固体レ−ザ発振器であることを特徴とす
る。
【０００８】（４） （１）のレ−ザ治療装置はパルス
レ−ザ光の照射条件を設定する条件設定手段と、該条件
設定手段による条件設定時及び装置の起動時の少なくと
もいずれかに前記レ−ザ発振器からパルスレ−ザ光をテ
スト発振させるテスト発振手段を持つことを特徴とす
る。
レ−ザ光の照射条件を設定する条件設定手段と、該条件
設定手段による条件設定時及び装置の起動時の少なくと
もいずれかに前記レ−ザ発振器からパルスレ−ザ光をテ
スト発振させるテスト発振手段を持つことを特徴とす
る。
【０００９】（５） （１）のレ−ザ治療装置は、さら
にパルスレ−ザ光を減衰する減衰手段を備え、前記検出
手段は２組の検出手段を持ち該減衰手段の固体レ−ザ発
振器側のレ−ザ出力と手術眼側のレ−ザ出力を検出する
ことを特徴とする。
にパルスレ−ザ光を減衰する減衰手段を備え、前記検出
手段は２組の検出手段を持ち該減衰手段の固体レ−ザ発
振器側のレ−ザ出力と手術眼側のレ−ザ出力を検出する
ことを特徴とする。
【００１０】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説
明する。図１は実施例の装置の光学系と制御系の概略構
成を示す図である。 （光学系）１は主波長１０６４ｎｍのレ−ザ光を発振す
るＹＡＧレ−ザ発振器であり、ＹＡＧレ−ザ発振器１は
Ｎｄ：ＹＡＧロッド２、Ｎｄ：ＹＡＧロッド２に励起光
を与えるフラッシュランプ３、全反射ミラ−４、出力ミ
ラ−５、出力ミラ−５とＮｄ：ＹＡＧロッド２の間に設
けられた可飽和色素のＤｙｅＱスイッチ６から構成され
る。Ｎｄ：ＹＡＧロッド２はフラッシュランプ３の光で
励起されるとエネルギレベルが高まり、ＤｙｅＱスイッ
チ６はＮｄ：ＹＡＧロッド２のエネルギレベルが一定レ
ベルに達すると自動的に漂白変化する。その変化が飽和
状態に達するとＤｙｅＱスイッチ６は透明になり、発振
器のＱ値が最大に達する。これにより発振器は発振状態
となりＮｄ：ＹＡＧロッド２に蓄えられたエネルギが一
度に放出され、ジャイアントパルスのレ−ザ光がＹＡＧ
レ−ザ発振器１から出射される。
明する。図１は実施例の装置の光学系と制御系の概略構
成を示す図である。 （光学系）１は主波長１０６４ｎｍのレ−ザ光を発振す
るＹＡＧレ−ザ発振器であり、ＹＡＧレ−ザ発振器１は
Ｎｄ：ＹＡＧロッド２、Ｎｄ：ＹＡＧロッド２に励起光
を与えるフラッシュランプ３、全反射ミラ−４、出力ミ
ラ−５、出力ミラ−５とＮｄ：ＹＡＧロッド２の間に設
けられた可飽和色素のＤｙｅＱスイッチ６から構成され
る。Ｎｄ：ＹＡＧロッド２はフラッシュランプ３の光で
励起されるとエネルギレベルが高まり、ＤｙｅＱスイッ
チ６はＮｄ：ＹＡＧロッド２のエネルギレベルが一定レ
ベルに達すると自動的に漂白変化する。その変化が飽和
状態に達するとＤｙｅＱスイッチ６は透明になり、発振
器のＱ値が最大に達する。これにより発振器は発振状態
となりＮｄ：ＹＡＧロッド２に蓄えられたエネルギが一
度に放出され、ジャイアントパルスのレ−ザ光がＹＡＧ
レ−ザ発振器１から出射される。
【００１１】７はＹＡＧレ−ザ発振器１内の動作温度を
検出する温度センサである。１０はビ−ムスプリッタで
あり、ビ−ムスプリッタ１０で反射したレ−ザ光の一部
は光検出器１１に受光され、光検出器１１はその受光量
によりレ−ザ発振器１から出射されたレ−ザ光の出力エ
ネルギを検出する。１２はレ−ザ光の偏光方向を回転さ
せる１／２波長板、１３はブリュ−スタ角に配置された
偏光板である。１／２波長板はパルスモ−タにより回転
され、偏光板１３との組合わせによりレ−ザ光のエネル
ギ量を調整する。
検出する温度センサである。１０はビ−ムスプリッタで
あり、ビ−ムスプリッタ１０で反射したレ−ザ光の一部
は光検出器１１に受光され、光検出器１１はその受光量
によりレ−ザ発振器１から出射されたレ−ザ光の出力エ
ネルギを検出する。１２はレ−ザ光の偏光方向を回転さ
せる１／２波長板、１３はブリュ−スタ角に配置された
偏光板である。１／２波長板はパルスモ−タにより回転
され、偏光板１３との組合わせによりレ−ザ光のエネル
ギ量を調整する。
【００１２】１４はビ−ムスプリッタであり、偏光板１
３を通過したレ−ザ光の一部はビ−ムスプリッタ１４に
よって光検出器１５に導かれる。光検出器１５は受光量
から偏光板１３を通過するレ−ザ光のエネルギを検出す
る。１６は安全シャッタであり、テスト発振（後述す
る）や異常発生時等所定の場合にレ−ザ光を遮断する。
安全シャッタ１６を通過したレ−ザ光はエキスパンダレ
ンズ１７によって光束を拡げられ、ダイクロイックミラ
−１８で可視光半導体レ−ザ１９からのエイミング光
（主波長６８５ｎｍ）と同軸にされる。可視光半導体レ
−ザ１９を出射したエイミング光は２つの開口を持つア
パ−チャ２０により分割される。
３を通過したレ−ザ光の一部はビ−ムスプリッタ１４に
よって光検出器１５に導かれる。光検出器１５は受光量
から偏光板１３を通過するレ−ザ光のエネルギを検出す
る。１６は安全シャッタであり、テスト発振（後述す
る）や異常発生時等所定の場合にレ−ザ光を遮断する。
安全シャッタ１６を通過したレ−ザ光はエキスパンダレ
ンズ１７によって光束を拡げられ、ダイクロイックミラ
−１８で可視光半導体レ−ザ１９からのエイミング光
（主波長６８５ｎｍ）と同軸にされる。可視光半導体レ
−ザ１９を出射したエイミング光は２つの開口を持つア
パ−チャ２０により分割される。
【００１３】２１はレ−ザ光束を広げるエキスパンダレ
ンズ、２２は可視光半導体レ−ザ光の一部及びＹＡＧレ
−ザ光を反射し、観察光を透過するダイクロイックミラ
−である。ダイクロイックミラ−２２で反射されたレ−
ザ光は対物レンズ２３及びコンタクトレンズ２４を介し
て患者眼Ｅの患部に集光される。２５はスリット投影光
学系であり、スリット投影光学系２５からの光束はコン
タクトレンズ２４を介して患者眼Ｅを照明する。２６は
術者眼が患者眼Ｅを観察する双眼の顕微鏡部である。
ンズ、２２は可視光半導体レ−ザ光の一部及びＹＡＧレ
−ザ光を反射し、観察光を透過するダイクロイックミラ
−である。ダイクロイックミラ−２２で反射されたレ−
ザ光は対物レンズ２３及びコンタクトレンズ２４を介し
て患者眼Ｅの患部に集光される。２５はスリット投影光
学系であり、スリット投影光学系２５からの光束はコン
タクトレンズ２４を介して患者眼Ｅを照明する。２６は
術者眼が患者眼Ｅを観察する双眼の顕微鏡部である。
【００１４】（電気系）３０はフラッシュランプ３にエ
ネルギを供給する電源部であり、電源部３０は装置全体
の動作を制御する制御部３１からの信号により供給する
エネルギを調整し、フラッシュランプ３がＮｄ：ＹＡＧ
ロッド２に付与する励起光エネルギを可変にする。ま
た、電源部３０には１トリガ信号により複数パルスを出
射する駆動回路が設けられている。３２は光検出器１１
からの信号を検出処理する検出回路、３３は光検出器１
５からの信号を検出処理する検出回路である。検出回路
３２、３３でそれぞれ処理された信号は制御部３１に入
力される。３４は１／２波長板１２を駆動するモ−タで
あり、３５はモ−タ駆動回路である。
ネルギを供給する電源部であり、電源部３０は装置全体
の動作を制御する制御部３１からの信号により供給する
エネルギを調整し、フラッシュランプ３がＮｄ：ＹＡＧ
ロッド２に付与する励起光エネルギを可変にする。ま
た、電源部３０には１トリガ信号により複数パルスを出
射する駆動回路が設けられている。３２は光検出器１１
からの信号を検出処理する検出回路、３３は光検出器１
５からの信号を検出処理する検出回路である。検出回路
３２、３３でそれぞれ処理された信号は制御部３１に入
力される。３４は１／２波長板１２を駆動するモ−タで
あり、３５はモ−タ駆動回路である。
【００１５】３６は制御部３１からの制御信号により安
全シャッタ１６を開閉駆動するモ−タ、３７はモ−タ駆
動回路である。３８は装置の周囲温度を検出する温度セ
ンサであり、温度センサ３８が出力する温度に対応する
電圧信号は、検出回路３９で所定の処理が施されて制御
部３１に入力される。４０は温度センサ７の検出回路で
ある。
全シャッタ１６を開閉駆動するモ−タ、３７はモ−タ駆
動回路である。３８は装置の周囲温度を検出する温度セ
ンサであり、温度センサ３８が出力する温度に対応する
電圧信号は、検出回路３９で所定の処理が施されて制御
部３１に入力される。４０は温度センサ７の検出回路で
ある。
【００１６】４１はパネル操作部であり、パネル操作部
４２は各種の入力スイッチ及び表示器を有する。入力ス
イッチには、患部に照射されるエネルギ量を設定したり
１トリガ信号による出射パルス数を設定したりする等照
射条件を設定するスイッチや、安全シャッタ１６を開い
てヤグレ−ザ光を照射可能な状態にするスイッチ等があ
り、表示器は光検出器１５により検出されるＹＡＧレ−
ザ光のエネルギ量や、設定されたパルス数等を表示す
る。４２はレ−ザ光のトリガ信号を発生させる照射スイ
ッチである。
４２は各種の入力スイッチ及び表示器を有する。入力ス
イッチには、患部に照射されるエネルギ量を設定したり
１トリガ信号による出射パルス数を設定したりする等照
射条件を設定するスイッチや、安全シャッタ１６を開い
てヤグレ−ザ光を照射可能な状態にするスイッチ等があ
り、表示器は光検出器１５により検出されるＹＡＧレ−
ザ光のエネルギ量や、設定されたパルス数等を表示す
る。４２はレ−ザ光のトリガ信号を発生させる照射スイ
ッチである。
【００１７】以上のような装置において、その動作を説
明する。図示なき電源スイッチを投入して装置を起動す
る。装置は基準温度条件下で所定のレ−ザ光の出力が得
られるように調整されており、起動信号が入力されると
制御部３１は、電源３０がフラッシュランプ３に供給す
るエネルギのレベルを補正する。制御部３１は、温度変
化に対する供給エネルギの変化を求めるプログラムを持
ち、温度変化を検出し、フラッシュランプ３に供給する
エネルギのレベルを補正する。温度センサ７はＹＡＧレ
−ザ発振器１内の温度を検出し、プログラムにしたがっ
て補正演算を施し、フラッシュランプ３に供給するエネ
ルギのレベルを補正する。この補正は常時または所定の
時間毎に行う。
明する。図示なき電源スイッチを投入して装置を起動す
る。装置は基準温度条件下で所定のレ−ザ光の出力が得
られるように調整されており、起動信号が入力されると
制御部３１は、電源３０がフラッシュランプ３に供給す
るエネルギのレベルを補正する。制御部３１は、温度変
化に対する供給エネルギの変化を求めるプログラムを持
ち、温度変化を検出し、フラッシュランプ３に供給する
エネルギのレベルを補正する。温度センサ７はＹＡＧレ
−ザ発振器１内の温度を検出し、プログラムにしたがっ
て補正演算を施し、フラッシュランプ３に供給するエネ
ルギのレベルを補正する。この補正は常時または所定の
時間毎に行う。
【００１８】また、装置は温度センサ３８による装置の
周囲温度を検出しており、温度センサ３７は装置の置か
れた環境の温度を監視し、所定の基準よりも高いときは
その旨警告するとともに、温度センサ７が検出した温度
が異常に高くなった場合にそれがＹＡＧレ−ザ発振器１
内の要因に基づくか否かを判別し、操作者に警告し必要
な措置を指示する。これにより装置内部の急激な温度上
昇や周囲温度の変動があっても、その変動に対する適切
な対策を術者に報知する。なお、温度センサ３７の検出
温度は起動時の補正演算のデ−タとしても使用すること
ができる。
周囲温度を検出しており、温度センサ３７は装置の置か
れた環境の温度を監視し、所定の基準よりも高いときは
その旨警告するとともに、温度センサ７が検出した温度
が異常に高くなった場合にそれがＹＡＧレ−ザ発振器１
内の要因に基づくか否かを判別し、操作者に警告し必要
な措置を指示する。これにより装置内部の急激な温度上
昇や周囲温度の変動があっても、その変動に対する適切
な対策を術者に報知する。なお、温度センサ３７の検出
温度は起動時の補正演算のデ−タとしても使用すること
ができる。
【００１９】制御部３１は安全シャッタ１６を閉じた状
態で自動的にトリガ信号を発し、ランプ電源部３０を介
してフラッシュランプ３を発光させ、ＹＡＧレ−ザ発振
器１をテスト発振させる。光検出器１１はＹＡＧレ−ザ
発振器１から出射されたレ−ザ光のエネルギ量を検出
し、ヤグレ−ザ発振器１自体の劣化の有無を検知するこ
とができる。また、制御部３１は、光検出器１５と光検
出器１１の検出信号とを比較して１／２波長板１２及び
偏光板１３の異常の有無を検知する。
態で自動的にトリガ信号を発し、ランプ電源部３０を介
してフラッシュランプ３を発光させ、ＹＡＧレ−ザ発振
器１をテスト発振させる。光検出器１１はＹＡＧレ−ザ
発振器１から出射されたレ−ザ光のエネルギ量を検出
し、ヤグレ−ザ発振器１自体の劣化の有無を検知するこ
とができる。また、制御部３１は、光検出器１５と光検
出器１１の検出信号とを比較して１／２波長板１２及び
偏光板１３の異常の有無を検知する。
【００２０】さらに、制御部３１は光検出器１１（及び
光検出器１５）の信号に基づいて、ランプ電源部３０か
らフラッシュランプ３へのエネルギのレベルをさらに補
正し、所定のレ−ザ光の出力が得られるようにフラッシ
ュランプ３へのエネルギが調整される。
光検出器１５）の信号に基づいて、ランプ電源部３０か
らフラッシュランプ３へのエネルギのレベルをさらに補
正し、所定のレ−ザ光の出力が得られるようにフラッシ
ュランプ３へのエネルギが調整される。
【００２１】術者はパネル操作部４１を操作して治療目
的等にしたがった照射条件の設定を行う。照射エネルギ
が変更されると、制御部３１は１／２波長板の透過デ−
タに基づいて、設定された照射エネルギが得られるよう
に、１／２波長板を所定の角度回転する。この状態で再
度テスト発振を行う。また、バ−ストモ−ド時の照射パ
ルス数が変更された場合も再度テスト発振を行う。制御
部３１は自動的にトリガ信号を発してレ−ザ光をテスト
発振させる。レ−ザ光がテスト発振されると、制御部３
１は再び光検出器１１及び光検出器１５からの検出信号
により所定のエネルギ量が得られているかを調べる。所
定のエネルギ量が得られない時は、さらに１／２波長板
の回転角を補正する。
的等にしたがった照射条件の設定を行う。照射エネルギ
が変更されると、制御部３１は１／２波長板の透過デ−
タに基づいて、設定された照射エネルギが得られるよう
に、１／２波長板を所定の角度回転する。この状態で再
度テスト発振を行う。また、バ−ストモ−ド時の照射パ
ルス数が変更された場合も再度テスト発振を行う。制御
部３１は自動的にトリガ信号を発してレ−ザ光をテスト
発振させる。レ−ザ光がテスト発振されると、制御部３
１は再び光検出器１１及び光検出器１５からの検出信号
により所定のエネルギ量が得られているかを調べる。所
定のエネルギ量が得られない時は、さらに１／２波長板
の回転角を補正する。
【００２２】また、バ−ストモ−ド時には光検出器１１
（または光検出器１５）の検出結果に基づいて照射パル
ス数がカウントされ、設定されたパルス数に対して異常
があるときは、ランプ電源部３０からフラッシュランプ
３へ供給されるエネルギのレベルをさらに補正する。補
正限界を越える場合には、術者に報知する。このように
装置は起動及び照射条件設定の変更の都度にテスト発振
をして自己診断を行い、フラッシュランプ３の最適な励
起光エネルギを設定する。
（または光検出器１５）の検出結果に基づいて照射パル
ス数がカウントされ、設定されたパルス数に対して異常
があるときは、ランプ電源部３０からフラッシュランプ
３へ供給されるエネルギのレベルをさらに補正する。補
正限界を越える場合には、術者に報知する。このように
装置は起動及び照射条件設定の変更の都度にテスト発振
をして自己診断を行い、フラッシュランプ３の最適な励
起光エネルギを設定する。
【００２３】照射条件の設定が完了したら安全シャッタ
１６を解放するためのスイッチを押し、患者眼にレ−ザ
照射可能状態にする。術者は患者眼Ｅを顕微鏡部２６で
観察しながら、可視光半導体レ−ザ１９からのエイミグ
光の照準を患部に合わせる。照準が完了したら、照射ス
イッチ４２を押すことによりＹＡＧレ−ザ光が患者眼に
照射される。
１６を解放するためのスイッチを押し、患者眼にレ−ザ
照射可能状態にする。術者は患者眼Ｅを顕微鏡部２６で
観察しながら、可視光半導体レ−ザ１９からのエイミグ
光の照準を患部に合わせる。照準が完了したら、照射ス
イッチ４２を押すことによりＹＡＧレ−ザ光が患者眼に
照射される。
【００２４】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
発振されたレ−ザ出力を検出することにより装置が自己
診断を行い、次回のレ−ザ発振に備えての出力調整を自
己修正するので、温度変化や励起光源の劣化等の装置の
経時変化に対する誤動作を防止でき、常に安定したレ−
ザ出力を得ることができる。また、急な温度上昇にも装
置自身が自動的に対応することができるとともに、術者
に必要な対策を示すことができる。さらに、装置のどの
部分に異常が発生しているかを容易に知ることができ
る。
発振されたレ−ザ出力を検出することにより装置が自己
診断を行い、次回のレ−ザ発振に備えての出力調整を自
己修正するので、温度変化や励起光源の劣化等の装置の
経時変化に対する誤動作を防止でき、常に安定したレ−
ザ出力を得ることができる。また、急な温度上昇にも装
置自身が自動的に対応することができるとともに、術者
に必要な対策を示すことができる。さらに、装置のどの
部分に異常が発生しているかを容易に知ることができ
る。
【図１】実施例の装置の光学系と制御系の概略構成を示
す図である。
す図である。
１ ＹＡＧレ−ザ発振器 ２ Ｎｄ：ＹＡＧロッド ３ フラッシュランプ ７ 温度センサ １１ 光検出器 １５ 光検出器 １６ 安全シャッタ ３０ 電源部 ３１ 制御部
Claims (5)
- 【請求項１】 励起光源の励起光を受けて治療用のパル
スレ−ザ光を出力する固体レ−ザ発振器と、前記励起光
源へエネルギを供給する電源部と、前記固体レ−ザ発振
器から発振したパルスレ−ザ光の出力を検出する検出手
段と、該検出手段の検出結果に基づいて前記励起光源へ
のエネルギ供給を制御する制御手段と、疾患部にパルス
レ−ザ光を導く導光手段と、を有することを特徴とする
レ−ザ治療装置。 - 【請求項２】 請求項１のレ−ザ治療装置は、さらに前
記固体レ−ザ発振器内の温度又は装置の周囲温度の少な
くても一方の温度を検知する温度検知手段を持ち、前記
制御手段は該温度検知手段の検知結果に基づいて前記励
起光源へのエネルギ供給を制御することを特徴とするレ
−ザ治療装置。 - 【請求項３】 請求項１の固体レ−ザ発振器はＱスイッ
チを備える固体レ−ザ発振器であることを特徴とするレ
−ザ治療装置。 - 【請求項４】 請求項１のレ−ザ治療装置はパルスレ−
ザ光の照射条件を設定する条件設定手段と、該条件設定
手段による条件設定時及び装置の起動時の少なくともい
ずれかに前記レ−ザ発振器からパルスレ−ザ光をテスト
発振させるテスト発振手段を持つことを特徴とするレ−
ザ治療装置。 - 【請求項５】 請求項１のレ−ザ治療装置は、さらにパ
ルスレ−ザ光を減衰する減衰手段を備え、前記検出手段
は２組の検出手段を持ち該減衰手段の固体レ−ザ発振器
側のレ−ザ出力と手術眼側のレ−ザ出力を検出すること
を特徴とするレ−ザ治療装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06863895A JP3675876B2 (ja) | 1995-02-28 | 1995-02-28 | レ−ザ治療装置 |
| EP96301280A EP0729734A3 (en) | 1995-02-28 | 1996-02-26 | Laser treatment device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06863895A JP3675876B2 (ja) | 1995-02-28 | 1995-02-28 | レ−ザ治療装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08229064A true JPH08229064A (ja) | 1996-09-10 |
| JP3675876B2 JP3675876B2 (ja) | 2005-07-27 |
Family
ID=13379485
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP06863895A Expired - Fee Related JP3675876B2 (ja) | 1995-02-28 | 1995-02-28 | レ−ザ治療装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0729734A3 (ja) |
| JP (1) | JP3675876B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6066127A (en) * | 1997-09-30 | 2000-05-23 | Nidek Co., Ltd. | Laser treatment apparatus |
| US6325793B1 (en) | 1998-04-30 | 2001-12-04 | Nidek Co., Ltd. | Laser treatment apparatus |
| US6383178B1 (en) | 1999-01-29 | 2002-05-07 | Nidek Co., Ltd. | Laser treatment apparatus |
| JP2006292424A (ja) * | 2005-04-06 | 2006-10-26 | Toshiba Corp | 光ファイバモニタ装置およびレーザ加工システム |
| JP2018102793A (ja) * | 2016-12-28 | 2018-07-05 | 株式会社ニデック | 眼科用レーザ治療装置 |
| JP2019037592A (ja) * | 2017-08-25 | 2019-03-14 | 株式会社ニデック | 眼科用レーザ治療装置 |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE69908232T2 (de) | 1998-03-31 | 2004-04-01 | Nidek Co., Ltd., Gamagori | Laserbehandlungsvorrichtung |
| JP3942906B2 (ja) * | 2002-02-01 | 2007-07-11 | 株式会社ニデック | レーザ治療装置 |
| JP4271247B2 (ja) | 2007-04-10 | 2009-06-03 | ファナック株式会社 | レーザ装置 |
| US20190076192A1 (en) * | 2017-09-13 | 2019-03-14 | Modulight Oy | Method and system for configuring biomedical laser |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DD112857A1 (ja) * | 1974-05-17 | 1975-05-05 | ||
| JPS59123287A (ja) * | 1982-12-28 | 1984-07-17 | Mitsubishi Electric Corp | パルスレ−ザ装置 |
| US4601288A (en) * | 1984-02-24 | 1986-07-22 | Myers John D | Laser device and method |
| US4950268A (en) * | 1987-02-27 | 1990-08-21 | Xintec Corporation | Laser driver and control circuit |
| JPS63211782A (ja) * | 1987-02-27 | 1988-09-02 | Canon Inc | レ−ザ−装置 |
| WO1992004876A2 (de) * | 1990-09-18 | 1992-04-02 | Erwin Steiger | Dentales behandlungsgerät und füllmaterial zur verwendung hiermit |
-
1995
- 1995-02-28 JP JP06863895A patent/JP3675876B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-02-26 EP EP96301280A patent/EP0729734A3/en not_active Withdrawn
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6066127A (en) * | 1997-09-30 | 2000-05-23 | Nidek Co., Ltd. | Laser treatment apparatus |
| US6325793B1 (en) | 1998-04-30 | 2001-12-04 | Nidek Co., Ltd. | Laser treatment apparatus |
| US6383178B1 (en) | 1999-01-29 | 2002-05-07 | Nidek Co., Ltd. | Laser treatment apparatus |
| JP2006292424A (ja) * | 2005-04-06 | 2006-10-26 | Toshiba Corp | 光ファイバモニタ装置およびレーザ加工システム |
| JP2018102793A (ja) * | 2016-12-28 | 2018-07-05 | 株式会社ニデック | 眼科用レーザ治療装置 |
| JP2019037592A (ja) * | 2017-08-25 | 2019-03-14 | 株式会社ニデック | 眼科用レーザ治療装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0729734A2 (en) | 1996-09-04 |
| EP0729734A3 (en) | 1997-10-29 |
| JP3675876B2 (ja) | 2005-07-27 |
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