JPS63211782A - レ−ザ−装置 - Google Patents
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- JPS63211782A JPS63211782A JP4290687A JP4290687A JPS63211782A JP S63211782 A JPS63211782 A JP S63211782A JP 4290687 A JP4290687 A JP 4290687A JP 4290687 A JP4290687 A JP 4290687A JP S63211782 A JPS63211782 A JP S63211782A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/10—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
- H01S3/13—Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude
- H01S3/131—Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude by controlling the active medium, e.g. by controlling the processes or apparatus for excitation
- H01S3/1312—Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude by controlling the active medium, e.g. by controlling the processes or apparatus for excitation by controlling the optical pumping
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- Optics & Photonics (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はレーザー装置に関し、特に電気光学素子をＱス
イッチ素子として用いてＱスイッチ発振をおこなう固体
レーザー装置に関する。
イッチ素子として用いてＱスイッチ発振をおこなう固体
レーザー装置に関する。
従来、この種のレーザー装置は、ルビー、ガラス等のレ
ーザー活性媒質と、このレーザー活性媒質を励起するた
めの励起用光源と、カーセルやポッケルスセル等の電気
光学素子と、偏光子とを有しており、電気光学素子に四
分の一波長電圧を印加して電気光学素子を一往復した光
の偏光面を９０°回転させ、偏光子を通過不能とするこ
とにより光共振器に １００％の損失を与え、この状態
で活性媒質をポンピングし、この後、電気光学素子への
四分の一波長電圧の供給を停止して急激に光共振器のＱ
を高めてレーザー発振をおこなわせるものである。
ーザー活性媒質と、このレーザー活性媒質を励起するた
めの励起用光源と、カーセルやポッケルスセル等の電気
光学素子と、偏光子とを有しており、電気光学素子に四
分の一波長電圧を印加して電気光学素子を一往復した光
の偏光面を９０°回転させ、偏光子を通過不能とするこ
とにより光共振器に １００％の損失を与え、この状態
で活性媒質をポンピングし、この後、電気光学素子への
四分の一波長電圧の供給を停止して急激に光共振器のＱ
を高めてレーザー発振をおこなわせるものである。
（発明が解決しようとする問題点〕
上述した従来のレーザー装置は、産業機器や医療機器な
ど種々の分野で利用されるが、それらの装置が設置され
る環境により、周囲温度が、例えば氷点下から５０℃程
度にわたって変化することがある。このような場合、従
来のレーザー装置は、活性媒質の物性（屈折率分布、熱
膨張係数、緩和時間等）の変化や励起用光源の発光を制
御する放電回路の回路定数（特に、蓄積コンデンサーの
等個直列抵抗）の変化ならびに共振器のＱの機械的歪に
よる変化等に起因して、レーザー出力のレベルが変動し
やすいという欠点がある。
ど種々の分野で利用されるが、それらの装置が設置され
る環境により、周囲温度が、例えば氷点下から５０℃程
度にわたって変化することがある。このような場合、従
来のレーザー装置は、活性媒質の物性（屈折率分布、熱
膨張係数、緩和時間等）の変化や励起用光源の発光を制
御する放電回路の回路定数（特に、蓄積コンデンサーの
等個直列抵抗）の変化ならびに共振器のＱの機械的歪に
よる変化等に起因して、レーザー出力のレベルが変動し
やすいという欠点がある。
上述した活性媒質の物性の変化による出力変動を抑制す
る手段として水冷等によってレーザー装置の温度を一定
の値に保持する方法があるが、こ、の方法では装置が大
型化するという欠点や、環境温度と保持したい温度との
間に差がある場合に、ウオームアツプのための時間が必
要であるという欠点がある。
る手段として水冷等によってレーザー装置の温度を一定
の値に保持する方法があるが、こ、の方法では装置が大
型化するという欠点や、環境温度と保持したい温度との
間に差がある場合に、ウオームアツプのための時間が必
要であるという欠点がある。
また、上述した放電回路における回路定数の温度変化に
対する対策は、従来、はとんど検討されておらず、特に
、放電回路を構成するコンデンサーとして、安価で小型
の電解コンデンサーを使用したレーザー装置においては
、その等個直列抵抗の温度変化により励起用光源の発光
量にかなりの変動が生じるという欠点がある。
対する対策は、従来、はとんど検討されておらず、特に
、放電回路を構成するコンデンサーとして、安価で小型
の電解コンデンサーを使用したレーザー装置においては
、その等個直列抵抗の温度変化により励起用光源の発光
量にかなりの変動が生じるという欠点がある。
本発明のレーザー装置は、
レーザー装置におけるレーザー出力レベルに影習を与え
る部分の温度もしくはその部分の雰囲気の温度を検出す
る温度センサと、前記励起用光源の発光強度を検出する
光検出器と、前記励起用光源の前発光の終了時点からの
経過時間を測定するタイマーと、前記温度センサから得
られた温度情報および光検出器から得られた励起用光源
の発光強度ならびにタイマーにより測定された経過時間
に基づいてＱスイッチングにより発生するレーザー出力
のレベルを所望の値にするのに必要な励起用光源の発光
量を算出する演算手段と、前記光検出器から得られた励
起用光源の発光強度を積分して励起用光源の実際の発光
量を出力する積分手段と、前記演算手段により算出され
た励起用光源の発光量と前記積分手段の出力とを比較し
、それらが一致したときに励起用光源の発光を停止させ
、その発光停止タイミングから所定時間経過後Ｑスイッ
チングを開始させる制御手段とを有している。
る部分の温度もしくはその部分の雰囲気の温度を検出す
る温度センサと、前記励起用光源の発光強度を検出する
光検出器と、前記励起用光源の前発光の終了時点からの
経過時間を測定するタイマーと、前記温度センサから得
られた温度情報および光検出器から得られた励起用光源
の発光強度ならびにタイマーにより測定された経過時間
に基づいてＱスイッチングにより発生するレーザー出力
のレベルを所望の値にするのに必要な励起用光源の発光
量を算出する演算手段と、前記光検出器から得られた励
起用光源の発光強度を積分して励起用光源の実際の発光
量を出力する積分手段と、前記演算手段により算出され
た励起用光源の発光量と前記積分手段の出力とを比較し
、それらが一致したときに励起用光源の発光を停止させ
、その発光停止タイミングから所定時間経過後Ｑスイッ
チングを開始させる制御手段とを有している。
１回のＱスイッチングが終了するごとに、レーザー出力
のエネルギーレベルを変動させる要因となる各部の温度
や励起用光源の発光強度が測定され、この測定結果から
経験式に基づいて所望のエネルギーレベルのレーザー出
力を得るために必要な励起用光源の発光量（発光強度を
時間で積分したもの）が算出され、実際の励起用光源の
発光量が算出された発光量と一致するまで励起用光源を
発光させて活性媒質を励起し、その後、次のＱスイッチ
ングをおこなうのでＱスイッチングにより得られる光パ
ルス１つ１つのエネルギーレベルが常に安定化される。
のエネルギーレベルを変動させる要因となる各部の温度
や励起用光源の発光強度が測定され、この測定結果から
経験式に基づいて所望のエネルギーレベルのレーザー出
力を得るために必要な励起用光源の発光量（発光強度を
時間で積分したもの）が算出され、実際の励起用光源の
発光量が算出された発光量と一致するまで励起用光源を
発光させて活性媒質を励起し、その後、次のＱスイッチ
ングをおこなうのでＱスイッチングにより得られる光パ
ルス１つ１つのエネルギーレベルが常に安定化される。
次に本発明の実施例につき図面を参照して説明する。
第１図は本発明のレーザー装置の一実施例の構成を示す
図、第２図は第１図の実施例の動作を説明するためのシ
ーケンス図である。
図、第２図は第１図の実施例の動作を説明するためのシ
ーケンス図である。
まず、本実施例のレーザー装置の構成について証明する
。出力ミラー１と全反射ミラー２とで光共振器が構成さ
れている。光共振器中には、活性媒質３および偏光子６
ならびに電気光学素子７が設けられている。活性媒質３
の励起用光源としてフラッシュランプ４が設けられてお
り、このフラッシュランプの駆動系として高電圧直流電
源８、蓄積コンデンサー（電解コンデンサー）９、サイ
リスタ１０． ＩＩからなるサイリスタパルサー２６が
設けられている。活性媒質３とフラッシュランプ４とは
、フラッシュランプ４から発せられる光を活性媒質３に
集めるための集光器５内に設けられている。また、温度
センサ１３．１４．１５は、それぞれ蓄積コンデンサー
の温度、環境温度、活性媒質３の雰囲気温度をモニター
しており、温度に応じた電圧を出力する。光検出器１６
は、集光器５に接して配置されており、フラッシュラン
プ４の発光強度に応じた電流を出力する。制御装置２５
は、所定のレーザー出力を得るために必要なフラッシュ
ランプ４の発光量を求め、これに一致するようにフラッ
シュランプ４の実際の発光量を制御するとともにＱスイ
ッチング開始タイミングを制御する装置であり、以下の
構成となっている。
。出力ミラー１と全反射ミラー２とで光共振器が構成さ
れている。光共振器中には、活性媒質３および偏光子６
ならびに電気光学素子７が設けられている。活性媒質３
の励起用光源としてフラッシュランプ４が設けられてお
り、このフラッシュランプの駆動系として高電圧直流電
源８、蓄積コンデンサー（電解コンデンサー）９、サイ
リスタ１０． ＩＩからなるサイリスタパルサー２６が
設けられている。活性媒質３とフラッシュランプ４とは
、フラッシュランプ４から発せられる光を活性媒質３に
集めるための集光器５内に設けられている。また、温度
センサ１３．１４．１５は、それぞれ蓄積コンデンサー
の温度、環境温度、活性媒質３の雰囲気温度をモニター
しており、温度に応じた電圧を出力する。光検出器１６
は、集光器５に接して配置されており、フラッシュラン
プ４の発光強度に応じた電流を出力する。制御装置２５
は、所定のレーザー出力を得るために必要なフラッシュ
ランプ４の発光量を求め、これに一致するようにフラッ
シュランプ４の実際の発光量を制御するとともにＱスイ
ッチング開始タイミングを制御する装置であり、以下の
構成となっている。
アナログスイッチ１８は、温度センサ１３．１４．１５
および光検出器１６の出力を入力して、時分割方式によ
り選択的に出力する。Ａ／Ｄ変換器２４は、アナログス
イッチ１８の出力をへ／Ｄ変換して［：ＰＩ３：ｌに送
る。ＣＰＵ２３はＡ／Ｄ変換器２４の出力と前回発光が
らの経過時間とに基づき、あらかじめ格納している経験
式を用いて、所定のレーザー出力を得るために必要なフ
ラッシュランプ４の発光量を算出する。Ｄ／八へ換器２
２は、ＣＰＵ２３が算出し出力した発光量をＤ／八へ換
する。増幅器１７は、光検出器１６の電流出力を電圧変
換して増幅する。積分１９は、増幅器１７の出力を積分
してフラッシュランプ４の実際の発光量を出力する。比
較器２０は、積分器１９およびＤハ変換器２２の出力を
比較し、それらが一致したときに出力が反転する。この
出力の反転によりサイリスタＩＩがトリガーされ、その
結果サイリスタパルサー２６が不導通となり、フラッシ
ュランプ４の発光が停止する。一方、遅延回路２１は、
比較器２０の出力を所定時間遅延させ、駆動回路１２は
、遅延回路２１が出力した反転信号でトリガーされ、電
気光学素子７を駆動しＱスイッチングをおこなわせる。
および光検出器１６の出力を入力して、時分割方式によ
り選択的に出力する。Ａ／Ｄ変換器２４は、アナログス
イッチ１８の出力をへ／Ｄ変換して［：ＰＩ３：ｌに送
る。ＣＰＵ２３はＡ／Ｄ変換器２４の出力と前回発光が
らの経過時間とに基づき、あらかじめ格納している経験
式を用いて、所定のレーザー出力を得るために必要なフ
ラッシュランプ４の発光量を算出する。Ｄ／八へ換器２
２は、ＣＰＵ２３が算出し出力した発光量をＤ／八へ換
する。増幅器１７は、光検出器１６の電流出力を電圧変
換して増幅する。積分１９は、増幅器１７の出力を積分
してフラッシュランプ４の実際の発光量を出力する。比
較器２０は、積分器１９およびＤハ変換器２２の出力を
比較し、それらが一致したときに出力が反転する。この
出力の反転によりサイリスタＩＩがトリガーされ、その
結果サイリスタパルサー２６が不導通となり、フラッシ
ュランプ４の発光が停止する。一方、遅延回路２１は、
比較器２０の出力を所定時間遅延させ、駆動回路１２は
、遅延回路２１が出力した反転信号でトリガーされ、電
気光学素子７を駆動しＱスイッチングをおこなわせる。
次に本発明の詳細な説明する。
時刻１．においてＱスイッチングがおこなわれ、レーザ
ー出力が得られるとともにフラッシュランプ４の励起が
停止されると、ＣＰＵ２３に内蔵されたタイマー（第１
図中には図示されない）が作動し、フラッシュランプ４
の次の発光時刻ｔ５までの経過時間１皿の測定を開始す
る。
ー出力が得られるとともにフラッシュランプ４の励起が
停止されると、ＣＰＵ２３に内蔵されたタイマー（第１
図中には図示されない）が作動し、フラッシュランプ４
の次の発光時刻ｔ５までの経過時間１皿の測定を開始す
る。
時刻１．から所定時間だけ遅延した時刻ｔ２において、
センサ１４により検出された環境温度（Ｃ＋とする）の
情報がアナログスイッチ１８、Ａ／Ｄ変換器２４を介し
てＣＰＵ２３に入力される。つづいて、時刻【３におい
て、温度センサ１３により検出された蓄積コンデンサー
９の温度（Ｃ２とする）の情報が、さらに時刻Ｌ４にお
いて温度センサ１５により検出された活性媒質３の雰囲
気温度（Ｃ３とする）の情報が［；ＰＩ２３に入力され
る。レーザー出力の安定化の程度をあげるためには、こ
れらの情報をＣＰｔ１２３に人力するタイミングはフラ
ッシュランプの次の発光開始時刻（タイミング） ｔｓ
に近いほどよい。しかし、発光開始時刻ｔ５は種々の条
件により変動するので、ある一定の間隔で繰返し計測し
た情報をＣＰＵ２３に人力し、発光開始時刻【、に最も
近いタイミングで入力された情報を採用するようにして
もよい。
センサ１４により検出された環境温度（Ｃ＋とする）の
情報がアナログスイッチ１８、Ａ／Ｄ変換器２４を介し
てＣＰＵ２３に入力される。つづいて、時刻【３におい
て、温度センサ１３により検出された蓄積コンデンサー
９の温度（Ｃ２とする）の情報が、さらに時刻Ｌ４にお
いて温度センサ１５により検出された活性媒質３の雰囲
気温度（Ｃ３とする）の情報が［；ＰＩ２３に入力され
る。レーザー出力の安定化の程度をあげるためには、こ
れらの情報をＣＰｔ１２３に人力するタイミングはフラ
ッシュランプの次の発光開始時刻（タイミング） ｔｓ
に近いほどよい。しかし、発光開始時刻ｔ５は種々の条
件により変動するので、ある一定の間隔で繰返し計測し
た情報をＣＰＵ２３に人力し、発光開始時刻【、に最も
近いタイミングで入力された情報を採用するようにして
もよい。
次に、時刻ｔ５において不図示のスイッチでサイリスタ
ｌＯがトリガーされて、フラッシュランプ４の発光が再
開される。このとき、電気光学素子７には四分の一波長
電圧が供給されており、全反射ミラー２で反射した光は
偏光子６を通過することができず、光共振器には１００
％の損失があたえられる。時刻ｔ５から所定時間だけ経
過した時刻ｔ６において、光検出器１６により検出され
たフラッシュランプ４の発光強度（Ｐとする）の情報が
増幅器１７、アナログスイッチ１８、へ／Ｄ変換器２４
を会してＣＰＵ２３に入力される。フラッシュランプ４
の光強度を検出するのはフラッシュランプ４の寿命によ
る発光強度の低下を補正するためである。
ｌＯがトリガーされて、フラッシュランプ４の発光が再
開される。このとき、電気光学素子７には四分の一波長
電圧が供給されており、全反射ミラー２で反射した光は
偏光子６を通過することができず、光共振器には１００
％の損失があたえられる。時刻ｔ５から所定時間だけ経
過した時刻ｔ６において、光検出器１６により検出され
たフラッシュランプ４の発光強度（Ｐとする）の情報が
増幅器１７、アナログスイッチ１８、へ／Ｄ変換器２４
を会してＣＰＵ２３に入力される。フラッシュランプ４
の光強度を検出するのはフラッシュランプ４の寿命によ
る発光強度の低下を補正するためである。
ＣＰｔ１２３は、環境温度”Ｉ、蓄積コンデンサー９の
温度Ｃ２、活性媒質３の雰囲気温度ｃ３、フラッシュラ
ンプ４の発光強度Ｐおよび内蔵タイマーにより測定され
たフラッシュランプ４の発光間隔Ｔ１を、Ｑスイッチ発
振レーザーの出力を安定化するための経験式Ｆ＝ｆ （
Ｃ，、Ｃ２゜Ｃ３，’ｐ、”ｒ、）に代入して、所定の
レーザー出力を得るために必要なフラッシュランプ４の
発光量を算出する。経験式はＣ８，Ｃ２，Ｃ３゜Ｐ、Ｔ
、をパラメーターとする関数であり、上述の式において
、Ｆはフラッシュランプ４の発光量をあられす。この算
出結果は、デジタル信号としてＣＰＵ２３から送出され
、Ｄハ変換器２２によりアナグ信号に変換され、比較器
２０に基準値として入力される。比較器２０は、この基
準値と光検出器１６、増幅器１７、積分器１９を介して
得られた実際のフラッシュランプの発光量とを比較し、
これらが一致したときにその出力を反転させる。この出
力の反転により、サイリスタ１１がトリガーされてサイ
リスタパルサー２６が不導通となり、フラッシュランプ
４への電流供給が停止される（時刻ｈ）。
温度Ｃ２、活性媒質３の雰囲気温度ｃ３、フラッシュラ
ンプ４の発光強度Ｐおよび内蔵タイマーにより測定され
たフラッシュランプ４の発光間隔Ｔ１を、Ｑスイッチ発
振レーザーの出力を安定化するための経験式Ｆ＝ｆ （
Ｃ，、Ｃ２゜Ｃ３，’ｐ、”ｒ、）に代入して、所定の
レーザー出力を得るために必要なフラッシュランプ４の
発光量を算出する。経験式はＣ８，Ｃ２，Ｃ３゜Ｐ、Ｔ
、をパラメーターとする関数であり、上述の式において
、Ｆはフラッシュランプ４の発光量をあられす。この算
出結果は、デジタル信号としてＣＰＵ２３から送出され
、Ｄハ変換器２２によりアナグ信号に変換され、比較器
２０に基準値として入力される。比較器２０は、この基
準値と光検出器１６、増幅器１７、積分器１９を介して
得られた実際のフラッシュランプの発光量とを比較し、
これらが一致したときにその出力を反転させる。この出
力の反転により、サイリスタ１１がトリガーされてサイ
リスタパルサー２６が不導通となり、フラッシュランプ
４への電流供給が停止される（時刻ｈ）。
一方、反転した比較器２０の出力は、遅延回路２１によ
り所定時間遅延された後、電気光学素子７の駆動回路１
２をトリガーして電気光学素子７への四分の一波長電圧
の供給を停止させる。この結果、電気光学素子７による
損失が零となり、光共振器のＱが急激に高まり、Ｑスイ
ッチングがおこなわれる（時刻ｔｅ）。
り所定時間遅延された後、電気光学素子７の駆動回路１
２をトリガーして電気光学素子７への四分の一波長電圧
の供給を停止させる。この結果、電気光学素子７による
損失が零となり、光共振器のＱが急激に高まり、Ｑスイ
ッチングがおこなわれる（時刻ｔｅ）。
本実施例のレーザー装置は、自然冷却方式の簡易型であ
り、かつＭＭコンデンサー９として回路定数の温度によ
る変化が大きい電解コンデンサーを使用しているにもか
かわらず、上述した出力安定化機構を有しているため、
レーザー出力のレベルは環境条件に左右されず常に安定
化される。
り、かつＭＭコンデンサー９として回路定数の温度によ
る変化が大きい電解コンデンサーを使用しているにもか
かわらず、上述した出力安定化機構を有しているため、
レーザー出力のレベルは環境条件に左右されず常に安定
化される。
以上説明したように本発明は、レーザー装置の各部の温
度およびフラッシュランプの発光強度を検出し、この検
出結果に基づいて制御装置によりフラッシュランプの実
際の発光量をならびにＱスイッチングタイミングを制御
することにより、環境条件の変化によるレーザー出力の
変動を防止し、出力を安定化するという効果がある。
度およびフラッシュランプの発光強度を検出し、この検
出結果に基づいて制御装置によりフラッシュランプの実
際の発光量をならびにＱスイッチングタイミングを制御
することにより、環境条件の変化によるレーザー出力の
変動を防止し、出力を安定化するという効果がある。
第１図は本発明のレーザー装置の一実施例の構成を示す
図、第２図は第１図のレーザー装置の動作シーケンスを
説明するための図である。 １・・・出力ミラー、 ２・・・全反射ミラー、３・
・・活性媒質、 ４・・・フラッシュランプ、５
・・・集光器、 ６・・・偏光子、７・・・電
気光学素子、 ８・・・高電圧直流電源、９・・・蓄積
コンデンサー、 １０、１１−軸サイリスタ、 １２・・・駆動回路、 １３、１４．１５−・・温度センサ、 １６・・・光検出器 ＋ ７−・・増幅器、＋
８−・・アナログスイッチ、 １９・・・積分器、 ２０−・・比較器、２１・
・・遅延回路、 ２２・−Ｄ／Ａ変換器、２３−Ｃ
ＰＵ 、 ２４−・・へ／Ｄ変換器、２５・
・・制御装置、 ２６・・・サイリスタパルサー。
図、第２図は第１図のレーザー装置の動作シーケンスを
説明するための図である。 １・・・出力ミラー、 ２・・・全反射ミラー、３・
・・活性媒質、 ４・・・フラッシュランプ、５
・・・集光器、 ６・・・偏光子、７・・・電
気光学素子、 ８・・・高電圧直流電源、９・・・蓄積
コンデンサー、 １０、１１−軸サイリスタ、 １２・・・駆動回路、 １３、１４．１５−・・温度センサ、 １６・・・光検出器 ＋ ７−・・増幅器、＋
８−・・アナログスイッチ、 １９・・・積分器、 ２０−・・比較器、２１・
・・遅延回路、 ２２・−Ｄ／Ａ変換器、２３−Ｃ
ＰＵ 、 ２４−・・へ／Ｄ変換器、２５・
・・制御装置、 ２６・・・サイリスタパルサー。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 レーザー活性媒質および該活性媒質の励起用光源ならび
に電気光学素子とを有し、前記電気光学素子をＱスイッ
チ素子として用いてＱスイッチ発振をおこなうレーザー
装置において、 レーザー装置におけるレーザー出力レベルに影響を与え
る部分の温度もしくはその部分の雰囲気の温度を検出す
る温度センサと、 前記励起用光源の発光強度を検出する光検出器と、 前記励起用光源の前発光の終了時点からの経過時間を測
定するタイマーと、 前記温度センサから得られた温度情報および光検出器か
ら得られた励起用光源の発光強度ならびにタイマーによ
り測定された経過時間に基づいて、Ｑスイッチングによ
り発生するレーザー出力のレベルを所望の値にするのに
必要な励起用光源の発光量を算出する演算手段と、 前記光検出器から得られた励起用光源の発光強度を積分
して励起用光源の実際の発光量を出力する積分手段と、 前記演算手段により算出された励起用光源の発光量と前
記積分手段の出力とを比較し、それらが一致したときに
励起用光源の発光を停止させ、その発光停止タイミング
から所定時間経過後Ｑスイッチングを開始させる制御手
段を有することを特徴とするレーザー装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4290687A JPS63211782A (ja) | 1987-02-27 | 1987-02-27 | レ−ザ−装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4290687A JPS63211782A (ja) | 1987-02-27 | 1987-02-27 | レ−ザ−装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63211782A true JPS63211782A (ja) | 1988-09-02 |
Family
ID=12649074
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4290687A Pending JPS63211782A (ja) | 1987-02-27 | 1987-02-27 | レ−ザ−装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63211782A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0707362A1 (en) * | 1994-09-15 | 1996-04-17 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson | Device for controlling of flashlight |
| EP0729734A2 (en) * | 1995-02-28 | 1996-09-04 | Nidek Co., Ltd | Apparatus for laser treatment |
| JP2007035696A (ja) * | 2005-07-22 | 2007-02-08 | Shibaura Mechatronics Corp | ファイバレーザ装置 |
| JP2014184023A (ja) * | 2013-03-25 | 2014-10-02 | Fujifilm Corp | 光音響計測装置及びレーザ装置 |
-
1987
- 1987-02-27 JP JP4290687A patent/JPS63211782A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0707362A1 (en) * | 1994-09-15 | 1996-04-17 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson | Device for controlling of flashlight |
| EP0729734A2 (en) * | 1995-02-28 | 1996-09-04 | Nidek Co., Ltd | Apparatus for laser treatment |
| EP0729734A3 (en) * | 1995-02-28 | 1997-10-29 | Nidek Kk | Laser treatment device |
| JP2007035696A (ja) * | 2005-07-22 | 2007-02-08 | Shibaura Mechatronics Corp | ファイバレーザ装置 |
| JP4708109B2 (ja) * | 2005-07-22 | 2011-06-22 | 芝浦メカトロニクス株式会社 | ファイバレーザ装置 |
| JP2014184023A (ja) * | 2013-03-25 | 2014-10-02 | Fujifilm Corp | 光音響計測装置及びレーザ装置 |
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