JPH08204312A - チップオンボード基板の製造方法 - Google Patents

チップオンボード基板の製造方法

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JPH08204312A
JPH08204312A JP1357495A JP1357495A JPH08204312A JP H08204312 A JPH08204312 A JP H08204312A JP 1357495 A JP1357495 A JP 1357495A JP 1357495 A JP1357495 A JP 1357495A JP H08204312 A JPH08204312 A JP H08204312A
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JP
Japan
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layer
plating
chip
pattern forming
plating resist
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Withdrawn
Application number
JP1357495A
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English (en)
Inventor
Hideo Nakanishi
秀雄 中西
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Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 エッチングの際に発生するオーバーハングを
防止して、電気的信頼性に優れるチップオンボード基板
の製造方法を提供する。 【構成】 基板1の表面に形成された導体層2の表面
に、最上層に金メッキ層4aを有したメッキ層4を形成
し、所定の導体回路6を形成する半導体チップを直接搭
載するためのチップオンボード基板の製造方法におい
て、パターン形成部3aにメッキ層4を形成した後に、
メッキレジスト3を剥離し、次いで、前記メッキ層4を
含んだ導体層2の表面に、前記メッキレジスト3のパタ
ーン形成部3aより広く、かつ包囲する第2のパターン
形成部3bを備えた第2のメッキレジスト3を形成し
て、前記第2のパターン形成部3bにメッキ層4と導体
層2とを覆う、メッキ層4とは異なる種類の金属層5を
形成した後に、第2のメッキレジスト3を剥離し、次い
で、エッチングを行った後、前記金属層5剥離する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、チップオンボード(C
OB)基板の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、電子機器の小型化、軽量化、高密
度実装化の傾向がめざましく、それに伴い、チップオン
ボード(COB)基板で、精度良く導体回路を形成する
製造方法が望まれており、例えば、サブトラクティブ法
のパターンメッキ法等により、導体回路が形成されてい
る。この前記チップオンボード基板の一例を、サブトラ
クティブ法のパターンメッキ法により形成されるプロセ
スを、図2に基づいて説明する。図2(a)に示すによ
うに、例えば、熱硬化性樹脂基板、熱可塑性樹脂基板、
セラミック基板等の基板10の全面上に無電解銅メッキ
及び電解銅メッキ等により、銅層等の導体層20を形成
する。次に、図2(b)に示すように、導体回路層60
が形成される部分のみが露出するように、パターン形成
部30aを備えたメッキレジスト30でマスクする。そ
の後、電気メッキで図2(c)に示すように、最上層に
金メッキ層40aを有するメッキ層40を形成する。電
気メッキ終了後、図2(d)に示すように、メッキレジ
スト30を剥離し、図2(e)に示すように、露出した
銅層等の導体層20をエッチングにより除去することに
より、導体層20とメッキ層40とからなる導体回路層
60が形成される。
【0003】ところが、前記のようなパターンメッキ法
では、図2(e)に示すように、導体層20の側縁部が
エッチングされて、導体層20の両側方にメッキ層40
が張り出す、いわゆる、オーバーハング40hが形成さ
れる。このオーバーハング40hに機械的な力が作用す
ると、導体層20の側縁に沿って剪断され易く、この剪
断されたオーバーハング40hによって隣接するパター
ン同志が短絡し、電気的信頼性が低くなるという問題が
あった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、前記の事実
に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、エ
ッチングの際に発生するオーバーハングを防止して、電
気的信頼性に優れるチップオンボード基板の製造方法を
提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1に係る
チップオンボード基板の製造方法は、基板1の表面に形
成された導体層2の表面にメッキレジスト3を形成し、
このメッキレジスト3のパターン形成部3aに最上層に
金メッキ層4aを有したメッキ層4を形成し、次いで、
前記メッキレジスト3を剥離後、エッチングにより、所
定の導体回路6を形成する半導体チップを直接搭載する
ためのチップオンボード基板の製造方法において、前記
パターン形成部3aにメッキ層4を形成した後に、メッ
キレジスト3を剥離し、次いで、前記メッキ層4を含ん
だ導体層2の表面に、前記メッキレジスト3のパターン
形成部3aより広く、かつ包囲する第2のパターン形成
部3bを備えた第2のメッキレジスト3を形成して、前
記第2のパターン形成部3bにメッキ層4と導体層2と
を覆う、メッキ層4とは異なる種類の金属層5を形成し
た後に、第2のメッキレジスト3を剥離し、次いで、エ
ッチングを行った後、前記金属層5剥離することを特徴
とする。
【0006】本発明の請求項2に係るチップオンボード
基板の製造方法は、前記メッキ層4の端面4sと、この
端面4sと対向する第2のメッキレジスト3の端面3s
との距離が導体層2の厚みの2/3以上であることを特
徴とする。
【0007】本発明の請求項3に係るチップオンボード
基板の製造方法は、前記金属層5が半田メッキであるこ
とを特徴とする。
【0008】本発明の請求項4に係るチップオンボード
基板の製造方法は、前記メッキレジスト3がドライフィ
ルムであることを特徴とする。
【0009】
【作用】本発明の請求項1乃至請求項4に係るチップオ
ンボード基板の製造方法では、ドライフィルム等のメッ
キレジスト3のパターン形成部3aに最上層に金メッキ
層4aを有したメッキ層4を形成した後に、メッキレジ
スト3を剥離し、次いで、前記メッキ層4を含んだ銅層
等の導体層2の表面に、前記メッキ層4の端面4sと、
この端面4sと対向するドライフィルム等の第2のメッ
キレジスト3の端面3sとの距離が、前記メッキレジス
ト3のパターン形成部3aより広く、かつ包囲する第2
のパターン形成部3bを備えた第2のメッキレジスト3
を形成して、前記第2のパターン形成部3bにメッキ層
4と導体層2とを覆う、メッキ層4とは異なる種類の半
田メッキ等の金属層5を形成した後に、第2のメッキレ
ジスト3を剥離し、次いで、エッチングを行った後、前
記金属層5剥離するので、金属層5がメッキ層4の両端
の外側まで覆っているため、導体層2の側縁部がエッチ
ングされて、導体層2の両側方に金属層5が張り出す、
いわゆる、オーバーハングが形成されるが、メッキ層4
がオーバーハングになるまでには至り難い。
【0010】
【実施例】以下、本発明を実施例によって、具体的に説
明する。
【0011】本発明で用いる図1に示す基板1として
は、例えば、アルミナ系基板、窒化アルミニウム系基
板、炭化ケイ素系基板若しくはガラス系基板等のセラミ
ック基板、熱硬化性樹脂基板又は熱可塑性樹脂基板等が
用いられるが、限定されるものではない。図1(a)に
示すにように、例えば、セラミック基板等の基板1の全
面上に無電解銅メッキ及び電気銅メッキ等により、銅層
等の導体層2を形成する。次に、図1(b)に示すよう
に、導体回路層6が形成される部分のみが露出するよう
に、パターン形成部3aを備えたメッキレジスト3でマ
スクする。その後、電気メッキで図1(c)に示すよう
に、最上層に金メッキ層4aを有したメッキ層4を形成
する。金メッキ層4aの下地として例えば、ニッケルメ
ッキ層を形成してもよい。電気メッキ終了後、図1
(d)に示すように、メッキレジスト3を剥離する。次
いで、図1(e)に示すように、前記メッキ層4を含ん
だ導体層2の表面に、メッキレジスト3のパターン形成
部3aより広く、かつ包囲する第2のパターン形成部3
bを備えた第2のメッキレジスト3を形成する。メッキ
層4の端面4sと、この端面4sと対向する第2のメッ
キレジスト3の端面3sとの距離が導体層2の厚みの2
/3以上であることが好ましい。図1(f)に示すよう
に、前記第2のパターン形成部3bにメッキ層4と導体
層2とを覆うメッキ層4とは異なる種類の、例えば、半
田メッキ等の金属層5を形成する。この金属層5は、メ
ッキ層4の両端から、それぞれ、導体層2の厚みの2/
3以上外側まで覆っているのが好ましい。図1(g)に
示すように、第2のメッキレジスト3を剥離し、次い
で、図1(h)に示すように、導体層2をエッチングす
る。金属層5がメッキ層4の両端の外側まで覆っている
ため、導体層2の側縁部がエッチングされて、導体層2
の両側方に金属層5が張り出す、いわゆる、オーバーハ
ングが形成されるが、メッキ層4の両端は、金属層5の
両端の内側に位置するので、メッキ層4がオーバーハン
グになるまでには至り難い。すなわち、エッチングを行
った後、図1(i)に示すように、半田メッキ等の金属
層5を剥離して、エッチングの際に発生するオーバーハ
ングを防止した、電気的信頼性に優れるチップオンボー
ド基板が得られる。
【0012】
【発明の効果】本発明の請求項1乃至請求項4に係るチ
ップオンボード基板の製造方法によると、メッキ層とは
異なる種類の半田メッキ等の金属層を形成した後に、第
2のメッキレジストを剥離し、次いで、エッチングを行
った後、前記金属層剥離するので、金属層がメッキ層の
両端の外側まで覆っているため、導体層の側縁部がエッ
チングされて、導体層の両側方に金属層が張り出す、い
わゆる、オーバーハングが形成されるが、メッキ層がオ
ーバーハングになるまでには至り難いので、金属層を剥
離することにより、エッチングの際に発生するオーバー
ハングを防止した、電気的信頼性に優れるチップオンボ
ード基板が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例に係るセラミックプリント配線
板の製造方法の説明断面図である。
【図2】従来例に係るセラミックプリント配線板の製造
方法の説明断面図である。
【符号の説明】
1 基板 2 導体層 3 メッキレジスト 3a パターン形成部 3b 第2のパターン形成部 3s メッキレジストの端面 4 メッキ層 4a 金メッキ層 4s メッキ層の端面 5 金属層 6 導体回路

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板(1)の表面に形成された導体層
    (2)の表面にメッキレジスト(3)を形成し、このメ
    ッキレジスト(3)のパターン形成部(3a)に最上層
    に金メッキ層(4a)を有したメッキ層(4)を形成
    し、次いで、前記メッキレジスト(3)を剥離後、エッ
    チングにより、所定の導体回路(6)を形成する半導体
    チップを直接搭載するためのチップオンボード基板の製
    造方法において、前記パターン形成部(3a)にメッキ
    層(4)を形成した後に、メッキレジスト(3)を剥離
    し、次いで、前記メッキ層(4)を含んだ導体層(2)
    の表面に、前記メッキレジスト(3)のパターン形成部
    (3a)より広く、かつ包囲する第2のパターン形成部
    (3b)を備えた第2のメッキレジスト(3)を形成し
    て、前記第2のパターン形成部(3b)にメッキ層
    (4)と導体層(2)とを覆う、メッキ層(4)とは異
    なる種類の金属層(5)を形成した後に、第2のメッキ
    レジスト(3)を剥離し、次いで、エッチングを行った
    後、前記金属層(5)剥離することを特徴とするチップ
    オンボード基板の製造方法。
  2. 【請求項2】 前記メッキ層(4)の端面(4s)と、
    この端面(4s)と対向する第2のメッキレジスト
    (3)の端面(3s)との距離が導体層(2)の厚みの
    2/3以上であることを特徴とする請求項1記載のチッ
    プオンボード基板の製造方法。
  3. 【請求項3】 前記金属層(5)が半田メッキであるこ
    とを特徴とする請求項1又は請求項2記載のチップオン
    ボード基板の製造方法。
  4. 【請求項4】 前記メッキレジスト(3)がドライフィ
    ルムであることを特徴とする請求項1乃至請求項3記載
    のチップオンボード基板の製造方法。
JP1357495A 1995-01-31 1995-01-31 チップオンボード基板の製造方法 Withdrawn JPH08204312A (ja)

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