JPH08201452A - 位相差測定装置 - Google Patents

位相差測定装置

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JPH08201452A
JPH08201452A JP3449195A JP3449195A JPH08201452A JP H08201452 A JPH08201452 A JP H08201452A JP 3449195 A JP3449195 A JP 3449195A JP 3449195 A JP3449195 A JP 3449195A JP H08201452 A JPH08201452 A JP H08201452A
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JP
Japan
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phase
phase difference
signal
input signals
circuit
Prior art date
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Pending
Application number
JP3449195A
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English (en)
Inventor
Hisao Takahashi
久雄 高橋
Yasushi Sato
寧 佐藤
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Tektronix Japan Ltd
Original Assignee
Sony Tektronix Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】動作が確定的であり、信頼性の高い位相測定装
置を提供すること。 【構成】第1及び第2入力信号の位相差が所定の不確定
領域にあるか否かを検出する検出回路24と、上記第1
及び第2入力信号の位相差が上記不確定領域にあること
を検出したとき、上記第1及び第2入力信号の何れか一
方を所定位相角だけシフトする位相シフト回路20、2
2、30と、上記第1及び第2入力信号において上記位
相シフト回路によって位相がシフトされた一方の信号と
位相がシフトされない他方の信号との位相差を検出する
位相差検出回路10とを具え、該位相差検出回路の検出
結果と上記所定位相角とから上記第1及び第2入力信号
間の位相差を求めることを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、位相差測定装置、特に
高精度且つ広範囲に位相差を測定するのに好適な位相差
測定装置に関する。
【0002】
【従来技術】図3は、従来の位相差測定回路の構成を示
すブロック図である。この回路は、入力端子2及び3に
夫々入力信号A及びBを受け、これらの入力信号はスイ
ッチ4を介してパルス成形用の比較増幅器8及び9に供
給され、矩形状のパルス信号に成形される。比較増幅器
8及び9の出力パルス信号は、位相比較器10に夫々入
力される。この位相比較器10は、例えば、モトローラ
社製のMC4044型位相比較ICで良い。この位相比
較器10は、第1入力Rが第2入力Vよりも位相が進ん
でいる場合に出力端Uに出力パルスを発生し、第2入力
Dには出力パルスを発生しない。また、逆に第2入力V
が第1入力Rよりも位相が進んでいる場合には、出力端
Dから出力パルスを発生し、出力端Uの出力パルスは停
止する。これら出力端U及びDの出力パルスをDC変換
器12及び13で直流電圧に変換し、減算器14により
直流電圧Voutを発生する。この電位電圧は、アナログ
・デジタル変換器16によりデジタル信号に変換され、
μP(マイクロ・プロセッサ)18に送られる。なお、
校正信号発生器6は、既知の位相差の校正信号を発生
し、スイッチ4を介してこの校正信号を回路に供給する
ことにより、回路全体の伝達関数を求めるためのもので
ある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】減算器14の直流出力
電圧Voutと位相比較器10の2つの入力信号の位相差
ΔΦとの関係を表したのが図4である。理論的には位相
差が−2πから+2πまでの範囲内で位相差ΔΦと出力
電圧Voutとの関係は直線的になっている。しかし、現
実には、位相差ΔΦが−2π、0、+2πの付近で不確
定になる領域が発生し、これは特に、入力信号の周波数
が高くなると顕著になる。この理由は、位相比較器10
が多数の論理ゲートで構成された回路であり、各ゲート
間の信号伝播時間の微妙なずれや、各ゲートのノイズマ
ージン領域での比較動作により理想的な伝達関数から外
れることが原因である。すなわち、図4に示すように、
これらの不確定領域では、位相比較器10の2つの出力
端U及びDの両方に不確定に出力パルスが発生する現象
が生じる。これに対して、図4のそれ以外の領域(確定
領域)では、位相比較器10は、出力端U又はDの何れ
か一方のみからしか出力パルスを発生しないことから動
作は確定的であり、測定精度も劣化しない。
【0004】本発明の目的は、動作が確定的であり、信
頼性の高い位相測定装置を提供することである。
【0005】
【課題を解決する為の手段】本発明の位相測定装置は、
第1及び第2入力信号の位相差が所定の不確定領域にあ
るか否かを検出する検出回路と、上記第1及び第2入力
信号の位相差が上記不確定領域にあることを検出したと
き、上記第1及び第2入力信号の何れか一方を所定位相
角だけシフトする位相シフト回路と、上記第1及び第2
入力信号において上記位相シフト回路によって位相がシ
フトされた一方の信号と位相がシフトされない他方の信
号との位相差を検出する位相差検出回路とを具え、該位
相差検出回路の検出結果と上記所定位相角とから上記第
1及び第2入力信号間の位相差を求めることを特徴とす
る。
【0006】
【実施例】図1は、本発明の一実施例の構成を示すブロ
ック図である。図3の従来例の要素と同一のものには同
一の参照番号を付している。また、図2は、図1の各部
のパルス信号a〜fのタイミング波形図の一例を表して
いる。図1では、比較増幅器8の出力パルスaがPLL
発振器20に入力され、このPLL発振器20から例え
ば、36倍の周波数を有する同位相の出力パルスbが出
力される。よって、この実施例の場合には、パルス信号
bの一周期は、パルス信号aの位相角の10度分の期間
に相当する。もし、PLL発振器20が360倍の周波
数のパルス信号を発生するように構成すれば、パルス信
号bの一周期分はパルス信号aの位相角の1度分の期間
に相当する。
【0007】一方、比較増幅器9の出力パルスcは、ア
ンド・ゲート26の一方の入力端に反転入力され、この
アンド・ゲート26の他方の入力端には、パルス信号b
が供給される。この結果、アンド・ゲート26の出力d
は、パルス信号cの低論理レベルの期間にゲート26を
通過するパルス信号bとなる。カウンタ22は、パルス
信号aによりリセットされ、パルス信号bを計数するプ
ログラマブル・カウンタであり、μP18によりカウン
ト値がプリッセットされる。カウンタ24は、パルス信
号aによりリセットされ、パルス信号dを計数する。ラ
ッチ28は、カウンタ24のカウント値をラッチし、こ
のラッチした値がμP18に読み込まれる。カウンタ2
2のRC(リップル・キャリー)出力パルスeは、Dフ
リップ・フロップ30のクロック入力端に供給される。
フリップ・フロップ30のD入力端には、高論理レベル
(HI)が印加されており、パルス信号aがリセット入
力端Rに入力される。このフリップ・フロップ30の出
力パルスは、パルス信号eに同期した信号であり、分周
器32により1/2の周波数に分周され、デューティー
比が50%の信号に成形される。なお、比較増幅器9の
出力パルスcも同様に分周器33に入力され、1/2の
周波数に分周され、デューティー比が50%となる。
【0008】図2において、パルス信号a(入力信号A
に対応)の立ち上がりエッジに応答してPLL発振器2
0は入力信号の周波数の整数倍、例えば36倍の周波数
の出力パルスbを出力する。なお、もっと精度を高めた
い場合には、例えば360倍の周波数の出力パルスを発
生するようにしても良い。パルス信号c(入力信号Bに
対応)の位相はパルス信号aの位相と比較的接近してお
り、両信号間の位相差は略10度以内である。このよう
に両者の位相差が10度以内の場合には、位相測定の動
作が不確定になる可能性が高い。よって、本発明では入
力信号のAの位相を所定位相角だけシフトすることによ
り位相測定動作が不確定になるのを防止している。この
所定位相角のシフトをするための回路がPLL発振器2
0、プログラマブル・カウンタ22及びフリップ・フロ
ップ30である。他方、入力信号A及びBの位相差が所
定の不確定領域にあるか否かを検出する検出回路を構成
するのがアンド・ゲート26及びカウンタ24である。
【0009】上述のように、アンド・ゲート26は、カ
ウンタ24がパルス信号aの立ち上がりエッジでリセッ
トされ、かつパルス信号cの低論理レベルの期間中のみ
パルス信号bを通過させるので、カウンタ24は、パル
ス信号aとcとの間の位相差に対応する期間中のパルス
信号bをカウントする。このカウンタ24のカウント値
が1以下の場合、又は35以上の場合には、パルス信号
aとパルス信号cとの間の位相差が0付近又は2π付近
にあることとなり、不確定動作をする可能性がある。μ
Pは、ラッチ28からのデータにより不確定動作の危険
があることを検知すると、プリセット・データをカウン
タ22に供給し、所定のプリセットを実行する。このプ
リセットにより、カウンタ22は、所定カウント値毎に
パルス信号eを出力することになる。要するにプリッセ
ット・データを選択することにより、図2の信号aの立
ち上がりエッジから信号eの立ち上がりエッジまでの期
間Tsを設定することができる。なお、図2では、各信
号が繰り返し信号であることを前提としているので、説
明の便宜上、時間軸を等価時間軸としていることに留意
されたい。すなわち、ラッチ28のデータをμP18が
読み取ってプリセット・データを設定してカウンタ22
がカウントする動作に必要な時間が経過した後の1サイ
クル期間中の波形を図2は示している。カウンタ22の
出力パルスeに同期してパルス信号fがフリップ・フロ
ップ30から出力される。このパルス信号fは分周器3
2で分周され、パルス信号cも分周器33で分周され
る。これらの信号の位相差が従来と同様の回路により測
定される。したがって実際に測定される位相差の期間
は、図2のパルス信号cの立ち上がりエッジからパルス
信号fの立ち上がりエッジまでの期間Taに相当する期
間である。上述のように、期間Tsが所定の既知の時間
なので、実際の測定期間Taの値と所定の位相角に対応
するTsの値とからパルス信号aとcとの間の位相差が
正確に計算できる。図2の例では、Tsの期間は、パル
ス信号aの位相角で100度に相当する。これだけ位相
角をシフトすれば図4に示すように、不確定領域から確
定領域に位相がシフトされるので、確定した位相角の測
定が行えることとなる。
【0010】以上、本発明の好適実施例を説明したが、
本発明は、上述の実施例のみに限定されるものではな
く、本発明の要旨から逸脱することなく、種々の変形及
び修正を加え得ることは当業者には明らかである。
【0011】
【発明の効果】本発明の位相測定装置は、所定の位相角
だけ入力信号の位相をシフトすることにより不確定動作
を防止できるので、極めて信頼性の高い位相差測定を行
える。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。
【図2】図1の装置の動作を説明するためのタイミング
波形図である。
【図3】従来の位相測定器の構成例を示すブロック図で
ある。
【図4】図3の位相測定器の伝達関数特性を説明するた
めの特性図である。
【符号の説明】
2 第1入力端子 3 第2入力端子 4 スイッチ 8 比較増幅器 9 比較増幅器 10 位相比較器 12 DC変換器 13 DC変換器 14 減算器 16 アナログ・デジタル変換器 18 マイクロ・プロセッサ 20 PLL発振器 22 プログラマブル・カウンタ 24 カウンタ 26 アンド・ゲート 28 ラッチ 30 フリップ・フロップ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1及び第2入力信号の位相差が所定の
    不確定領域にあるか否かを検出する検出回路と、 上記第1及び第2入力信号の位相差が上記不確定領域に
    あることを検出したとき、上記第1及び第2入力信号の
    何れか一方を所定位相角だけシフトする位相シフト回路
    と、 上記第1及び第2入力信号において上記位相シフト回路
    によって位相がシフトされた一方の信号と位相がシフト
    されない他方の信号との位相差を検出する位相差検出回
    路とを具え、 該位相差検出回路の検出結果と上記所定位相角とから上
    記第1及び第2入力信号間の位相差を求めることを特徴
    とする位相差測定装置。
  2. 【請求項2】 上記位相シフト回路は、上記第1及び第
    2入力信号の何れか一方の信号に対して位相が一致し且
    つ周波数が所定整数倍の位相ロック信号を発生する位相
    ロック発振回路と、 上記一方の信号によりリセットされ、上記位相ロック信
    号をカウントするプログラマブル・カウンタと、 該プログラマブル・カウンタの出力に同期した出力パル
    スを発生するフリップ・フロップとを含むことを特徴と
    する請求項1記載の位相差測定装置。
  3. 【請求項3】 上記検出回路は、上記第1及び第2入力
    信号の何れか一方の立ち上がりエッジから他方の立ち上
    がりエッジまでの時間差を測定するカウンタ回路を含む
    ことを特徴とする請求項1記載の位相差測定装置。
JP3449195A 1995-01-31 1995-01-31 位相差測定装置 Pending JPH08201452A (ja)

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JPH08201452A true JPH08201452A (ja) 1996-08-09

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ID=12415722

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10244413B4 (de) * 2001-09-25 2005-09-01 Ando Electric Co., Ltd. Vorrichtung und Verfahren zur Messung einer Phasenverschiebungskennlinie

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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