JPH08191810A - Mrイメージング方法およびmri装置 - Google Patents
Mrイメージング方法およびmri装置Info
- Publication number
- JPH08191810A JPH08191810A JP7005034A JP503495A JPH08191810A JP H08191810 A JPH08191810 A JP H08191810A JP 7005034 A JP7005034 A JP 7005034A JP 503495 A JP503495 A JP 503495A JP H08191810 A JPH08191810 A JP H08191810A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pulse
- gradient
- slice
- slice gradient
- magnetic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 磁気標識がスライス方向に位置ずれすること
を防止する。 【構成】 第1のRFパルスR1とスライス勾配s1を
印加する。次に、磁気標識用勾配gを印加する。次に、
第2のRFパルスR2とスライス勾配s2とを印加す
る。その後、例えばGRASS法やSE法などのデータ
収集用パルス系列DAQを実行し、イメージング用デー
タを収集する。上記スライス勾配s2は、その符号をス
ライス勾配s1に対して反転させ、第1のRFパルスR
1の終了時t1から第2のRFパルスR2の開始時t2
までの期間に入り込むスライス勾配部分a,bが互いに
打ち消すようにする。また、第1のRFパルスR1の開
始時t0から終了時t1までの期間のスライス勾配Gs
の時間積分値と第2のRFパルスR2の開始時t2から
終了時t3までのスライス勾配Gsの時間積分値の和が
実質的に“0”となるようにする。 【効果】 スライス同士を比較しての分析を行い易くな
る。
を防止する。 【構成】 第1のRFパルスR1とスライス勾配s1を
印加する。次に、磁気標識用勾配gを印加する。次に、
第2のRFパルスR2とスライス勾配s2とを印加す
る。その後、例えばGRASS法やSE法などのデータ
収集用パルス系列DAQを実行し、イメージング用デー
タを収集する。上記スライス勾配s2は、その符号をス
ライス勾配s1に対して反転させ、第1のRFパルスR
1の終了時t1から第2のRFパルスR2の開始時t2
までの期間に入り込むスライス勾配部分a,bが互いに
打ち消すようにする。また、第1のRFパルスR1の開
始時t0から終了時t1までの期間のスライス勾配Gs
の時間積分値と第2のRFパルスR2の開始時t2から
終了時t3までのスライス勾配Gsの時間積分値の和が
実質的に“0”となるようにする。 【効果】 スライス同士を比較しての分析を行い易くな
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、MR(Magnetic R
esonance)イメージング方法およびMRI(Magnetic
Resonance Imaging)装置に関する。さらに詳しくは、
SPAMM(SPAtial Modulation of Magnetizati
on)法によりタッギング(Tagging)を行うMRイメー
ジング方法およびMRI装置に関する。
esonance)イメージング方法およびMRI(Magnetic
Resonance Imaging)装置に関する。さらに詳しくは、
SPAMM(SPAtial Modulation of Magnetizati
on)法によりタッギング(Tagging)を行うMRイメー
ジング方法およびMRI装置に関する。
【0002】
【従来の技術】MRI画像上に磁気標識を施すことによ
り、流れの方向や生体の動きを画像化したり、磁化率の
違いによる画像の歪みを可視化する手法であるタッギン
グ法については、例えば「Segment Tagging Sequenc
e の開発、大山泰その他、第21回日本磁気共鳴医学会
講演抄録集、135、1993、p.229」や「臨床画像SPECIA
L:MRI診断の基礎知識Q&A、pp.189〜192、竹内榮
一 その他編集、メジカルビュー社発行」や「米国特許
第5,111,820号」に記載されている。
り、流れの方向や生体の動きを画像化したり、磁化率の
違いによる画像の歪みを可視化する手法であるタッギン
グ法については、例えば「Segment Tagging Sequenc
e の開発、大山泰その他、第21回日本磁気共鳴医学会
講演抄録集、135、1993、p.229」や「臨床画像SPECIA
L:MRI診断の基礎知識Q&A、pp.189〜192、竹内榮
一 その他編集、メジカルビュー社発行」や「米国特許
第5,111,820号」に記載されている。
【0003】図6に、SPAMM法によりタッギングを
行う場合の従来のパルスシーケンスの一例を示す。この
パルスシーケンスWでは、まず、第1のRFパルスR1
とスライス勾配s1を印加する。次に、磁気標識用勾配
gを印加する。次に、第2のRFパルスR2とスライス
勾配S2とを印加する。その後、例えばGRASS(Gr
adient Recalled Acquisition in the Steady State)
法やSE(Spin Echo)法などのデータ収集用パルス系
列DAQを実行し、イメージング用データを収集する。
図7に、上記パルスシーケンスWにより得られるMRI
画像Iを模式的に示す。この例では、磁気標識Tが斜線
状に施されているが、磁気標識Tを格子状に施すことも
可能である。なお、タッギングを行うためにデータ収集
用パルス系列DAQの前に印加するパルス系列をSPA
MM用パルスという(サンドイッチパルスといわれる場
合もある)。
行う場合の従来のパルスシーケンスの一例を示す。この
パルスシーケンスWでは、まず、第1のRFパルスR1
とスライス勾配s1を印加する。次に、磁気標識用勾配
gを印加する。次に、第2のRFパルスR2とスライス
勾配S2とを印加する。その後、例えばGRASS(Gr
adient Recalled Acquisition in the Steady State)
法やSE(Spin Echo)法などのデータ収集用パルス系
列DAQを実行し、イメージング用データを収集する。
図7に、上記パルスシーケンスWにより得られるMRI
画像Iを模式的に示す。この例では、磁気標識Tが斜線
状に施されているが、磁気標識Tを格子状に施すことも
可能である。なお、タッギングを行うためにデータ収集
用パルス系列DAQの前に印加するパルス系列をSPA
MM用パルスという(サンドイッチパルスといわれる場
合もある)。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】図6ではスライス勾配
s1,s2を矩形波で示したが、実際には勾配磁場駆動
回路の性能上の限界によってスライス勾配s1,s2は
台形波になる。すると、図8に示すように、第1のRF
パルスR1の終了時から第2のRFパルスR2の開始時
までの期間に入り込むスライス勾配部分a,bが生じ
る。これらのスライス勾配部分a,bは磁気標識用勾配
としての作用を持つため、図9に示すように、スライス
勾配s1,s2により規定されるスライスSTにおい
て、点線のように磁気標識がスライス方向に位置ずれす
ることになる。しかし、磁気標識がスライス方向に位置
ずれすると、データ収集用パルス系列DAQで切り出し
たイメージング用スライスSI1,SI2における磁気
標識同士が対応しなくなってしまう。すなわち、図9
で、点PT1と点PT2とがスライス方向に対応する点
同士であるが、点PT1はイメージング用スライスSI
1によるMRI画像上で磁気標識T1が施されるが、点
PT2はイメージング用スライスSI2によるMRI画
像上で磁気標識が施されなくなる。このため、スライス
同士を比較しての分析が行い難くなる問題点がある。そ
こで、この発明の目的は、磁気標識がスライス方向に位
置ずれすることを防止したMRイメージング方法および
MRI装置を提供することにある。
s1,s2を矩形波で示したが、実際には勾配磁場駆動
回路の性能上の限界によってスライス勾配s1,s2は
台形波になる。すると、図8に示すように、第1のRF
パルスR1の終了時から第2のRFパルスR2の開始時
までの期間に入り込むスライス勾配部分a,bが生じ
る。これらのスライス勾配部分a,bは磁気標識用勾配
としての作用を持つため、図9に示すように、スライス
勾配s1,s2により規定されるスライスSTにおい
て、点線のように磁気標識がスライス方向に位置ずれす
ることになる。しかし、磁気標識がスライス方向に位置
ずれすると、データ収集用パルス系列DAQで切り出し
たイメージング用スライスSI1,SI2における磁気
標識同士が対応しなくなってしまう。すなわち、図9
で、点PT1と点PT2とがスライス方向に対応する点
同士であるが、点PT1はイメージング用スライスSI
1によるMRI画像上で磁気標識T1が施されるが、点
PT2はイメージング用スライスSI2によるMRI画
像上で磁気標識が施されなくなる。このため、スライス
同士を比較しての分析が行い難くなる問題点がある。そ
こで、この発明の目的は、磁気標識がスライス方向に位
置ずれすることを防止したMRイメージング方法および
MRI装置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】第1の観点では、この発
明は、第1のRFパルスとスライス勾配とを印加し,次
に磁気標識用勾配を印加し,次に第2のRFパルスとス
ライス勾配とを少なくとも印加することによりタッギン
グを行うMRイメージング方法において、前記第1のR
Fパルスの終了時から前記第2のRFパルスの開始時ま
での期間の前記スライス勾配の時間積分値を実質的に
“0”とし、スライス勾配が磁気標識用勾配として作用
することを防止したことを特徴とするMRイメージング
方法を提供する。なお、上記構成において「少なくと
も」とは、RFパルスの数が3つ以上でもよいという意
味である。RFパルスの数が3つ以上の場合は、任意の
磁気標識用勾配の前後の2つのRFパルスのうちの先行
するRFパルスを第1のRFパルスと看做し、後続のR
Fパルスを第2のRFパルスと看做せばよい。
明は、第1のRFパルスとスライス勾配とを印加し,次
に磁気標識用勾配を印加し,次に第2のRFパルスとス
ライス勾配とを少なくとも印加することによりタッギン
グを行うMRイメージング方法において、前記第1のR
Fパルスの終了時から前記第2のRFパルスの開始時ま
での期間の前記スライス勾配の時間積分値を実質的に
“0”とし、スライス勾配が磁気標識用勾配として作用
することを防止したことを特徴とするMRイメージング
方法を提供する。なお、上記構成において「少なくと
も」とは、RFパルスの数が3つ以上でもよいという意
味である。RFパルスの数が3つ以上の場合は、任意の
磁気標識用勾配の前後の2つのRFパルスのうちの先行
するRFパルスを第1のRFパルスと看做し、後続のR
Fパルスを第2のRFパルスと看做せばよい。
【0006】第2の観点では、この発明は、第1のRF
パルスとスライス勾配とを印加し,次に磁気標識用勾配
を印加し,次に第2のRFパルスとスライス勾配とを少
なくとも印加するSPAMM用パルス印加手段を有する
MRI装置において、スライス勾配が磁気標識用勾配と
して作用することを防止するため、前記サンドイッチパ
ルス印加手段は、前記第1のRFパルスの終了時から前
記第2のRFパルスの開始時までの期間の前記スライス
勾配の時間積分値が実質的に“0”となる波形のスライ
ス勾配を印加することを特徴とするMRI装置を提供す
る。なお、上記構成において「少なくとも」とは、RF
パルスの数が3つ以上でもよいという意味である。RF
パルスの数が3つ以上の場合は、任意の磁気標識用勾配
の前後の2つのRFパルスのうちの先行するRFパルス
を第1のRFパルスと看做し、後続のRFパルスを第2
のRFパルスと看做せばよい。
パルスとスライス勾配とを印加し,次に磁気標識用勾配
を印加し,次に第2のRFパルスとスライス勾配とを少
なくとも印加するSPAMM用パルス印加手段を有する
MRI装置において、スライス勾配が磁気標識用勾配と
して作用することを防止するため、前記サンドイッチパ
ルス印加手段は、前記第1のRFパルスの終了時から前
記第2のRFパルスの開始時までの期間の前記スライス
勾配の時間積分値が実質的に“0”となる波形のスライ
ス勾配を印加することを特徴とするMRI装置を提供す
る。なお、上記構成において「少なくとも」とは、RF
パルスの数が3つ以上でもよいという意味である。RF
パルスの数が3つ以上の場合は、任意の磁気標識用勾配
の前後の2つのRFパルスのうちの先行するRFパルス
を第1のRFパルスと看做し、後続のRFパルスを第2
のRFパルスと看做せばよい。
【0007】第3の観点では、この発明は、上記構成の
MRI装置において、前記第1のRFパルスによりスラ
イス方向にばらけた位相を前記第2のRFパルスにより
元に戻すため、前記SPAMM用パルス印加手段は、前
記第1のRFパルスの略ピーク時から終了時までの期間
の前記スライス勾配の時間積分値と前記第2のRFパル
スの開始時から略ピーク時までの前記スライス勾配の時
間積分値の和が実質的に“0”となる波形のスライス勾
配を印加することを特徴とするMRI装置を提供する。
MRI装置において、前記第1のRFパルスによりスラ
イス方向にばらけた位相を前記第2のRFパルスにより
元に戻すため、前記SPAMM用パルス印加手段は、前
記第1のRFパルスの略ピーク時から終了時までの期間
の前記スライス勾配の時間積分値と前記第2のRFパル
スの開始時から略ピーク時までの前記スライス勾配の時
間積分値の和が実質的に“0”となる波形のスライス勾
配を印加することを特徴とするMRI装置を提供する。
【0008】
【作用】上記第1の観点によるMRイメージング方法お
よび上記第2の観点によるMRI装置では、SPAMM
用パルスを加える際に、第1のRFパルスの終了時から
第2のRFパルスの開始時までの期間のスライス勾配の
時間積分値が実質的に“0”となる波形のスライス勾配
を印加する。これにより、第1のRFパルスの終了時か
ら第2のRFパルスの開始時までの期間に入り込むスラ
イス勾配部分が実質的に磁気標識用勾配としての作用を
持たなくなるため、磁気標識がスライス方向に位置ずれ
することを防止でき、スライス同士を比較しての分析を
行い易くなる。
よび上記第2の観点によるMRI装置では、SPAMM
用パルスを加える際に、第1のRFパルスの終了時から
第2のRFパルスの開始時までの期間のスライス勾配の
時間積分値が実質的に“0”となる波形のスライス勾配
を印加する。これにより、第1のRFパルスの終了時か
ら第2のRFパルスの開始時までの期間に入り込むスラ
イス勾配部分が実質的に磁気標識用勾配としての作用を
持たなくなるため、磁気標識がスライス方向に位置ずれ
することを防止でき、スライス同士を比較しての分析を
行い易くなる。
【0009】上記第3の観点によるMRI装置では、S
PAMM用パルスを加える際に、第1のRFパルスの終
了時から第2のRFパルスの開始時までの期間のスライ
ス勾配の時間積分値が実質的に“0”となると共に、第
1のRFパルスの開始時から終了時までの期間のスライ
ス勾配の時間積分値と第2のRFパルスの開始時から終
了時までのスライス勾配の時間積分値の和が実質的に
“0”となる波形のスライス勾配を印加する。これによ
り、上記作用に加えて、第1のRFパルスでの磁化の位
相のばらけをリフェーズし、第2のRFパルスで位相を
揃えることが出来るようになるため、位相のばらけに起
因して磁気標識がスライス方向に位置ずれすることをも
防止できるようになり、スライス同士を比較しての分析
をより行い易くなる。
PAMM用パルスを加える際に、第1のRFパルスの終
了時から第2のRFパルスの開始時までの期間のスライ
ス勾配の時間積分値が実質的に“0”となると共に、第
1のRFパルスの開始時から終了時までの期間のスライ
ス勾配の時間積分値と第2のRFパルスの開始時から終
了時までのスライス勾配の時間積分値の和が実質的に
“0”となる波形のスライス勾配を印加する。これによ
り、上記作用に加えて、第1のRFパルスでの磁化の位
相のばらけをリフェーズし、第2のRFパルスで位相を
揃えることが出来るようになるため、位相のばらけに起
因して磁気標識がスライス方向に位置ずれすることをも
防止できるようになり、スライス同士を比較しての分析
をより行い易くなる。
【0010】
【実施例】以下、図に示す実施例によりこの発明をさら
に詳しく説明する。なお、これによりこの発明が限定さ
れるものではない。図1は、この発明のMRI装置の一
実施例のブロック図である。このMRI装置100にお
いて、マグネットアセンブリ1は、内部に被検体を挿入
するための空間部分(孔)を有し、この空間部分を取り
まくようにして、被検体に一定の主磁場を印加する主磁
場コイルと、勾配磁場を発生するための勾配磁場コイル
(勾配磁場コイルは、スライス軸,位相軸,読み出し軸
のコイルを備えている)と、被検体内の原子核のスピン
を励起するためのRFパルスを与える送信コイルと、被
検体からのNMR信号を検出する受信コイル等が配置さ
れている。主磁場コイル,勾配磁場コイル,送信コイル
および受信コイルは、それぞれ主磁場電源2,勾配磁場
駆動回路3,RF電力増幅器4および前置増幅器5に接
続されている。
に詳しく説明する。なお、これによりこの発明が限定さ
れるものではない。図1は、この発明のMRI装置の一
実施例のブロック図である。このMRI装置100にお
いて、マグネットアセンブリ1は、内部に被検体を挿入
するための空間部分(孔)を有し、この空間部分を取り
まくようにして、被検体に一定の主磁場を印加する主磁
場コイルと、勾配磁場を発生するための勾配磁場コイル
(勾配磁場コイルは、スライス軸,位相軸,読み出し軸
のコイルを備えている)と、被検体内の原子核のスピン
を励起するためのRFパルスを与える送信コイルと、被
検体からのNMR信号を検出する受信コイル等が配置さ
れている。主磁場コイル,勾配磁場コイル,送信コイル
および受信コイルは、それぞれ主磁場電源2,勾配磁場
駆動回路3,RF電力増幅器4および前置増幅器5に接
続されている。
【0011】シーケンス記憶回路8は、計算機7からの
指令に従い、記憶されているパルスシーケンスに基づい
て勾配磁場駆動回路3を操作し、前記マグネットアセン
ブリ1の勾配磁場コイルから勾配磁場を発生させると共
に、ゲート変調回路9を操作し、RF発振回路10の搬
送波出力信号を所定タイミング・所定包絡線形状のパル
ス状信号に変調し、それをRFパルスとしてRF電力増
幅器4に加え、RF電力増幅器4でパワー増幅した後、
前記マグネットアセンブリ1の送信コイルに印加し、目
的のスライス領域を選択励起する。
指令に従い、記憶されているパルスシーケンスに基づい
て勾配磁場駆動回路3を操作し、前記マグネットアセン
ブリ1の勾配磁場コイルから勾配磁場を発生させると共
に、ゲート変調回路9を操作し、RF発振回路10の搬
送波出力信号を所定タイミング・所定包絡線形状のパル
ス状信号に変調し、それをRFパルスとしてRF電力増
幅器4に加え、RF電力増幅器4でパワー増幅した後、
前記マグネットアセンブリ1の送信コイルに印加し、目
的のスライス領域を選択励起する。
【0012】前置増幅器5は、マグネットアセンブリ1
の受信コイルで検出された被検体からのNMR信号を増
幅し、位相検波器12に入力する。位相検波器12は、
RF発振回路10の搬送波出力信号を参照信号とし、前
置増幅器5からのNMR信号を位相検波して、A/D変
換器11に与える。A/D変換器11は、位相検波後の
アナログ信号をディジタル信号に変換して、計算機7に
入力する。計算機7は、A/D変換器11からデータを
読み込み、画像再構成演算を行い、目的のスライス領域
のイメージを生成する。このイメージは、表示装置6に
て表示される。また、計算機7は、操作卓13から入力
された情報を受け取るなどの全体的な制御を受け持つ。
の受信コイルで検出された被検体からのNMR信号を増
幅し、位相検波器12に入力する。位相検波器12は、
RF発振回路10の搬送波出力信号を参照信号とし、前
置増幅器5からのNMR信号を位相検波して、A/D変
換器11に与える。A/D変換器11は、位相検波後の
アナログ信号をディジタル信号に変換して、計算機7に
入力する。計算機7は、A/D変換器11からデータを
読み込み、画像再構成演算を行い、目的のスライス領域
のイメージを生成する。このイメージは、表示装置6に
て表示される。また、計算機7は、操作卓13から入力
された情報を受け取るなどの全体的な制御を受け持つ。
【0013】タッギングを施す際は、前記計算機7およ
び前記シーケンス記憶手段8が、サンドイッチパルス印
加手段として機能する。
び前記シーケンス記憶手段8が、サンドイッチパルス印
加手段として機能する。
【0014】図2に、この発明のMRイメージング方法
の第1の実施例のパルスシーケンスを示す。このパルス
シーケンスQ1では、まず、第1のRFパルスR1とス
ライス勾配s1を印加する。次に、磁気標識用勾配gを
印加すると共に反転スライス勾配qを印加する。次に、
第2のRFパルスR2とスライス勾配S2とを印加す
る。その後、例えばGRASS法やSE法などのデータ
収集用パルス系列DAQを実行し、イメージング用デー
タを収集する。上記反転スライス勾配qは、第1のRF
パルスR1の終了時t1から第2のRFパルスR2の開
始時t2までの期間に入り込むスライス勾配部分a,b
を打ち消すように符号と面積が定められている。従っ
て、スライス勾配をGsで表わすとき、次式が成立す
る。
の第1の実施例のパルスシーケンスを示す。このパルス
シーケンスQ1では、まず、第1のRFパルスR1とス
ライス勾配s1を印加する。次に、磁気標識用勾配gを
印加すると共に反転スライス勾配qを印加する。次に、
第2のRFパルスR2とスライス勾配S2とを印加す
る。その後、例えばGRASS法やSE法などのデータ
収集用パルス系列DAQを実行し、イメージング用デー
タを収集する。上記反転スライス勾配qは、第1のRF
パルスR1の終了時t1から第2のRFパルスR2の開
始時t2までの期間に入り込むスライス勾配部分a,b
を打ち消すように符号と面積が定められている。従っ
て、スライス勾配をGsで表わすとき、次式が成立す
る。
【0015】
【数1】
【0016】これにより、第1のRFパルスR1の終了
時t1から第2のRFパルスR2の開始時t2までの期
間に入り込むスライス勾配部分a,q,bが実質的に磁
気標識用勾配としての作用を持たなくなる。従って、図
3に示すように、スライス勾配s1,s2により規定さ
れるスライスSTにおいて、点線のように磁気標識がス
ライス方向に平行になる。そこで、スライス方向に対応
する点PT1と点PT2とに着目するとき、点PT1は
イメージング用スライスSI1によるMRI画像上で磁
気標識T1が施され、且つ、点PT2もイメージング用
スライスSI2によるMRI画像上で磁気標識が施され
る。このため、スライス同士を比較しての分析が行い易
くなる。
時t1から第2のRFパルスR2の開始時t2までの期
間に入り込むスライス勾配部分a,q,bが実質的に磁
気標識用勾配としての作用を持たなくなる。従って、図
3に示すように、スライス勾配s1,s2により規定さ
れるスライスSTにおいて、点線のように磁気標識がス
ライス方向に平行になる。そこで、スライス方向に対応
する点PT1と点PT2とに着目するとき、点PT1は
イメージング用スライスSI1によるMRI画像上で磁
気標識T1が施され、且つ、点PT2もイメージング用
スライスSI2によるMRI画像上で磁気標識が施され
る。このため、スライス同士を比較しての分析が行い易
くなる。
【0017】図4に、この発明のMRイメージング方法
の第2の実施例のパルスシーケンスを示す。このパルス
シーケンスQ2では、まず、第1のRFパルスR1とス
ライス勾配s1を印加する。次に、磁気標識用勾配gを
印加する。次に、第2のRFパルスR2とスライス勾配
s2とを印加する。その後、例えばGRASS法やSE
法などのデータ収集用パルス系列DAQを実行し、イメ
ージング用データを収集する。上記スライス勾配s2
は、その符号をスライス勾配s1に対して反転させ、第
1のRFパルスR1の終了時t1から第2のRFパルス
R2の開始時t2までの期間に入り込むスライス勾配部
分a,bが互いに打ち消すようにする。すなわち、前記
(数1)式を成立させる。また、第1のRFパルスR1
の開始時t0から終了時t1までの期間のスライス勾配
Gsの時間積分値と第2のRFパルスR2の開始時t2
から終了時t3までのスライス勾配Gsの時間積分値の
和が実質的に“0”となるようにする。すなわち、次式
を成立させる。
の第2の実施例のパルスシーケンスを示す。このパルス
シーケンスQ2では、まず、第1のRFパルスR1とス
ライス勾配s1を印加する。次に、磁気標識用勾配gを
印加する。次に、第2のRFパルスR2とスライス勾配
s2とを印加する。その後、例えばGRASS法やSE
法などのデータ収集用パルス系列DAQを実行し、イメ
ージング用データを収集する。上記スライス勾配s2
は、その符号をスライス勾配s1に対して反転させ、第
1のRFパルスR1の終了時t1から第2のRFパルス
R2の開始時t2までの期間に入り込むスライス勾配部
分a,bが互いに打ち消すようにする。すなわち、前記
(数1)式を成立させる。また、第1のRFパルスR1
の開始時t0から終了時t1までの期間のスライス勾配
Gsの時間積分値と第2のRFパルスR2の開始時t2
から終了時t3までのスライス勾配Gsの時間積分値の
和が実質的に“0”となるようにする。すなわち、次式
を成立させる。
【0018】
【数2】
【0019】なお、スライス方向にオフセットする場
合、RFパルスの中心周波数はスライス勾配Gsの反転
に合せてシフトさせる。
合、RFパルスの中心周波数はスライス勾配Gsの反転
に合せてシフトさせる。
【0020】前記(数1)式を成立させることにより、
第1のRFパルスR1の終了時t1から第2のRFパル
スR2の開始時t2までの期間に入り込むスライス勾配
部分a,bが実質的に磁気標識用勾配としての作用を持
たなくなる。従って、図3に示すように、スライス勾配
s1,s2により規定されるスライスSTにおいて、点
線のように磁気標識がスライス方向に平行になる。そこ
で、スライス方向に対応する点PT1と点PT2とに着
目するとき、点PT1はイメージング用スライスSI1
によるMRI画像上で磁気標識T1が施され、且つ、点
PT2もイメージング用スライスSI2によるMRI画
像上で磁気標識が施される。このため、スライス同士を
比較しての分析が行い易くなる。
第1のRFパルスR1の終了時t1から第2のRFパル
スR2の開始時t2までの期間に入り込むスライス勾配
部分a,bが実質的に磁気標識用勾配としての作用を持
たなくなる。従って、図3に示すように、スライス勾配
s1,s2により規定されるスライスSTにおいて、点
線のように磁気標識がスライス方向に平行になる。そこ
で、スライス方向に対応する点PT1と点PT2とに着
目するとき、点PT1はイメージング用スライスSI1
によるMRI画像上で磁気標識T1が施され、且つ、点
PT2もイメージング用スライスSI2によるMRI画
像上で磁気標識が施される。このため、スライス同士を
比較しての分析が行い易くなる。
【0021】また、前記(数2)式を成立させることに
より、第1のRFパルスR1での磁化の位相のばらけを
リフェーズし、第2のRFパルスR2で位相を揃えるこ
とが出来るようになるため、位相のばらけに起因して磁
気標識がスライス方向に位置ずれすることをも防止でき
るようになる。従って、スライス同士を比較しての分析
をより行い易くなる。
より、第1のRFパルスR1での磁化の位相のばらけを
リフェーズし、第2のRFパルスR2で位相を揃えるこ
とが出来るようになるため、位相のばらけに起因して磁
気標識がスライス方向に位置ずれすることをも防止でき
るようになる。従って、スライス同士を比較しての分析
をより行い易くなる。
【0022】さらに、図4のパルスシーケンスQ2で
は、図2のパルスシーケンスQ1の反転スライス勾配q
がないため、図2のパルスシーケンスQ1よりもスキャ
ン時間を短縮できる。
は、図2のパルスシーケンスQ1の反転スライス勾配q
がないため、図2のパルスシーケンスQ1よりもスキャ
ン時間を短縮できる。
【0023】図5に、この発明のMRイメージング方法
の第3の実施例のパルスシーケンスを示す。このパルス
シーケンスQ3は、二項パルス系列のRFパルス(例え
ば1−2−1パルス)を用いてタッギングを施すもので
ある。まず、第1のRFパルスR1とスライス勾配s1
を印加する。次に、第1の磁気標識用勾配g1を印加す
る。次に、第2のRFパルスR2とスライス勾配S2と
を印加する。次に、第2の磁気標識用勾配g2を印加す
る。次に、第3のRFパルスR3とスライス勾配S3と
を印加する。その後、例えばGRASS法やSE法など
のデータ収集用パルス系列DAQを実行し、イメージン
グ用データを収集する。
の第3の実施例のパルスシーケンスを示す。このパルス
シーケンスQ3は、二項パルス系列のRFパルス(例え
ば1−2−1パルス)を用いてタッギングを施すもので
ある。まず、第1のRFパルスR1とスライス勾配s1
を印加する。次に、第1の磁気標識用勾配g1を印加す
る。次に、第2のRFパルスR2とスライス勾配S2と
を印加する。次に、第2の磁気標識用勾配g2を印加す
る。次に、第3のRFパルスR3とスライス勾配S3と
を印加する。その後、例えばGRASS法やSE法など
のデータ収集用パルス系列DAQを実行し、イメージン
グ用データを収集する。
【0024】上記スライス勾配s2は、その符号をスラ
イス勾配s1に対して反転させ、第1のRFパルスR1
の終了時t1から第2のRFパルスR2の開始時t2ま
での期間に入り込むスライス勾配部分a,bが互いに打
ち消すようにする。すなわち、前記(数1)式を成立さ
せる。また、第1のRFパルスR1の開始時t0から終
了時t1までの期間のスライス勾配Gsの時間積分値と
第2のRFパルスR2の開始時t2から終了時t3まで
のスライス勾配Gsの時間積分値の和が実質的に“0”
となるようにする。すなわち、前記(数2)式を成立さ
せる。
イス勾配s1に対して反転させ、第1のRFパルスR1
の終了時t1から第2のRFパルスR2の開始時t2ま
での期間に入り込むスライス勾配部分a,bが互いに打
ち消すようにする。すなわち、前記(数1)式を成立さ
せる。また、第1のRFパルスR1の開始時t0から終
了時t1までの期間のスライス勾配Gsの時間積分値と
第2のRFパルスR2の開始時t2から終了時t3まで
のスライス勾配Gsの時間積分値の和が実質的に“0”
となるようにする。すなわち、前記(数2)式を成立さ
せる。
【0025】また、上記スライス勾配s3は、その符号
をスライス勾配s2に対して反転させ、第2のRFパル
スR2の終了時t3から第3のRFパルスR3の開始時
t4までの期間に入り込むスライス勾配部分c,dが互
いに打ち消すようにする。すなわち、第2のRFパルス
R2を第1のRFパルスと看做し(t3→t1)、第3
のRFパルスR3を第2のRFパルスと看做す(t4→
t2)とき、前記(数1)式を成立させる。また、第2
のRFパルスR2の開始時t2から終了時t3までの期
間のスライス勾配Gsの時間積分値と第3のRFパルス
R3の開始時t4から終了時t5までのスライス勾配G
sの時間積分値の和が実質的に“0”となるようにす
る。すなわち、第2のRFパルスR2を第1のRFパル
スと看做し(t2→t0,t3→t1)、第3のRFパ
ルスR3を第2のRFパルスと看做す(t4→t2,t
5→t3)とき、前記(数2式)を成立させる。
をスライス勾配s2に対して反転させ、第2のRFパル
スR2の終了時t3から第3のRFパルスR3の開始時
t4までの期間に入り込むスライス勾配部分c,dが互
いに打ち消すようにする。すなわち、第2のRFパルス
R2を第1のRFパルスと看做し(t3→t1)、第3
のRFパルスR3を第2のRFパルスと看做す(t4→
t2)とき、前記(数1)式を成立させる。また、第2
のRFパルスR2の開始時t2から終了時t3までの期
間のスライス勾配Gsの時間積分値と第3のRFパルス
R3の開始時t4から終了時t5までのスライス勾配G
sの時間積分値の和が実質的に“0”となるようにす
る。すなわち、第2のRFパルスR2を第1のRFパル
スと看做し(t2→t0,t3→t1)、第3のRFパ
ルスR3を第2のRFパルスと看做す(t4→t2,t
5→t3)とき、前記(数2式)を成立させる。
【0026】前記(数1)式を成立させることにより、
第1のRFパルスR1の終了時t1から第2のRFパル
スR2の開始時t2までの期間に入り込むスライス勾配
部分a,bおよび第2のRFパルスR2の終了時t3か
ら第3のRFパルスR3の開始時t4までの期間に入り
込むスライス勾配部分c,dが実質的に磁気標識用勾配
としての作用を持たなくなる。従って、図3に示すよう
に、スライス勾配s1,s2,s3により規定されるス
ライスSTにおいて、点線のように磁気標識がスライス
方向に平行になる。そこで、スライス方向に対応する点
PT1と点PT2とに着目するとき、点PT1はイメー
ジング用スライスSI1によるMRI画像上で磁気標識
T1が施され、且つ、点PT2もイメージング用スライ
スSI2によるMRI画像上で磁気標識が施される。こ
のため、スライス同士を比較しての分析が行い易くな
る。
第1のRFパルスR1の終了時t1から第2のRFパル
スR2の開始時t2までの期間に入り込むスライス勾配
部分a,bおよび第2のRFパルスR2の終了時t3か
ら第3のRFパルスR3の開始時t4までの期間に入り
込むスライス勾配部分c,dが実質的に磁気標識用勾配
としての作用を持たなくなる。従って、図3に示すよう
に、スライス勾配s1,s2,s3により規定されるス
ライスSTにおいて、点線のように磁気標識がスライス
方向に平行になる。そこで、スライス方向に対応する点
PT1と点PT2とに着目するとき、点PT1はイメー
ジング用スライスSI1によるMRI画像上で磁気標識
T1が施され、且つ、点PT2もイメージング用スライ
スSI2によるMRI画像上で磁気標識が施される。こ
のため、スライス同士を比較しての分析が行い易くな
る。
【0027】また、前記(数2)式を成立させることに
より、位相のばらけに起因して磁気標識がスライス方向
に位置ずれすることをも防止できるようになる。従っ
て、スライス同士を比較しての分析をより行い易くな
る。
より、位相のばらけに起因して磁気標識がスライス方向
に位置ずれすることをも防止できるようになる。従っ
て、スライス同士を比較しての分析をより行い易くな
る。
【0028】なお、上記説明では、ピーク時を挟んで対
称なRFパルスを想定したが、ピーク時を挟んで非対称
なRFパルスを用いてもよい。
称なRFパルスを想定したが、ピーク時を挟んで非対称
なRFパルスを用いてもよい。
【0029】
【発明の効果】この発明のMRイメージング方法および
MRI装置によれば、磁気標識がスライス方向に位置ず
れすることを防止でき、スライス同士を比較しての分析
を行い易くなる。
MRI装置によれば、磁気標識がスライス方向に位置ず
れすることを防止でき、スライス同士を比較しての分析
を行い易くなる。
【図1】この発明のMRI装置の一実施例のブロック図
である。
である。
【図2】この発明のMRイメージング方法の第1の実施
例のパルスシーケンス図である。
例のパルスシーケンス図である。
【図3】この発明のMRイメージング方法による磁気標
識の説明図である。
識の説明図である。
【図4】この発明のMRイメージング方法の第2の実施
例のパルスシーケンス図である。
例のパルスシーケンス図である。
【図5】この発明のMRイメージング方法の第3の実施
例のパルスシーケンス図である。
例のパルスシーケンス図である。
【図6】SPAMM法によりタッギングを行う場合の従
来のパルスシーケンスの例示図である。
来のパルスシーケンスの例示図である。
【図7】磁気標識を施したMRI画像の説明図である。
【図8】従来のパルスシーケンスの問題点の説明図であ
る。
る。
【図9】磁気標識のスライス方向の位置ずれの説明図で
ある。
ある。
100 MRI装置 1 マグネットアセンブリ 3 勾配磁場駆動回路 7 計算機 8 シーケンス記憶回路 g 磁気標識用勾配 R1,R2,R3 RFパルス I MRI画像 T,T1 磁気標識 ST 磁気標識を施されたスラ
イス SI1,SI2 イメージング用スライス
イス SI1,SI2 イメージング用スライス
Claims (3)
- 【請求項1】 第1のRFパルスとスライス勾配とを印
加し,次に磁気標識用勾配を印加し,次に第2のRFパ
ルスとスライス勾配とを少なくとも印加することにより
タッギングを行うMRイメージング方法において、 前記第1のRFパルスの終了時から前記第2のRFパル
スの開始時までの期間の前記スライス勾配の時間積分値
を実質的に“0”とし、スライス勾配が磁気標識用勾配
として作用することを防止したことを特徴とするMRイ
メージング方法。 - 【請求項2】 第1のRFパルスとスライス勾配とを印
加し,次に磁気標識用勾配を印加し,次に第2のRFパ
ルスとスライス勾配とを少なくとも印加するSPAMM
(SPAtial Modulation of Magnetization)用パル
ス印加手段を有するMRI装置において、 スライス勾配が磁気標識用勾配として作用することを防
止するため、前記SPAMM用パルス印加手段は、前記
第1のRFパルスの終了時から前記第2のRFパルスの
開始時までの期間の前記スライス勾配の時間積分値が実
質的に“0”となる波形のスライス勾配を印加すること
を特徴とするMRI装置。 - 【請求項3】 請求項2に記載のMRI装置において、
前記第1のRFパルスによりスライス方向にばらけた位
相を前記第2のRFパルスにより元に戻すため、前記S
PAMM用パルス印加手段は、前記第1のRFパルスの
略ピーク時から終了時までの期間の前記スライス勾配の
時間積分値と前記第2のRFパルスの開始時から略ピー
ク時までの前記スライス勾配の時間積分値の和が実質的
に“0”となる波形のスライス勾配を印加することを特
徴とするMRI装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP00503495A JP3542650B2 (ja) | 1995-01-17 | 1995-01-17 | Mri装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP00503495A JP3542650B2 (ja) | 1995-01-17 | 1995-01-17 | Mri装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08191810A true JPH08191810A (ja) | 1996-07-30 |
JP3542650B2 JP3542650B2 (ja) | 2004-07-14 |
Family
ID=11600189
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP00503495A Expired - Fee Related JP3542650B2 (ja) | 1995-01-17 | 1995-01-17 | Mri装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3542650B2 (ja) |
-
1995
- 1995-01-17 JP JP00503495A patent/JP3542650B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3542650B2 (ja) | 2004-07-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6489765B2 (en) | Magnetic field variation measuring method and magnetic field variation compensating method for MRI apparatus, and MRI apparatus | |
JP4030805B2 (ja) | コイル感度マップ作成方法およびmri装置 | |
US20070088212A1 (en) | Magnetic resonance imaging apparatus | |
US6737865B2 (en) | MRI apparatus | |
JP3513076B2 (ja) | Mri装置 | |
JP4368988B2 (ja) | Mri装置 | |
US20020050816A1 (en) | MR imaging method, phase error measuring method, and MRI apparatus | |
JPH0810239A (ja) | 拡散強調イメージング方法およびmri装置 | |
JPH08191810A (ja) | Mrイメージング方法およびmri装置 | |
JP3447099B2 (ja) | Mri装置 | |
JP3720752B2 (ja) | 0次位相検出方法およびmri装置 | |
JP3748661B2 (ja) | Mri装置 | |
JP4789237B2 (ja) | 磁気共鳴イメージング装置 | |
JP3091203B2 (ja) | 磁気共鳴イメージング装置 | |
JP3462905B2 (ja) | Mri装置 | |
JPH0910186A (ja) | Mrデータ収集方法およびmri装置 | |
JPH0568672A (ja) | 磁気共鳴イメージング装置における傾斜磁場印加方法 | |
JP3447120B2 (ja) | Mri装置 | |
JP4699729B2 (ja) | Mrスキャン方法およびmri装置 | |
JP3516486B2 (ja) | Rfパルス作成方法およびmri装置 | |
JP3353799B2 (ja) | Mr装置 | |
JP3432593B2 (ja) | Mri装置 | |
JP2884243B2 (ja) | 核磁気共鳴画像診断装置 | |
JP2961373B2 (ja) | 核磁気共鳴画像診断装置 | |
JPH07284485A (ja) | Mri装置におけるスパイラルスキャン方法及びmri装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040121 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040309 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040401 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |