JP3432593B2 - Ｍｒｉ装置 - Google Patents
Ｍｒｉ装置Info
- Publication number
- JP3432593B2 JP3432593B2 JP13406594A JP13406594A JP3432593B2 JP 3432593 B2 JP3432593 B2 JP 3432593B2 JP 13406594 A JP13406594 A JP 13406594A JP 13406594 A JP13406594 A JP 13406594A JP 3432593 B2 JP3432593 B2 JP 3432593B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inversion
- time
- pulse
- data
- pulse sequence
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、ＭＲＩ（Magnetic R
esonance Imaging）装置におけるデータ収集方法および
ＭＲＩ装置に関する。さらに詳しくは、ショートＴＩの
ＩＲ（Inversion Ｒecovery）プリパレーションパルス
を有したショートＴＲのファーストスキャンによるデー
タ収集法およびＳＴＩＲ（Ｓhort ＴI Inversion Ｒeco
very）法を改良したデータ収集方法およびそのデータ収
集方法を実施するＭＲＩ装置に関する。
esonance Imaging）装置におけるデータ収集方法および
ＭＲＩ装置に関する。さらに詳しくは、ショートＴＩの
ＩＲ（Inversion Ｒecovery）プリパレーションパルス
を有したショートＴＲのファーストスキャンによるデー
タ収集法およびＳＴＩＲ（Ｓhort ＴI Inversion Ｒeco
very）法を改良したデータ収集方法およびそのデータ収
集方法を実施するＭＲＩ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図１１は、従来のショートＴＩのＩＲプ
リパレーションパルスを有したショートＴＲのファース
トスキャンによるデータ収集法の一例のパルスシーケン
ス図である。このパルスシーケンスＣでは、時刻ｔ０に
反転パルスＨ１８０を印加し、比較的短い反転時間ＴＩ
後の時刻ｔ１より複数回のデータ収集用パルス系列ＤＳ
ｍを開始して、複数ビュー分のデータを収集する。な
お、図中のＳＳはスライス選択勾配であり、ＳＰはステ
ィミューレテッドエコー （stimulated echo）の発生を
防止するスポイラである。
リパレーションパルスを有したショートＴＲのファース
トスキャンによるデータ収集法の一例のパルスシーケン
ス図である。このパルスシーケンスＣでは、時刻ｔ０に
反転パルスＨ１８０を印加し、比較的短い反転時間ＴＩ
後の時刻ｔ１より複数回のデータ収集用パルス系列ＤＳ
ｍを開始して、複数ビュー分のデータを収集する。な
お、図中のＳＳはスライス選択勾配であり、ＳＰはステ
ィミューレテッドエコー （stimulated echo）の発生を
防止するスポイラである。
【０００３】図１２は、上記パルスシーケンスＣにかか
る静磁場方向の磁化Ｍｚの変化とデータ収集のタイミン
グを示すグラフである。曲線αが、磁化Ｍｚの変化を示
している。この曲線αは、 Ｍｚ(t0)＝−Ｍ Ｍｚ(t1)＝−Ｍ１ ｄＭｚ(t)／ｄｔ＝−（Ｍｚ(t)−Ｍ）／Ｔ１ …(１) で表される。ここで、Ｍは熱平衡状態での磁化Ｍｚであ
り（Ｍ＞０）、−Ｍ１は時刻ｔ１における磁化Ｍｚであ
る（Ｍ１＞０）。Ｔ１は縦緩和時間である。曲線α上の
点は、エコーサンプリングのタイミングを表している。
反転時間ＴＩが比較的短いため、磁化Ｍｚが“−Ｍ１”
と“０”の間にある時からデータ収集が開始される。
る静磁場方向の磁化Ｍｚの変化とデータ収集のタイミン
グを示すグラフである。曲線αが、磁化Ｍｚの変化を示
している。この曲線αは、 Ｍｚ(t0)＝−Ｍ Ｍｚ(t1)＝−Ｍ１ ｄＭｚ(t)／ｄｔ＝−（Ｍｚ(t)−Ｍ）／Ｔ１ …(１) で表される。ここで、Ｍは熱平衡状態での磁化Ｍｚであ
り（Ｍ＞０）、−Ｍ１は時刻ｔ１における磁化Ｍｚであ
る（Ｍ１＞０）。Ｔ１は縦緩和時間である。曲線α上の
点は、エコーサンプリングのタイミングを表している。
反転時間ＴＩが比較的短いため、磁化Ｍｚが“−Ｍ１”
と“０”の間にある時からデータ収集が開始される。
【０００４】図１３は、従来法の他例のパルスシーケン
ス図である。このパルスシーケンスＤでは、時刻ｔ０に
反転パルスＨ１８０を印加し、比較的短い反転時間ＴＩ
後の時刻ｔ１より１回のデータ収集用パルス系列ＤＳ１
を開始して、１ビュー分のデータを収集する。これを、
繰り返し時間ＴＲで必要な回数だけ繰り返す。なお、図
中のＳＳはスライス選択勾配であり、ＳＰはスティミュ
ーレテッドエコーの発生を防止するスポイラである。
ス図である。このパルスシーケンスＤでは、時刻ｔ０に
反転パルスＨ１８０を印加し、比較的短い反転時間ＴＩ
後の時刻ｔ１より１回のデータ収集用パルス系列ＤＳ１
を開始して、１ビュー分のデータを収集する。これを、
繰り返し時間ＴＲで必要な回数だけ繰り返す。なお、図
中のＳＳはスライス選択勾配であり、ＳＰはスティミュ
ーレテッドエコーの発生を防止するスポイラである。
【０００５】図１４は、上記パルスシーケンスＤにかか
る静磁場方向の磁化Ｍｚの変化とデータ収集のタイミン
グを示すグラフである。曲線αが、磁化Ｍｚの変化を示
している。この曲線αは、上記（１）で表される。曲線
α上の点は、エコーサンプリングのタイミングを表して
いる。反転時間ＴＩが比較的短いため、磁化Ｍｚが“−
Ｍ１”と“０”の間にある時にサンプリングが行われて
いる。繰り返し時間ＴＲは、磁化Ｍｚが平衡状態の大き
さＭに戻るまでの時間より長い時間に設定されている。
る静磁場方向の磁化Ｍｚの変化とデータ収集のタイミン
グを示すグラフである。曲線αが、磁化Ｍｚの変化を示
している。この曲線αは、上記（１）で表される。曲線
α上の点は、エコーサンプリングのタイミングを表して
いる。反転時間ＴＩが比較的短いため、磁化Ｍｚが“−
Ｍ１”と“０”の間にある時にサンプリングが行われて
いる。繰り返し時間ＴＲは、磁化Ｍｚが平衡状態の大き
さＭに戻るまでの時間より長い時間に設定されている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】図１２におけるサンプ
リング開始時近傍での曲線αの傾きは、時刻ｔ１での曲
線αの傾きより少し小さい程度である。また、図１４に
おけるサンプリング時での曲線αの傾きも、時刻ｔ１で
の曲線αの傾きより少し小さい程度である。ところが、
時刻ｔ１における曲線αの傾きは、上記（１）式より、 ｄＭｚ(t1)／ｄｔ＝（Ｍ１＋Ｍ）／Ｔ１ …(２) であり、かなり急である。すなわち、従来のショートＴ
Ｉのプリパレーションパルスを有するファーストスキャ
ンのデータ収集方法では、磁化Ｍｚの変化が比較的急な
部分でサンプリングを行っている。しかし、磁化Ｍｚの
変化が比較的急な部分でサンプリングを行った場合、再
構成された画像ににじむようなアーチファクトが顕著に
現れてしまい、画質が劣化する問題点がある。
リング開始時近傍での曲線αの傾きは、時刻ｔ１での曲
線αの傾きより少し小さい程度である。また、図１４に
おけるサンプリング時での曲線αの傾きも、時刻ｔ１で
の曲線αの傾きより少し小さい程度である。ところが、
時刻ｔ１における曲線αの傾きは、上記（１）式より、 ｄＭｚ(t1)／ｄｔ＝（Ｍ１＋Ｍ）／Ｔ１ …(２) であり、かなり急である。すなわち、従来のショートＴ
Ｉのプリパレーションパルスを有するファーストスキャ
ンのデータ収集方法では、磁化Ｍｚの変化が比較的急な
部分でサンプリングを行っている。しかし、磁化Ｍｚの
変化が比較的急な部分でサンプリングを行った場合、再
構成された画像ににじむようなアーチファクトが顕著に
現れてしまい、画質が劣化する問題点がある。
【０００７】また、図１４において、サンプリング後、
磁化Ｍｚが熱平衡状態の大きさＭに戻るまでの変化量Ｑ
αが比較的大きいため、磁化Ｍｚが熱平衡状態の大きさ
Ｍに戻るまでの時間が比較的長くなる。しかし、上記時
間が長いと、繰り返し時間ＴＲを短くできず、全データ
を収集するのに長時間を要する問題点がある。
磁化Ｍｚが熱平衡状態の大きさＭに戻るまでの変化量Ｑ
αが比較的大きいため、磁化Ｍｚが熱平衡状態の大きさ
Ｍに戻るまでの時間が比較的長くなる。しかし、上記時
間が長いと、繰り返し時間ＴＲを短くできず、全データ
を収集するのに長時間を要する問題点がある。
【０００８】そこで、この発明の第１の目的は、サンプ
リング時の磁化Ｍｚの変化が急なことに起因する上記ア
ーチファクトを抑制し、画質を向上できるようにしたデ
ータ収集方法およびＭＲＩ装置を提供することにある。
また、この発明の第２の目的は、繰り返し時間ＴＲを短
くでき、全データの収集に要する時間を短縮できるよう
にしたデータ収集方法およびＭＲＩ装置を提供すること
にある。
リング時の磁化Ｍｚの変化が急なことに起因する上記ア
ーチファクトを抑制し、画質を向上できるようにしたデ
ータ収集方法およびＭＲＩ装置を提供することにある。
また、この発明の第２の目的は、繰り返し時間ＴＲを短
くでき、全データの収集に要する時間を短縮できるよう
にしたデータ収集方法およびＭＲＩ装置を提供すること
にある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】第１の観点では、この発
明は、反転パルスを印加し、それから比較的短い反転時
間ＴＩ後より複数回のデータ収集用パルス系列を開始し
て複数ビュー分のデータを収集するＭＲＩ装置におい
て、データ収集用パルス系列を開始する直前に、第２の
反転パルスを印加することを特徴とするＭＲＩ装置にお
けるデータ収集方法を提供する。上記構成において、
「複数回のデータ収集用パルス系列」とは、ＲＦパルス
を印加してデータ収集を行うことを複数回繰り返すよう
なデータ収集用パルス系列をいう。また、「複数ビュー
分のデータ」とは、ｋ−空間における位置が異なる複数
のデータをいう。
明は、反転パルスを印加し、それから比較的短い反転時
間ＴＩ後より複数回のデータ収集用パルス系列を開始し
て複数ビュー分のデータを収集するＭＲＩ装置におい
て、データ収集用パルス系列を開始する直前に、第２の
反転パルスを印加することを特徴とするＭＲＩ装置にお
けるデータ収集方法を提供する。上記構成において、
「複数回のデータ収集用パルス系列」とは、ＲＦパルス
を印加してデータ収集を行うことを複数回繰り返すよう
なデータ収集用パルス系列をいう。また、「複数ビュー
分のデータ」とは、ｋ−空間における位置が異なる複数
のデータをいう。
【００１０】第２の観点では、この発明は、反転パルス
を印加し、それから比較的短い反転時間ＴＩ後より１回
のデータ収集用パルス系列を開始して１ビュー分のデー
タを収集するＭＲＩ装置において、データ収集用パルス
系列を開始する直前に、第２の反転パルスを印加するこ
とを特徴とするＭＲＩ装置におけるデータ収集方法を提
供する。
を印加し、それから比較的短い反転時間ＴＩ後より１回
のデータ収集用パルス系列を開始して１ビュー分のデー
タを収集するＭＲＩ装置において、データ収集用パルス
系列を開始する直前に、第２の反転パルスを印加するこ
とを特徴とするＭＲＩ装置におけるデータ収集方法を提
供する。
【００１１】第３の観点では、この発明は、反転パルス
を印加し、それから比較的短い反転時間ＴＩ後より複数
回のデータ収集用パルス系列を開始して複数ビュー分の
データを収集するＭＲＩ装置において、第１の反転パル
スを印加し、比較的短い反転時間ＴＩが経過する直前に
第２の反転パルスを印加し、その直後より複数回のデー
タ収集用パルス系列を開始して複数回分のデータを収集
するデータ収集手段を具備したことを特徴とするＭＲＩ
装置を提供する。
を印加し、それから比較的短い反転時間ＴＩ後より複数
回のデータ収集用パルス系列を開始して複数ビュー分の
データを収集するＭＲＩ装置において、第１の反転パル
スを印加し、比較的短い反転時間ＴＩが経過する直前に
第２の反転パルスを印加し、その直後より複数回のデー
タ収集用パルス系列を開始して複数回分のデータを収集
するデータ収集手段を具備したことを特徴とするＭＲＩ
装置を提供する。
【００１２】第４の観点では、この発明は、反転パルス
を印加し、それから比較的短い反転時間ＴＩ後より１回
のデータ収集用パルス系列を開始して１ビュー分のデー
タを収集するＭＲＩ装置において、第１の反転パルスを
印加し、比較的短い反転時間ＴＩが経過する直前に第２
の反転パルスを印加し、その直後より１回のデータ収集
用パルス系列を開始して１ビュー分のデータを収集する
データ収集手段を具備したことを特徴とするＭＲＩ装置
を提供する。
を印加し、それから比較的短い反転時間ＴＩ後より１回
のデータ収集用パルス系列を開始して１ビュー分のデー
タを収集するＭＲＩ装置において、第１の反転パルスを
印加し、比較的短い反転時間ＴＩが経過する直前に第２
の反転パルスを印加し、その直後より１回のデータ収集
用パルス系列を開始して１ビュー分のデータを収集する
データ収集手段を具備したことを特徴とするＭＲＩ装置
を提供する。
【００１３】
【作用】上記第１，第２の観点によるデータ収集方法お
よび上記第３，第４の観点によるＭＲＩ装置では、第１
の反転パルスを印加して磁化Ｍｚを反転させ、反転時間
ＴＩの直前時に第２の反転パルスを印加して磁化Ｍｚを
再反転させ、その後、データを収集するようにした。反
転時間ＴＩが比較的短いため、上記第２の反転パルスを
印加する直前の時刻では、磁化Ｍｚは負の値である。こ
こで、上記第２の反転パルスにより磁化Ｍｚを再反転さ
せるから、磁化Ｍｚは正の値に戻る。上記第２の反転パ
ルスを印加する直前の時刻をｔ1.5-とし、磁化Ｍｚの値
を−Ｍ１とし、再反転した直後の時刻をｔ1.5+とし、磁
化Ｍｚの値をＭ１とすると、時刻ｔ1.5+における曲線α
の傾きは、上記（１）式より、 ｄＭｚ(t1.5+)／ｄｔ＝−（Ｍ１−Ｍ）／Ｔ１ …(３) となる。前記（２）式と上記（３）式とを比較すれば、
上記再反転により曲線αの傾きが比較的緩やかになった
ことが判る。このため、サンプリング時の磁化の変化が
急なことに起因するアーチファクトを抑制でき、画質を
向上できるようになる。
よび上記第３，第４の観点によるＭＲＩ装置では、第１
の反転パルスを印加して磁化Ｍｚを反転させ、反転時間
ＴＩの直前時に第２の反転パルスを印加して磁化Ｍｚを
再反転させ、その後、データを収集するようにした。反
転時間ＴＩが比較的短いため、上記第２の反転パルスを
印加する直前の時刻では、磁化Ｍｚは負の値である。こ
こで、上記第２の反転パルスにより磁化Ｍｚを再反転さ
せるから、磁化Ｍｚは正の値に戻る。上記第２の反転パ
ルスを印加する直前の時刻をｔ1.5-とし、磁化Ｍｚの値
を−Ｍ１とし、再反転した直後の時刻をｔ1.5+とし、磁
化Ｍｚの値をＭ１とすると、時刻ｔ1.5+における曲線α
の傾きは、上記（１）式より、 ｄＭｚ(t1.5+)／ｄｔ＝−（Ｍ１−Ｍ）／Ｔ１ …(３) となる。前記（２）式と上記（３）式とを比較すれば、
上記再反転により曲線αの傾きが比較的緩やかになった
ことが判る。このため、サンプリング時の磁化の変化が
急なことに起因するアーチファクトを抑制でき、画質を
向上できるようになる。
【００１４】また、上記第２の観点によるデータ収集方
法および上記第４の観点によるＭＲＩ装置では、上記再
反転により磁化Ｍｚを正の値に戻すため、磁化Ｍｚが平
衡状態の大きさＭに戻るまでの変化量が比較的小さくな
る。このため、磁化Ｍｚが平衡状態の大きさＭに戻るま
での時間が比較的短くてすみ、繰り返し時間ＴＲを短く
できるようになる。従って、全データを収集するのに要
する時間を短縮できるようになる。
法および上記第４の観点によるＭＲＩ装置では、上記再
反転により磁化Ｍｚを正の値に戻すため、磁化Ｍｚが平
衡状態の大きさＭに戻るまでの変化量が比較的小さくな
る。このため、磁化Ｍｚが平衡状態の大きさＭに戻るま
での時間が比較的短くてすみ、繰り返し時間ＴＲを短く
できるようになる。従って、全データを収集するのに要
する時間を短縮できるようになる。
【００１５】
【実施例】以下、図に示す実施例によりこの発明をさら
に詳しく説明する。なお、これによりこの発明が限定さ
れるものではない。図１は、この発明のＭＲＩ装置の一
実施例のブロック図である。このＭＲＩ装置１００にお
いて、マグネットアセンブリ１は、内部に被検体を挿入
するための空間部分（孔）を有し、この空間部分を取り
まくようにして、被検体に一定の静磁場を印加する静磁
場コイルと、勾配磁場を発生するための勾配磁場コイル
（勾配コイルは、読み出し軸，位相軸，スライス軸のコ
イルを備えている）と、被検体内の原子核のスピンを励
起する励起パルスや磁化を反転させる反転パルスなどの
ＲＦパルスを与える送信コイルと、被検体からのＮＭＲ
信号を検出する受信コイル等が配置されている。静磁場
コイル，勾配磁場コイル，送信コイルおよび受信コイル
は、それぞれ主磁場電源２，勾配磁場駆動回路３，ＲＦ
電力増幅器４および前置増幅器５に接続されている。
に詳しく説明する。なお、これによりこの発明が限定さ
れるものではない。図１は、この発明のＭＲＩ装置の一
実施例のブロック図である。このＭＲＩ装置１００にお
いて、マグネットアセンブリ１は、内部に被検体を挿入
するための空間部分（孔）を有し、この空間部分を取り
まくようにして、被検体に一定の静磁場を印加する静磁
場コイルと、勾配磁場を発生するための勾配磁場コイル
（勾配コイルは、読み出し軸，位相軸，スライス軸のコ
イルを備えている）と、被検体内の原子核のスピンを励
起する励起パルスや磁化を反転させる反転パルスなどの
ＲＦパルスを与える送信コイルと、被検体からのＮＭＲ
信号を検出する受信コイル等が配置されている。静磁場
コイル，勾配磁場コイル，送信コイルおよび受信コイル
は、それぞれ主磁場電源２，勾配磁場駆動回路３，ＲＦ
電力増幅器４および前置増幅器５に接続されている。
【００１６】シーケンス記憶回路８は、計算機７からの
指令に従い、記憶されているパルスシーケンスに基づい
て勾配磁場駆動回路３を操作し、前記マグネットアセン
ブリ１の勾配磁場コイルから勾配磁場を発生させると共
に、ゲート変調回路９を操作し、ＲＦ発振回路１０の高
周波出力信号を所定タイミング・所定包絡線のパルス状
信号に変調し、それをＲＦパルスとしてＲＦ電力増幅器
４に加え、ＲＦ電力増幅器４でパワー増幅した後、前記
マグネットアセンブリ１の送信コイルに印加し、ＲＦパ
ルスを送信する。
指令に従い、記憶されているパルスシーケンスに基づい
て勾配磁場駆動回路３を操作し、前記マグネットアセン
ブリ１の勾配磁場コイルから勾配磁場を発生させると共
に、ゲート変調回路９を操作し、ＲＦ発振回路１０の高
周波出力信号を所定タイミング・所定包絡線のパルス状
信号に変調し、それをＲＦパルスとしてＲＦ電力増幅器
４に加え、ＲＦ電力増幅器４でパワー増幅した後、前記
マグネットアセンブリ１の送信コイルに印加し、ＲＦパ
ルスを送信する。
【００１７】前置増幅器５は、マグネットアセンブリ１
の受信コイルで検出された被検体からのＮＭＲ信号を増
幅し、位相検波器１２に入力する。位相検波器１２は、
ＲＦ発振回路１０の出力を参照信号とし、前置増幅器５
からのＮＭＲ信号を位相検波して、Ａ／Ｄ変換器１１に
与える。Ａ／Ｄ変換器１１は、位相検波後のアナログ信
号をディジタル信号に変換して、計算機７に入力する。
計算機７は、Ａ／Ｄ変換器１１からのデジタル信号に対
する画像再構成演算を行い、目的の領域の画像（プロト
ン密度像）を生成する。この画像は、表示装置６にて表
示される。また、計算機７は、操作卓１３から入力され
た情報を受け取るなどの全体的な制御を受け持つ。
の受信コイルで検出された被検体からのＮＭＲ信号を増
幅し、位相検波器１２に入力する。位相検波器１２は、
ＲＦ発振回路１０の出力を参照信号とし、前置増幅器５
からのＮＭＲ信号を位相検波して、Ａ／Ｄ変換器１１に
与える。Ａ／Ｄ変換器１１は、位相検波後のアナログ信
号をディジタル信号に変換して、計算機７に入力する。
計算機７は、Ａ／Ｄ変換器１１からのデジタル信号に対
する画像再構成演算を行い、目的の領域の画像（プロト
ン密度像）を生成する。この画像は、表示装置６にて表
示される。また、計算機７は、操作卓１３から入力され
た情報を受け取るなどの全体的な制御を受け持つ。
【００１８】図２は、この発明のデータ収集方法の第１
例にかかるパルスシーケンス図である。このパルスシー
ケンスＡでは、時刻ｔ０に第１の反転パルスＨ１８０を
印加し、比較的短い反転時間ＴＩの直前の時刻ｔ1.5 に
第２の反転パルスＳ１８０を印加し、その後の時刻ｔ１
より複数回のデータ収集用パルス系列ＤＳｍを開始し
て、複数ビュー分のデータを収集する。上記データ収集
用パルス系列ＤＳｍとしては、例えばＧＥ（Ｇradient
Echo）法やＦＩＳＰ（Ｆast Imaging with Steady Prec
ession）法によるパルス系列を用いることが出来る。な
お、図中のＳＳはスライス選択勾配であり、ＳＰはステ
ィミューレテッドエコーの発生を防止するスポイラであ
る。
例にかかるパルスシーケンス図である。このパルスシー
ケンスＡでは、時刻ｔ０に第１の反転パルスＨ１８０を
印加し、比較的短い反転時間ＴＩの直前の時刻ｔ1.5 に
第２の反転パルスＳ１８０を印加し、その後の時刻ｔ１
より複数回のデータ収集用パルス系列ＤＳｍを開始し
て、複数ビュー分のデータを収集する。上記データ収集
用パルス系列ＤＳｍとしては、例えばＧＥ（Ｇradient
Echo）法やＦＩＳＰ（Ｆast Imaging with Steady Prec
ession）法によるパルス系列を用いることが出来る。な
お、図中のＳＳはスライス選択勾配であり、ＳＰはステ
ィミューレテッドエコーの発生を防止するスポイラであ
る。
【００１９】図３に、ＧＥ法によるデータ収集用パルス
系列ＤＳｍを例示する。このデータ収集用パルス系列Ｄ
Ｓｍでは、まず、フリップ角α゜のＲＦパルスＲαとス
ライス選択のための勾配磁場Ｓαを印加し、次に、位相
エンコードのための勾配磁場ＩＰを印加し、データを読
み出すための勾配磁場Ｒを印加しながら１エコー分のデ
ータを収集し、最後に、前記勾配磁場ＩＰと大きさが同
じで極性が反対の勾配磁場ＩＭを印加することを、勾配
磁場ＩＰの大きさを変えながら繰り返し、複数ビュー分
のデータを収集する。図４に、ＦＩＳＰ法によるデータ
収集用パルス系列ＤＳｍを例示する。このデータ収集用
パルス系列ＤＳｍでは、まず、フリップ角α゜のＲＦパ
ルスＲαとスライス選択のための勾配磁場Ｓαを印加
し、次に、位相エンコードのための勾配磁場ＩＰを印加
し、データを読み出すための勾配磁場Ｒを印加しながら
１ビュー分のデータを収集し、最後に、前記勾配磁場Ｉ
Ｐと大きさが同じで極性が反対の勾配磁場ＩＭを印加す
ることを、勾配磁場ＩＰ，ＩＭの大きさを変えながら繰
り返し、複数ビュー分のデータを収集する。このデータ
収集用パルス系列ＤＳｍは、すべての軸で位相を差し戻
すことが特徴である。
系列ＤＳｍを例示する。このデータ収集用パルス系列Ｄ
Ｓｍでは、まず、フリップ角α゜のＲＦパルスＲαとス
ライス選択のための勾配磁場Ｓαを印加し、次に、位相
エンコードのための勾配磁場ＩＰを印加し、データを読
み出すための勾配磁場Ｒを印加しながら１エコー分のデ
ータを収集し、最後に、前記勾配磁場ＩＰと大きさが同
じで極性が反対の勾配磁場ＩＭを印加することを、勾配
磁場ＩＰの大きさを変えながら繰り返し、複数ビュー分
のデータを収集する。図４に、ＦＩＳＰ法によるデータ
収集用パルス系列ＤＳｍを例示する。このデータ収集用
パルス系列ＤＳｍでは、まず、フリップ角α゜のＲＦパ
ルスＲαとスライス選択のための勾配磁場Ｓαを印加
し、次に、位相エンコードのための勾配磁場ＩＰを印加
し、データを読み出すための勾配磁場Ｒを印加しながら
１ビュー分のデータを収集し、最後に、前記勾配磁場Ｉ
Ｐと大きさが同じで極性が反対の勾配磁場ＩＭを印加す
ることを、勾配磁場ＩＰ，ＩＭの大きさを変えながら繰
り返し、複数ビュー分のデータを収集する。このデータ
収集用パルス系列ＤＳｍは、すべての軸で位相を差し戻
すことが特徴である。
【００２０】図５は、上記パルスシーケンスＡにかかる
静磁場方向の磁化Ｍｚの変化とデータ収集のタイミング
を示すグラフである。曲線βが、磁化Ｍｚの変化を示し
ている。この曲線βは、 ｔ0≦ｔ≦ｔ1.5- Ｍｚ(t0)＝−Ｍ Ｍｚ(t1.5-)＝−Ｍ1.5 ｄＭｚ(t)／ｄｔ＝−（Ｍｚ(t)−Ｍ）／Ｔ１ …(４) ｔ1.5+≦ｔ Ｍｚ(t1.5+)＝Ｍ1.5 ｄＭｚ(t)／ｄｔ＝−（Ｍｚ(t)−Ｍ）／Ｔ１ …(５） で表される。つまり、曲線βは基本的に（１）式に従う
が、時刻ｔ１．５ で第２の反転パルスＳ１８０が印加
されることにより、磁化Ｍｚの値が−Ｍ1.5からＭ1.5に
変化している。
静磁場方向の磁化Ｍｚの変化とデータ収集のタイミング
を示すグラフである。曲線βが、磁化Ｍｚの変化を示し
ている。この曲線βは、 ｔ0≦ｔ≦ｔ1.5- Ｍｚ(t0)＝−Ｍ Ｍｚ(t1.5-)＝−Ｍ1.5 ｄＭｚ(t)／ｄｔ＝−（Ｍｚ(t)−Ｍ）／Ｔ１ …(４) ｔ1.5+≦ｔ Ｍｚ(t1.5+)＝Ｍ1.5 ｄＭｚ(t)／ｄｔ＝−（Ｍｚ(t)−Ｍ）／Ｔ１ …(５） で表される。つまり、曲線βは基本的に（１）式に従う
が、時刻ｔ１．５ で第２の反転パルスＳ１８０が印加
されることにより、磁化Ｍｚの値が−Ｍ1.5からＭ1.5に
変化している。
【００２１】時刻ｔ1.5+における曲線βの傾きは、
ｄＭｚ(t1.5+)／ｄｔ＝−（Ｍ１−Ｍ）／Ｔ１ …(６)
となり、これは前記（２）式と比較すれば緩やかであ
る。サンプリングは、時刻ｔ1.5+より後に行われるか
ら、曲線βの傾きはさらに緩やかになる。なお、これ
は、図５に示すこの発明にかかる曲線βと従来の曲線α
を比較しても明らかである。従って、サンプリング時の
磁化の変化が急なことに起因するアーチファクトを抑制
でき、画質を向上できるようになる。
る。サンプリングは、時刻ｔ1.5+より後に行われるか
ら、曲線βの傾きはさらに緩やかになる。なお、これ
は、図５に示すこの発明にかかる曲線βと従来の曲線α
を比較しても明らかである。従って、サンプリング時の
磁化の変化が急なことに起因するアーチファクトを抑制
でき、画質を向上できるようになる。
【００２２】図６は、この発明のデータ収集方法の第２
例にかかるパルスシーケンス図である。このパルスシー
ケンスＢでは、時刻ｔ０に第１の反転パルスＨ１８０を
印加し、比較的短い反転時間ＴＩの直前の時刻ｔ1.5 に
第２の反転パルスＳ１８０を印加し、その後の時刻ｔ１
より１回のデータ収集用パルス系列ＤＳ１を開始して、
１ビュー分のデータを収集する。これを繰り返し時間Ｔ
Ｒで必要な回数だけ繰り返す。上記データ収集用パルス
系列ＤＳ１としては、例えばＳＥ（Ｓpin Echo）法によ
るパルス系列を用いることが出来る。図７に、ＳＥ法に
よるデータ収集用パルス系列ＤＳ１を例示する。このデ
ータ収集用パルス系列ＤＳ１では、まず、フリップ角９
０゜のＲＦパルスＲ９０とスライス選択のための勾配磁
場Ｓ１を印加し、次に、位相エンコードのための勾配磁
場ＩＰを印加し、次に、フリップ角１８０゜のＲＦパル
スＲ１８０とスライス選択のための勾配磁場Ｓ２を印加
し、データを読み出すための勾配磁場Ｒを印加しながら
１ビュー分のデータを収集する。なお、このデータ収集
用パルス系列ＤＳ１を繰り返し時間ＴＲで繰り返す際、
前記勾配磁場ＩＰを変化させる。
例にかかるパルスシーケンス図である。このパルスシー
ケンスＢでは、時刻ｔ０に第１の反転パルスＨ１８０を
印加し、比較的短い反転時間ＴＩの直前の時刻ｔ1.5 に
第２の反転パルスＳ１８０を印加し、その後の時刻ｔ１
より１回のデータ収集用パルス系列ＤＳ１を開始して、
１ビュー分のデータを収集する。これを繰り返し時間Ｔ
Ｒで必要な回数だけ繰り返す。上記データ収集用パルス
系列ＤＳ１としては、例えばＳＥ（Ｓpin Echo）法によ
るパルス系列を用いることが出来る。図７に、ＳＥ法に
よるデータ収集用パルス系列ＤＳ１を例示する。このデ
ータ収集用パルス系列ＤＳ１では、まず、フリップ角９
０゜のＲＦパルスＲ９０とスライス選択のための勾配磁
場Ｓ１を印加し、次に、位相エンコードのための勾配磁
場ＩＰを印加し、次に、フリップ角１８０゜のＲＦパル
スＲ１８０とスライス選択のための勾配磁場Ｓ２を印加
し、データを読み出すための勾配磁場Ｒを印加しながら
１ビュー分のデータを収集する。なお、このデータ収集
用パルス系列ＤＳ１を繰り返し時間ＴＲで繰り返す際、
前記勾配磁場ＩＰを変化させる。
【００２３】図８は、上記パルスシーケンスＢにかかる
静磁場方向の磁化Ｍｚの変化とデータ収集のタイミング
を示すグラフである。曲線βが磁化Ｍｚの変化を示して
いる。この曲線βは、上記（４）（５）式で表される。
従って、サンプリング時の曲線βの傾きは緩やかにな
り、サンプリング時の磁化の変化が急なことに起因する
アーチファクトを抑制でき、画質を向上できるようにな
る。
静磁場方向の磁化Ｍｚの変化とデータ収集のタイミング
を示すグラフである。曲線βが磁化Ｍｚの変化を示して
いる。この曲線βは、上記（４）（５）式で表される。
従って、サンプリング時の曲線βの傾きは緩やかにな
り、サンプリング時の磁化の変化が急なことに起因する
アーチファクトを抑制でき、画質を向上できるようにな
る。
【００２４】さらに、サンプリング後、磁化Ｍｚが平衡
状態の大きさＭに戻るまでの変化量Ｑβが比較的小さく
なる。このため、磁化Ｍｚが平衡状態の大きさＭに戻る
までの時間が比較的短くてすみ、繰り返し時間ＴＲを短
くできるようになり、全データを収集するのに要する時
間を短縮できるようになる。
状態の大きさＭに戻るまでの変化量Ｑβが比較的小さく
なる。このため、磁化Ｍｚが平衡状態の大きさＭに戻る
までの時間が比較的短くてすみ、繰り返し時間ＴＲを短
くできるようになり、全データを収集するのに要する時
間を短縮できるようになる。
【００２５】なお、図９に示すように、スライス選択勾
配ＳＳを印加せず、非選択励起としてもよい。また、反
転パルスＨ１８０，Ｓ１８０として、シンク（sinc）波
形の外、図１０に示すように、矩形波形を用いてもよ
い。
配ＳＳを印加せず、非選択励起としてもよい。また、反
転パルスＨ１８０，Ｓ１８０として、シンク（sinc）波
形の外、図１０に示すように、矩形波形を用いてもよ
い。
【００２６】
【発明の効果】この発明のデータ収集方法およびＭＲＩ
装置によれば、サンプリング時の磁化の変化が急なこと
に起因するアーチファクトを抑制し、画質を向上できる
ようになる。また、繰り返し時間ＴＲを短くでき、全デ
ータの収集に要する時間を短縮できるようになる。
装置によれば、サンプリング時の磁化の変化が急なこと
に起因するアーチファクトを抑制し、画質を向上できる
ようになる。また、繰り返し時間ＴＲを短くでき、全デ
ータの収集に要する時間を短縮できるようになる。
【図１】この発明のＭＲＩ装置の一実施例を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図２】この発明のデータ収集方法の第１例にかかるパ
ルスシーケンス図である。
ルスシーケンス図である。
【図３】ＧＥ法によるデータ収集用パルス系列の例示図
である。
である。
【図４】ＦＩＳＰ法によるデータ収集用パルス系列の例
示図である。
示図である。
【図５】図２のパルスシーケンスにかかる静磁場方向の
磁化の変化とデータ収集のタイミングを示すグラフであ
る。
磁化の変化とデータ収集のタイミングを示すグラフであ
る。
【図６】この発明のデータ収集方法の第２例にかかるパ
ルスシーケンス図である。
ルスシーケンス図である。
【図７】ＳＥ法によるデータ収集用パルス系列の例示図
である。
である。
【図８】図６のパルスシーケンスにかかる静磁場方向の
磁化の変化とデータ収集のタイミングを示すグラフであ
る。
磁化の変化とデータ収集のタイミングを示すグラフであ
る。
【図９】非選択励起の場合のパルスシーケンス図であ
る。
る。
【図１０】矩形波形の反転パルスを用いた場合のパルス
シーケンス図である。
シーケンス図である。
【図１１】従来のＩＲプリパレーションパルスを有した
ファーストスキャンによるデータ収集法の一例のパルス
シーケンス図である。
ファーストスキャンによるデータ収集法の一例のパルス
シーケンス図である。
【図１２】図１１のパルスシーケンスにかかる静磁場方
向の磁化の変化とデータ収集のタイミングを示すグラフ
である。
向の磁化の変化とデータ収集のタイミングを示すグラフ
である。
【図１３】従来法の他例のパルスシーケンス図である。
【図１４】図１３のパルスシーケンスにかかる静磁場方
向の磁化の変化とデータ収集のタイミングを示すグラフ
である。
向の磁化の変化とデータ収集のタイミングを示すグラフ
である。
１００ ＭＲＩ装置
１ マグネットアセンブリ
３ 勾配磁場駆動回路
７ 計算機
８ シーケンス記憶回路
Ｈ１８０ 第１の反転パルス
Ｓ１８０ 第２の反転パルス
Ｒα，Ｒ１８０，Ｒ９０ ＲＦパルス
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
A61B 5/055
ＪＩＣＳＴファイル（ＪＯＩＳ)
Claims (4)
- 【請求項１】 反転パルスを印加し、それから前記反転
パルスの印加によりマイナスになった縦磁化がプラスに
なるまでの時間より短い反転時間ＴＩ後より複数回のデ
ータ収集用パルス系列を開始して複数ビュー分のデータ
を収集するＭＲＩ装置において、 所定のスライスを選択するスライス選択勾配磁場を印加
しながら第１の反転パルスを印加し、前記反転時間ＴＩ
が経過する直前に前記スライスと同一のスライスを選択
するスライス選択勾配磁場を印加しながら第２の反転パ
ルスを印加し、その直後より複数回のデータ収集用パル
ス系列を開始して複数回分のデータを収集するデータ収
集手段を具備したことを特徴とするＭＲＩ装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載のＭＲＩ装置において、 前記データ収集用パルス系列は、ＧＥ(Gradient Echo)
法又はＦＩＳＰ(Fast Imaging with Steady Precessio
n)法であることを特徴とするＭＲＩ装置。 - 【請求項３】 反転パルスを印加し、それから前記反転
パルスの印加によりマイナスになった縦磁化がプラスに
なるまでの時間より短い反転時間ＴＩ後より１回のデー
タ収集用パルス系列を開始して１ビュー分のデータを収
集するＭＲＩ装置において、 所定のスライスを選択するスライス選択勾配磁場を印加
しながら第１の反転パルスを印加し、前記反転時間ＴＩ
が経過する直前に前記スライスと同一のスライスを選択
するスライス選択勾配磁場を印加しながら第２の反転パ
ルスを印加し、その直後より１回のデータ収集用パルス
系列を開始して１ビュー分のデータを収集するデータ収
集手段を具備したことを特徴とするＭＲＩ装置。 - 【請求項４】 請求項３に記載のＭＲＩ装置において、 前記データ収集用パルス系列は、ＳＥ(Spin Echo)法で
あることを特徴とするＭＲＩ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13406594A JP3432593B2 (ja) | 1994-06-16 | 1994-06-16 | Ｍｒｉ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13406594A JP3432593B2 (ja) | 1994-06-16 | 1994-06-16 | Ｍｒｉ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08588A JPH08588A (ja) | 1996-01-09 |
| JP3432593B2 true JP3432593B2 (ja) | 2003-08-04 |
Family
ID=15119556
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13406594A Expired - Fee Related JP3432593B2 (ja) | 1994-06-16 | 1994-06-16 | Ｍｒｉ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3432593B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4929239B2 (ja) * | 2008-06-26 | 2012-05-09 | 株式会社東芝 | Ｍｒｉ装置 |
-
1994
- 1994-06-16 JP JP13406594A patent/JP3432593B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08588A (ja) | 1996-01-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3365983B2 (ja) | Ｍｒｉ装置 | |
| JP3117670B2 (ja) | マルチスライスｍｒイメージング方法およびｍｒｉ装置 | |
| JP3891799B2 (ja) | Ｍｒｉ装置 | |
| JP3796455B2 (ja) | Ｍｒｉ装置 | |
| JP3453089B2 (ja) | Ｍｒｉ装置 | |
| JP2755125B2 (ja) | Ｍｒイメージング装置 | |
| JP3668076B2 (ja) | Ｍｒｉ装置 | |
| KR100459097B1 (ko) | Ｍｒ 촬상 방법, 잔류 자화량 측정 방법 및 ｍｒｉ 장치 | |
| JP3440049B2 (ja) | Ｍｒｉ装置 | |
| JP3028220B2 (ja) | Ｍｒｉ装置 | |
| JP3384897B2 (ja) | Ｍｒｉ装置 | |
| JP3432593B2 (ja) | Ｍｒｉ装置 | |
| JPS62103555A (ja) | Ｎｍｒイメ−ジング装置 | |
| JPH06237910A (ja) | Ｍｒｉ装置 | |
| JP3462905B2 (ja) | Ｍｒｉ装置 | |
| JP3576641B2 (ja) | Ｍｒｉ装置 | |
| WO1987003464A1 (en) | Nmr imaging method | |
| JP3447099B2 (ja) | Ｍｒｉ装置 | |
| JP3197635B2 (ja) | Ｍｒｉ装置 | |
| JP4489278B2 (ja) | 拡散強調画像撮影方法およびｍｒｉ装置 | |
| JP3353799B2 (ja) | Ｍｒ装置 | |
| JPH10243934A (ja) | 磁気共鳴診断装置 | |
| JP3341913B2 (ja) | Ｍｒ装置 | |
| JPH09108196A (ja) | Ｍｒｉ装置およびｍｒイメージング方法 | |
| JP2816862B2 (ja) | 核磁気共鳴画像診断装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080523 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090523 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100523 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100523 Year of fee payment: 7 |
|
| S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100523 Year of fee payment: 7 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100523 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100523 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110523 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110523 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120523 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120523 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130523 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130523 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140523 Year of fee payment: 11 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |