JP3341913B2 - Mr装置 - Google Patents
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Description
スキャンを実行するMR装置(核磁気共鳴装置)に関す
る。
化する手段として、X線CT装置と同様にして、近年用
いられるようになってきた。MR装置は、その原理が生
体組織を構成する特定の原子核が、磁場の影響の中で特
定のラジオ周波数(以下RFと略す)を吸収して励起さ
れ、吸収したRFエネルギーの一部分を放出する物理現
象(NMR現象)に基づくものである。
て、1は磁界を発生するマグネット、2は該マグネット
1内に設けられるRF帯域の電力が印加され、その検出
信号を得るRFコイルである。図に示すような全身用マ
グネットの場合、患者3はRFコイル2の内部に包まれ
るように置かれる。
の周波数の電力をRFコイル2に印加する。この時の送
信器4の印加電力としては、例えば10KW〜20KW
が用いられる。この結果、患者3の体内からのNMR現
象に基づく信号がRFコイル2に誘起される。受信器5
は、この検出信号を受信して増幅し、A/D変換器6に
送る。A/D変換器6は、入力信号をディジタルデータ
に変換する。
データを入力し、画像処理を行い、その結果をディスプ
レイ8に表示する。オペレータは、ディスプレイ8に表
示された画像を見ながら、患者の病変部の診察を行う。
9は、コンピュータ7と他の構成要素(送信器7,受信
器5及びA/D変換器6)との仲介を行うインタフェー
スである。
繰り返し時間が数msという勾配反転型(フィールド・
エコー法)の高速スキャンが使用されるようになってき
た。この高速スキャンは、従来のスピンワープ法による
スキャン法と同じであり、周波数空間であるk空間のデ
ータの埋め方も同じである。この高速スキャンでは、繰
り返し時間が短いために、画像コントラストが付きにく
いという問題がある。
に一連のデータ収集に先立ち、プリパレーションパルス
と呼ばれる様々なRFパルスと勾配パルスからなるパル
スシーケンスが付加されることが多い。例えば、T1コ
ントラストを付けるために180゜プリパレーションパ
ルス、T2コントラストを付けるために90゜−180
゜−90゜というプリパレーションパルスが付加される
場合が多い。
では、3次元のk空間を埋める必要がある。図6はk空
間を表す図である。図において、kx はリードアウト方
向(データ取り出し方向)、kyはフェーズエンコード
方向、kz はスライス厚方向(デプスエンコード方向)
に相当している。
うに先ずkz を固定し、kx −ky面のデータを収集
し、次にkz を変えて、同様にデータ収集するものであ
る。これに対し、(b)は逆にkyを固定とし、kx −
kz 面のデータを先に収集する方法である。これらの図
において、データ収集の順は●→○→×であるものとす
る。
収集する方法はあまり一般的でないが、スキャン中にk
z 方向にFFT,DFTといった画像再構成処理である
フーリェ変換を行うことができるメリットがある。その
理由は、kz 方向は単純なフーリェ変換のみで処理する
ことができるからである。
エ法、ハーフエコー法等の特殊な処理が必要なケースが
あるので、スキャン中に処理を行うのは困難である。従
って、kx −kz面から先にデータ収集する方法のみ
が、スキャン中にデータ処理を行うことが容易である。
た場合の3Dスキャンを考えてみる。一般的に行われて
いる方法は、1つのkz ステップに対して1回のプリパ
レーションパルスが付加される方法である。180゜パ
ルスを付加するT1プリパレーションパルスの場合を例
にとると、kx ,ky の埋め方は図7に示すようなもの
となる。
oが磁化の平衡状態を示す。kyにおいて、ny はフェ
ーズエンコード数である。最初に180゜プリパレーシ
ョンパルスを印加した後、縦磁化が緩和されるまでの間
にデータ収集に入る。データ収集では、1個のkz に対
して低周波領域から高周波領域のkyを順次埋めてい
く。全ての領域のkyが埋められたら、次にパラメータ
kz の値を変えて同様の操作を繰り返していく。この例
では、−ny /2≦ky ≦(ny /2)−1,−nz /
2≦kz ≦(nz /2)−1としてk空間の中心からデ
ータを収集し始めている。kz はデプスエンコード数で
ある。
高速スキャンの様子を示す図であり、図7とほぼ同じ内
容である。1個のkz 毎に180゜プリパレーションパ
ルスを印加し、k空間上で低周波成分から順にkyデー
タを埋めていく様子が分かる。
の方式ではk空間の内、kz を固定してky を埋めてい
く手順をとっていたため、画像処理に時間がかかるとい
う問題があった。
ものであって、画像再構成処理の高速化を図ることがで
きるプリパレーションパルス付き3Dスキャンを実行す
るMR装置を提供することを目的としている。
本発明は、kx ,ky ,kz よりなるk空間にデータを
埋めていくMR装置のプリパレーションパルス付き3D
スキャン方法において、先ずky を一定にして、kz を
埋めていくようにしたことを特徴としている。
合、kz の処理は簡単なフーリエ変換のみであるため、
スキャン中に終了することができる。従って、この分だ
け画像処理の高速化を図ることができる。
に説明する。図1は本発明の動作説明図である。本発明
では、従来方式と異なり、ky を一定に固定しておき、
kz を埋めていく方式をとっている。この場合におい
て、ky のNpステップ毎に180゜プリパレーション
パルスを印加している。これは、プリパレーションパル
ス印加後、時間が経つと縦磁化が緩和してくるためであ
る。
z はデプスエンコード数である。そして、それぞれのn
y ,nz 数は、図8の従来例の場合と同じであり、−n
y /2≦ky ≦(ny /2)−1,−nz /2≦kz ≦
(nz /2)−1である。図1の例では、ny =16,
nz =4の場合である。上式にこの条件を当てはめる
と、−8≦ky ≦7,−2≦kz ≦1となる。
ではないことである(詳細後述)。プリパレーション
後、Np個のky の並びが低周波から埋められていき、
かつNp中のn番目のky が任意のプリパレーション後
のn+1番目のky よりも低周波になっている。つま
り、低周波領域から埋めていくことにより、磁気緩和の
影響を無くして高品質の画像を得ることができる。
プリパレーションパルスの後、kyを埋める方式をとっ
ていた。ky は画像の1辺のマトリクス数となるため、
一般的にはky ≧128が使用される。ky =128と
すると、繰り返し時間=8msとして、1回の180゜
パルスで約1秒のデータ収集が行われる。
磁化の寿命は約1秒である。このため、従来例で1回の
180゜パルスの後、kx −ky 面のデータを収集して
も問題ない。また、ky =0付近の磁化の状態が画像コ
ントラストに反映されるので、スキャン後半の高周波領
域のデータ収集中の磁化の回復の影響は少ない。
める方式の場合について考えると、前述したように一般
的にはkz <ky でスキャンが行われることが多く、1
つのkx −kz 平面を埋めるために、1回のプリパレー
ションパルスを印加したのでは、スキャン時間の無駄で
ある。勿論、kz が大きい場合にはその限りでない。数
ky ステップ毎に180゜プリパレーションパルスを印
加した時、このステップ数をNpとする。簡単のため、
ny =16,nz =4,Np=4の場合で説明する。
順を変えた場合を考えてみる。図2はky,kz の並びと
縦磁化の状態を示す図である。(a)は従来のkx −k
y 先方式、(b)はkx −kz 先方式である。kx ,k
y 共に、低周波の時の磁化の状態が画像コントラストに
反映するので、|ky |≦1,|kz |≦1の場合を考
える。図中、○が従来のkx −ky 面先方式で、●がk
x −kz 先方式である。
を先に埋める方式では、ky ,kzが低周波となる磁化
の状態は−M0 からM0 の間でさまざまな状態をとり、
所望のコントラストを得ることができない。
式で数ky ステップ毎にプリパレーションパルスを入れ
る方式では、単純にky とkz のループ順を入れ換えし
ただけでは、問題がある。
番を決める。「プリパレーション後、Np個のky の並
びが低周波から並び、かつNp中のn番目のky が任意
のプリパレーション後のn+1番目のky よりも低周波
となる」ようにする。つまり、先のデータ程低周波とな
るようにするのである。このような方法をとることによ
り、所望のコントラストが得られるようになる。なお、
kz の並びは低周波から高周波へと中心から出力するの
が最も望ましい。
の場合のky の並びは図3に示すようなものとなる。例
えば、Np1 の2番目のky 値“2”は、次のプリパレ
ーション後のNp2 の3番目のky 値“−5”よりも低
周波である。そして、それぞれのky 値に対してkz が
変化する。
ロジックで決めることができる。NpはTr(繰り返し
時間)とnz と磁化の寿命τより、Np×Tr×nz <
τの範囲で決定することができる。そして、Npが決ま
れば、ny よりky の並びは簡単なロジックで求めるこ
とができる。
低周波から高周波へ並んだ場合、ky,kz が低周波とな
る時刻はプリパレーションパルス後、近い時刻に集中
し、所望のコントラストを容易に得ることができる。
は、スピンの持つ様々な物理定数の情報を縦磁化強度に
変換するものである。T2プリパレーションではT2の
減衰の違いを縦磁化強度の違いに変換する。その他ディ
フュージョンプリパレーション等のプリパレーションも
同じである。よって本発明は説明に用いたT1プリパレ
ーションだけでなく、T2プリパレーション等について
も同様に応用可能である。
を示すブロック図である。図において、マグネットアセ
ンブリ11は、内部に被検体(図示せず)を挿入するた
めの空間部分(孔)を有し、この空間部分を取り巻くよ
うにして、被検体に一定の静磁場を印加する静磁場コイ
ルと、勾配磁場を発生するための勾配磁場コイル(勾配
磁場コイルはx,y,zの各軸のコイルを具備してい
る)と、被検体内の原子核のスピンを励起するための高
周波パルスを与えるRF送信コイルと、被検体からのN
MR信号を検出する受信コイル等が配置されている。
コイル及び受信コイルは、静磁場電源(主磁場電源)1
2,勾配磁場駆動回路13,RF電力増幅器14及び前
置増幅器15にそれぞれに接続されている。シーケンス
記憶回路18は、本発明を特徴づける部分であり、計算
機17からの指令に従って任意のビューでゲート変調回
路19を操作(所定のタイミングによってRF発振回路
20の高周波出力信号を変調)し、高周波パルスをRF
電力増幅器14からRF送信コイルに印加する。
ついて更に詳しく説明する。シーケンス記憶回路18内
には、ky を一定にして、kz を埋めていく手順が記憶
されている。そして、フェーズエンコード数ny,デプ
スエンコード数nz 及びステップ数Npが決まると、計
算機17からの指令に基づき、図1に示すようなタイミ
ングのプリパレーションパルスをRFコイルに印加し、
それぞれのkyに対するkz を埋めていく。
法に基づくシーケンス信号によって勾配磁場駆動回路1
3,ゲート変調回路19及びA/D変換器21を操作す
る。更に、シーケンス記憶回路18は、前記した一連の
シーケンス動作に入る前に、ゲート変調回路19及び勾
配磁場駆動回路13を操作して、所望の方向で選択励磁
する。
力を参照信号として、前置増幅器15の出力信号(受信
コイルで検出されたNMR信号)を位相検波してA/D
変換器21に与える。A/D変換器21は、位相検波器
22を介して得られるNMR信号をアナログ/ディジタ
ル変換して計算機17に入力する。
で情報の授受や種々のスキャンシーケンスを実現するた
めに、シーケンス記憶回路18の動作の切り替えや、メ
モリの書き替えをしたり、A/D変換器21からの各デ
ータを用いて画像再構成演算をするようになっている。
画像処理結果は、表示装置16に表示される。
化を図ることができるプリパレーションパルス付き3D
スキャンを実行するMR装置を提供することができる。
る。
y の並びの例を示す図である。
ック図である。
ある。
キャンの様子を示す図である。
Claims (3)
- 【請求項1】 kx ,ky ,kz からなるk空間に対し
て受信したNMR信号のデータを埋めていくプリパレー
ションパルス付き3Dスキャンを実行するMR装置であ
って、 複数ステップを有する前記ky についての各ステップ毎
にプリパレーションパルスを印加するプリパレーション
パルス印加手段と、 先ず前記ky を一定にして、前記kzに対して前記デー
タを埋めていくように3Dスキャンを実行する3Dスキ
ャン実行手段とを備えたことを特徴とするMR装置。 - 【請求項2】 前記プリパレーションパルスは、180
°プリパレーションパルスであることを特徴とする請求
項1記載のMR装置。 - 【請求項3】 前記3Dスキャン実行手段は、プリパレ
ーション後、複数個の前記ky の並びが、低周波から高
周波へと並び、かつ複数個の中のn番目の前記kyが任
意のプリパレーション後のn+1番目のky よりも低周
波になるようにしたことを特徴とする請求項1又は2に
記載のMR装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP00190593A JP3341913B2 (ja) | 1993-01-08 | 1993-01-08 | Mr装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP00190593A JP3341913B2 (ja) | 1993-01-08 | 1993-01-08 | Mr装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06205760A JPH06205760A (ja) | 1994-07-26 |
JP3341913B2 true JP3341913B2 (ja) | 2002-11-05 |
Family
ID=11514597
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP00190593A Expired - Fee Related JP3341913B2 (ja) | 1993-01-08 | 1993-01-08 | Mr装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3341913B2 (ja) |
-
1993
- 1993-01-08 JP JP00190593A patent/JP3341913B2/ja not_active Expired - Fee Related
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JPH06205760A (ja) | 1994-07-26 |
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