JP3542650B2 - Mri装置 - Google Patents

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JP3542650B2 JP00503495A JP503495A JP3542650B2 JP 3542650 B2 JP3542650 B2 JP 3542650B2 JP 00503495 A JP00503495 A JP 00503495A JP 503495 A JP503495 A JP 503495A JP 3542650 B2 JP3542650 B2 JP 3542650B2
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Description

【0001】
【産業上の利用分野】
この発明は、MR(Magnetic Resonance)イメージング方法およびMRI(Magnetic Resonance Imaging)装置に関する。さらに詳しくは、SPAMM(SPAtial Modulation of Magnetization)法によりタッギング(Tagging)を行うMRイメージング方法およびMRI装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
MRI画像上に磁気標識を施すことにより、流れの方向や生体の動きを画像化したり、磁化率の違いによる画像の歪みを可視化する手法であるタッギング法については、例えば「Segment Tagging Sequence の開発、大山泰その他、第21回日本磁気共鳴医学会講演抄録集、135、1993、p.229」や「臨床画像SPECIAL:MRI診断の基礎知識Q&A、pp.189〜192、竹内榮一 その他編集、メジカルビュー社発行」や「米国特許第5,111,820号」に記載されている。
【0003】
図6に、SPAMM法によりタッギングを行う場合の従来のパルスシーケンスの一例を示す。
このパルスシーケンスWでは、まず、第1のRFパルスR1とスライス勾配s1を印加する。次に、磁気標識用勾配gを印加する。次に、第2のRFパルスR2とスライス勾配S2とを印加する。その後、例えばGRASS(Gradient Recalled Acquisition in the Steady State)法やSE(Spin Echo)法などのデータ収集用パルス系列DAQを実行し、イメージング用データを収集する。
図7に、上記パルスシーケンスWにより得られるMRI画像Iを模式的に示す。この例では、磁気標識Tが斜線状に施されているが、磁気標識Tを格子状に施すことも可能である。
なお、タッギングを行うためにデータ収集用パルス系列DAQの前に印加するパルス系列をSPAMM用パルスという(サンドイッチパルスといわれる場合もある)。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
図6ではスライス勾配s1,s2を矩形波で示したが、実際には勾配磁場駆動回路の性能上の限界によってスライス勾配s1,s2は台形波になる。すると、図8に示すように、第1のRFパルスR1の終了時から第2のRFパルスR2の開始時までの期間に入り込むスライス勾配部分a,bが生じる。
これらのスライス勾配部分a,bは磁気標識用勾配としての作用を持つため、図9に示すように、スライス勾配s1,s2により規定されるスライスSTにおいて、点線のように磁気標識がスライス方向に位置ずれすることになる。
しかし、磁気標識がスライス方向に位置ずれすると、データ収集用パルス系列DAQで切り出したイメージング用スライスSI1,SI2における磁気標識同士が対応しなくなってしまう。すなわち、図9で、点PT1と点PT2とがスライス方向に対応する点同士であるが、点PT1はイメージング用スライスSI1によるMRI画像上で磁気標識T1が施されるが、点PT2はイメージング用スライスSI2によるMRI画像上で磁気標識が施されなくなる。このため、スライス同士を比較しての分析が行い難くなる問題点がある。
そこで、この発明の目的は、磁気標識がスライス方向に位置ずれすることを防止したMRイメージング方法およびMRI装置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】
第1の観点では、この発明は、第1のRFパルスとスライス勾配とを印加し,次に磁気標識用勾配を印加し,次に第2のRFパルスとスライス勾配とを少なくとも印加することによりタッギングを行うMRイメージング方法において、前記第1のRFパルスの終了時から前記第2のRFパルスの開始時までの期間の前記スライス勾配の時間積分値を実質的に“0”とし、スライス勾配が磁気標識用勾配として作用することを防止したことを特徴とするMRイメージング方法を提供する。
なお、上記構成において「少なくとも」とは、RFパルスの数が3つ以上でもよいという意味である。RFパルスの数が3つ以上の場合は、任意の磁気標識用勾配の前後の2つのRFパルスのうちの先行するRFパルスを第1のRFパルスと看做し、後続のRFパルスを第2のRFパルスと看做せばよい。
【0006】
第2の観点では、この発明は、第1のRFパルスとスライス勾配とを印加し,次に磁気標識用勾配を印加し,次に第2のRFパルスとスライス勾配とを少なくとも印加するSPAMM用パルス印加手段を有するMRI装置において、スライス勾配が磁気標識用勾配として作用することを防止するため、前記サンドイッチパルス印加手段は、前記第1のRFパルスの終了時から前記第2のRFパルスの開始時までの期間の前記スライス勾配の時間積分値が実質的に“0”となる波形のスライス勾配を印加することを特徴とするMRI装置を提供する。
なお、上記構成において「少なくとも」とは、RFパルスの数が3つ以上でもよいという意味である。RFパルスの数が3つ以上の場合は、任意の磁気標識用勾配の前後の2つのRFパルスのうちの先行するRFパルスを第1のRFパルスと看做し、後続のRFパルスを第2のRFパルスと看做せばよい。
【0007】
第3の観点では、この発明は、上記構成のMRI装置において、前記第1のRFパルスによりスライス方向にばらけた位相を前記第2のRFパルスにより元に戻すため、前記SPAMM用パルス印加手段は、前記第1のRFパルスの略ピーク時から終了時までの期間の前記スライス勾配の時間積分値と前記第2のRFパルスの開始時から略ピーク時までの前記スライス勾配の時間積分値の和が実質的に“0”となる波形のスライス勾配を印加することを特徴とするMRI装置を提供する。
【0008】
【作用】
上記第1の観点によるMRイメージング方法および上記第2の観点によるMRI装置では、SPAMM用パルスを加える際に、第1のRFパルスの終了時から第2のRFパルスの開始時までの期間のスライス勾配の時間積分値が実質的に“0”となる波形のスライス勾配を印加する。
これにより、第1のRFパルスの終了時から第2のRFパルスの開始時までの期間に入り込むスライス勾配部分が実質的に磁気標識用勾配としての作用を持たなくなるため、磁気標識がスライス方向に位置ずれすることを防止でき、スライス同士を比較しての分析を行い易くなる。
【0009】
上記第3の観点によるMRI装置では、SPAMM用パルスを加える際に、第1のRFパルスの終了時から第2のRFパルスの開始時までの期間のスライス勾配の時間積分値が実質的に“0”となると共に、第1のRFパルスの開始時から終了時までの期間のスライス勾配の時間積分値と第2のRFパルスの開始時から終了時までのスライス勾配の時間積分値の和が実質的に“0”となる波形のスライス勾配を印加する。
これにより、上記作用に加えて、第1のRFパルスでの磁化の位相のばらけをリフェーズし、第2のRFパルスで位相を揃えることが出来るようになるため、位相のばらけに起因して磁気標識がスライス方向に位置ずれすることをも防止できるようになり、スライス同士を比較しての分析をより行い易くなる。
【0010】
【実施例】
以下、図に示す実施例によりこの発明をさらに詳しく説明する。なお、これによりこの発明が限定されるものではない。
図1は、この発明のMRI装置の一実施例のブロック図である。
このMRI装置100において、マグネットアセンブリ1は、内部に被検体を挿入するための空間部分(孔)を有し、この空間部分を取りまくようにして、被検体に一定の主磁場を印加する主磁場コイルと、勾配磁場を発生するための勾配磁場コイル(勾配磁場コイルは、スライス軸,位相軸,読み出し軸のコイルを備えている)と、被検体内の原子核のスピンを励起するためのRFパルスを与える送信コイルと、被検体からのNMR信号を検出する受信コイル等が配置されている。主磁場コイル,勾配磁場コイル,送信コイルおよび受信コイルは、それぞれ主磁場電源2,勾配磁場駆動回路3,RF電力増幅器4および前置増幅器5に接続されている。
【0011】
シーケンス記憶回路8は、計算機7からの指令に従い、記憶されているパルスシーケンスに基づいて勾配磁場駆動回路3を操作し、前記マグネットアセンブリ1の勾配磁場コイルから勾配磁場を発生させると共に、ゲート変調回路9を操作し、RF発振回路10の搬送波出力信号を所定タイミング・所定包絡線形状のパルス状信号に変調し、それをRFパルスとしてRF電力増幅器4に加え、RF電力増幅器4でパワー増幅した後、前記マグネットアセンブリ1の送信コイルに印加し、目的のスライス領域を選択励起する。
【0012】
前置増幅器5は、マグネットアセンブリ1の受信コイルで検出された被検体からのNMR信号を増幅し、位相検波器12に入力する。位相検波器12は、RF発振回路10の搬送波出力信号を参照信号とし、前置増幅器5からのNMR信号を位相検波して、A/D変換器11に与える。A/D変換器11は、位相検波後のアナログ信号をディジタル信号に変換して、計算機7に入力する。
計算機7は、A/D変換器11からデータを読み込み、画像再構成演算を行い、目的のスライス領域のイメージを生成する。このイメージは、表示装置6にて表示される。また、計算機7は、操作卓13から入力された情報を受け取るなどの全体的な制御を受け持つ。
【0013】
タッギングを施す際は、前記計算機7および前記シーケンス記憶手段8が、サンドイッチパルス印加手段として機能する。
【0014】
図2に、この発明のMRイメージング方法の第1の実施例のパルスシーケンスを示す。
このパルスシーケンスQ1では、まず、第1のRFパルスR1とスライス勾配s1を印加する。次に、磁気標識用勾配gを印加すると共に反転スライス勾配qを印加する。次に、第2のRFパルスR2とスライス勾配S2とを印加する。その後、例えばGRASS法やSE法などのデータ収集用パルス系列DAQを実行し、イメージング用データを収集する。
上記反転スライス勾配qは、第1のRFパルスR1の終了時t1から第2のRFパルスR2の開始時t2までの期間に入り込むスライス勾配部分a,bを打ち消すように符号と面積が定められている。従って、スライス勾配をGsで表わすとき、次式が成立する。
【0015】
【数1】
Figure 0003542650
【0016】
これにより、第1のRFパルスR1の終了時t1から第2のRFパルスR2の開始時t2までの期間に入り込むスライス勾配部分a,q,bが実質的に磁気標識用勾配としての作用を持たなくなる。従って、図3に示すように、スライス勾配s1,s2により規定されるスライスSTにおいて、点線のように磁気標識がスライス方向に平行になる。そこで、スライス方向に対応する点PT1と点PT2とに着目するとき、点PT1はイメージング用スライスSI1によるMRI画像上で磁気標識T1が施され、且つ、点PT2もイメージング用スライスSI2によるMRI画像上で磁気標識が施される。このため、スライス同士を比較しての分析が行い易くなる。
【0017】
図4に、この発明のMRイメージング方法の第2の実施例のパルスシーケンスを示す。
このパルスシーケンスQ2では、まず、第1のRFパルスR1とスライス勾配s1を印加する。次に、磁気標識用勾配gを印加する。次に、第2のRFパルスR2とスライス勾配s2とを印加する。その後、例えばGRASS法やSE法などのデータ収集用パルス系列DAQを実行し、イメージング用データを収集する。
上記スライス勾配s2は、その符号をスライス勾配s1に対して反転させ、第1のRFパルスR1の終了時t1から第2のRFパルスR2の開始時t2までの期間に入り込むスライス勾配部分a,bが互いに打ち消すようにする。すなわち、前記(数1)式を成立させる。
また、第1のRFパルスR1の開始時t0から終了時t1までの期間のスライス勾配Gsの時間積分値と第2のRFパルスR2の開始時t2から終了時t3までのスライス勾配Gsの時間積分値の和が実質的に“0”となるようにする。すなわち、次式を成立させる。
【0018】
【数2】
Figure 0003542650
【0019】
なお、スライス方向にオフセットする場合、RFパルスの中心周波数はスライス勾配Gsの反転に合せてシフトさせる。
【0020】
前記(数1)式を成立させることにより、第1のRFパルスR1の終了時t1から第2のRFパルスR2の開始時t2までの期間に入り込むスライス勾配部分a,bが実質的に磁気標識用勾配としての作用を持たなくなる。従って、図3に示すように、スライス勾配s1,s2により規定されるスライスSTにおいて、点線のように磁気標識がスライス方向に平行になる。そこで、スライス方向に対応する点PT1と点PT2とに着目するとき、点PT1はイメージング用スライスSI1によるMRI画像上で磁気標識T1が施され、且つ、点PT2もイメージング用スライスSI2によるMRI画像上で磁気標識が施される。このため、スライス同士を比較しての分析が行い易くなる。
【0021】
また、前記(数2)式を成立させることにより、第1のRFパルスR1での磁化の位相のばらけをリフェーズし、第2のRFパルスR2で位相を揃えることが出来るようになるため、位相のばらけに起因して磁気標識がスライス方向に位置ずれすることをも防止できるようになる。従って、スライス同士を比較しての分析をより行い易くなる。
【0022】
さらに、図4のパルスシーケンスQ2では、図2のパルスシーケンスQ1の反転スライス勾配qがないため、図2のパルスシーケンスQ1よりもスキャン時間を短縮できる。
【0023】
図5に、この発明のMRイメージング方法の第3の実施例のパルスシーケンスを示す。
このパルスシーケンスQ3は、二項パルス系列のRFパルス(例えば1−2−1パルス)を用いてタッギングを施すものである。まず、第1のRFパルスR1とスライス勾配s1を印加する。次に、第1の磁気標識用勾配g1を印加する。次に、第2のRFパルスR2とスライス勾配S2とを印加する。次に、第2の磁気標識用勾配g2を印加する。次に、第3のRFパルスR3とスライス勾配S3とを印加する。その後、例えばGRASS法やSE法などのデータ収集用パルス系列DAQを実行し、イメージング用データを収集する。
【0024】
上記スライス勾配s2は、その符号をスライス勾配s1に対して反転させ、第1のRFパルスR1の終了時t1から第2のRFパルスR2の開始時t2までの期間に入り込むスライス勾配部分a,bが互いに打ち消すようにする。すなわち、前記(数1)式を成立させる。また、第1のRFパルスR1の開始時t0から終了時t1までの期間のスライス勾配Gsの時間積分値と第2のRFパルスR2の開始時t2から終了時t3までのスライス勾配Gsの時間積分値の和が実質的に“0”となるようにする。すなわち、前記(数2)式を成立させる。
【0025】
また、上記スライス勾配s3は、その符号をスライス勾配s2に対して反転させ、第2のRFパルスR2の終了時t3から第3のRFパルスR3の開始時t4までの期間に入り込むスライス勾配部分c,dが互いに打ち消すようにする。すなわち、第2のRFパルスR2を第1のRFパルスと看做し(t3→t1)、第3のRFパルスR3を第2のRFパルスと看做す(t4→t2)とき、前記(数1)式を成立させる。また、第2のRFパルスR2の開始時t2から終了時t3までの期間のスライス勾配Gsの時間積分値と第3のRFパルスR3の開始時t4から終了時t5までのスライス勾配Gsの時間積分値の和が実質的に“0”となるようにする。すなわち、第2のRFパルスR2を第1のRFパルスと看做し(t2→t0,t3→t1)、第3のRFパルスR3を第2のRFパルスと看做す(t4→t2,t5→t3)とき、前記(数2式)を成立させる。
【0026】
前記(数1)式を成立させることにより、第1のRFパルスR1の終了時t1から第2のRFパルスR2の開始時t2までの期間に入り込むスライス勾配部分a,bおよび第2のRFパルスR2の終了時t3から第3のRFパルスR3の開始時t4までの期間に入り込むスライス勾配部分c,dが実質的に磁気標識用勾配としての作用を持たなくなる。従って、図3に示すように、スライス勾配s1,s2,s3により規定されるスライスSTにおいて、点線のように磁気標識がスライス方向に平行になる。そこで、スライス方向に対応する点PT1と点PT2とに着目するとき、点PT1はイメージング用スライスSI1によるMRI画像上で磁気標識T1が施され、且つ、点PT2もイメージング用スライスSI2によるMRI画像上で磁気標識が施される。このため、スライス同士を比較しての分析が行い易くなる。
【0027】
また、前記(数2)式を成立させることにより、位相のばらけに起因して磁気標識がスライス方向に位置ずれすることをも防止できるようになる。従って、スライス同士を比較しての分析をより行い易くなる。
【0028】
なお、上記説明では、ピーク時を挟んで対称なRFパルスを想定したが、ピーク時を挟んで非対称なRFパルスを用いてもよい。
【0029】
【発明の効果】
この発明のMRイメージング方法およびMRI装置によれば、磁気標識がスライス方向に位置ずれすることを防止でき、スライス同士を比較しての分析を行い易くなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明のMRI装置の一実施例のブロック図である。
【図2】この発明のMRイメージング方法の第1の実施例のパルスシーケンス図である。
【図3】この発明のMRイメージング方法による磁気標識の説明図である。
【図4】この発明のMRイメージング方法の第2の実施例のパルスシーケンス図である。
【図5】この発明のMRイメージング方法の第3の実施例のパルスシーケンス図である。
【図6】SPAMM法によりタッギングを行う場合の従来のパルスシーケンスの例示図である。
【図7】磁気標識を施したMRI画像の説明図である。
【図8】従来のパルスシーケンスの問題点の説明図である。
【図9】磁気標識のスライス方向の位置ずれの説明図である。
【符号の説明】
100 MRI装置
1 マグネットアセンブリ
3 勾配磁場駆動回路
7 計算機
8 シーケンス記憶回路
g 磁気標識用勾配
R1,R2,R3 RFパルス
I MRI画像
T,T1 磁気標識
ST 磁気標識を施されたスライス
SI1,SI2 イメージング用スライス

Claims (3)

  1. 第1のRFパルスとスライス勾配とを印加し、次に磁気標識用勾配を印加し、次に第2のRFパルスとスライス勾配とを少なくとも印加するSPAMM(SPAtial Modulation of Magnetization)用パルス印加手段を有するMRI装置において、
    前記スライス勾配の一部が前記磁気標識用勾配を印加している期間に重なるためにそのスライス勾配の一部が磁気標識用勾配として作用することを防止するため、前記SPAMM用パルス印加手段は、前記磁気標識用勾配を印加している期間のスライス勾配の時間積分値が実質的に“0”となる波形のスライス勾配を印加することを特徴とするMRI装置。
  2. 請求項1に記載のMRI装置において、前記第1のRFパルスによりスライス方向にばらけた位相を前記第2のRFパルスにより元に戻すため、前記SPAMM用パルス印加手段は、前記第1のRFパルスの略ピーク時から終了時までの期間の前記スライス勾配の時間積分値と前記第2のRFパルスの開始時から略ピーク時までの前記スライス勾配の時間積分値の和が実質的に“0”となる波形のスライス勾配を印加することを特徴とするMRI装置。
  3. 二項パルス系列のRFパルスである1−2−1パルスを印加する請求項2に記載のMRI装置において、
    前記SPAMM用パルス印加手段は、前記第1のRFパルスと前記第2のRFパルスとの間にある磁気標識用勾配を印加している期間のスライス勾配の時間積分値が実質的に“0”となる波形のスライス勾配を印加する他に、前記第2のRFパルスと第2のRFパルスの次に印加される第3のRFパルスとの間にある磁気標識用勾配を印加している期間のスライス勾配の時間積分値が実質的に“0”となる波形のスライス勾配を印加することを特徴とするMRI装置。
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