JPH08186400A - 基板不良検出方法 - Google Patents

基板不良検出方法

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JPH08186400A
JPH08186400A JP6340144A JP34014494A JPH08186400A JP H08186400 A JPH08186400 A JP H08186400A JP 6340144 A JP6340144 A JP 6340144A JP 34014494 A JP34014494 A JP 34014494A JP H08186400 A JPH08186400 A JP H08186400A
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JP
Japan
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product
defect
recognition area
defective
substrate
Prior art date
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Pending
Application number
JP6340144A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahisa Abe
真久 阿部
Akira Yotsuya
章 四家
Naoyuki Hirose
尚幸 広瀬
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Iwaki Electronics Co Ltd
Original Assignee
Iwaki Electronics Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Iwaki Electronics Co Ltd filed Critical Iwaki Electronics Co Ltd
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Priority to KR1019970700847A priority patent/KR100278342B1/ko
Publication of JPH08186400A publication Critical patent/JPH08186400A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0266Marks, test patterns or identification means
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、基板不良検出方法に関し、基板か
ら多数取りする部分上の内部、境界、あるいは外周の不
良認識マーキングの枠をプリ印刷しておき、不良認識マ
ーキングを自動あるいは人が付し、実装時に部分の内
部、境界、あるいは外周の枠内に不良認識マーキングが
施されていないもののみを良品として取り出し、1枚の
基板から多数取りする部分の不良認識マーキングを人あ
るいは機械のいずれも容易に付したり、確実に検出した
りすることを可能にすることを目的とする。 【構成】 基板上の部品を実装する多数の部分の外周に
不良認識マーキングの枠をプリ印刷しておき、当該部分
が不良と判明したときに不良認識マーキングの枠内にマ
ーク付けをし、実装時に不良認識マーキングの枠内にマ
ーク付けされていたときに不良品と判定し実装しなく、
マーク付けされていないときに良品と判定して切り出し
などを行って実装するように構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、基板上に部品を実装し
た多数の部分の不良を検出する基板不良検出方法に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】従来、1枚の基板上に部品などを実装し
た部分を多数設けたいわゆる多数枚取り基板において、
当該1枚の基板上の各部分の良品/不良品を識別するの
に、不良部分の全体あるいは一部分に不良認識マーキン
グを人あるいは機械に行わせていた。そして、切取り時
に不良認識マーキングのある部分を人あるいは機械によ
って認識し、不良認識マーキングのない部分のみを良品
として切り取っていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
は、1枚の基板上に多数の部分にそれぞれ部品を実装
し、良品のみを切り取る場合に、当該部分の全体あるい
は一部分にマーク付けされた不良認識マーキングを人、
あるいは機械によって認識していたため、人によって不
良認識マーキングを認識したのでは工数が多く必要とな
ってしまうと共に、機械に不良認識マーキングを認識さ
せたのでは当該部分にパターンが存在し、不良認識マー
キングと混在して認識がし難く、誤認識が発生し易いと
いう問題があった。
【0004】また、機械によって基板上の部分内の所定
エリアに不良認識マーキングをした場合、人がそれを認
識しようとしても不良認識マーキングか、あるいは回路
パターンかの判別が難しく、事実上、人が不良認識マー
キングを認識できないという問題もあった。また、人が
基板上の部分内に不良認識マーキングを任意の場所に付
した場合、所定エリアがずれてしまうと、機械が不良認
識マーキングを検出できないという問題もあった。
【0005】本発明は、これらの問題を解決するため、
1枚の基板から多数取りする部分上の内部、境界、ある
いは外周の不良認識マーキングの枠をプリ印刷してお
き、製造工程などで不良が判明した段階でプリ印刷した
枠の内部に不良認識マーキングを自動あるいは人が付
し、1枚の基板から良品のみを切り取るときなどに部分
の内部、境界、あるいは外周の枠内に不良認識マーキン
グが施されていないもののみを良品として取り出し、1
枚の基板から多数取りする部分の不良認識マーキングを
人あるいは機械のいずれも容易に付したり、確実に検出
したりすることを可能にすることを目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】図1を参照して課題を解
決するための手段を説明する。図1において、基板1
は、多数の製品2を実装する基板である。
【0007】製品2は、基板1上に設けた部品を実装す
る多数の部分であって、不良品か否かを判別する対象の
ものである。不良認識エリア3は、製品2の内部の空白
部分、製品2の外周、あるいは製品2の境界線上に設け
たエリアであって、プリ印刷によって予め不良認識マー
キングする枠を印刷しておくものである。
【0008】
【作用】本発明は、図1に示すように、基板1上の部品
を実装する多数の部分である製品2の外周に不良認識マ
ーキングの枠である不良認識エリア3をプリ印刷してお
き、製品2が不良と判明したときに不良認識マーキング
の枠である不良認識エリア3内にマーク付けをし、実装
時に不良認識マーキングの枠である不良認識エリア3内
にマーク付けされていたときに不良品と判定し実装しな
く、マーク付けされていないときに良品と判定して切り
出しなどを行って実装するようにしている。
【0009】また、基板1上の部品を実装する多数の部
分である製品2の内部のパターンの無い空白部分に不良
認識マーキングの枠である不良認識エリア3をプリ印刷
しておき、製品2が不良と判明したときに不良認識マー
キングの枠である不良認識エリア3内にマーク付けを
し、実装時に不良認識マーキングの枠である不良認識エ
リア3内にマーク付けされていたときに不良品と判定し
実装しなく、マーク付けされていないときに良品と判定
して切り出しなどを行って実装するようにしている。
【0010】また、基板1上の部品を実装する多数の部
分である製品2の境界線上に不良認識マーキングの枠で
ある不良認識エリア3をプリ印刷しておき、製品2が不
良と判明したときに不良認識マーキングの枠である不良
認識エリア3内にマーク付けをし、実装時に不良認識マ
ーキングの枠である不良認識エリア3内にマーク付けさ
れていたときに不良品と判定し実装しなく、マーク付け
されていないときに良品と判定して切り出しなどを行っ
て実装するようにしている。
【0011】従って、1枚の基板1から多数取りする部
分である製品2の内部の空白部分、境界線上、あるいは
外周に不良認識マーキングの枠である不良認識エリア3
をプリ印刷しておき、製造工程などで不良が判明した段
階でプリ印刷した不良認識エリア3の内部に不良認識マ
ーキングを自動あるいは人が付し、1枚の基板から良品
のみを切り取るときなどに部分である製品2の内部、境
界、あるいは外周の不良認識エリア3内に不良認識マー
キングが施されていないもののみを良品として取り出
し、1枚の基板1から多数取りする部分である製品2の
不良認識マーキングを人あるいは機械のいずれも容易に
付したり、確実に検出したりすることが可能となる。
【0012】
【実施例】次に、図1および図2を用いて本発明の実施
例の構成および動作を順次詳細に説明する。
【0013】図1は、本発明の不良認識エリアの説明図
を示す。図1の(a)は、製品の外部に不良認識エリア
をプリ印刷した例を示す。図1の(a)において、基板
1は、複数の部分を設けて部品を実装した製品2を作成
するためのものである。
【0014】製品2は、基板1上に複数設けた部分に部
品を実装した製品である。この基板1上に設けた複数の
製品2は、部品の実装後に切り出して完成品とするもの
である。
【0015】不良認識エリア3は、基板1上に設けた複
数の製品2の不良マークを付す、プリ印刷する領域であ
る。ここでは、製品2の外周部に図示の◎の任意の位置
にプリ印刷したものである。
【0016】以上の図1の(a)のように、基板1上に
設けた複数の製品2の外周部に、不良認識エリア3をプ
リ印刷しておき、部品の実装などした後、検査して不良
と判明したときに検査員が不良認識エリア3を塗りつぶ
しなどして不良の旨をマーク付けしたり、検査装置が自
動的に不良を検出して所定位置にプリ印刷されている不
良認識エリア3にマーク付けしたりすることが可能とな
る。これにより、製品2について、検査員あるいは自動
検査装置のいずれかが不良を検出したときにプリ印刷さ
れている不良認識エリア3にマーク付けし、不良の旨を
マーク付けしておくことが可能となる。この不良認識エ
リア3を製品2の外周に設けたこの例では、製品2にキ
ャップなどを被せても当該製品2の不良の旨をいつでも
マーク付けしたり、不良の旨を検出したりすることが可
能となる。
【0017】図1の(b)は、製品の内部に不良認識エ
リアをプリ印刷した例を示す。ここで、基板1および製
品2は、図1の(a)と同一であるので、説明を省略す
る。図1の(b)において、不良認識エリア3は、基板
1上に設けた複数の製品2の不良マークを付す、プリ印
刷する領域である。ここでは、製品2の内部の空白でパ
ターンが印刷されていない図示の◎の任意の位置にプリ
印刷したものである。
【0018】以上の図1の(b)のように、基板1上に
設けた複数の製品2の内部の空白の部分に、不良認識エ
リア3をプリ印刷しておき、部品の実装などした後、検
査して不良と判明したときに検査員が不良認識エリア3
を塗りつぶしなどして不良の旨をマーク付けしたり、検
査装置が自動的に不良を検出して所定位置にプリ印刷さ
れている不良認識エリア3にマーク付けしたりすること
が可能となる。これにより、製品2について、検査員あ
るいは自動検査装置のいずれも不良を検出したときにプ
リ印刷されている不良認識エリア3にマーク付けし、不
良の旨をマーク付けしておくことが可能となる。この不
良認識エリア3を製品2の内部の空白の部分に設けたこ
の例では、製品2を密に基板1上に隣接して設け、外周
に余白がないときに不良認識エリア3をプリ印刷するの
に都合がよい。
【0019】図1の(c)は、製品と基板の境界線上に
不良認識エリアをプリ印刷した例を示す。ここで、基板
1および製品2は、図1の(a)と同一であるので、説
明を省略する。
【0020】図1の(c)において、不良認識エリア3
は、基板1上に設けた複数の製品2の不良マークを付
す、プリ印刷する領域である。ここでは、製品2と基板
1との境界線上に図示の◎の任意の位置にプリ印刷した
ものである。
【0021】以上の図1の(c)のように、基板1上に
設けた複数の製品2と基板1との境界線上に、不良認識
エリア3をプリ印刷しておき、部品の実装などした後、
検査して不良と判明したときに検査員が不良認識エリア
3を塗りつぶしなどして不良の旨をマーク付けしたり、
検査装置が自動的に不良を検出して所定位置にプリ印刷
されている不良認識エリア3にマーク付けしたりするこ
とが可能となる。これにより、製品2について、検査員
あるいは自動検査装置のいずれも不良を検出したときに
プリ印刷されている不良認識エリア3にマーク付けし、
不良の旨をマーク付けしておくことが可能となる。この
不良認識エリア3を製品2と基板1との境界線上に設け
たこの例では、製品2を密に基板1上に設けて外周に余
白がなく、しかも製品2の内部に密に部品が実装された
ときに不良認識エリア3をプリ印刷するのに都合がよ
い。
【0022】次に、図2の説明図に従い、図1の構成の
不良認識マークの有無の検出について詳細に説明する。
図2は、本発明の説明図を示す。
【0023】図2において、S1は、マーキング検出・
実装するために、基板1を基準位置にセットする。これ
は、複数の製品2を設ける基板1を所定の基準位置にセ
ットする。
【0024】S2は、基板上の不良認識エリア3をカメ
ラ位置に移動する。これは、図1の(a)、(b)、
(c)のいずれかの領域に不良認識エリア3がプリ印刷
してあるので、このプリ印刷した不良認識エリア3を、
カメラで撮影できるカメラ位置に移動させる。
【0025】S3は、カメラで基板1上の不良認識エリ
ア3の画像を読み込む。S4は、S3で読み込んだ不良
認識エリア3の画像から、当該不良認識エリア3内に不
良認識マークのマーキングが有か判別する。YESの場
合には、不良認識エリア3にマーキングされており、不
良と判明したので、S5でこの製品2を切り取って実装
したりしない。一方、NOの場合には、不良認識エリア
3にマーキングされていなく、良品と判明したので、S
6で基板1から切り取って実装する。
【0026】以上のように、基板1の複数の製品2毎に
内部の空白部分、基板との境界線上、あるいは外周部に
不良認識エリア3を予めプリ印刷してあるので、この不
良認識エリア3をカメラ位置に移動して当該不良認識エ
リア3にマーキングされて不良か否かを検出し、マーク
されて不良と判明したときに当該製品2を切り取って実
装したりしなく、一方、マークされていなくて良品と判
明したときに当該製品2を切り取って実装する。これら
により、基板1上の多数の製品2の部分上の部品の実装
の状態に応じて、確実に不良認識エリア3にマーキング
した旨を検出できる位置に当該不良認識エリア3を予め
プリ印刷しておくことにより、基板1上の多数の製品2
を切り取って実装するときに自動的に良品、不良品を誤
認識することなく精度高く自動的に判定し、良品のみの
製品2を切り取って実装することが可能となった。
【0027】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
1枚の基板1から多数取りする部分である製品2の内部
の空白部分、境界線上、あるいは外周に不良認識マーキ
ングの枠である不良認識エリア3をプリ印刷しておき、
製造工程などで不良が判明した段階でプリ印刷した不良
認識エリア3の内部に不良認識マーキングを自動あるい
は人が付し、1枚の基板から良品のみを切り取るときな
どに部分の内部、境界、あるいは外周の不良認識エリア
3内に不良認識マーキングが施されていないもののみを
良品として取り出す構成を採用しているため、1枚の基
板から多数取りする部分である製品2の不良認識マーキ
ングを人あるいは機械のいずれも容易に付したり、確実
に検出したりすることができるようになった。これによ
り、基板上の多数取りする製品の不良品の誤認識率を大
幅に向上させ、従来は約1.5%位あったものを事実上
0%にすることが可能となった。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の不良認識エリアの説明図である。
【図2】本発明の説明図である。
【符号の説明】
1:基板 2:製品 3:不良認識エリア

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板上に部品を実装した多数の部分の不良
    を検出する基板不良検出方法において、 基板上の部品を実装する多数の部分の外周に不良認識マ
    ーキングの枠をプリ印刷しておき、 当該部分が不良と判明したときに上記不良認識マーキン
    グの枠内にマーク付けをし、 実装時に上記不良認識マーキングの枠内にマーク付けさ
    れていたときに不良品と判定し実装しなく、マーク付け
    されていないときに良品と判定して切り出しなどを行っ
    て実装することを特徴とする基板不良検出方法。
  2. 【請求項2】上記多数の部分の外周の代わりに多数の部
    分の内部のパターンの無い空白部分に、不良認識マーキ
    ングの枠をプリ印刷したことを特徴とする請求項1記載
    の基板不良検出方法。
  3. 【請求項3】上記多数の部分の外周の代わりに多数の部
    分と基板との境界の部分に、不良認識マーキングの枠を
    プリ印刷したことを特徴とする請求項1記載の基板不良
    検出方法。
JP6340144A 1994-11-15 1994-12-29 基板不良検出方法 Pending JPH08186400A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6340144A JPH08186400A (ja) 1994-12-29 1994-12-29 基板不良検出方法
KR1019970700847A KR100278342B1 (ko) 1994-11-15 1995-11-13 탐침 카드 조립체에서 탐침 요소의 배향을 변경하는 방법

Applications Claiming Priority (1)

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JP6340144A JPH08186400A (ja) 1994-12-29 1994-12-29 基板不良検出方法

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JPH08186400A true JPH08186400A (ja) 1996-07-16

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ID=18334153

Family Applications (1)

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JP6340144A Pending JPH08186400A (ja) 1994-11-15 1994-12-29 基板不良検出方法

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JP (1) JPH08186400A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003014654A (ja) * 2001-06-27 2003-01-15 Ngk Spark Plug Co Ltd 基板の検査方法及び検査装置並びに電子機器用製品の製造方法
CN104493874A (zh) * 2014-12-16 2015-04-08 河海大学 一种白纸疵点裁切区域的自动定位方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0258291A (ja) * 1988-08-24 1990-02-27 Toshiba Corp 印刷配線板の表示方法
JPH04208589A (ja) * 1990-12-01 1992-07-30 Hochiki Corp プリント基板の部品実装構造
JP4087672B2 (ja) * 2001-09-20 2008-05-21 コリア クンホ ペトロケミカル カンパニー リミテッド インピダンススペクトルのパターンマッチング技法を用いた単位電池分類方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0258291A (ja) * 1988-08-24 1990-02-27 Toshiba Corp 印刷配線板の表示方法
JPH04208589A (ja) * 1990-12-01 1992-07-30 Hochiki Corp プリント基板の部品実装構造
JP4087672B2 (ja) * 2001-09-20 2008-05-21 コリア クンホ ペトロケミカル カンパニー リミテッド インピダンススペクトルのパターンマッチング技法を用いた単位電池分類方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003014654A (ja) * 2001-06-27 2003-01-15 Ngk Spark Plug Co Ltd 基板の検査方法及び検査装置並びに電子機器用製品の製造方法
JP4709432B2 (ja) * 2001-06-27 2011-06-22 日本特殊陶業株式会社 基板の検査方法及び検査装置並びに電子機器用製品の製造方法
CN104493874A (zh) * 2014-12-16 2015-04-08 河海大学 一种白纸疵点裁切区域的自动定位方法

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