JPH08153348A - 光記録装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ロス時間が少なくデータ記録が中断しないよ
うにする。 【構成】 温度測定部１７は光記録装置の内部温度を測
定する。減算噐２３は、温度測定部１７からの測定温度
と比較温度格納部１９に格納されたた比較温度との差を
求める。補正テーブル参照部２６は、減算器２３からの
温度差と比較温度格納部１９からの比較温度とに基づい
て補正テーブルを参照して補正温度ａを得る。パラメー
タテーブル参照部２７は、パラメータテーブルを参照し
てパラメータ値ｂを得る。加算器２４は、パラメータテ
ーブル参照部２７からのパラメータ値ｂに補正テーブル
参照部２６からの補正値ａを加算してパラメータの最適
値を求める。こうして、実際に光磁気ディスク１１にデ
ータを書き込み/再生することなくパラメータの最適値
を求めることによって、ロス時間が少なくデータ記録を
中断することなく温度補正を行うことができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、光記録媒体にレーザ
光を用いてデータを記録する光記録装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】例えば、光記録媒体として光磁気ディス
クを使用する光記録装置によってデータを記録する場合
には、以下のようにしている。すなわち、上記光磁気デ
ィスクの垂直磁化膜に対して磁化反転方向に弱磁界を与
え、記録パワーにセットされたレーザビームを照射して
垂直磁化膜を部分的にキューリー点以上に加熱して、そ
の部分の磁場を反転させてビット記録する。また、こう
して記録されたデータを再生する場合には、再生パワー
にセットされたレーザビームを光磁気ディスクに照射
し、反射光もしくは透過光の偏光面の回転を検出して再
生を行っている。

【０００３】上述のような記録方法ではレーザパワーを
適切に設定することが重要となる。図７は、記録パワー
と磁化膜への記録状態の関係を簡単な慨念図に示したも
のである。図７(a)は、記録パワー不足であるためにビ
ームスポット境界付近が正しく磁化されていない状態を
示している。また、図７(b)は、記録パワーが最適であ
るためにスポット境界内だけが正しく磁化された状態を
示している。また、図７(c)は記録パワー過多であるた
めにスポット境界を越えて磁化された状態を示してい
る。このことから、記録品質を損なわないためにはより
的確なレーザパワーの設定が必要であることが分かる。

【０００４】しかしながら、上述したごとく本記録方法
では光磁気ディスクを加熱することによって行われるの
で、レーザパワーを最適に設定しても、本光記録装置の
電源投入,ディスク交換,周囲温度変化等に起因する光磁
気ディスクおよび光記録装置内部の温度変化が要因とな
ってレーザパワーの最適値が変化してしまうという問題
がある。そのために、上記記録パワーだけではなく、光
磁気ディスクの記録感度の変化等の温度変化によって影
響を受けるデータ記録時の各パラメータに対する温度補
正が必要になる。

【０００５】従来、上記レーザパワーや光磁気ディスク
の記録感度のような各種パラメータの温度変化に対する
補正は、光磁気ディスクに対して実際にデータを記録/
再生することによって行われている。従来の温度補正の
一例として、図８に、実際にデータを記録/再生する際
における温度補正手順を示す。以下、図８に従って、従
来の温度補正手順について簡単に説明する。

【０００６】ステップＳ1で、図９に示す光磁気ディス
クの専用エリア１に設けられた専用トラックの位置に、
光記録装置のピックアップを移動する。ステップＳ2
で、上記専用トラックにおける先の温度補正の際に使用
されたトラックに書き込まれている温度補正用の測定デ
ータが消去される。ステップＳ3で、現在の環境温度化
で上記専用トラックに測定データが書き込まれる。ステ
ップＳ4で、上記ステップＳ3において書き込まれた測定
データが再生される。ステップＳ5で、上記ステップＳ3
において書き込まれた測定データと上記ステップＳ4に
おいて再生された再生データとを用いて、各補正パラメ
ータが演算される。ステップＳ6で、図９に示す光磁気
ディスクのユーザエリア２におけるデータ記録中のトラ
ックの位置に上記ピックアップを移動した後、温度補正
手順を終了する。

【０００７】上記温度補正手順によれば、データ記録時
における環境温度下で各補正パラメータを得るので、実
際の環境温度が分からなくても、その時々の最適な補正
パラメータを設定することが可能である。尚、上記従来
の温度補正の原理に付いては、この発明に直接関係がな
いのでここでは述べない。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】上述のように、従来の
温度補正方法では、常に最適な補正パラメータが得られ
るという利点がある半面、以下のような問題がある。す
なわち、従来の温度補正方法では、実際に光磁気ディス
クに対して上記測定データを書き込み/再生する必要が
あり、この温度補正用の測定データの書き込み/再生は
光磁気ディスク上におけるユーザエリア２では実行でき
ない。そのために、温度補正手順を実行するたびに、ユ
ーザエリア２から専用エリア１へのピックアップの移動
と専用エリア２からユーザエリア１へのピックアップの
移動を繰り返す必要があり、無駄に時間を浪費するとい
う問題がある。

【０００９】さらに、上記温度補正手順では、発生する
データをリアルタイムで記録する場合には、温度補正手
順を実行するたびにデータ記録が中断されるためにその
間のデータが失われてしまうことになる。

【００１０】そこで、この発明の目的は、ロス時間が少
なく、データ記録が中断されることなく、リアルタイム
で光記録を実行できる光記録装置を提供することにあ
る。

【００１１】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１に係る発明は、光記録媒体にレーザ光を照
射してデータを記録する光記録装置において、本体の内
部温度を測定する温度測定部と、上記内部温度と光記録
条件設定用のパラメータの値とを対応付けたパラメータ
テーブルを格納するパラメータテーブル格納部と、上記
内部温度の変化量と上記パラメータの補正値とを対応付
けた補正テーブルを格納する補正テーブル格納部と、上
記パラメータテーブルの作成時における上記内部温度を
格納する温度格納部と、上記温度測定部によって測定さ
れた温度と上記温度格納部に格納された温度との差を算
出し,この差の値を上記内部温度の変化量として上記補
正テーブルを参照して上記補正値を得る補正テーブル参
照部と、上記パラメータテーブルを参照して,上記温度
格納部に格納された温度でのパラメータの値を得るパラ
メータテーブル参照部と、上記温度測定部,パラメータ
テーブル参照部および補正テーブル参照部を制御して,
上記得られたパラメータの値を上記得られた補正値で補
正することによって上記パラメータの最適値を求める温
度補正制御部を備えたことを備えたことを特徴としてい
る。

【００１２】また、請求項２に係る発明は、請求項１に
係る発明の光記録装置において、上記補正テーブルは複
数設けられて夫々の補正テーブルは異なる基準温度に対
応付けられており,各補正テーブルは夫々の基準温度に
対する温度差と補正値とを対応付けて成り、上記補正テ
ーブル参照部は、上記温度格納部に格納された温度を上
記基準温度としている補正テーブルを選出し、上記基準
温度と上記測定温度との差に基づいて、上記選出された
補正テーブルを参照して上記補正値を得ることを特徴と
している。

【００１３】また、請求項３に係る発明は、請求項１あ
るいは請求項２に係る発明の光記録装置において、上記
光記録媒体は上記本体から取り外し可能であって、上記
光記録媒体が取り外された際にクリアされるフラグを格
納するフラグ格納部と、上記光記録媒体にレーザ光を照
射するピックアップの位置を移動するピックアップ駆動
部と、上記ピックアップおよびピックアップ駆動部を制
御して上記光記録媒体に対して光記録/再生を行った際
の記録データと再生データとに基づいて,上記パラメー
タの最適値を実測するパラメータ測定部と、上記パラメ
ータ測定部によって実測された上記パラメータの最適値
で上記パラメータテーブルを更新するパラメータテーブ
ル更新部と、上記パラメータ測定部によって実測された
上記パラメータの最適値と上記温度補正制御部によって
求められた上記パラメータの最適値とを比較して,両最
適値が等しい場合には上記フラグをセットする最適値比
較部を備えると共に、上記温度補正制御部は,上記温度
測定部・パラメータテーブル参照部および補正テーブル
参照部を制御して上記パラメータの最適値を求めた後に
上記フラグを参照し,上記フラグがセットされている場
合には上記求めた最適値を上記パラメータの最適値であ
ると確定する一方、セットされていない場合には,さら
に上記ピックアップ・ピックアップ駆動部・パラメータ測
定部・パラメータテーブル更新部および最適値比較部を
制御して上記両最適値が等しくなった際に上記フラグを
セットさせることを特徴としている。

【００１４】また、請求項４に係る発明は、請求項２に
係る発明の光記録装置において、上記温度補正制御部に
よって求められた上記パラメータの最適値で上記パラメ
ータテーブルを更新するパラメータテーブル更新部と、
上記温度測定部によって測定された上記内部温度で上記
温度格納部を更新する温度更新部を備えたことを特徴と
している。

【００１５】また、請求項５に係る発明は、請求項３に
係る発明の光記録装置において、上記温度測定部によっ
て測定された上記内部温度で上記温度格納部を更新する
温度更新部を備えると共に、上記パラメータテーブル更
新部は、上記温度補正制御部によって確定された上記パ
ラメータの最適値で上記パラメータテーブルを更新する
ことを特徴としている。

【００１６】

【作用】請求項１に係る発明では、温度測定部によって
光記録装置の内部温度が測定される。そして、補正テー
ブル参照部によって上記温度測定部からの測定温度と温
度格納部に格納された温度との差が算出され、この差に
基づいて補正テーブルが参照されて補正値が得られる。
一方、パラメータテーブル参照部によってパラメータテ
ーブルが参照されて、上記温度格納部に格納された温度
でのパラメータの値が得られる。そうすると、温度補正
制御部によって、上記得られたパラメータの値が得られ
た補正値で補正されて光記録条件設定用のパラメータの
最適値が求められる。こうして、光記録媒体に対して実
際に測定データを書き込み/再生することなく上記内部
温度に応じた上記パラメータの最適値が得られて、少な
いロス時間でデータ記録が中断されることなくリアルタ
イムにデータの書き込みが行われる。

【００１７】また、請求項２に係る発明では、補正テー
ブル参照部によって、温度格納部に格納された温度を基
準温度として補正テーブルが選出され、さらに、上記基
準温度と上記測定温度との差に基づいて、上記選出され
た補正テーブルが参照されてパラメータ補正用の補正値
が得られる。こうして、簡単な検索処理で上記補正値が
得られ、光記録条件設定用のパラメータの最適値が容易
に求められる。

【００１８】また、請求項３に係る発明では、光記録媒
体が取り外されるとフラグがクリアされる。そして、上
記光記録媒体が再度装着されると、温度補正制御部によ
る制御の下に、請求項１に係る発明と同様にして上記パ
ラメータの最適値が求められた後、上記フラグが参照さ
れる。そして、上記フラグがセットされている場合には
上記求められた最適値は上記パラメータの最適値である
と確定される。一方、セットされていない場合には、さ
らに上記温度補正制御部による制御の下に、パラメータ
測定部によってピックアップおよびピックアップ駆動部
が制御されて上記光記録媒体に対して光記録/再生が行
われ、得られた記録データと再生データとに基づいて上
記パラメータの最適値が実測される。そして、パラメー
タテーブル更新部によって、上記実測された上記パラメ
ータの最適値でパラメータテーブルが更新される。そう
すると、最適値比較部によって、上記実測された最適値
と上記求められた最適値とが等しい場合には、本光記録
装置の内部温度が安定したと判断されて上記フラグがセ
ットされる。こうして、本光記録装置の内部温度とは異
なる温度の光記録媒体が装着された場合には、上記内部
温度が安定して上記フラグがセットされた場合にのみ、
求められた上記パラメータの最適値が確定されるのであ
る。

【００１９】また、請求項４に係る発明では、温度補正
制御部による制御の下に、温度格納部に格納された温度
を基準温度とする補正テーブルが参照されて、請求項１
に係る発明と同様にして上記パラメータの最適値が求め
られる。そして、パラメータテーブル更新部によって、
上記求められた最適値でパラメータテーブルの内容が更
新される。一方、温度更新部によって、上記温度測定部
による測定温度で温度格納部が更新される。そうする
と、上記温度補正制御部は、上記更新後の温度格納部お
よび上記更新後のパラメータテーブルの内容に基づいて
上記パラメータの次の最適値を求める。こうして、温度
補正を実行する毎に用いる補正テーブルが変更されて、
上記パラメータの変化の度合いが温度変化の影響を受け
る場合の温度補正が行われる。

【００２０】また、請求項５に係る発明では、温度補正
制御部による制御の下に、温度格納部に格納された温度
を基準温度とする補正テーブルが参照されて、請求項３
に係る発明と同様にして上記パラメータの最適値が確定
される。そして、パラメータテーブル更新部によって、
上記確定された最適値でパラメータテーブルが更新され
る。一方、温度更新部によって、上記温度測定部による
測定温度で温度格納部が更新される。そうすると、上記
温度補正制御部は、上記更新後の温度格納部および上記
更新後のパラメータテーブルの内容に基づいて上記パラ
メータの次の最適値を求める。こうして、温度補正を実
行する毎に用いる補正テーブルが変更されて、上記パラ
メータの変化の度合いが温度変化の影響を受ける場合の
温度補正が行われる。

【００２１】

【実施例】以下、この発明を図示の実施例により詳細に
説明する。図１は本実施例の光記録装置における一実施
例を示すブロック図である。光記録媒体としての光磁気
ディスク１１は、スピンドルモータ１２に保持されて回
転駆動される。レーザ光１４を光磁気ディスク１１の面
に向かって放射するピックアップ１３は、上記ピックア
ップ駆動部としてのリニアモータ１５によって光磁気デ
ィスク１１の半径方向に移動される。

【００２２】上記温度更新部を構成する温度記憶部１８
は、温度測定部１７で測定された本光記録装置の内部温
度を比較温度として比較温度格納部１９に格納する。補
正テーブル格納部２０には基準温度別に複数の補正テー
ブルが格納され、夫々の補正テーブルには上記基準温度
からの温度変化量ΔＴと補正値ａとが対応着けられて登
録されている。パラメータテーブル格納部２１には補正
の対象となるパラメータのある内部温度での値が登録さ
れており、このパラメータ値は上記パラメータテーブル
更新部を構成するテーブル登録部２２によって登録/更
新される。このパラメータテーブル格納部２１と補正テ
ーブル格納部２０との夫々の内容は、パラメータテーブ
ル参照部２７と補正テーブル参照部２６によって参照さ
れる。上記温度補正制御部,パラメータ測定部および最
適値比較部を構成する制御部１６は、制御ライン２８を
介して制御信号を送出して、スピンドルモータ１２,ピ
ックアップ１３,リニアモータ１５,温度測定部１７,テ
ーブル登録部２２,補正テーブル参照部２６,パラメータ
テーブル参照部２７等を制御して、後に詳述するように
して温度補正処理動作を実行する。尚、２３は減算器で
あり、２４は加算器であり、２５は本光記録装置の内部
温度が安定していることを表示するフラグが格納される
フラグ格納部である。

【００２３】図２,図３および図６は、上記制御部１６
の制御の下に、スピンドルモータ１２,ピックアップ１
３,リニアモータ１５,温度測定部１７,テーブル登録部
２２,補正テーブル参照部２６,パラメータテーブル参照
部２７等によって実行される温度補正処理動作のフロー
チャートである。以下、図２,図３および図６に従って
温度補正処理動作について詳細に説明する。

【００２４】(１) 光磁気ディスク１１が光記録装置に
固定されている場合 図２は、光磁気ディスク１１がスピンドルモータ１２の
軸に固定されて着脱不可能な場合の光記録時における温
度補正処理動作のフローチャートである。この場合に
は、電源投入後における本光記録装置の内部温度は図４
に実線Ｇ１で示すように変化する。ここで、上述のよう
に光磁気ディスクは本光記録装置に固定されているの
で、光磁気ディスクの温度も本光記録装置の内部温度と
大略同じように変化する。

【００２５】ステップＳ11で、既にパラメータテーブル
格納部２１にパラメータテーブルが登録済みであるか否
かが判別される。その結果、登録済みであればステップ
Ｓ12に進み、そうでなければステップ18に進む。ステッ
プＳ12で、上記温度測定部１７によって、本光記装置の
内部温度が測定される。ステップＳ13で、この測定温度
と比較温度格納部１９に格納されている比較温度(パラ
メータテーブル作成時における本光記録装置の内部温
度)との温度差が減算器２３によって求められる。ステ
ップＳ14で、上記補正テーブル参照部２６によって、補
正テーブル格納部２０の中から上記比較温度を基準温度
としている補正テーブルが選出され、上記得られた温度
差に対応する補正値ａが読み出されて加算器２４に送出
される。

【００２６】ステップＳ15で、上記読み出された補正値
ａによって、補正の対象となっているパラメータが補正
可能であるか否かが判別される。その結果、補正可能で
あればステップＳ16に進み、補正対象外である場合には
ステップＳ18に進む。尚、ここで言う「補正対象外」と
は、上記補正値ａを用いた温度補正の結果得られるパラ
メータの誤差が所定範囲を超えて大きくなり過ぎてしま
う場合である。また、上記ステップＳ14において、上記
温度差に相当する温度変化量△Ｔが上記選出された補正
テーブルに登録されていないために補正値ａが得られな
い場合等もこれに該当する。ステップＳ16で、上記パラ
メータテーブル参照部２７によって、パラメータテーブ
ル格納部２１に登録されたパラメータテーブルからパラ
メータ値ｂが読み出されて加算器２４に送出される。ス
テップＳ17で、上記加算器２４によって、上記ステップ
Ｓ16において読み出されたパラメータ値ｂと上記ステッ
プＳ14において読み出された補正値ａとが加算され、パ
ラメータ値ｂが補正値ａで補正された上記パラメータの
最適値が算出される。そうした後、温度補正処理動作を
終了する。

【００２７】ステップＳ18で、図８に示す温度補正手順
を用いた従来の温度補正方法によってその時点での補正
パラメータを実測し、テーブル登録部２２によってパラ
メータテーブル格納部２１に登録される。ステップＳ19
で、その際における本光記録装置の内部温度が温度測定
部１７によって測定されて、温度記憶部１８によって上
記比較温度として比較温度格納部１９に格納される。そ
うした後、温度補正処理動作を終了する。

【００２８】このように、本実施例においては、電源投
入時等であって、パラメータテーブル格納部２１にパラ
メータテーブルが登録されていない場合には、ピックア
ップ１３,リニアモータ１５およびテーブル登録部２２
によって、図８に示す温度補正手順を用いた従来の温度
補正方法によってその時点での補正パラメータを実測し
てパラメータテーブル格納部２１に登録する。また、温
度測定部１７による測定温度を比較温度として比較温度
格納部１９に格納するのである。

【００２９】こうして、上記パラメータテーブルおよび
比較温度が登録されると、以後は、温度測定部１７によ
る測定温度と比較温度格納部１９に格納された比較温度
との差および上記比較温度に基づいて補正テーブルが参
照されて補正値ａが得られ、パラメータテーブルから読
み出されたパラメータ値ｂに上記補正値ａが加算され
て、現在の温度によるパラメータの最適値が得られるの
であるしたがって、一旦上記パラメータテーブル格納部
２１にパラメータテーブルが登録された後は、図８に示
す従来の温度補正手順のように、上記光磁気ディスク１
１における専用エリアにピックアップ１３を移動して測
定データの書き込み/再生を行う必要がなく、ロス時間
が少なくデータ記録が中断されることなくリアルタイム
でデータを光記録できるのである。

【００３０】(２) 光磁気ディスク１１が光記録装置か
ら着脱可能な場合 この場合、上記スピンドルモータ１２の軸に対して光磁
気ディスク１１が着脱可能であるために、本光記録装置
の内部温度よりも高い温度や低い温度の光磁気ディスク
１１が装着される可能性がある。その際に、装着された
光磁気ディスク１１は、図４に示すように、電源投入後
ある程度時間が経過すれば本光記録装置の内部温度(実
線Ｇ１)と同じ温度変化を示すのであるが、電源投入直
後においては、光磁気ディスク１１の温度が本光記録装
置の内部温度より高い場合には、光磁気ディスク１１は
破線Ｇ２のような温度変化を呈する一方、低い場合には
一点鎖線Ｇ３のような温度変化を呈する。このような場
合には、本光記録装置の内部温度のみではパラメータの
最適値を得ることは難しいために、光磁気ディスク１１
の温度を考慮した温度補正が必要である。

【００３１】図３は、光磁気ディスク１１が本光記録装
置に着脱可能な場合の光記録時における温度補正処理動
作のフローチャートである。尚、この場合、本光記録装
置から光磁気ディスク１１が取り出された際にフラグ格
納部２５の内容はクリアされる。

【００３２】ステップＳ21〜ステップＳ27で、上記光磁
気ディスク１１が着脱不可能な場合の温度補正処理動作
のフローチャート(図２)におけるステップＳ11〜ステッ
プＳ17と同様にして、パラメータテーブルが登録済みで
ある場合には、本光記録装置の内部温度の測定、測定温
度と比較温度の差の算出、補正テーブル格納部２０から
の補正値ａの読み出し、パラメータテーブル格納部２１
からのパラメータ値ｂの読み出し、パラメータの最適値
の算出が行われる。

【００３３】ステップＳ28で、上記フラグ格納部２５に
フラグがセットされているか否かが判別される。その結
果セットされていなければステップＳ29に進み、セット
されていれば上記ステップＳ27において算出されたパラ
メータの最適値が最適パラメータと確定されて温度補正
処理動作を終了する。ステップＳ29,ステップＳ30で、
上記光磁気ディスク１１が着脱不可能な場合の温度補正
処理動作のフローチャートにおけるステップＳ18,ステ
ップＳ19と同様にして、従来の温度補正方法によるその
時点での補正パラメータの実測とパラメータテーブル格
納部２１の更新、本光記録装置の内部温度測定と比較温
度格納部１９の更新が行われる。ステップＳ31で、上記
ステップＳ29において実測されて更新されたパラメータ
テーブル格納部２１のパラメータ値と上記ステップＳ27
において算出されたパラメータの最適値とが比較され
る。その結果、両方の値が等しければステップＳ32に進
み、異なれば温度補正処理動作を終了する。ステップＳ
32で、上記両方の値が等しくなったので光磁気ディスク
１１の温度と本光記録装置の内部温度とが等しくなり、
上記内部温度が安定したと判断されて上記フラグがセッ
トされる。そして、上記ステップＳ27において算出され
た上記パラメータの最適値が最適パラメータと確定され
て温度補正処理動作を終了する。

【００３４】ステップＳ33,ステップＳ34で、上記光磁
気ディスク１１が着脱不可能な場合の温度補正処理動作
のフローチャートにおけるステップＳ18,ステップＳ19
と同様にして、従来の温度補正方法によるその時点での
補正パラメータの実測とパラメータテーブル格納部２１
への登録、本光記録装置の内部温度測定と比較温度格納
部１９への格納が行われる。そうした後、温度補正処理
動作を終了する。

【００３５】このように、上記光磁気ディスク１１が光
記録装置から着脱可能な場合には、上記補正テーブルお
よびパラメータテーブルを用いて得られたパラメータの
最適値と実測によって得られた補正パラメータとを比較
する。そして、両者が同一である場合には、光磁気ディ
スク１１の温度が本光記録装置の内部温度と等しくなっ
て上記内部温度が安定したと判定して、上記フラグをセ
ットするようにしている。尚、この場合の上記ステップ
Ｓ29において実行される補正パラメータの実測は一旦フ
ラグ格納部２５にフラグがセットされた後は実行されな
いので、ロス時間の増加を必要最小限に押さえることが
できる。したがって、本光記録装置の内部温度とは異な
る温度の光磁気ディスク１１が装着された場合でも、上
記フラグの内容に基づいて、光磁気ディスク１１に対し
て実際に測定データの記録/再生を行うことを必要最小
限にして上記パラメータの温度補正が可能となる。

【００３６】さて、上記２つの温度補正処理動作におい
ては、上記温度測定部１７によって測定された温度と比
較温度格納部１９に格納されている比較温度との差の値
に基づいて、パラメータテーブル格納部２１からのパラ
メータ値ｂを補正する。そこで、補正テーブル格納部２
０は、異なる基準温度に対応付けられて複数の補正テー
ブルが登録され、夫々の補正テーブルは上記基準温度か
らの温度変化量△Ｔに補正値ａが対応付けられた構造に
なっている。すなわち、補正テーブル参照部２６は、上
記パラメータテーブルの要素値であるパラメータ値ｂを
測定した際の温度(比較温度)を基準温度とする補正テー
ブルにおける該当する温度変化量(測定温度と比較温度
との差)△Ｔの場所に登録されている補正値ａを読み出
すのである。

【００３７】いま、簡単な例として、図５に示すよう
に、上記補正テーブル格納部２０に登録された複数の補
正テーブルのうち、基準温度Ｔから△Ｔ毎に補正値ａ1,
ａ2,…を要素として持つ補正テーブル(図中、実線の座
標軸に相当)を考える。その場合には、各要素を結ぶ線
分は直線Ｆ１のような傾きを有し、基準温度Ｔから温度
が△Ｔだけ変化した際には補正値ａ1が読み出され、２・
△Ｔだけ変化した場合には補正値ａ2が読み出される。
ところが、測定温度が△Ｔだけ変化した場合における光
記録装置の実際の内部温度は(Ｔ＋△Ｔ)であり、その際
に、温度(Ｔ＋△Ｔ)を基準温度とした補正テーブル(図
中、破線の座標軸に相当)における温度(Ｔ＋２・△Ｔ)で
の補正値は直線Ｆ２のような傾きを有しているとする。
その際には、同じ内部温度(Ｔ＋２・△Ｔ)であっても選
出される補正テーブルによっては補正値ａ2が読み出さ
れる場合と補正値ａ2"(基準温度をＴとした場合の補正
値ａ2'に相当)が読み出される場合が生ずる。

【００３８】そして、光記録装置の特性によっては上記
パラメータの変化の度合いが温度変化の影響を受ける場
合があり、その際には基準温度Ｔの補正テーブルに基づ
く補正値ａ2よりも基準温度(Ｔ＋△Ｔ)の補正テーブル
に基づく補正値ａ2"の方がより最適な補正値となる。と
ころが、比較温度格納部１９に比較温度Ｔが格納されて
いる場合には、読み出される補正値はａ2となってしま
って最適な温度補正が行えないことになる。そこで、本
光記録装置では、上述のような場合には、本光記録装置
の内部温度を測定して温度補正を行う毎に比較温度格納
部１９とパラメータテーブル格納部２１との内容を更新
することによって(換言すれば、温度補正を行う毎に用
いる補正テーブルをも更新して)、さらに正確な温度補
正を行うのである。

【００３９】このような場合における温度補正処理動作
を、(１)に示すような光磁気ディスク１１が光記録装置
に固定されている場合を例に、図６のフローチャートに
従って説明する。ステップＳ41〜ステップＳ47で、上記
光磁気ディスク１１が着脱不可能な場合の温度補正処理
動作のフローチャート(図２)におけるステップＳ11〜ス
テップＳ17と同様にして、上記パラメータテーブルが登
録済みである場合には、本光記録装置の内部温度の測
定、測定温度と比較温度との差の算出、補正テーブル格
納部２０からの補正値ａの読み出し、パラメータテーブ
ル格納部２１からのパラメータ値ｂの読み出し、パラメ
ータの最適値算出が行われる。

【００４０】ステップＳ48で、上記テーブル登録部２２
によって、上記求められたパラメータの最適値でパラメ
ータテーブル格納部２１の内容が更新される。さらに、
温度記憶部１８によって、上記ステップＳ42において測
定された内部温度で比較温度格納部１９の内容が更新さ
れる。そうした後、温度補正処理動作を終了する。

【００４１】ステップＳ49,ステップＳ50で、上記光磁
気ディスク１１が着脱不可能な場合の温度補正処理動作
のフローチャートにおけるステップＳ18,ステップＳ19
と同様にして、従来の温度補正方法によるその時点での
補正パラメータの実測とパラメータテーブル格納部２１
への登録、本光記録装置の内部温度測定と比較温度格納
部１９への格納が行われる。そうした後、温度補正処理
動作を終了する。

【００４２】このように、変化の度合いが温度変化の影
響を受けるために１つの基準温度の補正テーブルのみで
は適切な補正が行えないようなパラメータの場合には、
温度補正によって上記パラメータの最適値を得る毎に、
その最適値と計測温度によってパラメータテーブル格納
部２１と比較温度格納部１９の内容を更新するようにし
ている。したがって、温度補正を行う毎に補正テーブル
をも更新することができ、変化の度合いが温度変化の影
響を受けるパラメータに対しても、光磁気ディスク１１
に対して実際に測定データの記録/再生を行うことなく
補正テーブルを参照した温度補正が可能となるのであ
る。

【００４３】ここで、図２に示すフローチャートに従っ
た温度補正処理動作から図６に示すフローチャートに従
った温度補正処理動作への切り換えは、例えば次のよう
にして行えばよい。すなわち、図２に示すフローチャー
トに従った温度補正処理動作を実行しつつ、所定の時間
間隔で、図８に示す温度補正手順を用いた従来の温度補
正方法によって光磁気ディスク１１に実際に測定データ
の書き込み/再生を行う。そして、再生データの測定デ
ータに対する誤差が所定値を越えた場合には、図６に示
すフローチャートに従った温度補正処理動作に切り換え
るのである。尚、その際における再生データの実測処理
は必要最小限に止める必要がある。

【００４４】上述の説明は、パラメータテーブル格納部
２１および比較温度格納部１９を更新する温度補正処理
動作を、(１)に示すような光磁気ディスク１１が固定さ
れた光記録装置に適用した場合を例に上げている。これ
に対して、(２)に示すような光磁気ディスク１１が着脱
可能な光記録装置に適用する場合には、図３に示すフロ
ーチャートにおける上記ステップＳ21からステップＳ32
までに相当する処理が終了した後に、図６に示すフロー
チャートにおける上記ステップＳ48に相当する処理を実
行して温度補正処理動作を終了するようにすればよい。

【００４５】尚、図２のフローチャートにおけるステッ
プＳ18、図３のフローチャートにおけるステップＳ29お
よびステップＳ33、図６のフローチャートにおけるステ
ップＳ49等において実行される補正パラメータの実測処
理は、上位の装置からの本光記録装置に対する駆動指令
を受けていない場合にのみ行うようにすることが望まし
い。

【００４６】

【発明の効果】以上より明らかなように、請求項１に係
る発明の光記録装置は、温度測定部,補正テーブル格納
部,パラメータテーブル格納部,温度格納部,補正テーブ
ル参照部,パラメータテーブル参照部および温度補正制
御部を有して、測定温度と温度格納部に格納された内部
温度との差に基づいて上記補正テーブルを参照して補正
値を得、上記パラメータテーブルを参照してパラメータ
値を得、そして、上記得られたパラメータ値を補正値で
補正して光記録条件設定用のパラメータの最適値を求め
るので、光記録媒体に対して実際に測定データを書き込
み/再生することなく本光記録装置の内部温度に応じた
上記パラメータの最適値を得ることができる。すなわ
ち、この発明によれば、少ないロス時間で、データ記録
が中断されることなく、リアルタイムにデータの書き込
みを行うことができる。

【００４７】また、請求項２に係る発明の光記録装置
は、上記補正テーブルを基準温度別に複数設け、補正テ
ーブル参照部は、温度格納部に格納された温度を基準温
度として選出した補正テーブルを上記基準温度と上記測
定温度の差に基づいて参照して補正値を得るので、簡単
な検索処理によって上記補正値を得ることができる。し
たがって、この発明によれば、光記録条件設定用のパラ
メータの最適値を容易に求めることができる。

【００４８】また、請求項３に係る発明の光記録装置
は、温度測定部,補正テーブル格納部,パラメータテーブ
ル格納部,温度格納部,補正テーブル参照部,パラメータ
テーブル参照部,フラグ格納部,ピックアップ駆動部,パ
ラメータ測定部,パラメータテーブル更新部,最適値比較
部および温度補正制御部を有して、請求項１に係る発明
と同様にして上記パラメータの最適値を求めた後、フラ
グがセットされている場合には上記求めた最適値は上記
パラメータの最適値であると確定する一方、セットされ
ていない場合には上記パラメータの最適値を実測してパ
ラメータテーブルを更新し、上記実測された最適値と上
記求められた最適値とが等しい場合には本光記録装置の
内部温度が安定したとして上記フラグをセットするの
で、本光記録装置の内部温度が安定した場合にのみ上記
パラメータの最適値を得ることができる。すなわち、こ
の発明によれば、本光記録装置の内部温度とは異なる温
度の光記録媒体が装着された場合でも、安定して上記パ
ラメータの最適値を得ることができる。

【００４９】また、請求項４に係る発明の光記録装置
は、温度測定部,補正テーブル格納部,パラメータテーブ
ル格納部,温度格納部,補正テーブル参照部,パラメータ
テーブル参照部,パラメータテーブル更新部,温度更新部
及び温度補正制御部を有して、上記温度格納部に格納さ
れた温度を基準温度とする補正テーブルを参照して上記
パラメータの最適値を求めて上記パラメータテーブルを
更新し、その際における測定温度で温度格納部を更新す
るので、温度補正を行う毎に用いる補正テーブルを変更
することができる。したがって、この発明によれば、上
記パラメータの変化の度合いが温度変化の影響を受ける
場合でも補正テーブルを用いた温度補正を行うことがで
き、少ないロス時間で、データ記録が中断されることな
く、リアルタイムにデータの書き込みを行うことができ
る。

【００５０】また、請求項５に係る発明では、温度測定
部,補正テーブル格納部,パラメータテーブル格納部,温
度格納部,補正テーブル参照部,パラメータテーブル参照
部,フラグ格納部,ピックアップ駆動部,パラメータ測定
部,パラメータテーブル更新部,最適値比較部,温度更新
部および温度補正制御部を有して、上記温度格納部に格
納された温度を基準温度とする補正テーブルを参照して
上記パラメータの最適値を確定して上記パラメータテー
ブルを更新し、その際における測定温度で温度格納部を
更新するので、温度補正を行う毎に用いる補正テーブル
を変更することができる。したがって、この発明によれ
ば、上記パラメータの変化の度合いが温度変化の影響を
受ける場合でも補正テーブルを用いた温度補正を行うこ
とができ、少ないロス時間で、データ記録が中断される
ことなく、リアルタイムにデータの書き込みを行うこと
ができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の光記録装置における一実施例を示す
ブロック図である。

【図２】光磁気ディスクが着脱不可能な場合における温
度補正処理動作のフローチャートである。

【図３】光磁気ディスクが着脱可能な場合における温度
補正処理動作のフローチャートである。

【図４】光記録装置の内部温度変化および光磁気ディス
クの温度変化を示す図である。

【図５】補正テーブルにおける温度変化と補正値との関
係の一例を示す図である。

【図６】変化の度合いが温度変化の影響を受けるパラメ
ータに対する温度補正処理動作のフローチャートであ
る。

【図７】記録パワーと磁化膜への記録状態の関係を示す
図である。

【図８】従来の温度補正手順を示す図である。

【図９】光磁気ディスク上における専用エリアおよびユ
ーザエリアの説明図である。

【符号の説明】

１１…光磁気ディスク、 １３…ピックアッ
プ、１５…リニアモータ、 １６…制御
部、１７…温度測定部、 １８…温度記
録部、１９…比較温度格納部、 ２０…補正
テーブル格納部、２１…パラメータテーブル格納部、
２２…テーブル登録部、２５…フラグ格納部、
２６…補正テーブル参照部、２７…パラメータテ
ーブル参照部。

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光記録媒体にレーザ光を照射してデータ
   を記録する光記録装置において、 本体の内部温度を測定する温度測定部と、 上記内部温度と光記録条件設定用のパラメータの値とを
   対応付けたパラメータテーブルを格納するパラメータテ
   ーブル格納部と、 上記内部温度の変化量と上記パラメータの補正値とを対
   応付けた補正テーブルを格納する補正テーブル格納部
   と、 上記パラメータテーブルの作成時における上記内部温度
   を格納する温度格納部と、 上記温度測定部によって測定された温度と上記温度格納
   部に格納された温度との差を算出し、この差の値を上記
   内部温度の変化量として上記補正テーブルを参照して上
   記補正値を得る補正テーブル参照部と、 上記パラメータテーブルを参照して、上記温度格納部に
   格納された温度でのパラメータの値を得るパラメータテ
   ーブル参照部と、 上記温度測定部,パラメータテーブル参照部および補正
   テーブル参照部を制御して、上記得られたパラメータの
   値を上記得られた補正値で補正することによって上記パ
   ラメータの最適値を求める温度補正制御部を備えたこと
   を特徴とする光記録装置。
2. 【請求項２】 請求項１に記載の光記録装置において、 上記補正テーブルは複数設けられて夫々の補正テーブル
   は異なる基準温度に対応付けられており、各補正テーブ
   ルは夫々の基準温度に対する温度差と補正値とを対応付
   けて成り、 上記補正テーブル参照部は、上記温度格納部に格納され
   た温度を上記基準温度としている補正テーブルを選出
   し、上記基準温度と上記測定温度との差に基づいて、上
   記選出された補正テーブルを参照して上記補正値を得る
   ことを特徴とする光記録装置。
3. 【請求項３】 請求項１あるいは請求項２に記載の光記
   録装置において、 上記光記録媒体は上記本体から取り外し可能であって、 上記光記録媒体が取り外された際にクリアされるフラグ
   を格納するフラグ格納部と、 上記光記録媒体にレーザ光を照射するピックアップの位
   置を移動するピックアップ駆動部と、 上記ピックアップおよびピックアップ駆動部を制御して
   上記光記録媒体に対して光記録/再生を行った際の記録
   データと再生データとに基づいて、上記パラメータの最
   適値を実測するパラメータ測定部と、 上記パラメータ測定部によって実測された上記パラメー
   タの最適値で上記パラメータテーブルを更新するパラメ
   ータテーブル更新部と、 上記パラメータ測定部によって実測された上記パラメー
   タの最適値と上記温度補正制御部によって求められた上
   記パラメータの最適値とを比較して、両最適値が等しい
   場合には上記フラグをセットする最適値比較部を備える
   と共に、 上記温度補正制御部は、上記温度測定部,パラメータテ
   ーブル参照部および補正テーブル参照部を制御して上記
   パラメータの最適値を求めた後に上記フラグを参照し、
   上記フラグがセットされている場合には上記求めた最適
   値を上記パラメータの最適値であると確定する一方、セ
   ットされていない場合には、さらに上記ピックアップ,
   ピックアップ駆動部,パラメータ測定部,パラメータテー
   ブル更新部および最適値比較部を制御して上記両最適値
   が等しくなった際に上記フラグをセットさせることを特
   徴とする光記録装置。
4. 【請求項４】 請求項２に記載の光記録装置において、 上記温度補正制御部によって求められた上記パラメータ
   の最適値で上記パラメータテーブルを更新するパラメー
   タテーブル更新部と、 上記温度測定部によって測定された上記内部温度で上記
   温度格納部を更新する温度更新部を備えたことを特徴と
   する光記録装置。
5. 【請求項５】 請求項３に記載の光記録装置において、 上記温度測定部によって測定された上記内部温度で上記
   温度格納部を更新する温度更新部を備えると共に、 上記パラメータテーブル更新部は、上記温度補正制御部
   によって確定された上記パラメータの最適値で上記パラ
   メータテーブルを更新することを特徴とする光記録装
   置。