JPH0815319A - Ｘ−ｙ方式インサーキットテスタのｚ軸ユニットに備える多ピンプローブユニット - Google Patents
Ｘ−ｙ方式インサーキットテスタのｚ軸ユニットに備える多ピンプローブユニットInfo
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- JPH0815319A JPH0815319A JP6172136A JP17213694A JPH0815319A JP H0815319 A JPH0815319 A JP H0815319A JP 6172136 A JP6172136 A JP 6172136A JP 17213694 A JP17213694 A JP 17213694A JP H0815319 A JPH0815319 A JP H0815319A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 測定点の多い或いは大きさの異なる種々の実
装部品等に対応し易くして、検査をスピード化する。 【構成】 Ｘ−Ｙ方式により可動するＺ軸ユニットに、
Ｚ軸方向に可動可能に多ピンプローブユニット１０のベ
ース１２を設置し、そのベース１２にＺ軸方向に可動可
能に３本以上のピンプローブ１４を備え付ける。そし
て、ベース１２に備え付ける多数のピンプローブ１４を
扇状に並べて、それ等の隣接する２本のピンプローブ１
４をいずれも先端間の距離を短く、後端間の距離を長く
配置する。
装部品等に対応し易くして、検査をスピード化する。 【構成】 Ｘ−Ｙ方式により可動するＺ軸ユニットに、
Ｚ軸方向に可動可能に多ピンプローブユニット１０のベ
ース１２を設置し、そのベース１２にＺ軸方向に可動可
能に３本以上のピンプローブ１４を備え付ける。そし
て、ベース１２に備え付ける多数のピンプローブ１４を
扇状に並べて、それ等の隣接する２本のピンプローブ１
４をいずれも先端間の距離を短く、後端間の距離を長く
配置する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は実装基板の検査に使用す
るＸ−Ｙ方式インサーキットテスタのＺ軸ユニットに備
える多ピンプローブユニットに関する。
るＸ−Ｙ方式インサーキットテスタのＺ軸ユニットに備
える多ピンプローブユニットに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、実装基板即ち多数の電子部品を半
田付けしたプリント基板はインサーキットテスタを用い
て、その基板の必要な測定点に適宜ピンプローブを接触
させ、それ等の各部品の電気的測定によって基板の良否
の判定を行っている。この種のインサーキットテスタに
は被検査基板を検査治具たるフィクスチュアー（ピンボ
ード）上に載せて固定するピンボード方式のものと、被
検査基板を載せる測定台上にＸ−Ｙユニットを設置する
Ｘ−Ｙ方式のものとがある。そして、ピンボード方式で
はボード上に被検査基板の測定点の数に等しい数のピン
プローブを測定点の位置に対応させて立設し、被検査基
板をフィクスチュアー上に載せることにより、各ピンプ
ローブを各測定点にそれぞれ接触する。一方、Ｘ−Ｙ方
式ではＸ軸方向に可動するアームの上にＹ軸方向に可動
するＺ軸ユニットを備え、そのＺ軸ユニットで１本のピ
ンプローブをＺ軸方向に可動可能に支持し、Ｘ−Ｙユニ
ットを制御することにより、そのピンプローブを基板の
上方からＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸方向にそれぞれ適宜移動し
て、予め設定した各測定点に順次接触する。それ故、ピ
ンボード方式のものは多量の同一被検査基板の測定に適
するのに対し、Ｘ−Ｙ方式のものは多品種少量の被検査
基板の測定に適する。
田付けしたプリント基板はインサーキットテスタを用い
て、その基板の必要な測定点に適宜ピンプローブを接触
させ、それ等の各部品の電気的測定によって基板の良否
の判定を行っている。この種のインサーキットテスタに
は被検査基板を検査治具たるフィクスチュアー（ピンボ
ード）上に載せて固定するピンボード方式のものと、被
検査基板を載せる測定台上にＸ−Ｙユニットを設置する
Ｘ−Ｙ方式のものとがある。そして、ピンボード方式で
はボード上に被検査基板の測定点の数に等しい数のピン
プローブを測定点の位置に対応させて立設し、被検査基
板をフィクスチュアー上に載せることにより、各ピンプ
ローブを各測定点にそれぞれ接触する。一方、Ｘ−Ｙ方
式ではＸ軸方向に可動するアームの上にＹ軸方向に可動
するＺ軸ユニットを備え、そのＺ軸ユニットで１本のピ
ンプローブをＺ軸方向に可動可能に支持し、Ｘ−Ｙユニ
ットを制御することにより、そのピンプローブを基板の
上方からＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸方向にそれぞれ適宜移動し
て、予め設定した各測定点に順次接触する。それ故、ピ
ンボード方式のものは多量の同一被検査基板の測定に適
するのに対し、Ｘ−Ｙ方式のものは多品種少量の被検査
基板の測定に適する。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、Ｘ−Ｙ
方式では１部品毎に複数個の測定点を同時に測定しなけ
ればならないので、通常インサーキットテスタに測定点
の数に一致する複数個のＸ−Ｙユニットを備え付ける必
要がある。しかも、各Ｘ−Ｙユニットを個々的に制御し
て、それ等に備えたピンプローブの移動をそれぞれ行な
わなければならない。それ故、検査のスピードを上げ難
いという問題がある。なお、Ｘ−Ｙ方式インサーキット
テスタにはＹ軸方向に可動するアーム上にＸ軸方向に可
動するＺ軸ユニットを備えたものや、Ｘ−Ｙ平面上をＺ
軸ユニットが任意の方向に移動できるサフェイスリニア
モータ等もある。
方式では１部品毎に複数個の測定点を同時に測定しなけ
ればならないので、通常インサーキットテスタに測定点
の数に一致する複数個のＸ−Ｙユニットを備え付ける必
要がある。しかも、各Ｘ−Ｙユニットを個々的に制御し
て、それ等に備えたピンプローブの移動をそれぞれ行な
わなければならない。それ故、検査のスピードを上げ難
いという問題がある。なお、Ｘ−Ｙ方式インサーキット
テスタにはＹ軸方向に可動するアーム上にＸ軸方向に可
動するＺ軸ユニットを備えたものや、Ｘ−Ｙ平面上をＺ
軸ユニットが任意の方向に移動できるサフェイスリニア
モータ等もある。
【０００４】本発明はこのような従来の問題点に着目し
てなされたものであり、Ｚ軸ユニットの構造を改善する
ことによって、測定点の多い或いは大きさの異なる種々
の実装部品等に対応し易く、検査をスピード化できるＸ
−Ｙ方式インサーキットテスタのＺ軸ユニットに備える
多ピンプローブユニットを提供することを目的とする。
てなされたものであり、Ｚ軸ユニットの構造を改善する
ことによって、測定点の多い或いは大きさの異なる種々
の実装部品等に対応し易く、検査をスピード化できるＸ
−Ｙ方式インサーキットテスタのＺ軸ユニットに備える
多ピンプローブユニットを提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のＸ−Ｙ方式インサーキットテスタではその
Ｚ軸ユニットにＺ軸方向に可動可能に多ピンプローブユ
ニット１０のベース１２を設置し、そのベース１２にＺ
軸方向に可動可能に３本以上のピンプローブ１４を備え
付ける。そして、多ピンプローブユニット１０のベース
１２に備え付ける多数のピンプローブ１４を扇状に並べ
て、それ等の隣接する２本のピンプローブ１４をいずれ
も先端間の距離を短く、後端間の距離を長く配置する。
に、本発明のＸ−Ｙ方式インサーキットテスタではその
Ｚ軸ユニットにＺ軸方向に可動可能に多ピンプローブユ
ニット１０のベース１２を設置し、そのベース１２にＺ
軸方向に可動可能に３本以上のピンプローブ１４を備え
付ける。そして、多ピンプローブユニット１０のベース
１２に備え付ける多数のピンプローブ１４を扇状に並べ
て、それ等の隣接する２本のピンプローブ１４をいずれ
も先端間の距離を短く、後端間の距離を長く配置する。
【０００６】
【作用】上記のように構成し、検査時に多ピンプローブ
ユニット１０のベース１２をＺ軸方向に移動させて被検
査基板に対する位置を選ぶと、そのベース１２に備え付
けた多数のピンプローブ１４が扇状に並び、それ等の隣
接する２本のピンプローブ１４がいずれも先端間の距離
を短く、後端間の距離を長く配置してあるため、更にそ
れ等のピンプローブ１４を適宜選んで突出させると、実
装部品のリードや基板のパターン上等にある対応する各
測定点にピンプローブがそれぞれ接触するように、突出
させた隣接する２本のピンプローブ１４の先端間の距離
をいずれも選択できる。
ユニット１０のベース１２をＺ軸方向に移動させて被検
査基板に対する位置を選ぶと、そのベース１２に備え付
けた多数のピンプローブ１４が扇状に並び、それ等の隣
接する２本のピンプローブ１４がいずれも先端間の距離
を短く、後端間の距離を長く配置してあるため、更にそ
れ等のピンプローブ１４を適宜選んで突出させると、実
装部品のリードや基板のパターン上等にある対応する各
測定点にピンプローブがそれぞれ接触するように、突出
させた隣接する２本のピンプローブ１４の先端間の距離
をいずれも選択できる。
【０００７】
【実施例】以下、添付図面に基づいて、本発明の実施例
を説明する。図１は本発明を適用したＸ−Ｙ方式インサ
ーキットテスタのＺ軸ユニットに備える多ピンプローブ
ユニットの５本のピンプローブの配置を示す正面図、図
２はその多ピンプローブユニットの駆動機構を示す側面
図である。図中、１０は多ピンプローブユニット、１２
はそのベースブロック、１４（１４ａ、…１４ｅ）はそ
こに配設した５本のピンプローブである。この多ピンプ
ローブユニット１０のベースブロック１２はＺ軸方向
（上下方向）に可動可能に支持する。このため、Ｚ軸ユ
ニットのアームに対する固定用のベース部材にパルスモ
ータ、サーボモータ等（図示なし）を据え付け、そのモ
ータ軸１６で歯付きの無端ベルトからなるタイミングベ
ルト１８を駆動し、そのタイミングベルト１８に噛み合
う歯車を一端部に有する連結部材２０の他端部をベース
ブロック１２に固定する。なお、タイミングベルト１８
と連結部材２０との噛み合わせ構造はラックとピニオン
に類似した周知の技術である。それ故、モータ軸１６を
矢印で示す一方向又は反対方向に回転させると、タイミ
ングベルト１８を駆動して、ベースブロック１２を任意
に矢印で示すＺ軸方向（上下方向）に移動することがで
きる。
を説明する。図１は本発明を適用したＸ−Ｙ方式インサ
ーキットテスタのＺ軸ユニットに備える多ピンプローブ
ユニットの５本のピンプローブの配置を示す正面図、図
２はその多ピンプローブユニットの駆動機構を示す側面
図である。図中、１０は多ピンプローブユニット、１２
はそのベースブロック、１４（１４ａ、…１４ｅ）はそ
こに配設した５本のピンプローブである。この多ピンプ
ローブユニット１０のベースブロック１２はＺ軸方向
（上下方向）に可動可能に支持する。このため、Ｚ軸ユ
ニットのアームに対する固定用のベース部材にパルスモ
ータ、サーボモータ等（図示なし）を据え付け、そのモ
ータ軸１６で歯付きの無端ベルトからなるタイミングベ
ルト１８を駆動し、そのタイミングベルト１８に噛み合
う歯車を一端部に有する連結部材２０の他端部をベース
ブロック１２に固定する。なお、タイミングベルト１８
と連結部材２０との噛み合わせ構造はラックとピニオン
に類似した周知の技術である。それ故、モータ軸１６を
矢印で示す一方向又は反対方向に回転させると、タイミ
ングベルト１８を駆動して、ベースブロック１２を任意
に矢印で示すＺ軸方向（上下方向）に移動することがで
きる。
【０００８】５本のピンプローブ１４はベースブロック
１２に扇状に並べて備え付け、それ等の隣接する２本の
ピンプローブ１４をいずれも先端間の距離Ｌ1 を短く、
後端間の距離Ｌ2 を長く配置する。そして、隣接する２
本のピンプローブ１４の先端間の距離Ｌ1 をいずれも等
しく、後端間の距離Ｌ2 もいずれも等しくする。これ等
のピンプローブ１４は互いに接近させて狭い場所に配置
し、Ｚ軸方向に可動可能に支持しなければならないた
め、各ピンプローブ１４の駆動用にエアシリンダを採用
し、それ等のシリンダケースをベースブロック１２に設
けた各穴にそれぞれ差し込んで装着して使用するとよ
い。このようなエアシリンダには図３に示す押し出し単
動エアシリンダ２２、図４に示す複動エアシリンダ２
４、及び図５に示す押し出し吸引エアシリンダ２６等が
ある。
１２に扇状に並べて備え付け、それ等の隣接する２本の
ピンプローブ１４をいずれも先端間の距離Ｌ1 を短く、
後端間の距離Ｌ2 を長く配置する。そして、隣接する２
本のピンプローブ１４の先端間の距離Ｌ1 をいずれも等
しく、後端間の距離Ｌ2 もいずれも等しくする。これ等
のピンプローブ１４は互いに接近させて狭い場所に配置
し、Ｚ軸方向に可動可能に支持しなければならないた
め、各ピンプローブ１４の駆動用にエアシリンダを採用
し、それ等のシリンダケースをベースブロック１２に設
けた各穴にそれぞれ差し込んで装着して使用するとよ
い。このようなエアシリンダには図３に示す押し出し単
動エアシリンダ２２、図４に示す複動エアシリンダ２
４、及び図５に示す押し出し吸引エアシリンダ２６等が
ある。
【０００９】この押し出し単動エアシリンダ２２にはシ
リンダケース２８の内部にピンプローブ１４に巻回した
圧縮コイルばね３０が収納されている。それ故、ピンプ
ローブ１４はばね力を受け、その先端は通常矢印で示す
一方向に後退している。そして、シリンダケース２８の
エアポート３２から圧縮空気を入れた時のみ反対の矢印
方向に突出する。なお、ピンプローブ１４の中央部の後
端寄り位置にピストン３４が固着し、後端には測定用の
リードワイヤ３６が接続する。しかし、複動エアシリン
ダ２４では圧縮コイルばねを用いず、シリンダケース３
８に２箇所圧縮空気を入れるエアポート４０（４０ａ、
４０ｂ）を設けている。それ故、圧縮空気を入れるエア
ポート４０を切り換えることによりピンプローブ１４を
突出、後退させることができる。又、押し出し吸引エア
シリンダ２６でも圧縮コイルばねを用いないが、シリン
ダケース４２に設けるエアポート４４は１箇所である。
それ故、エアポート４４から圧縮空気を入れるとピンプ
ローブ１４は突出し、そのエアポート４４から空気を吸
引するとピンプローブ１４は後退する。なお、このよう
なピンプローブは油圧でも操作可能である。
リンダケース２８の内部にピンプローブ１４に巻回した
圧縮コイルばね３０が収納されている。それ故、ピンプ
ローブ１４はばね力を受け、その先端は通常矢印で示す
一方向に後退している。そして、シリンダケース２８の
エアポート３２から圧縮空気を入れた時のみ反対の矢印
方向に突出する。なお、ピンプローブ１４の中央部の後
端寄り位置にピストン３４が固着し、後端には測定用の
リードワイヤ３６が接続する。しかし、複動エアシリン
ダ２４では圧縮コイルばねを用いず、シリンダケース３
８に２箇所圧縮空気を入れるエアポート４０（４０ａ、
４０ｂ）を設けている。それ故、圧縮空気を入れるエア
ポート４０を切り換えることによりピンプローブ１４を
突出、後退させることができる。又、押し出し吸引エア
シリンダ２６でも圧縮コイルばねを用いないが、シリン
ダケース４２に設けるエアポート４４は１箇所である。
それ故、エアポート４４から圧縮空気を入れるとピンプ
ローブ１４は突出し、そのエアポート４４から空気を吸
引するとピンプローブ１４は後退する。なお、このよう
なピンプローブは油圧でも操作可能である。
【００１０】通常、多ピンプローブユニット１０はその
ベースブロック１２を上昇端まで上昇させておき、各ピ
ンプローブ１４を全て後退させておく。それ故、Ｘ−Ｙ
ユニットを制御し、Ｚ軸ユニットを移動して、多ピンプ
ローブユニット１０を被検査基板の上方領域内の必要箇
所に適宜移動することができる。検査時には多ピンプロ
ーブユニット１０のベースブロック１２を先ず必要なだ
け下降する。すると、ベースブロック１２をＺ軸方向に
移動して、ベースブロック１２の被検査基板面からの高
さを任意に選択できる。その後、５本のピンプローブ１
４をいずれも下方即ちＺ軸方向に突出し、図１に示すよ
うに例えば基板面４６にある対応する各測定点に接触す
る。
ベースブロック１２を上昇端まで上昇させておき、各ピ
ンプローブ１４を全て後退させておく。それ故、Ｘ−Ｙ
ユニットを制御し、Ｚ軸ユニットを移動して、多ピンプ
ローブユニット１０を被検査基板の上方領域内の必要箇
所に適宜移動することができる。検査時には多ピンプロ
ーブユニット１０のベースブロック１２を先ず必要なだ
け下降する。すると、ベースブロック１２をＺ軸方向に
移動して、ベースブロック１２の被検査基板面からの高
さを任意に選択できる。その後、５本のピンプローブ１
４をいずれも下方即ちＺ軸方向に突出し、図１に示すよ
うに例えば基板面４６にある対応する各測定点に接触す
る。
【００１１】このように、被検査基板面４６等を基準面
としてベースブロック１２の高さを選び、各ピンプロー
ブ１４を突出すると、実装部品のリードや基板のパター
ン上等にある対応する各測定点にピンプローブ１４がそ
れぞれ接触するように、隣接する２本のピンプローブ１
４の先端面の距離をいずれもベースブロック１２の高さ
に応じて等しく、例えば図６に示すように１，２７ｍｍ
ピッチ、１．０ｍｍピッチ、０．８ｍｍピッチ、０．６
５ｍｍピッチ等に選択できる。しかも、各ピンプローブ
１４はいずれも単独でＺ軸方向に突出、後退の制御がで
きるので、特に狭いピッチが必要な場合にはベースブロ
ック１２の下降量を少なくし、ピンプローブ１４を１本
おきに突出すると、０．４ｍｍピッチの選択も可能にな
る。なお、図７は０．４ｍｍピッチの場合における３本
のピンプローブ１４ａ、ｃ、ｅの基板面４６に対する先
端部の接触状態を示す図である。
としてベースブロック１２の高さを選び、各ピンプロー
ブ１４を突出すると、実装部品のリードや基板のパター
ン上等にある対応する各測定点にピンプローブ１４がそ
れぞれ接触するように、隣接する２本のピンプローブ１
４の先端面の距離をいずれもベースブロック１２の高さ
に応じて等しく、例えば図６に示すように１，２７ｍｍ
ピッチ、１．０ｍｍピッチ、０．８ｍｍピッチ、０．６
５ｍｍピッチ等に選択できる。しかも、各ピンプローブ
１４はいずれも単独でＺ軸方向に突出、後退の制御がで
きるので、特に狭いピッチが必要な場合にはベースブロ
ック１２の下降量を少なくし、ピンプローブ１４を１本
おきに突出すると、０．４ｍｍピッチの選択も可能にな
る。なお、図７は０．４ｍｍピッチの場合における３本
のピンプローブ１４ａ、ｃ、ｅの基板面４６に対する先
端部の接触状態を示す図である。
【００１２】それ故、多ピンプローブユニット１０を用
いると、突出させた隣接する２本のピンプローブ１４の
先端間の距離（ピッチ）を任意に選択することが可能に
なり、図８に示すような多ピン（リード）４８を有する
フラットパッケージＩＣ５０を検査する場合、隣接する
２本のピン４８の間のピッチが０．３ｍｍ、０．４ｍ
ｍ、０．５ｍｍ、０．６５ｍｍ、０．８ｍｍ、１．０ｍ
ｍ、１．２７ｍｍ等であっても、５本のピンプローブ１
４を１度にその本数分に当る５本のピン４８にそれぞれ
接触させて測定を行なえる。
いると、突出させた隣接する２本のピンプローブ１４の
先端間の距離（ピッチ）を任意に選択することが可能に
なり、図８に示すような多ピン（リード）４８を有する
フラットパッケージＩＣ５０を検査する場合、隣接する
２本のピン４８の間のピッチが０．３ｍｍ、０．４ｍ
ｍ、０．５ｍｍ、０．６５ｍｍ、０．８ｍｍ、１．０ｍ
ｍ、１．２７ｍｍ等であっても、５本のピンプローブ１
４を１度にその本数分に当る５本のピン４８にそれぞれ
接触させて測定を行なえる。
【００１３】又、図９に示すようなコンデンサや抵抗等
のチップ部品５２に対しても、多ピンプローブユニット
に備え付けた例えば９本のピンプローブ５４から最も適
切と思われるピンプローブ５４ａ、ｉを選択し、チップ
部品５２の両側にある半田付け箇所にそれぞれ接触させ
て測定できる。なお、チップ部品５２の両側にある半田
付け箇所にそれぞれ接触させるため、図１０に示すよう
に各側に対して複数本例えば２本ずつピンプローブ５４
ａ、ｂ、ｈ、ｉを選択すると、１本ずつコンタクトミス
があっても測定を行なえる。更に、極小チップ部品の場
合には、多ピンプローブユニットのベースブロックの下
降量を少なくすれば、突出させた隣接する２本のピンプ
ローブの先端間の距離を小さくして、図１１に示すよう
にチップ部品５６の両側にある半田付け箇所にピンプロ
ーブ５４ａ、ｉをそれぞれ接触させて測定を行なえる。
それ故、チップ部品に対しても大きな部品から小さな部
品まで対応可能になる。
のチップ部品５２に対しても、多ピンプローブユニット
に備え付けた例えば９本のピンプローブ５４から最も適
切と思われるピンプローブ５４ａ、ｉを選択し、チップ
部品５２の両側にある半田付け箇所にそれぞれ接触させ
て測定できる。なお、チップ部品５２の両側にある半田
付け箇所にそれぞれ接触させるため、図１０に示すよう
に各側に対して複数本例えば２本ずつピンプローブ５４
ａ、ｂ、ｈ、ｉを選択すると、１本ずつコンタクトミス
があっても測定を行なえる。更に、極小チップ部品の場
合には、多ピンプローブユニットのベースブロックの下
降量を少なくすれば、突出させた隣接する２本のピンプ
ローブの先端間の距離を小さくして、図１１に示すよう
にチップ部品５６の両側にある半田付け箇所にピンプロ
ーブ５４ａ、ｉをそれぞれ接触させて測定を行なえる。
それ故、チップ部品に対しても大きな部品から小さな部
品まで対応可能になる。
【００１４】又、図１２に示すように４端子法によって
抵抗値の測定を行なう場合にも、多ピンプローブユニッ
トに備え付けた多数のピンプローブから最も適切と思わ
れる２本のピンプローブ５８（５８ａ、５８ｂ）を選ん
で、フラットパッケージＩＣ６０の１本のピン６２にそ
れぞれ接触させ、更に２本のピンプローブ５８（５８
ｃ、５８ｄ）を選んで、基板６４のパターン６６にそれ
ぞれ接触する。すると、素早くピン６２とパターン６６
に定電流を流し、電圧値を測定して抵抗値を算出し、半
田付け不良や足浮き等の判定を行なえる。
抵抗値の測定を行なう場合にも、多ピンプローブユニッ
トに備え付けた多数のピンプローブから最も適切と思わ
れる２本のピンプローブ５８（５８ａ、５８ｂ）を選ん
で、フラットパッケージＩＣ６０の１本のピン６２にそ
れぞれ接触させ、更に２本のピンプローブ５８（５８
ｃ、５８ｄ）を選んで、基板６４のパターン６６にそれ
ぞれ接触する。すると、素早くピン６２とパターン６６
に定電流を流し、電圧値を測定して抵抗値を算出し、半
田付け不良や足浮き等の判定を行なえる。
【００１５】なお、検査終了後には多ピンプローブユニ
ット１０の全てのピンプローブ１４（５４、５８）を後
退（上昇）させた後に、ベースブロック１２を上昇端ま
で上昇させておく。
ット１０の全てのピンプローブ１４（５４、５８）を後
退（上昇）させた後に、ベースブロック１２を上昇端ま
で上昇させておく。
【００１６】
【発明の効果】以上説明した本発明によれば、多ピンプ
ローブユニットのベースをＺ軸方向に移動させて、被検
査基板に対する位置を選び、更にＺ軸方向に突出するピ
ンプローブを選んで、実装部品のリードや基板のパター
ン上等にある対応する各測定点にピンプローブの先端が
それぞれ接触するように、突出させた隣接する２本のピ
ンプローブの先端間の距離をいずれも選択できるため、
測定点の多い或いは大きさの異なる種々の実装部品等に
対応し易くなり、検査をスピード化できる。
ローブユニットのベースをＺ軸方向に移動させて、被検
査基板に対する位置を選び、更にＺ軸方向に突出するピ
ンプローブを選んで、実装部品のリードや基板のパター
ン上等にある対応する各測定点にピンプローブの先端が
それぞれ接触するように、突出させた隣接する２本のピ
ンプローブの先端間の距離をいずれも選択できるため、
測定点の多い或いは大きさの異なる種々の実装部品等に
対応し易くなり、検査をスピード化できる。
【図１】本発明を適用したＸ−Ｙ方式インサーキットテ
スタのＺ軸ユニットに備える多ピンプローブユニットの
５本のピンプローブの配置を示す正面図である。
スタのＺ軸ユニットに備える多ピンプローブユニットの
５本のピンプローブの配置を示す正面図である。
【図２】同多ピンプローブユニットの駆動機構を示す側
面図である。
面図である。
【図３】同ピンプローブ駆動用の押し出し単動エアシリ
ンダの構造を示す断面図である。
ンダの構造を示す断面図である。
【図４】同ピンプローブ駆動用の複動エアシリンダの構
造を示す断面図である。
造を示す断面図である。
【図５】同ピンプローブ駆動用の押し出し吸引エアシリ
ンダの構造を示す断面図である。
ンダの構造を示す断面図である。
【図６】同多ピンプローブユニットのベースブロックの
被検査基板に対する位置と突出した隣接する２本のピン
プローブの先端間の距離（ピッチ）例を示す図である。
被検査基板に対する位置と突出した隣接する２本のピン
プローブの先端間の距離（ピッチ）例を示す図である。
【図７】０．４ｍｍピッチの場合における３本のピンプ
ローブの基板面に対する先端部の接触状態を示す正面図
である。
ローブの基板面に対する先端部の接触状態を示す正面図
である。
【図８】測定点の多い実装部品例に当るフラットパッケ
ージＩＣを示す平面図である。
ージＩＣを示す平面図である。
【図９】実装した大きなチップ部品に対する多ピンプロ
ーブユニットに備え付けたピンプローブの接触状態を示
す正面図である。
ーブユニットに備え付けたピンプローブの接触状態を示
す正面図である。
【図１０】同チップ部品の両側に２本ずつピンプローブ
を接触させる場合を示す正面図である。
を接触させる場合を示す正面図である。
【図１１】実装した小さなチップ部品に対する多ピンプ
ローブユニットに備え付けたピンプローブの接触状態を
示す正面図である。
ローブユニットに備え付けたピンプローブの接触状態を
示す正面図である。
【図１２】実装したフラットパッケージＩＣに対する４
端子法による抵抗値の測定の場合における多ピンプロー
ブユニットに備え付けたピンプローブの接触状態を示す
正面図である。
端子法による抵抗値の測定の場合における多ピンプロー
ブユニットに備え付けたピンプローブの接触状態を示す
正面図である。
１０…多ピンプローブユニット １２…ベースブロック
１４、５４、５８…ピンプローブ １６…モータ軸
１８…タイミングベルト ２０…連結部材 ２２…押し
出し単動シリンダ ２４…複動シリンダ ２６…押し出
し吸引シリンダ
１４、５４、５８…ピンプローブ １６…モータ軸
１８…タイミングベルト ２０…連結部材 ２２…押し
出し単動シリンダ ２４…複動シリンダ ２６…押し出
し吸引シリンダ
Claims (1)
- 【請求項１】 Ｘ−Ｙ方式により可動するＺ軸ユニット
に、Ｚ軸方向に可動可能に多ピンプローブユニットのベ
ースを設置し、そのベースにＺ軸方向に可動可能に３本
以上のピンプローブを備え付けてなるＸ−Ｙ方式インサ
ーキットテスタのＺ軸ユニットに備える多ピンプローブ
ユニットにおいて、上記多ピンプローブユニットのベー
スに備え付ける多数のピンプローブを扇状に並べて、そ
れ等の隣接する２本のピンプローブをいずれも先端間の
距離を短く、後端間の距離を長く配置することを特徴と
するＸ−Ｙ方式インサーキットテスタのＺ軸ユニットに
備える多ピンプローブユニット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17213694A JP3460860B2 (ja) | 1994-06-29 | 1994-06-29 | Ｘ−ｙ方式インサーキットテスタのｚ軸ユニットに備える多ピンプローブユニット |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17213694A JP3460860B2 (ja) | 1994-06-29 | 1994-06-29 | Ｘ−ｙ方式インサーキットテスタのｚ軸ユニットに備える多ピンプローブユニット |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0815319A true JPH0815319A (ja) | 1996-01-19 |
| JP3460860B2 JP3460860B2 (ja) | 2003-10-27 |
Family
ID=15936240
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17213694A Expired - Fee Related JP3460860B2 (ja) | 1994-06-29 | 1994-06-29 | Ｘ−ｙ方式インサーキットテスタのｚ軸ユニットに備える多ピンプローブユニット |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3460860B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008275399A (ja) * | 2007-04-27 | 2008-11-13 | Hioki Ee Corp | プローブユニットおよび検査装置 |
| JP2009271005A (ja) * | 2008-05-09 | 2009-11-19 | Nidec-Read Corp | 基板検査治具 |
-
1994
- 1994-06-29 JP JP17213694A patent/JP3460860B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008275399A (ja) * | 2007-04-27 | 2008-11-13 | Hioki Ee Corp | プローブユニットおよび検査装置 |
| JP2009271005A (ja) * | 2008-05-09 | 2009-11-19 | Nidec-Read Corp | 基板検査治具 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3460860B2 (ja) | 2003-10-27 |
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