JPH08145854A - 軸受の異常診断方法 - Google Patents
軸受の異常診断方法Info
- Publication number
- JPH08145854A JPH08145854A JP6287899A JP28789994A JPH08145854A JP H08145854 A JPH08145854 A JP H08145854A JP 6287899 A JP6287899 A JP 6287899A JP 28789994 A JP28789994 A JP 28789994A JP H08145854 A JPH08145854 A JP H08145854A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- time
- time interval
- diagnosis
- bearing
- signals
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 定期診断のミスを防止することができる軸受
の異常診断方法を提供する。 【構成】 軸受の最小の特性周期ｔｉに基づいて、設定
した測定時間Ｔｓ内に発生する可能性がある最大のＡＥ
発生数Ｎmaxを算出し(ステップＳ６)、最大数ＮmaxのＡ
Ｅ信号を計数処理するのに必要な処理時間Ｔｐを計算し
(ステップＳ７)、この処理時間Ｔｐと測定時間Ｔｓとの
和（Ｔｐ＋Ｔｓ）＝ｔにアベレージング回数Ｎを掛け算
した値ｔmaxを算出し(ステップＳ９)、初期設定した定
期診断の時間間隔Ｔが、ｔmaxを下回っている場合に、
定期診断の時間間隔不足の可能性が高いことを表すワー
ニング表示を行う(ステップＳ１０,Ｓ１１)。 【効果】 ワーニング表示を受けたときに、定期診断の
時間間隔Ｔを延長すれば、時間間隔Ｔの不足の危険性を
未然に回避できる。
の異常診断方法を提供する。 【構成】 軸受の最小の特性周期ｔｉに基づいて、設定
した測定時間Ｔｓ内に発生する可能性がある最大のＡＥ
発生数Ｎmaxを算出し(ステップＳ６)、最大数ＮmaxのＡ
Ｅ信号を計数処理するのに必要な処理時間Ｔｐを計算し
(ステップＳ７)、この処理時間Ｔｐと測定時間Ｔｓとの
和（Ｔｐ＋Ｔｓ）＝ｔにアベレージング回数Ｎを掛け算
した値ｔmaxを算出し(ステップＳ９)、初期設定した定
期診断の時間間隔Ｔが、ｔmaxを下回っている場合に、
定期診断の時間間隔不足の可能性が高いことを表すワー
ニング表示を行う(ステップＳ１０,Ｓ１１)。 【効果】 ワーニング表示を受けたときに、定期診断の
時間間隔Ｔを延長すれば、時間間隔Ｔの不足の危険性を
未然に回避できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、軸受が発生するＡＥ
（アコースティックエミッション)を検出して、軸受の
異常を定期的に診断する軸受の異常診断方法に関する。
（アコースティックエミッション)を検出して、軸受の
異常を定期的に診断する軸受の異常診断方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の軸受の異常診断方法とし
ては、軸受が発生するＡＥをＡＥセンサで検出して測定
し、このＡＥセンサからのＡＥ信号を集計して周期解析
する周期解析診断を定期的に行うものがある。
ては、軸受が発生するＡＥをＡＥセンサで検出して測定
し、このＡＥセンサからのＡＥ信号を集計して周期解析
する周期解析診断を定期的に行うものがある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところが、低速回転体
(１００rpm以下)が多量のＡＥを発生する場合や、ノイ
ズが発生した場合には、ＡＥ信号を集計するのに多量の
時間が費やされる。したがって、この場合には、上記集
計が完了しないうちに次の定期診断の測定開始時刻がや
って来るから、定期診断を確実に行うことができなくな
るという問題がある。
(１００rpm以下)が多量のＡＥを発生する場合や、ノイ
ズが発生した場合には、ＡＥ信号を集計するのに多量の
時間が費やされる。したがって、この場合には、上記集
計が完了しないうちに次の定期診断の測定開始時刻がや
って来るから、定期診断を確実に行うことができなくな
るという問題がある。
【０００４】そこで、この発明の目的は、定期診断のミ
スを防止することができる軸受の異常診断方法を提供す
ることにある。
スを防止することができる軸受の異常診断方法を提供す
ることにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明の軸受の異常診断方法は、軸受が発生する
ＡＥをＡＥセンサで検出し、上記ＡＥセンサからのＡＥ
信号に基づいて、所定の時間間隔毎に軸受の異常を定期
的に診断する軸受の異常診断方法において、上記定期診
断の時間間隔を設定するステップと、１つの定期診断に
おいてＡＥセンサからのＡＥ信号を測定する測定時間を
設定するステップと、上記設定した測定時間内に発生す
るＡＥ信号の予測される最大個数を計算するステップ
と、上記最大個数のＡＥ信号を集計するのに必要な集計
時間を計算するステップと、上記測定時間と集計時間と
を加えた加算時間が、上記定期診断の時間間隔を越えて
いるか否かを判断するステップと、上記加算時間が上記
定期診断の時間間隔を越えていると判断したときに、定
期診断の時間間隔不足を表す警報を出力するステップと
を備えていることを特徴としている。
め、この発明の軸受の異常診断方法は、軸受が発生する
ＡＥをＡＥセンサで検出し、上記ＡＥセンサからのＡＥ
信号に基づいて、所定の時間間隔毎に軸受の異常を定期
的に診断する軸受の異常診断方法において、上記定期診
断の時間間隔を設定するステップと、１つの定期診断に
おいてＡＥセンサからのＡＥ信号を測定する測定時間を
設定するステップと、上記設定した測定時間内に発生す
るＡＥ信号の予測される最大個数を計算するステップ
と、上記最大個数のＡＥ信号を集計するのに必要な集計
時間を計算するステップと、上記測定時間と集計時間と
を加えた加算時間が、上記定期診断の時間間隔を越えて
いるか否かを判断するステップと、上記加算時間が上記
定期診断の時間間隔を越えていると判断したときに、定
期診断の時間間隔不足を表す警報を出力するステップと
を備えていることを特徴としている。
【０００６】
【作用】上記発明によれば、１つの定期診断においてＡ
Ｅ信号を測定する測定時間と、この測定時間内に発生す
る予測される最大個数のＡＥ信号を集計するのに必要な
集計時間とを加えた加算時間が、上記定期診断の時間間
隔を越えていると判断したときに、定期診断の時間間隔
不足を表す警報を出力する。
Ｅ信号を測定する測定時間と、この測定時間内に発生す
る予測される最大個数のＡＥ信号を集計するのに必要な
集計時間とを加えた加算時間が、上記定期診断の時間間
隔を越えていると判断したときに、定期診断の時間間隔
不足を表す警報を出力する。
【０００７】したがって、この発明によれば、定期診断
の前に予め、設定した定期診断の時間間隔が不足する可
能性が高いことを知ることができる。したがって、上記
警報を受けたときに、上記定期診断の時間間隔を延長す
れば、時間間隔の不足の危険性を未然に回避することが
できる。したがって、この発明によれば、軸受の定期診
断の時間間隔の設定ミスを回避して、定期診断をミスな
く確実に行うことができる。
の前に予め、設定した定期診断の時間間隔が不足する可
能性が高いことを知ることができる。したがって、上記
警報を受けたときに、上記定期診断の時間間隔を延長す
れば、時間間隔の不足の危険性を未然に回避することが
できる。したがって、この発明によれば、軸受の定期診
断の時間間隔の設定ミスを回避して、定期診断をミスな
く確実に行うことができる。
【０００８】
【実施例】以下、この発明を図示の実施例により詳細に
説明する。
説明する。
【０００９】図２に、この発明の軸受の異常診断方法で
軸受の異常を診断する異常診断装置のブロック図を示
す。この異常診断装置は、ＡＥセンサ１と、プリアンプ
２と、バンドパスフィルタ３と、メインアンプ４と、包
絡線検波回路５と、コンピュータ６とを備えている。Ａ
Ｅセンサ１は軸受が発生するＡＥを検出して、ＡＥ信号
を出力する。このＡＥ信号はプリアンプ２で増幅され、
バンドパスフィルタ３で所定の帯域成分のみが通過させ
られ、メインアンプ４でさらに増幅されてから、包絡線
検波回路５で包絡線検波される。この包絡線検波された
ＡＥ信号は、コンピュータ６に入力される。
軸受の異常を診断する異常診断装置のブロック図を示
す。この異常診断装置は、ＡＥセンサ１と、プリアンプ
２と、バンドパスフィルタ３と、メインアンプ４と、包
絡線検波回路５と、コンピュータ６とを備えている。Ａ
Ｅセンサ１は軸受が発生するＡＥを検出して、ＡＥ信号
を出力する。このＡＥ信号はプリアンプ２で増幅され、
バンドパスフィルタ３で所定の帯域成分のみが通過させ
られ、メインアンプ４でさらに増幅されてから、包絡線
検波回路５で包絡線検波される。この包絡線検波された
ＡＥ信号は、コンピュータ６に入力される。
【００１０】このコンピュータ６は、図１に示すフロー
チャートにしたがって信号処理を行う。
チャートにしたがって信号処理を行う。
【００１１】まず、ステップＳ１で、軸受を定期的に診
断する時間間隔Ｔを初期設定する。また、アベレージン
グ回数ｎ＝Ｎに設定する。
断する時間間隔Ｔを初期設定する。また、アベレージン
グ回数ｎ＝Ｎに設定する。
【００１２】次に、ステップＳ２で、定期計測を実行す
るか否かを判断し、実行すると判断したときには、ステ
ップＳ３に進み、実行しないと判断したときには定期診
断を終了する。
るか否かを判断し、実行すると判断したときには、ステ
ップＳ３に進み、実行しないと判断したときには定期診
断を終了する。
【００１３】ステップＳ３では、診断する軸受のタイプ
を選択するか、または、軸受の諸元をコンピュータ７に
入力する。
を選択するか、または、軸受の諸元をコンピュータ７に
入力する。
【００１４】次に、ステップＳ４に進み、上記軸受の各
部品の特性周期を計算する。この特性周期のうち、最大
の特性周期は転動体公転周期ｔｃであり、最小の特性周
期は１つの転動体が内輪を通過する周期ｔｉである。
部品の特性周期を計算する。この特性周期のうち、最大
の特性周期は転動体公転周期ｔｃであり、最小の特性周
期は１つの転動体が内輪を通過する周期ｔｉである。
【００１５】次に、ステップＳ５に進み、上記転動体公
転周期ｔｃの３倍の時間である３ｔｃを１つの定期診断
における測定時間ｔｓに設定する。ステップＳ５で、測
定時間ｔｓを、最大特性周期ｔｃの３倍に設定する理由
は、測定時間ｔｓ内に転動体公転周期ｔｃを少なくとも
２周期確実に計測できるようにするためである。
転周期ｔｃの３倍の時間である３ｔｃを１つの定期診断
における測定時間ｔｓに設定する。ステップＳ５で、測
定時間ｔｓを、最大特性周期ｔｃの３倍に設定する理由
は、測定時間ｔｓ内に転動体公転周期ｔｃを少なくとも
２周期確実に計測できるようにするためである。
【００１６】次に、ステップＳ６に進み、上記測定時間
ｔｓを、上記最小の特性周期ｔｉの７０％の時間で除算
し、この除算値に４を乗算した値を、予測される最大Ａ
Ｅ発生数Ｎmaxとする。すなわち、Ｎmax＝（測定時間ｔ
ｓ）÷（最小特性周期ｔｉ×０.７）×４ とする。上記
７０％は軸受に発生するすべりによって定まる値であ
り、上記４は、内輪と外輪とに、それぞれ２箇所の傷が
発生したものとしたときの値である。なお、上記７０％
および上記４という値は、軸受の精度および軸受が使用
される状況に応じて設定を変更することができる。
ｔｓを、上記最小の特性周期ｔｉの７０％の時間で除算
し、この除算値に４を乗算した値を、予測される最大Ａ
Ｅ発生数Ｎmaxとする。すなわち、Ｎmax＝（測定時間ｔ
ｓ）÷（最小特性周期ｔｉ×０.７）×４ とする。上記
７０％は軸受に発生するすべりによって定まる値であ
り、上記４は、内輪と外輪とに、それぞれ２箇所の傷が
発生したものとしたときの値である。なお、上記７０％
および上記４という値は、軸受の精度および軸受が使用
される状況に応じて設定を変更することができる。
【００１７】次に、ステップＳ７に進み、上記予測され
る最大ＡＥ発生数Ｎmaxを使用して、次の計算式によっ
て、処理時間Ｔｐを計算する。
る最大ＡＥ発生数Ｎmaxを使用して、次の計算式によっ
て、処理時間Ｔｐを計算する。
【００１８】処理時間Ｔｐ＝｛(１／２)×Ｎmax×(Ｎma
x−１）｝×９０μ秒 上記計算式の中括弧内の値は、Ｎmax個のＡＥ信号に対
する集計計算の組み合わせ個数を表し、上記９０μ秒は
１つの集計計算にかかる時間を表している。したがっ
て、たとえば、Ｎmax＝１１４２個の場合には、処理時
間Ｔｐ＝１１４２×(１１４２−１)÷２×９０μ秒＝５
８秒になる。９０μ秒の処理時間はコンピュータ７の性
能によるものである為コンピュータ７の演算部の違いに
よりその値を変更する。
x−１）｝×９０μ秒 上記計算式の中括弧内の値は、Ｎmax個のＡＥ信号に対
する集計計算の組み合わせ個数を表し、上記９０μ秒は
１つの集計計算にかかる時間を表している。したがっ
て、たとえば、Ｎmax＝１１４２個の場合には、処理時
間Ｔｐ＝１１４２×(１１４２−１)÷２×９０μ秒＝５
８秒になる。９０μ秒の処理時間はコンピュータ７の性
能によるものである為コンピュータ７の演算部の違いに
よりその値を変更する。
【００１９】次に、ステップＳ８に進み、上記測定時間
ｔｓと上記処理時間Ｔｐとを加算して、測定処理時間ｔ
spを算出する(ｔsp＝ｔｓ＋Ｔｐ)。
ｔｓと上記処理時間Ｔｐとを加算して、測定処理時間ｔ
spを算出する(ｔsp＝ｔｓ＋Ｔｐ)。
【００２０】次に、ステップＳ９に進み、上記測定処理
時間ｔspに、アベレージング回数ｎ＝Ｎを乗算して、最
大測定処理時間ｔmaxを計算する(ｔmax＝Ｎ×ｔsp)。
時間ｔspに、アベレージング回数ｎ＝Ｎを乗算して、最
大測定処理時間ｔmaxを計算する(ｔmax＝Ｎ×ｔsp)。
【００２１】次に、ステップＳ１０に進み、ステップＳ
１で初期設定した定期診断の時間間隔Ｔと、上記最大測
定処理時間ｔmaxとを比較し、上記時間間隔Ｔが上記最
大測定処理時間ｔmaxよりも大きいと判断したときにス
テップＳ１３に進み、時間間隔Ｔが最大測定処理時間ｔ
maxよりも大きくないと判断したときにステップＳ１１
に進む。ステップＳ１１では、上記定期診断の時間間隔
Ｔ内にＡＥ信号の測定と測定したＡＥ信号の集計を終え
ることができない可能性が高いことを表すワーニング表
示を行う。次に、ステップＳ１２に進み、定期診断を強
行するか否かを判断し、強行すると判断したときにステ
ップＳ１３に進み、強行しないと判断したときにステッ
プＳ２に戻る。
１で初期設定した定期診断の時間間隔Ｔと、上記最大測
定処理時間ｔmaxとを比較し、上記時間間隔Ｔが上記最
大測定処理時間ｔmaxよりも大きいと判断したときにス
テップＳ１３に進み、時間間隔Ｔが最大測定処理時間ｔ
maxよりも大きくないと判断したときにステップＳ１１
に進む。ステップＳ１１では、上記定期診断の時間間隔
Ｔ内にＡＥ信号の測定と測定したＡＥ信号の集計を終え
ることができない可能性が高いことを表すワーニング表
示を行う。次に、ステップＳ１２に進み、定期診断を強
行するか否かを判断し、強行すると判断したときにステ
ップＳ１３に進み、強行しないと判断したときにステッ
プＳ２に戻る。
【００２２】ステップＳ１３では、ＡＥ信号の定期計測
を行う。次に、ステップＳ１４に進み、計測したＡＥ信
号を周期別に集計する。次に、ステップＳ１５に進み、
アベレージング回数ｎを、１だけ加算する(ｎ＝ｎ＋
１)。次に、ステップＳ１６に進み、アベレージング回
数ｎが所定の回数Ｎに達したか否かを判断し、回数Ｎに
達したと判断したときにステップＳ１７に進み、回数Ｎ
に達していないと判断したときに、ステップＳ１３に戻
る。ステップＳ１７では、上記Ｎ回集計した周期別のＡ
Ｅ信号の個数Ｍｉを、回数Ｎで除して、平均化する。
を行う。次に、ステップＳ１４に進み、計測したＡＥ信
号を周期別に集計する。次に、ステップＳ１５に進み、
アベレージング回数ｎを、１だけ加算する(ｎ＝ｎ＋
１)。次に、ステップＳ１６に進み、アベレージング回
数ｎが所定の回数Ｎに達したか否かを判断し、回数Ｎに
達したと判断したときにステップＳ１７に進み、回数Ｎ
に達していないと判断したときに、ステップＳ１３に戻
る。ステップＳ１７では、上記Ｎ回集計した周期別のＡ
Ｅ信号の個数Ｍｉを、回数Ｎで除して、平均化する。
【００２３】次に、ステップＳ１８に進み、上記平均化
処理によって平均化されたＡＥ信号の個数(Ｍｉ／Ｎ)を
所定の基準値と比較して、基準値を越えた個数(Ｍｉ／
Ｎ)のＡＥ信号から、異常が発生している部品を検出す
る。
処理によって平均化されたＡＥ信号の個数(Ｍｉ／Ｎ)を
所定の基準値と比較して、基準値を越えた個数(Ｍｉ／
Ｎ)のＡＥ信号から、異常が発生している部品を検出す
る。
【００２４】次に、ステップＳ１９に進み、上記異常部
品の検出結果を表示する。
品の検出結果を表示する。
【００２５】次に、ステップＳ２０に進み、ステップＳ
１での初期設定時に定期計測を実行することが設定され
ているのか否かを判断し、定期計測を行うことが設定さ
れていると判断したときにはステップＳ２１に進み、定
期計測を行うことが設定されていないと判断したときに
は、診断を終了する。ステップＳ２１では、キー割り込
みによって強制終了の指示があったか否かを判断し、強
制終了の指示があったと判断したときには終了し、強制
終了の指示がなかったと判断したときにはステップＳ２
２に進む。ステップＳ２２では、次の定期計測開始時刻
になったか否かを判断し、開始時刻になったと判断した
ときに、ステップＳ１３に戻り、開始時刻でないと判断
したときに、ステップＳ２１に戻る。
１での初期設定時に定期計測を実行することが設定され
ているのか否かを判断し、定期計測を行うことが設定さ
れていると判断したときにはステップＳ２１に進み、定
期計測を行うことが設定されていないと判断したときに
は、診断を終了する。ステップＳ２１では、キー割り込
みによって強制終了の指示があったか否かを判断し、強
制終了の指示があったと判断したときには終了し、強制
終了の指示がなかったと判断したときにはステップＳ２
２に進む。ステップＳ２２では、次の定期計測開始時刻
になったか否かを判断し、開始時刻になったと判断した
ときに、ステップＳ１３に戻り、開始時刻でないと判断
したときに、ステップＳ２１に戻る。
【００２６】このように、この実施例によれば、軸受の
最小の特性周期ｔｉに基づいて、設定した測定時間Ｔｓ
内に発生する可能性がある最大のＡＥ発生数Ｎmaxを算
出し、この最大ＡＥ発生数ＮmaxのＡＥ信号を計数処理
するのに必要な処理時間Ｔｐを計算し、この処理時間Ｔ
ｐと測定時間Ｔｓとの和（Ｔｐ＋Ｔｓ）＝ｔにアベレー
ジング回数Ｎを掛け算した値ｔmaxを算出し、初期設定
した定期診断の時間間隔Ｔが、上記ｔmaxを下回ってい
る場合に、定期診断の時間間隔不足の可能性が高いこと
を表すワーニング表示を行う。
最小の特性周期ｔｉに基づいて、設定した測定時間Ｔｓ
内に発生する可能性がある最大のＡＥ発生数Ｎmaxを算
出し、この最大ＡＥ発生数ＮmaxのＡＥ信号を計数処理
するのに必要な処理時間Ｔｐを計算し、この処理時間Ｔ
ｐと測定時間Ｔｓとの和（Ｔｐ＋Ｔｓ）＝ｔにアベレー
ジング回数Ｎを掛け算した値ｔmaxを算出し、初期設定
した定期診断の時間間隔Ｔが、上記ｔmaxを下回ってい
る場合に、定期診断の時間間隔不足の可能性が高いこと
を表すワーニング表示を行う。
【００２７】したがって、この実施例によれば、上記ワ
ーニング表示によって、定期診断の前に予め、定期診断
の時間間隔Ｔが不足する可能性が高いことを知ることが
できる。したがって、上記ワーニング表示を受けたとき
に、上記定期診断の時間間隔Ｔを延長すれば、時間間隔
Ｔの不足の危険性を未然に回避することができる。した
がって、この実施例によれば、軸受の定期診断の時間間
隔の設定ミスを回避して、定期診断をミスなく確実に行
うことができる。
ーニング表示によって、定期診断の前に予め、定期診断
の時間間隔Ｔが不足する可能性が高いことを知ることが
できる。したがって、上記ワーニング表示を受けたとき
に、上記定期診断の時間間隔Ｔを延長すれば、時間間隔
Ｔの不足の危険性を未然に回避することができる。した
がって、この実施例によれば、軸受の定期診断の時間間
隔の設定ミスを回避して、定期診断をミスなく確実に行
うことができる。
【００２８】
【発明の効果】以上より明らかなように、この発明の軸
受の異常診断方法は、１つの定期診断においてＡＥ信号
を測定する測定時間と、この測定時間内に発生する最大
個数のＡＥ信号を集計するのに必要な集計時間とを加え
た加算時間が、上記定期診断の時間間隔を越えていると
判断したときに、定期診断の時間間隔不足を表す警報を
出力する。
受の異常診断方法は、１つの定期診断においてＡＥ信号
を測定する測定時間と、この測定時間内に発生する最大
個数のＡＥ信号を集計するのに必要な集計時間とを加え
た加算時間が、上記定期診断の時間間隔を越えていると
判断したときに、定期診断の時間間隔不足を表す警報を
出力する。
【００２９】したがって、この発明によれば、定期診断
の前に予め、設定した定期診断の時間間隔が不足する可
能性が高いことを知ることができる。したがって、上記
警報を受けたときに、上記定期診断の時間間隔を延長す
れば、時間間隔の不足の危険性を未然に回避することが
できる。したがって、この発明によれば、軸受の定期診
断の時間間隔の設定ミスを回避して、定期診断をミスな
く確実に行うことができる。
の前に予め、設定した定期診断の時間間隔が不足する可
能性が高いことを知ることができる。したがって、上記
警報を受けたときに、上記定期診断の時間間隔を延長す
れば、時間間隔の不足の危険性を未然に回避することが
できる。したがって、この発明によれば、軸受の定期診
断の時間間隔の設定ミスを回避して、定期診断をミスな
く確実に行うことができる。
【図１】 この発明の軸受の異常診断方法の実施例を表
すフローチャートである。
すフローチャートである。
【図２】 上記実施例で使用する異常診断装置のブロッ
ク図である。
ク図である。
１…ＡＥセンサ、２…プリアンプ、３…バンドパスフィ
ルタ、４…メインアンプ、５…包絡線検波回路、６…コ
ンピュータ。
ルタ、４…メインアンプ、５…包絡線検波回路、６…コ
ンピュータ。
Claims (1)
- 【請求項１】 軸受が発生するＡＥをＡＥセンサで検出
し、上記ＡＥセンサからのＡＥ信号に基づいて、所定の
時間間隔毎に軸受の異常を定期的に診断する軸受の異常
診断方法において、 上記定期診断の時間間隔を設定するステップと、 上記ＡＥセンサからのＡＥ信号を測定する測定時間を設
定するステップと、 上記設定した測定時間内に発生するＡＥ信号の予測され
る最大個数を計算するステップと、 上記最大個数のＡＥ信号を集計するのに必要な集計時間
を計算するステップと、 上記測定時間と集計時間とを加えた加算時間が、上記定
期診断の時間間隔を越えているか否かを判断するステッ
プと、 上記加算時間が上記定期診断の時間間隔を越えていると
判断したときに、定期診断の時間間隔不足を表す警報を
出力するステップとを備えたことを特徴とする軸受の異
常診断方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28789994A JP3415296B2 (ja) | 1994-11-22 | 1994-11-22 | 軸受の異常診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28789994A JP3415296B2 (ja) | 1994-11-22 | 1994-11-22 | 軸受の異常診断方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08145854A true JPH08145854A (ja) | 1996-06-07 |
| JP3415296B2 JP3415296B2 (ja) | 2003-06-09 |
Family
ID=17723161
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28789994A Expired - Fee Related JP3415296B2 (ja) | 1994-11-22 | 1994-11-22 | 軸受の異常診断方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3415296B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2022070822A1 (ja) * | 2020-09-29 | 2022-04-07 | Ntn株式会社 | 状態監視システム及びデータ分析装置 |
-
1994
- 1994-11-22 JP JP28789994A patent/JP3415296B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2022070822A1 (ja) * | 2020-09-29 | 2022-04-07 | Ntn株式会社 | 状態監視システム及びデータ分析装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3415296B2 (ja) | 2003-06-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CA1297187C (en) | Apparatus for detecting a failure in bearings | |
| JP3829924B2 (ja) | 評価装置 | |
| JP2695366B2 (ja) | 低速回転機械の異常診断方法 | |
| JP3390087B2 (ja) | 軸受の異常診断装置 | |
| JP3014201B2 (ja) | 軸受け異常予知装置 | |
| JPH08145854A (ja) | 軸受の異常診断方法 | |
| EP1001352A1 (en) | Data conversion method, data converter, and program storage medium | |
| JPH0658298B2 (ja) | 軸受の異常診断装置 | |
| JPS63304128A (ja) | 軸受の異常検出装置 | |
| JP4427911B2 (ja) | 感震器 | |
| JP2963144B2 (ja) | 軸受の異常検出装置 | |
| JP2957371B2 (ja) | 回転体の異常診断装置 | |
| JP3090994B2 (ja) | 回転部品の異常検出装置 | |
| JPH11258381A (ja) | 検出器異常診断方法 | |
| JP3064196B2 (ja) | 衝撃検知装置及び方法 | |
| JP2839623B2 (ja) | 揺動軸受の異常診断装置 | |
| JP3450061B2 (ja) | 軸受の異常診断装置 | |
| JP2977276B2 (ja) | 歯車の異常診断装置 | |
| JPH07260630A (ja) | 軸受の異常診断方法 | |
| JP3205109B2 (ja) | 回転体の異常診断装置 | |
| JPS63304132A (ja) | 軸受の異常検出方法 | |
| JP2885838B2 (ja) | 歯車の異常診断装置 | |
| JPH0732577U (ja) | 絶縁診断装置 | |
| JP3114388B2 (ja) | 電子天びん | |
| JP2002131439A (ja) | 半導体検出器劣化診断装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090404 Year of fee payment: 6 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |