JP3450061B2 - 軸受の異常診断装置 - Google Patents
軸受の異常診断装置Info
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- JP3450061B2 JP3450061B2 JP26009494A JP26009494A JP3450061B2 JP 3450061 B2 JP3450061 B2 JP 3450061B2 JP 26009494 A JP26009494 A JP 26009494A JP 26009494 A JP26009494 A JP 26009494A JP 3450061 B2 JP3450061 B2 JP 3450061B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、例えば転がり軸受が
発生するＡＥ(アコースティックエミッション)を計測し
て軸受の異常を診断する軸受の異常診断装置に関する。
発生するＡＥ(アコースティックエミッション)を計測し
て軸受の異常を診断する軸受の異常診断装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の軸受の異常診断装置は、
軸受が発生するＡＥをＡＥセンサで計測する計測時間が
固定されている。
軸受が発生するＡＥをＡＥセンサで計測する計測時間が
固定されている。
【０００３】ところが、発生するＡＥの周期が比較的長
い軸受を診断する場合には、ＡＥ信号の周期が上記固定
された計測時間よりも長くなる場合がある。したがっ
て、この場合には、ＡＥ信号の周期を計測できないの
で、正確な異常診断ができないという問題がある。
い軸受を診断する場合には、ＡＥ信号の周期が上記固定
された計測時間よりも長くなる場合がある。したがっ
て、この場合には、ＡＥ信号の周期を計測できないの
で、正確な異常診断ができないという問題がある。
【０００４】一方、発生するＡＥの周期が比較的短い軸
受を診断する場合には、上記固定された計測時間内に計
測するＡＥ信号の個数が不必要に多くなって、信号処理
効率が低下するという問題がある。
受を診断する場合には、上記固定された計測時間内に計
測するＡＥ信号の個数が不必要に多くなって、信号処理
効率が低下するという問題がある。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】そこで、この発明の目
的は、発生するＡＥの周期の長さに応じてＡＥ信号の計
測時間を設定でき、診断ミスおよび無駄な診断時間をな
くすることができる軸受の異常診断装置を提供すること
にある。
的は、発生するＡＥの周期の長さに応じてＡＥ信号の計
測時間を設定でき、診断ミスおよび無駄な診断時間をな
くすることができる軸受の異常診断装置を提供すること
にある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１の発明の軸受の異常診断装置は、軸受が発
生するＡＥをＡＥセンサで計測して、このＡＥセンサが
出力するＡＥ信号に基づいて軸受の異常を診断する軸受
の異常診断装置であって、上記軸受が発生するＡＥの特
性周期を算出する特性周期算出手段と、上記軸受が発生
するＡＥを上記ＡＥセンサで計測する計測時間を、上記
特性周期算出手段が算出した特性周期のうち、最大の特
性周期の２倍以上に設定する計測時間自動設定手段とを
備えたことを特徴としている。
め、請求項１の発明の軸受の異常診断装置は、軸受が発
生するＡＥをＡＥセンサで計測して、このＡＥセンサが
出力するＡＥ信号に基づいて軸受の異常を診断する軸受
の異常診断装置であって、上記軸受が発生するＡＥの特
性周期を算出する特性周期算出手段と、上記軸受が発生
するＡＥを上記ＡＥセンサで計測する計測時間を、上記
特性周期算出手段が算出した特性周期のうち、最大の特
性周期の２倍以上に設定する計測時間自動設定手段とを
備えたことを特徴としている。
【０００７】また、請求項２の発明は、軸受が発生する
ＡＥをＡＥセンサで計測して、このＡＥセンサが出力す
るＡＥ信号に基づいて軸受の異常を診断する軸受の異常
診断装置であって、上記軸受が発生するＡＥの特性周期
を算出する特性周期算出手段と、上記軸受が発生するＡ
Ｅを上記ＡＥセンサで計測する計測時間を、上記特性周
期算出手段が算出した特性周期のうち、最大の特性周期
の３倍以上に設定する計測時間自動設定手段とを備えた
ことを特徴としている。
ＡＥをＡＥセンサで計測して、このＡＥセンサが出力す
るＡＥ信号に基づいて軸受の異常を診断する軸受の異常
診断装置であって、上記軸受が発生するＡＥの特性周期
を算出する特性周期算出手段と、上記軸受が発生するＡ
Ｅを上記ＡＥセンサで計測する計測時間を、上記特性周
期算出手段が算出した特性周期のうち、最大の特性周期
の３倍以上に設定する計測時間自動設定手段とを備えた
ことを特徴としている。
【０００８】
【作用】請求項１の発明は、特性周期算出手段が、軸受
が発生するＡＥの特性周期を算出する。そして、計測時
間自動設定手段は、上記ＡＥセンサによるＡＥの計測時
間を、上記特性周期算出手段が算出した特性周期のうち
最大の特性周期の２倍以上に設定する。
が発生するＡＥの特性周期を算出する。そして、計測時
間自動設定手段は、上記ＡＥセンサによるＡＥの計測時
間を、上記特性周期算出手段が算出した特性周期のうち
最大の特性周期の２倍以上に設定する。
【０００９】したがって、この発明によれば、計測時間
自動設定手段が設定した計測時間内に、軸受が発生する
ＡＥのうち、最大の特性周期を有するＡＥを少なくとも
２個計測することができる。したがって、この発明によ
れば、軸受から発生する全てのＡＥの周期特性を計測す
ることができる。したがって、周期特性の計測ミスをな
くすることができ、正確な診断ができる。
自動設定手段が設定した計測時間内に、軸受が発生する
ＡＥのうち、最大の特性周期を有するＡＥを少なくとも
２個計測することができる。したがって、この発明によ
れば、軸受から発生する全てのＡＥの周期特性を計測す
ることができる。したがって、周期特性の計測ミスをな
くすることができ、正確な診断ができる。
【００１０】また、この発明によれば、特性周期算出手
段が軸受から発生するＡＥの特性周期を算出して、計測
時間自動設定手段が計測時間を最大特性周期の２倍以上
の時間に設定する。したがって、上記計測時間自動設定
手段が、上記計測時間を上記２倍以上かつ診断に必要十
分な程度の時間に設定するようにすれば、不必要なまで
に多くのＡＥを計測することを防止できる。したがっ
て、診断効率の低下を防止できる。
段が軸受から発生するＡＥの特性周期を算出して、計測
時間自動設定手段が計測時間を最大特性周期の２倍以上
の時間に設定する。したがって、上記計測時間自動設定
手段が、上記計測時間を上記２倍以上かつ診断に必要十
分な程度の時間に設定するようにすれば、不必要なまで
に多くのＡＥを計測することを防止できる。したがっ
て、診断効率の低下を防止できる。
【００１１】また、請求項２の発明は、上記計測時間自
動設定手段が、計測時間を上記ＡＥの最大特性周期の３
倍以上に設定するから、軸受が発生するＡＥのうち、最
大の特性周期を有するＡＥを少なくとも３個計測するこ
とができる。したがって、請求項２の発明によれば、請
求項１の発明に比べて、一層確実に最大周期のＡＥの周
期特性を計測することができ、周期特性の計測ミスを完
全になくして、特に正確な診断ができる。また、この発
明によれば、上記計測時間自動設定手段が、上記計測時
間を上記３倍以上かつ診断に必要十分な程度の時間に設
定するようにすれば、不必要なまでにおおくのＡＥを計
測することを防止できる。したがって、診断効率の低下
を防止できる。
動設定手段が、計測時間を上記ＡＥの最大特性周期の３
倍以上に設定するから、軸受が発生するＡＥのうち、最
大の特性周期を有するＡＥを少なくとも３個計測するこ
とができる。したがって、請求項２の発明によれば、請
求項１の発明に比べて、一層確実に最大周期のＡＥの周
期特性を計測することができ、周期特性の計測ミスを完
全になくして、特に正確な診断ができる。また、この発
明によれば、上記計測時間自動設定手段が、上記計測時
間を上記３倍以上かつ診断に必要十分な程度の時間に設
定するようにすれば、不必要なまでにおおくのＡＥを計
測することを防止できる。したがって、診断効率の低下
を防止できる。
【００１２】
【実施例】以下、この発明を図示の実施例により詳細に
説明する。
説明する。
【００１３】図１に、この発明の軸受の異常診断装置を
示す。この診断装置は、転がり軸受が発生するＡＥを検
出してＡＥ信号を出力するＡＥセンサ１と、上記ＡＥ信
号を増幅するプリアンプ２と、上記プリアンプ２が増幅
したＡＥ信号のうち所定の周波数帯域のＡＥ信号を通過
させるバンドパスフィルター３と、このバンドパスフィ
ルター３を通過したＡＥ信号を増幅するメインアンプ４
と、メインアンプ４が増幅したＡＥ信号を、包絡線検波
する包絡線検波回路５と、包絡線検波回路５が包絡線検
波したＡＥ信号が入力されるコンピュータ７とを備えて
いる。
示す。この診断装置は、転がり軸受が発生するＡＥを検
出してＡＥ信号を出力するＡＥセンサ１と、上記ＡＥ信
号を増幅するプリアンプ２と、上記プリアンプ２が増幅
したＡＥ信号のうち所定の周波数帯域のＡＥ信号を通過
させるバンドパスフィルター３と、このバンドパスフィ
ルター３を通過したＡＥ信号を増幅するメインアンプ４
と、メインアンプ４が増幅したＡＥ信号を、包絡線検波
する包絡線検波回路５と、包絡線検波回路５が包絡線検
波したＡＥ信号が入力されるコンピュータ７とを備えて
いる。
【００１４】上記コンピュータ７の動作を、図２に示す
フローチャートに従って説明する。
フローチャートに従って説明する。
【００１５】まず、ステップＳ１で、異常を診断しよう
とする軸受を構成する各部品(内・外輪,転動体,保持器
など)の寸法データ、および上記軸受が回転駆動される
速度データがコンピュータ７のメモリに入力される。
とする軸受を構成する各部品(内・外輪,転動体,保持器
など)の寸法データ、および上記軸受が回転駆動される
速度データがコンピュータ７のメモリに入力される。
【００１６】次に、ステップＳ２で、上記寸法データと
上記速度データとに基づいて、上記軸受が発生する各Ａ
Ｅの特性周期Ｔ1、Ｔ2、Ｔ3…を算出する。次に、ステ
ップＳ３で、上記各ＡＥの特性周期Ｔ1、Ｔ2、Ｔ3…の
うち、最も長い特性周期ＴMAXを選出する。次に、ステ
ップＳ４で上記軸受から発生するＡＥを計測する計測時
間ｔを、上記最長の特性周期ＴMAXの３倍に設定する。
上記速度データとに基づいて、上記軸受が発生する各Ａ
Ｅの特性周期Ｔ1、Ｔ2、Ｔ3…を算出する。次に、ステ
ップＳ３で、上記各ＡＥの特性周期Ｔ1、Ｔ2、Ｔ3…の
うち、最も長い特性周期ＴMAXを選出する。次に、ステ
ップＳ４で上記軸受から発生するＡＥを計測する計測時
間ｔを、上記最長の特性周期ＴMAXの３倍に設定する。
【００１７】次に、ステップＳ５に進み、ＡＥセンサ１
によるＡＥの計測を開始し、上記設定された計測時間ｔ
だけ計測を続ける。
によるＡＥの計測を開始し、上記設定された計測時間ｔ
だけ計測を続ける。
【００１８】次に、ステップＳ６に進み、上記計測時間
ｔの間にＡＥセンサ１が計測したＡＥによるＡＥ信号に
基づいて軸受の異常を診断する。
ｔの間にＡＥセンサ１が計測したＡＥによるＡＥ信号に
基づいて軸受の異常を診断する。
【００１９】上記ステップＳ１とＳ２が、特性周期算出
手段を構成しており、上記ステップＳ３とＳ４とが、計
測時間自動設定手段を構成している。
手段を構成しており、上記ステップＳ３とＳ４とが、計
測時間自動設定手段を構成している。
【００２０】このように、この実施例の軸受の異常診断
装置によれば、ステップＳ２で軸受が発生する各ＡＥの
特性周期Ｔ1、Ｔ2、Ｔ3…を算出し、そのうちで最も長
い特性周期ＴMAXをステップＳ３で選出し、ＡＥの計測
時間を、上記最長特性周期ＴMAXの３倍に設定する。し
たがって、この実施例によれば、図３に示すように、上
記計測時間内に上記最長の特性周期ＴMAXを有するＡＥ
の包絡線検波後のＡＥ信号Ｓを少なくとも３個計測する
ことができる。したがって、上記最長周期のＡＥの周期
を少なくとも２個計測することができる。したがって、
例えば、図３に破線で示したように、１番目のＡＥ信号
Ｓ1と２番目のＡＥ信号Ｓ2との間に突発的なノイズＮS
が発生して、１番目のＡＥ信号Ｓ1と２番目のＡＥ信号
Ｓ2との間の周期ＴMAXを正確に計測できなくなっても、
２番目のＡＥ信号Ｓ2と３番目のＡＥ信号Ｓ3との間の周
期ＴMAXを正確に計測できる。なお、上記突発的なノイ
ズが、１番目のＡＥ信号Ｓ１と２番目のＡＥ信号Ｓ２と
の間と、２番目のＡＥ信号Ｓ２と３番目のＡＥ信号Ｓ３
との間の両方に連続して発生することは非常にまれであ
ると考えられる。したがって、この実施例によれば、最
長の特性周期ＴMAXを有するＡＥの周期特性を確実に計
測できる。したがって、この実施例によれば、上記軸受
から発生するすべてのＡＥの周期特性を確実に計測する
ことができる。したがって、この実施例によれば、周期
特性の計測ミスをなくすることができ、正確な診断がで
きる。
装置によれば、ステップＳ２で軸受が発生する各ＡＥの
特性周期Ｔ1、Ｔ2、Ｔ3…を算出し、そのうちで最も長
い特性周期ＴMAXをステップＳ３で選出し、ＡＥの計測
時間を、上記最長特性周期ＴMAXの３倍に設定する。し
たがって、この実施例によれば、図３に示すように、上
記計測時間内に上記最長の特性周期ＴMAXを有するＡＥ
の包絡線検波後のＡＥ信号Ｓを少なくとも３個計測する
ことができる。したがって、上記最長周期のＡＥの周期
を少なくとも２個計測することができる。したがって、
例えば、図３に破線で示したように、１番目のＡＥ信号
Ｓ1と２番目のＡＥ信号Ｓ2との間に突発的なノイズＮS
が発生して、１番目のＡＥ信号Ｓ1と２番目のＡＥ信号
Ｓ2との間の周期ＴMAXを正確に計測できなくなっても、
２番目のＡＥ信号Ｓ2と３番目のＡＥ信号Ｓ3との間の周
期ＴMAXを正確に計測できる。なお、上記突発的なノイ
ズが、１番目のＡＥ信号Ｓ１と２番目のＡＥ信号Ｓ２と
の間と、２番目のＡＥ信号Ｓ２と３番目のＡＥ信号Ｓ３
との間の両方に連続して発生することは非常にまれであ
ると考えられる。したがって、この実施例によれば、最
長の特性周期ＴMAXを有するＡＥの周期特性を確実に計
測できる。したがって、この実施例によれば、上記軸受
から発生するすべてのＡＥの周期特性を確実に計測する
ことができる。したがって、この実施例によれば、周期
特性の計測ミスをなくすることができ、正確な診断がで
きる。
【００２１】また、この実施例によれば、ＡＥの計測時
間を、上記最長特性周期ＴMAXの３倍に設定するから、
上記計測時間を軸受の異常診断に必要十分な時間に設定
でき、不必要なまでに多くのＡＥを計測することを防止
できる。したがって、この実施例によれば、効率の良い
異常診断ができる。
間を、上記最長特性周期ＴMAXの３倍に設定するから、
上記計測時間を軸受の異常診断に必要十分な時間に設定
でき、不必要なまでに多くのＡＥを計測することを防止
できる。したがって、この実施例によれば、効率の良い
異常診断ができる。
【００２２】なお、この実施例では、ＡＥの計測時間
を、上記最長特性周期ＴMAXの３倍に設定したが、ＡＥ
の計測時間を、上記最長特性周期ＴMAXの２倍に設定し
てもよい。この場合には、上記最長周期のＡＥを少なく
とも２個計測することができるから、上記最長周期のＡ
Ｅの周期を少なくとも１個計測することができる。従っ
て、この場合には、最長周期のＡＥの周期の測定ミスが
発生しない範囲で、計測時間を最短にすることができる
から、効率よく軸受の異常を診断することができる。ま
た、最長周期のＡＥの周期をより一層正確に計測したい
場合には、上記ＡＥの計測時間を上記最長特性周期Ｔ
MAXの３倍よりも長くすればよい。また、この実施例で
は、転がり軸受を計測したが、この発明は、どのような
タイプの軸受にも適用することができる。
を、上記最長特性周期ＴMAXの３倍に設定したが、ＡＥ
の計測時間を、上記最長特性周期ＴMAXの２倍に設定し
てもよい。この場合には、上記最長周期のＡＥを少なく
とも２個計測することができるから、上記最長周期のＡ
Ｅの周期を少なくとも１個計測することができる。従っ
て、この場合には、最長周期のＡＥの周期の測定ミスが
発生しない範囲で、計測時間を最短にすることができる
から、効率よく軸受の異常を診断することができる。ま
た、最長周期のＡＥの周期をより一層正確に計測したい
場合には、上記ＡＥの計測時間を上記最長特性周期Ｔ
MAXの３倍よりも長くすればよい。また、この実施例で
は、転がり軸受を計測したが、この発明は、どのような
タイプの軸受にも適用することができる。
【００２３】
【発明の効果】以上より明らかなように、請求項１の発
明の軸受の異常診断装置は、軸受が発生するＡＥの特性
周期を算出する特性周期算出手段と、上記軸受が発生す
るＡＥをＡＥセンサで計測する計測時間を、特性周期算
出手段が算出した特性周期のうち、最大の特性周期の２
倍以上に設定する計測時間自動設定手段とを備えたもの
である。
明の軸受の異常診断装置は、軸受が発生するＡＥの特性
周期を算出する特性周期算出手段と、上記軸受が発生す
るＡＥをＡＥセンサで計測する計測時間を、特性周期算
出手段が算出した特性周期のうち、最大の特性周期の２
倍以上に設定する計測時間自動設定手段とを備えたもの
である。
【００２４】したがって、請求項１の発明によれば、計
測時間自動設定手段が設定した計測時間内に、軸受が発
生するＡＥのうち、最大の特性周期を有するＡＥを少な
くとも２個計測することができる。したがって、上記最
大特性周期のＡＥの周期を少なくとも１個計測すること
ができる。したがって、この発明によれば、軸受から発
生する全てのＡＥの周期特性を計測することができる。
したがって、周期特性の計測ミスをなくすることがで
き、正確な診断ができる。
測時間自動設定手段が設定した計測時間内に、軸受が発
生するＡＥのうち、最大の特性周期を有するＡＥを少な
くとも２個計測することができる。したがって、上記最
大特性周期のＡＥの周期を少なくとも１個計測すること
ができる。したがって、この発明によれば、軸受から発
生する全てのＡＥの周期特性を計測することができる。
したがって、周期特性の計測ミスをなくすることがで
き、正確な診断ができる。
【００２５】また、請求項１の発明によれば、特性周期
算出手段が軸受から発生するＡＥの特性周期を算出し
て、計測時間自動設定手段が計測時間を最大特性周期の
２倍以上の時間に設定する。したがって、上記計測時間
自動設定手段が、上記計測時間を上記２倍以上かつ診断
に必要十分な程度の時間に設定するようにすれば、不必
要なまでに多くのＡＥを計測することを防止できる。し
たがって、診断効率の低下を防止できる。
算出手段が軸受から発生するＡＥの特性周期を算出し
て、計測時間自動設定手段が計測時間を最大特性周期の
２倍以上の時間に設定する。したがって、上記計測時間
自動設定手段が、上記計測時間を上記２倍以上かつ診断
に必要十分な程度の時間に設定するようにすれば、不必
要なまでに多くのＡＥを計測することを防止できる。し
たがって、診断効率の低下を防止できる。
【００２６】また、請求項２の発明によれば、上記計測
時間自動設定手段は、上記計測時間を上記最大の特性周
期の３倍以上に設定するから、最大の特性周期を有する
ＡＥを少なくとも３個計測することができる。従って、
請求項２の発明によれば、上記最大特性周期のＡＥの周
期を少なくとも２個計測することができる。したがっ
て、請求項１の発明に比べて、一層確実に最大周期のＡ
Ｅの周期特性を計測することができ、周期特性の計測ミ
スを完全になくして、特に正確な診断ができる。また、
請求項２の発明によれば、上記計測時間自動設定手段
が、上記計測時間を上記３倍以上かつ診断に必要十分な
程度の時間に設定するようにすれば、不必要なまでにお
おくのＡＥを計測することを防止できる。したがって、
診断効率の低下を防止できる。
時間自動設定手段は、上記計測時間を上記最大の特性周
期の３倍以上に設定するから、最大の特性周期を有する
ＡＥを少なくとも３個計測することができる。従って、
請求項２の発明によれば、上記最大特性周期のＡＥの周
期を少なくとも２個計測することができる。したがっ
て、請求項１の発明に比べて、一層確実に最大周期のＡ
Ｅの周期特性を計測することができ、周期特性の計測ミ
スを完全になくして、特に正確な診断ができる。また、
請求項２の発明によれば、上記計測時間自動設定手段
が、上記計測時間を上記３倍以上かつ診断に必要十分な
程度の時間に設定するようにすれば、不必要なまでにお
おくのＡＥを計測することを防止できる。したがって、
診断効率の低下を防止できる。
【図１】 この発明の軸受の異常診断装置の実施例のブ
ロック図である。
ロック図である。
【図２】 上記実施例のコンピュータの動作を説明する
フローチャートである。
フローチャートである。
【図３】 包絡線検波後のＡＥ信号の一例を示す波形図
である。
である。
１…ＡＥセンサ、２…プリアンプ、３…バンドパスフィ
ルタ、４…メインアンプ、５…包絡線検波回路、６…コ
ンピュータ。
ルタ、４…メインアンプ、５…包絡線検波回路、６…コ
ンピュータ。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(56)参考文献 特開 平４−32737（ＪＰ，Ａ)
特開 平２−16420（ＪＰ，Ａ)
特開 平４−120435（ＪＰ，Ａ)
特開 平６−241952（ＪＰ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01N 29/00 - 29/28
G01H 17/00
G01M 13/04
Claims (2)
- 【請求項１】 軸受が発生するＡＥをＡＥセンサで計測
して、このＡＥセンサが出力するＡＥ信号に基づいて軸
受の異常を診断する軸受の異常診断装置であって、 上記軸受が発生するＡＥの特性周期を算出する特性周期
算出手段と、 上記軸受が発生するＡＥを上記ＡＥセンサで計測する計
測時間を、上記特性周期算出手段が算出した特性周期の
うち、最大の特性周期の２倍以上に設定する計測時間自
動設定手段とを備えたことを特徴とする軸受の異常診断
装置。 - 【請求項２】 軸受が発生するＡＥをＡＥセンサで計測
して、このＡＥセンサが出力するＡＥ信号に基づいて軸
受の異常を診断する軸受の異常診断装置であって、 上記軸受が発生するＡＥの特性周期を算出する特性周期
算出手段と、 上記軸受が発生するＡＥを上記ＡＥセンサで計測する計
測時間を、上記特性周期算出手段が算出した特性周期の
うち、最大の特性周期の３倍以上に設定する計測時間自
動設定手段とを備えたことを特徴とする軸受の異常診断
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26009494A JP3450061B2 (ja) | 1994-10-25 | 1994-10-25 | 軸受の異常診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26009494A JP3450061B2 (ja) | 1994-10-25 | 1994-10-25 | 軸受の異常診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08122305A JPH08122305A (ja) | 1996-05-17 |
| JP3450061B2 true JP3450061B2 (ja) | 2003-09-22 |
Family
ID=17343218
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26009494A Expired - Fee Related JP3450061B2 (ja) | 1994-10-25 | 1994-10-25 | 軸受の異常診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3450061B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7129647B2 (ja) * | 2018-06-27 | 2022-09-02 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 測定端末、測定システム、測定方法およびプログラム |
-
1994
- 1994-10-25 JP JP26009494A patent/JP3450061B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08122305A (ja) | 1996-05-17 |
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| S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
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| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070711 Year of fee payment: 4 |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080711 Year of fee payment: 5 |
|
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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